JP2006131440A - 単結晶引上げ装置のシードチャック - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
チョクラルスキー法による単結晶引上げ装置の吊り下げワイヤー10あるいはロッドに結合されるとともに種結晶4を保持するシードチャックであって、少なくとも、前記吊り下げワイヤー10あるいはロッドに結合される金属製の金属ホルダー1と、該金属ホルダー1の下部に連結され種結晶4を保持する種ホルダー2と、該種ホルダー2の外周部に取り付けられ輻射熱をカットすることで金属ホルダー1の温度上昇を抑制するホルダー断熱筒6とを有し、前記ホルダー断熱筒6は、前記金属ホルダー1の外表面とは接触せず、間隔9をおいて設けられたものであることを特徴とする単結晶引上げ装置のシードチャック20。
【選択図】図1
Description
このように、前記ホルダー断熱筒が、前記金属ホルダーの外表面との距離が、金属ホルダーの下端から上方にかけて徐々に大きくなる逆円錐台形状であれば、ヒータや融液面からの輻射熱をより効果的に断熱することができるので、金属ホルダーの温度上昇の抑制に極めて効果的である。
このように、前記ホルダー断熱筒は、中空外殻と該中空内に挿入される断熱部材からなるものであれば、優れた断熱効果を有する。なお、中空外殻は炭素製であることが好ましく、断熱部材は高純度の炭素繊維を用いることが好ましい。これにより、断熱筒の断熱効果を高めつつ、断熱部材7からの単結晶の汚染を防止することができる。
このように、前記ホルダー断熱筒は、前記金属ホルダーの下部に連結される種ホルダーと一体構造であるか、または前記種ホルダーと着脱自在のものとすれば、ヒータや融液面からの輻射熱が直接金属ホルダーに当たるのを確実に防ぐことができる。また、前記ホルダー断熱筒が種ホルダーに着脱自在のものであれば、前記ホルダー断熱筒または前記種ホルダーが劣化した場合、劣化した部品のみを交換することができるという利点がある。
図1および図2の断面図に例を示すように、本発明に係るシードチャック20、30は、吊り下げワイヤー10に結合される金属製の金属ホルダー1を有し、この金属ホルダー1はタングステンやモリブデン等の高融点金属が用いられる。この金属ホルダー1の下部には、種結晶4を保持する炭素製の種ホルダー2が螺合あるいは嵌合等により連結される。そして、種ホルダー2の外周部に輻射熱をカットすることで金属ホルダー1の温度上昇を抑制するホルダー断熱筒6が配置される。
この際、シードチャック20は、ヒータ41および融液面42に近接するため輻射熱を受けるが、本発明では、ホルダー断熱筒6により金属ホルダー1に当たる輻射熱をカットすることで、単結晶の金属汚染の原因となる、金属ホルダー1の温度上昇を抑制することができる。このとき、ホルダー断熱筒6の表面粗さRaを10μm以下、より好ましくは2μm以下とすることにより、金属ホルダー1に当たる輻射熱を効率的にカットすることができるので、金属ホルダー1の温度上昇の抑制をより確実なものとすることができる。
(実施例1)
まず、図2に示すように種ホルダー2の外周部から金属ホルダー1の外表面を間隔9を持って覆うようにホルダー断熱筒6を設置し、金属ホルダー1の下端との距離が10mm、金属ホルダー1の外表面との間隔9が15mmとなるような円筒形状とした本発明に係るシードチャック30を用い、口径550mm(22インチ)のルツボ43にシリコン多結晶75kgを充填して溶融し、種結晶4が融液面42に接触する位置まで下降させたときの金属ホルダー1の表面温度分布について、総合伝熱解析ソフトFEMAGにより熱シュミレーション解析を行った。その結果、金属ホルダー1の最下端部が最高温度であり、1058℃であった(図6参照)。
次に、図1に示すように種ホルダー2の外周部から金属ホルダー1の外表面を間隔9をおいて覆うようにホルダー断熱筒6を設置し、ホルダー断熱筒6と金属ホルダー1の外表面との間隔9が金属ホルダー1の下端から上方にかけて徐々に大きくなる逆円錐台形状とした。このときのホルダー断熱筒6の傾斜角度は45°、ホルダー断熱筒6の上端部での金属ホルダー1の外表面とホルダー断熱筒6との間隔9は110mmとした。この本発明に係るシードチャック20について、実施例1と同様の熱解析を行った。その結果、温度は、実施例1と比較して金属ホルダー全領域にわたり著しく低下し、最高温度は最下端部の980℃であった(図6参照)。
また、図5に示すようにホルダー断熱筒6が設置されていない従来のシードチャック60について、実施例1と同様の熱解析を行った。その結果、金属ホルダー全領域にわたって実施例1および実施例2よりも高温となり、最高温度は最下端部の1072℃であった(図6参照)。ホルダー断熱筒を設置しない場合、金属ホルダー1の温度上昇が大きくなることが確認された。
さらに、図4に示すように金属ホルダー1の外表面に断熱材11を接触させた形状のシードチャック50を用いた場合につき、実施例1と同様の熱解析を行った。その結果、金属ホルダー1の最高温度は最下端部の1082℃であり、比較例1よりもむしろ高温となり、より不純物汚染の危険が生じるものであった(図6参照)。
以上のように、ホルダー断熱筒6は、金属ホルダー1の外表面に接触させて金属ホルダー1を覆うように設けられただけでは、金属ホルダー1の温度上昇を抑制することはできず、むしろ高温となり得るのであり、金属ホルダー1の外表面とは接触せず、間隔9をおいて設けられることにより、金属ホルダー1の温度上昇を抑制できることが確認された。
5…種止めピン、 6…ホルダー断熱筒、 7…断熱部材、 8…中空外殻、
9…間隔、 10…ワイヤー、 11…断熱材、
20、30、50、60…シードチャック、 40…単結晶引上げ装置、
41…ヒータ、 42…融液面、 43…ルツボ、
44…断熱筒、 45…ルツボ保持軸、 46…チャンバ。
Claims (4)
- チョクラルスキー法による単結晶引上げ装置の吊り下げワイヤーあるいはロッドに結合されるとともに種結晶を保持するシードチャックであって、少なくとも、前記吊り下げワイヤーあるいはロッドに結合される金属製の金属ホルダーと、該金属ホルダーの下部に連結され種結晶を保持する種ホルダーと、該種ホルダーの外周部に取り付けられ輻射熱をカットすることで金属ホルダーの温度上昇を抑制するホルダー断熱筒とを有し、前記ホルダー断熱筒は、前記金属ホルダーの外表面とは接触せず、間隔をおいて設けられたものであることを特徴とする単結晶引上げ装置のシードチャック。
- 前記ホルダー断熱筒は、前記金属ホルダーの外表面との距離が、金属ホルダーの下端から上方にかけて徐々に大きくなる逆円錐台形状であることを特徴とする請求項1に記載の単結晶引上げ装置のシードチャック。
- 前記ホルダー断熱筒は、中空外殻と該中空内に挿入される断熱部材とからなるものであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の単結晶引上げ装置のシードチャック。
- 前記ホルダー断熱筒は、前記種ホルダーと一体構造であるか、または前記種ホルダーに脱着自在のものであることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の単結晶引上げ装置のシードチャック。
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