JP2006118995A - 半導体集積回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本願発明の半導体集積回路は、入力される複数の第1の信号が全て第1の論理状態の場合とその他の場合とで異なる論理状態の信号を出力する第1の多入力論理回路と、入力される複数の第1の信号が全て第1の論理状態とは異なる第2の論理状態の場合とその他の場合とで異なる論理状態の信号を出力する第2の多入力論理回路とを備えるテスト回路を有する。
【選択図】 図1
Description
本願発明の半導体集積回路は、入力信号がそれぞれ供給される入力端子100を複数有する。
さらに、本願発明では、入力端子100に供給された入力信号に応じた信号をそれぞれ出力する複数の入力バッファ回路200を有し、入力バッファ回路200から出力された複数の信号が入力される内部論理回路300を有する。
テスト回路500は、入力バッファ回路200から出力された複数の信号に応じた出力信号を出力端子400に出力する。
本願発明では、テスト回路500は、入力される複数の信号が全て第1の論理状態の場合と、その他の場合とで、異なる論理状態の信号を出力する第1の多入力論理回路510と、入力される複数の信号が全て前記第1の論理状態とは異なる第2の論理状態の場合と、その他の場合とで、異なる論理状態の信号を出力する第2の多入力論理回路520とを有する。
入力バッファ回路200から出力された複数の信号は、第1の多入力論理回路510と第2の多入力論理回路520とにそれぞれ入力され、各多入力論理回路の出力信号は出力端子400に出力される。
入力端子100には入力バッファ回路200の電気的特性をテストする為のテスト信号が供給される。
本願発明では、入力バッファ回路200が所定の電位に応じて適正に動作するかをテストする為に、例えば、Hレベル側のテストを行う場合には所定電圧(VIH)が、Lレベル側のテストを行う場合には所定電位(VIL)がそれぞれ入力バッファ回路200に供給される。
また、入力バッファ回路200のどれか一つにでも不良がある場合には、入力バッファ回路200の出力信号は全て“H”レベルとならずに、第1の多入力回路510の出力は“L”となる。
これにより、第1の多入力回路510の出力を測定することにより、入力バッファ回路200のHレベル側の動作テストを行うことが可能となる。
また、入力バッファ回路200のどれか一つにでも不良がある場合には、入力バッファ回路200の出力信号は全てLレベルとならずに、第2の多入力回路520の出力はLレベルとなる。
これにより、第2の多入力回路520の出力を測定することにより、入力バッファ回路200のLレベル側の動作テストを行うことが可能となる。
本願発明の実施例2の半導体集積回路は、図2に示されるように、テスト回路500は、第1の多入力論理回路510および第2の多入力論理回路520の出力信号が入力され、第1の多入力論理回路510の出力信号と、第2の多入力論理回路520の出力信号とのいずれかを選択して出力するセレクタ回路530を有する。
つまり、セレクタ回路530により、入力バッファ回路200のHレベル側の動作テストを行う時と、Lレベル側の動作テストを行う時とで、出力端子400に出力される信号が切り替わる。
これにより、同じ出力端子400を用いて、Hレベル側の動作テストとLレベル側の動作テストとを行うことが可能となる。
本願発明の実施例3の半導体集積回路は、図5に示されるように、テスト回路500は、第1の多入力論理回路510の出力信号が入力される第1のレジスタ540と、第2の多入力論理回路520の出力信号が入力される第2のレジスタ550とを有する。
つまり、実施例3の本願発明では、テスト時間を大幅に増大させることなく、入力バッファ回路200のHレベル側およびLレベル側の動作テストを、複数のレベルに対して行うことが可能となる。
200 入力バッファ回路
300 内部論理回路
400 出力端子
500 テスト回路
510 第1の多入力論理回路
520 第2の多入力論理回路
530 セレクタ回路
540 第1のレジスタ
550 第2のレジスタ
Claims (4)
- 入力信号がそれぞれ供給される複数の入力端子と、
前記入力端子に供給された前記入力信号に応じて第1の信号をそれぞれ出力する複数のバッファ回路と、
前記バッファ回路から出力された複数の前記第1の信号が入力される内部論理回路と、
前記バッファ回路から出力された複数の前記第1の信号が入力されるテスト回路とを有し、
前記テスト回路は、
入力される複数の前記第1の信号が全て第1の論理状態の場合と、その他の場合とで、異なる論理状態の出力信号を出力する第1の多入力論理回路と、
入力される複数の前記第1の信号が全て前記第1の論理状態とは異なる第2の論理状態の場合と、その他の場合とで、異なる論理状態の出力信号を出力する第2の多入力論理回路と、
を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記第1の多入力論理回路はAND論理回路により構成され、前記第2の多入力論理回路はNOR論理回路により構成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記テスト回路は、
前記第1の多入力論理回路および前記第2の多入力論理回路の前記出力信号が入力され、該第1の多入力論理回路の該出力信号と、該第2の多入力論理回路の該出力信号とのいずれかを選択して出力するセレクタを有することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。 - 前記テスト回路は、
前記第1の多入力論理回路の前記出力信号が入力される第1のレジスタと、前記第2の多入力論理回路の前記出力信号が入力される第2のレジスタとを有することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004307335A JP2006118995A (ja) | 2004-10-21 | 2004-10-21 | 半導体集積回路 |
KR1020050066184A KR20060053978A (ko) | 2004-10-21 | 2005-07-21 | 반도체 집적회로 |
CN2005100882277A CN1763555B (zh) | 2004-10-21 | 2005-07-29 | 半导体集成电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004307335A JP2006118995A (ja) | 2004-10-21 | 2004-10-21 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006118995A true JP2006118995A (ja) | 2006-05-11 |
Family
ID=36537016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004307335A Pending JP2006118995A (ja) | 2004-10-21 | 2004-10-21 | 半導体集積回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006118995A (ja) |
KR (1) | KR20060053978A (ja) |
CN (1) | CN1763555B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7616509B2 (en) * | 2007-07-13 | 2009-11-10 | Freescale Semiconductor, Inc. | Dynamic voltage adjustment for memory |
CN101998442A (zh) * | 2009-08-10 | 2011-03-30 | 北京三星通信技术研究有限公司 | 一种远程接入方法和系统 |
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Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2004
- 2004-10-21 JP JP2004307335A patent/JP2006118995A/ja active Pending
-
2005
- 2005-07-21 KR KR1020050066184A patent/KR20060053978A/ko not_active Application Discontinuation
- 2005-07-29 CN CN2005100882277A patent/CN1763555B/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060053978A (ko) | 2006-05-22 |
CN1763555B (zh) | 2010-05-12 |
CN1763555A (zh) | 2006-04-26 |
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