JP2006093418A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents

太陽電池の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006093418A
JP2006093418A JP2004277274A JP2004277274A JP2006093418A JP 2006093418 A JP2006093418 A JP 2006093418A JP 2004277274 A JP2004277274 A JP 2004277274A JP 2004277274 A JP2004277274 A JP 2004277274A JP 2006093418 A JP2006093418 A JP 2006093418A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solar cell
silicon substrate
semiconductor substrate
type silicon
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004277274A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4646584B2 (ja
Inventor
Masaomi Hioki
正臣 日置
Yasutoshi Otake
保年 大竹
Kimito Hagino
公人 萩野
Keisuke Ohira
圭祐 大平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2004277274A priority Critical patent/JP4646584B2/ja
Publication of JP2006093418A publication Critical patent/JP2006093418A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4646584B2 publication Critical patent/JP4646584B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

【課題】 最大電力の大きい太陽電池を効率的に製造することができる太陽電池の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板の第1の面および第1の面の反対側にある第2の面を酸溶液を用いてエッチングする工程と、酸溶液を用いたエッチング後に半導体基板の第1の面上に保護膜を形成する工程と、保護膜の形成後に半導体基板の第2の面をアルカリ溶液を用いてエッチングする工程とを含む太陽電池の製造方法である。
【選択図】 図1

Description

本発明は太陽電池の製造方法に関し、特に、最大電力の大きい太陽電池を効率的に製造することができる太陽電池の製造方法に関する。
近年、エネルギ資源の枯渇の問題や大気中のCO2の増加のような地球環境問題などからクリーンなエネルギの開発が望まれており、特に太陽電池を用いた太陽光発電が新しいエネルギ源として開発、実用化され、発展の道を歩んでいる。
図4(a)〜(j)は、従来の太陽電池の製造方法を図解する模式的な断面図である。まず、図4(a)に示すように、たとえばワイヤーソーなどを用いて多結晶のp型シリコンインゴットを300μm程度の厚さに切り出すことによって、p型シリコン基板2を形成する。ここで、p型シリコン基板2の表面にはワイヤーソーなどによってダメージ層1が形成される。次に、図4(b)に示すように、NaOH(水酸化ナトリウム)にイソプロピルアルコールを添加したアルカリ溶液を用いたエッチングによって、ダメージ層1が除去されるとともにp型シリコン基板2の受光面(太陽電池としたときに太陽光が主に入射する側の表面)および裏面(受光面の裏側にある表面)に大きな段差を有する凹凸(図示せず)が形成される。次いで、図4(c)に示すように、pn接合分離を目的として、p型シリコン基板2の裏面の周縁部にシリコンおよびチタンを含む溶液からなるマスク材3がスピンコータにより塗布される。これは、特許文献1に記載されている製造方法であって、容易にpn接合分離を行なうことが可能であり、大量生産に適している。
そして、図4(d)に示すように、p型シリコン基板2の受光面の全面に、拡散源としてP25(五酸化二リン)を含むドーパント液4がスピンコータにより塗布される。続いて、このp型シリコン基板2を拡散炉で800〜900℃程度に加熱することによって、p型シリコン基板2の受光面にドーパントが拡散して、図4(e)に示すようにp型シリコン基板2の受光面に不純物拡散層であるn+層5が形成される。このとき、p型シリコン基板2の裏面のマスク材3が塗布された領域にはマスク材3が加熱されて生じたTiO2(二酸化チタン)とSiO2(二酸化シリコン)とが混在したマスク膜が形成されており、p型シリコン基板2の裏面にはn+層が形成されていないため、pn接合分離が行われていることになる。
そして、p型シリコン基板2をフッ酸に浸漬させることで、上記のマスク膜と、ドーパント液4が加熱されて生じたPSG(リンシリケートガラス)層とを除去することによって、図4(f)に示すp型シリコン基板2が得られる。次いで、図4(g)に示すように、反射防止膜(ARC)の形成およびパッシベーションを目的として、プラズマCVD法により、p型シリコン基板2の受光面上に窒化シリコン膜6が形成される。
次に、スクリーン印刷法によりp型シリコン基板2の裏面にアルミニウムペーストを印刷し、これを150〜200℃程度で乾燥させた後に700℃程度で加熱することで、図4(h)に示すように、p型シリコン基板2の裏面にアルミニウム電極8と、p型不純物であるアルミニウムを多量に含んだp+層7とが形成される。このp+層7はBSF(Back Surface Field;裏面電界)層と呼ばれ、p型シリコン基板2の裏面近傍にpp+層の障壁を形成する。これにより、p型シリコン基板2内で生成された少数キャリアがp型シリコン基板2の裏面に向かわないようにすることができるため、pn接合部に到達するものが増加し、光電流を増加させる。さらに、pp+層間のエネルギ差が開放電圧の増大をもたらす。
そして、スクリーン印刷法により、銀ペーストがアルミニウム電極8の一部と重なるようにして印刷される。また、受光面にも同様に、集電用の櫛状の細いグリッド電極とそれに繋がる接続用の電極の形成のためにこれらの電極の形状に銀ペーストが印刷される。そして、これらの銀ペーストを150〜200℃で乾燥し、600℃程度で加熱することによって、図4(i)に示すように、アルミニウム電極8上に銀電極9が形成されるとともに、銀ペーストがp型シリコン基板2の受光面側の窒化シリコン膜6をファイヤースルーして、n+層5とオーミックコンタクトを有する銀電極10が形成される。最後に、はんだディップ処理を行うことで、図4(j)に示すように銀電極9、10の表面がはんだ11で被覆されて、太陽電池が完成する。
このようにして作製される太陽電池の最大電力向上のためには、入射した太陽光が受光面で反射するのを低減することが挙げられる。一般に単結晶シリコン基板を用いた太陽電池の製造においては、結晶軸が(100)の受光面に対して、NaOHにイソプロピルアルコールを添加したアルカリ溶液を用いた異方性エッチングを行なうことによって、受光面にピラミッド状の凹凸を形成することで太陽光の反射を低減している。他方、多結晶シリコン基板を用いた太陽電池においても同様の手法を用いることがあるが、多結晶シリコン基板の場合には受光面に様々な結晶方位があるため凹凸の段差が大きくなり、均一なピラミッドを形成することが困難であることから、太陽光の反射の低減効果が十分でないという問題がある。
そこで、特許文献2においては、アルカリ溶液に代わって、フッ酸、硝酸およびリン酸を主成分とした酸溶液中でエッチングを行なうことによって多結晶シリコン基板の受光面に太陽光の反射の低減に有効な微細な凹凸を形成して太陽光の反射を低減する方法が記載されている。また、非特許文献1には、室温以下の低温で、フッ酸と硝酸のみの組成での酸溶液を用いて、多結晶シリコン基板の表面に太陽光の反射の低減に有効な微細な凹凸を形成する方法が記載されている。
特許第2955167号公報 特開平10−303443号公報 WCPEC−3, May11−18, 2003, 4P−C4−33
しかしながら、酸溶液により微細な凹凸を形成した多結晶シリコン基板に、上述した従来の太陽電池の製造方法を適用した場合、銀ペーストの加熱後に多結晶シリコン基板の裏面にアルミニウム粒子が多量に発生するという問題があった。このアルミニウム粒子は、太陽電池の特性測定や、モジュール化の際に割れの起点になるため、歩留まりを著しく低下させることになる。また、アルミニウム粒子が発生する場合には、p+層の形成が不均一であるため、BSF効果が低下し、太陽光の一定の照度下で負荷に供給し得る太陽電池の最大電力も低下することになる。
アルミニウム粒子の発生のメカニズムは、次のように考えられる。まず、アルミニウムペースト加熱時において、p+層およびp+層とアルミニウム電極との間にあるアルミニウムとシリコンとの合金層(図示せず)の形成が不均一な領域が起点となり、銀ペースト加熱時に上記の合金層が再度溶融することによって、アルミニウムとシリコンとの合金の形成が不均一な領域が局所的に凝集する。このとき、合金層を覆っているアルミニウム電極の厚みが薄い場合にはアルミニウム電極が突き破られて、アルミニウムを主成分とする合金が粒子となって多結晶シリコン基板の裏面に発生する。
なお、多結晶シリコン基板の裏面に酸溶液を用いたエッチングにより微細な凹凸が形成されている場合には、アルミニウムペースト加熱時にアルミニウムとシリコンの共晶反応により溶融したアルミニウム−シリコン溶液が均一に広がることができずに、不均一な合金層が形成される要因となる。
アルミニウム粒子の発生を抑制する対策の一つとして、アルミニウムペーストを厚く印刷し、アルミニウム電極を厚く形成する方法が考えられる。しかし、この場合には、アルミニウムペーストの使用量の増加によるコストアップおよび多結晶シリコン基板の反り量アップによる歩留まりの低下が問題となる。もちろん、多結晶シリコン基板を厚くすれば反りの問題は解決するが、多結晶シリコン基板を厚くしたことによるコストアップの問題が生じる。
上記の事情に鑑みて、本発明は、最大電力の大きい太陽電池を効率的に製造することができる太陽電池の製造方法を提供することを目的とする。
本発明は、半導体基板の第1の面および第1の面の反対側にある第2の面を酸溶液を用いてエッチングする工程と、酸溶液を用いたエッチング後に半導体基板の第1の面上に保護膜を形成する工程と、保護膜の形成後に半導体基板の第2の面をアルカリ溶液を用いてエッチングする工程とを含む太陽電池の製造方法である。
ここで、本発明の太陽電池の製造方法において、アルカリ溶液の温度が15℃以上35℃以下であって、アルカリ濃度が2.5質量%以上10質量%以下であることが好ましい。
また、本発明の太陽電池の製造方法において、酸溶液は、フッ酸と、硝酸と、水と、を含むことが好ましい。
また、本発明の太陽電池の製造方法においては、半導体基板の第1の面に不純物拡散層を形成した後に、半導体基板の第2の面がアルカリ溶液を用いてエッチングされることが好ましい。
また、本発明の太陽電池の製造方法においては、半導体基板の第2の面の少なくとも一部にマスク材を塗布した後に半導体基板の第1の面に不純物拡散層を形成し、その後、半導体基板の第2の面がアルカリ溶液を用いてエッチングされることが好ましい。
また、本発明の太陽電池の製造方法において、保護膜は、プラズマCVD法により形成された窒化シリコン膜であることが好ましい。
また、本発明の太陽電池の製造方法においては、保護膜上に銀ペーストを印刷した後に加熱することによって半導体基板の第1の面上に電極を形成することが好ましい。
本発明によれば、最大電力の大きい太陽電池を効率的に製造することができる太陽電池の製造方法を提供することができる。
以下、本発明の実施の形態について説明する。なお、本願の図面において、同一の参照符号は、同一部分または相当部分を表わすものとする。
(半導体基板)
本発明において、半導体基板としては、たとえばp型またはn型のシリコン基板などが用いられる。なかでも、本発明においては、多結晶のシリコン基板を用いた太陽電池の最大電力を特に向上させることができるので、半導体基板として多結晶のシリコン基板が用いられることが好ましい。
(酸溶液)
本発明において、酸溶液としては、酸性であって、半導体基板の第1の面および第1の面の反対側にある第2の面をエッチングすることができる溶液が用いられる。なかでも、多結晶のシリコン基板の第1の面および第2の面に太陽光の反射の防止に有効な微細な凹凸を形成することができる観点からは、フッ酸と硝酸と水とを含む酸溶液が用いられることが好ましい。このような酸溶液を用いて半導体基板の第1の面をエッチングすることによって、アルカリ溶液を用いた場合のように太陽光の反射防止効果が不十分な凹凸が形成されず、半導体基板の第1の面に太陽光の反射防止に有効な微細な凹凸を形成することができる傾向にあるため、太陽電池の最大電力を大きくすることができる。
なお、本発明において、酸溶液を用いた半導体基板の第1の面および第2の面のエッチングは、半導体基板の第1の面および第2の面のそれぞれの面の少なくとも一部について行なわれればよい。
(保護膜)
本発明において、半導体基板の第1の面上に形成される保護膜としては、たとえば窒化シリコン膜または二酸化シリコン膜などが用いられる。なかでも、多結晶のシリコン基板を用いた場合にパッシベーション効果を高くする観点からは、保護膜としてプラズマCVD法により形成された窒化シリコン膜が用いられることが好ましい。また、工数を減少させて効率的に太陽電池を製造する観点からは、保護膜が反射防止膜としても用いられることが好ましい。このような保護膜を形成することによって、後述するアルカリ溶液を用いたエッチングの際にエッチングを必要としない半導体基板の第1の面を保護することができる。
なお、保護膜自体は後述するアルカリ溶液によって多少エッチングされることがあるため、保護膜が反射防止膜としても用いられる場合には、太陽光の反射防止効果の低減を防止する観点から、保護膜を厚めに形成することが好ましい。
(アルカリ溶液)
本発明において、アルカリ溶液としては、アルカリ性であって、半導体基板の第2の面をエッチングすることができる溶液が用いられる。本発明に用いられるアルカリ溶液としては、たとえば水酸化カリウム、水酸化ナトリウムまたは水酸化アンモニウムなどのアルカリを水に溶解させた溶液などがある。このようなアルカリ溶液を用いて半導体基板の第2の面をエッチングすることによって、上記の酸溶液を用いたエッチングにより半導体基板の第2の面に形成された微細な凹凸をより平坦にすることができる。したがって、たとえば、このような平坦化された半導体基板の第2の面にアルミニウムペーストを印刷した後に加熱することによって半導体基板の第2の面におけるアルミニウムを含む合金の形成の均一性をより向上させることができるため、アルミニウム粒子の発生を抑制することができ、太陽電池の最大電力を大きくすることができる。
ここで、本発明に用いられるアルカリ溶液の温度は15℃以上35℃以下であることが好ましい。アルカリ溶液の温度が15℃未満である場合には半導体基板の第2の面のエッチング速度が低下する傾向にあり、35℃よりも高い場合には保護膜が余分にエッチングされて太陽電池の最大電力が低下する傾向にある。また、本発明に用いられるアルカリ溶液のアルカリ濃度は2.5質量%以上10%質量以下であることが好ましい。アルカリ溶液のアルカリ濃度が2.5質量%未満である場合には半導体基板の第2の面のエッチング速度が低下する傾向にあり、10質量%よりも高い場合には保護膜が余分にエッチングされて太陽電池の最大電力が低下する傾向にある。
また、アルカリ溶液を用いて半導体基板の第2の面をエッチングする前に、たとえばフッ化水素を1〜10質量%含むフッ酸に10〜100秒浸漬させることによって、半導体基板の第2の面に形成されている自然酸化膜を除去することもできる。この場合には、アルカリ溶液を用いた半導体基板の第2の面のエッチングを短時間で行なうことができる。
なお、本発明において、アルカリ溶液を用いた半導体基板の第2の面のエッチングは、半導体基板の第2の面の少なくとも一部について行なわれればよい。
(不純物拡散層)
本発明において、不純物拡散層は、半導体基板の第1の面および/または第2の面から半導体基板の内部に向けて不純物が拡散することによって半導体基板の第1の面および/または第2の面に形成される。不純物拡散層は、たとえば、ホウ素などのp型不純物またはリンなどのn型不純物を含むドーパント液を半導体基板の第1の面および/または第2の面に塗布した後にこれを加熱することによって形成することができる。また、p型不純物またはn型不純物を含むペーストを半導体基板の第1の面および/または第2の面に塗布した後にペーストを加熱することによっても形成することができる。このような不純物拡散層を形成することによって半導体基板の内部にpn接合やBSFを形成することができる。
(マスク材)
本発明において、マスク材としては、たとえばシリコンを含む溶液とチタンを含む溶液と主溶液との混合液が用いられる。ここで、シリコンを含む溶液としては、たとえばケイ酸エチル、ケイ酸メチル、ケイ酸イソプロピル、シリコンのハロゲン化物などの溶液がある。また、チタンを含む溶液としては、たとえばテトライソプロピルチタネート、テトラ−n−ブチルチタネートまたは塩化チタンなどの溶液の他に、固形状のチタンをアルコールなどに溶解させた溶液などがある。また、主溶液としては、たとえばイソプロピルアルコール、エチルアルコール、メチルアルコール、ブチルアルコールなどのアルコール類やメチルエチルケトンなどのケトン類などがある。なお、マスク材として用いられる上記の混合液には、ギ酸、酢酸、シュウ酸または安息香酸などのカルボン酸が含まれていてもよい。
このようなマスク材を塗布することによって、たとえば上記の不純物拡散層形成のために半導体基板の第1の面に塗布されたドーパント液がその反対側の第2の面に到達するのを防止することができるため、pn接合分離がより確実なものとなり、漏れ電流量が低下して、太陽電池の最大電力をより大きくすることができる。
(実施例1)
図1(a)〜(k)は、実施例1における太陽電池の製造方法を図解する模式的な断面図である。まず、たとえばワイヤーソーなどを用いて、多結晶のp型シリコンインゴットを幅125mm×長さ125mm×厚さ300μm程度の平板状に切り出すことによって図1(a)に示すp型シリコン基板2を得た。ここで、p型シリコン基板2の表面にはダメージ層1が形成されていた。
次に、このp型シリコン基板2をフッ酸と硝酸と水からなる酸溶液に浸漬させてエッチングすることにより、p型シリコン基板2の表面のダメージ層1を除去するとともに、微細な凹凸を形成して、図1(b)に示すp型シリコン基板21を得た。
次いで、図1(c)に示すように、p型シリコン基板21の第1の面としての受光面上に、プラズマCVD法を用いて厚さ70μm〜100μmの窒化シリコン膜6が形成された。この窒化シリコン膜6を保護膜として、p型シリコン基板21を水酸化カリウムを5質量%含む25℃のアルカリ溶液(残りの95質量%は水)に浸漬させて、p型シリコン基板21の第2の面としての裏面のエッチングを約1ミクロン行なうことによって、図1(d)に示すように平坦化した裏面22を有するp型シリコン基板21を得た。次に、p型シリコン基板21をフッ化水素を49質量%含むフッ酸に浸漬させて、窒化シリコン膜6を除去した後に、図1(e)に示すように、p型シリコン基板21の裏面の周縁部にシリコンおよびチタンを含む溶液からなるマスク材3をスピンコータにより塗布した。
さらに、図1(f)に示すように、拡散源として、p型シリコン基板21の受光面の全面にP25を含むドーパント液4をスピンコータにより塗布した。このp型シリコン基板21を拡散炉で800〜900℃程度に加熱することによって、図1(g)に示すように、p型シリコン基板21の受光面に表面抵抗率が約50Ωの不純物拡散層であるn+層5を形成した。そして、このp型シリコン基板21をフッ化水素を49質量%含むフッ酸に浸漬させて、p型シリコン基板21の受光面にドーパント液4の加熱により生じたPSG層と裏面のマスク材3の加熱により生じたマスク膜とを除去した。
次に、図1(h)に示すように、反射防止膜の形成およびパッシベーションを目的として、p型シリコン基板21の受光面上に、プラズマCVD法により70〜100μmの窒化シリコン膜6を形成した。そして、スクリーン印刷法により、p型シリコン基板21の平坦化された裏面22にアルミニウムペーストを印刷し、150〜200℃程度で乾燥した後に、700℃程度で加熱することで、図1(i)に示すように、p型シリコン基板21の裏面22にアルミニウム電極8およびp型不純物であるアルミニウムを多量に含んだp+層7を形成した。なお、この際、アルミニウム電極8とp+層7との間にはアルミニウムとシリコンとの合金層(図示せず)が形成された。
そして、スクリーン印刷法により、銀ペーストをアルミニウム電極8の一部と重なるようにして印刷した。また、受光面にも同様に、集電用の櫛状の細いグリッド電極とそれに繋がる接続用の電極の形成のためにこれらの電極の形状に銀ペーストを印刷した。そして、これらの銀ペーストを150〜200℃で乾燥し、600℃程度で加熱することによって、図1(j)に示すように、アルミニウム電極8上に銀電極9が形成されるとともに、銀ペーストがp型シリコン基板21の受光面側の窒化シリコン膜6をファイヤースルーして、n+層5とオーミックコンタクトを有する銀電極10が形成された。最後に、はんだディップ処理を行うことで、図1(k)に示すように銀電極9、10の表面がはんだ11で被覆されて、太陽電池を完成させた。
この太陽電池の特性について、短絡電流(Isc)値、開放電圧(Voc)値、フィルファクタ(FF)値および最大電力(Pm)値を算出した。その結果を表1に示す。なお、表1に示すこれらの値は、上述の背景技術の欄で図4(a)〜(j)を用いて説明した従来の太陽電池の製造方法により得られた太陽電池の短絡電流(Isc)値、開放電圧(Voc)値、フィルファクタ(FF)値および最大電力(Pm)値に対する比率で表わされている。
また、実施例1における太陽電池の裏面を目視により観察し、アルミニウム粒子が発生していないかどうかを確認した。その結果を表1に示す。なお、表1において、○の表記はアルミニウム粒子が全く発生していないことを示し、×の表記はアルミニウム粒子が多量に発生したことを示している。
表1に示すように、実施例1において得られた太陽電池の短絡電流値、フィルファクタ値および最大電力値は、従来の太陽電池の製造方法により得られた太陽電池のものよりも向上していた。また、表1に示すように、実施例1において得られた太陽電池の裏面には、アルミニウム粒子が発生していなかった。
(実施例2)
図2(a)〜(j)は、実施例2における太陽電池の製造方法を図解する模式的な断面図である。まず、たとえばワイヤーソーなどを用いて、多結晶のp型シリコンインゴットを幅125mm×長さ125mm×厚さ300μm程度の平板状に切り出すことによって図2(a)に示すp型シリコン基板2を得た。ここで、p型シリコン基板2の表面にはダメージ層1が形成されていた。
次に、このp型シリコン基板2をフッ酸と硝酸と水からなる酸溶液に浸漬させてエッチングすることにより、p型シリコン基板2の表面のダメージ層1を除去するとともに、微細な凹凸を形成して、図2(b)に示すp型シリコン基板21を得た。
次いで、図2(c)に示すように、拡散源として、p型シリコン基板21の第1の面としての受光面の全面にP25を含むドーパント液4をスピンコータにより塗布した。このp型シリコン基板21を拡散炉で800〜900℃程度に加熱することによって、図2(d)に示すように、p型シリコン基板21の受光面に表面抵抗率が約50Ωの不純物拡散層であるn+層5を形成した。このときp型シリコン基板21の周縁および第2の面としての裏面にもリンが拡散して形成された薄いn+層が形成されていた(図示せず)。そして、このp型シリコン基板21をフッ化水素を49質量%含むフッ酸に浸漬させて、図2(e)に示すように、p型シリコン基板21の受光面のドーパント液4の加熱により生じたPSG層を除去した。
続いて、図2(f)に示すように、p型シリコン基板21の受光面上に、プラズマCVD法を用いて厚さ70μm〜100μmの窒化シリコン膜6を形成した。この窒化シリコン膜6を保護膜として、p型シリコン基板21を水酸化カリウムを5質量%含む25℃のアルカリ溶液(残りの95質量%は水)に浸漬させて、p型シリコン基板21の裏面のエッチングを約1ミクロン行なうことによって、図2(g)に示すように平坦化した裏面22を有するp型シリコン基板21を得た。
そして、スクリーン印刷法により、p型シリコン基板21の平坦化された裏面22にアルミニウムペーストを印刷し、150〜200℃程度で乾燥した後に、700℃程度で加熱することで、図2(h)に示すように、p型シリコン基板21の裏面22にアルミニウム電極8およびp型不純物であるアルミニウムを多量に含んだp+層7を形成した。なお、この際、アルミニウム電極8とp+層7との間にはアルミニウムとシリコンとの合金層(図示せず)が形成された。
次いで、スクリーン印刷法により、銀ペーストをアルミニウム電極8の一部と重なるようにして印刷した。また、受光面にも同様に、集電用の櫛状の細いグリッド電極とそれに繋がる接続用の電極の形成のためにこれらの電極の形状に銀ペーストを印刷した。そして、これらの銀ペーストを150〜200℃で乾燥し、600℃程度で加熱することによって、図2(i)に示すように、アルミニウム電極8上に銀電極9が形成されるとともに、銀ペーストがp型シリコン基板21の受光面側の窒化シリコン膜6をファイヤースルーして、n+層5とオーミックコンタクトを有する銀電極10が形成された。最後に、はんだディップ処理を行うことで、図2(j)に示すように銀電極9、10の表面がはんだ11で被覆されて、太陽電池を完成させた。
この太陽電池の特性について、実施例1と同様にして、短絡電流(Isc)値、開放電圧(Voc)値、フィルファクタ(FF)値および最大電力(Pm)値を算出した。また、実施例1と同様にして、アルミニウム粒子が発生していないかどうかを確認した。その結果を表1に示す。
表1に示すように、実施例2において得られた太陽電池の短絡電流値および最大電力値は、従来の太陽電池の製造方法により得られた太陽電池のものよりも向上していた。また、表1に示すように、実施例2において得られた太陽電池の裏面には、アルミニウム粒子が発生していなかった。
なお、実施例2においては、実施例1の場合と異なって、リンの拡散によるn+層の形成後にp型シリコン基板の裏面を平坦化させているので、実施例1の場合よりもより清浄な裏面が得られる。したがって、実施例2においては、アルミニウムペーストの加熱の際により良好なBSF層が形成されるため、太陽電池の最大電力がより大きくなっていた。また、実施例2においては、プラズマCVD法により形成された窒化シリコン膜が反射防止膜と保護膜とを兼ねているため、実施例1の場合よりも工数が減少され、より効率的に太陽電池を製造することができた。
(実施例3)
図3(a)〜(k)は、実施例3における太陽電池の製造方法を図解する模式的な断面図である。まず、たとえばワイヤーソーなどを用いて、多結晶のp型シリコンインゴットを幅125mm×長さ125mm×厚さ300μm程度の平板状に切り出すことによって図3(a)に示すp型シリコン基板2を得た。ここで、p型シリコン基板2の第1の面としての受光面および第2の面としての裏面にはダメージ層1が形成されていた。
次に、このp型シリコン基板2をフッ酸と硝酸と水からなる酸溶液に浸漬させてエッチングすることにより、p型シリコン基板2の表面のダメージ層1を除去するとともに、微細な凹凸を形成して、図3(b)に示すp型シリコン基板21を得た。
次いで、図3(c)に示すように、p型シリコン基板21の裏面の周縁部にシリコンおよびチタンを含む溶液からなるマスク材3をスピンコータにより塗布した。さらに、図3(d)に示すように、拡散源として、p型シリコン基板21の受光面の全面にP25を含むドーパント液4をスピンコータにより塗布した。このp型シリコン基板21を拡散炉で800〜900℃程度に加熱することによって、図3(e)に示すように、p型シリコン基板21の受光面に表面抵抗率が約50Ωの不純物拡散層であるn+層5を形成した。そして、このp型シリコン基板21をフッ化水素を49質量%含むフッ酸に浸漬させて、図3(f)に示すように、p型シリコン基板21の受光面にドーパント液4の加熱により生じたPSG層と裏面のマスク材3の加熱により生じたマスク膜とを除去した。
次いで、図3(g)に示すように、p型シリコン基板21の受光面上に、プラズマCVD法を用いて厚さ70μm〜100μmの窒化シリコン膜6が形成された。この窒化シリコン膜6を保護膜として、p型シリコン基板21を水酸化カリウムを5質量%含む25℃のアルカリ溶液(残りの95質量%は水)に浸漬させて、p型シリコン基板21の裏面のエッチングを約1ミクロン行なうことによって、図3(h)に示すように平坦化した裏面22を有するp型シリコン基板21を得た。
そして、スクリーン印刷法により、p型シリコン基板21の平坦化された裏面22にアルミニウムペーストを印刷し、150〜200℃程度で乾燥した後に、700℃程度で加熱することで、図3(i)に示すように、p型シリコン基板21の裏面22にアルミニウム電極8およびp型不純物であるアルミニウムを多量に含んだp+層7を形成した。なお、この際、アルミニウム電極8とp+層7との間にはアルミニウムとシリコンとの合金層(図示せず)が形成された。
そして、スクリーン印刷法により、銀ペーストをアルミニウム電極8の一部と重なるようにして印刷した。また、受光面にも同様に、集電用の櫛状の細いグリッド電極とそれに繋がる接続用の電極の形成のためにこれらの電極の形状に銀ペーストを印刷した。そして、これらの銀ペーストを150〜200℃で乾燥し、600℃程度で加熱することによって、図3(j)に示すように、アルミニウム電極8上に銀電極9が形成されるとともに、銀ペーストがp型シリコン基板21の受光面側の窒化シリコン膜6をファイヤースルーして、n+層5とオーミックコンタクトを有する銀電極10が形成された。最後に、はんだディップ処理を行うことで、図3(k)に示すように銀電極9、10の表面がはんだ11で被覆されて、太陽電池を完成させた。
この太陽電池の特性について、実施例1と同様にして、短絡電流(Isc)値、開放電圧(Voc)値、フィルファクタ(FF)値および最大電力(Pm)値を算出した。また、実施例1と同様にして、アルミニウム粒子が発生していないかどうかを確認した。その結果を表1に示す。
表1に示すように、実施例3において得られた太陽電池の短絡電流値、フィルファクタ値および最大電力値は、従来の太陽電池の製造方法により得られた太陽電池のものよりも向上していた。また、表1に示すように、実施例3において得られた太陽電池の裏面には、アルミニウム粒子が発生していなかった。
なお、実施例3においては、実施例2と同様の効果に加えて、マスク材が用いられていることでpn接合分離がより確実なものとなって漏れ電流量が低下したため、太陽電池の最大電力がより大きくなっていた。
(比較例1)
p型シリコン基板の受光面に保護膜としての窒化シリコン膜を形成せず、p型シリコン基板の裏面のエッチングを行なわなかったこと以外は実施例3と同様にして、太陽電池を形成した。
この太陽電池の特性について、実施例1と同様にして、短絡電流(Isc)値、開放電圧(Voc)値、フィルファクタ(FF)値および最大電力(Pm)値を算出した。また、実施例1と同様にして、アルミニウム粒子が発生していないかどうかを確認した。その結果を表1に示す。
表1に示すように、比較例1において得られた太陽電池の短絡電流値、開放電圧値、フィルファクタ値および最大電力は、実施例1〜3において得られた太陽電池の同等以下であって、比較例1において得られた太陽電池の裏面にはアルミニウム粒子が発生した。
Figure 2006093418
今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
本発明の太陽電池の製造方法においては、半導体基板の受光面に酸溶液を用いたエッチングが行なわれることにより太陽光の反射防止に有効な微細な凹凸を形成することができ、この受光面の微細な凹凸が保護膜によって保護された状態で半導体基板の裏面がアルカリ溶液を用いたエッチングにより平坦化されて半導体基板の裏面に均一な合金を形成することができるため、最大電力の大きい太陽電池を効率的に製造することができる。
本発明の実施例1における太陽電池の製造方法を図解するための模式的な断面図である。 本発明の実施例2における太陽電池の製造方法を図解するための模式的な断面図である。 本発明の実施例3における太陽電池の製造方法を図解するための模式的な断面図である。 従来の太陽電池の製造方法を図解するための模式的な断面図である。
符号の説明
1 ダメージ層、2,21 シリコン基板、3 マスク材、4 ドーパント液、5 n+層、6 窒化シリコン膜、7 p+層、8 アルミニウム電極、9,10 銀電極、22 裏面。

Claims (7)

  1. 半導体基板の第1の面および前記第1の面の反対側にある第2の面を酸溶液を用いてエッチングする工程と、前記酸溶液を用いたエッチング後に前記半導体基板の第1の面上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜の形成後に前記半導体基板の第2の面をアルカリ溶液を用いてエッチングする工程と、を含む、太陽電池の製造方法。
  2. 前記アルカリ溶液は、温度が15℃以上35℃以下であって、アルカリ濃度が2.5質量%以上10質量%以下であることを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池の製造方法。
  3. 前記酸溶液は、フッ酸と、硝酸と、水と、を含むことを特徴とする、請求項1または2に記載の太陽電池の製造方法。
  4. 前記半導体基板の第1の面に不純物拡散層を形成した後に、前記半導体基板の第2の面がアルカリ溶液を用いてエッチングされることを特徴とする、請求項1から3のいずれかに記載の太陽電池の製造方法。
  5. 前記半導体基板の第2の面の少なくとも一部にマスク材を塗布した後に前記半導体基板の第1の面に不純物拡散層を形成し、その後、前記半導体基板の第2の面がアルカリ溶液を用いてエッチングされることを特徴とする、請求項1から4のいずれかに記載の太陽電池の製造方法。
  6. 前記保護膜は、プラズマCVD法により形成された窒化シリコン膜であることを特徴とする、請求項1から5のいずれかに記載の太陽電池の製造方法。
  7. 前記保護膜上に銀ペーストを印刷した後に加熱することによって前記半導体基板の第1の面上に電極を形成することを特徴とする、請求項6に記載の太陽電池の製造方法。
JP2004277274A 2004-09-24 2004-09-24 太陽電池の製造方法 Expired - Fee Related JP4646584B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004277274A JP4646584B2 (ja) 2004-09-24 2004-09-24 太陽電池の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004277274A JP4646584B2 (ja) 2004-09-24 2004-09-24 太陽電池の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006093418A true JP2006093418A (ja) 2006-04-06
JP4646584B2 JP4646584B2 (ja) 2011-03-09

Family

ID=36234093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004277274A Expired - Fee Related JP4646584B2 (ja) 2004-09-24 2004-09-24 太陽電池の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4646584B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010109692A1 (ja) * 2009-03-25 2010-09-30 三菱電機株式会社 基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法
EP2238610A2 (en) * 2008-02-19 2010-10-13 LG Electronics Inc. Method of etching asymmetric wafer, solar cell including the asymmetrically etched wafer, and method of manufacturing the same
KR20120036495A (ko) * 2010-10-08 2012-04-18 김병준 태양전지제조방법 및 그 방법에 의하여 제조된 태양전지
KR101244355B1 (ko) 2011-06-10 2013-03-18 주성엔지니어링(주) 태양전지의 제조 방법 및 태양전지 생산 장비
KR101624979B1 (ko) * 2010-12-20 2016-05-27 주식회사 원익아이피에스 태양전지소자의 제조방법 및 그 방법에 의하여 제조된 태양전지소자

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04256374A (ja) * 1991-02-08 1992-09-11 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JPH0722634A (ja) * 1993-06-22 1995-01-24 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JPH10303443A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池及びその製造方法、半導体製造装置
JP2000101111A (ja) * 1998-09-17 2000-04-07 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JP2004152827A (ja) * 2002-10-29 2004-05-27 Kyocera Corp 太陽電池素子およびその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04256374A (ja) * 1991-02-08 1992-09-11 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JPH0722634A (ja) * 1993-06-22 1995-01-24 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JPH10303443A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池及びその製造方法、半導体製造装置
JP2000101111A (ja) * 1998-09-17 2000-04-07 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JP2004152827A (ja) * 2002-10-29 2004-05-27 Kyocera Corp 太陽電池素子およびその製造方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2238610A2 (en) * 2008-02-19 2010-10-13 LG Electronics Inc. Method of etching asymmetric wafer, solar cell including the asymmetrically etched wafer, and method of manufacturing the same
EP2238610A4 (en) * 2008-02-19 2013-02-27 Lg Electronics Inc METHOD OF ACIDIFYING AN ASYMMETRIC WAFER, SOLAR CELL WITH ASYMMETRICALLY APPLIED WAFER, AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF
WO2010109692A1 (ja) * 2009-03-25 2010-09-30 三菱電機株式会社 基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法
JP5361990B2 (ja) * 2009-03-25 2013-12-04 三菱電機株式会社 基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法
US8652869B2 (en) 2009-03-25 2014-02-18 Mitsubishi Electric Corporation Method for roughening substrate surface and method for manufacturing photovoltaic device
KR20120036495A (ko) * 2010-10-08 2012-04-18 김병준 태양전지제조방법 및 그 방법에 의하여 제조된 태양전지
KR101657626B1 (ko) * 2010-10-08 2016-09-19 주식회사 원익아이피에스 태양전지제조방법 및 그 방법에 의하여 제조된 태양전지
KR101624979B1 (ko) * 2010-12-20 2016-05-27 주식회사 원익아이피에스 태양전지소자의 제조방법 및 그 방법에 의하여 제조된 태양전지소자
KR101244355B1 (ko) 2011-06-10 2013-03-18 주성엔지니어링(주) 태양전지의 제조 방법 및 태양전지 생산 장비

Also Published As

Publication number Publication date
JP4646584B2 (ja) 2011-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5277485B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JP5006826B2 (ja) 太陽電池及びその製造方法
JP4425917B2 (ja) 太陽電池セルおよびその製造方法
CN102959717B (zh) 太阳能电池单元及其制造方法
JP5991945B2 (ja) 太陽電池および太陽電池モジュール
JP2007266262A (ja) インターコネクタ付き太陽電池、太陽電池モジュールおよび太陽電池モジュールの製造方法
JP2010527146A (ja) スクリーン印刷された局所裏面電界を伴う高品質裏面コンタクトの形成
JP5478726B2 (ja) シリコンの表面処理
JP2004006565A (ja) 太陽電池とその製造方法
US9685581B2 (en) Manufacturing method of solar cell
TWI401810B (zh) 太陽能電池
JP2010093194A (ja) 太陽電池の製造方法
JP2015138959A (ja) 光起電力装置および光起電力装置の製造方法
JP2008244282A (ja) 光電変換素子およびその製造方法
JP4646584B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JP2009290235A (ja) 太陽電池セルおよびその製造方法
JP2003273382A (ja) 太陽電池素子
JP2006294696A (ja) 太陽電池の製造方法および太陽電池用シリコン基板
JP2011066044A (ja) 太陽電池素子の製造方法
JP6114205B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JP6494414B2 (ja) 太陽電池セルの製造方法
JP2004281569A (ja) 太陽電池素子の製造方法
JP4212292B2 (ja) 太陽電池及びその製造方法
JP2005136062A (ja) 太陽電池の製造方法
JP2013179370A (ja) 光起電力装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060912

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101130

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101207

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131217

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees