JPH04256374A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents

太陽電池の製造方法

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JPH04256374A
JPH04256374A JP3017703A JP1770391A JPH04256374A JP H04256374 A JPH04256374 A JP H04256374A JP 3017703 A JP3017703 A JP 3017703A JP 1770391 A JP1770391 A JP 1770391A JP H04256374 A JPH04256374 A JP H04256374A
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JP
Japan
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acid
solution
junction
solar cell
titanium
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JP3017703A
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English (en)
Inventor
Shinichi Nakajima
中島 紳一
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、太陽電池の製造方法に
関し、特に太陽電池のPN接合の改良に係る。
【0002】
【従来の技術】従来の太陽電池の製造方法を図3に示す
。図において■〜■はそれぞれの工程を示し、下記の■
〜■に対応する。
【0003】■p型基板(半導体基板)1を酸またはア
ルカリ溶液で処理し、基板表面のダメージ層を除去する
。p型基板は通常シリコンのウエーハであつて、(11
1)の結晶面を有し、直径100mmの円板で、厚さ4
00μ、抵抗率は1Ωcmのものが一般に使用されてい
るが、表面が平滑でないので、上記の処理によりダメー
ジ層を除く。
【0004】■拡散源(P2O5等)および反射防止膜
形成材料を含むドーバント液をスピンコータで基板の表
面に塗布する。これにより、半導体基板1の表面にはド
ーバント液塗布膜2が形成される。
【0005】■拡散炉で熱処理(900℃,15分)す
ることにより、半導体基板1の受光面側にPN接合及び
反射防止膜7を形成する。PN接合は、半導体基板1の
表面に形成されたn+層4と、半導体基板1との間に形
成される。このとき、同時に半導体基板1の側部及び裏
面にも薄いn+層5が形成される。
【0006】■薄いn+層5が半導体基板1の側部及び
裏面に拡がつていると、半導体基板1の全面にPN接合
が形成され、電極形成のために支障があるので、これを
削除する必要がある。そのため、半導体基板1の受光面
側にレジスト膜11をスピン塗布法又は印刷法で形成し
た後、フツ酸及び硝酸の混合液(HF:HNO3=1:
3)でエツチング処理し、薄いn+層5を溶解して、不
必要な部分のPN接合を除去する。
【0007】■レジスト膜11をH2SO4で煮沸又は
トリクロルエチレンで処理し剥離する。
【0008】■裏面にAlを数%添加した銀ペーストを
、表面には銀ペーストを、印刷法で印刷し、600〜7
00℃で高温処理し電極を形成する。図中、8は表面電
極、9は裏面電極である。
【0009】■表裏の電極8,9にはんだ10を被覆し
、太陽電池が完成する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来の太陽電池の製造
方法においては、不要なPN接合を分離するために、図
3の■のレジスト塗布、エツチング工程及び■のレジス
ト剥離工程が必要であり、製造コストが高くなつている
【0011】本発明は、上記に鑑み、PN接合除去工程
をより簡略化して、製造コストを大幅に低減できる太陽
電池の製造方法の提供を目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】(1)本発明請求項1に
よる課題解決手段は、図1,2の如く、太陽電池のPN
接合形成熱処理工程前に、半導体基板1の裏面にPN接
合を防止する物質を付着した後、熱処理により半導体基
板1の表面にPN接合を形成し、裏面にPN接合の形成
されない部分を生成する太陽電池の製造方法において、
前記チタンを含む溶液は、主溶液と、チタンを含む溶液
と、副溶液との組み合わせから成る混合液を使用する。
【0013】(2)請求項2による課題解決手段は、請
求項1記載の混合液の主溶液として、メチルアルコール
、エチルアルコール、ブチルアルコール、イソプロピル
アルコール、メチルエチルケトンあるいはエーテル類を
使用する。
【0014】(3)請求項3による課題解決手段は、請
求項1記載の混合液のチタンを含む溶液として、テトラ
−n−ブチルチタナート、テトライソプロピルチタネー
ト、塩化チタン溶液あるいは酸、アルカリ、アルコール
、エステル等に固化チタンを溶解させた溶液を使用する
【0015】(4)請求項4による課題解決手段は、請
求項1記載の混合液の副溶液として、メチルアルコール
、エチルアルコール、ブチルアルコール、イソプロピル
アルコール、メチルエチルケトン、酢酸、蟻酸、プロピ
オン酸、酪酸、クエン酸、カプロン酸、乳酸、マイレン
酸、シユウ酸、サルチル酸、酒石酸、カプリン酸、アク
リル酸、クロトン酸、吉草酸、ヘプタン酸、アンゲリカ
酸あるいはエーテル類を使用する。
【0016】
【作用】上記課題解決手段において、PN接合形成熱処
理工程前に、半導体基板1の裏面にPN接合を防止する
チタンを含む溶液を付着することにより、半導体基板1
の裏面には、PN接合が形成されないので、半導体基板
1の表面側のPN接合と完全に分離することができる。
【0017】したがつて、従来必要としていたPN接合
除去工程が不要となる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の一実施例を説明する。
【0019】太陽電池は、太陽光の照射により電気を発
生する半導体デバイスであつて、その構造は、半導体の
PN接合に電極を付けたものである。
【0020】上記構成において、PN接合にその半導体
の禁制帯幅より大きいエネルギーを持つ光をあてると、
光は吸収されて電子と正孔が生ずる。光照射によりつく
られた電子と正孔は、PN接合付近の電位障壁により、
それぞれn型およびp型側に分離される、この結果、p
型領域では正孔が、n型領域では電子が過剰に電子と正
孔が蓄積され、電位障壁がなくなつて分離ができなくな
り、定常状態に達する。このときPN接合の両端に発生
する電圧を解放電圧といい、外部回路に負荷をつなぐと
エネルギーを取り出すことができる。
【0021】ここで、本実施例に係る太陽電池の製造方
法を図面に基づいて説明する。
【0022】図1は本発明の一実施例に係る太陽電池の
製造方法を示す図であつて、図において■〜■はそれぞ
れの工程を示し、下記の■〜■に対応する。
【0023】■図3の■と同様、半導体基板(p型基板
)1を酸またはアルカリ溶液で処理し、基板表面のダメ
ージ層を除去する。
【0024】■半導体基板1の表面にドーパント液をス
ピンコーターで塗布することは図3の■と同様であるが
、このとき、半導体基板1の裏面に、例えばチタン酸を
含む薬液(以下、マスク液という)を同時に塗布する。 このマスク液の組成の一例は、エチルアルコール:20
0cc、チタン酸イソプロピル:10cc、酢酸:10
ccの割合の混合液である。図中、2はドーパント液塗
布膜、3はマスク液塗布膜である。
【0025】すなわち、図2−Aに示すように、スピン
コーター(図示されない)のスピンチヤツク22により
固定され5000rpmで回転される半導体基板1の表
面(受光面となる)の中心部に、ノズル23を介してP
2O5等を含むドーパント液20を滴下する。そうする
と、ドーパント液20が遠心力により半導体基板1の受
光面全面に拡がる。
【0026】図2−Bはドーパント液塗布後の半導体基
板1の受光面側の平面図であつて、全面にドーパント液
塗布膜2が形成される。これと同時に、半導体基板1の
裏面側のノズル24からマスク液21を半導体基板1の
裏面の内側の適宜の場所に噴出させると、マスク液21
が遠心力により外側に拡がる。その結果、図2−Cのよ
うに、半導体基板1の裏面には、マスク液21の塗布さ
れていない部分25と、マスク液塗布膜3を有する部分
とが形成される。
【0027】なお、マスク液21を塗布するときには、
半導体基板(ウエーハ)が通常2000〜6000rp
mで回転中に塗布するとよい。これより遅いと、塗布液
がウエーハ周辺より飛び散ることなく、ウエーハの表面
までまわり込む恐れが生じる。
【0028】また、スピンチヤツク22があるため、半
導体基板1の裏面中心付近には、マスク液の塗布されな
い部分が生じる。なお、ここではマスク液を塗布する例
について述べたが、適宜の手段によりマスク液を半導体
基板の裏面に付着させればよい。
【0029】■上記■,■の工程を経た半導体基板1を
熱処理(900℃,15分間)することにより、半導体
基板1の受光面にn+層4と、反射防止膜7とを形成す
る。
【0030】そうすると、n+層4とp型の半導体基板
1との間にPN接合が形成される。これは、図3の■に
対応するが、本実施例においては、半導体基板1の裏面
のマスク液21の塗布されていない部分25のみに薄い
n+層5aが生じ、マスク液塗布膜3を有する部分には
TiO2膜6が形成される。
【0031】このように、半導体基板1の裏面の中心付
近に薄いn+層5aが形成されるが、これは受光面のn
+層4とTiO2膜6により電気的に分離されているの
で、太陽電池の性能上支障ない。
【0032】■半導体基板1の裏面にはAlを数%添加
したAgペーストを、表面には銀ペーストをスクリーン
印刷法で印刷し、600〜700℃で高温処理し電極を
形成する。この高温処理の際、電極はn+層5aを貫通
し、半導体基板1に接続される。これは、図3の■に対
応する。図中、8は表面電極、9は裏面電極である。
【0033】■表裏面の電極8,9にはんだ10を被覆
し、太陽電池が完成する。
【0034】ここで、本実施例を適用した場合のp型半
導体基板を用いた太陽電池の特性値を下表に示す。
【0035】
【表1】
【0036】上記のように、PN接合形成熱処理工程の
前に、半導体基板の裏面にPN接合形成を防止する物質
(チタン酸を含む薬液)を付着させ、熱処理後、PN接
合形成を防止する物質を付着した部分にはPN接合が形
成されないようにしたことにより、半導体基板の裏面に
PN接合を有しない部分をn+層形成の工程と同時に設
けることができる。
【0037】したがつて、PN接合除去に必要な工程を
省略することができ、大幅な価格低減が可能となる。
【0038】なお、本発明は、上記実施例に限定される
ものではなく、本発明の範囲内で上記実施例に多くの修
正および変更を加え得ることは勿論である。
【0039】例えば、上記実施例では、p型半導体基板
を用いたn+/p型太陽電池の例を示したが、n型基板
を用いた場合(但し、ドーパント液の組成、電極材料を
変更する必要がある)やBSF型(Back  Sur
faceField)型n+/p/p+太陽電池等につ
いても適用できる。
【0040】ここで、n+/p/p+型の太陽電池に採
用したときの特性値を下表に示す。
【0041】
【表2】
【0042】また、表面n+層の形成方法としてPOC
l3の気相拡散法や反射防止膜材料を含まないドーパン
ト液を使用した塗布拡散法についても適用できる。
【0043】さらに、ドーパント液とマスク液とを同時
に塗布してもよいし、液ごとに塗布してもよい。
【0044】マスク液の組成の一例としてエチルアルコ
ール、チタン酸イソプロピル、酢酸の混合液の例を提示
したが、マスク液としてはチタンを含む溶液であればよ
い。そのため、主溶液、チタンを含む溶液、副溶液のさ
まざまな組み合わせがある。
【0045】この副溶液を混入する効果として以下の点
が挙げられる。
【0046】■チタンは固形化、結晶化し易いが、副溶
液を入れることにより、ウエハ上に塗布されたマスク液
にチタン膜が形成されるのを防止できる。
【0047】■副溶液を入れることにより、マスク液の
粘度を調節することができる。また、マスク液を塗布す
るときに、主溶剤の蒸発する早さを調節することができ
、希望のチタン膜厚を得るための調節範囲が広がる。
【0048】■マスク液を作製、保存中に、チタンが固
形化、結晶化するのを防ぐことができる。また、マスク
液を塗布する装置において、マスク液が通るチユーブ内
やノズル等配管系等でチタンが固形化、結晶化し配管系
がつまるのを防ぐことができる。
【0049】なお、副溶液は使用しなくてもマスク液と
して使用可能である。
【0050】そこで、主溶液としては、イソプロピルア
ルコール、エタノール、メタノール、ブチルアルコール
、メチルエチルケトン等のアルコール類、エーチル類が
ある。
【0051】チタンを含む溶液としては、テトライソプ
ロピルチタネート、テトラ−n−ブチルチタメート、塩
化チタン溶液、その他酸やアルカリ、アルコール、エス
テル等にチタン粉末やホウ化チタン、炭化チタン、二酸
化チタン等の固形のチタンを溶解させた溶液がある。
【0052】副溶液としては、イソプロピルアルコール
、エタノール、メタノール、ブチルアルコール、メチル
エチルケトン、酢酸、蟻酸、プロピオン酸、酪酸、クエ
ン酸、カプロン酸、乳酸、マレイン酸、シユウ酸、サル
チル酸、酒石酸、カプリン酸、アクリル酸、クロトン酸
、吉草酸、ペプタン酸、アンゲリカ酸、エーテル類があ
る。
【0053】
【発明の効果】以上の説明から明らかな通り、本発明に
よると、PN接合形成熱処理工程の前に、半導体基板の
裏面にPN接合形成を防止するチタンを含むマスク液を
付着させマスク液塗布膜を成膜し、熱処理後マスク液塗
布膜の部分にPN接合が形成されないようにすることで
、半導体基板の裏面には、PN接合が形成されない。
【0054】このため、半導体基板の表面側のPN接合
と完全に分離することができ、従来必要としていたPN
接合除去工程が不要となるといつた優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の一実施例に係る太陽電池の製造
方法を示す図である。
【図2】図2−Aはドーパント液及びマスク液塗布方法
を示す説明図、図2−Bはドーパント液塗布後の半導体
基板表面の平面図、図2−Cはマスク液塗布後の半導体
基板の底面図である。
【図3】図3は従来の太陽電池の製造方法を示す図であ
る。
【符号の説明】
1    半導体基板 2    ドーパント液塗布膜 3    マスク液塗布膜 4    n+層 5a  n+層 6    TiO2膜 7    反射防止膜 8    表面電極 9    裏面電極

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  太陽電池のPN接合形成熱処理工程前
    に、半導体基板の裏面にPN接合を防止するチタンを含
    む溶液を付着した後、熱処理により半導体基板の表面に
    PN接合を形成し、裏面にPN接合の形成されない部分
    を生成する陽電池の製造方法において、前記チタンを含
    む溶液は、主溶液と、チタンを含む溶液と、副溶液との
    組み合わせから成る混合液であることを特徴とする太陽
    電池の製造方法。
  2. 【請求項2】  請求項1記載の混合液の主溶液として
    、メチルアルコール、エチルアルコール、ブチルアルコ
    ール、イソプロピルアルコール、メチルエチルケトンあ
    るいはエーテル類を使用することを特徴とする太陽電池
    の製造方法。
  3. 【請求項3】  請求項1記載の混合液のチタンを含む
    溶液として、テトラ−n−ブチルチタナート、テトライ
    ソプロピルチタネート、塩化チタン溶液あるいは酸、ア
    ルカリ、アルコール、エステル等に固化チタンを溶解さ
    せた溶液を使用することを特徴とする太陽電池の製造方
    法。
  4. 【請求項4】  請求項1記載の混合液の副溶液として
    、メチルアルコール、エチルアルコール、ブチルアルコ
    ール、イソプロピルアルコール、メチルエチルケトン、
    酢酸、蟻酸、プロピオン酸、酪酸、クエン酸、カプロン
    酸、乳酸、マイレン酸、シユウ酸、サルチル酸、酒石酸
    、カプリン酸、アクリル酸、クロトン酸、吉草酸、ヘプ
    タン酸、アンゲリカ酸あるいはエーテル類を使用するこ
    とを特徴とする太陽電池の製造方法。
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