JP2006066020A - 半導体記憶装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 低消費電流の半導体記憶装置を提供することを課題とする。
【解決手段】 ライトデータを外部から入力してバッファリングするための入力バッファ(202)と、リード動作中は入力バッファを非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されると入力バッファを活性状態にする制御回路(501〜506)とを有する半導体記憶装置が提供される。
【選択図】 図5

Description

本発明は、半導体記憶装置に関する。
下記の特許文献1には、データ入出力端子に対応して複数設けられたデータマスク信号端子と、外部から個々のデータマスク信号端子に与えられた信号の論理に応じて、対応するデータ入出力端子からのデータ入出力を制御可能な入力制御回路及び出力制御回路とを含むSDRAMが開示されている。
下記の特許文献2には、入力バッファが、アクティブ状態において同期マスク制御信号によって活性化/非活性化する半導体記憶装置が開示されている。
特開平9−320258号公報 特開2002−74952号公報
本発明の目的は、低消費電流の半導体記憶装置を提供することである。
本発明の一観点によれば、ライトデータを外部から入力してバッファリングするための入力バッファと、リード動作中は入力バッファを非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されると入力バッファを活性状態にする制御回路とを有する半導体記憶装置が提供される。
本発明の他の観点によれば、リード動作中はラッチ用クロック信号を非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されるとラッチ用クロック信号を活性状態にする制御回路と、ラッチ用クロック信号に同期して、外部から入力されるライトデータをラッチするためのラッチ回路とを有する半導体記憶装置が提供される。
リード動作中は非活性状態にすることにより、消費電流を低減することができる。また、リードデータマスク信号に応じて活性状態にすることにより、リード動作後のライト動作を正常に動作させることができる。
図1は、本発明の実施形態による半導体記憶装置の構成例を示すブロック図である。半導体記憶装置として、SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)を例に説明する。
半導体記憶装置100は、外部端子110として、クロックイネーブル信号CKE、クロック信号CLK、チップセレクト信号/CS、ロウアドレスストローブ信号/RAS、コラムアドレスストローブ信号/CAS、ライトイネーブル信号/WE、2ビットのバンクアドレスBA、12ビットのアドレスA、2ビットのデータマスク信号DQM、及び16ビットのデータDQの端子を有する。
クロックバッファ101は、クロックイネーブル信号CKE及びクロック信号CLKを入力し、クロック信号CLKをバッファリングして他の各回路ブロックに出力する。回路102は、コマンドバッファ、ラッチ及びデコーダを有し、チップセレクト信号/CS、ロウアドレスストローブ信号/RAS、コラムアドレスストローブ信号/CAS、及びライトイネーブル信号/WEを入力し、これらの信号をバッファリング、ラッチ及びデコードする。これらの信号の組み合わせをデコードし、コマンドが得られる。コマンドは、例えば、アクティブコマンド、プリチャージコマンド、リードコマンド及びライトコマンド等である。コマンドは、制御信号生成回路105に出力される。
回路103は、アドレスバッファ及びラッチを有し、バンクアドレスBA及びアドレスAをバッファリング及びラッチし、制御信号生成回路105、DRAMコア107及びコラムアドレスカウンタ106に出力する。コラムアドレスカウンタ106は、回路103から入力したコラムアドレスを順次インクリメントしてコラムアドレスCAをDRAMコア107へ出力する。制御信号生成回路105は、制御信号CTL、4ビットのアクティブバンク信号active_bankz及びアウトプットイネーブル信号oenzを生成及び出力する。
回路104は、バッファ及びラッチを有し、アクティブバンク信号active_bankz及びアウトプットイネーブル信号oenzを入力し、データDQ及びデータマスク信号DQMをバッファリング及びラッチし、データdqz及びデータマスク信号dqmzをDRAMコア107に出力する。この回路104の詳細は、後に図2を参照しながら説明する。データDQの端子は、ライトデータを外部から入力及びリードデータを外部に出力するための端子である。
DRAMコア107は、メモリセルアレイであり、例えば4個のバンクbank0〜bank3を有し、制御信号CTL、アクティブバンク信号active_bankz、ロウアドレスRA、コラムアドレスCA、データマスク信号dqmzを入力し、データdqzを入出力する。
図2は、図1の回路104の構成例を示す回路図である。入力バッファ201は、2ビットのデータマスク信号DQMを外部から入力してバッファリングし、フリップフロップ204に出力する。入力バッファ202は、16ビットのライトデータDQを外部から入力してバッファリングし、フリップフロップ205へ出力する。入力バッファ203は、クロック信号CLKを外部から入力してバッファリングし、出力する。
インバータ211及び212は、バッファを構成し、入力バッファ203の出力信号を増幅し、クロック信号clkmzを出力する。
否定論理和(NOR)回路215及び3個のインバータ216〜218は、論理和(OR)回路を構成する。NOR回路215は、4ビットのアクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>を入力する。インバータ218の出力信号dienzは、4ビットのアクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>のOR信号である。
否定論理積(NAND)回路213及びインバータ214は、論理積(AND)回路を構成する。NAND回路213は、入力バッファ203の出力信号及び信号dienzを入力する。インバータ214の出力信号clkqzは、入力バッファ203の出力信号及び信号dienzのAND信号である。
信号dienzは、ハイレベルが活性状態を示し、ローレベルが非活性状態を示す。信号dienzがハイレベルであれば、クロック信号clkqzは入力バッファ203の出力信号と同じ信号になる。信号dienzがローレベルであれば、クロック信号clkqzはローレベルを維持し、クロック信号clkqzが停止される。
また、入力バッファ202は、活性化信号dienzがハイレベルであれば活性状態になってライトデータDQをバッファリングし、活性化信号dienzがローレベルであれば非活性状態になってライトデータDQをバッファリングしない。入力バッファ202を非活性状態にすることにより、消費電流(消費電力)を低減することができる。
フリップフロップ(ラッチ回路)204は、クロック信号clkmzの立ち上がりに同期して、入力バッファ201が出力する2ビットのデータマスク信号DQMをラッチし、2ビットのデータマスク信号dqmzを出力する。
フリップフロップ(ラッチ回路)205は、クロック信号clkqzの立ち上がりに同期して、入力バッファ202が出力する16ビットのライトデータDQをラッチし、16ビットのライトデータdqzを出力する。DRAMコア107には、ライトデータdqzが書き込まれる。クロック信号clkqzが停止しているときには、フリップフロップ205は動作せず、消費電流を低減することができる。
DRAMコア107から読み出されたリードデータは、入力バッファ202及びフリップフロップ205を介さずに、データDQの端子に出力される。入力バッファ202及びフリップフロップ205は、ライト動作のときのみ使用し、リード動作のときには使用しない。したがって、ライト動作のときには、活性化信号dienzをハイレベルにして入力バッファ202及びフリップフロップ205を活性状態にし、リード動作のときには、活性化信号dienzをローレベルにして入力バッファ202及びフリップフロップ205を非活性状態にすることが好ましい。これにより、消費電流を低減することができる。
しかし、実際には、リード動作のときに、非活性状態にするのは困難であるため、図2のように、すべてのアクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>が非活性状態(プリチャージ状態)であるときに、信号dienzをローレベルにし、入力バッファ203及びフリップフロップ205を非活性状態にしている。すなわち、リード動作及びライト動作のときには、入力バッファ203及びフリップフロップ205を活性状態にしている。その理由を、図3及び図4を参照しながら、後に説明する。
アクティブバンク信号active_bankz<0>は、バンクbank0のアクティブ状態信号であり、アクティブコマンドでハイレベルになり、プリチャージコマンドでローレベルになる。アクティブコマンド及びプリチャージコマンドを入力する際には、バンクアドレスBAを0にする。バンクbank0をアクティブ状態にした後、リードコマンドによるリード動作又はライトコマンドによるライト動作が可能になる。同様に、アクティブバンク信号active_bankz<1>〜active_bankz<3>は、バンクbank1〜bank3のアクティブ状態信号である。
図3は、図2の回路のリード動作例を示すタイミング図である。リード動作を行うには、外部からアクティブコマンドACTVを入力し、その後にリードコマンドREADを入力する。
アクティブコマンドACTVは、バンクアドレスBA及びアドレス(ロウアドレス)Aと共に外部から入力される。これにより、バンクアドレスBAに応じたアクティブバンク信号active_bankzがハイレベルになり、そのバンクが活性状態になる。例えば、バンクアドレスBAが0であれば、アクティブバンク信号active_bankz<0>がハイレベルになり、バンクbank0が活性状態になる。これにより、活性化信号dienzがハイレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が活性状態になる。
なお、アクティブコマンドACTVの入力前は、すべてのアクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>がローレベルであり、活性化信号dienzがローレベルであり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が非活性状態になっている。
次に、リードコマンドREADは、バンクアドレスBA及びアドレス(コラムアドレス)Aと共に外部から入力される。例えば、バンクアドレスBAを0にすれば、アクティブコマンドACTVにより活性状態になっているバンクbank0において、アクティブコマンドACTV及びリードコマンドREADで指定したDRAMコア107のロウアドレス及びコラムアドレスからデータQ0〜Q7を読み出すことができる。例えば、バーストレングスが8であり、8個のデータが連続したアドレスからバーストリードされる。
アウトプットイネーブル信号oenzは、次クロックでデータを出力するときにハイレベルになり、次クロックでデータDQの端子をハイインピーダンス状態にするタときにローレベルになる。
2ビットのデータマスク信号DQMは、通常のリード動作では共にローレベルを維持する。したがって、データマスク信号dqmzもローレベルを維持する。
以上のように、すべてのアクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>がローレベルのときには、活性化信号dienzがローレベルであり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が非活性状態になる。アクティブコマンドACTVにより少なくとも1つのアクティブバンク信号active_bankzがハイレベルになると、活性化信号dienzがハイレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が活性状態になる。
図4は、図2の回路のバーストリードのライトインタラプト動作例を示すタイミング図である。この動作を行うには、外部からアクティブコマンドACTVを入力し、その後にリードコマンドREADを入力し、その後にライトコマンドWRITを入力する。
データQ1が読み出されるまでは、上記の図3の説明と同じである。その後に、ハイインピーダンス期間Thを生成するために、2ビットのデータマスク信号DQMを共にハイレベルにする。リードコマンドREADによりデータQ0〜Q3を読み出した後に、ライトコマンドWRITによりデータD0を書き込むには、その間の期間ThではデータDQの端子をハイインピーダンス状態にする必要がある。これにより、1個のデータDQ端子において、データの出力から入力への切り換えが可能になり、入出力データの競合を防止できる。
フリップフロップ204は、クロック信号CLKの立ち上がりに同期して、データマスク信号DQMをラッチし、データマスク信号dqmzを出力する。データマスク信号dqmzがハイレベルになると、次クロックでデータQ3を読み出した後、データDQの端子がハイインピーダンス状態になる。
なお、2ビットのデータマスク信号DQMは、ライト動作時には、上位バイト又は下位バイトをマスクしてライトデータを書き込む際に用いられる。
リードコマンドREADにより本来は8個のデータがバーストリードされるが、そのリード動作の途中で、データマスク信号DQMをハイレベルにし、ライトコマンドWRITを入力することがある。ライトコマンドWRITは、ライトデータD0(DQ)、バンクアドレスBA及びアドレス(コラムアドレス)Aと共に外部から入力される。例えば、バンクアドレスBAを0にすれば、アクティブコマンドACTVにより活性状態になっているバンクbank0において、アクティブコマンドACTV及びライトコマンドWRITで指定したDRAMコア107のロウアドレス及びコラムアドレスにデータD0を書き込むことができる。
以上のように、リードコマンドREADによるリード動作の途中に、ライトコマンドWRITが入力されることがある。ライトコマンドWRITによるライト動作では、入力バッファ202及びフリップフロップ205を使用する。したがって、リード動作中であっても、その途中でライト動作に切り換わる可能性があるため、リード動作中も入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を活性状態にしておく必要がある。すなわち、ライトデータD0は、ライトコマンドWRITと共に同時に入力されるので、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)は、ライトコマンドWRITが入力される前のリード動作中に予め活性状態としておく必要がある。このような理由により、図3の通常のリード動作中においても、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を活性状態にしておく必要がある。
バーストリードのライトインタラプト動作をサポートするために、本来リード動作中には活性化する必要のない入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を活性状態としているので、SDRAMはリード動作中に無駄な電流を消費しており、低消費電流化の妨げになっている。しかし、バーストリードのライトインタラプト動作を禁止してしまったり、ライトデータD0がライトコマンドWRITに対して遅れて入力されるように仕様を変更してしまったりしては、既存のSDRAMコントローラ等の設計資産が利用できなくなり、システム設計者の負担が増加してしまう。
次に、これらの問題を解決し、動作仕様を変更することなく、リード動作中に入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を非活性状態にして消費電流を低減する方法を、図5〜図7を参照しながら説明する。
図5は、本発明の実施形態による図1の回路104の構成例を示す回路図である。図5の回路は、図2の回路に対して、活性化信号dienzを生成するための回路が異なり、その他の点は同じである。
NOR回路501及びインバータ502は、OR回路を構成する。NOR回路501は、アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>を入力する。インバータ502の出力信号は、アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>のOR信号である。
NAND回路503は、フリップフロップ204が出力するデータマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>を入力し、それらのNAND信号を出力する。NAND回路504は、NAND回路503の出力信号及びアウトプットイネーブル信号oenzを入力し、それらのNAND信号を出力する。
NAND回路505及びインバータ506は、AND回路を構成する。NAND回路505は、インバータ502及びNAND回路504の出力信号を入力する。インバータ506が出力する活性化信号dienzは、インバータ502及びNAND回路504の出力信号のAND信号である。
すなわち、活性化信号dienzは、アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>のうちの少なくとも1つがハイレベルであり、かつデータマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>が共にハイレベルでなく、かつアウトプットイネーブル信号oenzがハイレベルであるときローレベルになる。また、活性化信号dienzは、アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>のすべてがローレベルのときにローレベルになる。その他の場合、活性化信号dienzは、ハイレベルになる。
活性化信号dienzがハイレベルになると、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が活性状態になる。活性化信号dienzがローレベルになると、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が非活性状態になり、消費電流を低減することができる。
図6は、図5の回路のリード動作例を示すタイミング図である。リード動作を行うには、外部からアクティブコマンドACTVを入力し、その後にリードコマンドREADを入力する。コマンド、クロック信号CLK、データマスク信号DQM、データDQ、アウトプットイネーブル信号oenz及びデータマスク信号dqmzは、上記の図3の説明と同じである。以下、活性化信号dienzについて説明する。
アクティブコマンドACTVが入力される前では、アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>がすべてローレベルであるので、活性化信号dienzはローレベルになる。これにより、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が非活性状態になり、消費電流を低減することができる。
次に、アクティブコマンドACTVが、バンクアドレスBAと共に外部から入力されると、そのバンクアドレスBAに対応するアクティブバンク信号active_bankzがハイレベルになり、かつアウトプットイネーブル信号oenzがローレベルであるので、活性化信号dienzはハイレベルになる。
次に、リードコマンドREADが入力されると、上記の図3の説明と同様に、アウトプットイネーブル信号oenzがハイレベルになる。この時、データマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>は、共にローレベルである。したがって、リード期間Tdでは、活性化信号dienzは、ローレベルになる。リード動作時には、入力バッファ202及びフリップフロップ205は不要であるので、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を非活性状態にして、消費電流を低減することができる。
その後、データQ6が読み出されると、アウトプットイネーブル信号oenzがローレベルになる。すると、活性化信号dienzがハイレベルになる。データDQの端子では、最後のデータQ7が読み出され出力された後、ハイインピーダンス状態になる。入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が活性状態になるので、その後のライト動作に備えることができる。
以上のように、リード期間Tdでは、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を非活性状態にして、消費電流を低減することができる。
なお、この後、プリチャージコマンドをバンクアドレスBAと共に外部から入力することにより、バンクアドレスBAに対応するアクティブバンク信号active_bankzをローレベルにすることができる。アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>をすべてローレベルにすれば、活性化信号dienzがローレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を非活性状態にすることができる。
図7は、図5の回路のバーストリードのライトインタラプト動作例を示すタイミング図である。この動作を行うには、外部からアクティブコマンドACTVを入力し、その後にリードコマンドREADを入力し、その後にライトコマンドWRITを入力する。コマンド、クロック信号CLK、データマスク信号DQM、データDQ、アウトプットイネーブル信号oenz及びデータマスク信号dqmzは、上記の図4の説明と同じである。以下、活性化信号dienzについて説明する。
アクティブコマンドACTVが入力される前では、アクティブバンク信号active_bankz<0>〜active_bankz<3>がすべてローレベルであるので、活性化信号dienzはローレベルになる。これにより、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)が非活性状態になり、消費電流を低減することができる。
次に、アクティブコマンドACTVが、バンクアドレスBAと共に外部から入力されると、そのバンクアドレスBAに対応するアクティブバンク信号active_bankzがハイレベルになり、かつアウトプットイネーブル信号oenzがローレベルであるので、活性化信号dienzはハイレベルになる。
次に、リードコマンドREADが入力されると、上記の図4の説明と同様に、アウトプットイネーブル信号oenzがハイレベルになる。この時、データマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>は、共にローレベルである。したがって、リード期間Tdでは、活性化信号dienzは、ローレベルになる。リード動作時には、入力バッファ202及びフリップフロップ205は不要であるので、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を非活性状態にして、消費電流を低減することができる。
次に、次のライトコマンドWRITの入力に先立って、リードデータマスク信号DQM<0>及びDQM<1>をハイレベルにする。その次のクロックCLKの立ち上がりに同期して、リードデータマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>もハイレベルになる。すると、活性化信号dienzはハイレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)は活性状態になる。データDQの端子は、リードデータマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>のハイレベルに応じて、期間Thでハイインピーダンス状態になる。
次に、ライトコマンドWRITがライトデータD0と共に外部から入力される。この時、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)は活性状態になっているので、ライトデータD0は、入力バッファ202でバッファリングされ、フリップフロップ205でラッチされる。その後、ライトデータD0がメモリセルに正常に書き込まれる。
以上のように、リード期間Tdでは、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を非活性状態にして、消費電流を低減することができる。そして、ライトコマンドWRITの入力時には、活性化信号dienzがハイレベルであり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqz(フリップフロップ205)を活性状態であるので、正常なライト動作を行うことができる。
以上のように、本実施形態では、バーストリードのライトインタラプト動作を行う場合、データDQの入出力競合を避けるために、リードデータマスク信号DQMによるリードデータのマスク機能を用いる。リード動作中は入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzを非活性状態とするが、リードデータのマスク機能が用いられた場合には入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzを活性状態に戻し、ライトコマンドWRITの入力に備える。
具体的には、全バンクがプリチャージ状態では、活性化信号dienzがローレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzは非活性状態になる。いずれかのバンクが活性状態の場合、活性化信号dienzはハイレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzは活性状態になる。いずれかのバンクが活性状態でも、リード動作中(アウトプットイネーブル信号がハイレベル)であれば、活性化信号dienzはローレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzは非活性状態になる。リード動作中(アウトプットイネーブル信号oenzがハイレベル)であっても、リードデータのマスク機能が用いられた場合(データマスク信号dqmz<0>及びdqmz<1>がハイレベル)は、活性化信号dienzがハイレベルになり、入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzは活性状態になる。
SDRAMのバーストリードをライトコマンドでインタラプトする動作をサポートしたまま、ライトデータとライトコマンドの入力タイミングに関する動作仕様を変更せずに、バーストリード状態において入力バッファ202及びラッチ用クロック信号clkqzを停止させることができるので、システム設計者の負担を増加させることなく、低消費電流のSDRAMを提供することができる。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
本発明の実施形態は、例えば以下のように種々の適用が可能である。
(付記1)
ライトデータを外部から入力してバッファリングするための入力バッファと、
リード動作中は前記入力バッファを非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されると前記入力バッファを活性状態にする制御回路と
を有する半導体記憶装置。
(付記2)
さらに、ライトデータを外部から入力及びリードデータを外部に出力するためのデータ端子を有し、
前記リードデータマスク信号は、前記データ端子をハイインピーダンス状態にするための信号である付記1記載の半導体記憶装置。
(付記3)
前記入力バッファは、前記データ端子がハイインピーダンス状態になった後、外部からライトコマンドと共に入力されるライトデータをバッファリングする付記2記載の半導体記憶装置。
(付記4)
前記制御回路は、リードコマンドが外部から入力されると、前記入力バッファを非活性状態にする付記3記載の半導体記憶装置。
(付記5)
前記制御回路は、前記リードコマンドの入力に応じたアウトプットイネーブル信号が入力されると、前記入力バッファを非活性状態にする付記4記載の半導体記憶装置。
(付記6)
前記制御回路は、アクティブコマンドが外部から入力されると、前記入力バッファを活性状態にする付記4記載の半導体記憶装置。
(付記7)
前記アクティブコマンドはロウアドレスと共に入力され、前記リードコマンド及び前記ライトコマンドはコラムアドレスと共に入力される付記6記載の半導体記憶装置。
(付記8)
前記アクティブコマンド、前記リードコマンド及び前記ライトコマンドは、バンクアドレスと共に入力される付記7記載の半導体記憶装置。
(付記9)
前記制御回路は、リードコマンドが外部から入力されると、前記入力バッファを非活性状態にする付記1記載の半導体記憶装置。
(付記10)
前記制御回路は、アクティブコマンドが外部から入力されると、前記入力バッファを活性状態にする付記1記載の半導体記憶装置。
(付記11)
リード動作中はラッチ用クロック信号を非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されるとラッチ用クロック信号を活性状態にする制御回路と、
前記ラッチ用クロック信号に同期して、外部から入力されるライトデータをラッチするためのラッチ回路と
を有する半導体記憶装置。
(付記12)
さらに、ライトデータを外部から入力及びリードデータを外部に出力するためのデータ端子を有し、
前記リードデータマスク信号は、前記データ端子をハイインピーダンス状態にするための信号である付記11記載の半導体記憶装置。
(付記13)
前記ラッチ回路は、前記データ端子がハイインピーダンス状態になった後、外部からライトコマンドと共に入力されるライトデータをラッチする付記12記載の半導体記憶装置。
(付記14)
前記制御回路は、リードコマンドが外部から入力されると、前記ラッチ用クロック信号を非活性状態にする付記13記載の半導体記憶装置。
(付記15)
前記制御回路は、前記リードコマンドの入力に応じたアウトプットイネーブル信号が入力されると、前記ラッチ用クロック信号を非活性状態にする付記14記載の半導体記憶装置。
(付記16)
前記制御回路は、アクティブコマンドが外部から入力されると、前記ラッチ用クロック信号を活性状態にする付記14記載の半導体記憶装置。
(付記17)
前記アクティブコマンドはロウアドレスと共に入力され、前記リードコマンド及び前記ライトコマンドはコラムアドレスと共に入力される付記16記載の半導体記憶装置。
(付記18)
前記アクティブコマンド、前記リードコマンド及び前記ライトコマンドは、バンクアドレスと共に入力される付記17記載の半導体記憶装置。
(付記19)
前記制御回路は、リードコマンドが外部から入力されると、前記ラッチ用クロック信号を非活性状態にする付記11記載の半導体記憶装置。
(付記20)
前記制御回路は、アクティブコマンドが外部から入力されると、前記ラッチ用クロック信号を活性状態にする付記11記載の半導体記憶装置。
(付記21)
さらに、ライトデータを外部から入力してバッファリングするための入力バッファを有し、
前記ラッチ回路は、前記入力バッファによりバッファリングされたライトデータをラッチし、
前記制御回路は、リード動作中は前記入力バッファを非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されると前記入力バッファを活性状態にする付記11記載の半導体記憶装置。
本発明の実施形態による半導体記憶装置の構成例を示すブロック図である。 図1の回路104の構成例を示す回路図である。 図2の回路のリード動作例を示すタイミング図である。 図2の回路のバーストリードのライトインタラプト動作例を示すタイミング図である。 本発明の実施形態による図1の回路104の構成例を示す回路図である。 図5の回路のリード動作例を示すタイミング図である。 図5の回路のバーストリードのライトインタラプト動作例を示すタイミング図である。
符号の説明
107 DRAMコア
201〜203 入力バッファ
204,205 フリップフロップ
211,212,214 インバータ
213 NAND回路
501 NOR回路
502,506 インバータ
503〜505 NAND回路

Claims (10)

  1. ライトデータを外部から入力してバッファリングするための入力バッファと、
    リード動作中は前記入力バッファを非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されると前記入力バッファを活性状態にする制御回路と
    を有する半導体記憶装置。
  2. さらに、ライトデータを外部から入力及びリードデータを外部に出力するためのデータ端子を有し、
    前記リードデータマスク信号は、前記データ端子をハイインピーダンス状態にするための信号である請求項1記載の半導体記憶装置。
  3. 前記入力バッファは、前記データ端子がハイインピーダンス状態になった後、外部からライトコマンドと共に入力されるライトデータをバッファリングする請求項2記載の半導体記憶装置。
  4. 前記制御回路は、リードコマンドが外部から入力されると、前記入力バッファを非活性状態にする請求項1記載の半導体記憶装置。
  5. 前記制御回路は、アクティブコマンドが外部から入力されると、前記入力バッファを活性状態にする請求項1記載の半導体記憶装置。
  6. リード動作中はラッチ用クロック信号を非活性状態にし、その後にリードデータマスク信号が入力されるとラッチ用クロック信号を活性状態にする制御回路と、
    前記ラッチ用クロック信号に同期して、外部から入力されるライトデータをラッチするためのラッチ回路と
    を有する半導体記憶装置。
  7. さらに、ライトデータを外部から入力及びリードデータを外部に出力するためのデータ端子を有し、
    前記リードデータマスク信号は、前記データ端子をハイインピーダンス状態にするための信号である請求項6記載の半導体記憶装置。
  8. 前記ラッチ回路は、前記データ端子がハイインピーダンス状態になった後、外部からライトコマンドと共に入力されるライトデータをラッチする請求項7記載の半導体記憶装置。
  9. 前記制御回路は、リードコマンドが外部から入力されると、前記ラッチ用クロック信号を非活性状態にする請求項6記載の半導体記憶装置。
  10. 前記制御回路は、アクティブコマンドが外部から入力されると、前記ラッチ用クロック信号を活性状態にする請求項6記載の半導体記憶装置。
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