JP2006032482A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 裏面研磨時にボンディングパッド表面が、ウェ−ハ裏面の研磨くずによって汚染される事を防ぐ。
【解決手段】 スクライブライン部103と半導体装置102を含む層上に保護膜を形成する工程と、保護膜を、少なくとも基板外周部のスクライブライン部103に残るように選択的に除去した後、基板101の裏面を研磨する工程とを含む。これにより、複数の半導体装置102を含む層にスクライブライン部103を形成したときに生じる段差による溝を、基板外周部に形成した保護膜で埋めることで、基板裏面研磨時の裏面の研磨くずが、基板101の側面からスクライブライン部103の溝を伝わって半導体装置102を含む領域に浸入し、ボンディングパッド表面を汚染することを防ぐことができる。
【選択図】 図1
【解決手段】 スクライブライン部103と半導体装置102を含む層上に保護膜を形成する工程と、保護膜を、少なくとも基板外周部のスクライブライン部103に残るように選択的に除去した後、基板101の裏面を研磨する工程とを含む。これにより、複数の半導体装置102を含む層にスクライブライン部103を形成したときに生じる段差による溝を、基板外周部に形成した保護膜で埋めることで、基板裏面研磨時の裏面の研磨くずが、基板101の側面からスクライブライン部103の溝を伝わって半導体装置102を含む領域に浸入し、ボンディングパッド表面を汚染することを防ぐことができる。
【選択図】 図1
Description
この発明は、ウェ−ハ(基板、半導体基板)上に複数個の半導体集積回路装置を形成し、その後、ウェーハを所定の厚さにする為、ウェ−ハの裏面を研磨するのに適する半導体装置の製造方法に関するものである。
半導体集積回路の拡散工程が終了後、それを実装するために通常ウェーハの厚さを所定の値にするために裏面の研磨が行われる。図6は、多数の同じ半導体集積回路を表面上に形成した従来のウェーハを示す平面図である。図6において、ウェ−ハ上に複数個の半導体集積回路装置102を形成し、その最上層のSiNパシベ−ション膜の表面に感光性のポリイミド膜等の保護膜が形成される。103は個々の半導体集積回路を切断分離するためのスクライブライン領域である。
図7は、図6のウェ−ハ周辺領域203を拡大した図であり、図7に示すように半導体集積回路装置を切り分けるスクライブライン部103(従来の幅140μm)、および、ボンディングパッド部109(従来の寸法80μm、パッド間は17μm)はポリイミド膜等の保護膜を除去する。ボンディングパッド部109開口の内部にはボンディングパッドが露出している。スクライブライン部103のポリイミド膜等の保護膜を除去するのは、カッティングソーなど高速回転する切断手段を用いて半導体集積回路装置を切り分けるダイシング時に、保護膜の剥れを防ぐ、また、半導体集積回路装置の電気特性の測定時、あるいは、ダイシング時にそれぞれの半導体集積回路装置のウェ−ハ上の位置を認識するのに必要であるためである。
図9は図6に示したウェーハ周辺領域203の断面図であり、特に図7のスクライブライン部103を横切る部分を示している。ウェーハ101上に半導体集積回路を構成する半導体素子が形成された層107があり、その上にポリイミドなどの保護膜106が形成されている。ウェーハ裏面を研磨するときは、ウェーハの表面に保護テ−プ108を貼り付け、裏面を研磨する事によりウェーハ101を所定の厚みに加工する。
特開2004−88074公報
特開2003−179005公報
以上のようなウェーハにおいて、半導体集積回路装置のパターン微細化が進むとウェーハの周辺領域203は図8に示すようになる。すなわち、図8に示すようにスクライブライン部103’を80μmと狭く、且つ、ボンディングパッド104を70μm角程度に縮小し、パッドの間隔も狭くする必要があり、それによってポリイミド等の保護膜層106'をスクライブラインとボンディングパッドの間に形成しなくなる。これは、ポリイミド等の保護膜は、8μm以上の厚さを有し、パタ−ン解像度が悪い為、スクライブライン部103'とボンディングパッド104の間、ボンディングパッド104間のように10μm以下の狭いパタ−ンが形成出来ない為である。
特に図9に示す断面図でいうと、スクライブライン103が狭くなる為、ウェ−ハ側面での表面保護膜層106と半導体集積回路装置が形成された層107とを合わせた段差部(約8〜15μm)と、裏面研磨する時に貼り付ける表面保護テ−プ108とで囲まれるスクライブライン部の溝110を、表面保護テ−プ108が埋め込まれて塞ぐという事が出来なくなる。その為、裏面研磨処理で使用する水に混じったウェ−ハ裏面の研磨くずがウェーハ周辺端部で外部に開口した溝110から、スクライブライン103'よりウェ−ハ表面に浸入し、ボンディングパッド104表面に付着するという問題が発生する。この付着により、このボンディングパッド104を使った電気的な検査での異常、あるいは、ボンディングのワイヤ−の付着などの不具合が発生する。
したがって、この発明の目的は、前記従来の課題を解決するもので、裏面研磨時にボンディングパッド表面が、ウェ−ハ裏面の研磨くずによって汚染される事を防ぐことができる半導体装置の製造方法を提供することである。
上記課題を解決するためにこの発明の請求項1記載の半導体装置の製造方法は、基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部と前記半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜を、少なくとも前記基板外周部の前記スクライブライン部に残るように選択的に除去した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む。
請求項2記載の半導体装置の製造方法は、基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、少なくとも前記保護膜を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記基板の裏面を研磨する工程とを含み、前記保護膜は、少なくとも前記基板外周部の前記スクライブライン部に残るように選択的に除去する。
請求項3記載の半導体装置の製造方法は、基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部と前記半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜を少なくとも、前記スクライブライン部上であって、かつ前記個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがって残るように選択的に除去した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む。
請求項4記載の半導体装置の製造方法は、基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、少なくとも前記保護膜を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記基板の裏面を研磨する工程とを含み、前記保護膜は少なくとも、前記スクライブライン部上であって、かつ前記個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがって残るように選択的に除去する。
請求項5記載の半導体装置の製造方法は、請求項1,2,3または4記載の半導体装置の製造方法において、前記保護膜は、流動性を有する材料を塗布されて形成された膜である。
請求項6記載の半導体装置の製造方法は、請求項1,2,3または4記載の半導体装置の製造方法において、前記保護膜は、前記スクライブライン部と同一の除去部を有し、かつ前記個別の半導体装置を含む領域上において、前記除去部から連続してボンディングパッド部形成領域上が開口されている。
請求項7記載の半導体装置の製造方法は、基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、少なくとも前記保護膜を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部が形成された保護膜上に、除去可能な膜を形成した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む。
請求項8記載の半導体装置の製造方法は、基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部と前記半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜を前記スクライブラインに沿って選択的に除去し、除去可能な膜を前記保護膜上に形成した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む。
請求項9記載の半導体装置の製造方法は、請求項7または8記載の半導体装置の製造方法において、前記保護膜は、前記個別の半導体装置を含む領域上において、前記保護膜の除去部から連続してボンディングパッド部形成領域上が開口されている。
この発明の請求項1記載の半導体装置の製造方法によれば、保護膜を、少なくとも基板外周部のスクライブライン部に残るように選択的に除去した後、基板の裏面を研磨するので、複数の半導体装置を含む層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を、基板外周部に形成した保護膜で埋めることで、基板裏面研磨時の裏面の研磨くずが、基板の側面からスクライブライン部の溝を伝わって半導体装置を含む領域に浸入し、ボンディングパッド表面を汚染することを防ぐことができる。
この発明の請求項2記載の半導体装置の製造方法によれば、保護膜は、少なくとも基板外周部のスクライブライン部に残るように選択的に除去するので、保護膜層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を、基板外周部に形成した保護膜で埋めることで請求項1と同様の作用効果がある。
この発明の請求項3記載の半導体装置の製造方法によれば、保護膜を少なくとも、スクライブライン部上であって、かつ個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがって残るように選択的に除去した後、基板の裏面を研磨するので、複数の半導体装置を含む層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を、個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に形成した保護膜で埋めることで、基板裏面研磨時の裏面の研磨くずが、基板の側面からスクライブライン部の溝を伝わって半導体装置を含む領域に浸入し、ボンディングパッド表面を汚染することを防ぐことができる。
この発明の請求項4記載の半導体装置の製造方法によれば、保護膜は少なくとも、スクライブライン部上であって、かつ個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがって残るように選択的に除去するので、保護膜層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を、個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に形成した保護膜で埋めることで請求項3と同様の作用効果がある。
請求項5では、保護膜は、流動性を有する材料を塗布されて形成された膜であるので、ポリイミドのような流動性を有する保護膜を用いることができる。
請求項6では、保護膜は、スクライブライン部と同一の除去部を有し、かつ個別の半導体装置を含む領域上において、除去部から連続してボンディングパッド部形成領域上が開口されているので、ボンディングパッド部にウェーハの裏面研磨くずがスクライブラインから浸入することを防止し、望ましい効果を発揮する。
この発明の請求項7記載の半導体装置の製造方法によれば、保護膜を選択的に除去し、複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、スクライブライン部が形成された保護膜上に、除去可能な膜を形成した後、基板の裏面を研磨する工程とを含むので、保護膜層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を埋めることができる。この際、レジストのような流動性の材料を段差による溝を含む領域に塗布することによって溝を埋めることができるので、基板裏面研磨時の裏面の研磨くずが、基板の側面からスクライブライン部の溝を伝わって半導体装置を含む領域に浸入し、ボンディングパッド表面を汚染することを防ぐことができる。
この発明の請求項8記載の半導体装置の製造方法によれば、複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、スクライブライン部と半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、保護膜をスクライブラインに沿って選択的に除去し、除去可能な膜を保護膜上に形成した後、基板の裏面を研磨する工程とを含むので、複数の半導体装置を含む層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を埋めることで請求項7と同様の作用効果がある。
請求項9では、保護膜は、個別の半導体装置を含む領域上において、保護膜の除去部から連続してボンディングパッド部形成領域上が開口されているので、ボンディングパッド部にウェーハの裏面研磨くずがスクライブラインから浸入することを除去可能な膜により防止し、特に効果を発揮する。
この発明の第1の実施の形態を図1〜図3に基づいて説明する。図1は、本発明の第1の実施形態による半導体装置の製造方法によって形成されたウェ−ハを示す平面図、図2はそのウェーハ周辺部の拡大図である。図1において、図6〜図9と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
図1において、半導体基板であるウェ−ハ101上には多数の半導体集積回路装置102が形成され、その上に感光性のネガ型ポリイミド膜等の約8μmの保護膜層(図示はしていない)が形成されている。そしてこの保護膜層にスクライブライン部103のパターンの露光をした後、あるいは露光をする前にウェ−ハ周辺部201にそってリング状、帯状のパターンが露光される。このポリイミド保護膜に対するパターン露光は、スクライブライン部と帯状パターンの両方を露光する方法でも良い。この後現像することによって、スクライブライン部103の抜きパターンとリング状の残しパターンが保護膜に形成される。
この図1の円形で囲まれたウェ−ハ周辺領域202を拡大したものを図2に示している。スクライブライン部103の境界線から、ボンディングパッド104の辺までは10μm以下であり、保護膜層106の除去部であるスクライブライン部103とボンディングパッド部105は連続した除去部であり、かつ1つのボンディングパッド部105は複数のボンディングパッド104を含むように開口される。以上に述べたような保護膜の露光方法によって図2に示すように、スクライブライン部103は、ウェ−ハの端の部分にポリイミドのような保護膜層106を残すことによって埋められていることになる。
図3は、本発明の第1の実施形態におけるウェーハ周辺部201のスクライブライン部を含む領域の断面図である。本発明の実施形態によるウェーハの断面構造では、ウェーハ101上に半導体素子が形成された層107があり、層107はスクライブライン部103によって分離され、段差が生じているが、ウェーハ101の周辺部201にポリイミドなどからなる保護膜106を残したことによりスクライブライン部103の段差は保護膜106で埋め込まれている。さらにその上には表面保護テープ108が裏面研磨のために張り付けられている。したがって、裏面研磨をしている時点では、図3に示すように、ウェ−ハ側面で、スクライブライン部103において従来の溝110が出来ない。したがって、スクライブライン部103を伝わってボンディングパッド部105にウェ−ハ101の裏面研磨くずが浸入することを防止する事が出来る。
なお、本実施の形態としては、保護膜層として、露光した部分が現像したときに残るネガ型のポリイミド膜としたが、その他、SiN膜などでも良い。また、保護膜のパタ−ン形成が、露光した部分が除去されるポジ型のポリイミド、あるいは、フォトレジストを用いた場合は、ウェ−ハ周辺部を遮光する事により、ウェ−ハ周辺部201の保護膜層を形成することができる。
この発明の第2の実施の形態を図4に基づいて説明する。図4は、本発明の第2の実施形態による半導体装置の製造方法によって形成されたウェ−ハ周辺部の拡大図である。図4において、図1〜図3、図6〜図9と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
図4においても、ウェーハ上に半導体集積回路を含む層を形成し、その上にネガ型感光性ポリイミドなどの保護膜を形成し、フォトマスクを用いてポリイミド膜を露光しパターンを形成して保護膜106の領域とする。この第2の実施形態は保護膜パターンに特徴がある。すなわち、ウェーハ上の半導体集積回路形成領域を互いに分離するスクライブライン部103上であって、しかも半導体集積回路形成領域上のボンディングパッド部105形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがるようにブリッジ状の保護膜層のパターン301を残すようにするものである。
これにより、スクライブライン部103に生じる半導体集積回路を含む層の段差による溝が保護膜で塞がれる事になり、裏面研磨するときにウェーハ周辺部側面からボンディングパッド部105に、スクライブライン部103の溝を伝わってウェ−ハの裏面研磨くずが浸入することを防止する事が出来る。
このような保護膜層のパターンには様々な形態が可能である。たとえば図4に示したもの以外に、4つの半導体集積回路形成領域(ダイ、チップ)が相対するスクライブライン部103の交差点上に回路形成領域が互いに接続するように残した保護膜パターン、ウェーハ周辺部にもっとも近い半導体集積回路形成領域間のスクライブライン部103上にのみ、半導体集積回路形成領域上のボンディングパッド部105形成領域よりも外側の位置にブリッジ状の保護膜層のパターン301を残すようにしたものも可能である。
なお、本実施の形態としては、保護膜層として、露光した部分が残るネガ型のポリイミド膜としたが、その他、SiN膜などでも良い。また、保護膜のパタ−ン形成が、露光した部分が除去されるポジ型のポリイミド、あるいは、フォトレジストを用いた場合は、マスクにより遮光する事により、スクライブライン部の保護膜層のパタ−ン301を形成する。また、スクライブライン上に形成するパタ−ン301は、研磨くずの浸入を防ぐものであれば、どのようなパタ−ンでも良い。
この発明の第3の実施の形態を図5に基づいて説明する。図5は、本発明の第3の実施形態による半導体装置の製造方法によって形成されたウェ−ハの断面図である。図5において、図1〜図4、図6〜図9と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
まず、図5に示すように、半導体基板であるウェーハ101上には多数の半導体集積回路を含む層107が形成され、その回路を最終的に分離しダイ(チップ)にするためのスクライブライン部が形成され、層107が回路ごとに分離される。
次にネガ型の感光性ポリイミド樹脂からなる保護膜106が塗布され、従来と同じようにスクライブライン部が除去されるとともに図2、図4と同様にボンディングパッド部105が存在する領域が除去されるパターンが下地層107のスクライブライン部パターンと重ね合わせて形成される。そしてウェ−ハ101の裏面研磨をする為の保護テ−プ108をウェ−ハ表面に貼り付ける前に、保護膜106を実質的に残留させながら除去可能な膜としてレジスト401をウェ−ハ表面に回転塗布する。この状態で保護テ−プ108を貼り付け、ウェ−ハ裏面の研磨処理を行い、その後、保護テ−プ108を剥離し、シンナ−により、ウェ−ハ表面のレジスト401を完全に除去する。この時使用するシンナ−は、レジスト401を完全に除去し、且つ、保護膜106を溶解しないものを用いる。
この実施の形態による方法では、半導体集積回路を含む層107と保護膜106のスクライブライン部段差(約8〜15μm)が生じてもレジスト膜401を塗布するので溝を埋めてほぼ平坦面となる。したがってウェ−ハ裏面研磨時は、レジスト401が、スクライブライン部、ボンディングパッド部の表面に密着している為、図9の従来のウェーハのようにウェーハ側面に溝が開口せず、研磨くずがウェーハの側面からボンディングパッド部表面に浸入する事を防ぐ事が出来る。このように本実施の形態によれば、半導体集積回路装置のボンディングパッド部寸法が縮小され、集積回路を覆う保護膜のボンディングパッド領域がスクライブライン部とつながって、複数のボンディングパッドを含むように1つの開口が設けられても研磨くずによる汚染がない。
なお、本実施の形態において、ボンディングパッド表面を保護する膜として、レジスト401を用いているが、ボンディングパッド表面、保護膜106表面を変質させず、完全に除去できる膜であれば、どのような膜でも良い。
また、第1,2の実施形態において、複数の半導体装置を含む層にスクライブライン部を形成し、第3の実施形態において、保護膜層にスクライブライン部を形成する構成にしてもよい。
本発明に係る半導体装置の製造方法は、ウェ−ハ(基板、半導体基板)上に複数個の半導体集積回路装置を形成し、その後、ウェーハを所定の厚さにする為、ウェ−ハの裏面研磨方法に関し、複数の半導体装置を含む層または保護膜層にスクライブライン部を形成したときに生じる段差による溝を埋めることで、基板裏面研磨時の裏面の研磨くずが、基板の側面からスクライブライン部の溝を伝わって半導体装置を含む領域に浸入し、ボンディングパッド表面を汚染することを防ぐことができる等の効果を有する。
101 ウェ−ハ
102 半導体集積回路装置
103 スクライブライン部
104 ボンディングパッド
105,109 ボンディングパッド部
106 保護膜層
107 半導体素子が形成された層
108 裏面研磨時の表面保護テ−プ
110 スクライブライン部によるウェ−ハ側面部の溝
201 ウェ−ハ周辺部
202,203 ウェ−ハ周辺領域
301 スクライブライン部上の保護膜層パタ−ン
401 レジスト
102 半導体集積回路装置
103 スクライブライン部
104 ボンディングパッド
105,109 ボンディングパッド部
106 保護膜層
107 半導体素子が形成された層
108 裏面研磨時の表面保護テ−プ
110 スクライブライン部によるウェ−ハ側面部の溝
201 ウェ−ハ周辺部
202,203 ウェ−ハ周辺領域
301 スクライブライン部上の保護膜層パタ−ン
401 レジスト
Claims (9)
- 基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部と前記半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜を、少なくとも前記基板外周部の前記スクライブライン部に残るように選択的に除去した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む半導体装置の製造方法。
- 基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、少なくとも前記保護膜を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記基板の裏面を研磨する工程とを含み、前記保護膜は、少なくとも前記基板外周部の前記スクライブライン部に残るように選択的に除去することを特徴とする半導体装置の製造方法。
- 基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部と前記半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜を少なくとも、前記スクライブライン部上であって、かつ前記個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがって残るように選択的に除去した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む半導体装置の製造方法。
- 基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、少なくとも前記保護膜を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記基板の裏面を研磨する工程とを含み、前記保護膜は少なくとも、前記スクライブライン部上であって、かつ前記個別の半導体装置を含む領域上のボンディングパッド部形成領域よりも外側の位置に、隣り合う個別の半導体装置を含む領域にまたがって残るように選択的に除去することを特徴とする半導体装置の製造方法。
- 前記保護膜は、流動性を有する材料を塗布されて形成された膜である請求項1,2,3または4記載の半導体装置の製造方法。
- 前記保護膜は、前記スクライブライン部と同一の除去部を有し、かつ前記個別の半導体装置を含む領域上において、前記除去部から連続してボンディングパッド部形成領域上が開口されている請求項1,2,3または4記載の半導体装置の製造方法。
- 基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、少なくとも前記保護膜を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部が形成された保護膜上に、除去可能な膜を形成した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む半導体装置の製造方法。
- 基板上に配列された複数の半導体装置を含む層を形成する工程と、前記複数の半導体装置を含む層を選択的に除去し、前記複数の半導体装置を含む層を個別の半導体装置を含む領域に分離するスクライブライン部を形成する工程と、前記スクライブライン部と前記半導体装置を含む層上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜を前記スクライブラインに沿って選択的に除去し、除去可能な膜を前記保護膜上に形成した後、前記基板の裏面を研磨する工程とを含む半導体装置の製造方法。
- 前記保護膜は、前記個別の半導体装置を含む領域上において、前記保護膜の除去部から連続してボンディングパッド部形成領域上が開口されている請求項7または8記載の半導体装置の製造方法。
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- 2004-07-13 JP JP2004206049A patent/JP2006032482A/ja active Pending
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