JP2006012782A - 飛行時間型質量分析方法及び装置 - Google Patents
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- 238000001269 time-of-flight mass spectrometry Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 480
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 179
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 45
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 40
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 22
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 17
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 claims description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 4
- 238000011049 filling Methods 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 claims 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 41
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 30
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 13
- 230000004087 circulation Effects 0.000 description 11
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 10
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 9
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 9
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 7
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 7
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 5
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 101800000734 Angiotensin-1 Proteins 0.000 description 1
- 102400000344 Angiotensin-1 Human genes 0.000 description 1
- 101100314162 Candida albicans (strain SC5314 / ATCC MYA-2876) YBL053 gene Proteins 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100370021 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) TOF2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- ORWYRWWVDCYOMK-HBZPZAIKSA-N angiotensin I Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](CC=1NC=NC=1)C(=O)N1[C@@H](CCC1)C(=O)N[C@@H](CC=1C=CC=CC=1)C(=O)N[C@@H](CC=1NC=NC=1)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(O)=O)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CCCN=C(N)N)NC(=O)[C@@H](N)CC(O)=O)C(C)C)C1=CC=C(O)C=C1 ORWYRWWVDCYOMK-HBZPZAIKSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000001698 laser desorption ionisation Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012916 structural analysis Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 101150044955 tof1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Images
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
- H01J49/164—Laser desorption/ionisation, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/408—Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight
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Abstract
【解決手段】 複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。
【選択図】 図1
Description
飛行時間型質量分析計(以下TOFMSと略す)は、一定の加速エネルギーで加速した試料イオンが質量電荷比(以下m/z)に応じた飛行速度を持つことに基づき、一定距離を飛行するのに要する飛行時間を計測してm/zを求めるものである。図26にTOFMSの動作原理を示す。図において、5はパルスイオン源であり、イオン生成部6とパルス電圧発生器7とで構成されている。
質量分解能=T/2ΔT (1)
で表される。即ち、スペクトル上のピーク幅ΔTの要因としては、大きく分けて時間収束性(ΔTf)と検出器の応答(ΔTd)がある。両者の応答が、ガウス分布のようであると仮定すると、(1)式は次式のように表される。
ΔTを一定にして、総飛行時間Tを延ばすことができれば、質量分解能を向上させることができる。実際には検出器9の応答が、1〜2nsec(ナノ秒)程度あるため、ΔTはそれ以上小さくならない。
(b)多重周回型TOFMS
従来の直線型、反射型のTOFMSでは、総飛行時間Tを伸ばすこと、即ち総飛行距離を伸ばすことは装置の大型化に直結する。装置の大型化を避け、かつ高質量分解能を実現するために開発された装置が多重周回型TOFMSである。多重周回型TOFMSは、複数の扇形電場で構成され、イオンを周回させることを特徴とする装置である。
(c)MALDI法と遅延引き出し法
MALDI法は、使用するレーザ光波長に吸収帯を持つマトリックス(液体や結晶性化合物、金属粉等)に試料を混合溶解させて固化し、これにレーザ照射して試料を気化あるいはイオン化させる方法である。MALDI法に代表されるレーザによるイオン化では、イオン生成時の初期エネルギー分布が大きくこれを時間収束させるため、遅延引き延ばし法がほとんどの場合で用いられる。これはレーザ照射より数100ns程度遅れてパルサー電圧を印加する方法である。
サンプルプレート20上に、マトリックスに試料を混合溶解させて固化したサンプル30を乗せる。レンズ1、ミラー24によりレーザ光をサンプル30に照射し、サンプル30を気化あるいはイオン化する。生成したイオンは、加速電極1,2により加速され、TOFMSに導入される。加速電極2と加速電極1間には、図の(a)に示すような傾きの電位勾配が印加されている。遅延時間(数100ns)後の電位勾配は(b)に示すようなものとなる。
(d)垂直加速法
MALDI法は、パルス的にイオンを生成するため、TOFMSとの相性が非常によい。しかしながら、質量分析法のイオン化法には、EI,CI,ESI,APCIといった連続的にイオンを生成するイオン化法も数多くある。これらイオン化法とTOFMSを組み合わせるために開発されたのがOrthogonal Acceleration((垂直加速法))である。
(e)MS/MS測定とTOF/TOF装置
一般的な質量分析では、イオン源で生成したイオンを質量分析計にて質量分離したマススペクトルを測定する。この時、得られる情報はm/zのみである。以下、この測定をMS/MS測定に対してMS測定と呼ぶ。これに対して、イオン源で生成した特定のイオン(プリカーサイオン)を自発的又は強制的に開裂させ、生成したプロダクトイオンを観測するMS/MS測定がある。
Up=Ui×m/M (3)
となる。ここで、Upはプロダクトイオンの運動エネルギー、Uiはプリカーサイオンの運動エネルギー、mはプロダクトの質量、Mはプリカーサイオンの質量である。反射場を含む第2TOFMSでは、質量及び運動エネルギーにより飛行時間が異なるため、プロダクトイオンを検出器46で検出して質量分析することができる。
Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan Vol.No.2(No.218)2003 p349−353
1)時間収束点までの距離が長ければ長いほど質量分解能のm/z依存性が大きい。
2)広m/z範囲での質量精度が悪化する。
3)高電圧、高電圧精度、高時間精度パルス電圧が必要である。
θ=tan-1(Lv/Lt) (4)
と表わすことができる。
これを2次元軸対称系で電位及び電場解析すると、図42のようになる。内側電極に−4000kV、外側電極に+4000kVに設定した場合、c値が0.0337となるマツダプレート電圧は+630Vであった。イオン中心軌道を含むマツダプレートの中間面で対称な場となる。
(3)請求項3記載の発明は、前記積層トロイダル電場は、電極に曲率をつけることにより実現することを特徴とする。
(5)請求項5記載の発明は、前記らせん軌道を実現する分析計を垂直加速型飛行時間型質量分析計の分析部として用いることを特徴とする。
(7)請求項7記載の発明は、導電性のサンプルプレートと、該サンプルプレート上のサンプルをレーザ照射する手段と、イオンを一定の電圧で加速する手段と、
複数の扇形電場で構成される分析部と、イオンを検出する検出器とで構成され、サンプルプレート上に置かれたサンプルをレーザで照射することによりイオン化し、生成したイオンを一定電圧で加速し、複数の扇形電場で構成されるイオン軌道を多重周回させ飛行時間測定を行なうことにより質量分離を行なうことを特徴とする。
(9)請求項9記載の発明は、イオンをらせん軌道を描くように飛行させることを特徴とする。
(13)請求項13前記イオン源でのイオン化法が、MALDI法であることを特徴とする。
(15)請求項15記載の発明は、サンプルをイオン化するイオン源と、イオンを輸送する手段と、イオンを輸送方向に対して垂直方向にパルス的に加速する手段と、複数の扇形電場で構成されイオンをらせん軌道で飛行させることを特徴とするらせん軌道型飛行時間型質量分析計と、該らせん軌道型飛行時間型質量分析計を通過した特定の質量を持つイオンを選択するイオンゲートと、選択したイオンを開裂させる手段と、反射電場を含む反射型飛行時間型質量分析計と反射型飛行時間型質量分析計を通過したイオンを検出する検出手段とで構成されることを特徴とする。
(19)請求項19記載の発明は、請求項10乃至18記載の飛行時間型質量分析計を使用し、らせん軌道型飛行時間型質量分析計にてプリカーサイオンのある特定の同位体ピークのみを選択することを特徴とする。
(21)請求項21記載の発明は、1つのイオン源と、該イオン源で生成したイオンをパルス的に加速する手段と、複数の扇形電場で構成されイオンがらせん軌道を描くように飛行させることを特徴とする飛行時間型質量分析計と、2つ以上の検出器とで構成され、1つの検出器では、イオン源での生成、加速したイオンを直進飛行させてイオンの飛行時間を測定し、それ以外の検出器では、複数の扇形電場によりらせん軌道を描くように飛行させたイオンの飛行時間を測定することを特徴とする。
(23)請求項23記載の発明は、前記イオン源でのイオン化法がMALDI法であることを特徴とする。
(25)請求項25記載の発明は、請求項21乃至24の装置を使用し、同サンプルを直線型飛行時間型質量分析計、らせん軌道型飛行時間型質量分析計で交互に測定することを特徴とする。
1)マツダプレートに円弧型電極を用いる
2)円弧型電極を回転角の中間面と厚さ方向の中間面の交線を回転軸として円弧型電極を傾ける。
3)円筒電場端面において、イオンの中心軌道の位置と、イオンの中心軌道の回転半径面におけるマツダプレートの中間位置が異なる。
(29)請求項29記載の発明は、請求項1から請求項28の同一周回型又はらせん軌道型飛行時間型質量分析計において、1周回毎に空間収束条件及び時間収束条件を完全に満たすことのできるイオン光学系を採用することを特徴とする。
(4)請求項4記載の発明によれば、らせん軌道は、円筒電場表面に多電極プレートを複数枚導入することにより、積層トロイダル電場を実現し、透過率を向上させることができる。
(6)請求項6記載の発明によれば、デフレクタを配置することにより、請求項1から請求項5の積層トロイダル電場に入射するイオン軌道を微調整することができる。
(9)請求項9記載の発明によれば、イオンをらせん軌道を描くように飛行させることで、イオンの飛行距離をかせぐことができ、しかもイオンの追い越しが発生しない。
(12)請求項12記載の発明によれば、サンプルプレート上のサンプルをレーザ照射によりイオン化したイオンをTOF/TOF装置で分析することができる。
(14)請求項14記載の発明によれば、中間収束点での時間収束性を向上することができる。
(17)請求項17記載の発明によれば、らせん軌道型飛行時間型質量分析計へのイオンの入射角をよりよく調整することができる。
(19)請求項19記載の発明によれば、プリカーサイオンのある特定の同位体ピークのみを選択することができる。
(21)請求項21記載の発明によれば、直線型TOFMSとらせん軌道型TOFMSを組み合わせることにより、両方の特徴を生かした測定を可能にすることができる。
(23)請求項23記載の発明によれば、MALDI法を用いてイオン化したイオンを質量分析することができる。
(25)請求項25記載の発明によれば、サンプルを直線型飛行時間型質量分析計、らせん軌道型飛行時間型質量分析計で交互に測定することにより、より多くの情報を得ることができる。
図1は第1の発明の構成概念図で、電極構造を上から見た図である。上から見た図は図28のそれと変わらない。しかしながら、ここで用いる電極は図の垂直方向に電極が多層に形成されている点で図28のそれと異なる(図2参照)。図28と同一のものは、同一の符号を付して示す。図において、10はパルスイオン源、16は該パルスイオン源10からのイオン軌道を調整するためのデフレクタ、17は図に示すように対称に配置された電極である。該電極17で形成される電場をそれぞれ積層トロイダル電場1〜4とする。
図6は積層トロイダル電場の説明図で、第2の実施の形態例を示している。積層トロイダル電場1〜4の配置は、図1に示すものと同じである。(a)は積層トロイダルで電場端面から見た図、(b)は積層トロイダルで横から見た図である。図において、22は円筒電場内に設けられた電極である。図中、太い実線は電極、破線はイオン軌道である。電極の代わりに多重極プレートを用いてもよい。図7は本実施の形態例で用いる多重極プレートの構成例を示す図である。図中、23は同心円状電極、24はその端部に設けられた絶縁体プレートである。
図8は第1の発明の第3の実施の形態例の動作説明図である。図において、40は連続してイオンを出射する連続イオン源である。この実施の形態例は、連続イオン源40と本発明を組み合わせたものである。41は電極30,31に加速電圧を印加するパルス電圧発生器である。32はイオン溜である。Aは積層トロイダル電場1で、第1層だけを拡大したものである。33は積層トロイダル層の端面、破線の矢印はイオンビームの軌道を示す。積層トロイダル電場としては、前述した実施の形態例1〜3までの何れかを採用するものとする。
(第4の実施の形態例)
図9は本発明の第4の実施の形態例の動作説明図である。図8と同一のものは、同一の符号を付して示す。この実施の形態例は、図8に示す構成に加えて、イオン溜32から入射されるイオンを更に偏向して角度調整ができるようにしたものである。図において、50は入射されるイオンの角度を調整するために設けられたデフレクタである。該デフレクタは、積層トロイダル電極の傾き角と打ち出されたイオンの傾きが異なる場合に、イオンの傾き角を積層トロイダル電極の傾き角に合わせるように動作する。
図10は第2の発明の構成概念図、図11はイオン源及びイオン加速部を示す図である。図10において、図1と同一のものは、同一の符号を付して示す。図11において、図29と同一のものは、同一の符号を付して示す。サンプルプレート20上に、マトリックス(液体や結晶性化合物、金属粉等)に試料を混合溶解させて固化したサンプル30を乗せる。そして、該サンプル30の状態が観察できるように、レンズ2、ミラー25、CCDカメラ27を配置している。
(第2の実施の形態例)
図13は第2の発明の一実施の形態例を示す図である。図10と同一のものは、同一の符号を付して示す。(a)は装置をY方向から見た図、(b)は(a)の下図→方向から見た図である。サンプルプレート20(図11参照。以下、同様)上に、マトリックス(液体や結晶性化合物、金属粉等)に試料を混合溶解させて固化したサンプル30を乗せる。サンプル30の状態が観察できるようにレンズ2、ミラー25、CCDカメラ27を配置している。
以上、説明した第2の発明の実施の形態例によれば、遅延引き出し法を使用することなく、MALDI法に代表されるレーザ脱離イオン化法を用いた質量分析法において、広質量範囲で高質量分解能、高質量精度の測定が可能となる。
また、第3の発明の実施の形態例によれば、開裂させる手段が、衝突室にガスを充填して行なうCID法であるようにすることができる。この実施の形態例によれば、イオンの開裂を効率よく行なうことができる。
第4の発明の実施の形態例によれば、導電性のサンプルプレート上のサンプルをレーザ照射しイオン化することができる。このようにすれば、サンプルプレート上のサンプルをレーザ照射によりイオン化し、分析することができる。
Lf=2×80×π×(78.55/360)×tan1.642=3.144(mm)
である。図17から中心軌道は80mmであるので、円弧型電極の傾きθaは、
θa=tan-1(3.144/80)=2.25(度)
となる。
K=Tmp×tanφ×sinθmp=0.40×tanφ (6)
と表される。図18のモデルを元に、Kを0.1mmずつ変更し、トロイダル電場内の垂直移動方向の電場(EY)解析を行なった。
Lo=−Lf×φ/φf (7)
である。ただし、φfは端面での回転角φ(157.1/2=78.55)であり、Lfは電極の端面での中心軌道位置
(=(2×80×π×78.55/360)×tan1.642)である。そのため、今回の場合
Lo=((2×80×π×78.55/360)×tan1.642)
×φ/78.55
=−0.04φ
となる。
Lc=−Lf×sinφ/sinφf (8)
となる。よって、
Lp=((2×80×π×78.55/360)×tan1.642)×
sinφ/sin78.55
=−3.208sinφ
となる。回転角φとマツダプレート中間点Cと中心軌道のずれLoc(=Lc−Lo)を図23に示す。図23において、縦軸はLocを、横軸は回転角φを示す。
15 検出器
16 デフレクタ
17 電極
Claims (29)
- 複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、
らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成することを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - 前記積層トロイダル電場は、円筒電場に複数枚の電極を組み込むことにより実現することを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記積層トロイダル電場は、電極に曲率をつけることにより実現することを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記積層トロイダル電場は、円筒電場に複数枚の多電極プレートを組み込むことにより実現することを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記らせん軌道を実現する分析計を垂直加速型飛行時間型質量分析計の分析部として用いることを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記積層トロイダル電場の角度と入射するイオンの角度を調整するためにデフレクタを配置することを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の飛行時間型質量分析装置。
- 導電性のサンプルプレートと、
該サンプルプレート上のサンプルをレーザ照射する手段と、
イオンを一定の電圧で加速する手段と、
複数の扇形電場で構成される分析部と、
イオンを検出する検出器と、
で構成され、サンプルプレート上に置かれたサンプルをレーザで照射することによりイオン化し、生成したイオンを一定電圧で加速し、複数の扇形電場で構成されるイオン軌道を多重周回させ飛行時間測定を行なうことにより質量分離を行なうことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - イオンを同一軌道で多重周回させることを特徴とする請求項7記載の飛行時間型質量分析装置。
- イオンをらせん軌道を描くように飛行させることを特徴とする請求項7記載の飛行時間型質量分析装置。
- サンプルをイオン化するイオン源と、
該イオンをパルス的に加速する手段と、
複数の扇形電場で構成され、イオンをらせん軌道で飛行させることを特徴とするらせん軌道型飛行時間型質量分析装置と、
らせん軌道型飛行時間型質量分析計を通過した特定の質量を持つイオンを選択するイオンゲートと、
選択したイオンを開裂させる手段と、
反射電場を含む反射型飛行時間型質量分析計と反射型飛行時間型質量分析計を通過したイオンを検出する検出器と、
で構成されることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - らせん軌道型飛行時間型質量分析計と反射電場の間に、イオン軌道とイオン軌道外との間で移動可能なもう一つの検出器を備えたことを特徴とする請求項10記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記イオン源でのイオン化法が、導電性のサンプルプレート上のサンプルをレーザ照射しイオン化することを特徴とする請求項10又は11記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記イオン源でのイオン化法が、MALDI法であることを特徴とする請求項12記載の飛行時間型質量分析装置。
- イオンを加速する手段に遅延引き出し法を用いることを特徴とする請求項12又は13記載の飛行時間型質量分析装置。
- サンプルをイオン化するイオン源と、
イオンを輸送する手段と、
イオンを輸送方向に対して垂直方向にパルス的に加速する手段と、
複数の扇形電場で構成されイオンをらせん軌道で飛行させることを特徴とするらせん軌道型飛行時間型質量分析計と、該らせん軌道型飛行時間型質量分析計を通過した特定の質量を持つイオンを選択するイオンゲートと、
選択したイオンを開裂させる手段と、
反射電場を含む反射型飛行時間型質量分析計と反射型飛行時間型質量分析計を通過したイオンを検出する検出手段と、
で構成されることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - らせん軌道型飛行時間型質量分析計と反射電場の間に、イオン軌道とイオン軌道外との間で移動可能なもう一つの検出器を備えたことを特徴とする請求項15記載の飛行時間型質量分析装置。
- らせん軌道型飛行時間型質量分析計へのイオンの入射角を調整するために、イオンをパルス的に加速するための手段と、らせん軌道型飛行時間型質量分析計の間にイオンを偏向させられる手段を追加したことを特徴とする請求項10乃至16記載の飛行時間型質量分析装置。
- 開裂させる手段が、衝突室にガスを充填して行なうCID法であることを特徴とする請求項10乃至17の何れかに記載の飛行時間型質量分析装置。
- 請求項10乃至18記載の飛行時間型質量分析計を使用し、らせん軌道型飛行時間型質量分析計にてプリカーサイオンのある特定の同位体ピークのみを選択することを特徴とする飛行時間型質量分析方法。
- ある特定の同位体ピークが、プリカーサイオンのモノアイソトピックイオンであることを特徴とする請求項19記載の飛行時間型質量分析方法。
- 1つのイオン源と、
該イオン源で生成したイオンをパルス的に加速する手段と、
複数の扇形電場で構成されイオンがらせん軌道を描くように飛行させることを特徴とする飛行時間型質量分析計と、
2つ以上の検出器とで構成され、1つの検出器では、イオン源での生成、加速したイオンを直進飛行させてイオンの飛行時間を測定し、
それ以外の検出器では、複数の扇形電場によりらせん軌道を描くように飛行させたイオンの飛行時間を測定することを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - 前記イオン源でのイオン化法が、導電性のサンプルプレート上のサンプルをレーザ照射しイオン化することを特徴とする請求項21記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記イオン源でのイオン化法がMALDI法であることを特徴とする請求項22記載の飛行時間型質量分析装置。
- イオンを加速する手段に遅延引き出し法を用いることを特徴とする請求項22又は23記載の飛行時間型質量分析装置。
- 請求項21乃至24の装置を使用し、同サンプルを直線型飛行時間型質量分析計、らせん軌道型飛行時間型質量分析計で交互に測定することを特徴とする飛行時間型質量分析方法。
- 請求項21から24の装置を使用し、同サンプルを直線型飛行時間型質量分析計、らせん軌道型飛行時間型質量分析計で同時に測定することを特徴とする飛行時間型質量分析方法。
- 円筒電極と複数枚のマツダプレートを積層に組み合わせた積層トロイダル電場を複数組用いてイオンをらせん軌道上に飛行させることを特徴としたらせん軌道型飛行時間型質量分析計であり、積層トロイダル電場が以下のような構造であることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
1)マツダプレートに円弧型電極を用いる
2)円弧型電極を回転角の中間面と厚さ方向の中間面の交線を回転軸として円弧型電極を傾ける。
3)円筒電場端面において、イオンの中心軌道の位置と、イオンの中心軌道の回転半径面におけるマツダプレートの中間位置が異なる。 - 請求項27の要件を満たし、イオンの入射角が1.0度から2.5度である飛行時間型質量分析装置。
- 請求項1から請求項28の同一周回型又はらせん軌道型飛行時間型質量分析計において、1周回毎に空間収束条件を完全に満たすことのできるイオン光学系を採用することを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005131106A JP4980583B2 (ja) | 2004-05-21 | 2005-04-28 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
DE112005001175T DE112005001175T5 (de) | 2004-05-21 | 2005-05-17 | Verfahren und Vorrichtung zur Flugzeit-Massenspektrometrie |
PCT/JP2005/008951 WO2005114702A1 (ja) | 2004-05-21 | 2005-05-17 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
US10/592,299 US7504620B2 (en) | 2004-05-21 | 2005-05-17 | Method and apparatus for time-of-flight mass spectrometry |
US12/390,710 US7910879B2 (en) | 2004-05-21 | 2009-02-23 | Method and apparatus for time-of-flight mass spectrometry |
US13/028,481 US8237112B2 (en) | 2004-05-21 | 2011-02-16 | Method and apparatus for time-of-flight mass spectrometry |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004151473 | 2004-05-21 | ||
JP2004151473 | 2004-05-21 | ||
JP2005131106A JP4980583B2 (ja) | 2004-05-21 | 2005-04-28 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011086862A Division JP5238054B2 (ja) | 2004-05-21 | 2011-04-09 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
JP2011086863A Division JP5226824B2 (ja) | 2004-05-21 | 2011-04-09 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006012782A true JP2006012782A (ja) | 2006-01-12 |
JP4980583B2 JP4980583B2 (ja) | 2012-07-18 |
Family
ID=35428608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005131106A Active JP4980583B2 (ja) | 2004-05-21 | 2005-04-28 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US7504620B2 (ja) |
JP (1) | JP4980583B2 (ja) |
DE (1) | DE112005001175T5 (ja) |
WO (1) | WO2005114702A1 (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007040966A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-02-15 | Fujitsu Ltd | 3次元アトムレベル構造観察装置 |
JP2007317375A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Jeol Ltd | らせん軌道型飛行時間型質量分析計 |
JP2007333528A (ja) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Jeol Ltd | プロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置 |
JP2007335368A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析方法および装置 |
JP2008027683A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
DE102007060669A1 (de) | 2007-01-10 | 2008-07-17 | Jeol Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zur Tandem-Flugzeitmassenspektronomie |
JP2008300265A (ja) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Jeol Ltd | タンデム飛行時間型質量分析装置 |
JP2009158106A (ja) * | 2007-12-25 | 2009-07-16 | Jeol Ltd | タンデム型飛行時間型質量分析法 |
DE102011013540A1 (de) | 2010-03-11 | 2011-12-15 | Jeol Ltd. | Tandem-Flugzeit-Massenspektrometer |
EP2439764A2 (en) | 2010-10-08 | 2012-04-11 | JEOL Ltd. | Tandem time-of-flight mass spectrometer |
DE102012010081A1 (de) | 2011-05-23 | 2012-11-29 | Jeol Ltd. | Vorrichtung und Verfahren für Flugzeitmassenspektrometrie |
US8330100B2 (en) | 2010-09-22 | 2012-12-11 | Jeol Ltd. | Method and apparatus for tandem time-of-flight mass spectrometry |
WO2013051321A1 (ja) * | 2011-10-03 | 2013-04-11 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
DE102013006428A1 (de) | 2012-04-25 | 2013-10-31 | Jeol Ltd. | Flugzeit-Massenspektrometer und Datenkompressionsverfahren dafür |
DE102013007288A1 (de) | 2012-05-15 | 2014-01-16 | Jeol Ltd. | Tandem-Flugzeit-Massenspektrometer und dieses verwendendes Massenspektromie-Verfahren. |
DE102013015045A1 (de) | 2012-09-14 | 2014-03-20 | Jeol Ltd. | Flugzeit-Massenspektrometer und Verfahren zum Steuern desselben |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4980583B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2012-07-18 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
JP2006228435A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
GB0620963D0 (en) * | 2006-10-20 | 2006-11-29 | Thermo Finnigan Llc | Multi-channel detection |
EP2126959A4 (en) * | 2007-02-23 | 2012-08-08 | Univ Brigham Young | ION CASE MASS ANALYZER FOR COAXIAL HYBRID RADIO FREQUENCIES |
JP4922900B2 (ja) * | 2007-11-13 | 2012-04-25 | 日本電子株式会社 | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 |
US7932487B2 (en) * | 2008-01-11 | 2011-04-26 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer with looped ion path |
WO2010038260A1 (ja) * | 2008-10-02 | 2010-04-08 | 株式会社島津製作所 | 多重周回飛行時間型質量分析装置 |
GB2470599B (en) * | 2009-05-29 | 2014-04-02 | Thermo Fisher Scient Bremen | Charged particle analysers and methods of separating charged particles |
GB2470600B (en) * | 2009-05-29 | 2012-06-13 | Thermo Fisher Scient Bremen | Charged particle analysers and methods of separating charged particles |
AU2012211040A1 (en) * | 2011-01-25 | 2013-05-02 | Bruker Chemical Analysis Bv | A mass spectrometry apparatus |
GB201118279D0 (en) | 2011-10-21 | 2011-12-07 | Shimadzu Corp | Mass analyser, mass spectrometer and associated methods |
CN104781905B (zh) * | 2012-11-09 | 2017-03-15 | 莱克公司 | 圆筒型多次反射式飞行时间质谱仪 |
GB201507363D0 (en) | 2015-04-30 | 2015-06-17 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
GB201519830D0 (en) * | 2015-11-10 | 2015-12-23 | Micromass Ltd | A method of transmitting ions through an aperture |
GB201520134D0 (en) | 2015-11-16 | 2015-12-30 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Imaging mass spectrometer |
GB201520130D0 (en) | 2015-11-16 | 2015-12-30 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Imaging mass spectrometer |
GB201520540D0 (en) | 2015-11-23 | 2016-01-06 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Improved ion mirror and ion-optical lens for imaging |
GB201613988D0 (en) | 2016-08-16 | 2016-09-28 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Mass analyser having extended flight path |
GB2567794B (en) | 2017-05-05 | 2023-03-08 | Micromass Ltd | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
GB2563571B (en) | 2017-05-26 | 2023-05-24 | Micromass Ltd | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
GB2563077A (en) | 2017-06-02 | 2018-12-05 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Mass error correction due to thermal drift in a time of flight mass spectrometer |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
WO2019030477A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | ACCELERATOR FOR MASS SPECTROMETERS WITH MULTIPASSES |
WO2019030474A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | IONIC MIRROR WITH PRINTED CIRCUIT WITH COMPENSATION |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
WO2019030475A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
WO2019030476A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS |
GB201806507D0 (en) | 2018-04-20 | 2018-06-06 | Verenchikov Anatoly | Gridless ion mirrors with smooth fields |
GB201807626D0 (en) | 2018-05-10 | 2018-06-27 | Micromass Ltd | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
GB201807605D0 (en) | 2018-05-10 | 2018-06-27 | Micromass Ltd | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
GB2575342B (en) * | 2018-05-17 | 2022-08-10 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Ion guide |
GB201808530D0 (en) | 2018-05-24 | 2018-07-11 | Verenchikov Anatoly | TOF MS detection system with improved dynamic range |
GB201810573D0 (en) | 2018-06-28 | 2018-08-15 | Verenchikov Anatoly | Multi-pass mass spectrometer with improved duty cycle |
GB201812329D0 (en) | 2018-07-27 | 2018-09-12 | Verenchikov Anatoly | Improved ion transfer interace for orthogonal TOF MS |
GB201901411D0 (en) | 2019-02-01 | 2019-03-20 | Micromass Ltd | Electrode assembly for mass spectrometer |
GB2585876A (en) | 2019-07-19 | 2021-01-27 | Shimadzu Corp | Mass analyser |
JP7451344B2 (ja) | 2020-08-06 | 2024-03-18 | 日本製鉄株式会社 | 真空紫外1光子イオン化質量分析装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11135061A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計におけるイオン光学系 |
JP2000243345A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-09-08 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
JP2001028253A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-01-30 | Jeol Ltd | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 |
JP2003086129A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55122349A (en) * | 1979-03-14 | 1980-09-20 | Denshi Kagaku Kk | Virtual image type double convergence mass spectrometer |
US5202563A (en) * | 1991-05-16 | 1993-04-13 | The Johns Hopkins University | Tandem time-of-flight mass spectrometer |
JP4151926B2 (ja) | 1997-10-28 | 2008-09-17 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
JP3571567B2 (ja) * | 1999-02-19 | 2004-09-29 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
US6274866B1 (en) * | 1999-06-17 | 2001-08-14 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods of mass spectrometry |
JP3761752B2 (ja) * | 1999-11-10 | 2006-03-29 | 日本電子株式会社 | 周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置 |
US7196324B2 (en) * | 2002-07-16 | 2007-03-27 | Leco Corporation | Tandem time of flight mass spectrometer and method of use |
DE10248814B4 (de) * | 2002-10-19 | 2008-01-10 | Bruker Daltonik Gmbh | Höchstauflösendes Flugzeitmassenspektrometer kleiner Bauart |
JP4182843B2 (ja) * | 2003-09-02 | 2008-11-19 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
JP4182844B2 (ja) * | 2003-09-03 | 2008-11-19 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP4182853B2 (ja) * | 2003-10-08 | 2008-11-19 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
US7186972B2 (en) * | 2003-10-23 | 2007-03-06 | Beckman Coulter, Inc. | Time of flight mass analyzer having improved mass resolution and method of operating same |
JP4001100B2 (ja) * | 2003-11-14 | 2007-10-31 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP4033133B2 (ja) * | 2004-01-13 | 2008-01-16 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP2005322429A (ja) * | 2004-05-06 | 2005-11-17 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP4980583B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2012-07-18 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
JP2006228435A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
JP4645424B2 (ja) * | 2005-11-24 | 2011-03-09 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
GB0605089D0 (en) * | 2006-03-14 | 2006-04-26 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP2007280655A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
US8013292B2 (en) * | 2007-05-09 | 2011-09-06 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
US8354635B2 (en) * | 2008-10-30 | 2013-01-15 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
WO2010049973A1 (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-06 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法 |
-
2005
- 2005-04-28 JP JP2005131106A patent/JP4980583B2/ja active Active
- 2005-05-17 US US10/592,299 patent/US7504620B2/en active Active
- 2005-05-17 WO PCT/JP2005/008951 patent/WO2005114702A1/ja active Application Filing
- 2005-05-17 DE DE112005001175T patent/DE112005001175T5/de not_active Withdrawn
-
2009
- 2009-02-23 US US12/390,710 patent/US7910879B2/en active Active
-
2011
- 2011-02-16 US US13/028,481 patent/US8237112B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11135061A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計におけるイオン光学系 |
JP2000243345A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-09-08 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
JP2001028253A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-01-30 | Jeol Ltd | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 |
JP2003086129A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007040966A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-02-15 | Fujitsu Ltd | 3次元アトムレベル構造観察装置 |
JP2007317375A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Jeol Ltd | らせん軌道型飛行時間型質量分析計 |
JP2007333528A (ja) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Jeol Ltd | プロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置 |
JP2007335368A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析方法および装置 |
JP2008027683A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2008192600A (ja) * | 2007-01-10 | 2008-08-21 | Jeol Ltd | タンデム型飛行時間型質量分析装置および方法 |
DE102007060669B4 (de) * | 2007-01-10 | 2017-04-27 | Jeol Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zur Tandem-Flugzeitmassenspektronomie |
US7755036B2 (en) | 2007-01-10 | 2010-07-13 | Jeol Ltd. | Instrument and method for tandem time-of-flight mass spectrometry |
DE102007060669A1 (de) | 2007-01-10 | 2008-07-17 | Jeol Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zur Tandem-Flugzeitmassenspektronomie |
JP2008300265A (ja) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Jeol Ltd | タンデム飛行時間型質量分析装置 |
JP2009158106A (ja) * | 2007-12-25 | 2009-07-16 | Jeol Ltd | タンデム型飛行時間型質量分析法 |
DE102011013540A1 (de) | 2010-03-11 | 2011-12-15 | Jeol Ltd. | Tandem-Flugzeit-Massenspektrometer |
US8330100B2 (en) | 2010-09-22 | 2012-12-11 | Jeol Ltd. | Method and apparatus for tandem time-of-flight mass spectrometry |
EP2439764A2 (en) | 2010-10-08 | 2012-04-11 | JEOL Ltd. | Tandem time-of-flight mass spectrometer |
DE102012010081A1 (de) | 2011-05-23 | 2012-11-29 | Jeol Ltd. | Vorrichtung und Verfahren für Flugzeitmassenspektrometrie |
US8653451B2 (en) | 2011-05-23 | 2014-02-18 | Jeol Ltd. | Apparatus and method for time-of-flight mass spectrometry |
JPWO2013051321A1 (ja) * | 2011-10-03 | 2015-03-30 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
US9048082B2 (en) | 2011-10-03 | 2015-06-02 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer |
WO2013051321A1 (ja) * | 2011-10-03 | 2013-04-11 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
DE102013006428A1 (de) | 2012-04-25 | 2013-10-31 | Jeol Ltd. | Flugzeit-Massenspektrometer und Datenkompressionsverfahren dafür |
DE102013007288A1 (de) | 2012-05-15 | 2014-01-16 | Jeol Ltd. | Tandem-Flugzeit-Massenspektrometer und dieses verwendendes Massenspektromie-Verfahren. |
US8766175B2 (en) | 2012-05-15 | 2014-07-01 | Jeol Ltd. | Tandem time-of-flight mass spectrometer and method of mass spectrometry using the same |
DE102013015045A1 (de) | 2012-09-14 | 2014-03-20 | Jeol Ltd. | Flugzeit-Massenspektrometer und Verfahren zum Steuern desselben |
US9536727B2 (en) | 2012-09-14 | 2017-01-03 | Jeol Ltd. | Time-of-flight mass spectrometer and method of controlling same |
DE102013015045B4 (de) | 2012-09-14 | 2024-02-22 | Jeol Ltd. | Flugzeit-Massenspektrometer und Verfahren zum Steuern desselben |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090212208A1 (en) | 2009-08-27 |
WO2005114702A1 (ja) | 2005-12-01 |
US20070194223A1 (en) | 2007-08-23 |
US7910879B2 (en) | 2011-03-22 |
DE112005001175T5 (de) | 2007-04-26 |
US8237112B2 (en) | 2012-08-07 |
JP4980583B2 (ja) | 2012-07-18 |
US20110133073A1 (en) | 2011-06-09 |
US7504620B2 (en) | 2009-03-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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