JP4645424B2 - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents
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Description
前記複数の扇形電場の中で隣接する2つの電場の間に、通過するイオンの軌道を前記扇形状円筒電極の扇形の中心軸方向にずらす偏向磁場を形成する磁場形成手段を備えることを特徴としている。
F↑=q・V↑・B↑=(0,qVzBx,0)
即ち、イオンは、Fy=qVzBx、の力のみを受け、この方向はY軸方向(中心軸方向)である。この力により、図3に示すようにZ軸方向に入射して来たイオンは磁場がない場合にとり得る軌道P1を外れてY軸方向(下方向)に屈曲された軌道P2に沿って進む。したがって、この偏向磁場Bを通過した時点ではY軸方向に所定距離だけずれることになる。
2…検出器
E1、E2…扇形電場
B1、B11、B12…偏向磁場
10…飛行空間
11、12…円筒電極
11a、12a…外側電極
11b、12b…内側電極
13…入射側ゲート電極
14…出射側ゲート電極
15、16、151、152…磁場形成手段
15a、15b、151a、151b、16a、16b、17a、17b…平板磁極
Claims (7)
- イオンを周回飛行させるようにイオンの飛行経路に沿った複数の扇形電場を形成する複数の扇形状円筒電極を含むイオン光学系を具備する飛行時間型質量分析装置において、
前記複数の扇形電場の中で隣接する2つの電場の間に、通過するイオンの軌道を前記扇形状円筒電極の扇形の中心軸方向にずらす偏向磁場を形成する磁場形成手段を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - 前記磁場形成手段は、イオンの飛行経路を挟んで対向して互いに平行に配置された一対の平面磁極により成ることを特徴とする請求項1に記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記磁場形成手段は、イオンの飛行経路を挟んで対向して前記中心軸方向に沿って離間距離が一様に変化するように配置された一対の平面磁極により成ることを特徴とする請求項1に記載の飛行時間型質量分析装置。
- 複数の異なる隣接扇形電場間にそれぞれ前記偏向磁場が形成され、その両偏向磁場によるイオンの偏向方向が前記中心軸方向に沿って互いに反対向きであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の飛行時間型質量分析装置。
- 隣接する2つの扇形電場の間に形成された偏向磁場はイオンの飛行経路に沿って分割された第1偏向磁場と第2偏向磁場とを含み、その両偏向磁場によるイオンの偏向方向が前記中心軸方向に沿って互いに反対向きであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記磁場形成手段は磁場強度可変であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の飛行時間型質量分析装置。
- イオン源から出発したイオンが前記イオン光学系及び前記磁場形成手段による螺旋状の周回軌道を経て検出器に到達するまでの飛行時間とイオンの質量とについて予め求められた関係に基づいて、観測されたイオンの飛行時間から該イオンの質量を求めることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の飛行時間型質量分析装置。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0574410A (ja) * | 1991-02-22 | 1993-03-26 | Shimadzu Corp | イオン散乱分析装置 |
JP2000067807A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Perkin Elmer Corp:The | イオンビームからイオンを分離するための方法及び装置 |
JP2000243345A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-09-08 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
JP2003086129A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0574410A (ja) * | 1991-02-22 | 1993-03-26 | Shimadzu Corp | イオン散乱分析装置 |
JP2000067807A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Perkin Elmer Corp:The | イオンビームからイオンを分離するための方法及び装置 |
JP2000243345A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-09-08 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
JP2003086129A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
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