JP2005534137A - 光ディスク・ドライブ装置、光ディスクのチルトを測定する方法、および、光ディスクのチルトを補正する方法 - Google Patents

光ディスク・ドライブ装置、光ディスクのチルトを測定する方法、および、光ディスクのチルトを補正する方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 個別のチルト・センサを必要とせず、また、対物レンズが、半径方向に移動しない光ディスク・ドライブ装置、光ディスクのチルトを測定する方法、および、光ディスクのチルトを補正する方法を提案すること。
【解決手段】 チルト(θ(r, φ))が、光ディスク(2)の測定場所(P(r, φ))において測定される。回動可能な対物レンズ(34)が、第1の合焦測定場所にもたらされて、光ビーム(32)を、当該測定場所(P(r, φ))と等しい角度座標φを持ち、かつ、当該測定場所から小さな半径方向距離Dr1を持つ第1のアンカー点(P1(r-△r1, φ))に合焦させる。前記対物レンズが、第2の合焦測定場所にもたらされて、前記光ビームを、当該測定場所と等しい角度座標φを持ち、かつ、当該測定場所から小さな半径方向距離Dr2を持つ第2のアンカー点(P2(r+△r2, φ))に合焦させる。ここで、当該第1および第2のアンカー点が、当該測定場所に関して互いに反対側に置かれる。当該測定場所におけるチルトが、当該対物レンズの当該2つの合焦測定場所の前記座標から計算される。

Description

本発明は、一般に、ディスクが、回転しており、また、書き込み／読み出しヘッドが、その回転しているディスクに対して半径方向（本明細書および特許請求の範囲を通じて、用語「半径方向」は、ディスクの半径方向を意味する）に移動しているときに、ディスク状の記憶媒体上に情報を記憶させるための、または、そのようなディスク状の記憶媒体から情報を読み出すための、ディスク・ドライブ・システムに関するものである。本発明は、光ディスク・システムまたは光磁気ディスク・システムの場合に適用可能である。以下において、用語「光ディスク・システム」が、用いられるが、この用語は、光磁気ディスク・システムをも内包するように意図されているということを理解すべきである。
一般に知られているように、光記憶ディスクは、情報が記憶される記憶空間にある、連続的ならせん状の、または、複数の同心円状の、少なくとも1つのトラックを有する。光ディスクは、情報が、製造中に記録され、ユーザが、単に、データを読み出すことしかできない、読み出し専用タイプである場合もある。光記憶ディスクは、また、ユーザが、情報を記憶させることができる書き込み可能タイプである場合もある。光記憶ディスクの記憶空間に情報を書き込むために、または、そのディスクから情報を読み出すために、光ディスク・ドライブは、一方では、光ディスクを受け取って、回転させるための回転手段を、そして、他方では、光ビーム（通常、レーザ・ビーム）を生成して、当該レーザ・ビームで記憶トラックを走査するための光学手段を、有する。一般的な光ディスク技術、情報を光ディスクに記憶させることができる仕方、および、光データを光ディスクから読み出すことができる仕方は、一般に知られているので、本明細書において、この技術について、より詳細に記述する必要はない。
光ディスクを回転させるために、光ディスク・ドライブは、通常、光ディスクの中心部に係合しているハブを駆動するモータを有する。通常、モータは、スピンドル・モータとして実行され、また、モータで駆動されるハブを、モータのスピンドル軸上に直接配置してもよい。
回転しているディスクを光走査するために、光ディスク・ドライブは、光ビーム生成器デバイス（通常、レーザ・ダイオード）、その光ビームをディスク上の焦点に合焦させるための対物レンズ、および、ディスクから反射された反射光を受け取って、電気的な検出器出力信号を生成するための光検出器を有する。
動作中、光ビームは、ディスク上に合焦し続けなければならない。この目的のために、対物レンズは、軸方向（本明細書および特許請求の範囲を通じて、用語「軸方向」は、ディスクの回転軸方向を意味する）に変位可能に構成され、また、光ディスク・ドライブは、その対物レンズの軸方向の位置を制御するための合焦アクチュエータ手段を有する。さらに、焦点を、1つのトラックに合わせ続けなければならない、または、新しいトラックに対して、位置決めすることができなければならない。この目的のために、少なくとも対物レンズは、半径方向に変位可能に搭載され、また、光ディスク・ドライブは、対物レンズの半径方向の位置を制御するための半径方向アクチュエータ手段を有する。
より具体的には、光ディスク・ドライブは、ディスク・ドライブ・フレームに対して変位可能にガイドされるスレッジを具備しており、該フレームは、また、ディスクを回転させるためのスピンドル・モータを収容している。スレッジの行路は、ディスクに対して実質的に半径方向に構成され、また、スレッジは、実質的に、内側トラック半径から外側トラック半径までの範囲に対応する範囲にわたって変位することができる。当該半径方向アクチュエータ手段は、例えば、リニア・モータ、ステッピング・モータ、または、ウォーム・ギア・モータを有する、制御可能なスレッジ・ドライブを有する。
スレッジの変位は、光学レンズを粗く位置決めするためのものである。光学レンズの位置を微調整するために、光ディスク・ドライブは、対物レンズを収容して、当該スレッジに対して変位可能に搭載されるレンズ・プラットフォームを有する。スレッジに対するプラットフォームの変位範囲は、相対的に小さいが、スレッジに対するプラットフォームの位置決め精度は、フレームに対するスレッジの位置決め精度よりも高い。
多くのディスク・ドライブにおいては、対物レンズの向きは、固定されている、即ち、その軸は、ディスクの回転軸に平行に向けられる。いくつかのディスク・ドライブにおいては、対物レンズは、その軸が、ディスクの回転軸と、ある角度をなすことができるように、回動可能に搭載される。通常、これは、プラットフォームを、スレッジに対して回動可能にすることによって実行される。
記録媒体の記憶容量を増加させることは、一般的な要望である。この要望をかなえる1つの方策は、記憶密度を増加させることである。この目的のために、対物レンズが、相対的に高い開口数(NA)を持つ光走査系が、開発されている。そのような光学系に伴う1つの問題は、光ディスクのチルトに対する感度が増加することである。光ディスクのチルトは、光ディスクの記憶層が、焦点の場所において、回転軸に対して正確に直交していない状況と定義することができる。チルトは、光ディスクが、全体としてチルトすることによって引き起こされることもあるが、通常は、光ディスクが、反ることによって引き起こされ、その結果として、チルト量は、ディスクの場所に依存する。
したがって、補償システム、および、チルトの測定方法に対する需要が、存在する。
チルトを、個別のチルト・センサで測定することは、可能である。しかしながら、そのような解決策は、ハードウェアの追加、および、コストの増加を伴う。
本発明は、個別のチルト・センサを必要としないチルト測定方法を提案する。光ディスクの、ある場所におけるチルトを測定するために、この測定場所が、ある半径座標と、ある角度座標とによって特徴づけられていれば、光ビームが、測定場所と同じ半径線に沿って置かれている、即ち、測定場所と同じ角度座標を持つ、測定場所に関して互いに反対側にある2つの場所の座標を得るために用いられる。測定場所におけるチルト角は、当該2つの互いに反対側の場所の間の相対的な軸方向距離および相対的な半径方向距離から計算される。
測定場所に関して互いに反対側にある当該場所（「アンカー場所」として示される）の座標が、そのようなアンカー場所に光ビームを合焦させることによって得られる。この原理による既知の方法においては、対物レンズを半径方向および軸方向に変位させることによって、光ビームの焦点が、そのようなアンカー場所にもたらされる。本発明の1つの主な目的は、この既知の方法に対する代替案を提供することである。
当該既知の方法の1つの欠点は、対物レンズが、異なる半径方向位置にもたらされるという事実に連結している。したがって、装置が、トラックの読み出し、または、書き込みをしている間に、その方法が、遂行された場合には、対物レンズは、必然的に、その本来のトラック位置を失い、その本来の半径方向位置まで半径方向に変位して戻らなければ、装置は、動作を再開することができない。本発明のさらなる1つの目的は、この欠点を克服することである。
本発明は、対物レンズが、回動すると、光ビームの焦点の半径方向の座標が、半径方向に変位するという理解に基づいている。この理解に基づいて、光学レンズが、回動することができるタイプの光ディスク・ドライブにおいて、本発明による測定方法は、光学レンズを、軸方向および回動方向に変位させることによって遂行される。一実施例において、本方法は、最初に、光ビームを測定場所に合焦させ、対物レンズを、光ディスクの方に軸方向に移動させ、そして、対物レンズを、2つの方向に回動させて、2つの合焦場所を得ることによって、遂行される。代替の一実施例において、最初に、光ビームが、測定場所に合焦し、次に、対物レンズが、1つの方向に回動し、それに続いて、対物レンズが、光ディスクの方に軸方向に変位する。
さらに、既知の方法の1つの欠点は、それが、ある場所におけるチルトに対する値を見つけることに限られるということである。この値を、チルトを補正するための、デバイスへの入力として用いることができる。光学レンズが、回動することのできるタイプの光ディスク・ドライブにおいては、補正動作は、光学レンズに、適切な回動オフセットを与える、即ち、光学レンズを、適切な回動角にわたって回動させることであってもよい。適切な回動オフセットを見つける1つの方策は、測定されたチルトに基づいて回動角を計算することである。しかしながら、温度などの状況が変化する場合には特に、そのような計算は、誤差を導き入れるかもしれず、また、単に回動角を計算するだけでは、計算された回動角が、最適の角度かどうかに関するチェックを可能にする如何なるフィードバック機構も、提示されない。
本発明は、この問題に対する解決策を提供することも目的としている。より具体的には、本発明は、チルトの大きさを知る必要なく、ディスクのチルトを、可能な限り良好に補正するように、対物レンズの回動オフセットをセットする方法を提供することを目的としている。一実施例において、対物レンズの回動オフセットをセットする方法が、回動オフセットを、ある値にセットし、次に、光ビームを、測定場所に合焦させ、対物レンズを、光ディスクの方に軸方向に移動させ、そして、対物レンズを、2つの方向に回動させて、2つの合焦場所を得ることによって、遂行される。2つの回動角が等しければ、その回動オフセットは、正しいと仮定される。2つの回動角が互いに等しければ、その回動オフセットは、正しいと仮定される。等しくなければ、その回動オフセットは、修正されて、上記のステップが、繰り返される。
代替の一実施例において、対物レンズの回動オフセットが、ある値にセットされ、光ビームが、測定場所に合焦され、次に、対物レンズが、1つの方向に回動され、それに続いて、対物レンズが、光ディスクの方に軸方向に変位される。次に、対物レンズが、反対方向に、同じ角度にわたって回動され、それに続いて、対物レンズが、光ディスクの方に軸方向に変位される。2つの軸方向の変位が等しければ、その回動オフセットは、正しいと仮定される。等しくなければ、その回動オフセットは、修正されて、上記のステップが、繰り返される。
本発明のこれらの、そして、他の態様、特徴、および、利点は、同じ参照数字が、同じ、または、同様の部分を示している図面を参照しながら、以下の記述によって、さらに、説明される。
図1は、光ディスク2に情報を記憶させる、または、光ディスク2から情報を読み出すのに適した光ディスク・ドライブ1を線図的に例示している。ディスク・ドライブ装置1は、装置フレーム3を有する。ディスク2を回転させるために、ディスク・ドライブ装置1は、フレーム3に固定されたモータ4を有して、回転軸5を定める。ディスク2を受け取って、保持するために、ディスク・ドライブ装置1は、ターンテーブル、または、スピンドル・モータ4の場合には、モータ4のスピンドル軸7上に搭載されるクランプ用ハブ6を有してもよい。
ディスク・ドライブ装置1は、さらに、図を明快にするために図示されていないガイド手段によって、ディスク2の半径方向に、即ち、回転軸5に実質的に直交する方向に変位可能にガイドされる、変位可能なスレッジ10を有する。装置フレーム3に対してスレッジ10の半径方向位置を調整するように設計された半径方向スレッジ・アクチュエータが、線図的に11で示されている。半径方向スレッジ・アクチュエータは、それ自体としては公知であり、同時に、本発明は、そのような半径方向スレッジ・アクチュエータの設計および機能に関するものではないので、本明細書において、半径方向スレッジ・アクチュエータの設計および機能について、十分詳細に検討する必要はない。
以下において、回転軸5を、Z軸にとる。装置1に関連しては、直交座標系XYZを用いて、スレッジ10の変位方向を、X軸にとり、Y軸を、X軸およびZ軸に直交すると定める。ディスク2に関連しては、極座標系r, φを用いる。
ディスク・ドライブ装置1は、さらに、スレッジ10に対してディスク2の半径方向に変位可能であって、かつ、図を明快にするために図示されていない搭載手段によって、スレッジ10に対して変位可能に搭載される、変位可能なプラットフォーム20を有する。スレッジ10に対して、プラットフォーム20を半径方向に変位させるように構成された半径方向プラットフォーム・アクチュエータが、21で示されている。そのような半径方向プラットフォーム・アクチュエータは、それ自体としては公知であり、さらに、そのような半径方向プラットフォーム・アクチュエータの設計および動作は、本発明の主題ではないので、本明細書において、そのような半径方向プラットフォーム・アクチュエータの設計および動作について、十分詳細に検討する必要はない。
ディスク・ドライブ装置1は、さらに、光ビームによってディスク2のトラック（図示せず）を走査するための光学系30を有する。より具体的には、光学系30は、装置フレーム3またはスレッジ10に対して搭載されており、かつ、ビーム・スプリッタ33、および、プラットフォーム20に収容されている対物レンズ34を通る光ビーム32aを生成するように構成されている光ビーム生成手段31（通常、レーザ・ダイオードのようなレーザ）を有する。対物レンズ34は、光ビーム32bをディスク2上に合焦させる。厳密にディスク2の望みの場所上に、光ビーム32bの正確な合焦を維持し続けるために、当該プラットフォーム20は、また、スレッジ10に対して、軸方向（Z方向）に変位可能に搭載されており、さらに、ディスク・ドライブ装置1は、スレッジ10に対して、プラットフォーム20を軸方向に変位させるように構成された軸方向プラットフォーム・アクチュエータ37も有する。そのような軸方向プラットフォーム・アクチュエータは、それ自体としては公知であり、さらに、そのような軸方向プラットフォーム・アクチュエータの設計および動作は、本発明の主題ではないので、本明細書において、そのような軸方向プラットフォーム・アクチュエータの設計および動作について、十分詳細に検討する必要はない。
当該対物レンズは、装置フレーム3に対して、回動可能に搭載される。典型的な一実施例において、これは、図を明快にするために図示されていない搭載手段によって、当該プラットフォーム20を、スレッジ10に対して回動可能に搭載することによって達成される。プラットフォーム20は、Y軸に平行に向いている回動軸40の周りを回動することができ、その結果、対物レンズ34の光軸36は、常に、XZ平面に置かれる。例示されているように、回動軸40は、対物レンズ34の光心を通るのが好ましい。回動角(ψ)は、Z軸と、対物レンズ34の光軸36との間の角度として定義される。回動可能に搭載されるプラットフォームは、それ自体としては、公知であり、さらに、そのような回動可能に搭載されるプラットフォームの設計および動作は、本発明の主題ではないので、本明細書において、そのような回動可能に搭載されるプラットフォームの設計および動作について、十分詳細に検討する必要はない。
さらに、ディスク・ドライブ装置1は、スレッジ10に対して、プラットフォーム20を回動させるように構成された回動プラットフォーム・アクチュエータ41も有する。そのような回動プラットフォーム・アクチュエータは、それ自体としては公知であり、さらに、そのような回動プラットフォーム・アクチュエータの設計および動作は、本発明の主題ではないので、本明細書において、そのような回動プラットフォーム・アクチュエータの設計および動作について、十分詳細に検討する必要はない。
ディスク・ドライブ装置1は、さらに、モータ4の制御入力に接続された第1の出力90a、半径方向スレッジ・アクチュエータ11の制御入力に結合された第2の出力90b、半径方向プラットフォーム・アクチュエータ21の制御入力に結合された第3の出力90c、軸方向プラットフォーム・アクチュエータ37の制御入力に結合された第4の出力90d、および、回動プラットフォーム・アクチュエータ41の制御入力に結合された第5の出力90eを持つ制御ユニット90を有する。制御ユニット90は、その第1の出力90aにおいて、モータ4を制御するための制御信号SCMを生成し、その第2の制御出力90bにおいて、スレッジ・アクチュエータ11を制御するための制御信号SCSを生成し、その第3の出力90cにおいて、半径方向プラットフォーム・アクチュエータ21を制御するための制御信号SCPrを生成し、その第4の出力90dにおいて、軸方向プラットフォーム・アクチュエータ37を制御するための制御信号SCPaを生成し、そして、その第5の出力90eにおいて、回動プラットフォーム・アクチュエータ41を制御するための制御信号SCPpを生成するように、設計されている。
光ビーム32bは、ディスク2から反射し（反射光ビーム32c）、対物レンズ34およびビーム・スプリッタ33を通って（ビーム32d）、スレッジ10に対して搭載されている光検出器35に達する。制御ユニット90は、さらに、光検出器35から、読み出し信号SRを受け取るための読み出し信号入力90fを持っている。当業者には、さらなる説明を要せずに明らかなように、読み出し信号SRは、光ビーム32bが、光ディスク2上に正確に合焦しているか否かの事実に関する情報を含んでいる。より具体的には、焦点誤差信号(FES)を、読み出し信号SRから導出することができる。
点Pが、極座標rおよびφをもって、示されている。理想的な場合には、点P (r, φ)における面への垂線は、Z軸に厳密に平行であるが、図示されているように、ディスク2が、反った面を持つ場合には、点P (r, φ)における垂線は、Z軸と角度θ (r, φ)をなす。この角度θ (r, φ)は、点P (r, φ)におけるチルト量としてとらえられる。チルトは、ディスクの表面全体にわたって変動することができる、言いかえれば、チルトθ (r, φ)は、半径座標rおよび角座標φの関数である。ディスク全体に対して、または、少なくとも、アクセスするべきディスクのその部分に対して、θ (r, φ)を知るのが、望ましい。
図2は、本発明によって提案される測定方法の基礎をなす基本原理を線図的に例示している。点P (r, φ)を通る半径線上に、ディスク2の2つの点P1およびP2が、点Pに関して互いに反対側に示されている。ディスクの極座標系においては、それらの2つの点P1およびP2は、それぞれ、座標(r1, φ)および(r2, φ)を持つ。ディスク・ドライブ1の直交座標系においては、点P, P1, P2は、それぞれ、座標(X0, Y0, Z0), (X1, Y0, Z1), (X2, Y0, Z2)を持つ。点P(r, φ)におけるチルトθ(r, φ)を、次式によって表すことができることを、容易に理解することができる。tan(θ(r, φ)) = (Z1-Z2)/(X2-X1)以下において、チルトが測定される場所(r, φ)は、測定場所として示される。測定場所に関して互いに反対側の、当該2つの点P1およびP2は、アンカー点として示される。
本発明は、測定場所に対して、2つのアンカー点P1およびP2を見つけて、それらのアンカー点P1とP2との間の相対的な半径方向距離X2-X1、および、相対的な軸方向距離Z1-Z2を測定することに基づいている。この情報が、利用可能になれば、直ちに、測定場所におけるチルトqを計算することができる。
図3は、上述の基本的な測定原理の第1の実行を例示している。
第1のステップにおいて、対物レンズ34は、光ビーム32の焦点が、測定場所P(r, φ)に一致する初期合焦位置（図面において、341で示されている）にもたらされる。この初期合焦位置における対物レンズ34の座標(x, y, z, Ψ)を、(x0, 0, z0, Ψ0)と定める（対物レンズは、Y方向に移動することができないので、そのY座標は、常に一定で、0ととることができる）。XYZ座標系においては、測定場所P(r, φ)の座標は、(x0, 0, zp)である。距離zp-z0は、対物レンズの焦点距離fに一致し、一定ととられる。
第2のステップにおいて、対物レンズ34は、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の角度Δψ1にわたって回動して、座標(x0, 0, z0, Ψ0-△Ψ1)を持つ位置(342)に達する。そのようなステップによって、ビームは、このとき、非合焦となる。合焦は、第3のステップにおいて、光ビーム32が、ディスク2上に再合焦したことを、制御ユニット90が、見出すまで、対物レンズ34を軸方向に変位させることによって、回復される。ディスク2のチルト量に依存して、これは、ある軸方向の変位Δz1を必要とし、その結果、対物レンズ34は、座標(x0, 0, z0+△z1, Ψ0-△Ψ1)を持つ第1の合焦測定位置(343)に達する。
これは、第1のアンカー点P1が、座標(x0-f・sin(△Ψ1), 0, z0+f・cos(△Ψ1)+△z1)を持つことを意味する。制御ユニット90は、この軸方向の変位の大きさΔz1を、メモリに記憶する。
第4のステップにおいて、対物レンズ34は、初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)に戻される。
第5のステップにおいて、対物レンズ34は、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の角度Δψ2にわたって回動して、座標(x0, 0, z0, Ψ0+△Ψ2)を持つ位置(344)に達する。第6のステップにおいて、対物レンズ34は、光ビーム32が、ディスク2上に再合焦したことを、制御ユニット90が、見出すまで、軸方向に変位する。ディスク2のチルト量に依存して、これは、ある軸方向の変位Δz2を必要とし、その結果、対物レンズ34は、座標(x0, 0, z0-△z2, Ψ0+△Ψ2)を持つ第2の合焦測定位置(345)に達する。
これは、第2のアンカー点P2が、座標(x0+f・sin(△Ψ1), 0, z0+f・cos(△Ψ2)+△z2)を持つことを意味する。制御ユニット90は、この軸方向の変位の大きさΔz2も、メモリに記憶する。
制御ユニット90は、このとき、次の一般式によって、f, Δψ1, Δz1, Δψ2, Δz2の値から、ディスク2の測定場所P(r, φ)のチルトθ(r, φ)を計算することができる。
tan(θ(r, φ)) = (f・cos(△Ψ1)+△z1-(f・cos(△Ψ2)-△z2))/(f・sin(△Ψ1)+f・sin(△Ψ2))
必須ではないが、第1の角度Δψ1は、第2の角度Δψ2と等しいのが好ましい。その場合には、上式は、以下のように簡単になる。
tan(θ(r, φ)) = (△z1+△z2)/(2f・sin(△Ψ1))
Δz1およびΔz2の値が、小さいときには、上式は、次のように近似することができる。
tan(θ(r, φ)) = (△z1+△z2)/(2f・△Ψ1)
第4のステップを省略してもよいことに注意されたい。
さらに、第5および第6のステップを、第2および第3のステップの前にとって、最初に、相対的に半径の大きいアンカー場所P2に達して、次に、相対的に半径の小さいアンカー場所P1に達するようにしてもよいことに注意されたい。
図4は、上述の基本的な測定原理の第2の実行を例示している。
第1のステップにおいて、対物レンズ34は、光ビーム32の焦点が、測定場所P(r, φ)に一致する初期合焦位置（図面において、341で示されている）にもたらされる。この初期合焦位置における対物レンズ34の座標(x, y, z, Ψ)は、(x0, 0, z0, Ψ0)と定められる（対物レンズは、Y方向に移動することができないので、そのY座標は、常に一定で、0にとることができる）。XYZ座標系においては、測定場所P(r, φ)の座標は、(x0, 0, zp)である。距離
zp-z0は、対物レンズの焦点距離fに一致し、一定ととられる。
第2のステップにおいて、対物レンズ34は、ディスクに向かって、距離Δzにわたって軸方向に変位して、座標(x0, 0, z0+△z, Ψ0)を持つ位置(342)に達する。そのようなステップによって、ビームは、このとき、非合焦となる。
第3のステップにおいて、対物レンズ34は、光ビーム32が、ディスク2上に再合焦したことを、制御ユニット90が、見出すまで、相対的に半径の小さくなる方向に回動する。ディスク2のチルト量に依存して、これは、ある第1の回動角Δψ1を必要とし、その結果、対物レンズ34は、座標(x0, 0, z0+△z, Ψ0-△Ψ1)を持つ第1の合焦測定位置(343)に達する。
これは、第1のアンカー点P1が、座標(x0-f・sin(△Ψ1), 0, z0+f・cos(△Ψ1))を持つことを意味する。制御ユニット90は、この第1の回動角の大きさΔψ1を、メモリに記憶する。
第4のステップにおいて、対物レンズ34は、座標(x0, 0, z0+△z, Ψ0-△Ψ2)を持つ第2の合焦測定位置(344)において、光ビーム32が、ディスク2上に再合焦したことを、制御ユニット90が、見出すまで、相対的に半径の大きくなる方向に回動する。
これは、第2のアンカー点P2が、座標(x0+f・sin(△Ψ2), 0, z0+f・cos(△Ψ2))を持つことを意味する。制御ユニット90は、この第2の回動角の大きさΔψ2も、メモリに記憶する。
制御ユニット90は、このとき、次の一般式にしたがって、Δψ1, Δψ2, Δzの値から、ディスク2の測定場所P(r, φ)のチルトθ(r, φ)を計算することができる。
tan(θ(r, φ)) = (cos(△Ψ1)-cos(△Ψ2))/(sin(△Ψ1)+sin(△Ψ2))
Δψ1およびΔψ2の値が、小さいときには、上式は、以下のように近似することができる。
tan(θ(r, φ)) = (△Ψ1-△Ψ2)/2
第4のステップを、第3のステップの前にとって、最初に、相対的に半径の大きなアンカー場所P2に達し、次に、相対的に半径の小さなアンカー場所P1に達するようにしてもよいことに注意されたい。
上述において、チルトθは、変位ΔzおよびΔψで表わされている。通常、制御ユニット90は、これらのパラメータに関する直接の情報を持っていない。もちろん、制御ユニットに、ΔzおよびΔψを、それぞれ、測定するためのセンサを備えることは可能であるが、それは、追加のハードウェアおよびコストを伴うから、好ましくない。
しかしながら、制御ユニット90は、当該パラメータΔzおよびΔψを表わすために利用可能な信号を持っている。一般に、それぞれのアクチュエータによって確立される変位ΔzおよびΔψは、当該変位が小さい場合には特に、制御ユニット90によって生成される、それぞれの制御信号に比例する。そのような場合には、次の関係が、当てはまる。
Δz = γZ・SCPa
Δψ = γψ・SCPp
ここで、γZ, γψは、比例定数である。したがって、制御ユニット90は、それ自身の制御信号から、当該変位を計算することができる。
上述において、アンカー点P1およびP2のX座標およびZ座標が知れれば、1つの場所P(r, φ)
におけるチルトθ(r, φ)を決定することができると説明されている。原理的には、そのような測定を、光ディスク2を静止状態に保ちながら、1つの個別の測定点に対して遂行ことはできる。しかしながら、通常、多数のrおよびφの値に対して、即ち、多数の場所上で（または、できれば、光ディスクの全表面上でさえ）、チルトθ(r, φ)を決定することが、望ましい。これは、そのような各場所に対して、この測定法を繰り返すことによって行うことができる。しかしながら、これは、非常に非実用的である。
したがって、実際には、本発明によって提案される測定方法は、ある半径Riにおいて360°にわたって、即ち、ディスクを回転させながら、ある半径Riにある全ての点Pjに対して、チルトθ(Ri, φ)を決定することによって実行するのが好ましい。最初に、対物レンズが、あるX座標に対応する、ある半径Riにある初期合焦場所にもたらされる。次に、相対的に半径の小さい全てのアンカー点P1j(Ri-△r, φj)に対して、X座標X1j(Ri-△r, φj)、および、Z座標Z1j(Ri-△r, φj)が、決定されて、メモリに記憶される。その後、相対的に半径の大きい全てのアンカー点P2j(Ri+△r, φj)に対して、X座標X2j(Ri+△r, φj)、および、Z座標Z2j(Ri+△r, φj)が、決定されて、メモリに記憶される。もちろん、その順序は、逆であってもよい。そうすると、この半径Riにおける各点Pj(Ri, φj)に対して、前述のようにして、座標X1j(Ri-△r, φj), X2j(Ri+△r, φj), Z1j(Ri-△r, φj), Z2j(Ri+△r, φj)を組み合わせることによって、チルトθj(Ri, φj)を計算することができる。
ディスク全体にわたってチルトを得るために、これを、Riの種々の値に対して繰り返すことができる。
より具体的に、本方法を、上述の実施例の各々に対して、幾分、より詳細に説明する。
図3を参照して上に説明した第1の実行、および、図5Aのフローチャートを参照すると、光ディスク2が、ある前もって定められた速度で回転する（ステップ501）。次に、第1のステップ502において、対物レンズ34が、測定半径Riに対応する初期合焦位置(341)(x0, 0, z0, Ψ0)にもたらされる。
第2のステップ503において、回動アクチュエータ41が、起動して、対物レンズ34を、座標(x0, 0, z0, Ψ0-△Ψ1)を持つ位置(342)に達するように、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の角度Δψ1にわたって回動させる。第3のステップ504において、合焦アクチュエータ37が、起動して、合焦を回復して(343)、合焦を維持する。合焦制御信号が、光ディスク2の少なくとも1回転にわたってサンプル化されて（ステップ505）、サンプル化された値が、合焦制御信号がサンプル化された角度位置と相関して、メモリに記憶される。
第4のステップ506において、対物レンズ34が、初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)に戻される。
第5のステップ507において、回動アクチュエータ41が、起動して、対物レンズ34を、座標(x0, 0, z0, Ψ0+△Ψ2)を持つ位置(344)に達するように、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の角度Δψ2にわたって回動させる。第6のステップ508において、合焦アクチュエータ37が、起動して、合焦を回復して(345)、合焦を維持する。合焦制御信号が、光ディスク2の少なくとも1回転にわたってサンプル化されて（ステップ509）、サンプル化された値が、合焦制御信号がサンプル化された角度位置と相関して、メモリに記憶される。
半径Riの円に沿って、チルトθj(Ri, φj)を、このとき、種々の角度座標φjに対して、計算することができる（ステップ510）。
図4を参照して上に説明した第2の実行、および、図5Bのフローチャートを参照すると、光ディスク2が、ある前もって定められた速度で回転する（ステップ521）。次に、第1のステップ522において、対物レンズ34が、測定半径Riに対応する初期合焦位置(341)(x0, 0, z0, Ψ0)にもたらされる。
第2のステップ523において、合焦アクチュエータ37が、起動して、対物レンズ34を、座標(x0, 0, z0+△z, Ψ0)を持つ位置(342)に達するように、ディスクに向かって、距離Δzにわたって軸方向に変位させる。そのようなステップによって、ビームは、このとき、非合焦となる。
第3のステップ524において、回動アクチュエータ41が、起動して、相対的に半径の小さくなる方向に対物レンズ34を回動させて、合焦を回復して(343)、合焦を維持する。回動制御信号が、光ディスク2の少なくとも1回転にわたってサンプル化されて（ステップ525）、サンプル化された値が、回動制御信号がサンプル化された角度位置と相関して、メモリに記憶される。
第4のステップ526において、回動アクチュエータ41が、起動して、相対的に半径の大きくなる方向に対物レンズ34を回動させて、合焦を回復して(344)、合焦を維持する。回動制御信号が、光ディスク2の少なくとも1回転にわたってサンプル化されて（ステップ527）、サンプル化された値が、回動制御信号がサンプル化された角度位置と相関して、メモリに記憶される。
半径Riの円に沿って、チルトθj(Ri, φj)を、このとき、種々の角度座標φjに対して、計算することができる（ステップ530）。
通常、対物レンズ34は、対称レンズである。そして、通常、対称レンズの場合には、チルト補正は、レンズの光軸、即ち、主軸が、ディスクの反射している層に実質的に直交するように向いているとき、即ち、レンズの光軸が、ディスク2のチルトθに等しい回動角ψを形成しているときに、最適となる。そのような場合においては、チルト補正を、チルトの大きさを知る必要なく、達成することができる。さらに、そのような場合においては、対物レンズが、適切なチルト補正位置を持っているか否かを、チルト量を知る必要なく、また、現在の回動角量を知る必要さえなく、相対的に容易にチェックすることが可能である。
図3, 4, 5A, 5Bを参照した上述の検討において、対物レンズの初期合焦位置における初期回動角が、ψ0として示されている。通常の状況からスタートすると、初期回動角ψ0は、図3および4に例示されているように、通常、0である。しかしながら、初期回動角ψ0の値は、本発明によって提案され、そして、上で検討された方法にしたがってチルト角θを計算するときには、あまり重要ではない。
他方、初期回動角ψ0が、チルト角θに等しければ、容易に理解することができるように、回動角Δψ1とΔψ2とは、互いに等しい（図4を参照のこと）、または、回動角Δψ1とΔψ2とを、互いに等しく選ぶと、軸方向の変位ΔZ1とΔZ2とが、互いに等しい（図3を参照のこと）。
この認識に基づいて、本発明は、さらに、図6A, 6Bを参照して説明するように、チルトを補正するのにふさわしい適切な回動角に対物レンズ34をセットする方法を提案する。ディスクは、回転していてもよいが、また、静止状態に置かれていてもよいことに注意されたい。
最初に、回動オフセットψ0が、選択されて（ステップ601）、対物レンズ34が、合焦状態にもたらされる（ステップ602）。次に、図3を参照して検討したように、対物レンズ34が、第1の角度Δψ1にわたって回動し（ステップ603）、そして、第1の軸方向の距離ΔZ1にわたって軸方向に変位して合焦を回復し（ステップ604）、そして、この第1の軸方向の距離ΔZ1が、メモリに記憶される（ステップ605）。その後、対物レンズ34が、第1の角度Δψ1に等しいが逆向きの第2の角度Δψ2にわたって回動し（ステップ607）、そして、第2の軸方向の距離ΔZ2にわたって軸方向に変位して合焦を回復し（ステップ608）、そして、この第2の軸方向の距離ΔZ2が、メモリに記憶される（ステップ609）。これらの2つの軸方向の距離ΔZ1とΔZ2とが、互いに比較される（ステップ610）。回動オフセットψ0が、チルトに一致していれば、当該2つの軸方向の距離ΔZ1とΔZ2とは、互いに等しい。当該2つの軸方向の距離ΔZ1とΔZ2とが、ある限度内で、互いに等しくなければ、回動オフセットψ0は、再調整され（ステップ611）、そして、当該2つの軸方向の距離ΔZ1とΔZ2とが、互いに実質的に等しくなるまで、上述のステップ602〜609が、繰り返される。次に、回動オフセットψ0の現在の値が、動作回動角ψCにとられる（ステップ612）。本方法においては、θを計算する必要がないこと、および、焦点距離fを知る必要がないことに注意されたい。
同等に有利な代替の一手続きを、図4および5Bを参照して検討した方法に基づいて提案する。最初に、回動オフセットψ0が、選択されて（ステップ621）、対物レンズが、合焦状態にもたらされる（ステップ622）。次に、対物レンズ34が、ある軸方向の距離ΔZにわたって軸方向に変位する（ステップ623）。対物レンズ34が、第1の角度Δψ1にわたって回動して合焦を回復し（ステップ624）、そして、この第1の角度Δψ1が、メモリに記憶される（ステップ625）。その後、対物レンズ34が、第1の角度Δψ1と逆向きに、第2の角度Δψ2にわたって回動して合焦を回復し（ステップ626）、そして、この第2の角度Δψ2が、メモリに記憶される（ステップ627）。これらの2つの軸方向の角度Δψ1とΔψ2とが、互いに比較される（ステップ630）。回動オフセットψ0が、チルトに一致していれば、当該2つの角度Δψ1とΔψ2とは、互いに等しい。当該2つの軸方向の角度Δψ1とΔψ2とが、ある限度内で、互いに等しくなければ、回動オフセットψ0が、再調整されて（ステップ631）、当該2つの角度Δψ1とΔψ2とが、互いに実質的に等しくなるまで、上述のステップ623〜627が、繰り返される。次に、回動オフセットψ0の現在の値が、動作回動角ψCにとられる（ステップ632）。本方法においても、θを計算する必要がないこと、および、焦点距離fを知る必要がないことに注意されたい。
さらに、光ディスク・ドライブ装置の動作中に、信号品質が、低下することがあるかもしれない。可能な原因の1つは、ディスクが、対物レンズのチルト補正セッティングに一致しないチルトを持つことである。本発明によれば、これを、相対的に容易にチェックすることができる。対物レンズの現在の回動角を、初期回動角ψ0にとり、上に検討されたステップ603〜609または623〜627を、それぞれ、とり上げる。ステップ610または630の結果は、それぞれ、現在の回動角が、適切なチルト補正に対応しているか否か、または、逆に言えば、ディスクが、現在の回動角からはずれたチルトを得ているか否かを決定する。必要であれば、回動角が、調節されて（それぞれ、ステップ611または631）、上に検討した回動角セッティング手続きが、その後に続けられる。
本方法の重要な利点は、対物レンズの半径方向の座標x0が、維持されるということである。
上述のように、通常、対物レンズ34は、レンズの光軸、即ち、主軸が、ディスクの反射している層に実質的に直交するように向けられたとき、即ち、動作回動角ψCが、ディスク2のチルトθに等しいときに最適のチルト補正を得るように位置決めされる。しかしながら、これは、必ずしも、常に正しいとは言えない。最適チルト補正のために、動作回動角ψCが、ディスク2のチルトθと異なるべきである場合もある。それが当てはまるか否かは、レンズのタイプに依存し、前もってわかることである。さらに、ディスク・ドライブ装置の製造者が、動作回動角ψCと、ディスク2のチルトθとの間の最適な関係を前もって決定することが可能である。この関係を、制御ユニット90に連結したメモリに、例えば、ルックアップ・テーブルの形式で、記憶させることができる。
そうすると、チルトθが、前述の方法のいずれかによって決定された後、制御ユニット90は、当該メモリに記憶されている関係にしたがって、対物レンズ34の動作回動角ψCをセットすることができる。
例えば、信号品質が、低下したために、ディスクが、対物レンズのチルト補正セッティングに合致しないチルトを持っているか否かをチェックしようと望むような、上で検討した状況においては、初期回動角ψ0が、当該メモリに記憶されている当該関係を考慮しながら、対物レンズの現在の回動角に基づいてセットされる。
当業者にとっては、本発明が、上で検討した典型的な実施例に限定されることなく、種々の変形例および変更例が、付されている請求項に定められている本発明の保護範囲内で可能であることが明らかであるに違いない。
例えば、レーザ31および検出器35を、フレーム3に対して搭載することが可能である。
ディスク・ドライブ装置を線図的に示す。 本発明の測定法の一実施例を線図的に例示する。 本発明の測定法の他の一実施例を線図的に例示する。 本発明の測定法の更に他の一実施例を線図的に例示する。 本発明のディスク・チルト測定方法のステップを例示するフローチャートである。 本発明のディスク・チルト測定方法のステップを例示するフローチャートである。 本発明の回動角セッティング方法のステップを例示するフローチャートである。 本発明の回動角セッティング方法のステップを例示するフローチャートである。
符号の説明
1 光ディスク・ドライブ装置
2 光ディスク
3 装置フレーム
4 モータ
5 回転軸
10 スレッジ
11 半径方向スレッジ・アクチュエータ
20 プラットフォーム
21 半径方向プラットフォーム・アクチュエータ
31 光ビーム生成手段
32a, 32b, 32c, 32d 光ビーム
34 対物レンズ
35 光検出器
36 対物レンズの光軸
37 軸方向プラットフォーム・アクチュエータ
41 回動プラットフォーム・アクチュエータ
90 制御ユニット

Claims (21)

  1. - 光ディスクに対して回転軸を定める回転手段と、
    - 光ビームで光ディスクを走査するための光走査手段と、を有し、当該光走査手段が、前記光ビームを、当該光ディスク上に合焦させるための変位可能な対物レンズを有し、当該対物レンズが、軸方向に変位可能であり、かつ、光ディスクのタンジェンシャル方向を向いた軸の周りに回動可能である光ディスク・ドライブ装置であって、
    前記光ディスクの測定場所におけるチルトを測定するための方法を有し、
    前記方法が、
    前記対物レンズを回動させ、そして、軸方向に変位させることによって、当該対物レンズを、第1の合焦測定場所にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所と実質的に等しい角度座標φを持ち、かつ、当該測定場所から小さな半径方向距離Dr1にある第1のアンカー点に合焦させるステップと、
    前記対物レンズを変位させ、そして、回動させることによって、当該対物レンズを、第2の合焦測定場所にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所と実質的に等しい角度座標φを持ち、かつ、当該測定場所から小さな半径方向距離Dr2にある第2のアンカー点に合焦させるステップとを有し、
    当該第1および第2のアンカー点が、当該測定場所に関して互いに反対側に置かれていて、
    当該対物レンズの当該2つの合焦測定場所の前記座標から、当該測定場所におけるチルトを計算するステップを、さらに、有する
    光ディスク・ドライブ装置。
  2. 前記対物レンズを、初期合焦位置にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所に合焦させるステップと、
    当該初期合焦位置に対して、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の角度にわたって前記対物レンズを回動させるステップと、
    前記対物レンズを、第1の軸方向距離にわたって軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、
    当該初期合焦位置に対して、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の角度にわたって前記対物レンズを回動させるステップと、
    前記対物レンズを、第2の軸方向距離にわたって軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、を有する請求項1に記載の方法。
  3. 前記測定場所のチルトが、次式
    tan(θ(r, φ)) = (f・cos(△Ψ1)+△z1-(f・cos(△Ψ2)-△z2))/(f・sin(△Ψ1)+f・sin(△Ψ2))
    にしたがって計算される請求項2に記載の方法。
  4. 前記第1の角度が、前記第2の角度に等しい請求項2または3に記載の方法。
  5. 前記対物レンズを、初期合焦位置にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所に合焦させるステップと、
    当該初期合焦位置に対して、前記ディスクに向かって、1つの軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させるステップと、
    相対的に半径の小さくなる方向に、第1の回動角にわたって、前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、
    相対的に半径の大きくなる方向に、第2の回動角にわたって、前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、を有する請求項1に記載の方法。
  6. 前記測定場所のチルトが、次式
    tan(θ(r, φ)) = (cos(△Ψ1)-cos(△Ψ2))/(sin(△Ψ1)+sin(△Ψ2))
    にしたがって計算される請求項5に記載の方法。
  7. 前記測定は、ディスクが回転している間に遂行されて、測定結果が、第1の半径に置かれている複数の点に対して得られ、そして、それらの測定結果が、前記対応する角度座標と相関してメモリに記憶され；測定結果が、第2の半径に置かれている複数の点に対して得られ、そして、それらの測定結果が、前記対応する角度座標と相関してメモリに記憶され；そして、中間の半径にあって、かつ、ある角度座標を持つ、少なくとも1つの場所におけるチルトが、当該メモリに記憶されている前記測定結果から計算される請求項1から6のいずれかに記載の方法。
  8. 光ディスクに対して回転軸を定める回転手段と、
    光ビームで光ディスクを走査するための光走査手段であって、
    - 光ビームを生成するための光ビーム生成手段と、
    - 前記光ビームを、当該光ディスク上に合焦させるための変位可能な対物レンズとを有する光走査手段と、を有する光ディスク・ドライブ装置であって、
    当該対物レンズを、半径方向に変位させるための半径方向アクチュエータ手段と、
    当該対物レンズを、軸方向に変位させるための軸方向アクチュエータ手段と、
    当該対物レンズを、回動させるための回動アクチュエータ手段と、
    当該半径方向アクチュエータ手段、当該軸方向アクチュエータ手段、および、当該回動アクチュエータ手段を制御するための制御手段と、を、さらに、有する装置において、
    当該制御手段が、
    -- 前記対物レンズを回動させ、そして、軸方向に変位させることによって、当該対物レンズを、第1の合焦測定場所にもたらして、前記光ビームを、光ディスクの測定場所と実質的に等しい角度座標φを持ち、かつ、当該測定場所から小さな半径方向距離Dr1にある第1のアンカー点に合焦させるステップと、
    -- 前記対物レンズを回動させ、そして、軸方向に変位させることによって、当該対物レンズを、第2の合焦測定場所にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所と実質的に等しい角度座標φを持ち、かつ、当該測定場所から小さな半径方向距離Dr2にある第2のアンカー点に合焦させるステップであって、当該第1および第2のアンカー点が、当該測定場所に関して互いに反対側に置かれるステップと、
    -- 当該対物レンズの当該2つの合焦測定場所の前記座標から、当該測定場所におけるチルトを計算するステップと、によって当該測定場所におけるチルトを測定するように設計されている装置。
  9. 当該制御手段が、
    -- 前記対物レンズを、初期合焦場所にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所に合焦させるために、当該半径方向アクチュエータ手段および当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 当該初期合焦位置に対して、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の回動角にわたって前記対物レンズを回動させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記対物レンズを、第1の軸方向距離にわたって軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 当該初期合焦位置に対して、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の回動角にわたって前記対物レンズを回動させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記対物レンズを、第2の軸方向距離にわたって軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させるように設計されている請求項8に記載のディスク・ドライブ装置。
  10. 当該制御手段が、次式
    tan(θ(r, φ)) = (f・cos(△Ψ1)+△z1-(f・cos(△Ψ2)-△z2))/(f・sin(△Ψ1)+f・sin(△Ψ2))
    にしたがって、前記測定場所のチルトを計算するように設計されている請求項9に記載の装置。
  11. 前記第1の回動角が、前記第2の回動角に等しい請求項9または10に記載の装置。
  12. 当該制御手段が、
    -- 前記対物レンズを、初期合焦場所にもたらして、前記光ビームを、当該測定場所に合焦させるために、当該半径方向アクチュエータ手段および当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記ディスクに向かって、1つの軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 相対的に半径の小さくなる方向に、第1の回動角にわたって、前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 相対的に半径の大きくなる方向に、第2の回動角にわたって、前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させるように設計されている請求項8に記載のディスク・ドライブ装置。
  13. 当該制御手段が、次式
    tan(θ(r, φ)) = (cos(△Ψ1)-cos(△Ψ2))/(sin(△Ψ1)+sin(△Ψ2))
    にしたがって、前記測定場所のチルトを計算するように設計されている請求項12に記載のディスク・ドライブ装置。
  14. 前記制御手段が、
    -- 前記ディスクを回転させるために、前記回転手段を起動させ、
    -- 前記対物レンズを、初期半径方向位置にもたらすために、当該半径方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記対物レンズを、初期合焦位置にもたらすために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 相対的に半径の小さくなる方向に、第1の角度にわたって、前記対物レンズを回動させるために、当該回動アクチュエータを起動させ、
    -- 合焦状態を得て、かつ、維持するために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動し、
    -- 前記光ディスクの少なくとも1回転にわたって、合焦制御信号をサンプルし、
    -- 前記合焦制御信号がサンプル化された前記角度位置と相関して、前記サンプル化された値をメモリに記憶させ、
    -- 相対的に半径の大きくなる方向に、第2の角度にわたって、前記対物レンズを回動させるために、当該回動アクチュエータを起動させ、
    -- 合焦状態を得て、かつ、維持するために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記光ディスクの少なくとも1回転にわたって、前記合焦制御信号をサンプルし、
    -- 前記合焦制御信号がサンプル化された前記角度位置と相関して、前記サンプル化された値をメモリに記憶させ、
    -- 前記記憶された値を用いて、当該初期半径の場所におけるチルトを計算するように設計されている請求項8から13のいずれかに記載の装置。
  15. 前記制御手段が、
    -- 前記ディスクを回転させるために、前記回転手段を起動させ、
    -- 前記対物レンズを、初期半径方向位置にもたらすために、当該半径方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記対物レンズを、初期合焦位置にもたらすために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 前記ディスクに向かって、1つの距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させ、
    -- 合焦状態を得て、かつ、維持するために、当該回動アクチュエータを、第1の方向に起動させ、
    -- 前記光ディスクの少なくとも1回転にわたって、回動制御信号をサンプルし、
    -- 前記回動制御信号がサンプル化された前記角度位置と相関して、前記サンプル化された値をメモリに記憶させ、
    -- 合焦状態を得て、かつ、維持するために、当該回動アクチュエータを、第2の方向に起動させ、
    -- 前記光ディスクの少なくとも1回転にわたって、前記回動制御信号をサンプルし、
    -- 前記回動制御信号がサンプル化された前記角度位置と相関して、前記サンプル化された値をメモリに記憶させ、
    -- 前記記憶された値を用いて、当該初期半径の場所におけるチルトを計算するように設計されている請求項8から13のいずれかに記載の装置。
  16. - 光ディスクに対して回転軸を定める回転手段と、
    - 光ビームで光ディスクを走査するための光走査手段と、を有するタイプの光ディスク・ドライブ装置であって、当該光走査手段が、前記光ビームを、当該光ディスク上に合焦させるための変位可能な対物レンズを有し、当該対物レンズが、軸方向に変位可能であり、かつ、光ディスクのタンジェンシャル方向を向いた軸の周りに回動可能である光ディスク・ドライブ装置において、
    前記対物レンズの動作回動角をセットするための方法であって、
    [a] 初期回動オフセットを選択するステップと、
    [b] 前記対物レンズを、初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)にもたらすステップと、
    [c] 当該初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)に対して、位置(x0, 0, z0, Ψ0-△Ψ1)まで、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の角度にわたって、前記対物レンズを回動させるステップと、
    [d] 第1の軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、
    [e] 当該初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)に対して、位置(x0, 0, z0, Ψ0+△Ψ2)
    まで、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の角度にわたって、前記対物レンズを回動させるステップであって、前記第2の角度が、当該第1の角度に等しいステップと、
    [f] 第2の軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、
    [g] 当該第1の軸方向距離を、当該第2の軸方向距離と比較するステップと、
    [h1] 当該第1の軸方向距離が、一定の限度内で、当該第2の軸方向距離に実質的に等しくなければ、前記回動オフセットを再調整し、そして、ステップ[b]〜[g]を繰り返すステップと、
    [h2] 当該第1の軸方向距離が、当該第2の軸方向距離に実質的に等しければ、前記回動オフセットの前記現在値に基づいて、前記対物レンズの前記動作回動角をセットするステップと、を有する方法。
  17. - 光ディスクに対して回転軸を定める回転手段と、
    - 光ビームで光ディスクを走査するための光走査手段と、を有するタイプの光ディスク・ドライブ装置であって、当該光走査手段が、前記光ビームを、当該光ディスク上に合焦させるための変位可能な対物レンズを有し、当該対物レンズが、軸方向に変位可能であり、かつ、光ディスクのタンジェンシャル方向を向いた軸の周りに回動可能である光ディスク・ドライブ装置において、
    前記対物レンズの動作回動角をセットするための方法であって、
    [a] 初期回動オフセットを選択するステップと、
    [b] 前記対物レンズを、初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)にもたらすステップと、
    [c] 当該初期合焦位置(x0, 0, z0, Ψ0)に対して、前記ディスクに向かって、1つの軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させるステップと、
    [d] 位置(x0, 0, z0+△z, Ψ0-△Ψ1)まで、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の回動角にわたって前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、
    [e] 位置(x0, 0, z0+△z, Ψ0+△Ψ2)まで、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の回動角にわたって前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるステップと、
    [f] 当該第1の回動角を、当該第2の回動角と比較するステップと、
    [g1] 当該第1の回動角が、一定の限度内で、当該第2の回動角に実質的に等しくなければ、前記回動オフセットを再調整し、そして、ステップ[b]〜[f]を繰り返すステップと、
    [g2] 当該第1の回動角が、当該第2の回動角に実質的に等しければ、前記回動オフセットの前記現在値に基づいて、前記対物レンズの前記動作回動角をセットするステップと、を有する方法。
  18. 前記対物レンズの前記動作回動角が、前記回動オフセットの前記現在値に等しくセットされる請求項16または17に記載の方法。
  19. 前記対物レンズの前記動作回動角が、前記動作回動角と前記ディスクの前記チルトとの間の最適関係にさらに基づいてセットされる請求項16または17に記載の方法。
  20. 光ディスクに対して回転軸を定める回転手段と、
    光ビームで光ディスクを走査するための光走査手段であって、
    - 光ビームを生成するための光ビーム生成手段と、
    - 前記光ビームを、当該光ディスク上に合焦させるための変位可能な対物レンズとを有する光走査手段と、を有する光ディスク・ドライブ装置であって、
    当該対物レンズを、半径方向に変位させるための半径方向アクチュエータ手段と、
    当該対物レンズを、軸方向に変位させるための軸方向アクチュエータ手段と、
    当該対物レンズを、回動させるための回動アクチュエータ手段と、
    当該半径方向アクチュエータ手段、当該軸方向アクチュエータ手段、および、当該回動アクチュエータ手段を制御するための制御手段と、を、さらに、有する装置において、
    当該制御手段が、
    [a] 初期回動オフセットを選択するステップと、
    [b] 初期合焦場所(x0, 0, z0, Ψ0)に、前記対物レンズをもたらすために、当該半径方向アクチュエータ手段および当該軸方向アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [c] 位置(x0, 0, z0, Ψ0-△Ψ1)まで、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の回動角にわたって前記対物レンズを回動させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [d] 第1の軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [e] 位置(x0, 0, z0, Ψ0+△Ψ2)まで、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の回動角にわたって前記対物レンズを回動させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させるステップであって、前記第2の回動角が、当該第1の回動角に等しいステップと、
    [f] 第2の軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [g] 当該第1の軸方向距離を、当該第2の軸方向距離と比較するステップと、
    [h1] 当該第1の軸方向距離が、一定の限度内で、当該第2の軸方向距離に実質的に等しくなければ、前記回動オフセットを再調整し、そして、ステップ[b]〜[g]を繰り返すステップと、
    [h2] 当該第1の軸方向距離が、当該第2の軸方向距離に実質的に等しければ、前記回動オフセットの前記現在値に基づいて、前記対物レンズの動作回動角をセットするステップと、によって、前記対物レンズの前記動作回動角をセットするように設計されている装置。
  21. 光ディスクに対して回転軸を定める回転手段と、
    光ビームで光ディスクを走査するための光走査手段であって、
    - 光ビームを生成するための光ビーム生成手段と、
    - 前記光ビームを、当該光ディスク上に合焦させるための変位可能な対物レンズとを有する光走査手段と、を有する光ディスク・ドライブ装置であって、
    当該対物レンズを、半径方向に変位させるための半径方向アクチュエータ手段と、
    当該対物レンズを、軸方向に変位させるための軸方向アクチュエータ手段と、
    当該対物レンズを、回動させるための回動アクチュエータ手段と、
    当該半径方向アクチュエータ手段、当該軸方向アクチュエータ手段、および、当該回動アクチュエータ手段を制御するための制御手段と、を、さらに、有する装置において、
    当該制御手段が、
    [a] 初期回動オフセットを選択するステップと、
    [b] 初期合焦場所(x0, 0, z0, Ψ0)に、前記対物レンズをもたらすために、当該半径方向アクチュエータ手段および当該軸方向アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [c] 前記ディスクに向かって、1つの軸方向距離にわたって、前記対物レンズを軸方向に変位させるために、当該軸方向アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [d] 位置(x0, 0, z0+△z, Ψ0-△Ψ1)まで、相対的に半径の小さくなる方向に、第1の回動角にわたって前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [e] 位置(x0, 0, z0+△z, Ψ0+△Ψ2)まで、相対的に半径の大きくなる方向に、第2の回動角にわたって前記対物レンズを回動させて、前記光ビームを、前記ディスク上に再合焦させるために、当該回動アクチュエータ手段を起動させるステップと、
    [f] 当該第1の回動角を、当該第2の回動角と比較するステップと、
    [g1] 当該第1の回動角が、一定の限度内で、当該第2の回動角に実質的に等しくなければ、前記回動オフセットを再調整し、そして、ステップ[b]〜[f]を繰り返すステップと、
    [g2] 当該第1の回動角が、当該第2の回動角に実質的に等しければ、前記回動オフセットの前記現在値に基づいて、前記対物レンズの動作回動角をセットするステップと、によって、前記対物レンズの前記動作回動角をセットするように設計されている装置。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7570547B2 (en) * 2005-08-22 2009-08-04 Konica Minolta Opto, Inc. Objective lens unit and optical pickup device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000357338A (ja) * 1999-06-15 2000-12-26 Sony Corp 記録媒体駆動装置及びチルト検出方法
JP2001236668A (ja) * 1999-12-15 2001-08-31 Samsung Electro Mech Co Ltd チルト検出装置および方法
JP2002083438A (ja) * 2000-06-27 2002-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光記録・再生装置、チルト補正方法、プログラム、及び媒体

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2605776B2 (ja) * 1988-02-03 1997-04-30 ヤマハ株式会社 光ディスク再生装置のチルトサーボ回路
JPH0758559B2 (ja) * 1988-09-02 1995-06-21 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
JP3193105B2 (ja) * 1992-02-29 2001-07-30 日本ビクター株式会社 チルトエラー検出装置
JP3529556B2 (ja) * 1996-07-18 2004-05-24 パイオニア株式会社 光ピックアップにおけるコマ収差補正方法及び装置
US5881034A (en) * 1996-08-20 1999-03-09 Sony Corporation Apparatus for driving objective lens
US6151174A (en) * 1997-10-06 2000-11-21 U.S. Philips Corporation Device for optically scanning a record carrier
JP3443668B2 (ja) * 1998-04-30 2003-09-08 富士通株式会社 収差補正方法及び収差補正装置
KR100370187B1 (ko) * 1998-08-05 2003-03-17 삼성전자 주식회사 광기록재생장치,이에적합한틸트보정방법,그리고기록제어방법
US6788627B2 (en) 2000-06-27 2004-09-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical recording and reproducing apparatus, tilt correction method, tilt correction program and medium
JP3924440B2 (ja) * 2001-05-17 2007-06-06 松下電器産業株式会社 光ディスク装置及びその制御方法
JP2003248951A (ja) * 2002-02-25 2003-09-05 Funai Electric Co Ltd 光ディスクのチルト制御装置
EP1482491A4 (en) * 2002-03-04 2008-02-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd OPTICAL HEAD AND OPTICAL RECORDING / REPRODUCING DEVICE USING SUCH HEAD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD
JP2004062918A (ja) * 2002-07-24 2004-02-26 Pioneer Electronic Corp チルトサーボ装置
JP3975139B2 (ja) * 2002-08-30 2007-09-12 パイオニア株式会社 チルト補正装置及びチルト補正方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000357338A (ja) * 1999-06-15 2000-12-26 Sony Corp 記録媒体駆動装置及びチルト検出方法
JP2001236668A (ja) * 1999-12-15 2001-08-31 Samsung Electro Mech Co Ltd チルト検出装置および方法
JP2002083438A (ja) * 2000-06-27 2002-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光記録・再生装置、チルト補正方法、プログラム、及び媒体

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