JP2005534124A - バンドギャップ基準回路 - Google Patents

バンドギャップ基準回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2005534124A
JP2005534124A JP2004528373A JP2004528373A JP2005534124A JP 2005534124 A JP2005534124 A JP 2005534124A JP 2004528373 A JP2004528373 A JP 2004528373A JP 2004528373 A JP2004528373 A JP 2004528373A JP 2005534124 A JP2005534124 A JP 2005534124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
reference circuit
transistor
circuit
differential amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004528373A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4065274B2 (ja
Inventor
ブラス,エクハルト
グレーヴィング,クリスチャン
エーム,ユルゲン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Publication of JP2005534124A publication Critical patent/JP2005534124A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4065274B2 publication Critical patent/JP4065274B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/34Dc amplifiers in which all stages are dc-coupled
    • H03F3/343Dc amplifiers in which all stages are dc-coupled with semiconductor devices only
    • H03F3/345Dc amplifiers in which all stages are dc-coupled with semiconductor devices only with field-effect devices

Abstract

バンドギャップ基準回路を開示する。この回路では、差動増幅器に動力供給する電流ミラーを含む従来の電流ループが、基準電流(IREF)で置き換えられている。この基準電流(IREF)は、差動増幅器(8,9,10,11)のバイアス入力部と接続されている抵抗器(12)を流通する。本発明の回路は、特に改善された供給電圧拒絶率PSRRを特徴とするものであり、かつ、設計が簡単であり、少ない供給電圧に適している。

Description

発明の詳細な説明
本発明は、特許請求項1の構成に基づくバンドギャップ基準回路(Bandabstands-Referenzschaltung)に関するものである。
一般的なバンドギャップ基準回路は、例えば
以下の文献1に記載されている。
文献1:H. Banba, H. Shiga他「サブI−VオペレーションによるCMOSバンドギャップ基準回路(A CMOS Bandgap Reference Circuit with Sub-l-V Operation)」, IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34巻5号、1999年5月
この文献の図1に、従来のバンドギャップ基準回路の回路構成が記載されている。この回路構成は、CMOSオペレーション増幅器およびダイオードを有する調整回路と、抵抗器とを含んでいる。オペレーション増幅器の一対の入力電圧は、互いに等しくなるように調整されている。オペレーション増幅器の2つの入力電圧は、それぞれ、各電流分枝部のダイオードの貫流電圧(Durchflussspannung)に依存している。なお、各電流分枝部は、オペレーション増幅器の出力部と接続されている。
ダイオードの貫流電圧は、通常、比較的高い温度係数(例えば、0.6ボルトでは、1ケルビンにつきマイナス2mV)を有している。一般的なバンドギャップ基準では、この温度係数を、「1ケルビンにつきプラス2mVの温度係数または他の正の温度係数を有する電圧を、適切に重み付けして加える」ことにより補償する。
従って、オペレーション増幅器の最大の直流増幅率に応じて抵抗比率を適切に選択することにより、バンドギャップ回路の出力基準電圧を、実質的に温度依存のない電圧値として生成できる。この場合、2つの電流分枝部にあるダイオードの電流密度は、互いに異なるように設定される。
半導体材料としてのシリコンを用いる場合、このようなバンドギャップ回路の基準電圧は、通常、約1.25ボルトとなる。
上記した文献1の図5には、バンドギャップ基準回路のオペレーション増幅器が、部品レベルの接続図として示されている。オペレーション増幅器は、MOS回路技術によって差動増幅器として実施されており、増幅器トランジスタの共通のソースノードに、電流ミラーを介して、差動増幅器の出力信号が供給されている。このため、この構成では、差動増幅器の基準電流を生成するために比較的多数の部品が必要となる。さらに、不適切な電流ループが形成されるため、基準電流の供給電圧抑制(Versorgungsspannungsunterdrueckung)を比較的に悪化させてしまうという欠点を有している。なお、供給電圧抑制は、PSRR,電力供給除去率(Power Supply Rejection Ratio)とも呼ばれる。
また、上記の文献1の図5には、さらに、バンドギャップ基準回路をスイッチオンするための、NMOSトランジスタを備えるスタート回路が記載されている。このNMOSトランジスタは、制御配線(gesteuerten Strecke)を用いて、スイッチオン制御信号に応じて、差動増幅器の出力部を基準電位と接続する。なお、このスイッチオン制御信号は、他の制御回路(図示せず)を用いて生成する必要のあるものである。このような制御回路は、通常、他の複数の構成素子(特にトランジスタおよびキャパシタ)を備えている。このようなスタート回路により、バンドギャップ調整回路を、確実かつ比較的迅速に起動(Hochfahren)できる。しかしながら、図5の回路は、比較的に高コストである。
本発明の目的は、一般的なバンドギャップ基準回路を、供給電圧抑制を改善できるように発展させること(weiterzubilden)である。特に、バンドギャップ基準回路については、供給電圧の少ない移動式装置での使用に適したものとすることが好ましい。なお、この供給電圧は、比較的大きな変動を受ける可能性のあるものである。
本発明では、上記の目的を、本特許請求項1に記載の特徴を有するバンドギャップ基準回路によって達成する。
差動増幅器のための基準電流は、本原理によると、接地された抵抗器によって得られるものであり、電流ループによって差動増幅器の出力信号から導出されるものではない。
驚くべきことに、上記バンドギャップ基準回路では、抵抗器を、電流源として使用できる。発明者は、電流分枝部のタップ点でのコモンモード状態(Gleichtaktlagen)により、電流を抵抗器によって生成できるようになるということを、すでに(vorliegend)認識しているからである。
バンドギャップ基準回路の電流分枝部から流れる差動増幅器の入力信号がコモンモード状態にあることにより、差動増幅器の出力信号を複雑にフィードバック連結しなくても、差動増幅器を安定して駆動できる。その結果、差動増幅器における基準電流供給の供給電圧抑制を、著しく改善できる。さらに、差動増幅器のために、非常に簡単な部品によって、上記したような基準電流を生成できる。必要なものは、3つのMOSトランジスタではなく、1つの抵抗器だけある。
バンドギャップ基準回路における基準電流供給に関する上記した原理では、電流干渉(Stromstoerungen)が生じる。これは、供給電圧変動が著しく減少した重み付けを有すること、すなわち、単に対数的に重み付けされたことが原因である。
さらに、供給電圧変動に対する安定性を著しく低くするような、電流ループを形成しないことが好ましい。
本原則の基礎となっているのは、抵抗器による基準電流生成である。抵抗器による基準電流生成によって、バンドギャップ調整回路を、より迅速に始動できるとともに、より迅速に安定化できる。従って、基準回路によって安定した基準電圧を出力部に出力するまでの起動時間を、著しく短くできることとなる。
従って、この基準回路の発展形では、基準回路をスイッチオンまたは起動(Hochfahren)するために、スタート回路を備えることが好ましい。この場合、第1トランジスタは、第1タップノードに印加されている電圧によって制御される。また、第1トランジスタは、第1タップノードに印加されている電圧に応じて、第2トランジスタに作用する。なお、第2トランジスタは、負荷側で(lastseitig)、差動増幅器の出力部を、基準電位端子に接続されている。
上記スタート回路は、必要とする部品が比較的少なく、構造が簡単である。しかし、バンドギャップ基準回路を効果的かつ迅速に起動できる。
バンドギャップ基準回路にある第1および第2電流経路は、それらの電流入力部が相互接続されていることが好ましい。従って、備えられている制御トランジスタと基準電位との間に平行に位置していることが好ましい。制御トランジスタは、その制御端子によって、差動増幅器の出力部と接続されており、その制御配線によって、一方では供給電位端子と接続されており、他方では、電流経路の2つの電流入力部と接続されている。この構成では、2つの電流経路の電流を制御するために、差動増幅器によって使用される制御トランジスタを1つだけにできる。従って、部品の数が少なくできるとともに、2つのトランジスタのある場合に必要な「良好な結合交差の保証」をしなくてもよくなる。
ダイオードは、バイポーラダイオードとして形成されていることが好ましい。なお、バンドギャップ基準回路は、これらのダイオードの貫流電圧に応じて作動する。
CMOS−n−ウェル技術(CMOS-n-Wannen-Technik)によって回路を製造する場合は、ダイオードが、バイポーラトランジスタとして形成されており、このバイポーラトランジスタのベース端子が、それぞれ、それらのコレクタ端子と短絡されていることが好ましい。この場合、ダイオードとして、トランジスタのベースエミッタ配線部が備えられる。
基準素子として作動する2つのダイオードを除いては、このバンドギャップ基準回路は、完全にMOS回路技術によって形成されていることが好ましい。
本発明のより詳細な構成および好ましい発展形態については、従属請求項に記載する。
以下に、本発明の実施例について、図を用いて詳しく説明する。
図1は、本バンドギャップ基準回路の第1実施例を示す接続図である。図2は、差動増幅器の基準電流における供給電圧抑制の周波数応答を示す図である。図3は、出力部側のバンドギャップ回路における供給電圧抑制の周波数応答を示す図である。図4は、本バンドギャップ基準回路の第2実施例を示す接続図である。
図1に、CMOS回路技術によって形成されたバンドギャップ基準回路の一実施例を示す。なお、このバンドギャップ基準回路は、電圧基準として、ダイオードの貫流電圧を使用している。第1電流経路は、第1抵抗器1,第2抵抗器2および第1ダイオード3を含む直列回路(Serienschaltung)を備えている。この第1電流経路1,2,3に対して並列に、第2電流経路4,5が接続されている。この第2経路は、同じく直列回路では相互接続されている第3抵抗器4と第2ダイオード5とを備えている。電流経路1,2,3;4,5の2つの電流入力部は、第1または第3抵抗器1,4の空いている端子(freien Anschluessen)にそれぞれ形成されている。これらの電流入力部は、相互接続されている。さらに、ダイオード3,5のカソード端子は、それぞれ、基準電位端子6と接続されている。供給電圧端子VDDと電流経路1,2,3;4,5の電流入力部との間に、制御トランジスタ7が、その負荷配線部によって接続されている。なお、この制御トランジスタ7は、PMOSトランジスタとして形成されている。制御トランジスタ7の制御入力部は、オペレーション増幅器として作動する差動増幅器の出力部と接続されている。
差動増幅器8,9,10,11,12は、第1増幅器トランジスタ8、第2増幅器トランジスタ9、電流ミラー10,11、および、基準電流源として作動する抵抗器12を備えている。2つの増幅器トランジスタ8,9は、nチャネルを有するMOS電界効果トランジスタとして形成されており、各1つの制御入力部を備えている。この場合、増幅器トランジスタ8,9の制御入力部は、差動増幅器の第1および第2入力部13,14を形成する。2つの増幅器トランジスタ8,9の制御配線は、電流ミラー10,11を介して、それぞれの第1端子と相互接続されている。また、この配線部は、制御配線その第2端子で直接相互に接続されており、基準電流源抵抗器12を介して、基準電位6と接続されている。電流ミラートランジスタ10,11は、そのゲート端子によって直接相互接続されており、各1つの負荷端子によって、供給電位VDDと直接接続されている。ダイオードとして接続されている電流ミラートランジスタ10は、電流ミラートランジスタ11のように、pチャネルMOS電界効果トランジスタとして形成されている。
差動増幅器の第1および第2入力部13,14は、各1つのタップノード15,16によって、第1および第2電流経路1,2,3;4,5と接続されている。第1タップノード15は、抵抗器1,2の共通の接続ノードに形成されている。第2タップノード16は、第3抵抗器4と第2ダイオード5との間のアノード端子に備えられている。

図1のバンドギャップ基準回路の出力部は、共通の接続ノードに形成されている。この共通接続ノードは、第1電流経路1,2,3の電流入力部、第2電流経路4,5の電流入力部、および、ここに接続された制御トランジスタ7の制御配線端子の共通するノードである。この接続ノードに、RC部(RC-Glied)が接続されている。なお、このRC部は、直列抵抗器17と、キャパシタ18とを備えている。このキャパシタ18は、抵抗器17の下流に接続されており、基準電位に接続されているか、あるいは、接地されている。RC部17,18の出力端子からは、ローパス濾波された(tiefpassgefilterte)バンドギャップ基準信号が出力される。
バンドギャップ基準回路を起動するために、スタート回路19,20,21が備えられている。このスタート回路は、第1トランジスタ19と、第2トランジスタ20と、電気的な負荷として接続されているトランジスタ21とを備えている。第1および第2トランジスタ19,20が、NMOSトランジスタとして形成されている。一方、電気的な負荷は、PMOSトランジスタ21である。トランジスタ21およびトランジスタ19は、その制御配線を介して直列回路を形成し、供給電位端子VDDと基準電位端子6との間に接続されている。負荷トランジスタ21は、その制御端子によって同じく基準電位と接続されており、従って、常に導電性である。トランジスタ19の制御入力部は、第1電流経路1,2,3の第1タップノード15と接続されている。第2トランジスタ20は、その制御入力部によって、トランジスタ19,21の接続ノードと接続されており、負荷側で、制御トランジスタ7の制御入力部を、基準電位端子6と接続している。
既に差動増幅器として形成されているオペレーション増幅器は、安定化段階(Einschwingsphase)の後は常に、2つのタップ点15,16に設定される電位を等しくするように調整する。その結果、第2ダイオード5の貫流電圧は、抵抗器2とダイオード3とを介した電圧の合計に等しくなる。この場合、ダイオード3は、複数のサブダイオード(Teildioden)を並列に接続することによって形成されていることが好ましい。図1の回路の電気的な関係を、以下の式によって説明する。なお、UPTATは、抵抗器2の温度電圧、kはボルツマン定数、Tはケルビンの単位で示す絶対温度、qは素電荷、IS5はダイオード5の電流密度、IS3は、ダイオード3の電流密度、U1〜U5は抵抗器1〜5の電圧、R1,R2は抵抗器1,2の値、UBGはバンドギャップ電圧を示す。
PTAT=k・T/q・ln(IS5/IS3
1=R1・UPTAT/R=R/R・k・T/q・ln(IS5/IS3
PTAT+U=U
=U
BG=U+U=U+R/R・k・T/q・ln(IS5/IS3
≒1.25V
タップノード15,16に、適切かつ充分なコモンモード状態にある信号対が存在しているという認識により、本原則では、差動増幅器の基準電流入力部に、電流源として、接地されている抵抗器12が接続されている。このことにより、同じく、非常に良好な供給電圧抑制(Power Supply Rejection Ratio, PSRR)を有する基準電流を準備できる。なぜなら、供給電圧に対する干渉は、本原則によると、単に対数的に重み付けされて生じるからである。基準電流Irefに対しては、
ref=(U−UGS8)/R12
が当てはまる。ただし、UGS8は、トランジスタ8のゲートソース電圧、R12は、抵抗器12の値を示す。
さらに、基準電流生成を簡易に行えることで、必要とされる部品をより少なく、それに伴ってチップ面積をかなり節約さできるという利点が生まれる。基準電流の供給電圧抑制を改善できることにより、さらに、バンドギャップ基準回路の出力部における信号品質も改善できるという利点が生じる。
スタート回路19,20,21は、たった3つのMOSトランジスタを備え、他のバンドギャップ基準回路のように、供給電圧VDDを特に少なくするために設計されている。第1タップ点15に印加されている電圧レベル(Spannungspegel)に応じて、トランジスタ19を駆動する。この場合、トランジスタ21に常に少し導電性があるということに注意する必要がある。第2トランジスタ20は、トランジスタ7を、電流の引き出し(Abziehen von Strom)によって制御する。基準電流生成が起動されており、特定の電流(Stromfluss)が回路に生じると、トランジスタ19が導電性になり、従って、トランジスタ20が、そのゲートにおいてスイッチオフされる。その結果、このスタート回路は、簡単な手段によって、特に効果的に機能する。
電圧供給抑制を改善したこと、および、供給電圧を少なくできたことにより、この回路は、特にバッテリーによって動力供給される移動式装置での使用に適したものとなっている。特に、このような装置では、供給電圧が比較的大きく変動する。
このバンドギャップ基準回路は、完全にCMOS回路技術によって形成されていることが好ましく、従って、特に、二重データ率同期ダイナミックランダムアクセスメモリー(DDR−SDRAM)や、他の半導体メモリーにおける使用に組み入れることができる。また、ブルートゥースまたはDECT(デジタルヨーロッパ無線電話;Digital European Cordless Telephone)装置などの移動式無線器(Mobilfunk)にも組み入れられる。
上記したバンドギャップ基準回路は、1.3ボルトの供給電圧でも確実に機能する。
上記のダイオード3,5の貫流電圧は、バンドギャップ基準回路のための基準として機能する。このようなダイオード3,5の代わりに、ベースエミッタ配線部がベースとコレクタとの短絡により基準ベース(Referenzgrundlage)として機能するトランジスタも使用できる。
図1に示すMOSトランジスタの代わりに、本発明の範囲内で、当然、一般的な技術の回路を有する他のタイプのトランジスタを使用してもよい。
図2に、差動増幅器の基準電流IREFにおける、供給電圧抑制の周波数応答PSRRを、片対数グラフで示す。このグラフでは、図1に示した差動増幅器の基準電流の供給電圧抑制が、周波数(単位はヘルツ)に対して、dB(A)の単位でプロットされている。曲線Nは、図1に示した回路の周波数応答を示す。一方、曲線Oは、冒頭部分で言及した既知のバンドギャップ基準回路の周波数応答を示す。技術的に特に重要な100kHzと100MHzとの間の中間周波数範囲では、提示した回路によって、供給電圧抑制を20dB以下に改善できる
図3に、図1に示したバンドギャップ回路の供給電圧抑制の周波数を、両対数グラフで示す。このグラフでは、ヘルツの単位で示す周波数に対して、回路の出力部に生成されたバンドギャップ電圧VBGの供給電圧抑制PSRRをプロットしている。ここでも、曲線Nは、図1に示した回路の特性(Verhalten)を示し、一方、曲線Oは、冒頭部分で言及した既知のバンドギャップ回路の特性を示す。広い周波数範囲にわたって、供給電圧抑制を約3dBに改善できる。
図4に、CMOS回路技術によって形成された、電圧基準としてダイオードの貫流電圧を使用するバンドギャップ基準回路の、他の実施形態を示す。このバンドギャップ基準回路は、その構造および機能性が、図1のものと広範囲にわたって重複している。このため、重複しているものについては、ここで繰り返し説明はしない。図1に示した抵抗器12の代わりに、図4の構成には、トランジスタ22が備えられている。このトランジスタ22の制御端子は、伝導性を得るために、基準回路の適切な複数の回路ノードの1つと接続されている。このような回路ノードとしては、例えば、タップノード15,16が適している。また、トランジスタ8,9を接続するノードAまたはローパスフィルター17,18の前後におけるバンドギャップ基準回路の出力ノードB,Cも同じく適している。
本バンドギャップ基準回路の第1実施例を示す接続図である。 差動増幅器における基準電流の供給電圧抑制の周波数応答を示す図である。 出力部側のバンドギャップ回路における供給電圧抑制の周波数応答を示す図である。 本バンドギャップ基準回路の第2実施例を示す接続図である。
符号の説明
1 抵抗器
2 抵抗器
3 ダイオード
4 抵抗器
5 ダイオード
6 接地
7 制御トランジスタ
8 増幅器トランジスタ
9 増幅器トランジスタ
10 電流ミラートランジスタ
11 電流ミラートランジスタ
12 抵抗器
13 入力部
14 入力部
15 タップノード
16 タップノード
17 抵抗器
18 キャパシタ
19 トランジスタ
20 トランジスタ
21 負荷トランジスタ
22 トランジスタ

Claims (9)

  1. 電流入力部と、第1ダイオード(3)と、第1ダイオード(3)の貫流電圧に応じた電圧をタップするための第1タップノード(15)とを含む第1電流経路(1,2,3)、
    電流入力部と、抵抗器(4)と、第2ダイオード(5)と、第2ダイオード(5)の貫流電圧に応じた電圧をタップするための第2タップノード(16)とを含む第2電流経路(4,5)、
    および、
    第1タップノード(15)と接続されている第1入力部(13)と、第2タップノード(16)と接続されている第2重力部(14)と、第1および第2電流経路(1,2,3;4,5)の電流入力部に接続されており、これらの入力部間の電圧差に応じた信号を供給されるバイアス電流入出力部とを含む、差動増幅器(8,9,10,11)、
    を有するバンドギャップ基準回路において、
    差動増幅器(8,9,10,11)用の基準電流(IREF)を得るために、基準電位端子(6)に接続されている抵抗器(12)が、差動増幅器のバイアス電流入力部に接続されていることを特徴とする、バンドギャップ基準回路。
  2. 上記バンドギャップ基準回路をスイッチオンするためのスタート回路(19,20,21)が備えられており、
    このスタート回路(19,20,21)が、
    第1タップノード(15)に接続されている制御入力部と、電気的な負荷(21)を基準電位端子(6)に接続する制御配線とを備える第1トランジスタ(19)、
    および、
    第1トランジスタ(19)の制御配線に接続されており、負荷側で差動増幅器の出力部を基準電位端子(6)に接続する制御入力部と、第2トランジスタ(20)、
    を含んでいることを特徴とする、請求項1に記載のバンドギャップ基準回路。
  3. 上記スタート回路にある電気的負荷(21)が、供給電位端子(VDD)を第1トランジスタ(19)の制御配線の端子と接続するトランジスタとして形成されていることを特徴とする、請求項2に記載のバンドギャップ基準回路。
  4. 上記第1電流経路(1,2,3)が、第1抵抗器(1)と、第2抵抗器(2)と、第1ダイオード(3)とを含む直列回路を備え、
    第1タップ点(15)が、第1および第2抵抗器(1,2)の間に配置されており、
    第2電流経路(4,5)が、第3抵抗器(4)と第2ダイオード(4)とを含む直列回路を備え、
    第3抵抗器(4)と第2ダイオード(4)との間に第2タップ点(16)が配置されていることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載のバンドギャップ基準回路。
  5. 上記差動増幅器(8,9,10,11)が、第1および第2増幅器トランジスタ(8,9)を備え、
    上記第1および第2増幅器トランジスタ(8,9)が、差動増幅器の2つの入力部(13,14)を形成する、制御配線のそれぞれの端子によって差動増幅器のバイアス電流入力部と接続されている制御入力部を備え、
    増幅器トランジスタ(8,9)の制御配線の空いている端子が、電流ミラー(10,11)を介して相互接続されていることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載のバンドギャップ基準回路。
  6. 上記差動増幅器(8,9,10,11)の出力部を、第1および第2電流経路(1,2,3;4,5)の電流入力部と接続するために、制御入力部と、制御配線とを有する制御トランジスタ(7)が備えられており、
    上記制御入力部は、差動増幅器(8,9,10,11)の出力部と接続されており、
    上記制御配線は、供給電位端子(VDD)を、第1および第2電流経路(1,2,3;4,5)の2つの電流入力部と、バンドギャップ基準回路の出力部とに接続することを特徴とする、請求項1〜5のいずれか1項に記載のバンドギャップ基準回路。
  7. 上記バンドギャップ基準回路の出力部に、ローパスフィルター(17,18)が接続されていることを特徴とする、請求項6に記載のバンドギャップ基準回路。
  8. 上記差動増幅器(8,9,10,11)用の基準電流(IREF)を得るために、
    差動増幅器(8,9,10,11)のバイアス電流入力部と基準電位端子(6)との間に接続されている抵抗器(12)が、トランジスタ(22)として形成されていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか1項に記載のバンドギャップ基準回路。
  9. 上記差動増幅器(8,9,10,11)用の基準電流(IREF)を得るために設計されたトランジスタ(22)が、制御入力部を備え、
    この制御入力部が、導電性を設定するために、差動増幅器(8,9,10,11)のバイアス電流入力部(A)、基準回路の出力部(B,C)または2つのタップノード(15,16)の1つと接続されていることを特徴とする、請求項8に記載のバンドギャップ基準回路。
JP2004528373A 2002-07-23 2003-07-15 バンドギャップ基準回路 Expired - Fee Related JP4065274B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10233526A DE10233526A1 (de) 2002-07-23 2002-07-23 Bandabstands-Referenzschaltung
PCT/DE2003/002377 WO2004017153A1 (de) 2002-07-23 2003-07-15 Bandabstands-referenzschaltung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005534124A true JP2005534124A (ja) 2005-11-10
JP4065274B2 JP4065274B2 (ja) 2008-03-19

Family

ID=30128307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004528373A Expired - Fee Related JP4065274B2 (ja) 2002-07-23 2003-07-15 バンドギャップ基準回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6972549B2 (ja)
EP (1) EP1523703B1 (ja)
JP (1) JP4065274B2 (ja)
CN (1) CN100435060C (ja)
DE (2) DE10233526A1 (ja)
WO (1) WO2004017153A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1987710B (zh) * 2005-12-23 2010-05-05 深圳市芯海科技有限公司 一种电压调整装置
TWI451697B (zh) * 2006-05-03 2014-09-01 Synopsys Inc 極低功率類比補償電路
DE102006034560B4 (de) * 2006-07-26 2012-04-26 Infineon Technologies Ag Verstärkerstufe, Operationsverstärker und Verfahren zur Signalverstärkung
US7764059B2 (en) * 2006-12-20 2010-07-27 Semiconductor Components Industries L.L.C. Voltage reference circuit and method therefor
CN100465851C (zh) * 2007-04-19 2009-03-04 复旦大学 一种带隙基准参考源
CN101770249B (zh) * 2008-12-30 2013-06-05 联咏科技股份有限公司 低电压能带隙参考电路
US8324881B2 (en) * 2010-04-21 2012-12-04 Texas Instruments Incorporated Bandgap reference circuit with sampling and averaging circuitry
US8461912B1 (en) * 2011-12-20 2013-06-11 Atmel Corporation Switched-capacitor, curvature-compensated bandgap voltage reference
US9218014B2 (en) 2012-10-25 2015-12-22 Fairchild Semiconductor Corporation Supply voltage independent bandgap circuit
EP3021189B1 (en) * 2014-11-14 2020-12-30 ams AG Voltage reference source and method for generating a reference voltage

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4349778A (en) * 1981-05-11 1982-09-14 Motorola, Inc. Band-gap voltage reference having an improved current mirror circuit
JPH087636B2 (ja) * 1990-01-18 1996-01-29 シャープ株式会社 半導体装置の電圧降下回路
DE69229995T2 (de) * 1992-06-30 2000-03-16 St Microelectronics Srl Spannungsregler für Speichergeräte
US5686823A (en) * 1996-08-07 1997-11-11 National Semiconductor Corporation Bandgap voltage reference circuit
US5900773A (en) * 1997-04-22 1999-05-04 Microchip Technology Incorporated Precision bandgap reference circuit
JP3586073B2 (ja) * 1997-07-29 2004-11-10 株式会社東芝 基準電圧発生回路
US6150872A (en) * 1998-08-28 2000-11-21 Lucent Technologies Inc. CMOS bandgap voltage reference
CN1154032C (zh) * 1999-09-02 2004-06-16 深圳赛意法微电子有限公司 预调节器、产生参考电压的电路和方法
US6278320B1 (en) * 1999-12-16 2001-08-21 National Semiconductor Corporation Low noise high PSRR band-gap with fast turn-on time
JP2001320243A (ja) * 2000-05-12 2001-11-16 Sony Corp バイアス回路およびこれを用いた無線通信装置
JP3519361B2 (ja) * 2000-11-07 2004-04-12 Necエレクトロニクス株式会社 バンドギャップレファレンス回路
US6815941B2 (en) * 2003-02-05 2004-11-09 United Memories, Inc. Bandgap reference circuit

Also Published As

Publication number Publication date
DE50312448D1 (de) 2010-04-08
CN100435060C (zh) 2008-11-19
US6972549B2 (en) 2005-12-06
CN1672110A (zh) 2005-09-21
WO2004017153A1 (de) 2004-02-26
US20050184718A1 (en) 2005-08-25
DE10233526A1 (de) 2004-02-12
EP1523703A1 (de) 2005-04-20
EP1523703B1 (de) 2010-02-24
JP4065274B2 (ja) 2008-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8704588B2 (en) Circuit for generating a reference voltage
US5061862A (en) Reference voltage generating circuit
KR101585958B1 (ko) 기준전압 발생회로
US5146152A (en) Circuit for generating internal supply voltage
JP3773718B2 (ja) 半導体集積回路
US6972549B2 (en) Bandgap reference circuit
US7005839B2 (en) Reference power supply circuit for semiconductor device
US6448844B1 (en) CMOS constant current reference circuit
US5453679A (en) Bandgap voltage and current generator circuit for generating constant reference voltage independent of supply voltage, temperature and semiconductor processing
US9553548B2 (en) Low drop out voltage regulator and method therefor
EP1065580B1 (en) Voltage regulating circuit for a capacitive load
US7830200B2 (en) High voltage tolerant bias circuit with low voltage transistors
US20040207380A1 (en) Reference voltage generating circuit capable of controlling temperature dependency of reference voltage
KR20100077271A (ko) 기준전압 발생회로
US6201436B1 (en) Bias current generating circuits and methods for integrated circuits including bias current generators that increase and decrease with temperature
US6091285A (en) Constant voltage output device
JPH077341A (ja) 高電力供給排除比を持つ対称的なバイポーラバイアス電流源
US7034605B2 (en) Internal step-down power supply circuit
KR0163728B1 (ko) 바이모오스로 이루어진 정전압 발생회로
JP2002175126A (ja) ピークホールド回路
KR20050041592A (ko) 온도 보상이 가능한 내부전압 발생장치
JP3227711B2 (ja) 基準電圧発生回路
JP4341882B2 (ja) 定電圧回路
WO2023233565A1 (ja) バンドギャップ電源回路
JP2000049283A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070807

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4065274

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120111

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130111

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees