JP2005524069A5 - - Google Patents

Claims (12)

1. 物体を所定波長の光で照射して、蛍光を生じさせる照射手段と、
   前記物体から発せられた蛍光信号を検出する検出手段と、
   前記検出手段で検出された前記蛍光信号を処理する信号処理手段とを備え、
   励起光路と検出光路とを有する光学系を形成して前記蛍光信号を読み取る装置であって、
   前記照射手段は、発光ダイオードであり、前記照射手段は、前記物体の全体若しくは要部を同時に照射することを特徴とする装置。
2. 前記発光ダイオードから照射された光が前記物体に到達する前に、前記光から長波長帯域の光を除去する励起フィルタが、前記励起光路に設けられている
   ことを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 前記励起フィルタは、低帯域干渉フィルタである
   ことを特徴とする請求項２に記載の装置。
4. 前記物体による直接反射光を除去する照射帯域フィルタが、前記検出光路に設けられている
   ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のうちの何れか一項に記載の装置。
5. 前記物体は、ほぼ平坦な面に載置されている
   ことを特徴とする請求項１乃至請求項４のうちの何れか一項に記載の装置。
6. 前記ほぼ平坦な面は、ガラススライドである
   ことを特徴とする請求項５に記載の装置。
7. 前記励起光路において、前記光の入射偏光に対して垂直となるように設けられた第１偏光フィルタを備える
   ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のうちの何れか一項に記載の装置。
8. 前記検出光路に設けられた第２偏光フィルタをさらに備え、前記第２偏光フィルタは、前記第１偏光フィルタの偏光方向と、前記第２偏光フィルタの偏光方向とが互いに直交するように設定されている
   ことを特徴とする請求項７に記載の装置。
9. 前記励起光路と前記検出光路の両方に亘って位置する偏光ビームスプリッタをさらに備える
   ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のうちの何れか一項に記載の装置。
10. 前記信号処理手段は、位相検波器を含む
    ことを特徴とする請求項１乃至請求項９のうちの何れか一項に記載の装置。
11. 発蛍光団と結合した物体の試料から発せられる信号を分析する方法であって、
    前記試料に所定波長の光を照射して、前記試料に蛍光を生じさせる段階と、
    前記試料に前記光が照射されたときに、前記試料から発せられた蛍光信号を検出する段階と、
    検出された蛍光信号を分析する段階とを有し、
    前記試料は、発光ダイオードからの光を照射され、前記物体の全部若しくは要部が同時に照射されることを特徴とする方法。
12. 請求項１乃至請求項１０に記載された装置のうちの何れか一つの装置を用いて、発蛍光団と結合された物体の試料から発せられる信号を分析する方法。