JP2005515426A - 漏れ試験法及び漏れ試験装置 - Google Patents

Abstract

本発明は、試験体（１３）の「インライン」漏れ試験を可能にするために、試験体を搬送装置（１４）を介して漏れ試験装置（１９）に供給し、漏れ試験を実施して、搬送装置（２１，２２）を介して搬出する、ほぼ同じ形式の試験体（１３）を試験するための方法に関するものであって、各試験体（１３）を円形に支持体（１６）上に位置する多数の試験室（１９）内に入れ、支持体（１６）の回転中に、漏れ試験をまず準備し、次いで実施するようにし、次いで試験体（１３）をそのそれぞれの試験室（１９）から取り出して、搬出するようにしたことを特徴としている。

Description

本発明は、試験体の漏れを試験するための方法及び装置に関する。

包装、カプセル、ケーシング等を備えた、大量生産される多数の製品においては、しばしば、製品のシール性（気密性）を確実なものにする必要がある。このような形式の製品若しくは検査体は、例えば包装がシート若しくは箔より成っている、包装された製品（食品、薬品、一度しか使用できない滅菌された物体その他）であるか、又は栓を有する瓶若しくはアンプルである。この場合、包装のシール性が問題となっている。シール性が重要な役割を有している、大量生産される製品は、カプセル包囲された構成部分（電子素子、スイッチその他）又はその他の、程度の差はあるが大きい中空室を備えた物体（カプセル包囲された機械部材、ガスカートリッジ、ガスジェネレータ）であってよい。

ドイツ連邦共和国特許公開第１９６４２０９９号明細書によれば、包装された物体の包装のシール性を試験することが知られている。この試験は、伸張可能な２つのシートより形成される試験室内での真空試験の原理に従って行われる。装置内に試験体を装入するか、若しくは装置から試験体を取り出すことは、手によって行われる。このような形式の漏れ試験装置が、短い周期時間の製造プロセスにおいて装入されると、システムエラーをできるだけ早期に認識することができるようにするために、漏れ試験は抜き取り検査方式で行われる。この場合の欠点は、このようなエラーを取り除くための手段は、時間の浪費を伴うという点にある。短い時間周期で製造される、できるだけ多くの又はすべての検査体を試験することは、不可能である。

アメリカ合衆国特許第５３７３７２９号明細書によれば、それぞれ１つのシート又は箔によって閉鎖された容器の包装のシール性を試験する装置が公知である。試験は、「インライン；ｉｎｌｉｎｅ」で行われる。つまり各容器の、場合によっては存在する漏れが試験される。このような形式の試験を可能にするために、容器又は漏れ試験装置はベルト上に供給される。漏れ試験装置自体は、下部と、昇降運動可能な上部とから成っている。これら２つの構成部分間にベルトが配置されており、このベルトは、漏れ試験が行われる間の時間だけ停止される。数秒範囲内での周期頻度で試験を行うことは不可能である。

本発明の課題は、冒頭に述べた形式の方法及び装置を改良して、試験体における漏れ試験を高い周期頻度で可能にし、それによって、数秒範囲内の周期頻度で製造される製品においても、「インライン」の漏れ試験が可能となるようにすることである。

本発明によればこの課題は、請求項に記載した手段によって解決される。

ジャイロホイール原理（Rhoenradprinzip）を用いたことによって、比較的高い周期頻度で相次いで、十分な時間で、試験室を形成することができ、この試験室内で漏れ試験を準備し、かつ実施することができる。ジャイロホイール原理とは、漏れ試験しようとする物体のコンベヤベルトの隣に、回転するほぼ円形の装置（別の使用において公知である）が設けられていて、この装置が試験室を備えている、ということである。システムの１回転中に漏れ試験が行われる。試験室が十分な長さの時間で閉鎖状態に維持されることを前提として、時間単位毎に形成された試験室数が、時間単位毎に製造される試験体の数を越えなければ、「インライン試験」が行われる。この場合、必要な試験室の数のためには、試験体が製造される時間、及び漏れ試験が実施される時間が重要である。試験体が高い周期頻度で供給され（例えば１秒毎に１つの試験体）、漏れ試験の実施が例えば１０秒間続くと、試験体がそれぞれ１秒以内で試験室にもたらされ、試験室から取り出すことができるようにするためには、１２の試験室が必要である。

本発明のその他の利点及び詳細を、図面に概略的に示した実施例を用いて具体的に説明する。図面には、複数の試験室が、垂直な軸線を中心にして回転可能な、円形の支持体上に配置されている解決策について示されている。

図１の解決策においては、試験体１３が、コンベヤベルト１４によって漏れ試験装置１５に供給される。漏れ試験装置１５は、円板状又は円環状の支持体１６より成っており、この支持体１６は、詳しく示していないが、垂直な軸線１７を中心にして回転可能（矢印１８）に支承されている。支持体１６上には、円状に配置された１２個の漏れ試験室１９が配置されている。符号１〜１２で、漏れ試験室１９がそれぞれ通過するステーションが示されている。ステーション３〜１１の漏れ試験室１９は閉じられた状態で、ステーション２及び１２の室は半分開放した状態で、またステーション１の室は開放された状態で示されている。各漏れ試験室１９にはそれぞれ１つの真空ポンプ２０が配属されており、これらの真空ポンプ２０は、弁を備えた図示していない管路を介してそれぞれ所属の漏れ試験室に接続されている。漏れ試験される試験体１を搬出するために、２つの搬送装置２１及び２２が設けられている。ベルト２１上には、漏れを有する試験体が載せられている。

漏れ試験室１９は有利には、ドイツ連邦共和国特許第１９６４２０９９号明細書に記載されている。試験室は、それぞれ１つの枠内に緊締されている伸張可能な２つのシート若しくは箔（Folien）によって形成されている。漏れ試験される物体は、シート間にもたらされる。次いで中間室が排気され、それによって物体を直接包囲する漏れ試験室が形成される。シートは、シートと物体の検査しようとする領域との間で１つのまとまった中間室を形成する手段（多数のノブ又は突起部、多孔性のコーティング等）を備えている。この中間室は、テストガスに反応する検出器に接続されている。２枚のシートが試験室を形成する構成は、必ずしも必要ではない。小さい残留容積を有する試験室を形成するために、枠内に緊張された１枚のシートと、定置の底部（蓋）とを設けてもよい。

漏れ試験は、供給された試験体１３を転換器２３が掴まえて（例えば真空吸着器によって）、ステーション１の定置の漏れ試験室９内にもたらすようにして実施される。このステーション１において室１９は数秒間停止する。室１９がそれぞれ次のステーションに搬送される作業は秒周期で行われる。ステーション２の高さ位置で室は閉鎖される。室の閉鎖直後に排気が開始される。

ポンプによる排出段階開始後なるべく直ちに大まかな漏れ試験を開始すれば有利である。それによって、降ろされた試験体において空気が侵入することが原因である多量の漏れが確認できる。微小な漏れ試験（ステーション１１）においては、このような漏れはもはや確認されない。何故ならば、この時点では試験体内に含まれるテストガスもポンプ排出されているからである。大まかな漏れ試験は、例えばステーション５の高さにおいてテストガスに反応するセンサが問い合わせられることによって行われる。このセンサは、室と真空ポンプとの間の接続ラインに接続されている。

ポンプによる排出プロセスはステーション１０まで継続され、このステーション１０において約１mbarの圧力に達する。ステーション１１の高さにおいて、敏感な漏れ検出器２４は室１９に接続される。漏れ試験装置２４は、質量分析器として構成されたテストガス検出器を備えている。これによって漏れは、１０^−９mbar１／秒で確認される。室の開口が配置されているステーション１２を介して、室はステーション１に達する。転換器２３は、室１９から試験体１を取り出して、この試験体１が気密であるかそうでないかに応じて、これを２つの搬送装置２１，２２のうちの一方の上に載せる。

図１には漏れ試験装置の制御装置がブロック２６として示されている。多数の可動な部分が設けられているために、一方では制御装置２６と、制御しようとする構成部分（搬送装置、弁、支持体１６、転換器２３その他）との間、他方では信号発信器（大まかな漏れ試験、漏れ試験装置２４）と制御装置２６との間の通信は、有利には赤外線データ検出システムを介して行われる。

本発明の１実施例による漏れ試験装置の概略図である。

Claims (11)

1. 試験体（１３）の漏れに関する連続的な試験において、ジャイロホイール原理を用いることを特徴とする、漏れ試験法。
2. 試験体を搬送装置（１４）を介して漏れ試験装置（１９）に供給して、漏れ試験を実施し、搬送装置（２１，２２）を介して搬出する、ほぼ同じ形式の試験体（１３）の漏れを試験するための方法において、
   各試験体（１３）を、支持体（１６）上に円形に配置された多数の試験室（１９）内に入れ、支持体（１６）の回転中に、漏れ試験をまず準備し、次いで実施するようにし、次いで試験体（１３）をそのそれぞれの試験室（１９）から取り出して、搬出することを特徴とする、漏れ試験法。
3. ジャイロホイール若しくは支持体（１６）を、ほぼ垂直な軸線（１７）を中心にして回転させる（水平なジャイロホイール）、請求項１又は２記載の方法。
4. 試験体（１３）がテストガスを含有しているテストガス漏れ試験を実施し、試験室（１９）内に存在するガスをテストガス検出器によってテストガスの存在を試験することによって、漏れ試験を実施する、請求項１から３までのいずれか１項記載の方法。
5. 時間周期で、室（１９）が多数のステーション（１、２，３，４，５，６，７，８，９，１０，１１）を通過するようにし、物体（１３）が室（１９）のうちの１つにもたらされた後で、まず室の排気を行う、請求項１から４までのいずれか１項記載の方法。
6. 室（１９）の排気中に、室と真空ポンプ（２０）との間の接続ライン内に配置された、テストガスに敏感なセンサを問い合わせることによって、大まかな漏れ試験を実施する、請求項５記載の方法。
7. 最後のステーション（１１）のうちの１つの高さ位置において、テストガスに敏感な検出器（２４）を室（１９）に接続する、請求項５又は６記載の方法。
8. 請求項１から７までに記載された方法を実施するための装置であって、円形の支持体（１６）を有しており、円形の支持体（１６）が、この支持体（１６）の外周部に分配配置された試験室（１９）と、試験しようとする物体（１３）のための供給及搬出手段（２３）を備えていることを特徴とする、漏れ試験装置。
9. 各漏れ試験室（１９）に真空ポンプ（２０）が対応配置されている、請求項８記載の漏れ試験装置。
10. 各漏れ試験室が、互いに相対的に可動な２つの壁部区分を有しており、これらの壁部区分が、まとめられた状態で、試験しようとする物体を受容する室を形成しており、少なくとも１つの壁部区分が伸張可能なシート若しくは箔である、請求項８又は９記載の漏れ試験装置。
11. 制御装置（２６）を備えており、この制御装置（２６）と制御しようとする構成部分との通信のために、赤外線データ検出システムが設けられている、請求項８から１０までのいずれか１項記載の漏れ試験装置。

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