JP2005292340A - 耐候性レンズ又はプリズム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 不活性ガス雰囲気中において脂環構造含有重合体樹脂からなるレンズ又はプリズム基材を加熱し、フッ素ガスを含有する雰囲気中に該レンズ又はプリズム基材を放置することによってレンズ又はプリズム基材表面にフッ素ガスを接触させ、次いで不活性ガス雰囲気中において該レンズ又はプリズム基材を再加熱して、脂環構造含有重合体樹脂からなるレンズ又はプリズム表層部に該レンズ又はプリズム内層部よりもフッ素原子含有量が多い脂環構造含有重合体樹脂の相がある耐候性レンズ又はプリズムを得る。
【選択図】 なし。
Description
特許文献3には、アクリル酸エステル系重合体、メタクリル酸エステル系重合体、ポリビニルピロリドン系重合体、フマル酸系重合体、フッ素系重合体又はケイ素含有系重合体からなる基材表面をフッ素ガスで処理したコンタクトレンズや眼内レンズのごとき眼科用医療用具が開示されている。しかしながら、特許文献3で示されている眼科用医療用具は、レーザー光などの高強度の光に対する耐久性が不十分であり、また高温度になる場所で使用されるレンズ、例えば、自動車ヘッドランプレンズ、携帯電話用カメラレンズなどへの適用が困難であった。
その結果、本発明者は、樹脂製のレンズ又はプリズム表層部に該レンズ又はプリズム内層部よりもフッ素原子含有量が多い樹脂の相を設けることによって、フッ化物などの無機物質の積層に伴う密着性不良、透明性低下などを起こさずに、高温下若しくは高強度光照射下においても低光反射率、高光透過率などの優れた光学特性を示し、同時に撥水性及び防汚効果を発現するレンズまたはプリズムが得られることを見出した。またこのレンズ又はプリズムは、フッ素ガスを含有する雰囲気にレンズ又はプリズム基材表面を接触させることによって、得られることを見出した。本発明はこれらの知見に基づいて完成するに至ったものである。
本発明の別の耐候性レンズ又はプリズムの製法は、(1)不活性ガス雰囲気中又は減圧下に樹脂製のレンズ又はプリズム基材を放置し、(2)フッ素ガスを含有する雰囲気に該レンズ又はプリズム基材表面を接触させ、(3)次いで不活性ガス雰囲気中又は減圧下に該レンズ又はプリズム基材を再放置することを含む。
フッ素ガスを含有する雰囲気に接触させる直前のレンズ又はプリズム基材中の酸素及び水分量が共に1重量%以下である。
フッ素ガスを含有する雰囲気中の酸素及び水分濃度が共に100重量ppm以下である。
フッ素ガスを含有する雰囲気が、不活性ガスで希釈されたフッ素ガス濃度0.1〜30重量%のフッ素ガスである。
レンズ又はプリズム基材表面をフッ素ガスを含有する雰囲気に接触させるときの温度が−50〜150℃である。
不活性ガス雰囲気中又は減圧下にレンズ又はプリズム基材を放置又は再放置する際に、レンズ又はプリズム基材を加熱する。
不活性ガス雰囲気中に放置又は再放置する際の加熱温度が60〜180℃である。
減圧下に放置又は再放置する際の圧力が1〜500mmHgである。
さらに、フッ素原子含有量を、表層部から内層部に向けて傾斜させることによって、屈折率分布型のレンズ又はプリズムを得ることができる。
このような効果を奏する本発明の耐候性レンズ又はプリズムは、ロッドレンズ、ピックアップレンズ、不均質レンズ(若しくは屈折率分布型レンズ);カメラや複写機、プリンターに使用される3次元複雑形状プリズム、光ディスク読み取り用ピックアップレンズ、CCD用超小型レンズ、プリンター等に使用される非球面レンズ,シリンドリカルレンズ,トロイダルレンズ,フレネルレンズ、ロッドレンズ、マイクロレンズアレイ、などの光学部材に好適に用いられる。また、これらの光学部材を使用したカメラ、眼鏡、複写機、プリンター、携帯電話、液晶ディスプレイ、光ディスクプレーヤー、光学分析機器、医療用分析機器、光ファイバー,光導波路,光分岐器,光合波器,光分波器,光減衰器,光スイッチ,光アイソレーター,光送信モジュール,光受信モジュール,カプラー,偏向子,光集積回路、液晶ディスプレイ、液晶プロジェクター、プロジェクションテレビ等の電子機器、光学機器、医療用機器など耐候性を要する用途に本発明が適用できる。
また、本発明の製法によって、本発明の耐候性レンズまたはプリズムを容易に製造することができる。
芳香族オレフィンとしては、スチレン、α−メチルスチレン、ジビニルベンゼンなどが挙げられる。
脂環式オレフィン及び/又は芳香族オレフィンは、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
重合温度、圧力等は特に限定されないが、通常−50℃〜100℃の重合温度、0〜50kgf/cm2の重合圧力で重合させる。水素化反応は、公知の水素化触媒の存在下で、水素を吹き込んで行う。
前記の脂環構造含有重合体樹脂は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
酸化防止剤としては、フェノ−ル系酸化防止剤、リン系酸化防止剤、イオウ系酸化防止剤などが挙げられ、これらの中でもフェノ−ル系酸化防止剤、特にアルキル置換フェノ−ル系酸化防止剤が好ましい。
また、酸化防止剤の量は、樹脂100重量部に対し、通常0.01〜2重量部、好ましくは0.02〜1重量部、より好ましくは0.05〜0.5重量部の範囲である。
N,N’,N’’,N’’’−テトラキス−(4,6−ビス−(ブチル−(N−メチル−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン−4−イル)アミノ)−トリアジン−2−イル)−4,7−ジアザデカン−1,10−ジアミン、ジブチルアミンと1,3,5−トリアジンとN,N’−ビス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ブチルアミンとの重縮合物、ポリ〔{(1,1,3,3−テトラメチルブチル)アミノ−1,3,5−トリアジン−2,4−ジイル}{(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)イミノ}ヘキサメチレン{(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)イミノ}〕、1,6−ヘキサンジアミン−N,N’−ビス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)とモルフォリン−2,4,6−トリクロロ−1,3,5−トリアジンとの重縮合物、ポリ〔(6−モルフォリノ−s−トリアジン−2,4−ジイル)〔(2,2,6,6,−テトラメチル−4−ピペリジル)イミノ〕−ヘキサメチレン〔(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)イミノ〕〕コハク酸ジメチルと4−ヒドロキシ−2,2,6,6−テトラメチル−1−ピペリジンエタノ−ルとの重合物、1,2,3,4−ブタンテトラカルボン酸と1,2,2,6,6−ペンタメチル−4−ピペリジノ−ルと3,9−ビス(2−ヒドロキシ−1,1−ジメチルエチル)−2,4,8,10−テトラオキサスピロ[5,5]ウンデカンとの混合エステル化物などが挙げられる。
これらの光安定剤は、単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いても良い。
また、光安定剤の量は、樹脂100重量部に対し、通常0.0001〜5重量部、好ましくは0.001〜1重量部、より好ましくは0.01〜0.5重量部の範囲である。
レンズ又はプリズムの表層部とは、レンズ又はプリズム最表面から数nm〜数μm程度の深さまでの部分である。内層部及び表層部はともに同種樹脂から構成されており、積層界面が無く、表層部は内層部よりもフッ素原子含有量が多くなっている。フッ素原子含有量はX線電子分光法(ESCA)などの分析装置によって、確認することができる。フッ素原子含有量の分布は、表層部から内層部に向かって徐々に減少していくような分布をなしてもいてもよいし、表層部から内層部に向って階段的に減少する分布をなしていてもよい。
本発明の製法を図面を参照しながら具体的に説明をする。
図1は本発明製法に使用する反応装置の一例を示すものである。この反応装置はチャンバー1と、チャンバーの温度を制御するための加熱装置5を備え、チャンバーには、フッ素ガス及び不活性ガスを導入するための、フッ素ガス供給ライン2と不活性ガス供給ライン3が繋がっている。そして、不要なガスを抜き出す排気ライン4がチャンバーの別の位置に繋がっている。チャンバーには前記のレンズ又はプリズム基材を置くことができる空間があり、そこに種々形状のレンズ又はプリズム基材6を置くことができる。排気ライン4から抜き出されたガスは、そのままあるいは分離精製して、各ガス供給ラインに戻し、循環再利用することができる。
この工程(1)は必ず行わなければならない工程ではないが、この工程を経ることによって、レンズ又はプリズム表層部に、フッ素原子含有量が多い樹脂の相を面内分布なく存在させることができるようになるので、工程(1)を経ることが好ましい。
工程(1)では、まず、チャンバーにレンズ又はプリズム基材を置き、チャンバーを閉じて、不活性ガス供給ライン3の弁を開いて不活性ガスをチャンバーに流入させる。不活性ガスとしては、アルゴン、窒素、ヘリウム、ネオン、クリプトン、キセノンなどが挙げられる。本発明においてはアルゴンが好適に用いられる。使用するチャンバーは、ステンレス製もしくはアルミニウム製のものが好ましい。
チャンバーを不活性ガス雰囲気にして、加熱装置によって、チャンバー内のレンズ又はプリズム基材を加熱することが好ましい。この加熱によってレンズ又はプリズム基材中に含まれていた水分、酸素、揮発成分を効率的に除去することができる。加熱温度はレンズ又はプリズム基材表面温度で、通常60〜180℃、好ましくは80〜130℃である。加熱時間は通常1〜360分、好ましくは2〜200分である。
次の工程(2)においてレンズ又はプリズム基材中に酸素や水分が存在すると、レンズ又はプリズムの表面が親水化されやすいので、工程(1)において酸素や水分の量を減らすことが好ましい。好ましいレンズ又はプリズム基材中の酸素及び水の量は、共に、通常1重量%以下、好ましくは100重量ppm以下、より好ましくは10重量ppm以下である。
工程(1)の後、不活性ガス供給ラインの弁を閉じ、必要に応じてチャンバーを冷却し、次いでフッ素ガス供給ライン2の弁と必要に応じて不活性ガス供給ライン3の弁を開き、フッ素ガスをチャンバーに流入させ、チャンバー内をフッ素ガスを含有する雰囲気にする。
フッ素ガスを含有する雰囲気は、フッ素ガスだけで構成される雰囲気でもよいが、反応を緩やかにするために、不活性ガスで希釈したフッ素ガスで構成することが好ましい。フッ素ガスを含有する雰囲気中には酸素及び水が無いほうが好ましい。具体的には酸素及び水の量が共に100重量ppm以下であることが好ましく、10重量ppm以下であることが更に好ましく、1重量ppm以下であることが特に好ましい。
レンズ又はプリズム基材表面にフッ素ガスを含有する雰囲気を接触させることによって、フッ素ガスがレンズ又はプリズム基材の表面から表層部さらには内層部に向かって拡散し、樹脂内へフッ素原子の導入が起こり、レンズ又はプリズム基材を構成する樹脂中のフッ素原子含有量が増加していく。レンズ又はプリズム基材表面からのフッ素原子の浸透深さ、フッ素原子の含有量は、フッ素ガスの濃度、温度、時間に依存して変化する。
フッ素ガスを接触させ、所定時間経過した後、不活性ガス供給ライン3を開き、フッ素ガス供給ライン2の弁を閉じて、チャンバーを不活性ガス雰囲気にする。不活性ガスは前記工程(1)で説明したものと同じものが挙げられる。そして、加熱装置によってレンズ又はプリズム基材を加熱することが好ましい。この加熱によってレンズ又はプリズム基材中に導入しきれなかった余剰のフッ素ガスを除去することができる。加熱温度はレンズ又はプリズム基材表面温度で、通常60〜180℃、好ましくは80〜130℃である。加熱時間は通常1〜360分、好ましくは2〜200分である。
不活性ガス雰囲気中に放置する代りに、減圧下にレンズ又はプリズム基材を放置してもよい。減圧下に放置する場合は圧力を通常500mmHg以下、好ましくは100mmHg以下にする。圧力の下限は1mmHgである。極端に減圧すると排気系から油や水分等の汚染物が逆拡散するおそれがある。減圧下に放置した際にも加熱することが好ましい。加熱温度は通常15〜100℃である。また、減圧と同時に、高純度不活性ガスを注入することは、フッ素ガスを効率的に除去することができるので好ましい。減圧時間は通常1〜360分、好ましくは2〜200分である。
この工程(3)は必ず行わなければならない工程ではないが、この工程を経ることによって、レンズ又はプリズム表層部に、フッ素原子含有量が多い樹脂の相を面内分布なく存在させることができるようになるので、工程(3)を経ることが好ましい。
工程(3)を終了後、レンズ又はプリズムをチャンバーから取り出し、それぞれの用途に応じて用いることができる。
環状オレフィン重合体樹脂(ゼオネックス480R:日本ゼオン社製)を射出成形して、波長780nmにおいてNA0.43、焦点距離2.4mmの樹脂製CDピックアップレンズを得た。
環状オレフィン重合体樹脂(ゼオネックス480R:日本ゼオン社製、ヒンダードアミン系光安定剤及びアルキル置換フェノール系酸化防止剤をそれぞれ0.05重量%含有)を射出成形して、波長780nmにおいてNA0.43、焦点距離2.4mmの樹脂製CDピックアップレンズを得た。
このピックアップレンズをSUS316L製チャンバーに入れ、酸素及び水分含有量1重量ppb以下の高純度アルゴン気流下、120℃で3時間加熱し酸素及び水を10重量ppm未満になるまで除去した。室温まで冷却し、外気からの酸素や水分の混入がないよう気をつけながらバルブを切り替えて、アルゴンガスで希釈された1重量%フッ素ガス(酸素及び水の含有量1重量ppm未満)を30℃で導入した。10分間経過後、バルブを切り替えて酸素及び水分含有量1重量ppb以下の高純度アルゴンを導入し、120℃で1時間加熱し余剰のフッ素ガスを除去した。
フッ素ガスで処理された上記ピックアップレンズを、ESCAによる測定し、その表層部にフッ素原子が多く存在していることを確認した。さらに、このピックアップレンズを、超純水中に24時間浸漬した後、ESCAを測定したところ、浸漬前と同様に、フッ素原子が表層部に多く存在していた。また、FTIR−ATR法で膜表面を測定したところ、1400〜1000cm−1にC−F伸縮振動に由来するブロードなピークが観測された。レンズ表面は、フッ素ガスによる処理前に比べ水の接触角が大きくなり、撥水性が増加していた。
環状オレフィン重合体樹脂(ゼオネックス480R:日本ゼオン社製)を射出成形して、波長780nmにおいてNA0.43、焦点距離2.4mmの樹脂製CDピックアップレンズを得た。このピックアップレンズ表面に、真空蒸着法によって、SiO2、ZrO2、SiO2膜の順に各50nm、50nm、150nmの厚さに、三層積層した。
環状オレフィン重合体樹脂(ゼオネックス480R:日本ゼオン社製)を射出成形して、1/4インチのCCDセンサー用のFNo.2.8、焦点距離3.45mm携帯電話カメラ用二枚レンズ組みのレンズを得た。
環状オレフィン重合体樹脂(ゼオネックス480R:日本ゼオン社製)を射出成形して、1/4インチのCCDセンサー用のFNo.2.8、焦点距離3.45mm携帯電話カメラ用二枚レンズ組みのレンズを得た。
このレンズをSUS316L製チャンバーに入れ、酸素及び水分含有量1重量ppb以下の高純度アルゴン気流下、120℃で3時間加熱し酸素及び水を除去した。室温まで冷却し、外気からの酸素や水分の混入がないよう気をつけながらバルブを切り替えて、アルゴンガスで希釈された1重量%フッ素ガスを30℃で導入した。10分間経過後、バルブを切り替えて高純度アルゴンを導入し、120℃で1時間加熱しフッ素ガスを除去した。
環状オレフィン重合体樹脂(ゼオネックス480R:日本ゼオン社製)を射出成形して、1/4インチのCCDセンサー用のFNo.2.8、焦点距離3.45mm携帯電話カメラ用二枚レンズ組みのレンズを得た。
このレンズ表面に、真空蒸着法によって、ZrO2、SiO2、ZrO2、SiO2膜の順で各25nm、15nm、90nm、85nmの厚さに四層積層した。
2・・フッ素ガス供給ライン
3・・不活性ガス供給ライン
4・・排気ライン
5・・加熱装置
6・・レンズ又はプリズム基材
Claims (13)
- 樹脂製のレンズ又はプリズムの表層部に該内層部よりもフッ素原子含有量が多い樹脂の相がある耐候性レンズ又はプリズム。
- 樹脂が脂環構造含有重合体樹脂である請求項1記載の耐候性レンズ又はプリズム。
- 樹脂が酸化防止剤及び/又は光安定剤を配合したものである請求項1記載の耐候性レンズ又はプリズム。
- 樹脂製のレンズ又はプリズム基材表面をフッ素ガスを含有する雰囲気に接触させることを含む耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- (1)不活性ガス雰囲気中又は減圧下に樹脂製のレンズ又はプリズム基材を放置し、(2)該レンズ又はプリズム基材表面をフッ素ガスを含有する雰囲気に接触させ、(3)次いで不活性ガス雰囲気中又は減圧下に該レンズ又はプリズム基材を再放置することを含む、耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- 樹脂が脂環構造含有重合体樹脂である請求項4または5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- フッ素ガスを含有する雰囲気に接触させる直前のレンズ又はプリズム基材中の酸素及び水分量が共に1重量%以下である請求項4または5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- フッ素ガスを含有する雰囲気中の酸素及び水分濃度が共に100重量ppm以下である請求項4または5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- フッ素ガスを含有する雰囲気が、不活性ガスで希釈されたフッ素ガス濃度0.1〜50重量%のフッ素ガスである請求項4または5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- レンズ又はプリズム基材表面にフッ素ガスを含有する雰囲気に接触させるときの温度が−50〜150℃である請求項4または5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- 不活性ガス雰囲気中又は減圧下にレンズ又はプリズム基材を放置又は再放置する際に、レンズ又はプリズム基材を加熱する請求項5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- 不活性ガス雰囲気中に放置又は再放置する際の加熱温度が60〜180℃である請求項11記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
- 減圧下に放置又は再放置する際の圧力が1〜500mmHgである請求項5記載の耐候性レンズ又はプリズムの製法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010035642A1 (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-01 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光学素子、及びその製造方法 |
CN101796435A (zh) * | 2007-09-04 | 2010-08-04 | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 | 光学元件、用于制造该元件的方法以及具有该元件的光电部件 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57187329A (en) * | 1981-05-12 | 1982-11-18 | Japan Atom Energy Res Inst | Surface treatment of polymer molding |
JPS5947204A (ja) * | 1982-08-03 | 1984-03-16 | ユニオン・カ−バイド・コ−ポレ−シヨン | ハロゲン化処理 |
JPS63192001A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-09 | Nikon Corp | 反射防止された合成樹脂製光学部品 |
JPS6466246A (en) * | 1987-09-07 | 1989-03-13 | Mitsubishi Metal Corp | Method for treating surface of organic high polymer material |
JPH02160805A (ja) * | 1988-12-14 | 1990-06-20 | Tosoh Corp | 透明プラスチック成形体の製造方法 |
JPH03130943A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-06-04 | Mitsubishi Kasei Corp | 光ディスク基板 |
JPH03137120A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 開環重合体の水添方法 |
JP2001214042A (ja) * | 2000-01-31 | 2001-08-07 | Nippon Zeon Co Ltd | 成形体及び成形体の製造方法 |
JP2003313438A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 光学材料用硬化物の製造方法およびその硬化物及びその硬化物により封止された発光ダイオード |
-
2004
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57187329A (en) * | 1981-05-12 | 1982-11-18 | Japan Atom Energy Res Inst | Surface treatment of polymer molding |
JPS5947204A (ja) * | 1982-08-03 | 1984-03-16 | ユニオン・カ−バイド・コ−ポレ−シヨン | ハロゲン化処理 |
JPS63192001A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-09 | Nikon Corp | 反射防止された合成樹脂製光学部品 |
JPS6466246A (en) * | 1987-09-07 | 1989-03-13 | Mitsubishi Metal Corp | Method for treating surface of organic high polymer material |
JPH02160805A (ja) * | 1988-12-14 | 1990-06-20 | Tosoh Corp | 透明プラスチック成形体の製造方法 |
JPH03130943A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-06-04 | Mitsubishi Kasei Corp | 光ディスク基板 |
JPH03137120A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 開環重合体の水添方法 |
JP2001214042A (ja) * | 2000-01-31 | 2001-08-07 | Nippon Zeon Co Ltd | 成形体及び成形体の製造方法 |
JP2003313438A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 光学材料用硬化物の製造方法およびその硬化物及びその硬化物により封止された発光ダイオード |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101796435A (zh) * | 2007-09-04 | 2010-08-04 | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 | 光学元件、用于制造该元件的方法以及具有该元件的光电部件 |
WO2010035642A1 (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-01 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光学素子、及びその製造方法 |
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Publication number | Publication date |
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JP4496394B2 (ja) | 2010-07-07 |
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