JP2005250030A - 撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法 - Google Patents

撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005250030A
JP2005250030A JP2004059166A JP2004059166A JP2005250030A JP 2005250030 A JP2005250030 A JP 2005250030A JP 2004059166 A JP2004059166 A JP 2004059166A JP 2004059166 A JP2004059166 A JP 2004059166A JP 2005250030 A JP2005250030 A JP 2005250030A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imaging device
lens group
light source
inspection
illumination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004059166A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005250030A5 (ja
JP4591658B2 (ja
Inventor
Koichiro Komatsu
宏一郎 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2004059166A priority Critical patent/JP4591658B2/ja
Publication of JP2005250030A publication Critical patent/JP2005250030A/ja
Publication of JP2005250030A5 publication Critical patent/JP2005250030A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4591658B2 publication Critical patent/JP4591658B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】 照明視野を確保したまま、照明光の瞳位置及び瞳の大きさ(F値)を可変にできるような撮像素子検査用照明装置を提供する。
【解決手段】 2次光源8から放出された照明光は、レンズ群5、レンズ群4およびレンズ群2からなるリレー光学系で前記2次光源の像をP’面に形成する。リレーレンズ系はレンズ群5とレンズ群4とからなる変倍部と、レンズ群2からなる結像部とからなる。変倍部ではレンズ群5とレンズ群4との距離eを変化させることにより、光源像の投影倍率(照明F値に対応)を変化させることができる。このとき2次光源8の像はレンズ群2の被検物体側焦点位置P’に形成される。この光源像P’とレンズ群1との間隔eを所定の関係式によって設定することにより、被検面に照射する光束の中心線が光軸と交差する点(照明光学系の射出瞳位置)を決め、これを撮像素子の入射瞳位置と一致させることができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、CCD等の撮像素子に照明光を照射して、得られる出力信号から前記撮像素子の良否を判定する検査に用いられる撮像素子検査用照明装置、この撮像素子検査用照明装置を使用した撮像素子の検査装置及び方法、さらには、撮像素子の製造方法に関するものである。
CCD等の撮像素子の製造工程おいては、リソグラフィ工程によってウエハ上に形成され、まだ個々に分離されないままの撮像素子に光を照射し、その出力端子からの出力を取り出して、それが正常かどうかを検査することが行われている。
その際、ウエハはプローバ装置と呼ばれる装置に入れられて、その中にあるプローブピンと呼ばれるピンに出力端子が接触するように固定される。そして、照明装置によりプローバ装置内のウエハに照明光を照射し、その出力をプローブピンを介して取り出すようになっている。
従来、撮像素子の検査においては、撮像素子のそれぞれの画素に対してほぼ垂直に照明光が照射するように、いわゆるテレセントリックな照明光を用いて照明して検査を行っていた。これは、もともとCCDなどの撮像素子は受光素子の各位置に入射する主光線が撮像素子面に対して垂直になるような結像光学系を用いていたためである。
なお、ある光学系からある面上のある点に入射する光の光束を、光軸方向の種々の場所で光軸に垂直な断面で切断したみた場合、その光束の分布する範囲は変化する。そして、前記ある面の点の位置をいろいろ変えた場合に、どの点に入射する光の光束の分布する範囲も同一になる光軸方向の場所をその光学系の出射瞳と呼んでいる。すなわち、受光側からみた場合に、出射瞳位置から光が出射しているように見える。なお、出射瞳の中心を通る光線を主光線と呼んでいる。
一方、受光素子の面上のある点に入射する光束のうち有効な光束の中心となる光線をその点に入射する光束の主光線とよび、受光素子の面上の各点における主光線が交わる光軸方向の場所を入射瞳と呼んでいる。光源又は疑似光源が入射瞳位置にあるとき、その受光素子は、cos4乗則によるものを除いて一様に照明される。
上述のようなテレセントリックな照明装置は、撮像素子の入射瞳が無限遠にあることを前提としており、照明装置の射出瞳の位置も撮像素子面から無限遠にある。そのため、入射瞳が無限遠にある(入射する主光線が受光面に垂直であるように設計されている)撮像素子を検査する場合には問題が発生しない。
しかしながら、デジタルカメラの小型化が進んでくると、入射瞳の位置を受光面の極近傍に位置させるような結像レンズが使用されるようになってきた。すなわち、受光素子に入射する光束の中心線が撮像素子面に対して大きく傾くような結像光学系を用いるようになってきた。そのため、有限距離の瞳位置からの光束に対し、受光面の開口効率を大きくとるために受光素子の周辺のマイクロレンズと受光部がオフセットして設けられるようになってきた。
このように、入射瞳の位置が受光面の極近傍に位置するような撮像素子を、従来のようなテレセトリックな照明光を照射して検査しようとすると、撮像素子の入射瞳位置と照明装置の射出瞳位置の違いのために光線のケラレや周辺減光が発生し、正しい検査ができない。又、固体撮像素子の入射瞳の位置やF値は、各撮像素子の設計仕様によってまちまちであり、それに合わせて検査装置を作ることは経済的でない。
このような問題に対処するために、従来は、例えば特開2003−156406号公報に記載されているように、テレセトリックな照明装置と被検査体である撮像素子の間に、図3に示すように拡散板31と絞り32を挿入して疑似光源を作り出し、この絞り32の位置を撮像素子33の入射瞳の位置に一致させ、かつ絞り径を所定のものとすることにより、所定の瞳位置と開口の条件で検査するようにしていた。
特開2003−156406号公報
しかしながら、デジタルカメラが小型化し、さらにズームレンズを搭載するようになり多様化が進んでくると、前述のように瞳の位置に拡散板と瞳の大きさに合わせた開口を持つ絞りを作らなければならない上に、ひとつの撮像素子の検査を行うために多くの拡散板と絞りを高速に切り換える必要がある。さらに、デジタルカメラが小型化しているために検査をする際に電力供給や信号の取り出しを行うプローブピンが密集してしまい、切り換え機構を組み込むスペースがなくなってきている。
また、カメラレンズにおいてはさまざまな絞り値で用いられる。カメラレンズの絞りを絞ることにより撮像素子に入射する光束の角度範囲が変化するため、いくつかの絞り値で検査する必要がある。従来までの方法では拡散板の下に入れる絞りの径を変えることにより絞り値を変化させていたが、瞳位置のずれや絞り径を一様にするために拡散板と絞りの間隔を極力狭くする必要があり、現実的には拡散板の下に絞りを貼り付けたものが用いられていた。しかしながら検査する絞り値の設定ごとに拡散板と絞りの組み合わせが増えるために、さらに切り換えの数が増えてしまうという問題がある。
この切り換え機構が大きくなってしまうので複数の素子を同時に検査するためには、もともとの光学系により広い視野が必要となり、設計製造が難しくなってしまっている。さらに、広い視野を照明するために照度が低下してしまうという問題点もある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、照明視野を確保したまま、照明光の瞳位置及び瞳の大きさ(F値)を可変にできるような撮像素子検査用照明装置、この撮像素子検査用照明装置を使用した撮像素子の検査装置及び方法、さらには、撮像素子の製造方法を提供することを課題とする。
前記課題を解決するための第1の手段は、被検物体である撮像素子に照明光を照射して、得られる出力信号から前記撮像素子の良否を判定する検査に用いられる撮像素子検査用照明装置であって、第1のレンズ群とリレー光学系を有し、前記第1のレンズ群は、その後側焦点位置が被検査対象物である撮像素子面の近傍に位置し、前記リレー光学系は、光源(2次光源を含む)と一体となって光軸方向に移動可能とされており、その移動に伴って、当該リレー光学系が形成する前記光源の像の光軸方向位置をその移動量だけ光軸方向に移動可能とされていることを特徴とする撮像素子検査用照明装置(請求項1)である。
後に発明の実施の形態で詳しく説明するように、本手段においては、撮像素子検査用照明装置の射出瞳の位置は、第1のレンズ群の焦点距離と、リレー光学系により形成される光源像の距離とで決まる。光源像の位置は、リレー光学系と光源を一体に光軸方向に移動させれば、その移動量だけ移動する。よって、簡単な操作により、撮像素子検査用照明装置の射出瞳の位置を撮像素子の入射瞳の位置に合わせて照明し、検査を行うことができる。
前記課題を解決するための第2の手段は、前記第1の手段であって、前記リレー光学系全体の前側焦点位置、又は前記リレー光学系に含まれる所定のレンズ群の前側焦点位置に、視野絞りが設けられていることを特徴とするもの(請求項2)である。
前記課題を解決するための第3の手段は、被検物体である撮像素子に照明光を照射して、得られる出力信号から前記撮像素子の良否を判定する検査に用いられる撮像素子検査用照明装置であって、第1のレンズ群とリレー光学系を有し、前記第1のレンズ群は、その後側焦点位置が被検査対象物である撮像素子面の近傍に位置し、前記リレー光学系の各レンズ位置と、光源(2次光源を含む)の位置は光軸方向に移動可能とされており、その移動に伴って、当該リレー光学系が形成する前記光源の像の光軸方向位置を光軸方向に移動可能とされていると共に、照明光のF値が可変とされていることを特徴とする撮像素子検査用照明装置(請求項3)である。
本手段においては、前記第1の手段の作用効果に加えて、照明光のF値を変えることができるので、簡単な操作により、撮像素子検査用照明装置の射出瞳の位置を撮像素子の入射瞳の位置に合わせると共に、照明光のF値を撮像素子に要求されるF値に合わせて照明し、検査を行うことができる。又、射出瞳位置とF値とが独立した光学系により決まるので、互いの干渉が無く、容易に調整を行うことができる。
前記課題を解決するための第4の手段は、前記第3の手段であって、前記リレー光学系は、第2のレンズ群からなる結像部と、第3のレンズ群及び第4のレンズ群からなる変倍部とを有し、前記変倍部は前記リレー光学系中に設けられた視野絞りをケーラー照明すると共に、前記第3のレンズ群と前記第4のレンズ群との距離を変えることによって光源の結像倍率を変化させるものであり、前記結像部は、その前側焦点位置が前記視野絞り位置に位置するように設けられ、かつ後側焦点位置に、前記光源の像を結像するものであることを特徴とするもの(請求項4)である。
本手段においては、第3のレンズ群と第4のレンズ群の距離を変えることによって光源の結像倍率を変化させ、これにより照明光のF値を変化させる。又、撮像素子面に結像するのは視野絞りの像であり、前述のように視野絞りはケーラー照明されているので、光源のムラが撮像素子面には現れない。又、結像部によって形成される光源像は、テレセントリックとなっているので、F値を変えても照明ムラが変化することがない。
前記課題を解決するための第5の手段は、前記第1の手段又は第2の手段であって、前記光源が光ファイバ端面、又は光ファイバー端面に拡散板を取り付けたものであることを特徴とするもの(請求項5)である。
光源から光ファイバーに光を入射させ、光ファイバーの他の端面を2次光源として使用することにより、この2次光源を光軸方向に移動させるのが容易となる。又、光ファイバー端面からでる光の拡散性が不十分である場合には、端面に拡散板を取り付けることが好ましい。
前記課題を解決するための第6の手段は、前記第3の手段又は第4の手段であって、前記光源が光ファイバ端面、又は光ファイバー端面に拡散板を取り付けたものであることを特徴とするもの(請求項6)である。
本手段は、前記第5の手段と同様の作用効果を奏する。
前記課題を解決するための第7の手段は、前記第1の手段から第6の手段のうちいずれかの撮像素子検査用照明装置を構成要素の一部として有することを特徴とする撮像素子検査装置(請求項7)である。
本手段においては、レンズ、光源の移動という簡単な手段により、種々の入射瞳距離、さらにはこれに加えて種々のF値を有する撮像素子の検査に対応することが可能となる。
前記課題を解決するための第8の手段は、前記第1の手段、第2の手段又は第5の手段である撮像素子検査用照明装置を用いて、被検査対象物である撮像素子の入射瞳位置と、前記撮像素子検査用照明装置の射出瞳位置を一致させた状態で前記撮像素子を照明し、検査を行うことを特徴とする撮像素子の検査方法(請求項8)である。
前記課題を解決するための第9の手段は、前記第3の手段、第4の手段、第6の手段のいずれかの撮像素子検査用照明装置を用いて、被検査対象物である撮像素子の入射瞳位置と、前記撮像素子検査用照明装置の射出瞳位置を一致させ、かつ、前記照明光のF値を調整して前記撮像素子の仕様によって決まる照明F値に一致させた状態で前記撮像素子を照明し、検査を行うことを特徴とする撮像素子の検査方法(請求項9)である。
前記課題を解決するための第10の手段は、ウエハ上に形成された撮像素子を、前記第8の手段又は第9の手段である撮像素子の検査方法を使用して検査する工程を有することを特徴とする撮像素子の製造方法(請求項10)である。
以上説明したように、本発明によれば、照明視野を確保したまま、照明光の瞳位置及び瞳の大きさ(F値)を可変にできるような撮像素子検査用照明装置、この撮像素子検査用照明装置を使用した撮像素子の検査装置及び方法、さらには、撮像素子の製造方法を提供することができる。
以下、本発明の実施の形態の例を、図を用いて説明する。図1は、本発明の実施の形態である撮像素子検査用照明装置の光学系の概要を示す図である。光ファイバーの出射端7に拡散板6をつけた2次光源8から放出された照明光は、レンズ群5、レンズ群4およびレンズ群2からなるリレー光学系で前記2次光源の像をP’面に形成する。
リレー光学系はレンズ群5とレンズ群4とからなる変倍部と、レンズ群2からなる結像部とからなる。変倍部ではレンズ群5とレンズ群4との距離eを変化させることにより、光源像の投影倍率を変化させることができる。2次光源8からレンズ群5までの距離eとレンズ群4から視野絞り3までの距離eを、レンズ群5とレンズ群4との距離eに応じて変えることにより視野絞り3をケーラー照明で照明するようにしている。
視野絞り3は、変倍部の焦点位置であり、かつ、レンズ群2から光源側にレンズ群2の焦点距離だけ離れた位置に配置されている。視野絞り3上の一点を通る光線はレンズ群2でほぼ平行となり、被検物体面から焦点距離だけ離れた位置に配置されたレンズ群1で集光されて被検物体面FD(撮像素子)上の一点に集光される。レンズ群2とレンズ群1との間隔が変わっても、視野絞り3が撮像素子面FD上に投影される大きさは変化しない。視野絞り3の位置に、検査用チャート等、投影するパターンを配置できるようにして、パターンを投影したときの画像信号の検査を行うことができるようにしてもよい。
このとき2次光源8の像はレンズ群2の被検物体側焦点位置P’に形成される。この光源像P’とレンズ群1との間隔eを後述のように設定することにより、被検面に照射する光束の中心線が光軸と交差する点(照明光学系の射出瞳位置)を決め、これを撮像素子の入射瞳位置と一致させることができる。
撮像素子FDから見た照明光の主光線が光軸と交差する位置を射出瞳Pとして、撮像素子FDからの距離をLとすると、結像の式から次のような関係が導き出せる。
Figure 2005250030
撮像素子FDを照明する照明光の入射角度範囲を示す指標として、撮像素子FDから射出瞳Pまでの距離Lを射出瞳の直径φで割ったF値と呼ばれる値を用いる。射出瞳はレンズ群1による光源像P’の虚像であるともいえる。射出瞳の径をφ、面P’に形成されている光源像の径をφ’とすると次のような関係となる。
Figure 2005250030
2次光源8の光源の有効径をΦとすると、リレー光学系2〜5によって投影される倍率βは以下のように表される。
Figure 2005250030
以上の関係から、撮像素子FD面から射出瞳Pまでの距離LとF値が決まると、間隔e,e,e,eの値が、以下のように一意に決まる。
Figure 2005250030
ここで(1)式を見ると、瞳像の位置P’はレンズ群1の焦点距離fと射出瞳Pまでの距離Lだけで決まることがわかる。また、(2)式から(4)式では、射出瞳P’までの距離Lは式に含まれていない。つまり、射出瞳Pの位置はF値とは独立に設定することが可能であり、光源像のできる位置が変化しないように光源像を投影する倍率を視野絞り3とレンズ群4との間隔e,レンズ群4とレンズ群5との間隔e,レンズ群5と2次光源8との間隔eを変えてやることにより、撮像素子FDを照明する光束の射出瞳位置を変化させることなくF値を変えることができる。
実際には、射出瞳Pまでの距離Lを、検査される撮像素子FDの入射瞳距離に一致するように決めると共に、検査される撮像素子FDの特性から要求される照明F値を決定すると、光学系によって決まる各レンズ群1〜4の焦点距離f〜f及び2次光源8の有効径Φから、(1)〜(4)式によってe〜eが求まるので、各レンズ群2〜4、視野絞り4、2次光源8の位置を移動させればよい。F値を変えず、射出瞳Pの位置のみを変化させる場合は、eのみが変化してe〜eは変化しないので、レンズ群1を除いた光学系を一体として移動させればよい。
ここで、上記のレンズ群とレンズ群間隔の一例を示す。第1のレンズ群1の焦点距離fを12mmとしたとき、検査面からの瞳位置Lと第1のレンズ群と瞳共役位置との間隔eとの関係は以下の表のようになる。
Figure 2005250030
この第1のレンズ群で瞳位置Lを決めると、照明したいF値に応じて2次光源8の結像倍率を決めることができる。ここで、2次光源の出射径(有効径)Φを2.5mmφとして、第2レンズ群2の焦点距離fを20mm、第3レンズ群4の焦点距離fを−20mm、第4レンズ群5の焦点距離fを15mmとすると、設定するF値に対して各レンズ間間隔e,e,eは次のような数値となる。
Figure 2005250030
この表で倍率と記しているのは、2次光源8の出射端面から瞳共役面P’までの倍率を示している。前述の通り瞳距離Lと照明光のF値とが独立に選ぶことができるので、以上の二つの表を任意に組み合わせて、所望の照明条件を設定することができる。
しかしながら、F値の変化量を大きく取りたい場合にはリレー光学系の収差の影響があるため十分な照度均一性が得られなくなる可能性がある。この場合には2次光源8の出射部またはその共役面P’に金物絞りを出し入れする機構を設けたり、虹彩絞りを取り付けてF値を変化させたりしてもよい。
各レンズ群の駆動には、あらかじめ検査する条件に適合する位置にレンズが移動するようにカム駆動にしてもよいが、撮像素子の多様化に対応するためには各レンズ群、光源、視野絞りの位置を光軸に沿って独立に移動させるようにして、検査時のレンズ位置を制御プログラムで制御するようにしておくことが望ましい。このような実施の形態によれば、簡単な構成で照明光の射出瞳距離およびF値をすばやく変化させて検査を行うことが可能となる。
さらに、レンズ群1のレンズの有効径が十分にあれば第1レンズ群の主平面と瞳像P’との間隔eを第1レンズ群の焦点距離fよりも大きくとることができる。この場合には光学系の射出瞳の位置Pが撮像素子FDより光源から離れた方向にでき、いわゆるハイパーテレセントリックな状態となる。このような状況は全長を短く抑えたズームレンズでおきる現象であるが、本発明を用いることによりこの状況も実現することができる。
また、小さい撮像素子を大量生産するような場合には、本発明の光学系を多数並列に並べて同時検査を行うことも可能である。この場合、それぞれの光学系ごとに光源部を設けて独立に制御することによりそれぞれの光学系のばらつきの影響を抑えることが可能である。
なお、図1に示した実施の形態では、光源として2次光源を用いているが、光源そのもの、又はその像を用いてもよいことは言うまでもない。
図2に、図1に示す光ファイバー7に光を入射させる光学系の例を示す。ハロゲンランプやXeランプなどの光源11からの光はコンデンサレンズ12で集光され、フィルタ13およびNDフィルタ14を介してコレクタレンズ15で光ファイバー7に導入され、図1の光ファイバー7の出射端に導かれ照明光となる。フィルタ13はモータ16の軸を回転中心に回転可能なフィルタホルダ13aに取り付けられていて、モータ16を回転させることにより切り替え可能になっている。
このフィルタ13では検査に用いる所定の色温度の光、たとえば昼の太陽光の5600K、電球による照明の3000K、蛍光灯などのように特定の波長にピークのある照明光を得ることができるようなフィルタが用意されている。NDフィルタ14はモータ17の回転軸を中心に回転可能な円盤に、回転角度に応じて透過光量が変化するようにクロムやインコーネルなどの蒸着物質を蒸着したものである。
光ファイバー7には多数のファイバーをランダムに束ねたバンドルファイバーを用いることにより光ファイバー出射端での照度均一性を高める効果を持たせている。さらに、図1に示すように拡散板6を使うことによりファイバーの出射角度特性の影響を受けないようにしている。
本発明の実施の形態である撮像素子検査用照明装置の光学系の概要を示す図である。 図1に示す光ファイバーに光を入射させる光学系の例を示す図である。 従来の拡散板と絞りを用いた疑似光源の例を示す図である。
符号の説明
1…第1レンズ群、2…第2レンズ群、3…視野絞り、4…第3レンズ群、5…第4レンズ群、6…拡散板、7…光ファイバー、8…2次光源、11…光源、12…コンデンサレンズ、13…フィルタ、13a…フィルタホルダ、14…NDフィルタ、15…コレクタレンズ、16…モータ、17…モータ

Claims (10)

  1. 被検物体である撮像素子に照明光を照射して、得られる出力信号から前記撮像素子の良否を判定する検査に用いられる撮像素子検査用照明装置であって、第1のレンズ群とリレー光学系を有し、前記第1のレンズ群は、その後側焦点位置が被検査対象物である撮像素子面の近傍に位置し、前記リレー光学系は、光源(2次光源を含む)と一体となって光軸方向に移動可能とされており、その移動に伴って、当該リレー光学系が形成する前記光源の像の光軸方向位置をその移動量だけ光軸方向に移動可能とされていることを特徴とする撮像素子検査用照明装置。
  2. 請求項1に記載の撮像素子検査用照明装置であって、前記リレー光学系全体の前側焦点位置、又は前記リレー光学系に含まれる所定のレンズ群の前側焦点位置に、視野絞りが設けられていることを特徴とする撮像素子検査用照明装置。
  3. 被検物体である撮像素子に照明光を照射して、得られる出力信号から前記撮像素子の良否を判定する検査に用いられる撮像素子検査用照明装置であって、第1のレンズ群とリレー光学系を有し、前記第1のレンズ群は、その後側焦点位置が被検査対象物である撮像素子面の近傍に位置し、前記リレー光学系の各レンズ位置と、光源(2次光源を含む)の位置は光軸方向に移動可能とされており、その移動に伴って、当該リレー光学系が形成する前記光源の像の光軸方向位置を光軸方向に移動可能とされていると共に、照明光のF値が可変とされていることを特徴とする撮像素子検査用照明装置。
  4. 請求項3に記載の撮像素子検査用照明装置であって、前記リレー光学系は、第2のレンズ群からなる結像部と、第3のレンズ群及び第4のレンズ群からなる変倍部とを有し、前記変倍部は前記リレー光学系中に設けられた視野絞りをケーラー照明すると共に、前記第3のレンズ群と前記第4のレンズ群との距離を変えることによって光源の結像倍率を変化させるものであり、前記結像部は、その前側焦点位置が前記視野絞り位置に位置するように設けられ、かつ後側焦点位置に、前記光源の像を結像するものであることを特徴とする撮像素子検査用照明装置。
  5. 前記光源が光ファイバ端面、又は光ファイバー端面に拡散板を取り付けたものであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像素子検査用照明装置。
  6. 前記光源が光ファイバ端面又は光ファイバー端面に拡散板を取り付けたものであることを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の撮像素子検査用照明装置。
  7. 請求項1から請求項6のうちいずれか1項に記載の撮像素子検査用照明装置を構成要素の一部として有することを特徴とする撮像素子検査装置。
  8. 請求項1、請求項2、請求項5のうちいずれか1項に記載の撮像素子検査用照明装置を用いて、被検査対象物である撮像素子の入射瞳位置と、前記撮像素子検査用照明装置の射出瞳位置を一致させた状態で前記撮像素子を照明し、検査を行うことを特徴とする撮像素子の検査方法。
  9. 請求項3、請求項4、請求項6のうちいずれか1項に記載の撮像素子検査用照明装置を用いて、被検査対象物である撮像素子の入射瞳位置と、前記撮像素子検査用照明装置の射出瞳位置を一致させ、かつ、前記照明光のF値を調整して前記撮像素子の仕様によって決まる照明F値に一致させた状態で前記撮像素子を照明し、検査を行うことを特徴とする撮像素子の検査方法。
  10. ウエハ上に形成された撮像素子を、請求項8又は請求項9に記載の撮像素子の検査方法を使用して検査する工程を有することを特徴とする撮像素子の製造方法。
JP2004059166A 2004-03-03 2004-03-03 撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法 Expired - Fee Related JP4591658B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004059166A JP4591658B2 (ja) 2004-03-03 2004-03-03 撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004059166A JP4591658B2 (ja) 2004-03-03 2004-03-03 撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005250030A true JP2005250030A (ja) 2005-09-15
JP2005250030A5 JP2005250030A5 (ja) 2007-04-19
JP4591658B2 JP4591658B2 (ja) 2010-12-01

Family

ID=35030573

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004059166A Expired - Fee Related JP4591658B2 (ja) 2004-03-03 2004-03-03 撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4591658B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008197399A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Photonic Lattice Inc 偏光顕微鏡,偏光顕微鏡用ユニット
KR102081958B1 (ko) * 2019-07-12 2020-04-24 주식회사 코아시스 고배율 검사렌즈를 사용한 카메라모듈 제어장치 및 이를 사용한 카메라 모듈 검사 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH116802A (ja) * 1997-04-21 1999-01-12 Mejiro Precision:Kk 検査装置
JPH11223795A (ja) * 1998-02-06 1999-08-17 Sony Corp 光のコヒーレンス低減方法及びその装置、照明方法及びその装置、並びにバンドルファイバー
JP2003035902A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Toshiba Corp 投写型液晶プロジェクタの照明装置
JP2003156406A (ja) * 2001-11-21 2003-05-30 Nikon Corp 固体撮像素子照明光学系及び固体撮像素子照明装置
JP2004004169A (ja) * 2002-05-30 2004-01-08 Nikon Corp 顕微鏡照明装置及び顕微鏡装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH116802A (ja) * 1997-04-21 1999-01-12 Mejiro Precision:Kk 検査装置
JPH11223795A (ja) * 1998-02-06 1999-08-17 Sony Corp 光のコヒーレンス低減方法及びその装置、照明方法及びその装置、並びにバンドルファイバー
JP2003035902A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Toshiba Corp 投写型液晶プロジェクタの照明装置
JP2003156406A (ja) * 2001-11-21 2003-05-30 Nikon Corp 固体撮像素子照明光学系及び固体撮像素子照明装置
JP2004004169A (ja) * 2002-05-30 2004-01-08 Nikon Corp 顕微鏡照明装置及び顕微鏡装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008197399A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Photonic Lattice Inc 偏光顕微鏡,偏光顕微鏡用ユニット
KR102081958B1 (ko) * 2019-07-12 2020-04-24 주식회사 코아시스 고배율 검사렌즈를 사용한 카메라모듈 제어장치 및 이를 사용한 카메라 모듈 검사 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP4591658B2 (ja) 2010-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3385432B2 (ja) 検査装置
JPH085571A (ja) 検査装置
JP4975177B2 (ja) 撮像装置
JP6370626B2 (ja) 照明光学系、照明装置、及び照明光学素子
JP5084327B2 (ja) 偏心検査装置及び偏心調整装置
JP2013532838A (ja) 照明システム
KR101907845B1 (ko) 쾰러조명계를 포함하는 투과 형광현미경
JP2013002951A (ja) 測定装置
JP3303595B2 (ja) 照明装置及びそれを用いた観察装置
JP4591658B2 (ja) 撮像素子検査用照明装置、撮像素子検査装置、撮像素子の検査方法、及び撮像素子の製造方法
JP2005195348A (ja) 照明光学装置
JP5261095B2 (ja) 撮像素子検査用照明光学系
JP6751830B1 (ja) フォーカスとアライメントのために2つの動作をするレチクルプロジェクタを備えたビデオ測定システム
JP2002023061A (ja) 顕微鏡の暗視野照明装置および暗視野照明方法
JP2003156406A (ja) 固体撮像素子照明光学系及び固体撮像素子照明装置
JPH0868942A (ja) 光学顕微鏡用照明装置
JP3445047B2 (ja) 照明装置及びそれを用いた観察装置
JP4958663B2 (ja) 照明用アダプタ、照明装置、及び撮像素子検査用照明装置
TWI373602B (en) Measuring device and adjustment method thereof
JP2013190760A (ja) 顕微鏡用照明装置
JP2006301067A (ja) ファイバ照明型顕微鏡
JP3690536B2 (ja) 観察方法及び装置、並びに露光方法及び装置
JP2000295639A (ja) 固体撮像素子検査用照明装置及びそれに用いる調整工具
JP2004172595A (ja) 光照射装置、固体撮像装置の試験装置、中継装置
JPS60247142A (ja) 光電素子検査用照明装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070228

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070302

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20080728

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100427

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100525

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100722

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100818

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100831

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130924

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4591658

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130924

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees