JP2005244771A - A/d変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 温度変化と経時変化の両方に対応する誤差補正を行う。
【解決手段】 CPU12は、温度センサ14と温度用A/D変換器15によって計測される温度を取得し、温度変化を検出する。温度変化が検出された場合、メモリ13を検索して計測温度に対する補正値を取得し、以降の誤差補正に用いる。メモリ13に計測温度に対応する補正値がなかった場合には、選択出力信号がGNDレベル信号113および基準電圧信号112となるように、セレクタ11を順次切換える。そして、A/D変換器10によって変換されたGNDレベル信号113のデータ(オフセット誤差)と、基準電圧信号112のデータから(ゲイン誤差)補正値を算出し、メモリ13に保存するとともに、算出された補正値を以降の誤差補正に用いる。
【選択図】 図1
【解決手段】 CPU12は、温度センサ14と温度用A/D変換器15によって計測される温度を取得し、温度変化を検出する。温度変化が検出された場合、メモリ13を検索して計測温度に対する補正値を取得し、以降の誤差補正に用いる。メモリ13に計測温度に対応する補正値がなかった場合には、選択出力信号がGNDレベル信号113および基準電圧信号112となるように、セレクタ11を順次切換える。そして、A/D変換器10によって変換されたGNDレベル信号113のデータ(オフセット誤差)と、基準電圧信号112のデータから(ゲイン誤差)補正値を算出し、メモリ13に保存するとともに、算出された補正値を以降の誤差補正に用いる。
【選択図】 図1
Description
本発明はA/D変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法に関し、特に測定対象のアナログ信号をデジタル信号に変換し、変換の誤差を補正するA/D変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法に関する。
A/D変換回路は、測定対象の電流信号あるいは電圧信号をデジタル値に変換する回路で、電流計測回路や充放電量計測回路に組み込まれている。たとえば、充放電量計測回路では、A/D変換回路によって充放電電流信号を連続的にA/D変換し、得られたデータを積算することによって二次電池の充放電量を算出する。しかしながら、アナログ回路で構成されるA/D変換回路は、経時変動や温度変動の影響を受けるので、変換によって得られた値に誤差補正を行う必要がある。
A/D変換回路の誤差補正について図6と図7を参照して説明する。図6は、従来のオフセット、ゲイン補正機能を有する充放電量計測回路の回路構成図である。また、図7は、従来のA/D変換処理の動作タイムチャートである。
充放電量計測回路におけるA/D変換処理部は、電流計測用A/D変換器100、測定対象のアナログ入力信号(電流信号)111、基準電圧回路102の発生させる基準電圧信号112およびGNDレベル信号113のいずれかを選択するセレクタ101、誤差補正を行うCPU103とメモリ(またはレジスタ)105、および定周期ごとに割込み発生させるタイマ回路104を有する。通常、測定する電流は抵抗などにより電圧に変換され、電圧信号として処理される。電圧に変換されたアナログ入力信号(電流信号)111は、A/D変換器100によりデジタル化され、CPU103により誤差補正が行われる。
被測定アナログ入力信号(電流信号)111の測定期間では、CPU103は、セレクタ101によりアナログ入力信号(電流信号)111をA/D変換器100に接続し、連続的にA/D変換を起動し、被測定アナログ入力信号(電流信号)111の電流データを収集する。
タイマ回路104による定周期(T時間間隔)の割込み信号がCPU103に入力すると、補正用データ測定期間が開始される。CPU103は、まず、セレクタ101によりA/D変換器100の入力信号をGNDレベル信号113に切換える。そして、A/D変換器100を起動し、その出力値をオフセット誤差として、メモリ105に保持する。以上の処理が行われる期間をゼロレベルデータ測定期間とする。次に、CPU103は、セレクタ101によりA/D変換器100の入力信号を基準電圧信号112に切換え、A/D変換を起動し、A/D変換器100の出力値とオフセット誤差よりゲイン誤差を算出し、メモリ105に保持する。以上の処理が行われる期間を基準電圧データ測定期間とする。
その後、CPU103は、アナログ入力信号(電流信号)111測定期間に戻り、A/D変換器100の入力をセレクタ101によりアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、連続的にA/D変換を起動し、測定対象である電流データを収集する。電流データは、最初の補正用データ測定期間で得られたオフセット誤差データとゲイン誤差データを用いて演算補正される。タイマ回路104の時間間隔は、A/D変換器100を構成するアナログ回路の経時変動および温度変動を考慮して設定される。
しかしながら、A/D変換器を構成するアナログ回路は温度変化に敏感であり、一定周期ごとの補正では、その間に誤差が生じる場合があり、高精度なA/D変換を維持することができないという問題がある。そこで、温度センサを設け、連続的に温度補正を行うA/D変換回路が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
特開平8−181610号公報(段落番号〔0012〕〜〔0021〕、図1)
しかし、従来の誤差補正では、補正値算出のために被測定アナログ信号の変換が中断されたり、経時変動に対する補正が行われないという問題点があった。
従来の定周期ごとにA/D変換回路の入力信号を切換え、オフセットおよびゲイン補正データを取得して誤差補正を行う誤差補正方法では、オフセット、ゲイン補正データを収集するために、測定対象のアナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断しなければならないという問題がある。このため、中断している間の測定対象のアナログ入力信号(電流信号)値は、更新されないことになる。
従来の定周期ごとにA/D変換回路の入力信号を切換え、オフセットおよびゲイン補正データを取得して誤差補正を行う誤差補正方法では、オフセット、ゲイン補正データを収集するために、測定対象のアナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断しなければならないという問題がある。このため、中断している間の測定対象のアナログ入力信号(電流信号)値は、更新されないことになる。
たとえば、二次電池の充放電量計測回路では、連続的にA/D変換を行って取得したデータを積算する必要がある。中断期間のデータは、オフセット、ゲイン補正データを収集する前の時点に取得したアナログ入力信号(電流信号)値を補正、すなわち、アナログ入力信号(電流信号)値より推定して算出し、積算を行う。このように、中断期間のデータは実際のアナログ入力信号(電流信号)値ではないので、これが誤差要因となっている。
一方、オフセット、ゲイン補正データは、定周期ごとに取得し、その間はこの補正データを使用するが、この間に経時変動や温度変動により補正データが変わってしまう場合が考えられる。しかしながら、従来の誤差補正方法では、これを補正データに反映することはできず、これも誤差要因となっている。
定周期タイマの時間Tを短く設定し、オフセット誤差、ゲイン誤差データの収集を頻繁に行えば、すばやくアナログ回路の経時変動、温度変動に追従できるが、アナログ入力信号(電流信号)測定の中断期間が多くなり、アナログ入力信号(電流信号)値の更新が遅くなる。このため、たとえば、充放電量計測回路の場合、積算して求められる充放電量の誤差が大きくなるという問題が生じる。
また、温度センサを設けて連続的に温度補正を行うA/D変換回路では、温度センサにより検出された温度に応じて、オフセット、ゲイン補正データの微少補正を行う。これにより、温度変動に応じたオフセット、ゲイン補正データでアナログ入力信号(電流信号)の補正を行うことができる。
しかしながら、このようなA/D変換回路では、経時変動、すなわち、時間が経過したことにより生じるオフセット誤差およびゲイン誤差の変動については考慮されていないという問題がある。このため、温度変動によるオフセット、ゲイン補正データの微少補正が行われたとしても、時間の経過とともに、オフセット、ゲイン補正データが実際のオフセット誤差およびゲイン誤差と合わなくなってしまうという問題が生じる。この結果、時間の経過とともに、誤差が大きくなってしまう。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、温度変化に対応でき、かつA/D変換の中断時間を最小にするA/D変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法を提供することを目的とする。また、本発明の他の目的は、さらに、温度変化とともに経時変化に対応できるA/D変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法を提供することにある。
本発明では上記課題を解決するために、測定対象のアナログ信号をデジタル信号に変換し、変換の誤差を補正するA/D変換回路において、被測定アナログ信号または所定の基準入力信号のいずれかを選択し、選択出力信号として出力するセレクタと、前記選択出力信号を入力してデジタル信号に変換するA/D変換器と、所定の温度範囲における前記デジタル信号の誤差補正に用いる補正値を保存する記憶回路と、温度計測回路によって計測される前記A/D変換器周辺の温度に温度変化が検出されたら、前記記憶回路より計測温度に応じた前記補正値を検索し、存在した場合は、検索された前記補正値を以降の誤差補正に用い、存在しない場合は、前記セレクタの前記選択出力信号を前記基準入力信号に切換え、前記A/D変換器によって変換された前記基準入力信号に対する前記デジタル信号に基づいて前記計測温度に応じた前記補正値を算出して前記記憶回路に保存し、算出された前記補正値を以降の誤差補正に用いる制御回路と、を具備することを特徴とするA/D変換回路、が提供される。
このようなA/D変換回路によれば、制御回路は、温度計測回路によって計測されるA/D変換器周辺の計測温度を取得し、A/D変換器周辺の温度変化を監視するアナログ回路より構成されるA/D変換回路は、温度変動によって誤差の補正値も変化するため、計測温度に温度変化が検出された場合、すなわち、A/D変換器周辺に温度変化が発生した場合には、記憶回路を検索して計測温度に対する補正値を取得し、以降の誤差補正に用いる。このとき、記憶回路に計測温度に対応する補正値がなかった場合には、選択出力信号が基準入力信号となるように、セレクタを切換える。そして、基準入力信号を入力信号としてA/D変換器によって変換されたデジタル信号を用いて、この計測温度に応じた補正値を算出し、記憶回路に保存するとともに、算出された補正値を以降の誤差補正に用いる。これにより、補正値の収集を必要最小限な場合のみとすることができる。
また、上記課題を解決するために、上記の構成のA/D変換回路を組み込んだ電流計測回路が提供される。電流計測回路は、選択出力信号をA/D変換器に出力するセレクタと、温度を検出する温度センサと、温度センサの検出温度を計測する温度計測回路と、選択出力信号をデジタル信号に変換するA/D変換器と、所定の温度範囲における補正値を記憶する記憶回路と、誤差補正を制御する制御回路と、を有し、温度変化が検出された場合に、計測温度に対応した補正値を記憶回路より抽出して以降の誤差補正に用い、抽出できない場合は基準入力信号を用いて補正値を算出し、記憶回路に保存するとともに以降の誤差補正に用いる。これにより、補正値の収集を必要最小限な場合のみとし、被測定電流信号のA/D変換の中断を最小限にする。
また、上記課題を解決するために、上記の構成のA/D変換回路を組み込んだ充放電量計測回路が提供される。充放電量計測回路は、選択出力信号をA/D変換器に出力するセレクタと、温度を検出する温度センサと、温度センサの検出温度を計測する温度計測回路と、選択出力信号をデジタル信号に変換するA/D変換器と、所定の温度範囲における補正値を記憶する記憶回路と、誤差補正を制御する制御回路と、を有し、温度変化が検出された場合に、計測温度に対応した補正値を記憶回路より抽出して以降の誤差補正に用い、抽出できない場合は基準入力信号を用いて補正値を算出し、記憶回路に保存するとともに以降の誤差補正に用いる。これにより、補正値の収集を必要最小限な場合のみとし、被測定充放電流信号のA/D変換の中断を最小限にする。
また、上記課題を解決するために、測定対象のアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器の変換の誤差を補正する誤差補正方法において、前記A/D変換器周辺の温度を計測し、前記計測温度の温度変化を検出した場合は、所定の温度範囲における前記デジタル信号の誤差補正に用いる補正値を保存する記憶回路より前記計測温度に応じた前記補正値を検索し、前記補正値が検索された場合は、前記補正値を以降の誤差補正に用い、前記補正値が検索できない場合は、前記A/D変換器に前記基準入力信号を入力し、前記A/D変換器によって変換された前記基準入力信号に対する前記デジタル信号に基づいて前記計測温度に応じた前記補正値を算出して前記記憶回路に保存し、算出された前記補正値を以降の誤差補正に用いる手順を有することを特徴とする誤差補正方法、が提供される。
このような手順の誤差補正方法によれば、A/D変換器周辺の温度を監視し、温度変化を検出した場合には、計測された計測温度に応じた補正値を記憶回路より検索する。所定の温度範囲における補正値が記憶された記憶回路に、計測温度に応じた補正値が存在する場合、この補正値を以降の誤差補正に用いる。補正値が存在しない場合、A/D変換器に基準入力信号を入力し、基準入力信号を入力信号としてA/D変換器が変換したデジタル信号に基づいて、計測温度に応じた補正値を算出し、記憶回路に保存する。さらに、算出された補正値を以降の誤差補正に用いる。これにより、補正値の収集を必要最小限な場合のみとすることができる。
本発明のA/D変換回路は、温度変動により微少補正が必要な補正値の収集を温度変化が検出された場合に行い、収集された補正値を記憶回路に記憶しておく。なお、同じ温度条件で収集された補正値が記憶回路に保存されていた場合、新たに収集を行わず、保存された補正値を用いる。こうして、温度に対応した補正値が設定され、以降、温度変動が検出されるまで、この補正値を用いて補正が行われる。このように、温度変動に応じて補正値の収集処理を行うため、被測定対象のアナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断する期間を最小にすることが可能となる。また、このようなA/D変換回路を組み込んだ電流計測回路は、被測定対象のアナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断する期間が最小となるため、高精度な計測を実現することができる。さらに、連続的に電流のA/D変換を行い取得した電流データを積算する充放電量計測回路にこのようなA/D変換回路を組み込めば、積算して得られる充放電量の誤差を小さくし、高精度な計測が実現される。
さらに、タイマにより経時変動に応じた周期で記憶回路に保存された補正値を消去した新たな補正値を収集させることにより、経時変動に対応することが可能となる。
また、本発明の誤差補正方法では、温度変動を監視し、温度変動を検出し、かつ、検出温度において補正値収集されていない場合にのみ、補正値の収集を行う。こうして、次に温度変動が検出されるまで、収集された補正値、および以前に収集された補正値を用いての補正が行われる。このように、必要のない補正値の収集を省くことで、被測定対象のアナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断する期間を最小とし、高精度な計測を実現する。
また、本発明の誤差補正方法では、温度変動を監視し、温度変動を検出し、かつ、検出温度において補正値収集されていない場合にのみ、補正値の収集を行う。こうして、次に温度変動が検出されるまで、収集された補正値、および以前に収集された補正値を用いての補正が行われる。このように、必要のない補正値の収集を省くことで、被測定対象のアナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断する期間を最小とし、高精度な計測を実現する。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。実施の形態として、本発明にかかるA/D変換回路を所定の電流信号をデジタル信号に変換する電流計測回路に適用した場合で説明する。
図1は、本発明の実施の形態の電流計測回路の構成図である。
本発明にかかる電流計測回路は、被測定アナログ入力信号(電流信号)111を計測する電流測定用のA/D変換器10、A/D変換器10に出力する選択出力信号の切換えを行うセレクタ11、A/D変換器10の誤差補正制御を行うCPU12、誤差補正に用いる補正値を保存するメモリ13、温度を検出する温度センサ14、温度センサ14の検出信号から温度を計測する温度用A/D変換器15、定周期で割込み信号を発生させるタイマ回路16および基準電圧信号を発生させる基準電圧発生器17を具備する。
本発明にかかる電流計測回路は、被測定アナログ入力信号(電流信号)111を計測する電流測定用のA/D変換器10、A/D変換器10に出力する選択出力信号の切換えを行うセレクタ11、A/D変換器10の誤差補正制御を行うCPU12、誤差補正に用いる補正値を保存するメモリ13、温度を検出する温度センサ14、温度センサ14の検出信号から温度を計測する温度用A/D変換器15、定周期で割込み信号を発生させるタイマ回路16および基準電圧信号を発生させる基準電圧発生器17を具備する。
A/D変換器10は、セレクタ11が選択出力するアナログ入力信号(電流信号)111、基準電圧信号112またはGNDレベル信号113のいずれかの入力信号をデジタル信号に変換し、CPU12へ伝える。通常、測定する電流は抵抗などにより電圧に変換され、電圧信号として処理する。また、A/D変換器10の出力するデジタル信号(以下、変換データとする)は、理想的なA/D変換出力からずれており、正確なデータを得るためには誤差補正を行う必要がある。理想的なA/D変換出力からのずれ、すなわち、誤差は、動作温度および動作時間の経過により変動することが知られている。
セレクタ11は、CPU12の指示に従って、A/D変換器10へ出力する選択出力信号を切換え、アナログ入力信号(電流信号)111、基準電圧信号112またはGNDレベル信号113のいずれかを出力する。アナログ入力信号(電流信号)111は、測定対象のアナログ入力信号(電流信号)であり、その値は一定ではない。通常動作時には、アナログ入力信号(電流信号)111が選択され、A/D変換器10へ出力されている。基準電圧信号112は、基準電圧発生器17の発生させる所定の基準電圧の信号であり、誤差補正用の補正値を算出する際に切換えて、A/D変換器10へ出力される。GNDレベル信号113は、接地に接続する電圧ゼロレベルの信号であり、誤差補正用の補正値を算出する際に切換えて、A/D変換器10へ出力される。
CPU12は、制御回路であり、A/D変換器10の変換データの誤差補正、および誤差補正のための補正データの収集と管理を行う。CPU12は、図示しないメモリに格納されたプログラムを読出し、そのプログラムを実行することによって、以下の処理機能を実現する。アナログ入力信号(電流信号)111の変換データの誤差補正処理では、温度用A/D変換器15より取得する計測温度に応じて予め設定されている補正値を用いて変換データの誤差を補正する。誤差補正に用いる補正データは、温度用A/D変換器15より取得する計測温度を監視し、温度に変化が検出された場合、所定の温度範囲ごとに補正値を保存するメモリ13から計測温度に対応する補正値を検索し、検索された補正値を使用する補正データに設定する。補正値が検索できなかった場合、セレクタ11の選択出力信号を基準電圧信号112およびGNDレベル信号113に順次切換え、計測温度における補正値を収集する。補正値の収集の詳細については、後述する。
また、タイマ回路16が発生する定周期ごとの割込み信号が入力したら、メモリ13に保存された補正値をクリアする。これにより、メモリ13には、補正値が保存されていない状態となり、以降の温度変化検出ごとに新たな補正値収集が行われ、すべての補正値が最新の値に更新される。
メモリ13は、所定の温度範囲ごとの補正値を記憶する記憶回路である。なお、メモリ13は、レジスタで構成してもよい。また、メモリ13には、CPU12が処理実行時に必要な他の情報が一時的に格納される。
温度センサ14は、周辺の温度を検出し、温度に応じた検出信号を温度用A/D変換器15へ出力する。
温度用A/D変換器15は、温度センサ14の検出信号をデジタル信号に変換し、計測温度としてCPU12へ伝える。
温度用A/D変換器15は、温度センサ14の検出信号をデジタル信号に変換し、計測温度としてCPU12へ伝える。
タイマ回路16は、予め決められた所定の時間を計時し、所定の時間が経過した周期ごとに割込み信号をCPU12に発生させ、定周期に到達したことをCPU12に通知する。なお、タイマ回路16の発生させる定周期信号は、経時変動に対する補正データの更新を目的とするため、比較的長い周期が設定される。
ここで、A/D変換回路における誤差補正方式について説明する。図2は、誤差補正の原理を示した図である。
図2に示したように、理想的なA/D変換器の出力(理論値)Yは、入力電圧をXとすると、
Y=AX A:ゲイン(定数) ・・・(1)
で表される。しかし、実際のゲインは、理論値のゲインAからのずれであるゲイン誤差αを含み、入力電圧0のときの変換出力は、理論値(Y=0)からのずれであるオフセット誤差βを含む。このため、実際のA/D変換器のA/D変換出力Y’は、ゲイン誤差α、オフセット誤差βにより、
Y’=(1+α)AX+β ・・・(2)
となる。これを補正するには、入力電圧XがゼロのときのA/D変換出力Y’がオフセット誤差βとなるので、そのデータを取得すればよい。すなわち、セレクタ11がGNDレベル信号113を選択出力した際のA/D変換器10の変換データ、
Ygnd=β ・・・(3)
によりオフセット誤差が得られる。
図2に示したように、理想的なA/D変換器の出力(理論値)Yは、入力電圧をXとすると、
Y=AX A:ゲイン(定数) ・・・(1)
で表される。しかし、実際のゲインは、理論値のゲインAからのずれであるゲイン誤差αを含み、入力電圧0のときの変換出力は、理論値(Y=0)からのずれであるオフセット誤差βを含む。このため、実際のA/D変換器のA/D変換出力Y’は、ゲイン誤差α、オフセット誤差βにより、
Y’=(1+α)AX+β ・・・(2)
となる。これを補正するには、入力電圧XがゼロのときのA/D変換出力Y’がオフセット誤差βとなるので、そのデータを取得すればよい。すなわち、セレクタ11がGNDレベル信号113を選択出力した際のA/D変換器10の変換データ、
Ygnd=β ・・・(3)
によりオフセット誤差が得られる。
また、ゲイン誤差αは、入力電圧が基準電圧VrefのときのA/D変換出力Yref、
Yref=(1+α)AVref+β ・・・(4)
より、
α=(Yref−β)/AVref−1 ・・・(5)
で導き出すことができる。
Yref=(1+α)AVref+β ・・・(4)
より、
α=(Yref−β)/AVref−1 ・・・(5)
で導き出すことができる。
このようにして算出されたゲイン誤差αとオフセット誤差βを用いて、実際の出力であるA/D変換出力Y’を演算補正し、
Y=(Y’−β)/(1+α) ・・・(6)
を得ることができる。これにより、高精度なA/D変換が実現する。
Y=(Y’−β)/(1+α) ・・・(6)
を得ることができる。これにより、高精度なA/D変換が実現する。
CPU12は、温度変化が検出され、メモリ13に補正値が存在しない場合は、セレクタ11の選択出力信号をGNDレベル信号113に切換えてオフセット誤差βを取得する。次に、セレクタ11の選択出力信号を基準電圧信号112に切換え、Yrefを取得し、式(5)を用いてゲイン誤差αを算出する。そして、所定の温度範囲ごとに得られたゲイン誤差αとオフセット誤差βを用いて、式(6)の演算補正を行うことにより、温度変動に対応する補正が行われ、高精度な変換結果を得ることができる。
次に、収集された補正値(誤差データ)を保存するメモリ13の構成について説明する。図3は、本発明の実施の形態の補正値を保存するメモリの構成図である。
メモリ13の補正値保存領域は、所定の温度範囲ごとに格納領域が設けられ、補正値(オフセット誤差データ、ゲイン誤差データ)が保存されている。
メモリ13の補正値保存領域は、所定の温度範囲ごとに格納領域が設けられ、補正値(オフセット誤差データ、ゲイン誤差データ)が保存されている。
図の例では、温度をtとして、温度範囲1(t0からt1)131、温度範囲2(t1からt2)132、温度範囲3(t2からt3)133、・・・、温度範囲n(tn−1からtn)134、温度範囲n+1(tnからtn+1)135、・・・、温度範囲max(tmax−1からtmax)に分割された温度範囲ごとの補正値が格納されている。各温度範囲には補正値として、それぞれ、オフセット誤差データとゲイン誤差データの格納領域が設けられている。たとえば、温度範囲1(t0からt1)131の補正値として、オフセット誤差データ1(β1)131aと、ゲイン誤差データ1(α1)131bが保存される。他の温度範囲も同様に、オフセット誤差データとゲイン誤差データが格納される。
CPU12は、温度センサ14と温度用A/D変換器15が計測した温度が該当する温度範囲の補正値が格納されている領域を探し、その温度範囲領域にゲイン誤差データとオフセット誤差データが格納されているかどうかを調べる。存在すれば、これを読出して、誤差補正に用いる。存在しなければ、セレクタ11を切換えてオフセット誤差データとゲイン誤差データを算出し、収集したデータを該当する領域に格納する。
以下、このような構成の電流計測回路における誤差補正処理動作について説明する。
電流計測回路は、温度と対応したオフセット、ゲイン誤差データを保持するメモリ13を起動時にクリアし、定周期を計時するタイマ回路16を起動する。定周期は、経時変動に対応するために十分な時間が設定されるため、通常、非常に長い周期が設定される。次に、CPU12は、電流計測用のA/D変換器10の入力がGNDレベル信号113となるようにセレクタ11を切換え、A/D変換器10のA/D変換を起動してA/D変換データを取得する。取得したGNDレベル信号113のA/D変換データは、オフセット誤差データ1(β1)とし、メモリ13またはレジスタに格納する。続いて、CPU12は、セレクタ11の選択出力信号をGNDレベル信号113から基準電圧信号112に切換え、A/D変換器10を起動し、そのA/D変換データを基準電圧データとしてメモリ13に保持する。そして、この基準電圧データとオフセット誤差データより、ゲイン誤差データ1(α1)を算出し、メモリ13またはレジスタに格納する。このようにして、メモリ13またはレジスタに格納されたオフセット誤差データ1(β1)およびゲイン誤差データ1(α1)は、次に補正値の収集が行われるまで、誤差補正に使用される。なお、算出されたオフセット誤差データ1(β1)とゲイン誤差データ1(α1)は、温度センサ14と温度用A/D変換器15によって計測された温度に対応した温度範囲の補正値格納領域に保存する。
電流計測回路は、温度と対応したオフセット、ゲイン誤差データを保持するメモリ13を起動時にクリアし、定周期を計時するタイマ回路16を起動する。定周期は、経時変動に対応するために十分な時間が設定されるため、通常、非常に長い周期が設定される。次に、CPU12は、電流計測用のA/D変換器10の入力がGNDレベル信号113となるようにセレクタ11を切換え、A/D変換器10のA/D変換を起動してA/D変換データを取得する。取得したGNDレベル信号113のA/D変換データは、オフセット誤差データ1(β1)とし、メモリ13またはレジスタに格納する。続いて、CPU12は、セレクタ11の選択出力信号をGNDレベル信号113から基準電圧信号112に切換え、A/D変換器10を起動し、そのA/D変換データを基準電圧データとしてメモリ13に保持する。そして、この基準電圧データとオフセット誤差データより、ゲイン誤差データ1(α1)を算出し、メモリ13またはレジスタに格納する。このようにして、メモリ13またはレジスタに格納されたオフセット誤差データ1(β1)およびゲイン誤差データ1(α1)は、次に補正値の収集が行われるまで、誤差補正に使用される。なお、算出されたオフセット誤差データ1(β1)とゲイン誤差データ1(α1)は、温度センサ14と温度用A/D変換器15によって計測された温度に対応した温度範囲の補正値格納領域に保存する。
以上の処理によって、初期化後、誤差データが収集され、このときの計測温度に応じた補正値が算出されてメモリ13に格納される。
その後、CPU12は、セレクタ11の選択出力信号をアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、A/D変換器10によるA/D変換を行って変換データを取得し、オフセット誤差データ1(β1)とゲイン誤差データ1(α1)とを用いて演算補正を行う。以降、連続的に、上記の手順のアナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換処理を繰り返す。
その後、CPU12は、セレクタ11の選択出力信号をアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、A/D変換器10によるA/D変換を行って変換データを取得し、オフセット誤差データ1(β1)とゲイン誤差データ1(α1)とを用いて演算補正を行う。以降、連続的に、上記の手順のアナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換処理を繰り返す。
CPU12は、また、A/D変換処理を行いながら、温度センサ14からの温度データを温度用A/D変換器15から読込み、温度が変動していないかを監視する。
CPU12が温度変化(たとえば、温度上昇)を検出した場合、そのときの温度に対応したオフセット誤差データとゲイン誤差データがメモリ13に保持されているかどうかをチェックする。メモリ13の該当領域がクリアされている場合、CPU12は、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換の繰り返しを中断し、A/D変換器10の入力をセレクタ11によりアナログ入力信号(電流信号)111からGNDレベル信号113に切換えてA/D変換を起動し、そのA/D変換データをオフセット誤差データ2(β2)とし、メモリ13またはレジスタに保持する。次に、CPU12は、A/D変換器10の入力をセレクタ11によりGNDレベル信号113から基準電圧信号112に切換えてA/D変換を起動し、そのA/D変換データをメモリ13またはレジスタに保持する。そして、この基準電圧データとオフセット誤差データ2(β2)とを用いてゲイン誤差データ2(α2)を算出する。さらに、CPU12は、そのときの温度データを温度用A/D変換器15より読込み、オフセット誤差データ2(β2)とゲイン誤差データ2(α2)をそのときの温度に対応したメモリ13の補正値格納領域またはレジスタに保存する。その後、CPU12は、セレクタ11を制御し、A/D変換器10の入力をアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、A/D変換を行い、出力された変換データをオフセット誤差データ2(β2)とゲイン誤差データ2(α2)を用いて演算補正する。
CPU12が温度変化(たとえば、温度上昇)を検出した場合、そのときの温度に対応したオフセット誤差データとゲイン誤差データがメモリ13に保持されているかどうかをチェックする。メモリ13の該当領域がクリアされている場合、CPU12は、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換の繰り返しを中断し、A/D変換器10の入力をセレクタ11によりアナログ入力信号(電流信号)111からGNDレベル信号113に切換えてA/D変換を起動し、そのA/D変換データをオフセット誤差データ2(β2)とし、メモリ13またはレジスタに保持する。次に、CPU12は、A/D変換器10の入力をセレクタ11によりGNDレベル信号113から基準電圧信号112に切換えてA/D変換を起動し、そのA/D変換データをメモリ13またはレジスタに保持する。そして、この基準電圧データとオフセット誤差データ2(β2)とを用いてゲイン誤差データ2(α2)を算出する。さらに、CPU12は、そのときの温度データを温度用A/D変換器15より読込み、オフセット誤差データ2(β2)とゲイン誤差データ2(α2)をそのときの温度に対応したメモリ13の補正値格納領域またはレジスタに保存する。その後、CPU12は、セレクタ11を制御し、A/D変換器10の入力をアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、A/D変換を行い、出力された変換データをオフセット誤差データ2(β2)とゲイン誤差データ2(α2)を用いて演算補正する。
また、温度が低下し、先に計測したオフセット誤差データ1(β1)およびゲイン誤差データ1(α1)の温度範囲に戻った場合、CPU12が温度変化を検出し、そのときの温度に対応したオフセット誤差データとゲイン誤差データの有無を、メモリ13を検索して調べる。この場合、オフセット誤差データ1(β1)とゲイン誤差データ1(α1)が検出されるので、以降の誤差補正は、オフセット誤差データ1(β1)とゲイン誤差データ1(α1)を用いて行う。この場合、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換処理は継続される。
同様に、温度が変化した場合、そのときの温度に対応したオフセット、ゲイン誤差データが保持されているメモリ13またはレジスタをチェックし、保持されていない場合にのみ、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換の繰り返しを中断し、セレクタ11を切換えて、入力をゼロレベルにしたときのオフセット誤差データと、入力を基準電圧入力にしたときの基準電圧データを測定し、ゲイン誤差データを算出し、メモリ13の対応温度範囲に該当する補正値格納領域に格納する。
また、そのときの温度に対応したオフセット、ゲイン誤差データがメモリ13に保持されている場合、保持されているオフセット、ゲイン誤差データで電流誤差補正を行う。
一方、タイマ回路16は、経時変動に応じて決まる比較的長い定周期ごとに割込み信号をCPU12に発生させる。CPU12は、割込み信号が入力するごとに、オフセット、ゲイン誤差データを保持するメモリ13またはレジスタをクリアする。また、このとき、CPU12は、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換の繰り返しを中断し、セレクタ11を切換え、入力をゼロレベルにしたときのオフセット誤差データと、入力を基準電圧入力にしたときの基準電圧データを測定し、ゲイン誤差データを算出し、メモリ13上の対応領域に新しいオフセット誤差データとゲイン誤差データを保存する。その後、CPU12は、入力をセレクタ11によりアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、A/D変換を繰り返して電流値を計測し、温度に応じて設定されているオフセット誤差データとゲイン誤差データを用いて演算補正する。同時に、CPU12は、温度センサ14からの温度データを温度用A/D変換器15から読込み、温度が変動していないかを監視する。
一方、タイマ回路16は、経時変動に応じて決まる比較的長い定周期ごとに割込み信号をCPU12に発生させる。CPU12は、割込み信号が入力するごとに、オフセット、ゲイン誤差データを保持するメモリ13またはレジスタをクリアする。また、このとき、CPU12は、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換の繰り返しを中断し、セレクタ11を切換え、入力をゼロレベルにしたときのオフセット誤差データと、入力を基準電圧入力にしたときの基準電圧データを測定し、ゲイン誤差データを算出し、メモリ13上の対応領域に新しいオフセット誤差データとゲイン誤差データを保存する。その後、CPU12は、入力をセレクタ11によりアナログ入力信号(電流信号)111に切換え、A/D変換を繰り返して電流値を計測し、温度に応じて設定されているオフセット誤差データとゲイン誤差データを用いて演算補正する。同時に、CPU12は、温度センサ14からの温度データを温度用A/D変換器15から読込み、温度が変動していないかを監視する。
このように、誤差要因となるオフセット、ゲイン補正データを収集するタイミングを温度センサ14を用いた温度変化条件で作り出し、温度変動を検出し、かつ、その温度範囲のオフセット、ゲイン誤差データを保持していない場合、オフセット、ゲイン誤差データを収集し、これをメモリ13に保存する。その後、同じ温度条件の状態が発生した場合には、オフセット、ゲイン補正データを収集しないで、その温度範囲で保持されているオフセット、ゲイン誤差データを用いて誤差補正を行う。これにより、温度変動に応じたオフセット、ゲイン誤差データを用いた補正が可能となり、高精度な変換データを得ることができる。また、温度変動に応じたオフセット、ゲイン誤差データの収集は、必要最小限な場合に限定されるので、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換処理を中断する期間を最小にすることが可能となり、高精度の計測を実現することができる。
さらに、タイマ回路16により、定周期でオフセット、ゲイン誤差データを強制的にクリアすることで、オフセット、ゲイン誤差データの定期的な更新が可能となり、経時変動に対応することができる。
次に、本発明にかかるA/D変換回路が適用される充放電量計測回路について説明する。図4は、本発明の実施の形態の充放電量計測回路の構成図である。
充放電量計測回路は、電池パック43に搭載される二次電池であるリチウムイオン電池44に蓄えられた電気量(残量)と充放電可能時間を算出するため、リチウムイオン電池44の放電電流と充電電流を計測する。
充放電量計測回路は、電池パック43に搭載される二次電池であるリチウムイオン電池44に蓄えられた電気量(残量)と充放電可能時間を算出するため、リチウムイオン電池44の放電電流と充電電流を計測する。
電池パック43には、リチウムイオン電池44に流れる充放電電流を検出する電流センサ45a、リチウムイオン電池44の電圧を検出する電圧センサ45bおよびリチウムイオン電池44の温度を検出する温度センサ45cが収められている。センサ群が検出した信号は、検出装置42によって、演算装置41に取り込まれる。
検出装置42には、図1に示したようなA/D変換回路が搭載されており、電流センサ45aは、アナログ入力信号(電流信号)111として入力され、電流値の大きさに応じた変換データに変換され、演算装置41へ送られる。また、同様に、温度センサ45cの検出した温度も検出装置42を介して、演算装置41へ送られる。演算装置41は、制御回路として機能し、検出装置42経由で取得した電流値の変換データの誤差補正処理および、誤差補正用のオフセット、ゲイン誤差データの収集を行う。演算装置41における、変換データ補正処理および収集処理については、上記の電流計測回路と同様の処理が行われる。
また、演算装置41では、取得した充放電電流値データを積算し、充放電量を計算する。正確な充放電量を計算するためには、連続的に充放電電流のA/D変換処理を行う必要がある。このため、本発明にかかるA/D変換回路が適用された充放電量計測回路では、アナログ入力信号(電流信号)111のA/D変換を中断する期間を最小にすることが可能となるため、高精度な計測を実現することができる。
次に、本発明の実施の形態の誤差補正方法について説明する。
図5は、本発明の実施の形態の誤差補正処理手順を示したフローチャートである。
A/D変換回路が起動されて、処理が開始される。
図5は、本発明の実施の形態の誤差補正処理手順を示したフローチャートである。
A/D変換回路が起動されて、処理が開始される。
[ステップS1]初期化処理を行う。初期化処理では、メモリに保存されたオフセット、ゲイン誤差データをクリアし、定周期タイマを起動する。また、セレクタによりA/D変換器に入力する信号をGNDレベル信号に切換えてオフセット誤差データを計測し、セレクタによりA/D変換器の入力信号を基準電圧信号に切換えて基準電圧データを計測し、ゲイン誤差データを算出する。算出されたオフセット、ゲイン誤差データは、所定の温度範囲ごとに誤差データ領域が用意されたメモリの計測温度に対応する領域に格納されるとともに、誤差補正で使用される。最後に、セレクタの選択出力信号を切換え、A/D変換器には、測定対象のアナログ入力信号(電流信号)を入力させる。
[ステップS2]アナログ入力信号(電流信号)のA/D変換処理が行われ、電流値の大きさに応じた変換データが得られる。
[ステップS3]温度センサと温度用A/D変換器によって計測された計測温度を参照し、温度変化が発生したかどうかを判定する。発生していなければ、ステップS8へ処理を進める。
[ステップS3]温度センサと温度用A/D変換器によって計測された計測温度を参照し、温度変化が発生したかどうかを判定する。発生していなければ、ステップS8へ処理を進める。
[ステップS4]温度変化が発生していた場合、変化した現在の温度に対応する補正値(オフセット誤差データと、ゲイン誤差データ)がメモリに保持されているかどうかをチェックする。補正値が存在する場合には、ステップS5へ処理を進め、補正値が存在しない場合は、ステップS6へ処理を進める。
[ステップS5]変化した現在の温度に対応するオフセット誤差データとゲイン誤差データがメモリに存在していた場合、補正に使用するため、これらのデータを読出し、処理をステップS8へ進める。
[ステップS6]変化した現在の温度に対応するオフセット誤差データとゲイン誤差データがメモリに存在しない場合、オフセット誤差データとゲイン誤差データを算出する。セレクタによりA/D変換器に入力する信号をGNDレベル信号に切換えてオフセット誤差データを計測し、セレクタによりA/D変換器の入力信号を基準電圧信号に切換えて基準電圧データを計測し、ゲイン誤差データを算出する。
[ステップS7]ステップS6によって算出されたオフセット、ゲイン誤差データは、所定の温度範囲ごとに誤差データ領域が用意されたメモリの計測温度に対応する領域に格納されるとともに、誤差補正で使用される。最後に、セレクタの選択出力信号を切換え、A/D変換器には、測定対象のアナログ入力信号(電流信号)が入力されるようにする。
[ステップS8]アナログ入力信号(電流信号)の変換データの演算補正を行う。温度変化がない場合は、前回と同一のオフセット、ゲイン誤差データでアナログ入力信号(電流信号)の変換データの補正が行われる。温度変化があり、同一温度条件のオフセット、ゲイン誤差データが保持されていた場合は、保持されていたオフセット、ゲイン誤差データが抽出され、これを用いてアナログ入力信号(電流信号)の変換データの補正が行われる。温度変化があり、同一温度条件のオフセット、ゲイン誤差データが保持されていない場合は、新たに収集されたオフセット、ゲイン誤差データを用いてアナログ入力信号(電流信号)の変換データの補正が行われる。補正が終了した後、ステップS2へ戻って、次の周期のA/D変換処理を行う。
以上の処理手順が実行されることにより、温度に応じたオフセット、ゲイン誤差データを用いて補正が行えるばかりでなく、アナログ入力信号(電流信号)のA/D変換を中断する期間を最小にすることが可能となるため、高精度な計測を実現することができる。
なお、ステップS1の初期化処理で起動された定周期タイマの割込み処理によって、メモリのオフセット、ゲイン誤差データをクリアすることにより、ステップS6とステップS7を強制的に通過させ、新たなオフセット、ゲイン誤差を収集させることにより、経時変動に対応して、オフセット、ゲイン誤差データを更新することが可能となる。
10 A/D変換器
11 セレクタ
12 CPU
13 メモリ
14 温度センサ
15 温度用A/D変換器
16 タイマ回路
17 基準電圧発生器
111 アナログ入力信号(電流信号)
112 基準電圧信号
113 GNDレベル信号
11 セレクタ
12 CPU
13 メモリ
14 温度センサ
15 温度用A/D変換器
16 タイマ回路
17 基準電圧発生器
111 アナログ入力信号(電流信号)
112 基準電圧信号
113 GNDレベル信号
Claims (11)
- 測定対象のアナログ信号をデジタル信号に変換し、変換の誤差を補正するA/D変換回路において、
被測定アナログ信号または所定の基準入力信号のいずれかを選択し、選択出力信号として出力するセレクタと、
前記選択出力信号を入力してデジタル信号に変換するA/D変換器と、
所定の温度範囲における前記デジタル信号の誤差補正に用いる補正値を保存する記憶回路と、
温度計測回路によって計測される前記A/D変換器周辺の温度に温度変化が検出されたら、前記記憶回路より計測温度に応じた前記補正値を検索し、存在した場合は検索された前記補正値を以降の誤差補正に用い、存在しない場合は、前記セレクタの前記選択出力信号を前記基準入力信号に切換え、前記A/D変換器によって変換された前記基準入力信号に対する前記デジタル信号に基づいて前記計測温度に応じた前記補正値を算出して前記記憶回路に保存し、算出された前記補正値を以降の誤差補正に用いる制御回路と、
を具備することを特徴とするA/D変換回路。 - 前記制御回路は、所定の時間が経過するごとに、前記記憶回路に記憶された前記補正値を消去することを特徴とする請求項1記載のA/D変換回路。
- 前記所定の時間は、前記A/D変換器の経時変動に応じて予め周期が設定されたタイマ回路により計時されることを特徴とする請求項2記載のA/D変換回路。
- 前記基準入力信号は接地に接続するゼロレベル信号で、前記セレクタは、前記制御回路に従って前記被測定アナログ信号または前記ゼロレベル信号のいずれかを選択し、
前記制御回路は、前記補正値が検出できなかった場合は、前記セレクタの前記選択出力信号を前記ゼロレベル信号に切換え、前記A/D変換器によって前記計測温度に応じたオフセットを計測し、オフセット補正値として前記記憶回路に保存し、以降のオフセット補正に用いることを特徴とする請求項1記載のA/D変換回路。 - 前記基準入力信号は接地に接続するゼロレベル信号と所定の電圧値の基準電圧信号で、前記セレクタは、前記被測定アナログ信号、前記ゼロレベル信号あるいは前記基準電圧信号のいずれかを選択し、
前記制御回路は、前記補正値が検出できなかった場合は、前記セレクタの前記選択出力信号を前記ゼロレベル信号に切換え、前記A/D変換器による前記デジタル信号から前記計測温度に応じたオフセット補正値を算出し、前記セレクタの前記選択出力信号を前記基準電圧信号に切換え、前記A/D変換器による前記基準電圧信号に対する前記デジタル信号と前記オフセット補正値とから前記計測温度に応じた前記A/D変換器のゲイン補正値を算出し、前記オフセット補正値および前記ゲイン補正値を前記記憶回路に保存し、以降のオフセット補正およびゲイン補正に用いることを特徴とする請求項1記載のA/D変換回路。 - 測定対象の電流信号をデジタル信号に変換し、変換の誤差を補正する電流計測回路において、
被測定電流信号または所定の基準入力信号のいずれかを選択し、選択出力信号として出力するセレクタと、
前記選択出力信号を入力してデジタル信号に変換するA/D変換器と、
前記A/D変換器周辺の温度を検出する温度センサと、
前記温度センサの出力信号を用いて温度を計測する温度計測回路と、
所定の温度範囲における前記デジタル信号の誤差補正に用いる補正値を保存する記憶回路と、
前記温度計測回路によって計測される前記A/D変換器周辺の温度に温度変化が検出されたら、前記記憶回路より計測温度に応じた前記補正値を検索し、存在した場合は、検索された前記補正値を以降の誤差補正に用い、存在しない場合は、前記セレクタの前記選択出力信号を前記基準入力信号に切換え、前記A/D変換器によって変換された前記基準入力信号に対する前記デジタル信号に基づいて前記計測温度に応じた前記補正値を算出して前記記憶回路に保存し、算出された補正値を以降の誤差補正に用いる制御回路と、
を具備することを特徴とする電流計測回路。 - 前記A/D変換器の経時変動に応じた所定の時間を計時し、前記所定の時間が経過した定周期ごとに前記制御回路に通知を行うタイマ回路をさらに具備し、
前記制御回路は、前記タイマ回路より前記定周期ごとの通知を取得すると、前記記憶回路に保存した前記補正値を消去することを特徴とする請求項6記載の電流計測回路。 - 連続的に電流値のA/D変換を繰り返す充放電量計測回路において、
被測定電流信号または所定の基準入力信号のいずれかを選択し、選択出力信号として出力するセレクタと、
前記選択出力信号を入力してデジタル信号に変換するA/D変換器と、
前記A/D変換器周辺の温度を検出する温度センサと、
前記温度センサの出力信号を用いて温度を計測する温度計測回路と、
所定の温度範囲における前記デジタル信号の誤差補正に用いる補正値を保存する記憶回路と、
前記温度計測回路によって計測される前記A/D変換器周辺の温度に温度変化が検出されたら、前記記憶回路より計測温度に応じた前記補正値を検索し、存在した場合は、検索された前記補正値を以降の誤差補正に用い、存在しない場合は、前記セレクタの前記選択出力信号を前記基準入力信号に切換え、前記A/D変換器によって変換された前記基準入力信号に対する前記デジタル信号に基づいて前記計測温度に応じた前記補正値を算出して前記記憶回路に保存し、算出された補正値を以降の誤差補正に用いる制御回路と、
を具備することを特徴とする充放電量計測回路。 - 前記A/D変換器の経時変動に応じた所定の時間を計時し、前記所定の時間が経過した定周期ごとに前記制御回路に通知を行うタイマ回路をさらに具備し、
前記制御回路は、前記タイマ回路より前記定周期ごとの通知を取得すると、前記記憶回路に保存した前記補正値を消去することを特徴とする請求項8記載の充放電量計測回路。 - 測定対象のアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器の変換の誤差を補正する誤差補正方法において、
前記A/D変換器周辺の温度を計測し、
前記計測温度の温度変化を検出した場合は、所定の温度範囲における前記デジタル信号の誤差補正に用いる補正値を保存する記憶回路より前記計測温度に応じた前記補正値を検索し、
前記補正値が検索された場合は、前記補正値を以降の誤差補正に用い、
前記補正値が検索できない場合は、前記A/D変換器に基準入力信号を入力し、前記A/D変換器によって変換された前記基準入力信号に対する前記デジタル信号に基づいて前記計測温度に応じた前記補正値を算出して前記記憶回路に保存し、算出された前記補正値を以降の誤差補正に用いる手順を有することを特徴とする誤差補正方法。 - 所定周期ごとに、前記記憶回路に保存された前記補正値を前記制御回路で消去する、
手順をさらに有することを特徴とする請求項10記載の誤差補正方法。
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