JPH07120536B2 - 電池残量認識装置 - Google Patents
電池残量認識装置Info
- Publication number
- JPH07120536B2 JPH07120536B2 JP1082866A JP8286689A JPH07120536B2 JP H07120536 B2 JPH07120536 B2 JP H07120536B2 JP 1082866 A JP1082866 A JP 1082866A JP 8286689 A JP8286689 A JP 8286689A JP H07120536 B2 JPH07120536 B2 JP H07120536B2
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- Japan
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/48—Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16528—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values using digital techniques or performing arithmetic operations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
- G01R31/3835—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC involving only voltage measurements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/374—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC] with means for correcting the measurement for temperature or ageing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S320/00—Electricity: battery or capacitor charging or discharging
- Y10S320/18—Indicator or display
- Y10S320/19—Charger status, e.g. voltmeter
Description
この発明は電池を使用する携帯用無線機,OA機器等の電
子機器において、その電池残量の認識を行なう電池残量
認識装置に関するものである。
子機器において、その電池残量の認識を行なう電池残量
認識装置に関するものである。
従来の電池残量認識装置は、電池残量を直接読み取るも
の、あるいは、電池の使用時間をタイマで積算して消費
電力から電池残量を求めるものがあった。
の、あるいは、電池の使用時間をタイマで積算して消費
電力から電池残量を求めるものがあった。
従来の電池残量認識装置は以上のように構成されている
ので、周囲温度や負荷の条件によって電池電圧が変動
し、電池残量を正確に認識することができないという問
題点があった。 また、温度による補正をするものとして特開昭60−2180
77号公報があるが、これは20℃の周囲基準温度と現周囲
温度との差を使って補正係数を出すものであって、温度
変化に対する補正がラフで正確な残量が求められない等
の問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、周囲温度や負荷に影響されることなく、任意
の時点における電池残量を正確に認識することのできる
電池残量認識装置を得ることを目的とする。
ので、周囲温度や負荷の条件によって電池電圧が変動
し、電池残量を正確に認識することができないという問
題点があった。 また、温度による補正をするものとして特開昭60−2180
77号公報があるが、これは20℃の周囲基準温度と現周囲
温度との差を使って補正係数を出すものであって、温度
変化に対する補正がラフで正確な残量が求められない等
の問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、周囲温度や負荷に影響されることなく、任意
の時点における電池残量を正確に認識することのできる
電池残量認識装置を得ることを目的とする。
この発明に係る電池残量認識装置は、電池の電圧情報お
よび該電池の周囲温度情報をディジタル信号に変換する
A/D変換器と、前記電圧情報を負荷情報により補正する
とともに予めメモリに記憶された放電特性データの中か
ら前記周囲温度情報に適合するデータを読み出し、該デ
ータと補正後の上記電圧情報を比較し、該比較結果から
電池残量を算出する中央制御回路とを具備したものであ
る。
よび該電池の周囲温度情報をディジタル信号に変換する
A/D変換器と、前記電圧情報を負荷情報により補正する
とともに予めメモリに記憶された放電特性データの中か
ら前記周囲温度情報に適合するデータを読み出し、該デ
ータと補正後の上記電圧情報を比較し、該比較結果から
電池残量を算出する中央制御回路とを具備したものであ
る。
この発明における電池残量認識装置は、電池の電圧情報
および電池の周囲温度情報をA/D変換器を介してマイク
ロプロセッサに入力し、このマイクロプロセッサで上記
電圧情報を負荷情報により補正するとともに予め記憶さ
れた電池の放電特性データの中から上記周囲温度情報に
適合するデータを読み出し、このデータと上記補正後の
電圧情報を比較し、該比較結果から電池残量を算出する
ことにより、周囲温度や負荷に影響されることなく、任
意の時点における電池残量を正確に認識することができ
る。
および電池の周囲温度情報をA/D変換器を介してマイク
ロプロセッサに入力し、このマイクロプロセッサで上記
電圧情報を負荷情報により補正するとともに予め記憶さ
れた電池の放電特性データの中から上記周囲温度情報に
適合するデータを読み出し、このデータと上記補正後の
電圧情報を比較し、該比較結果から電池残量を算出する
ことにより、周囲温度や負荷に影響されることなく、任
意の時点における電池残量を正確に認識することができ
る。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、１は電子機器（図示せず）に着脱自在に接
続される例えばNiCdの２次電池（以下、電池と略称す
る）、２は電子機器の内部回路を示す負荷、３は電池１
と負荷２の間に接続された電子スイッチ、４は電池１に
物理的に近接して配設された温度センサ、５は電池１お
よび温度センサ４の出力をA/D（アナログ／ディジタ
ル）変換するA/D変換器であり、このA/D変換器５は電池
１の出力および温度センサ４の出力を切替えるアナログ
・スイッチ部5aと、このアナログ・スイッチ部5aに接続
されてA/D変換を行なうA/D変換部5bとで構成されてい
る。 ６はA/D変換器５との間でデータのやりとりを行なうと
ともに電子スイッチ３を制御するマイクロプロセッサで
あり、このマイクロプロセッサ６には電子機器の通常動
作のためのプログラムおよび電池の放電特性データが記
憶された不揮発性メモリ（以下、メモリと略称する）７
と電池残量を表示する表示器８が接続されている。 第２図はNiCdの２次電池の10℃おきの各温度における放
電容量−電池電圧特性を示す。第２図中、電池電圧は負
荷なしの開放時の電圧であり、放電容量を10％おきにプ
ロットしたのが線上に○印で示してある。 また、下表は上記第２図の特性を各温度および10％おき
の放電容量に対応する電池電圧のA/D変換値（VNM）をマ
トリクス形式にて表わしたものであり、第１図中のメモ
リ７内の特定のアドレス空間内に上記マトリクス形式の
電圧データが記憶されている。図示例の場合、10×10個
のデータとなっている。この表のデータを電池の放電特
性データと呼ぶ。 次に上記実施例の動作を第３図のフローチャート図に基
いて説明する。まず、マイクロプロセッサ６は電池電圧
を測定するように、A/D変換器５のアナログ・スイッチ
部5aを制御し（ステップST1）、引き続きA/D変換するよ
うにA/D変換部5bを制御して、A/D変換されたデータ値を
読み込む（ステップST2）。 このデータ値をV0とすると、この時点で電子スイッチ３
の制御状況を判断し（ステップST3）、ONとなっている
場合については負荷による電圧ドロップを補正するため
に の式により補正電圧V1を求める（ステップST4）。ここ
で、Ｒは負荷抵抗、ｒは電池内部抵抗である。ここでＲ
は一定値として扱ってもよいが、V0と、図示しない電流
センサによって検出される負荷電流Ｉとから、Ｒ＝V0/I
としても求められることは公知であるので説明を省略す
る。又、ｒは一般にＲに比して十分小さい値であって、
一定値として取り扱っても大差はないことは公知であ
る。（Ｒ＋ｒ）/Rを負荷情報と呼ぶ。このように、補正
することは次のような理由による。つまり、電池電圧は
電池内部抵抗によって変化する。例えば電池内部抵抗が
0.1Ωであったとすると、負荷２の抵抗が1000Ωであれ
ば、V1＝1.000V0とほとんど変わらないが、抵抗が0.1Ω
だとV1＝2V0と大きく異なるため、この電池内部抵抗の
影響を受けないように上式を用いて補正するものであ
る。電子スイッチ３がOFFの場合はそのままV1＝V0とす
る（ステップST5）。 次に上記と同様の方法により、温度センサ４の出力を測
定する（ステップST6）。この測定データをＴとする
と、この測定データＴとメモリ７に記憶された前記表に
おける記憶データT1,T2,T3……と逐次比較することで最
も測定データＴに近い記憶データTNを検索する（ステッ
プST7〜ST11）。温度TNを周囲温度情報と呼ぶ。 この結果、測定データ、Ｔ記憶データTNとなり、表上
の記憶データTNに対応する電池電圧データVN0〜VN9をメ
モリ７から読み込む（ステップST12）。この読み込んだ
データと上記の補正後の測定電圧V1とを逐次比較してV
NMを検索する。 この結果、得られた放電容量Ｍは、ここでは、Ｍ×10
（％）とすることで、そのまま、放電容量として求まる
（ステップST13〜ST16）。これを残量表示として表わす
には100−Ｍ×10（％）とすればよい。 ここで、１例を示すと、第２図において、例えばＴ−
30℃のとき、−30℃の線上でV1となるポイントを×印で
示す。 上記の電圧逐次比較により、電圧値はV02となり、この
ときの放電容量は20％となり、残量は80％であることが
わかる。 その後、マイクロプロセッサ６は上記の如くして求めた
電池残量を、数値またはバーグラフ等により表示器８に
表示させる。 上記の電池残量認識および表示の動作は一定時間毎に更
新して行なってもよいし、ユーザーが特定の操作をした
時、例えば通常の電子機器の動作のためのプログラム動
作中に割り込み制御を行ない、その割り込みの都度、マ
イクロプロセッサ10を電池残量認識・表示モードとして
も良い。 また、ここでは、温度パラメータ10個、放電容量パラメ
ータ10個の計10×10＝100個の電圧データを用いたが、
さらに精度を上げて例えば５℃間隔で−30〜＋55℃で20
個の温度パラメータと、５％毎の放電容量パラメータ20
個により計20×20＝400個の電圧データを用いれば、温
度に対しても負荷に対しても倍の精度により測定が可能
となる。 第４図は電池１とメモリ７がケース９内に一体化され、
負荷２としての電子機器に着脱自在とした実施例であ
り、この実施例によれば、電池１の種類に応じた放電特
性データをメモリ７に記憶しておくことにより、電子機
器に対しては種々の電池１を交換自在に使用することが
できる。 第５図は電池１に対し複数個の負荷2a〜2cをそれぞれ独
立した専用の電子スイッチ3a〜3cを介して並列に接続し
た実施例であり、この場合、全ての電子スイッチ3a〜3c
はマイクロプロセッサ６により制御される。従って、マ
イクロプロセッサ６は常時、制御した電子スイッチ3a〜
3cに基づいて総合負荷を認識することができ、電池電圧
を補正することができる。 第６図はマイクロプロセッサ６を制御するプログラムを
記憶したメモリ7aと放電特性データを記憶したメモリ7b
をそれぞれ別個独立に設けた実施例である。この場合、
メモリ7bはデータの書き込みおよび読み出しを可能と
し、マイクロプロセッサ６を介して外部からデータを書
き込むようにすれば、例えば電池１の種類変更に応じて
放電特性データの変更を容易に対処できるものである。 なお、第４図〜第６図の実施例におけるA/D変換器５は
詳細図を省略したが、前記第１図実施例に示すA/D変換
器と同様に、アナログ・スイッチ部5aとA/D変換部5bと
からなるものである。
図において、１は電子機器（図示せず）に着脱自在に接
続される例えばNiCdの２次電池（以下、電池と略称す
る）、２は電子機器の内部回路を示す負荷、３は電池１
と負荷２の間に接続された電子スイッチ、４は電池１に
物理的に近接して配設された温度センサ、５は電池１お
よび温度センサ４の出力をA/D（アナログ／ディジタ
ル）変換するA/D変換器であり、このA/D変換器５は電池
１の出力および温度センサ４の出力を切替えるアナログ
・スイッチ部5aと、このアナログ・スイッチ部5aに接続
されてA/D変換を行なうA/D変換部5bとで構成されてい
る。 ６はA/D変換器５との間でデータのやりとりを行なうと
ともに電子スイッチ３を制御するマイクロプロセッサで
あり、このマイクロプロセッサ６には電子機器の通常動
作のためのプログラムおよび電池の放電特性データが記
憶された不揮発性メモリ（以下、メモリと略称する）７
と電池残量を表示する表示器８が接続されている。 第２図はNiCdの２次電池の10℃おきの各温度における放
電容量−電池電圧特性を示す。第２図中、電池電圧は負
荷なしの開放時の電圧であり、放電容量を10％おきにプ
ロットしたのが線上に○印で示してある。 また、下表は上記第２図の特性を各温度および10％おき
の放電容量に対応する電池電圧のA/D変換値（VNM）をマ
トリクス形式にて表わしたものであり、第１図中のメモ
リ７内の特定のアドレス空間内に上記マトリクス形式の
電圧データが記憶されている。図示例の場合、10×10個
のデータとなっている。この表のデータを電池の放電特
性データと呼ぶ。 次に上記実施例の動作を第３図のフローチャート図に基
いて説明する。まず、マイクロプロセッサ６は電池電圧
を測定するように、A/D変換器５のアナログ・スイッチ
部5aを制御し（ステップST1）、引き続きA/D変換するよ
うにA/D変換部5bを制御して、A/D変換されたデータ値を
読み込む（ステップST2）。 このデータ値をV0とすると、この時点で電子スイッチ３
の制御状況を判断し（ステップST3）、ONとなっている
場合については負荷による電圧ドロップを補正するため
に の式により補正電圧V1を求める（ステップST4）。ここ
で、Ｒは負荷抵抗、ｒは電池内部抵抗である。ここでＲ
は一定値として扱ってもよいが、V0と、図示しない電流
センサによって検出される負荷電流Ｉとから、Ｒ＝V0/I
としても求められることは公知であるので説明を省略す
る。又、ｒは一般にＲに比して十分小さい値であって、
一定値として取り扱っても大差はないことは公知であ
る。（Ｒ＋ｒ）/Rを負荷情報と呼ぶ。このように、補正
することは次のような理由による。つまり、電池電圧は
電池内部抵抗によって変化する。例えば電池内部抵抗が
0.1Ωであったとすると、負荷２の抵抗が1000Ωであれ
ば、V1＝1.000V0とほとんど変わらないが、抵抗が0.1Ω
だとV1＝2V0と大きく異なるため、この電池内部抵抗の
影響を受けないように上式を用いて補正するものであ
る。電子スイッチ３がOFFの場合はそのままV1＝V0とす
る（ステップST5）。 次に上記と同様の方法により、温度センサ４の出力を測
定する（ステップST6）。この測定データをＴとする
と、この測定データＴとメモリ７に記憶された前記表に
おける記憶データT1,T2,T3……と逐次比較することで最
も測定データＴに近い記憶データTNを検索する（ステッ
プST7〜ST11）。温度TNを周囲温度情報と呼ぶ。 この結果、測定データ、Ｔ記憶データTNとなり、表上
の記憶データTNに対応する電池電圧データVN0〜VN9をメ
モリ７から読み込む（ステップST12）。この読み込んだ
データと上記の補正後の測定電圧V1とを逐次比較してV
NMを検索する。 この結果、得られた放電容量Ｍは、ここでは、Ｍ×10
（％）とすることで、そのまま、放電容量として求まる
（ステップST13〜ST16）。これを残量表示として表わす
には100−Ｍ×10（％）とすればよい。 ここで、１例を示すと、第２図において、例えばＴ−
30℃のとき、−30℃の線上でV1となるポイントを×印で
示す。 上記の電圧逐次比較により、電圧値はV02となり、この
ときの放電容量は20％となり、残量は80％であることが
わかる。 その後、マイクロプロセッサ６は上記の如くして求めた
電池残量を、数値またはバーグラフ等により表示器８に
表示させる。 上記の電池残量認識および表示の動作は一定時間毎に更
新して行なってもよいし、ユーザーが特定の操作をした
時、例えば通常の電子機器の動作のためのプログラム動
作中に割り込み制御を行ない、その割り込みの都度、マ
イクロプロセッサ10を電池残量認識・表示モードとして
も良い。 また、ここでは、温度パラメータ10個、放電容量パラメ
ータ10個の計10×10＝100個の電圧データを用いたが、
さらに精度を上げて例えば５℃間隔で−30〜＋55℃で20
個の温度パラメータと、５％毎の放電容量パラメータ20
個により計20×20＝400個の電圧データを用いれば、温
度に対しても負荷に対しても倍の精度により測定が可能
となる。 第４図は電池１とメモリ７がケース９内に一体化され、
負荷２としての電子機器に着脱自在とした実施例であ
り、この実施例によれば、電池１の種類に応じた放電特
性データをメモリ７に記憶しておくことにより、電子機
器に対しては種々の電池１を交換自在に使用することが
できる。 第５図は電池１に対し複数個の負荷2a〜2cをそれぞれ独
立した専用の電子スイッチ3a〜3cを介して並列に接続し
た実施例であり、この場合、全ての電子スイッチ3a〜3c
はマイクロプロセッサ６により制御される。従って、マ
イクロプロセッサ６は常時、制御した電子スイッチ3a〜
3cに基づいて総合負荷を認識することができ、電池電圧
を補正することができる。 第６図はマイクロプロセッサ６を制御するプログラムを
記憶したメモリ7aと放電特性データを記憶したメモリ7b
をそれぞれ別個独立に設けた実施例である。この場合、
メモリ7bはデータの書き込みおよび読み出しを可能と
し、マイクロプロセッサ６を介して外部からデータを書
き込むようにすれば、例えば電池１の種類変更に応じて
放電特性データの変更を容易に対処できるものである。 なお、第４図〜第６図の実施例におけるA/D変換器５は
詳細図を省略したが、前記第１図実施例に示すA/D変換
器と同様に、アナログ・スイッチ部5aとA/D変換部5bと
からなるものである。
以上のように、請求項１に記載の発明によれば、各温度
および一定％おきの放電容量に対応する各温度における
電池電圧のA/D変換値をマトリクス形式で表す放電特性
データを記憶したメモリと、電池の電圧情報および該電
池の周囲温度情報をディジタル信号に変換するA/D変換
器とを備え、マイクロプロセッサにより前記A/D変換器
の出力である前記電圧情報を負荷情報により電池内部抵
抗の影響を受けないように補正するとともに前記メモリ
に記憶された放電特性データから前記周囲温度に最も近
い温度に対する前記電池電圧のA/D変換値を検索し該検
索した電池電圧のA/D変換値と補正後の前記電圧情報を
逐次比較し該比較結果から電池残量を算出するように構
成したので、正確に電池残量認識を行うことができると
いう効果がある。 また、請求項２に記載の発明によれば、電池の放電特性
データを記憶したメモリと電池とを、電子機器に着脱自
在に取り付けられた一つのケース内に収容して構成した
ので、電子機器に対して種々の電池を交換自在に使用す
ることができるという効果がある。
および一定％おきの放電容量に対応する各温度における
電池電圧のA/D変換値をマトリクス形式で表す放電特性
データを記憶したメモリと、電池の電圧情報および該電
池の周囲温度情報をディジタル信号に変換するA/D変換
器とを備え、マイクロプロセッサにより前記A/D変換器
の出力である前記電圧情報を負荷情報により電池内部抵
抗の影響を受けないように補正するとともに前記メモリ
に記憶された放電特性データから前記周囲温度に最も近
い温度に対する前記電池電圧のA/D変換値を検索し該検
索した電池電圧のA/D変換値と補正後の前記電圧情報を
逐次比較し該比較結果から電池残量を算出するように構
成したので、正確に電池残量認識を行うことができると
いう効果がある。 また、請求項２に記載の発明によれば、電池の放電特性
データを記憶したメモリと電池とを、電子機器に着脱自
在に取り付けられた一つのケース内に収容して構成した
ので、電子機器に対して種々の電池を交換自在に使用す
ることができるという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による電池残量認識装置を
示すブロック図、第２図は電池電圧の放電特性図、第３
図は第１図装置の動作を説明するフローチャート図、第
４図，第５図，第６図はこの発明の他の実施例による電
池残量認識装置を示すブロック図である。 １は電池、５はA/D変換器、６はマイクロプロセッサ、
７はメモリ、８は表示器。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
示すブロック図、第２図は電池電圧の放電特性図、第３
図は第１図装置の動作を説明するフローチャート図、第
４図，第５図，第６図はこの発明の他の実施例による電
池残量認識装置を示すブロック図である。 １は電池、５はA/D変換器、６はマイクロプロセッサ、
７はメモリ、８は表示器。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (2)
- 【請求項１】各温度および一定％おきの放電容量に対応
する各温度における電池電圧のA/D変換値をマトリクス
形式で表す放電特性データを記憶したメモリと、電池の
電圧情報および該電池の周囲温度情報をディジタル信号
に変換するA/D変換器と、このA/D変換器の出力である前
記電圧情報を負荷情報により電池内部抵抗の影響を受け
ないように補正するとともに前記メモリに記憶された放
電特性データから前記周囲温度に最も近い温度に対する
前記電池電圧のA/D変換値を検索し該検索した電池電圧
のA/D変換値と補正後の前記電圧情報を逐次比較し該比
較結果から電池残量を算出するマイクロプロセッサとを
備えた電池残量認識装置。 - 【請求項２】電池の放電特性データを記憶したメモリと
電池とが、電子機器に着脱自在に取り付けられた一つの
ケース内に収納されていることを特徴とする請求項
（１）記載の電池残量認識装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1082866A JPH07120536B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 電池残量認識装置 |
| US07/426,757 US5434495A (en) | 1989-03-31 | 1989-10-26 | Cognition device for battery residual capacity |
| AU43882/89A AU613806B2 (en) | 1989-03-31 | 1989-10-27 | Cognition device for battery residual capacity |
| CA002001776A CA2001776C (en) | 1989-03-31 | 1989-10-30 | Cognition device for battery residual capacity |
| GB8924754A GB2232495B (en) | 1989-03-31 | 1989-11-02 | Device for determining residual capacity of a battery |
| FR8917121A FR2645352B1 (fr) | 1989-03-31 | 1989-12-22 | Dispositif permettant d'indiquer la capacite residuelle d'une batterie |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1082866A JPH07120536B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 電池残量認識装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02262278A JPH02262278A (ja) | 1990-10-25 |
| JPH07120536B2 true JPH07120536B2 (ja) | 1995-12-20 |
Family
ID=13786248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1082866A Expired - Lifetime JPH07120536B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 電池残量認識装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5434495A (ja) |
| JP (1) | JPH07120536B2 (ja) |
| AU (1) | AU613806B2 (ja) |
| CA (1) | CA2001776C (ja) |
| FR (1) | FR2645352B1 (ja) |
| GB (1) | GB2232495B (ja) |
Families Citing this family (135)
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