JP2008256629A - 測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】連続測定を行う際の処理速度を高速化する。
【解決手段】チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８から入力した測定対象信号Ｓｍ１〜Ｓｍ８を１つずつ切替出力する切替部２と、測定対象信号Ｓｍ１〜Ｓｍ８に対して増幅処理を含む所定の信号処理を実行する信号処理部３と、切替部２にチャンネル切替えを実行させつつ信号処理された測定データＤｍに基づいてその電圧値を算出すると共に信号処理部３の電気的特性に起因するオフセット値を各チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８毎に特定して算出した電圧値を調整する制御部５とを備えて、電圧値の測定を繰り返して実行可能に構成され、制御部５は、各測定対象信号Ｓｍ１〜Ｓｍ８に基づく電圧値の測定を１回ずつ実行する一巡測定を１回行う間に一部のチャンネルについてのみオフセット値を新たに特定し、かつ一巡測定を複数回行う間に全てのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８についてのオフセット値を新たに特定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、複数チャンネルから入力した測定対象信号に基づく所定の物理量の測定をチャンネル切替を行いつつ繰り返して実行可能に構成された測定装置に関するものである。

この種の測定装置として、特許３１７８９４４号公報に開示された入力装置が知られている。この入力装置は、入力切替器、フィルタ回路、増幅器、Ａ−Ｄ変換器および処理手段を備えて、複数チャンネルで入力した測定入力信号を測定可能に構成されている。この場合、この入力装置では、入力切替器のゼロ入力スイッチを切り替えてゼロ入力信号をフィルタ回路に供給して、増幅器の特性に起因するドリフト分（オフセット値）を特定し、そのドリフト分を測定値から差し引くことによってドリフト分の影響を排除している。
特許３１７８９４４号公報（第２頁、第１図）

ところが、上記の入力装置には、以下の問題点がある。すなわち、この入力装置では、ドリフト分の影響を排除するために、ゼロ入力スイッチを切り替えてゼロ入力信号を供給してドリフト分を特定している。この場合、複数チャンネルで測定入力信号を入力可能なこの種の入力装置では、測定入力信号の種類、つまりチャンネル毎に増幅率が異なるため、チャンネル毎にドリフト分を特定する必要がある。したがって、上記の入力装置を含むこの種の入力装置では、チャンネルを切り替える度、つまり増幅率を変更する度にゼロ入力スイッチを切り替えてドリフト分を特定する必要があるため、その分処理速度が低下するという問題点が存在する。この場合、例えば、この入力装置を組み込んだ自動監視システム等を用いて、監視対象機器における複数の測定点における電圧等の物理量を、上記したようにスイッチ切替を行いつつ連続的に測定する際には、処理速度の低下に起因して、自動監視の機能に支障を来すおそれもある。

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、連続測定を行う際の処理速度を向上し得る測定装置を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、複数チャンネルからそれぞれ入力した複数の測定対象信号をチャンネル切替によって１つずつ切替出力する切替部と、当該切替部から出力される前記測定対象信号に対してチャンネルに応じた増幅率での増幅処理を含む所定の信号処理を実行する信号処理部と、前記切替部に前記チャンネル切替えを実行させつつ前記信号処理部によって信号処理された処理信号に基づいて所定の物理量を算出すると共に当該信号処理部の電気的特性に起因するオフセット値を前記各チャンネル毎に特定して当該オフセット値に基づいて前記物理量の算出値を調整する制御部とを備えて、前記物理量の測定を繰り返して実行可能に構成された測定装置であって、前記制御部は、所定の条件が満たされたときに、全ての前記チャンネルについての前記各処理信号に基づく前記物理量の測定を１回ずつ実行する一巡測定を１回行う間に当該全てのチャンネルのうちの一部のチャンネルについてのみ前記オフセット値を新たに特定し、かつ前記一巡測定を複数回行う間に前記全てのチャンネルについての前記オフセット値を新たに特定する第１モードで前記物理量の測定を実行する。この場合、前記各測定対象信号に基づく前記物理量の測定を一巡測定において１回ずつ実行する全てのチャンネルとは、測定装置の有するチャンネルのうちの測定対象となっているチャンネルの全てを意味する。したがって、例えば、８チャンネルを備え、その８チャンネルのうちの６チャンネルを測定対象としている場合には、全てのチャンネルとは、その測定対象となっている６つのチャンネルの全てを意味する。

また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記制御部は、前記第１モードにおいて、前記一巡測定を１回行う間に１つの前記チャンネルについてのみ前記オフセット値を新たに特定する。

また、請求項３記載の測定装置は、請求項１または２記載の測定装置において、当該測定装置の内部および周囲の少なくとも一方の温度を検出する温度検出部を備え、前記制御部は、前記温度検出部によって検出された前記温度の変化率が第１の所定値を超えているときには前記一巡測定を１回行う度に前記全てのチャンネルについての前記オフセット値を新たに特定する第２モードで前記物理量の測定を実行し、前記温度の変化率が前記第１の所定値以下のときには前記所定の条件を満たしたとして前記第１モードで前記物理量の測定を実行する。

さらに請求項４記載の測定装置は、請求項３記載の測定装置において、前記制御部は、前記温度の変化率が前記第１の所定値よりも小さい第２の所定値以下のときには前記オフセット値の新たな特定を省略する第３モードで前記物理量の測定を実行する。

請求項１記載の測定装置によれば、一巡測定を１回行う間に全てのチャンネルのうちの一部のチャンネルについてのみオフセット値を新たに特定し、かつ一巡測定を複数回行う間に全てのチャンネルについてのオフセット値を新たに特定する第１モードで物理量（一例として電圧値）を測定することにより、新たな特定対象のチャンネルを除くチャンネルについてのオフセット値の新たな特定を省略することができる。このため、一巡測定に要する処理時間を十分に短縮することができる結果、連続測定を行う際の処理速度を十分に向上させることができる。したがって、この測定装置によれば、例えば、測定対象体における複数の測定点における物理量（一例として電圧値）をチャンネル切替を行いつつ連続的に測定して測定対象体を自動監視する場合においても、処理速度の低下に起因して自動監視の機能に支障を来す事態を確実に防止することができる。

また、請求項２記載の測定装置によれば、一巡測定を１回行う間に１つのチャンネルについてのみオフセット値を新たに特定することにより、一巡測定を１回行う間に２つ以上（全てのチャンネルの数未満）のチャンネルについてのオフセット値を新たに特定する構成と比較して、一巡測定に要する処理時間をさらに短縮することができるため、連続測定を行う際の処理速度をさらに向上させることができる。

また、請求項３記載の測定装置によれば、温度検出部によって検出された温度の変化率が第１の所定値を超えているときには第２モードで物理量（一例として電圧値）を測定し、温度の変化率が第１の所定値以下のときには第１モードで物理量（一例として電圧値）を測定することにより、温度の変化率が大きくて、これに伴ってオフセット値も大きく変化する可能性があるときには、一巡測定を１回行う度に全てのチャンネルについてのオフセット値が新たに特定されるため、たとえオフセット値が大きく変化したとしても、オフセット調整処理を十分正確に行うことができる。

また、請求項４記載の測定装置によれば、温度の変化率が第１の所定値よりも小さい第２の所定値以下のときには第３モードで物理量（一例として電圧値）を測定することにより、温度の変化率が十分に小さくて、オフセット値の変化も十分に小さいときには、全てのチャンネルについてのオフセット値の新たな特定が省略されるため、処理時間をさらに短縮することができる結果、連続測定を行う際の処理速度を一層向上させることができる。

以下、本発明に係る測定装置の最良の形態について、図面を参照して説明する。

最初に、測定装置１の構成について、図面を参照して説明する。図１に示す測定装置１は、本発明に係る測定装置の一例であって、切替部２、信号処理部３、温度検出部４、制御部５、記憶部６およびデータ送信部７を備えて構成されている。切替部２は、複数（一例として、８つ）の測定対象信号Ｓｍ１〜Ｓｍ８（以下、区別しないときには「測定対象信号Ｓｍ」ともいう）を入力する入力端子対２１ａ〜２１ｈ（以下、区別しないときには「入力端子対２１」ともいう）を有する８チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８（以下、区別しないときには、「チャンネルＣＨ」ともいう）の入力部１１と、各チャンネルＣＨの測定対象信号Ｓｍのうちの１つを切り替えて出力するためのスイッチ２２ａ〜２２ｐ（以下、区別しないときには「スイッチ２２」ともいう）を有する切替回路１２と、信号処理部３の入力部をグランド電位に接続するためのオフセット調整用スイッチ１３とを備えて構成されて、複数（この例では８つ）のチャンネルＣＨからそれぞれ入力した複数の測定対象信号Ｓｍをチャンネル切替（つまり、スイッチ２２の切替）によって１つずつ切替出力する。

信号処理部３は、切替部２から出力された測定対象信号Ｓｍをフィルタ処理するフィルタ回路３１と、フィルタ処理された測定対象信号Ｓｍを所定の増幅率で増幅するアンプ３２と、増幅された測定対象信号Ｓｍをアナログ−デジタル変換して測定データＤｍ（本発明における処理信号）を出力するＡ／Ｄ変換部３３とを備えて構成されている。この場合、アンプ３２は、例えば演算増幅器などの増幅回路を多段に接続して構成されており、制御部５から出力される利得制御信号Ｓｇに従って各増幅回路がそれぞれの利得で増幅動作を行うことにより、アンプ３２全体として予め規定された各チャンネルＣＨ毎の総合利得（本発明におけるチャンネルに応じた増幅率）で測定対象信号Ｓｍを増幅する（本発明における増幅処理の実行）。なお、アンプ３２としては、増幅回路を１段で構成することもできる。また、アンプ３２を複数備え、チャンネルＣＨに応じて複数のアンプ３２から１つを選択切り替えして作動させることもできる。また、増幅回路と、抵抗などの受動素子によるアッテネータとを組み合わせてアンプ３２を構成することもできる。さらに、増幅回路（能動素子）によるアッテネータでアンプ３２を構成して利得を１以上または１以下に規定することもできる。また、フィルタ回路３１、アンプ３２およびＡ／Ｄ変換部３３による各処理が本発明における所定の信号処理に相当する。温度検出部４は、測定装置１内部の温度（本発明における測定装置の内部および周囲の少なくとも一方の温度の一例）を検出して検出信号Ｓｔを出力する。この場合、温度検出部４を測定装置１の外部に設置して測定装置の周囲の温度を測定させることもできる。

制御部５は、後述する測定処理５０を実行することにより、信号処理部３から出力された測定データＤｍに基づいて各チャンネルＣＨの測定対象信号Ｓｍについての所定の物理量（一例として、電圧値Ｖ）の測定を繰り返して行う。この場合、制御部５は、制御信号Ｓｃを出力して切替部２の切替回路１２を制御することにより、各チャンネルＣＨの測定対象信号Ｓｍのうちの１つの測定対象信号Ｓｍを所定の順序（例えば、チャンネルＣＨ番号順）で切り替えて出力させると共に、信号処理部３によって処理された測定対象信号Ｓｍ（言い換えれば、測定対象信号Ｓｍが処理されて信号処理部３によって出力された測定データＤｍ）に基づいて測定対象信号Ｓｍの電圧値Ｖを測定する。なお、チャンネル切替を行いつつ各チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８のうちの測定対象となる全てのチャンネルＣＨの測定対象信号Ｓｍに基づく電圧値Ｖを１回ずつ測定することを、以下「一巡測定」ともいう。また、制御部５は、利得制御信号Ｓｇを出力してアンプ３２の増幅率を各チャンネルＣＨ毎に予め規定されている増幅率に設定する。また、制御部５は、信号処理部３を構成するフィルタ回路３１、アンプ３２およびＡ／Ｄ変換部３３の電気的特性に起因する上記した物理量（この例では電圧値Ｖ）についてのオフセット値（測定対象信号Ｓｍについての実際の物理量との差分値）を特定すると共に、測定した上記の物理量を特定したオフセット値で調整するオフセット調整処理を実行する。この場合、制御部５は、特定したオフセット値についてのオフセットデータＤｏを記憶部６に記憶させる。

さらに、制御部５は、温度検出部４から出力された検出信号Ｓｔに基づいて測定装置１内部の温度の変化率（以下、「温度変化率Ｔｒ」ともいう）を測定して、その温度変化率Ｔｒに応じて、後述する第１モード、第２モードおよび第３モードのうちのいずれかの測定モードで測定処理５０を実行する。この場合、制御部５は、温度変化率Ｔｒが第１基準値（本発明における第１の所定値：一例として、０．２℃／ｓｅｃ）以下となったとき（本発明における、所定の条件が満たされたとき）に第１モードで測定処理５０を実行し、温度変化率Ｔｒが第１基準値を超えているときに第２モードで測定処理５０を実行する。また、制御部５は、温度変化率Ｔｒが第２基準値（本発明における第２の所定値：一例として０．１℃／ｓｅｃ）以下となったときに第３モードで測定処理５０を実行する。

記憶部６は、各チャンネルＣＨ毎に予め規定されているアンプ３２の増幅率を記憶する。また、記憶部６は、制御部５の制御に従ってオフセットデータＤｏを記憶する。データ送信部７は、制御部５によって測定された物理量のデータ（この例では、電圧値Ｖについての電圧データＤｖ）を図外の外部機器に送信する。

次に、測定装置１の動作について、図面を参照して説明する。この場合、測定装置１は、切替部２における入力部１１の各入力端子対２１を介して８つの測定対象信号Ｓｍ１〜Ｓｍ８を入力して、各測定対象信号Ｓｍ１〜Ｓｍ８についての電圧値Ｖを測定するものとする。

この測定装置１では、図外の操作部による測定開始操作や、外部装置からの測定開始指示信号に従い、制御部５が図３に示す測定処理５０を開始する。この測定処理５０では、制御部５は、各チャンネルＣＨ毎に予め規定されているアンプ３２の増幅率を記憶部６から読み出す（ステップ５１）。次いで、制御部５は、各チャンネルＣＨについてのオフセット値を特定する（ステップ５２）。具体的には、制御部５は、制御信号Ｓｃを出力してオフセット調整用スイッチ１３をオン状態に移行させることにより、信号処理部３（フィルタ回路３１）の入力部をグランド電位に接続させる。

続いて、制御部５は、利得制御信号Ｓｇを出力してアンプ３２の増幅率をチャンネルＣＨ１に対応する増幅率に設定する。この際に、その増幅率における信号処理部３の電気的特性に起因するオフセット値についての測定データＤｍがＡ／Ｄ変換部３３から出力される。次いで、制御部５は、その測定データＤｍに基づいてオフセット値を特定してオフセットデータＤｏ（チャンネルＣＨ１についてのオフセットデータＤｏ）を記憶部６に記憶させる。続いて、制御部５は、利得制御信号Ｓｇを出力してアンプ３２の増幅率をチャンネルＣＨ２に対応する増幅率に設定して、上記した処理と同様の処理を実行することにより、チャンネルＣＨ２についてのオフセットデータＤｏを記憶部６に記憶させる。次いで、制御部５は、同様にして、チャンネルＣＨ３〜ＣＨ８についてのオフセットデータＤｏを記憶部６に記憶させる。

続いて、制御部５は、各チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８の測定対象信号Ｓｍについての電圧値Ｖの測定、および電圧値Ｖに対するオフセット調整処理を実行する（ステップ５３）。具体的には、制御部５は、制御信号Ｓｃを出力して切替部２における切替回路１２のスイッチ２２ａ，２２ｂをオン状態に移行させることにより、チャンネルＣＨ１の測定対象信号Ｓｍ１を出力させる。次いで、制御部５は、利得制御信号Ｓｇを出力してアンプ３２の増幅率をチャンネルＣＨ１に対応する増幅率に設定する。この際に、フィルタ回路３１が測定対象信号Ｓｍ１をフィルタ処理し、アンプ３２が設定された増幅率で測定対象信号Ｓｍ１を増幅する。続いて、Ａ／Ｄ変換部３３が増幅された測定対象信号Ｓｍをアナログ−デジタル変換して測定データＤｍを出力する。

次いで、制御部５は、測定データＤｍに基づいて測定対象信号Ｓｍ１についての電圧値Ｖを測定すると共に、記憶部６に記憶されているチャンネルＣＨ１についてのオフセットデータＤｏに基づいて電圧値Ｖに対してオフセット調整処理を実行して、オフセット調整処理後の電圧値Ｖについての電圧データＤｖをデータ送信部７に出力する。続いて、制御部５は、データ送信部７を制御して、電圧データＤｖを外部装置に送信させる。次いで、制御部５は、同様の処理を実行することにより、チャンネルＣＨ２〜ＣＨ８の測定対象信号Ｓｍ２〜Ｓｍ８についての電圧データＤｖを出力すると共に、データ送信部７を制御して各電圧データＤｖを送信させる（ステップ５４）。

続いて、制御部５は、一巡測定を１回行った時点で、温度検出部４から出力されている検出信号Ｓｔに基づいて、測定装置１内部の温度変化率Ｔｒを測定する（ステップ５５）。次いで、制御部５は、測定した温度変化率Ｔｒと第１基準値（０．２℃／ｓｅｃ）および第２基準値（０．１℃／ｓｅｃ）とを比較して測定モードを決定する（ステップ５６）。この際に、例えば、温度変化率Ｔｒが第１基準値（０．２℃／ｓｅｃ）を超えているとき、つまり温度変化が大きくて、これに伴ってオフセット値も大きく変化する可能性があるときには、制御部５は、測定モードを第２モードに決定する。

この第２モードでは、制御部５は、一巡測定を１回行う度に上記したステップ５２において、測定対象となる全てのチャンネルＣＨ（この例ではチャンネルＣＨ１〜チャンネルＣＨ８）についてのオフセット値を新たに特定して更新し、続いて、ステップ５３〜５６を実行する。したがって、この第２モードでは、オフセット値が大きく変化したとしても、オフセット調整処理を正確に行うことが可能となっている。以後、制御部５は、温度変化率Ｔｒが第１基準値を超えているときには、第２モードでステップ５２〜ステップ５６を繰り返して実行する。

次に、例えば、ステップ５５において測定した温度変化率Ｔｒが第１基準値以下となったとき、つまり温度変化が小さくて、オフセット値の変化も小さいときには、制御部５は、測定モードを第１モードに決定（変更）する。この第１モードでは、制御部５は、ステップ５２において、全てのチャンネルＣＨのうちの一部のチャンネルＣＨ（例えば１つのチャンネルＣＨ）についてのみオフセット値を新たに特定して更新し、次いで、ステップ５３〜５６を実行する。つまり、この第１モードでは、制御部５は、一巡測定を１回行う間に（一巡測定の１回の実行に対して）チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８のうちの一部のチャンネルＣＨについてのみオフセット値を新たに特定して更新する。

この場合、制御部５は、ステップ５３において、新たな特定（更新）対象のチャンネルＣＨについては、新たに特定した最新のオフセット値に基づいてオフセット調整処理を実行し、他のチャンネルＣＨについては、直前に特定したオフセット値を用いてオフセット調整処理を実行する。また、この第１モードでは、制御部５は、図３に示すように、一巡測定を１回行う度に新たな特定対象のチャンネルＣＨを変更して、一巡測定を複数回（この例では８回）行う間に全てのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８についてのオフセット値を新たに特定して更新する。以後、制御部５は、温度変化率Ｔｒが第１基準値以下のときには、第１モードでステップ５２〜ステップ５６を繰り返して実行する。この場合、第１モードでは、一巡測定を１回行う間において、一部のチャンネルＣＨ（この例では７つのチャンネルＣＨ）についてのオフセット値の新たな特定（更新）が省略されるため、処理時間を十分に短縮することが可能となっている。

次に、例えば、ステップ５５において測定した温度変化率Ｔｒが第２基準値以下（０．１℃／ｓｅｃ）となったとき、つまり温度変化が十分に小さくて、オフセット値の変化も十分に小さいときには、制御部５は、測定モードを第３モードに決定（変更）する。この第３モードでは、制御部５は、ステップ５２を実行することなく、つまりオフセット値の変更を省略して、上記したステップ５３〜ステップ５６を実行する。この場合、制御部５は、ステップ５３において、直前に特定したオフセット値を用いてオフセット調整処理を実行する。この第３モードでは、全てのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８についてのオフセット値の新たな特定（更新）が省略されるため、処理時間をさらに短縮することが可能となっている。

以後、制御部５は、上記のステップ５２〜５６を繰り返して実行し、第１モード、第２モードおよび第３モードのいずれかの処理モードでの測定処理を繰り返して実行する。

このように、この測定装置１によれば、温度変化率Ｔｒが第１基準値以下のときに、一巡測定を１回行う間に全てのチャンネルＣＨのうちの一部のチャンネルＣＨについてのみオフセット値を新たに特定して更新し、かつ一巡測定を複数回行う間に全てのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８についてのオフセット値を新たに特定して更新する第１モードで電圧値Ｖを測定することにより、温度変化率Ｔｒが小さくて、オフセット値の変化も小さいときには、新たな特定（更新）対象のチャンネルＣＨを除くチャンネルＣＨについてのオフセット値の新たな特定（更新）を省略することができる。このため、一巡測定に要する処理時間を十分に短縮することができる結果、連続測定を行う際の処理速度を十分に向上させることができる。したがって、この測定装置１によれば、例えば、測定対象体における複数の測定点における電圧値Ｖをチャンネル切替を行いつつ連続的に測定して測定対象体を自動監視する場合においても、処理速度の低下に起因して自動監視の機能に支障を来す事態を確実に防止することができる。

また、この測定装置１によれば、一巡測定を１回行う間に１つのチャンネルＣＨについてのみオフセット値を新たに特定することにより、一巡測定を１回行う間に２つ以上（全てのチャンネルＣＨの数未満）のチャンネルＣＨについてのオフセット値を新たに特定する構成と比較して、一巡測定に要する処理時間をさらに短縮することができるため、連続測定を行う際の処理速度をさらに向上させることができる。

さらに、この測定装置１によれば、温度変化率Ｔｒが第１基準値を超えているときには第２モードで電圧値Ｖを測定し、温度変化率Ｔｒが第１基準値以下のときには第１モードで電圧値Ｖを測定することにより、温度変化率Ｔｒが大きくて、これに伴ってオフセット値も大きく変化する可能性があるときには、一巡測定を１回行う度に全てのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８についてのオフセット値が新たに特定されるため、たとえオフセット値が大きく変化したとしても、オフセット調整処理を十分正確に行うことができる。

また、この測定装置１によれば、温度変化率Ｔｒが第１基準値よりも小さい第２基準値以下のときには第３モードで電圧値Ｖを測定することにより、温度変化率Ｔｒが十分に小さくて、オフセット値の変化も十分に小さいときには、全てのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８についてのオフセット値の新たな特定（更新）が省略されるため、処理時間をさらに短縮することができる結果、連続測定を行う際の処理速度を一層向上させることができる。

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、８チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８の入力部１１を備えた測定装置１に適用した例について上記したが、任意の複数チャンネルＣＨの入力部を備えた各種の測定装置に適用することができる。また、第１モードにおいて一巡測定を１回行う間に１つチャンネルＣＨについてのみオフセット値を新たに特定する例について上記したが、一巡測定を１回行う間にオフセット値を新たに特定するチャンネルＣＨの数はこれに限定されず、測定対象のチャンネル（この例では８つ）のうちの２つ以上７つ（測定対象となる全てのチャンネル数−１）以下の範囲内で任意に変更することができる。この場合、本例では、チャンネルＣＨ１〜ＣＨ８の全てを測定対象としているが、８つのチャンネルＣＨ１〜ＣＨ８のうち、測定に用いるチャンネルが６つ（例えばチャンネルＣＨ１〜ＣＨ６）のときには、測定対象のチャンネル（この例では６つ）のうちの２つ以上５つ（測定対象となる全てのチャンネル数−１）以下の範囲内で任意に変更することができる。また、電圧を測定する例について上記したが、本発明における物理量には、電流、温度、抵抗、湿度および流量等の各種の物理量が含まれる。

測定装置１の構成を示す構成図である。 測定処理５０のフローチャートである。 オフセット調整処理の方法を説明するための説明図である。

符号の説明

１ 測定装置
２ 切替部
３ 信号処理部
４ 温度検出部
５ 制御部
１１ 入力部
Ｄｍ 測定データ
Ｄｏ オフセットデータ
Ｓｍ１〜Ｓｍ８ 測定対象信号
Ｔｒ 温度変化率
Ｖ 電圧値

Claims (4)

1. 複数チャンネルからそれぞれ入力した複数の測定対象信号をチャンネル切替によって１つずつ切替出力する切替部と、当該切替部から出力される前記測定対象信号に対してチャンネルに応じた増幅率での増幅処理を含む所定の信号処理を実行する信号処理部と、前記切替部に前記チャンネル切替えを実行させつつ前記信号処理部によって信号処理された処理信号に基づいて所定の物理量を算出すると共に当該信号処理部の電気的特性に起因するオフセット値を前記各チャンネル毎に特定して当該オフセット値に基づいて前記物理量の算出値を調整する制御部とを備えて、前記物理量の測定を繰り返して実行可能に構成された測定装置であって、
   前記制御部は、所定の条件が満たされたときに、全ての前記チャンネルについての前記各処理信号に基づく前記物理量の測定を１回ずつ実行する一巡測定を１回行う間に当該全てのチャンネルのうちの一部のチャンネルについてのみ前記オフセット値を新たに特定し、かつ前記一巡測定を複数回行う間に前記全てのチャンネルについての前記オフセット値を新たに特定する第１モードで前記物理量の測定を実行する測定装置。
2. 前記制御部は、前記第１モードにおいて、前記一巡測定を１回行う間に１つの前記チャンネルについてのみ前記オフセット値を新たに特定する請求項１記載の測定装置。
3. 当該測定装置の内部および周囲の少なくとも一方の温度を検出する温度検出部を備え、
   前記制御部は、前記温度検出部によって検出された前記温度の変化率が第１の所定値を超えているときには前記一巡測定を１回行う度に前記全てのチャンネルについての前記オフセット値を新たに特定する第２モードで前記物理量の測定を実行し、前記温度の変化率が前記第１の所定値以下のときには前記所定の条件を満たしたとして前記第１モードで前記物理量の測定を実行する請求項１または２記載の測定装置。
4. 前記制御部は、前記温度の変化率が前記第１の所定値よりも小さい第２の所定値以下のときには前記オフセット値の新たな特定を省略する第３モードで前記物理量の測定を実行する請求項３記載の測定装置。

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