CN111766435A - 一种主动校准高电压测量装置及方法 - Google Patents
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Abstract
一种主动校准高电压测量装置及方法,包括:传递函数模块(5)与校正网络(4)连接;选频网络(1)与第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)和校正网络(4)依次串联,构成测量电路;信号发生器(6)通过第一运算放大器(201)接入测量电路,还与传递函数模块(5)连接,构成校正回路;高电位电压经过测量电路测量和校正回路矫正后输出。本发明通过在原有测量电路基础上,通过数模转换模块串接了校正回路,在测量之后增加校正环节,避免了测量偏差;本发明测量回路中将待测系统的输入电压值先进行了放大运算,使得测量信号不受校正环节中校准信号的干扰,在原始的测量值上进行校正,提高测量的精度,节省了电路元件制造成本。
Description
技术领域
本发明涉及智能测量领域,具体涉及一种主动校准高电压测量装置及方法。
背景技术
在高电压测量方面,基于电容分压式电压测量技术占有不可忽视的地位。目前的主流测量方法,包括:测量电容串联分压加隔离变压器的方法以及利用高压测量点的空间电容和传感器内的分压电容形成的直接电容分压方法等。但目前的各种测量方法均依赖于测量电路中电容的精度。一般地,普通电容的精度为20%,精密电容一般为5%,而且电容的分散性较大,即使精确的测量电路也不可避免由于电容分散性导致的测量偏差,单纯的提升测量电路中电阻的精确度导致测量成本高,且精密电容易随着环境温度、湿度的变化而变化,导致测量精度进一步降低。
发明内容
为了解决现有技术中所存在的由于测量电路无法准确测量电压值的问题,本发明提供了一种主动校准高电压测量装置及方法。
本发明提供的技术方案是:一种主动校准高电压测量装置,包括:选频网络(1)、第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)、校正网络(4)、传递函数模块(5)和信号发生器(6);所述传递函数模块(5)与所述校正网络(4)连接;
所述选频网络(1)与所述第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)和校正网络(4)依次串联,构成测量电路;
所述信号发生器(6)通过所述第一运算放大器(201)接入测量电路,同时所述信号发生器(6)还与所述传递函数模块(5)连接,构成校正回路;
所述测量电路与待测系统的高电位侧连接,将高电位电压经过测量电路进行测量再通过所述校正回路对得到的测量信号矫正并输出。
优选的,所述测量电路还包括:第一电阻(701)、第二电阻(702);
所述第一运算放大器(201)的输出端通过所述第二电阻(702)与所述第二运算放大器(202)的反相输入端连接;
所述第一电阻(701)并接在所述第二运算放大器(202)的反相输入端和输出端之间。
优选的,所述测量电路还包括:第一数模转换模块(801)、第二数模转换模块(802)和傅里叶转换模块(3);
所述第二运算放大器(202)的输出端通过所述一数模转换器(801)与所述傅里叶转换模块(3)连接;
所述傅里叶转换模块(3)与所述校正网络(4)连接,同时与所述校正回路连接。
优选的,所述测量电路还包括:
第二数模转换模块(802);
所述第二数模转换模块(802)与所述校正网络(4)连接,将校正后的电压信号转换为模拟量输出;
所述第二数模转换模块(802)还与所述信号发生器(6)连接。
优选的,所述信号发生器(6)与所述第一运算放大器(201)的正相输入端和第二运算放大器(202)的正相输入端连接;
所述传递函数模块(5)与所述信号发生器(6)连接,用于根据所述信号发生器(6)产生的校正信号,制定传递函数并传送至所述校正网络(4),所述校正网络(4)根据所述传递函数校正电压测量量。
优选的,所述校正回路,还包括:
第三电阻(703)、第四电阻(704)和第五电阻(705);
所述信号发生器(6)通过所述第三电阻(703)与所述第二运算放大器(202)的正相输入端连接;
所述第四电阻(704)与所述第一运算放大器(201)的正相输入端连接后接地;
所述第五电阻(705)与所述第二运算放大器(202)的正相输入端连接后接地。
优选的,所述选频网络(1)一端与所述第一运算放大器(201)的反相输入端连接,另一端与所述第一运算放大器(201)的输出端连接。
优选的,所述选频网络(1),包括:
第一选频电阻(101)、第二选频电阻(102)、第三选频电阻(103)、第一选频电容(104)和第二选频电容(105);
所述第一选频电阻(101)和所述第一选频电容(104)并联,构成第一并联电路;
所述第二选频电阻(102)和所述第二选频电容(105)并联,构成第二并联电路;
所述第二并联电路与所述第三选频电阻(103)串联,与所述第一并联电路并联,构成第三并联电路;
所述第三并联电路一端与所述第一运算放大器(201)的反相输入端连接,另一端与所述第一运算放大器(201)的输出端连接。
优选的,所述装置还包括:多个分压模块;
多个所述分压模块依次串联后一端与待测系统的高电位侧连接,另一端与所述第一运算放大器(201)的反相输入端连接。
优选的,每个分压模块均包括:
并联的电容和电阻。
一种主动校准高电压测量方法,包括:
所述第一运算放大器(201)采集待测系统高电位电压,通过选频网络(1)进行选频,将选频后的电压通过第二运算放大器(202)输入到校正网络(4);
信号发生器(6)将产生的第一校正信号传递至传递函数模块(5),同时将第一校正信号经过所述第一运算放大器(201)、选频网络(1)和第二运算放大器(202)产生第二校正信号;
所述传递函数模块(5)根据所述第一校正信号和第二校正信号制定传递函数,并将所述传递函数发送到所述校正网络(4)进行电压测量值校正,并输出。
优选的,所述第一运算放大器(201)采集待测系统高电位侧电压,通过选频网络(1)进行选频,将选频后的电压通过第二运算放大器(202)输入到校正网络(4),包括:
分压模块将所述待测系统高电位侧电压进行分压处理,得到分压后的电压;
所述第一运算放大器(201)采集所述分压后的电压,并通过所述选频网络(4)进行选频处理,得到选频后的电压;
所述第二运算方法器(202)采集所述选频后的电压,并通过第一数模转换模块进行数模转化,得到数字型电压;
傅里叶转换模块(3)将所述数字型电压进行傅里叶变换,并传送至所述校正网络(4)。
优选的,所述信号发生器(6)将产生的第一校正信号传递至传递函数模块(5),同时将第一校正信号经过所述第一运算放大器(201)、选频网络(1)和第二运算放大器(202)产生第二校正信号,包括:
所述信号发生器(6)产生第一校正信号,传送至所述传递函数模块(5);
所述信号发生器(6)产生第一校正信号,通过第二数模转换模块(802)进行数模转换,得到模拟型校正信号;
所述模拟型校正信号经过所述选频网络(4)的选频处理、所述第一数模转换模块(801)的数模转化和傅里叶转换模块(3)的傅里叶转换,得到第二校正信号,并传送至所述传递函数模块(5)。
优选的,所述传递函数模块(5)通过下式制定传递函数:
其中,Vsys(s)为传递函数;Vgen_o为输出的小信号电压量;Vgen_i为注入的小信号电压量;Z为选频阻抗网络常数;为阻容分压网络常数,Ri为第i个电阻阻值,Ci为第i个电容阻抗值,s为频域系数,i=1,2…n。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
本发明提供的装置与待测系统连接,包括:选频网络(1)、第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)、校正网络(4)、传递函数模块(5)和信号发生器(6);所述传递函数模块(5)与所述校正网络(4)连接;所述选频网络(1)与所述第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)和校正网络(4)依次串联,构成测量电路;所述信号发生器(6)通过所述第一运算放大器(201)接入测量电路,同时所述信号发生器(6)还与所述传递函数模块(5)连接,构成校正回路;所述测量电路与待测系统的高电位侧连接,将高电位电压经过测量电路进行测量再通过所述校正回路对得到的测量信号矫正并输出。本发明通过在原有测量电路基础上,通过数模转换模块串接了校正回路,在测量之后增加校正环节,避免了测量偏差;本发明测量回路中将待测系统的输入电压值先进行了放大运算,使得测量信号不受校正环节中校准信号的干扰,在原始的测量值上进行校正,提高测量的精度,节省了电路元件制造成本。
附图说明
图1为本发明的主动校准高电压测量装置电路原理图;
图2为本发明的一种主动校准高电压测量装置中选频网络安装图;
图3为本发明的一种主动校准高电压测量装置中选频网络电路图;
图4为本发明的一种主动校准高电压测量装置中电路幅频特征图;
其中,1-选频网络,101-第一选频电阻,102-第二选频电阻,103-第三选频电阻,104-第一选频电容,105-第二选频电容,201-第一运算放大器,202-第二运算放大器,3-傅里叶转换模块,4-校正网络,5-传递函数模块,6-信号发生器,701-第一电阻,702-第二电阻,703-第三电阻,704-第四电阻,705-第五电阻,801-第一数模转换模块,802-第二数模转换模块。
具体实施方式
为了更好地理解本发明,下面结合说明书附图和实例对本发明的内容做进一步的说明。
实施例1:
本实施例提供了一种主动校准高电压测量装置,如图1所示,包括:选频网络1、第一运算放大器201、第二运算放大器202、校正网络4、传递函数模块5和信号发生器6、多个分压模块;
所述传递函数模块5与所述校正网络4连接;
所述选频网络1与所述第一运算放大器201、第二运算放大器202和校正网络4依次串联,构成测量电路;
选频网络1的安装图如图2所示;
选频网络1的电路结构,如图3所示,包括:;
所述第一选频电阻101和所述第一选频电容104并联,构成第一并联电路;
所述第二选频电阻102和所述第二选频电容105并联,构成第二并联电路;
所述第二并联电路与所述第三选频电阻103串联,与所述第一并联电路并联,构成第三并联电路;
所述第三并联电路一端与所述第一运算放大器201的反相输入端连接,另一端与所述第一运算放大器201的输出端连接。
所述信号发生器6通过所述第一运算放大器201接入测量电路,同时所述信号发生器6还与所述传递函数模块5连接,构成校正回路;
所述测量电路与待测系统的高电位侧连接,将高电位电压经过测量电路进行测量再通过所述校正回路对得到的测量信号矫正并输出。
测量电路,还包括:第一电阻701、第二电阻702、第一数模转换模块801、第二数模转换模块802、傅里叶转换模块3和第二数模转换模块802;
所述第一运算放大器201的输出端通过所述第二电阻702与所述第二运算放大器202的反相输入端连接;
所述第一电阻701并接在所述第二运算放大器202的反相输入端和输出端之间。
所述第二运算放大器202的输出端通过所述一数模转换器801与所述傅里叶转换模块3连接;
所述傅里叶转换模块3与所述校正网络4连接,同时与所述校正回路连接。
所述第二数模转换模块802与所述校正网络4连接,将校正后的电压信号转换为模拟量输出;
所述第二数模转换模块802还与所述信号发生器6连接。
所述信号发生器6与所述第一运算放大器201的正相输入端和第二运算放大器202的正相输入端连接;
所述传递函数模块5与所述信号发生器6连接,用于根据所述信号发生器6产生的校正信号,制定传递函数并传送至所述校正网络4,所述校正网络4根据所述传递函数校正电压测量量。
校正回路,还包括:第三电阻703、第四电阻704和第五电阻705;
所述信号发生器6通过所述第三电阻703与所述第二运算放大器202的正相输入端连接;
所述第四电阻704与所述第一运算放大器201的正相输入端连接后接地;
所述第五电阻705与所述第二运算放大器202的正相输入端连接后接地。
所述选频网络1一端与所述第一运算放大器201的反相输入端连接,另一端与所述第一运算放大器201的输出端连接。
多个所述分压模块依次串联后一端与待测系统的高电位侧连接,另一端与所述第一运算放大器201的反相输入端连接。
每个分压模块均包括:并联的电容和电阻。
实施例2:
本实施例提供了一种主动校准高电压测量装置,Vin通过电容分压后进入测量电路1的测量回路与运放负端连接,运放经过选频网络Z放大得到V1,V1经过比例放大得到V2,再经过A/D转换后进入校正回路的数字信号处理单元,通过傅里叶变换(例如:快速傅里叶变换,FFT)后得到电压测量值Vin_o,而后通过校正网络和D/A转换输出测得电压信号Vout;校正回路通过校正回路中信号发生器产生一个注入信号Vgen_i经过D/A转换后输入到测量电路1的测量电路运放正端,同样与Vin一样经过选频网络Z、比例放大和A/D转换进入FFT,输出为Vgen_o,得到的Vgen_o和Vgen_i经过计算求得系统传递函数,利用系统传递函数控制校正网络实时校正输出Vout。
测量信号和注入信号分别通过测量模块经过傅里叶变换理,以注入信号为标准求得测量模块的实际系统传递函数,然后实时对测得的电压信号进行校正,提高了电压测量精度。
校正回路的数字信号处理注入小信号Vgen,通过RC组与测量电路1实现地电位小信号Vgen与高电位被测信号Vin的耦合;由于注入信号Vgen与Vin相比幅值较小,耦合后不易测量,通过测量电路1构造基于RC的选频网络Z实现Vin与Vgen不同的放大倍数,如图4所示。
其中,V2(s)为第二电压信号;
其中,Vgen_o为输出的小信号电压量。
放大倍数:
其中,K为放大系数。
校正回路通过A/D采样获得V2信号,对V2进行傅里叶分析,分离出信号Vgen_o与Vin_o;
校正回路改变输出的小信号Vgen的频率和幅值,根据Vgen_o与Vgen获得测量回路的幅频及相频特性曲线;
根据测量回路的频率响应曲线,计算出测量回路的传递函数,调整Vin与Vout的变比N,得到校正网络;
其中,Vsys(s)为S域系统传递函数;
其中,Vrec(s)变比后的系统传递函数,N为变比。
对分离出的Vin_o校正,得到最终的测量输出信号;
其中,Vout为测量输出信号。
校正回路将信号通过D/A转换后输出。
实施例3:
本实施例提供了一种主动校准高电压测量方法,包括:
所述第一运算放大器201采集待测系统高电位电压,通过选频网络1进行选频,将选频后的电压通过第二运算放大器202输入到校正网络4;
信号发生器6将产生的第一校正信号传递至传递函数模块5,同时将第一校正信号经过所述第一运算放大器201、选频网络1和第二运算放大器202产生第二校正信号;
所述传递函数模块5根据所述第一校正信号和第二校正信号制定传递函数,并将所述传递函数发送到所述校正网络4进行电压测量值校正,并输出。
所述第一运算放大器201采集待测系统高电位侧电压,通过选频网络1进行选频,将选频后的电压通过第二运算放大器202输入到校正网络4,包括:
分压模块将所述待测系统高电位侧电压进行分压处理,得到分压后的电压;
所述第一运算放大器201采集所述分压后的电压,并通过所述选频网络4进行选频处理,得到选频后的电压;
所述第二运算方法器202采集所述选频后的电压,并通过第一数模转换模块进行数模转化,得到数字型电压;
傅里叶转换模块3将所述数字型电压进行傅里叶变换,并传送至所述校正网络4。
所述信号发生器6将产生的第一校正信号传递至传递函数模块5,同时将第一校正信号经过所述第一运算放大器201、选频网络1和第二运算放大器202产生第二校正信号,包括:
所述信号发生器6产生第一校正信号,传送至所述传递函数模块5;
所述信号发生器6产生第一校正信号,通过第二数模转换模块802进行数模转换,得到模拟型校正信号;
所述模拟型校正信号经过所述选频网络4的选频处理、所述第一数模转换模块801的数模转化和傅里叶转换模块3的傅里叶转换,得到第二校正信号,并传送至所述传递函数模块5。
所述传递函数模块5通过下式制定传递函数:
其中,Vsys(s)为传递函数;Vgen_o为输出的小信号电压量;Vgen_i为注入的小信号电压量;Z为选频阻抗网络常数;为阻容分压网络常数,Ri为第i个电阻阻值,Ci为第i个电容阻抗值,s为频域系数,i=1,2…n。显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上仅为本发明的实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均包含在申请待批的本发明的权利要求范围之内。
Claims (14)
1.一种主动校准高电压测量装置,其特征在于,包括:选频网络(1)、第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)、校正网络(4)、传递函数模块(5)和信号发生器(6);所述传递函数模块(5)与所述校正网络(4)连接;
所述选频网络(1)与所述第一运算放大器(201)、第二运算放大器(202)和校正网络(4)依次串联,构成测量电路;
所述信号发生器(6)通过所述第一运算放大器(201)接入测量电路,同时所述信号发生器(6)还与所述传递函数模块(5)连接,构成校正回路;
所述测量电路与待测系统的高电位侧连接,将高电位电压经过测量电路进行测量再通过所述校正回路对得到的测量信号矫正并输出。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测量电路还包括:第一电阻(701)、第二电阻(702);
所述第一运算放大器(201)的输出端通过所述第二电阻(702)与所述第二运算放大器(202)的反相输入端连接;
所述第一电阻(701)并接在所述第二运算放大器(202)的反相输入端和输出端之间。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述测量电路还包括:第一数模转换模块(801)、第二数模转换模块(802)和傅里叶转换模块(3);
所述第二运算放大器(202)的输出端通过所述一数模转换器(801)与所述傅里叶转换模块(3)连接;
所述傅里叶转换模块(3)与所述校正网络(4)连接,同时与所述校正回路连接。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测量电路还包括:
第二数模转换模块(802);
所述第二数模转换模块(802)与所述校正网络(4)连接,将校正后的电压信号转换为模拟量输出;
所述第二数模转换模块(802)还与所述信号发生器(6)连接。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述信号发生器(6)与所述第一运算放大器(201)的正相输入端和第二运算放大器(202)的正相输入端连接;
所述传递函数模块(5)与所述信号发生器(6)连接,用于根据所述信号发生器(6)产生的校正信号,制定传递函数并传送至所述校正网络(4),所述校正网络(4)根据所述传递函数校正电压测量量。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述校正回路,还包括:
第三电阻(703)、第四电阻(704)和第五电阻(705);
所述信号发生器(6)通过所述第三电阻(703)与所述第二运算放大器(202)的正相输入端连接;
所述第四电阻(704)与所述第一运算放大器(201)的正相输入端连接后接地;
所述第五电阻(705)与所述第二运算放大器(202)的正相输入端连接后接地。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述选频网络(1)一端与所述第一运算放大器(201)的反相输入端连接,另一端与所述第一运算放大器(201)的输出端连接。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述选频网络(1),包括:
第一选频电阻(101)、第二选频电阻(102)、第三选频电阻(103)、第一选频电容(104)和第二选频电容(105);
所述第一选频电阻(101)和所述第一选频电容(104)并联,构成第一并联电路;
所述第二选频电阻(102)和所述第二选频电容(105)并联,构成第二并联电路;
所述第二并联电路与所述第三选频电阻(103)串联,与所述第一并联电路并联,构成第三并联电路;
所述第三并联电路一端与所述第一运算放大器(201)的反相输入端连接,另一端与所述第一运算放大器(201)的输出端连接。
9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:多个分压模块;
多个所述分压模块依次串联后一端与待测系统的高电位侧连接,另一端与所述第一运算放大器(201)的反相输入端连接。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,每个分压模块均包括:
并联的电容和电阻。
11.一种主动校准高电压测量方法,其特征在于,包括:
所述第一运算放大器(201)采集待测系统高电位电压,通过选频网络(1)进行选频,将选频后的电压通过第二运算放大器(202)输入到校正网络(4);
信号发生器(6)将产生的第一校正信号传递至传递函数模块(5),同时将第一校正信号经过所述第一运算放大器(201)、选频网络(1)和第二运算放大器(202)产生第二校正信号;
所述传递函数模块(5)根据所述第一校正信号和第二校正信号制定传递函数,并将所述传递函数发送到所述校正网络(4)进行电压测量值校正,并输出。
12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,所述第一运算放大器(201)采集待测系统高电位侧电压,通过选频网络(1)进行选频,将选频后的电压通过第二运算放大器(202)输入到校正网络(4),包括:
分压模块将所述待测系统高电位侧电压进行分压处理,得到分压后的电压;
所述第一运算放大器(201)采集所述分压后的电压,并通过所述选频网络(4)进行选频处理,得到选频后的电压;
所述第二运算方法器(202)采集所述选频后的电压,并通过第一数模转换模块进行数模转化,得到数字型电压;
傅里叶转换模块(3)将所述数字型电压进行傅里叶变换,并传送至所述校正网络(4)。
13.如权利要求11所述的方法,其特征在于,所述信号发生器(6)将产生的第一校正信号传递至传递函数模块(5),同时将第一校正信号经过所述第一运算放大器(201)、选频网络(1)和第二运算放大器(202)产生第二校正信号,包括:
所述信号发生器(6)产生第一校正信号,传送至所述传递函数模块(5);
所述信号发生器(6)产生第一校正信号,通过第二数模转换模块(802)进行数模转换,得到模拟型校正信号;
所述模拟型校正信号经过所述选频网络(4)的选频处理、所述第一数模转换模块(801)的数模转化和傅里叶转换模块(3)的傅里叶转换,得到第二校正信号,并传送至所述传递函数模块(5)。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113687289A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-11-23 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种非接触式微型电压传感器的测量及自校准方法及系统 |
WO2024011935A1 (zh) * | 2022-07-12 | 2024-01-18 | 南京宏泰半导体科技股份有限公司 | 一种高端电压差分采样校准系统及方法 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0245768A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-15 | Advantest Corp | 自動校正機能付電圧印加電流測定装置 |
FR2724242A1 (fr) * | 1994-09-05 | 1996-03-08 | Gec Alsthom T & D Sa | Procede d'auto-etalonnage d'un systeme asservi et systeme etalonne par le procede |
US20020163381A1 (en) * | 2001-04-03 | 2002-11-07 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for calibration of an electronic device |
JP2002374131A (ja) * | 2001-06-14 | 2002-12-26 | Seiko Instruments Inc | 演算増幅器オフセット電圧自動校正回路 |
US20090157338A1 (en) * | 2006-08-30 | 2009-06-18 | Mettler-Toledo Ag | Measuring method and apparatus for potentiometric measuring probes |
CN105811982A (zh) * | 2016-03-14 | 2016-07-27 | 深圳市博巨兴实业发展有限公司 | 一种adc芯片参考电压测试校准方法 |
CN106018941A (zh) * | 2016-05-23 | 2016-10-12 | 华中科技大学 | 一种基于压频转换技术的脉冲高压测量平台 |
CN106405460A (zh) * | 2016-07-06 | 2017-02-15 | 广州维思车用部件有限公司 | 电子仪表电压检测校准系统及校准方法 |
US20170047903A1 (en) * | 2015-08-14 | 2017-02-16 | Qualcomm Incorporated | Automatically calibrating operational amplifier (op-amp) systems for mitigating effects of offset voltages |
US20180080800A1 (en) * | 2016-09-16 | 2018-03-22 | Apple Inc. | Motion Sensing Using Hall Voltage Signals |
-
2019
- 2019-04-02 CN CN201910259116.XA patent/CN111766435A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0245768A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-15 | Advantest Corp | 自動校正機能付電圧印加電流測定装置 |
FR2724242A1 (fr) * | 1994-09-05 | 1996-03-08 | Gec Alsthom T & D Sa | Procede d'auto-etalonnage d'un systeme asservi et systeme etalonne par le procede |
US20020163381A1 (en) * | 2001-04-03 | 2002-11-07 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for calibration of an electronic device |
JP2002374131A (ja) * | 2001-06-14 | 2002-12-26 | Seiko Instruments Inc | 演算増幅器オフセット電圧自動校正回路 |
US20090157338A1 (en) * | 2006-08-30 | 2009-06-18 | Mettler-Toledo Ag | Measuring method and apparatus for potentiometric measuring probes |
US20170047903A1 (en) * | 2015-08-14 | 2017-02-16 | Qualcomm Incorporated | Automatically calibrating operational amplifier (op-amp) systems for mitigating effects of offset voltages |
CN105811982A (zh) * | 2016-03-14 | 2016-07-27 | 深圳市博巨兴实业发展有限公司 | 一种adc芯片参考电压测试校准方法 |
CN106018941A (zh) * | 2016-05-23 | 2016-10-12 | 华中科技大学 | 一种基于压频转换技术的脉冲高压测量平台 |
CN106405460A (zh) * | 2016-07-06 | 2017-02-15 | 广州维思车用部件有限公司 | 电子仪表电压检测校准系统及校准方法 |
US20180080800A1 (en) * | 2016-09-16 | 2018-03-22 | Apple Inc. | Motion Sensing Using Hall Voltage Signals |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
徐武义等: "电工与电子技术基础", 河南科学技术出版社, pages: 101 - 13 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113687289A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-11-23 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种非接触式微型电压传感器的测量及自校准方法及系统 |
CN113687289B (zh) * | 2021-09-24 | 2023-09-19 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种非接触式微型电压传感器的测量及自校准方法及系统 |
WO2024011935A1 (zh) * | 2022-07-12 | 2024-01-18 | 南京宏泰半导体科技股份有限公司 | 一种高端电压差分采样校准系统及方法 |
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