JP2005244276A - 差動増幅回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】 出力の中心電圧が電源電位の変動に影響されない差動増幅回路を提供する。
【解決手段】 増幅部20Aの相補的な出力ノード間に接続された抵抗25の中点のノードN4を演算増幅器30の正相入力端子に接続し、この演算増幅器30の逆相入力端子には基準電圧Vcmを与える。そして、演算増幅器30の出力を制御電圧Vfとして、電源電位VDDと2つの出力ノードの間に接続された負荷用のPMOS24a,24bのゲートに共通に与える。このフィードバック回路により、ノードN4の電位は基準電圧となり、相補的な出力信号の中心電圧は、電源電位に影響されず、常に基準電圧Vcmとなるように制御される。
【選択図】 図1

Description

本発明は、差動増幅回路の出力信号の最大振幅値の安定化に関するものである。
図2は、従来の差動増幅回路の回路図である。
この差動増幅回路は、バイアス部10と増幅部20で構成されている。
バイアス部10は、増幅部20に一定電流を流すためのバイアス電圧Vbを生成するもので、図示しない定電圧部から基準電圧Vrefが与えられる演算増幅器(OP)11を有している。演算増幅器11の−入力端子には基準電圧Vrefが与えられ、+入力端子はノードN1に接続されている。ノードN1は抵抗12を介して電源電位VSSに接続されると共に、PチャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOS」という)13を介して電源電位VDDに接続されている。PMOS13のゲートは、演算増幅器11の出力端子に接続されると共に、電流ミラー回路を構成するPMOS14のゲートに接続されている。PMOS14のソースとドレインは、それぞれ電源電位VDDとノードN2に接続されている。ノードN2は、ドレインとゲートが接続されてダイオード構成となっているNチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOS」という)15を介して電源電位VSSに接続され、このノードN2からバイアス電圧Vbが出力されるようになっている。
一方、増幅部20は、バイアス電圧Vbがゲートに与えられるNMOS21を有し、このNMOS21のソースとドレインが、それぞれ電源電位VSSとノードN3に接続されている。ノードN3には、NMOS22a,22bのソースが接続されている。NMOS22a,22bのドレインは、それぞれ抵抗23a,23bを介して電源電位VDDに接続されている。そして、NMOS22a,22bのゲートには、それぞれ入力信号IN1,IN2が与えられ、これらのNMOS22a,22bのドレインから、相補的な出力信号OUTn,OUTpが出力されるようになっている。
次に動作を説明する。
この差動増幅回路では、演算増幅器11の−入力端子に基準電圧Vrefが与えられているので、安定状態では+入力端子の電位も基準電圧Vrefとなる。ここで、何らかの理由でノードN1(即ち、演算増幅器11の+入力端子)の電位が上昇すると、この演算増幅器11の出力電圧も上昇する。これにより、PMOS13,14のゲート電位が上昇し、これらのPMOS13,14に流れる電流は減少する。PMOS13に流れる電流が減少すると、抵抗12における電圧降下が小さくなり、ノードN1の電位が低下する。このような負帰還動作により、ノードN1の電位は、常に基準電圧Vrefとなるように制御される。これにより、抵抗12に流れる電流は、その抵抗値をR12とすると、Vref/R12の一定値となる。
PMOS13,14は電流ミラー回路を構成し、このPMOS14に直列に接続されたNMOS15と増幅部20内のNMOS21も、バイアス電圧Vbが共通に与えられて電流ミラー回路を構成している。従って、NMOS21に流れる電流は、ミラー定数をKとすると、K×Vref/R12の一定値となる。ここで、NMOS21に流れる電流は、増幅部20の抵抗23a,23bに流れる電流の合計であるので、各抵抗23a,23bに流れる電流の最小値は0、最大値はK×Vref/R12である。従って、出力信号OUTn,OUTpの最大振幅値は、抵抗23a,23bの抵抗値をR23とすると、K×Vref×R23/R12となる。
これにより、製造条件の変動によって、抵抗12,23a,23bの抵抗値が目標値からずれたとしても、これらの抵抗12,23a,23bを共通の製造プロセスで形成していれば、抵抗値の比(R23/R12)は変わらないので、出力信号OUTn,OUTpの最大振幅値を一定にすることができる。
特開2001−274648号公報
しかしながら、図2の差動増幅回路では、出力信号OUTn,OUTpの中心電圧が電源電位VDDに依存して変化する。このため、この差動増幅回路の出力端子を後段の回路の入力部に直結すると、中心電圧の相違によって直流電流が流れるおそれがある。従って、直流分を遮断するためにキャパシタを介して接続しなければならないという問題があった。
本発明は、出力信号の中心電圧が電源電位の変動に影響されない差動増幅回路を提供することを目的としている。
本発明の差動増幅回路は、第1の抵抗に一定の電圧を印加して定電流を流すことにより、該定電流に対応するバイアス電圧を発生させるバイアス部と、第1の出力ノードと第1の電源電位の間に接続され、制御電圧によって導通状態が制御される第1のトランジスタと、第2の出力ノードと前記第1の電源電位の間に接続され、前記制御電圧によって導通状態が制御される第2のトランジスタと、前記第1及び第2の出力ノードの間を接続する第2の抵抗と、正相入力端子が前記第2の抵抗の中点に接続され、逆相入力端子に基準電圧が与えられて前記制御電圧を出力する演算増幅器と、内部ノードと前記第1の出力ノードの間に接続され、制御電極に第1の入力信号が与えられる第3のトランジスタと、前記内部ノードと前記第2の出力ノードの間に接続され、制御電極に第2の入力信号が与えられる第4のトランジスタと、第2の電源電位と前記内部ノードの間に接続され、前記バイアス電圧に対応した一定の電流を流す第5のトランジスタとを備えたことを特徴としている。
本発明では、第1及び第2の出力ノードを接続する第2の抵抗の中点の電圧と基準電圧に応じて制御電圧を出力する演算増幅器を設け、この制御電圧を第1の電源電位と第1及び第2の出力ノードに接続された第1及び第2のトランジスタの制御電極にフィードバックさせるようにしている。これにより、出力信号の中心電圧が常に基準電圧と同じ電位に制御され、電源電位の変動に影響されない差動増幅回路が得られる。更に、この差動増幅回路を用いれば、直流遮断用のキャパシタを介さずに、後段の回路の入力部に接続することができるという効果がある。
また、この第2の抵抗とバイアス部の第1の抵抗を同じ製造工程で形成すれば、出力信号の最大振幅値や電圧利得の製造条件による変動をなくすことができるという効果がある。
この差動増幅回路では、従来の差動増幅回路の2つの負荷抵抗に代えて2つのトランジスタを用い、相補的な出力電圧の平均値と基準電圧をそれぞれ正相及び逆相入力とする演算増幅器の出力電圧を、これらの2つのトランジスタに制御電圧として与える。
この発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、次の、好ましい実施例の説明を添付図面と照らし合わせて読むと、より完全に明らかになるであろう。但し、図面は、もっぱら解説のためのものであって、この発明の範囲を限定するものではない。
図1は、本発明の実施例1を示す差動増幅回路の回路図であり、図2中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この差動増幅回路は、図2と同様のバイアス部10、図2の増幅部20とは若干構成の異なる増幅部20A及び演算増幅器30で構成されている。
バイアス部10は、増幅部20に一定電流を流すためのバイアス電圧Vbを生成するもので、図示しない定電圧部から基準電圧Vrefが与えられる演算増幅器11を有している。演算増幅器11の−入力端子には基準電圧Vrefが与えられ、+入力端子はノードN1に接続されている。
ノードN1は抵抗12を介して電源電位VSSに接続されると共に、PMOS13を介して電源電位VDDに接続されている。PMOS13のゲートは、演算増幅器11の出力端子に接続されると共に、電流ミラー回路を構成するPMOS14のゲートに接続されている。PMOS14のソースとドレインは、それぞれ電源電位VDDとノードN2に接続されている。ノードN2は、ダイオード接続されたNMOS15を介して電源電位VSSに接続され、このノードN2からバイアス電圧Vbが出力されるようになっている。
一方、増幅部20Aは、バイアス電圧Vbがゲートに与えられて定電流回路となるNMOS21を有し、このNMOS21のソースとドレインが、それぞれ電源電位VSSとノードN3に接続されている。ノードN3には、NMOS22a,22bのソースが接続されている。NMOS22a,22bのドレインは、従来の負荷用の抵抗23a,23bに代えて、それぞれPMOS24a,24bを介して電源電位VDDに接続されている。
そして、NMOS22a,22bのゲートには、それぞれ入力信号IN1,IN2が与えられ、これらのNMOS22a,22bのドレインから、相補的な出力信号OUTn,OUTpが出力されるようになっている。
更に、NMOS22a,22bのドレイン間には、同じ抵抗値R25を有する2つの抵抗25a,25bが直列に接続され、この抵抗25a,25bの接続点であるノードN4に、演算増幅器30の+入力端子が接続されている。また、演算増幅器30の−入力端子には、図示しない定電圧部から基準電圧Vcmが与えられ、この演算増幅器30から帰還用の制御電圧Vfが、PMOS24a,24bのゲートに共通に与えられるようになっている。
次に動作を説明する。
この差動増幅回路におけるバイアス部10の動作は、背景技術で説明したとおりであり、演算増幅器11の負帰還動作により、ノードN1の電位が定電圧部から与えられる基準電圧Vrefと同一となり、抵抗12にVref/R12(但し、R12は、抵抗12の抵抗値)の一定電流が流れる。更に、電流ミラー回路を構成するPMOS13,14と、このPMOS14に直列に接続されたNMOS15によって、ノードN2には増幅部20A内のNMOS21に一定電流K×Vref/R12を流すためのバイアス電圧Vbが生成される。
一方、増幅部20Aでは、ノードN4の電位が演算増幅器30の+入力端子に与えられ、この演算増幅器30の−入力端子には基準電圧Vcmが与えられ、かつ、この演算増幅器30から制御電圧VfがPMOS24a,24bのゲートにフィードバックされている。このような演算増幅器30のフィードバック動作により、ノードN4の電位は基準電圧Vcmとなる。
従って、入力信号IN1,IN2が入力されていない状態では、NMOS21の一定電流は、PMOS24a及びNMOS23aの直列回路と、PMOS24b及びNMOS23bの直列回路から2等分して流れ込み、抵抗25a,25bに電流は流れない。このため、出力信号OUTn,OUTpはいずれも基準電圧Vcmとなる。
また、入力信号IN1,IN2が入力された状態では、NMOS22a,22bの導通状態が入力信号IN1,IN2に応じて変化するので、これらのNMOS22a,22bに流れる電流の大きさは変化する。一方、PMOS24a,24bのゲートには、演算増幅器30から制御電圧Vfが共通に与えられているので、これらのPMOS24a,24bに流れる電流の大きさは等しく、NMOS21に流れる一定電流の1/2である。
このため、PMOS24aに流れる電流とNMOS22aに流れる電流の差が、抵抗25a,25bを流れる。従って、入力信号IN1,IN2が入力された状態でも、出力信号OUTn,OUTpの中心電圧は、電源電位VDDに依存しない基準電圧Vcmとなる。また、出力信号OUTn,OUTpの最大振幅値は、K×Vref×R25/R12となり、製造プロセスの変動の影響を受けない。
以上のように、この実施例1の差動増幅回路は、2つの出力端子と電源電位VDD間に接続されたPMOS24a,24bと、これらの出力端子間に接続された抵抗25a,25bと、PMOS24a,24bのゲートに制御電圧Vfを共通に与えてノードN4を基準電圧Vcmとなるように制御する演算増幅器30を有している。これにより、出力信号の中心電圧が電源電位の変動に影響されない差動増幅回路が得られる。従って、この差動増幅回路を用いれば、直流遮断用のキャパシタを介さずに、後段の回路の入力部に接続することができるという利点がある。
また、従来の負荷用の抵抗23a,23bに代えて、負荷用のPMOS24a,24bを使用しているので、低電源電圧においても、抵抗25a,25bの抵抗値を大きく設定することにより、大きな最大振幅値を得ることができるという利点がある。
なお、図1の差動増幅回路では、電源電位VSS側にNMOSによる定電流回路を設けているが、電源電位VDD側にPMOSによる定電流回路を設けた構成にしても良い。また、MOSトランジスタに代えて、バイポーラトランジスタを用いて構成することもできる。このような変形は、以下の実施例2及び実施例3に対しても、同様に適用することができる。
図3は、本発明の実施例2を示す差動増幅回路の回路図であり、図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この差動増幅回路は、図1中の増幅部20Aに代えて、若干構成の異なる増幅部20Bを設けたものである。
増幅部20Bは、増幅部20AのノードN3と定電流回路のNMOS21を削除し、NMOS22a,22bのソースを抵抗26を介して接続すると共に、これらのNMOS22a,22bのソースと電源電位VSSの間を、それぞれ定電流回路となるNMOS21a,21bで接続したものである。NMOS21a,21bのゲートには、バイアス部10からバイアス電圧Vbが与えられるようになっている。その他の構成は、図1と同様である。
この差動増幅回路では、NMOS22a,22bのソースを抵抗26で接続したので、NMOS22a,22bと抵抗26を合わせた実効的な入力トランスコンダクタンスgminは、次のようになる。
gmin=gm/(1+R26×gm)
但し、gmはNMOS22a,22bのトランスコンダクタンス、R26は抵抗26の抵抗値である。
ここで、R26×gmが1に比べて極めて大きければ、gmin=1/R26となる。従って、この差動増幅回路の電圧利得は、R25/R26となる。一方、出力信号OUTn,OUTpの最大振幅値は、図1と同じK×Vref×R25/R12である。
以上のように、この実施例2の差動増幅回路は、実施例1の差動増幅回路におけるNMOS22a,22bのソースを抵抗26で接続すると共に、これらのNMOS22a,22bのソースにそれぞれ定電流回路となるNMOS21a,21bを接続している。これにより、電圧利得が抵抗25a,25bと抵抗26の抵抗値の比であるR25/R26となるので、実施例1と同様の利点に加えて、電圧利得が製造プロセスの変動の影響を受けないという利点がある。
図4は、本発明の実施例3を示す増幅部の回路図である。
この増幅部は、図3中の増幅部20Bと演算増幅器30に代えて用いるもので、増幅部20Bに対応する増幅部20Cと、演算増幅器30に対応する増幅部30Cとで構成されている。なお、図3中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
増幅部20Cは、図3中の増幅部20Bの抵抗25a,25bに代えて抵抗25を使用することによってノードN4を削除したものである。
一方、増幅部30Cは、増幅部20Cから出力される出力信号OUT,OUTp、及び定電圧部から与えられる基準電圧Vcmを入力として、帰還用の制御電圧Vfを出力する4入力の乗算器型のものである。
この増幅部30Cは、ゲートにバイアス電圧Vbが与えられて定電流回路を構成するNMOS31a,31bを有し、このNMOS31a,31bのソースは、電源電位VSSに接続されている。
NMOS31aのドレインは、NMOS32a,33aのソースに接続され、NMOS31bのドレインは、NMOS32b,33bのソースに接続されている。更に、NMOS32a,32bのドレインは、PMOS34aのドレインとゲートに接続されている。また、NMOS33a,33bのドレインは、PMOS34bのドレインとゲートに接続されている。PMOS34a,34bのソースは、電源電位VDDに接続されている。
そして、NMOS32a,32bのゲートに、増幅部20Cからの出力信号OUTp,OUTnがそれぞれ与えられ、NMOS33a,33bのゲートには、図示しない定電圧部から基準電圧Vcmが与えられている。更に、NMOS33aのドレインの電位が、帰還用の制御電圧Vfとして、増幅部20CのPMOS24a,24bのゲートに与えられるようになっている。
この増幅部では、増幅部20Cの出力信号OUTn,OUTpが増幅部30Cに与えられ、この増幅部30Cにおいて、(OUTn+OUTp)と(Vcm+Vcm)の差に比例した制御電圧Vfが出力される。制御電圧Vfは、増幅部20CのPMOS24a,24bのゲートに共通にフィードバックされる。これにより、実施例1と同様に、出力信号OUTn,OUTpの電位が制御され、OUTn+OUTp=2Vcmとなる。即ち、出力信号OUTn,OUTpの中心電圧はVcmとなる。
以上のように、この実施例3においても、実施例2と同様の利点がある。
本発明の実施例1を示す差動増幅回路の回路図である。 従来の差動増幅回路の回路図である。 本発明の実施例2を示す差動増幅回路の回路図である。 本発明の実施例3を示す増幅部の回路図である。
符号の説明
10 バイアス部
11,30 演算増幅器
12,25,26 抵抗
20A,20B,20C,30C 増幅部
21,22 NMOS
24 PMOS

Claims (4)

  1. 第1の抵抗に一定の電圧を印加して定電流を流すことにより、該定電流に対応するバイアス電圧を発生させるバイアス部と、
    第1の出力ノードと第1の電源電位の間に接続され、制御電圧によって導通状態が制御される第1のトランジスタと、
    第2の出力ノードと前記第1の電源電位の間に接続され、前記制御電圧によって導通状態が制御される第2のトランジスタと、
    前記第1及び第2の出力ノードの間を接続する第2の抵抗と、
    正相入力端子が前記第2の抵抗の中点に接続され、逆相入力端子に基準電圧が与えられて前記制御電圧を出力する演算増幅器と、
    内部ノードと前記第1の出力ノードの間に接続され、制御電極に第1の入力信号が与えられる第3のトランジスタと、
    前記内部ノードと前記第2の出力ノードの間に接続され、制御電極に第2の入力信号が与えられる第4のトランジスタと、
    第2の電源電位と前記内部ノードの間に接続され、前記バイアス電圧に対応した一定の電流を流す第5のトランジスタとを、
    備えたことを特徴とする差動増幅回路。
  2. 第1の抵抗に一定の電圧を印加して定電流を流すことにより、該定電流に対応するバイアス電圧を発生させるバイアス部と、
    第1の出力ノードと第1の電源電位の間に接続され、制御電圧によって導通状態が制御される第1のトランジスタと、
    第2の出力ノードと前記第1の電源電位の間に接続され、前記制御電圧によって導通状態が制御される第2のトランジスタと、
    前記第1及び第2の出力ノードの間を接続する第2の抵抗と、
    正相入力端子が前記第2の抵抗の中点に接続され、逆相入力端子に基準電圧が与えられて前記制御電圧を出力する演算増幅器と、
    第1の内部ノードと前記第1の出力ノードの間に接続され、制御電極に第1の入力信号が与えられる第3のトランジスタと、
    第2の内部ノードと前記第2の出力ノードの間に接続され、制御電極に第2の入力信号が与えられる第4のトランジスタと、
    前記第1及び第2の内部ノードの間を接続する第3の抵抗と、
    第2の電源電位と前記第1の内部ノードの間に接続され、前記バイアス電圧に対応した一定の電流を流す第5のトランジスタと、
    前記第2の電源電位と前記第2の内部ノードの間に接続され、前記バイアス電圧に対応した一定の電流を流す第6のトランジスタとを、
    備えたことを特徴とする差動増幅回路。
  3. 第1の抵抗に一定の電圧を印加して定電流を流すことにより、該定電流に対応するバイアス電圧を発生させるバイアス部と、
    第1の出力ノードと第1の電源電位の間に接続され、制御電圧によって導通状態が制御される第1のトランジスタと、
    第2の出力ノードと前記第1の電源電位の間に接続され、前記制御電圧によって導通状態が制御される第2のトランジスタと、
    前記第1及び第2の出力ノードの間を接続する第2の抵抗と、
    第1の内部ノードと前記第1の出力ノードの間に接続され、制御電極に第1の入力信号が与えられる第3のトランジスタと、
    第2の内部ノードと前記第2の出力ノードの間に接続され、制御電極に第2の入力信号が与えられる第4のトランジスタと、
    前記第1及び第2の内部ノードの間を接続する第3の抵抗と、
    第2の電源電位と前記第1の内部ノードの間に接続され、前記バイアス電圧に対応した一定の電流を流す第5のトランジスタと、
    前記第2の電源電位と前記第2の内部ノードの間に接続され、前記バイアス電圧に対応した一定の電流を流す第6のトランジスタと、
    前記第1及び第2の出力ノードに接続され、基準電圧と該第1及び第2の出力ノードの平均電圧の差に応じた電圧を前記制御電圧として出力する増幅部とを、
    備えたことを特徴とする差動増幅回路。
  4. 前記第1及び第2の抵抗は、同一の製造工程で形成されたことを特徴とする請求項1、2または3記載の差動増幅回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011030036A (ja) * 2009-07-28 2011-02-10 Sony Corp 増幅回路、半導体集積回路、無線伝送システム、通信装置
JP2017510093A (ja) * 2013-12-20 2017-04-06 インテル・コーポレーション 構成可能なトランシーバ回路アーキテクチャ
KR102067904B1 (ko) * 2018-07-29 2020-01-17 주식회사 에프램 감지 설정 저항 신호 제어 증폭 회로 장치

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200505157A (en) * 2003-07-21 2005-02-01 Realtek Semiconductor Corp Linear-in-decibel variable gain amplifier
US7075368B2 (en) * 2003-09-01 2006-07-11 Realtek Semiconductor Corp. Linear-in-decibel variable gain amplifier
US7078972B2 (en) * 2003-10-01 2006-07-18 Realtek Semiconductor Corp. Linear decibel-scale variable gain amplifier
US7602246B2 (en) * 2004-06-02 2009-10-13 Qualcomm, Incorporated General-purpose wideband amplifier
US7352207B2 (en) * 2005-09-30 2008-04-01 Silicon Laboratories Inc. Output driver with common mode feedback
JP4836125B2 (ja) * 2006-04-20 2011-12-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US7508235B2 (en) * 2006-06-07 2009-03-24 Silicon Laboratories Inc. Differential line termination technique
US7999523B1 (en) 2008-08-29 2011-08-16 Silicon Laboratories Inc. Driver with improved power supply rejection
US20100117703A1 (en) * 2008-11-13 2010-05-13 Zhipeng Zhu Multi-mode single-ended cmos input buffer
KR20100081830A (ko) * 2009-01-07 2010-07-15 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 컨버터
US8461880B2 (en) * 2009-04-02 2013-06-11 Silicon Labs Spectra, Inc. Buffer with an output swing created using an over-supply voltage
JP5860772B2 (ja) * 2012-06-27 2016-02-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 通信回路及び半導体装置
US9395733B2 (en) * 2013-08-23 2016-07-19 Macronix International Co., Ltd. Voltage adjusting circuit applied to reference circuit
US9831840B2 (en) * 2015-05-18 2017-11-28 Texas Instruments Incorporated Amplifier circuit and method for adaptive amplifier biasing
US9722555B1 (en) * 2016-05-20 2017-08-01 Inphi Corporation Differential circuits with constant GM bias
US10425043B1 (en) * 2018-05-03 2019-09-24 Novatek Microelectronics Corp. Operational amplifier with constant transconductance bias circuit and method using the same

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6107882A (en) * 1997-12-11 2000-08-22 Lucent Technologies Inc. Amplifier having improved common mode voltage range
JP2001274648A (ja) 2000-03-23 2001-10-05 Seiko Instruments Inc リミッタ回路
US6369621B1 (en) * 2001-03-29 2002-04-09 Texas Instruments Incorporated Voltage/current mode TIA/EIA-644 compliant fast LVDS driver with output current limit
US6590980B1 (en) * 2001-09-24 2003-07-08 Micrel, Incorporated Low voltage, low power operational amplifier with rail to rail output
US6617888B2 (en) * 2002-01-02 2003-09-09 Intel Corporation Low supply voltage differential signal driver
US6661288B2 (en) * 2002-02-09 2003-12-09 Texas Instruments Incorporated Apparatus for effecting high speed switching of a communication signal
US6703899B2 (en) * 2002-04-02 2004-03-09 Northrop Grumman Corporation Quad switched gain circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011030036A (ja) * 2009-07-28 2011-02-10 Sony Corp 増幅回路、半導体集積回路、無線伝送システム、通信装置
JP2017510093A (ja) * 2013-12-20 2017-04-06 インテル・コーポレーション 構成可能なトランシーバ回路アーキテクチャ
KR102067904B1 (ko) * 2018-07-29 2020-01-17 주식회사 에프램 감지 설정 저항 신호 제어 증폭 회로 장치

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