JPH11220341A - 演算増幅器 - Google Patents
演算増幅器Info
- Publication number
- JPH11220341A JPH11220341A JP10144367A JP14436798A JPH11220341A JP H11220341 A JPH11220341 A JP H11220341A JP 10144367 A JP10144367 A JP 10144367A JP 14436798 A JP14436798 A JP 14436798A JP H11220341 A JPH11220341 A JP H11220341A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stage
- transistor
- output
- power supply
- operational amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/72—Gated amplifiers, i.e. amplifiers which are rendered operative or inoperative by means of a control signal
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/08—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements
- H03F1/083—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements in transistor amplifiers
- H03F1/086—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements in transistor amplifiers with FET's
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/52—Circuit arrangements for protecting such amplifiers
- H03F1/523—Circuit arrangements for protecting such amplifiers for amplifiers using field-effect devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/30—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
- H03F3/3001—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor with field-effect transistors
- H03F3/3022—CMOS common source output SEPP amplifiers
- H03F3/3028—CMOS common source output SEPP amplifiers with symmetrical driving of the end stage
- H03F3/3032—CMOS common source output SEPP amplifiers with symmetrical driving of the end stage using two SEPP driving stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45179—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
- H03F3/4521—Complementary long tailed pairs having parallel inputs and being supplied in parallel
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 抵抗負荷に対して電源電圧近くの大電力の供
給を可能とし、無信号時の電源電圧に対する消費電流の
変動を小さくする。 【解決手段】 第1差動増幅段10はNチャネルトラン
ジスタを、第2差動増幅段40はPチャネルトランジス
タを差動増幅素子として入力信号の差動増幅を行う。第
1増幅段20は第1差動増幅段の出力を、第2増幅段5
0は第2差動増幅段の出力を逆相で増幅する。出力段7
0は第1電源電位にソースが接続されたPチャネルトラ
ンジスタと第2電源電位にソースが接続されたNチャネ
ルトランジスタを有し、第1・第2差動増幅段の出力に
基づき相補的動作を行う。第1レベルシフト段30は第
1増幅段の出力を第1電源電位の方向にレベルシフトし
て、出力段のNチャネルトランジスタのゲートを制御す
る。第2レベルシフト段60は第2増幅段の出力を第2
電源電位の方向にレベルシフトして、出力段のPチャネ
ルトランジスタのゲートを制御する。
給を可能とし、無信号時の電源電圧に対する消費電流の
変動を小さくする。 【解決手段】 第1差動増幅段10はNチャネルトラン
ジスタを、第2差動増幅段40はPチャネルトランジス
タを差動増幅素子として入力信号の差動増幅を行う。第
1増幅段20は第1差動増幅段の出力を、第2増幅段5
0は第2差動増幅段の出力を逆相で増幅する。出力段7
0は第1電源電位にソースが接続されたPチャネルトラ
ンジスタと第2電源電位にソースが接続されたNチャネ
ルトランジスタを有し、第1・第2差動増幅段の出力に
基づき相補的動作を行う。第1レベルシフト段30は第
1増幅段の出力を第1電源電位の方向にレベルシフトし
て、出力段のNチャネルトランジスタのゲートを制御す
る。第2レベルシフト段60は第2増幅段の出力を第2
電源電位の方向にレベルシフトして、出力段のPチャネ
ルトランジスタのゲートを制御する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、CMOSにより
集積回路上に作られ、アナログ信号の加減算等に用いら
れる演算増幅器、特に抵抗負荷に対して電源電圧近くの
大電力を供給でき、無信号時の消費電流を小さくできる
演算増幅器に関する。
集積回路上に作られ、アナログ信号の加減算等に用いら
れる演算増幅器、特に抵抗負荷に対して電源電圧近くの
大電力を供給でき、無信号時の消費電流を小さくできる
演算増幅器に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
例えば、文献「特開平8−274551」に開示されて
いるものがある。この文献に開示されている演算増幅器
は、差動増幅段と、第1レベルシフト段と、第1増幅段
と、第2増幅段と、第2レベルシフト段と、出力段とを
具えている。入力信号は、差動増幅段により差動増幅さ
れる。第1レベルシフト段は、この差動増幅段の出力を
第2電源電位の方向にレベルシフトする。第1増幅段
は、第1レベルシフト段の出力を逆相で増幅する。ま
た、第2増幅段は、差動増幅段の出力を逆相で増幅す
る。第2レベルシフト段は、第2増幅段の出力を第1電
源電位の方向にレベルシフトする。出力段は、Pチャネ
ルMOSトランジスタ(以下、PMOSと略称する。)
とNチャネルMOSトランジスタ(以下、NMOSと略
称する。)とで構成されていて、第1増幅段および第2
レベルシフト段の出力信号に基づき相補的動作を行う。
出力段を構成するPMOSは、第1増幅段の出力により
駆動される。出力段を構成するNMOSは、第2レベル
シフト段の出力により駆動される。
例えば、文献「特開平8−274551」に開示されて
いるものがある。この文献に開示されている演算増幅器
は、差動増幅段と、第1レベルシフト段と、第1増幅段
と、第2増幅段と、第2レベルシフト段と、出力段とを
具えている。入力信号は、差動増幅段により差動増幅さ
れる。第1レベルシフト段は、この差動増幅段の出力を
第2電源電位の方向にレベルシフトする。第1増幅段
は、第1レベルシフト段の出力を逆相で増幅する。ま
た、第2増幅段は、差動増幅段の出力を逆相で増幅す
る。第2レベルシフト段は、第2増幅段の出力を第1電
源電位の方向にレベルシフトする。出力段は、Pチャネ
ルMOSトランジスタ(以下、PMOSと略称する。)
とNチャネルMOSトランジスタ(以下、NMOSと略
称する。)とで構成されていて、第1増幅段および第2
レベルシフト段の出力信号に基づき相補的動作を行う。
出力段を構成するPMOSは、第1増幅段の出力により
駆動される。出力段を構成するNMOSは、第2レベル
シフト段の出力により駆動される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
演算増幅器にあっては、次のような課題がある。出力段
を構成するPMOSの駆動信号は、差動増幅段の出力を
第2電源電位の方向にレベルシフトする第1レベルシフ
ト段と、この第1レベルシフト段の出力を逆相で増幅す
る第1増幅段と、この第1増幅段の出力を第2電源電位
の方向にレベルシフトする第2レベルシフト段とを通し
て増幅される。従って、この駆動信号の直流電位の設定
が難しい。
演算増幅器にあっては、次のような課題がある。出力段
を構成するPMOSの駆動信号は、差動増幅段の出力を
第2電源電位の方向にレベルシフトする第1レベルシフ
ト段と、この第1レベルシフト段の出力を逆相で増幅す
る第1増幅段と、この第1増幅段の出力を第2電源電位
の方向にレベルシフトする第2レベルシフト段とを通し
て増幅される。従って、この駆動信号の直流電位の設定
が難しい。
【0004】この駆動信号の直流電位は、無信号時に出
力段に流れる電流を決定するので、この電流がトランジ
スタの製造バラツキおよび電源電圧変化により大きく変
化しないようにする必要がある。このため、差動増幅段
から第2レベルシフト段までの利得を大きく取れない。
従って、出力段に大電流を流すためには、チャネルコン
ダクタンスを大きくするために、出力段のトランジスタ
のチャネル幅(W)とチャネル長(L)との比(W/
L)を大きくする必要があった。また、上述した理由か
ら、電源電圧の変化に対する無信号時の電源電流変化も
大きかった。
力段に流れる電流を決定するので、この電流がトランジ
スタの製造バラツキおよび電源電圧変化により大きく変
化しないようにする必要がある。このため、差動増幅段
から第2レベルシフト段までの利得を大きく取れない。
従って、出力段に大電流を流すためには、チャネルコン
ダクタンスを大きくするために、出力段のトランジスタ
のチャネル幅(W)とチャネル長(L)との比(W/
L)を大きくする必要があった。また、上述した理由か
ら、電源電圧の変化に対する無信号時の電源電流変化も
大きかった。
【0005】従って、従来より、抵抗負荷に対して電源
電圧近くの大電力を供給でき、無信号時の電源電圧に対
する消費電流の変動を小さくできる演算増幅器の出現が
望まれていた。
電圧近くの大電力を供給でき、無信号時の電源電圧に対
する消費電流の変動を小さくできる演算増幅器の出現が
望まれていた。
【0006】
【課題を解決するための手段】そこで、この発明の演算
増幅器によれば、Nチャネルトランジスタを差動増幅素
子として入力信号の差動増幅を行う第1差動増幅段と、
Pチャネルトランジスタを差動増幅素子として入力信号
の差動増幅を行う第2差動増幅段と、第1差動増幅段の
出力を逆相で増幅する第1増幅段と、第2差動増幅段の
出力を逆相で増幅する第2増幅段と、第1電源電位にソ
ースが接続されたPチャネルトランジスタと第2電源電
位にソースが接続されたNチャネルトランジスタとを有
し、第1および第2差動増幅段の出力に基づき相補的動
作を行う出力段と、第1増幅段の出力を第1電源電位の
方向にレベルシフトして、出力段のNチャネルトランジ
スタのゲートを制御する第1レベルシフト段と、第2増
幅段の出力を第2電源電位の方向にレベルシフトして、
出力段のPチャネルトランジスタのゲートを制御する第
2レベルシフト段とを具えることを特徴とする。
増幅器によれば、Nチャネルトランジスタを差動増幅素
子として入力信号の差動増幅を行う第1差動増幅段と、
Pチャネルトランジスタを差動増幅素子として入力信号
の差動増幅を行う第2差動増幅段と、第1差動増幅段の
出力を逆相で増幅する第1増幅段と、第2差動増幅段の
出力を逆相で増幅する第2増幅段と、第1電源電位にソ
ースが接続されたPチャネルトランジスタと第2電源電
位にソースが接続されたNチャネルトランジスタとを有
し、第1および第2差動増幅段の出力に基づき相補的動
作を行う出力段と、第1増幅段の出力を第1電源電位の
方向にレベルシフトして、出力段のNチャネルトランジ
スタのゲートを制御する第1レベルシフト段と、第2増
幅段の出力を第2電源電位の方向にレベルシフトして、
出力段のPチャネルトランジスタのゲートを制御する第
2レベルシフト段とを具えることを特徴とする。
【0007】このように演算増幅器を構成したので、入
力信号は第1差動増幅段により差動増幅される。この第
1差動増幅段の出力は第1増幅段により逆相で増幅され
る。一方、入力信号は第2差動増幅段により差動増幅さ
れる。この第2差動増幅段の出力は第2増幅段により逆
相で増幅される。第1および第2増幅段の増幅度が大き
ければ、その出力が第1電源電位および第2電源電位近
くまで振れる。また、第1増幅段の出力は第1レベルシ
フト段により第1電源電位の方向にレベルシフトされ
る。第2増幅段の出力は第2レベルシフト段により第2
電源電位の方向にレベルシフトされる。このように、第
1および第2増幅段の出力が電源電位近くになったと
き、出力段のトランジスタがオフ領域となることを避け
るために、それらのレベルをシフトさせる。従って、抵
抗負荷に対して電源電圧近くの大電力を供給でき、無信
号時の電源電圧に対する消費電流の変動を小さくでき
る。また、入力端子と出力段のNチャネルトランジスタ
のゲートとの間と、入力端子とPチャネルトランジスタ
のゲートとの間とを対称な構成としたので、波形歪みを
小さくできる。
力信号は第1差動増幅段により差動増幅される。この第
1差動増幅段の出力は第1増幅段により逆相で増幅され
る。一方、入力信号は第2差動増幅段により差動増幅さ
れる。この第2差動増幅段の出力は第2増幅段により逆
相で増幅される。第1および第2増幅段の増幅度が大き
ければ、その出力が第1電源電位および第2電源電位近
くまで振れる。また、第1増幅段の出力は第1レベルシ
フト段により第1電源電位の方向にレベルシフトされ
る。第2増幅段の出力は第2レベルシフト段により第2
電源電位の方向にレベルシフトされる。このように、第
1および第2増幅段の出力が電源電位近くになったと
き、出力段のトランジスタがオフ領域となることを避け
るために、それらのレベルをシフトさせる。従って、抵
抗負荷に対して電源電圧近くの大電力を供給でき、無信
号時の電源電圧に対する消費電流の変動を小さくでき
る。また、入力端子と出力段のNチャネルトランジスタ
のゲートとの間と、入力端子とPチャネルトランジスタ
のゲートとの間とを対称な構成としたので、波形歪みを
小さくできる。
【0008】また、この発明の演算増幅器において、好
ましくは、第1および第2増幅段の各々は増幅用トラン
ジスタおよび定電流素子により構成されており、第1増
幅段の増幅用トランジスタとして第1差動増幅段の負荷
トランジスタと実質的に同一特性のものを用いており、
第2増幅段の増幅用トランジスタとして第2差動増幅段
の負荷トランジスタと実質的に同一特性のものを用いて
いるのが良い。
ましくは、第1および第2増幅段の各々は増幅用トラン
ジスタおよび定電流素子により構成されており、第1増
幅段の増幅用トランジスタとして第1差動増幅段の負荷
トランジスタと実質的に同一特性のものを用いており、
第2増幅段の増幅用トランジスタとして第2差動増幅段
の負荷トランジスタと実質的に同一特性のものを用いて
いるのが良い。
【0009】このように構成すると、トランジスタ特性
の製造バラツキを補償することができる。
の製造バラツキを補償することができる。
【0010】また、この発明の演算増幅器において、好
ましくは、第1および第2増幅段の出力直流電位は、こ
れら第1および第2増幅段の負荷素子を構成するトラン
ジスタのソースおよびドレイン間の電圧が当該トランジ
スタのスレッショルド電圧よりも小さくなるように設定
してあるのが良い。
ましくは、第1および第2増幅段の出力直流電位は、こ
れら第1および第2増幅段の負荷素子を構成するトラン
ジスタのソースおよびドレイン間の電圧が当該トランジ
スタのスレッショルド電圧よりも小さくなるように設定
してあるのが良い。
【0011】このように構成してあるので、電圧増幅度
を大きく取れる。
を大きく取れる。
【0012】また、この発明の演算増幅器において、好
ましくは、第1差動増幅段、第2差動増幅段、第1増幅
段、第2増幅段、第1レベルシフト段および第2レベル
シフト段の各々の定電流素子を実現するトランジスタの
バイアス電圧を、基準電源電圧を入力とするバイアス回
路で発生させるのが良い。
ましくは、第1差動増幅段、第2差動増幅段、第1増幅
段、第2増幅段、第1レベルシフト段および第2レベル
シフト段の各々の定電流素子を実現するトランジスタの
バイアス電圧を、基準電源電圧を入力とするバイアス回
路で発生させるのが良い。
【0013】このように、バイアス電圧は、基準電圧を
使ったバイアス回路で発生させるようにしたので、電源
電圧変化に対する増幅器の無信号時の消費電流変動を小
さくできる。
使ったバイアス回路で発生させるようにしたので、電源
電圧変化に対する増幅器の無信号時の消費電流変動を小
さくできる。
【0014】また、この発明の演算増幅器の実施に当た
り、定電流素子を実現するトランジスタは、バイアス回
路においてバイアス電圧を発生させるトランジスタと実
質的に同一特性のトランジスタであり、これらトランジ
スタ間がミラー接続されているのが好適である。
り、定電流素子を実現するトランジスタは、バイアス回
路においてバイアス電圧を発生させるトランジスタと実
質的に同一特性のトランジスタであり、これらトランジ
スタ間がミラー接続されているのが好適である。
【0015】このように、バイアスの供給は、同種のト
ランジスタのミラー接続で行う構成としたので、トラン
ジスタ特性の製造バラツキによる無信号時の消費電流変
動を小さくできる。
ランジスタのミラー接続で行う構成としたので、トラン
ジスタ特性の製造バラツキによる無信号時の消費電流変
動を小さくできる。
【0016】この発明の演算増幅器において、好ましく
は、バイアス回路は、Pチャネルトランジスタで構成さ
れる定電流素子に流れる電流を決める第1バイアス電
圧、およびNチャネルトランジスタで構成される定電流
素子に流れる電流を決める第2バイアス電圧を発生する
ものであり、これら第1および第2バイアス電圧の決定
は、1個のPチャネルトランジスタまたは1個のNチャ
ネルトランジスタと基準電源電圧とで行うように構成し
てあるのが良い。
は、バイアス回路は、Pチャネルトランジスタで構成さ
れる定電流素子に流れる電流を決める第1バイアス電
圧、およびNチャネルトランジスタで構成される定電流
素子に流れる電流を決める第2バイアス電圧を発生する
ものであり、これら第1および第2バイアス電圧の決定
は、1個のPチャネルトランジスタまたは1個のNチャ
ネルトランジスタと基準電源電圧とで行うように構成し
てあるのが良い。
【0017】また、この発明の演算増幅器において、好
ましくは、出力段のPチャネルトランジスタのゲートと
第1電源電位との間に第1パワーダウン制御用トランジ
スタを設けてあり、出力段のNチャネルトランジスタの
ゲートと第2電源電位との間に第2パワーダウン制御用
トランジスタを設けてあるのが良い。
ましくは、出力段のPチャネルトランジスタのゲートと
第1電源電位との間に第1パワーダウン制御用トランジ
スタを設けてあり、出力段のNチャネルトランジスタの
ゲートと第2電源電位との間に第2パワーダウン制御用
トランジスタを設けてあるのが良い。
【0018】このように、パワーダウン制御用トランジ
スタを設けることにより、無信号時の消費電流を無くす
ことができる。
スタを設けることにより、無信号時の消費電流を無くす
ことができる。
【0019】また、この発明の演算増幅器において、好
ましくは、出力段の出力端子と第2レベルシフト段の出
力端子との間に第1位相補償回路を設けてあり、出力段
の出力端子と第1レベルシフト段の出力端子との間に第
2位相補償回路を設けてあるのが良い。
ましくは、出力段の出力端子と第2レベルシフト段の出
力端子との間に第1位相補償回路を設けてあり、出力段
の出力端子と第1レベルシフト段の出力端子との間に第
2位相補償回路を設けてあるのが良い。
【0020】これら位相補償回路により、演算増幅器の
発振動作が抑止される。
発振動作が抑止される。
【0021】この発明の演算増幅器の実施に当たり、第
1増幅段は、第1電源電位にソースが接続され、第1差
動増幅段の出力端子にゲートが接続されたPチャネルト
ランジスタと、第2電源電位にソースが接続され、ゲー
トが第2バイアス電位に接続され、ドレインがPチャネ
ルトランジスタのドレインに接続されたNチャネルトラ
ンジスタとを具えており、Pチャネルトランジスタのド
レインを出力端子とするのが好適である。
1増幅段は、第1電源電位にソースが接続され、第1差
動増幅段の出力端子にゲートが接続されたPチャネルト
ランジスタと、第2電源電位にソースが接続され、ゲー
トが第2バイアス電位に接続され、ドレインがPチャネ
ルトランジスタのドレインに接続されたNチャネルトラ
ンジスタとを具えており、Pチャネルトランジスタのド
レインを出力端子とするのが好適である。
【0022】また、この発明の演算増幅器の実施に当た
り、第2増幅段は、第2電源電位にソースが接続され、
第2差動増幅段の出力端子にゲートが接続されたNチャ
ネルトランジスタと、第1電源電位にソースが接続さ
れ、ゲートが第1バイアス電位に接続され、ドレインが
Nチャネルトランジスタのドレインに接続されたPチャ
ネルトランジスタとを具えており、Nチャネルトランジ
スタのドレインを出力端子とするのが好適である。
り、第2増幅段は、第2電源電位にソースが接続され、
第2差動増幅段の出力端子にゲートが接続されたNチャ
ネルトランジスタと、第1電源電位にソースが接続さ
れ、ゲートが第1バイアス電位に接続され、ドレインが
Nチャネルトランジスタのドレインに接続されたPチャ
ネルトランジスタとを具えており、Nチャネルトランジ
スタのドレインを出力端子とするのが好適である。
【0023】また、この発明の演算増幅器の実施に当た
り、第1レベルシフト段は、第1電源電位にソースが接
続され、第1バイアス電位にゲートが接続されたPチャ
ネルトランジスタと、第1増幅段の出力端子にソースが
接続され、ゲートおよびドレインが共通接続され、これ
らゲートおよびドレインの共通接続点がPチャネルトラ
ンジスタのドレインに接続されたNチャネルトランジス
タとを具えており、ゲートおよびドレインの共通接続点
を出力端子とするのが好適である。
り、第1レベルシフト段は、第1電源電位にソースが接
続され、第1バイアス電位にゲートが接続されたPチャ
ネルトランジスタと、第1増幅段の出力端子にソースが
接続され、ゲートおよびドレインが共通接続され、これ
らゲートおよびドレインの共通接続点がPチャネルトラ
ンジスタのドレインに接続されたNチャネルトランジス
タとを具えており、ゲートおよびドレインの共通接続点
を出力端子とするのが好適である。
【0024】また、この発明の演算増幅器の実施に当た
り、第2レベルシフト段は、第2電源電位にソースが接
続され、第2バイアス電位にゲートが接続されたNチャ
ネルトランジスタと、第2増幅段の出力端子にソースが
接続され、ゲートおよびドレインが共通接続され、これ
らゲートおよびドレインの共通接続点がNチャネルトラ
ンジスタのドレインに接続されたPチャネルトランジス
タとを具えており、ゲートおよびドレインの共通接続点
を出力端子とするのが好適である。
り、第2レベルシフト段は、第2電源電位にソースが接
続され、第2バイアス電位にゲートが接続されたNチャ
ネルトランジスタと、第2増幅段の出力端子にソースが
接続され、ゲートおよびドレインが共通接続され、これ
らゲートおよびドレインの共通接続点がNチャネルトラ
ンジスタのドレインに接続されたPチャネルトランジス
タとを具えており、ゲートおよびドレインの共通接続点
を出力端子とするのが好適である。
【0025】また、この発明の演算増幅器の実施に当た
り、第1位相補償回路は、第2レベルシフト段と出力段
の出力端子との間に、PチャネルトランジスタおよびN
チャネルトランジスタで構成したMOS抵抗と、キャパ
シタとを順次に直列に結合したものであり、Pチャネル
トランジスタのゲートが第2電源電位に接続され、Nチ
ャネルトランジスタのゲートが第1電源電位に接続され
ているのが好適である。
り、第1位相補償回路は、第2レベルシフト段と出力段
の出力端子との間に、PチャネルトランジスタおよびN
チャネルトランジスタで構成したMOS抵抗と、キャパ
シタとを順次に直列に結合したものであり、Pチャネル
トランジスタのゲートが第2電源電位に接続され、Nチ
ャネルトランジスタのゲートが第1電源電位に接続され
ているのが好適である。
【0026】また、この発明の演算増幅器の実施に当た
り、第2位相補償回路は、第1レベルシフト段と出力段
の出力端子との間に、PチャネルトランジスタおよびN
チャネルトランジスタで構成したMOS抵抗と、キャパ
シタとを順次に直列に結合したものであり、Pチャネル
トランジスタのゲートが第2電源電位に接続され、Nチ
ャネルトランジスタのゲートが第1電源電位に接続され
ているのが好適である。
り、第2位相補償回路は、第1レベルシフト段と出力段
の出力端子との間に、PチャネルトランジスタおよびN
チャネルトランジスタで構成したMOS抵抗と、キャパ
シタとを順次に直列に結合したものであり、Pチャネル
トランジスタのゲートが第2電源電位に接続され、Nチ
ャネルトランジスタのゲートが第1電源電位に接続され
ているのが好適である。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して、この発明の
実施の形態につき説明する。尚、図は、この発明の構
成、配置関係および接続関係が理解できる程度に概略的
に示されているに過ぎない。また、以下に記載される数
値等の条件は単なる一例に過ぎない。従って、この発明
は、この実施の形態に何ら限定されることがない。
実施の形態につき説明する。尚、図は、この発明の構
成、配置関係および接続関係が理解できる程度に概略的
に示されているに過ぎない。また、以下に記載される数
値等の条件は単なる一例に過ぎない。従って、この発明
は、この実施の形態に何ら限定されることがない。
【0028】<演算増幅器の構成>図1を参照して、こ
の実施の形態の演算増幅器の構成につき説明する。図1
は、演算増幅器の構成を示す回路図である。この演算増
幅器は、第1差動増幅段10、第1増幅段20、第1レ
ベルシフト段30、第2差動増幅段40、第2増幅段5
0、第2レベルシフト段60、出力段70、第1位相補
償回路80および第2位相補償回路90により構成され
ている。また、演算増幅器は、第1電源端子第2電源端
子V−、第1入力端子1、第2入力端子2、出力端子
3、第1バイアス電圧入力端子4、第2バイアス電圧入
力端子5、第1パワーダウン制御信号入力端子6および
第2パワーダウン制御信号入力端子7を具えている。こ
の実施の形態において、第1電源端子V+の電位(以
下、第1電源電位V+と称する場合もある。)は、第2
電源端子V−の電位(以下、第2電源電位V−と称する
場合もある。)より高い電圧としてある。また、第1バ
イアス電圧入力端子4には第1バイアス電圧Vb1が供
給される。また、第2バイアス電圧入力端子5には第2
バイアス電圧Vb2が供給される。
の実施の形態の演算増幅器の構成につき説明する。図1
は、演算増幅器の構成を示す回路図である。この演算増
幅器は、第1差動増幅段10、第1増幅段20、第1レ
ベルシフト段30、第2差動増幅段40、第2増幅段5
0、第2レベルシフト段60、出力段70、第1位相補
償回路80および第2位相補償回路90により構成され
ている。また、演算増幅器は、第1電源端子第2電源端
子V−、第1入力端子1、第2入力端子2、出力端子
3、第1バイアス電圧入力端子4、第2バイアス電圧入
力端子5、第1パワーダウン制御信号入力端子6および
第2パワーダウン制御信号入力端子7を具えている。こ
の実施の形態において、第1電源端子V+の電位(以
下、第1電源電位V+と称する場合もある。)は、第2
電源端子V−の電位(以下、第2電源電位V−と称する
場合もある。)より高い電圧としてある。また、第1バ
イアス電圧入力端子4には第1バイアス電圧Vb1が供
給される。また、第2バイアス電圧入力端子5には第2
バイアス電圧Vb2が供給される。
【0029】第1差動増幅段10は、Nチャネル型MO
Sトランジスタ(以下、NMOSと略称する。)を差動
増幅素子として入力信号の差動増幅を行うものである。
すなわち、第1入力端子1および第2入力端子2の入力
電圧差に応じた差動増幅を行って、ノードN1へ出力す
るものである。第1差動増幅段10は、入力用のNMO
S11、12、定電流源用のNMOS13、および負荷
用のPMOS14、15により構成される。NMOS1
1、12のゲートは、第1入力端子1および第2入力端
子2にそれぞれ接続されている。NMOS11、12の
各ソースおよびサブストレートは、NMOS13のドレ
インに共通接続されている。NMOS13のゲートが第
2バイアス電圧入力端子5に接続され、NMOS13の
ソースが第2電源端子V−に接続されている。PMOS
14、15の各ゲートは、PMOS14のドレインに接
続されるとともに、NMOS11のドレインに接続され
ている。PMOS15のドレインは、NMOS12のド
レインに接続されるとともに、ノードN1に接続されて
いる。
Sトランジスタ(以下、NMOSと略称する。)を差動
増幅素子として入力信号の差動増幅を行うものである。
すなわち、第1入力端子1および第2入力端子2の入力
電圧差に応じた差動増幅を行って、ノードN1へ出力す
るものである。第1差動増幅段10は、入力用のNMO
S11、12、定電流源用のNMOS13、および負荷
用のPMOS14、15により構成される。NMOS1
1、12のゲートは、第1入力端子1および第2入力端
子2にそれぞれ接続されている。NMOS11、12の
各ソースおよびサブストレートは、NMOS13のドレ
インに共通接続されている。NMOS13のゲートが第
2バイアス電圧入力端子5に接続され、NMOS13の
ソースが第2電源端子V−に接続されている。PMOS
14、15の各ゲートは、PMOS14のドレインに接
続されるとともに、NMOS11のドレインに接続され
ている。PMOS15のドレインは、NMOS12のド
レインに接続されるとともに、ノードN1に接続されて
いる。
【0030】第1増幅段20は、第1差動増幅段10の
出力すなわちノードN1の電圧を逆相で増幅するもので
あり、PMOS21およびNMOS22により構成され
る。PMOS21のゲートはノードN1に接続されてい
る。PMOS21のドレインはノードN3およびNMO
S22のドレインに接続され、PMOS21のソースは
第1電源端子V+に接続されている。NMOS22のゲ
ートは第2バイアス電圧入力端子5に接続され、NMO
S22のソースは第2電源端子V−に接続されている。
この第1増幅段20の増幅用トランジスタPMOS21
は、第1差動増幅段10の負荷トランジスタPMOS1
4、15と実質的に同一の特性のものとする。
出力すなわちノードN1の電圧を逆相で増幅するもので
あり、PMOS21およびNMOS22により構成され
る。PMOS21のゲートはノードN1に接続されてい
る。PMOS21のドレインはノードN3およびNMO
S22のドレインに接続され、PMOS21のソースは
第1電源端子V+に接続されている。NMOS22のゲ
ートは第2バイアス電圧入力端子5に接続され、NMO
S22のソースは第2電源端子V−に接続されている。
この第1増幅段20の増幅用トランジスタPMOS21
は、第1差動増幅段10の負荷トランジスタPMOS1
4、15と実質的に同一の特性のものとする。
【0031】第1レベルシフト段30は、第1増幅段2
0の出力すなわちノードN3の電圧を第1電源電位V+
の方向にレベルシフトしてノードN4へ出力するもので
あり、MOSダイオード接続されたNMOS31、PM
OS32およびキャパシタ33により構成されている。
NMOS31のソースはノードN3に接続され、そのゲ
ートおよびドレインはノードN4に接続されるとともに
PMOS32のドレインに接続されている。PMOS3
2のゲートは第1バイアス電圧入力端子4に接続されて
おり、そのソースは第1電源端子V+に接続されて、定
電流源として働く。キャパシタ33は、NMOS31の
ソースおよびドレイン間に接続されている。
0の出力すなわちノードN3の電圧を第1電源電位V+
の方向にレベルシフトしてノードN4へ出力するもので
あり、MOSダイオード接続されたNMOS31、PM
OS32およびキャパシタ33により構成されている。
NMOS31のソースはノードN3に接続され、そのゲ
ートおよびドレインはノードN4に接続されるとともに
PMOS32のドレインに接続されている。PMOS3
2のゲートは第1バイアス電圧入力端子4に接続されて
おり、そのソースは第1電源端子V+に接続されて、定
電流源として働く。キャパシタ33は、NMOS31の
ソースおよびドレイン間に接続されている。
【0032】第2差動増幅段40は、PMOSを差動増
幅素子として入力信号の差動増幅を行うものであり、す
なわち、第1入力端子1および第2入力端子2の入力電
圧差に応じた差動増幅を行ってノードN2へ出力するも
のである。第2差動増幅段40は、入力用のPMOS4
1、42、定電流源用のPMOS43、および負荷用の
NMOS44、45により構成される。PMOS41、
42のゲートは、第1入力端子1および第2入力端子2
にそれぞれ接続されている。PMOS41、42の各ソ
ースは、PMOS43のドレインに共通接続されてい
る。PMOS43のゲートが第1バイアス電圧入力端子
4に接続され、PMOS43のソースが第1電源端子V
+に接続されている。NMOS44、45の各ゲート
は、NMOS44のドレインに接続されるとともに、P
MOS41のドレインに接続されている。NMOS45
のドレインは、PMOS42のドレインに接続されると
ともに、ノードN2に接続されている。
幅素子として入力信号の差動増幅を行うものであり、す
なわち、第1入力端子1および第2入力端子2の入力電
圧差に応じた差動増幅を行ってノードN2へ出力するも
のである。第2差動増幅段40は、入力用のPMOS4
1、42、定電流源用のPMOS43、および負荷用の
NMOS44、45により構成される。PMOS41、
42のゲートは、第1入力端子1および第2入力端子2
にそれぞれ接続されている。PMOS41、42の各ソ
ースは、PMOS43のドレインに共通接続されてい
る。PMOS43のゲートが第1バイアス電圧入力端子
4に接続され、PMOS43のソースが第1電源端子V
+に接続されている。NMOS44、45の各ゲート
は、NMOS44のドレインに接続されるとともに、P
MOS41のドレインに接続されている。NMOS45
のドレインは、PMOS42のドレインに接続されると
ともに、ノードN2に接続されている。
【0033】第2増幅段50は、第2差動増幅段40の
出力すなわちノードN2の電圧を逆相で増幅するもので
あり、NMOS51およびPMOS52により構成され
る。NMOS51のゲートはノードN2に接続されてい
る。NMOS51のドレインはノードN5およびPMO
S52のドレインに接続され、NMOS51のソースは
第2電源端子V−に接続されている。PMOS52のゲ
ートは第1バイアス電圧入力端子4に接続され、PMO
S52のソースは第1電源端子V+に接続されている。
この第2増幅段50の増幅用トランジスタNMOS51
は、第2差動増幅段40の負荷トランジスタNMOS4
4、45と実質的に同一の特性のものとする。
出力すなわちノードN2の電圧を逆相で増幅するもので
あり、NMOS51およびPMOS52により構成され
る。NMOS51のゲートはノードN2に接続されてい
る。NMOS51のドレインはノードN5およびPMO
S52のドレインに接続され、NMOS51のソースは
第2電源端子V−に接続されている。PMOS52のゲ
ートは第1バイアス電圧入力端子4に接続され、PMO
S52のソースは第1電源端子V+に接続されている。
この第2増幅段50の増幅用トランジスタNMOS51
は、第2差動増幅段40の負荷トランジスタNMOS4
4、45と実質的に同一の特性のものとする。
【0034】第2レベルシフト段60は、第2増幅段5
0の出力すなわちノードN5の電圧を第2電源電位V−
の方向にレベルシフトしてノードN6へ出力するもので
あり、MOSダイオード接続されたPMOS61、NM
OS62およびキャパシタ63により構成されている。
PMOS61のソースはノードN5に接続され、そのゲ
ートおよびドレインはノードN6に接続されるとともに
NMOS62のドレインに接続されている。NMOS6
2のゲートは第2バイアス電圧入力端子5に接続されて
おり、そのソースは第2電源端子V−に接続されて、定
電流源として働く。キャパシタ63は、PMOS61の
ソースおよびドレイン間に接続されている。
0の出力すなわちノードN5の電圧を第2電源電位V−
の方向にレベルシフトしてノードN6へ出力するもので
あり、MOSダイオード接続されたPMOS61、NM
OS62およびキャパシタ63により構成されている。
PMOS61のソースはノードN5に接続され、そのゲ
ートおよびドレインはノードN6に接続されるとともに
NMOS62のドレインに接続されている。NMOS6
2のゲートは第2バイアス電圧入力端子5に接続されて
おり、そのソースは第2電源端子V−に接続されて、定
電流源として働く。キャパシタ63は、PMOS61の
ソースおよびドレイン間に接続されている。
【0035】出力段70は、第1電源電位V+にソース
が接続されたPMOS71と第2電源電位V−にソース
が接続されたNMOS72とを有し、第1差動増幅段1
0および第2差動増幅段40の出力に基づき相補的動作
を行うものである。出力段70は、ノードN4およびノ
ードN6の電圧によって駆動される出力電圧を出力端子
3へ出力するものである。PMOS71のソースが第1
電源端子V+に接続され、そのゲートがノードN6に接
続され、そのドレインが出力端子3およびNMOS72
のドレインに接続されている。従って、ノードN6の電
圧によりPMOS71のゲートが制御される。NMOS
72のゲートがノードN4に接続されており、そのソー
スが第2電源端子V−に接続されている。従って、ノー
ドN6の電圧によりNMOS72のゲートが制御され
る。
が接続されたPMOS71と第2電源電位V−にソース
が接続されたNMOS72とを有し、第1差動増幅段1
0および第2差動増幅段40の出力に基づき相補的動作
を行うものである。出力段70は、ノードN4およびノ
ードN6の電圧によって駆動される出力電圧を出力端子
3へ出力するものである。PMOS71のソースが第1
電源端子V+に接続され、そのゲートがノードN6に接
続され、そのドレインが出力端子3およびNMOS72
のドレインに接続されている。従って、ノードN6の電
圧によりPMOS71のゲートが制御される。NMOS
72のゲートがノードN4に接続されており、そのソー
スが第2電源端子V−に接続されている。従って、ノー
ドN6の電圧によりNMOS72のゲートが制御され
る。
【0036】また、出力段70の出力端子3と第2レベ
ルシフト段60の出力端子N6との間に第1位相補償回
路80を設けてあり、出力段70の出力端子3と第1レ
ベルシフト段30の出力端子N4との間に第2位相補償
回路90を設けてある。
ルシフト段60の出力端子N6との間に第1位相補償回
路80を設けてあり、出力段70の出力端子3と第1レ
ベルシフト段30の出力端子N4との間に第2位相補償
回路90を設けてある。
【0037】第1位相補償回路80は、PMOS81、
NMOS82およびキャパシタ83により構成されてい
る。PMOS81およびNMOS82の各々のソース間
とドレイン間とを接続して、MOS抵抗を構成してあ
る。PMOS81のゲートは第2電源端子V−に接続さ
れている。NMOS82のゲートは第1電源端子V+に
接続されている。このMOS抵抗とキャパシタ83とは
互いに直列に接続されて、ノードN6および出力端子3
間に接続されている。
NMOS82およびキャパシタ83により構成されてい
る。PMOS81およびNMOS82の各々のソース間
とドレイン間とを接続して、MOS抵抗を構成してあ
る。PMOS81のゲートは第2電源端子V−に接続さ
れている。NMOS82のゲートは第1電源端子V+に
接続されている。このMOS抵抗とキャパシタ83とは
互いに直列に接続されて、ノードN6および出力端子3
間に接続されている。
【0038】第2位相補償回路90は、PMOS91、
NMOS92およびキャパシタ93により構成されてい
る。PMOS91およびNMOS92の各々のソース間
とドレイン間とを接続して、MOS抵抗を構成してあ
る。PMOS91のゲートは第2電源端子V−に接続さ
れている。NMOS92のゲートは第1電源端子V+に
接続されている。このMOS抵抗とキャパシタ93とは
互いに直列に接続されており、ノードN4および出力端
子3間に接続されている。
NMOS92およびキャパシタ93により構成されてい
る。PMOS91およびNMOS92の各々のソース間
とドレイン間とを接続して、MOS抵抗を構成してあ
る。PMOS91のゲートは第2電源端子V−に接続さ
れている。NMOS92のゲートは第1電源端子V+に
接続されている。このMOS抵抗とキャパシタ93とは
互いに直列に接続されており、ノードN4および出力端
子3間に接続されている。
【0039】また、出力段70のPMOS71のゲート
と第1電源電位V+との間に第1パワーダウン制御用ト
ランジスタとしてPMOS101を設けてある。さら
に、出力段70のNMOS72のゲートと第2電源電位
V−との間に第2パワーダウン制御用トランジスタとし
てNMOS102を設けてある。PMOS101のゲー
トは第1パワーダウン制御信号入力端子6に接続され、
そのソースは第1電源端子V+に接続され、そのドレイ
ンはノードN6に接続されている。NMOS102のゲ
ートは第2パワーダウン制御信号入力端子7に接続さ
れ、そのソースは第2電源端子V−に接続され、そのド
レインはノードN4に接続されている。
と第1電源電位V+との間に第1パワーダウン制御用ト
ランジスタとしてPMOS101を設けてある。さら
に、出力段70のNMOS72のゲートと第2電源電位
V−との間に第2パワーダウン制御用トランジスタとし
てNMOS102を設けてある。PMOS101のゲー
トは第1パワーダウン制御信号入力端子6に接続され、
そのソースは第1電源端子V+に接続され、そのドレイ
ンはノードN6に接続されている。NMOS102のゲ
ートは第2パワーダウン制御信号入力端子7に接続さ
れ、そのソースは第2電源端子V−に接続され、そのド
レインはノードN4に接続されている。
【0040】この実施の形態の演算増幅器では、第1差
動増幅段10、第2差動増幅段40第1増幅段20、第
2増幅段50、第1レベルシフト段30および第2レベ
ルシフト段60の各々の定電流素子を実現するトランジ
スタ(すなわちNMOS13、22、62、PMOS4
3、52、32)のバイアス電圧を、基準電源電圧を入
力とするバイアス回路で発生させる。
動増幅段10、第2差動増幅段40第1増幅段20、第
2増幅段50、第1レベルシフト段30および第2レベ
ルシフト段60の各々の定電流素子を実現するトランジ
スタ(すなわちNMOS13、22、62、PMOS4
3、52、32)のバイアス電圧を、基準電源電圧を入
力とするバイアス回路で発生させる。
【0041】図2は、この実施の形態の演算増幅器に用
いられるバイアス回路の第1構成を示す回路図である。
このバイアス回路は、PMOSで構成される定電流素子
(すなわちPMOS43、52、32)に流れる電流を
決める第1バイアス電圧Vb1、およびNMOSで構成
される定電流素子(すなわちNMOS13、22、6
2)に流れる電流を決める第2バイアス電圧Vb2を発
生するものである。また、これら第1バイアス電圧Vb
1および第2バイアス電圧Vb2の決定は、1個のPM
OSまたは1個のNMOSと基準電源電圧とで行うよう
に構成してある。
いられるバイアス回路の第1構成を示す回路図である。
このバイアス回路は、PMOSで構成される定電流素子
(すなわちPMOS43、52、32)に流れる電流を
決める第1バイアス電圧Vb1、およびNMOSで構成
される定電流素子(すなわちNMOS13、22、6
2)に流れる電流を決める第2バイアス電圧Vb2を発
生するものである。また、これら第1バイアス電圧Vb
1および第2バイアス電圧Vb2の決定は、1個のPM
OSまたは1個のNMOSと基準電源電圧とで行うよう
に構成してある。
【0042】バイアス回路は、基準電圧入力端子20
1、第1バイアス電圧出力端子202、第2バイアス電
圧出力端子203、パワーダウン制御信号入力端子20
8、パワーダウン反転信号出力端子214、第1電源端
子V+および第2電源端子V−を具えている。バイアス
回路は、PMOS205、206、209、212、N
MOS204、207、210、211およびインバー
タ213により構成されている。
1、第1バイアス電圧出力端子202、第2バイアス電
圧出力端子203、パワーダウン制御信号入力端子20
8、パワーダウン反転信号出力端子214、第1電源端
子V+および第2電源端子V−を具えている。バイアス
回路は、PMOS205、206、209、212、N
MOS204、207、210、211およびインバー
タ213により構成されている。
【0043】PMOS209のソースは基準電圧入力端
子201に接続されており、そのゲートはパワーダウン
制御信号入力端子208に接続され、そのドレインはN
MOS210のドレインおよびNMOS204のゲート
に共通接続されている。NMOS210のゲートはパワ
ーダウン制御信号入力端子208に接続されている。N
MOS204のドレインは、PMOS205のゲートお
よびドレインと、PMOS212のドレインと、PMO
S206のゲートと、第1バイアス電圧出力端子202
とに接続される。PMOS206のドレインは、NMO
S207のドレインおよびゲートと、NMOS211の
ドレインと、第2バイアス電圧出力端子203とに接続
される。NMOS211のゲートは、パワーダウン制御
信号入力端子208に接続される。インバータ213の
入力はパワーダウン制御信号入力端子208に接続され
ており、インバータ213の出力はPMOS212のゲ
ートおよびパワーダウン反転信号出力端子214に接続
される。NMOS204、207、210、211のソ
ースは第2電源端子V−に接続され、PMOS205、
206、212のソースは第1電源端子V+に接続され
る。
子201に接続されており、そのゲートはパワーダウン
制御信号入力端子208に接続され、そのドレインはN
MOS210のドレインおよびNMOS204のゲート
に共通接続されている。NMOS210のゲートはパワ
ーダウン制御信号入力端子208に接続されている。N
MOS204のドレインは、PMOS205のゲートお
よびドレインと、PMOS212のドレインと、PMO
S206のゲートと、第1バイアス電圧出力端子202
とに接続される。PMOS206のドレインは、NMO
S207のドレインおよびゲートと、NMOS211の
ドレインと、第2バイアス電圧出力端子203とに接続
される。NMOS211のゲートは、パワーダウン制御
信号入力端子208に接続される。インバータ213の
入力はパワーダウン制御信号入力端子208に接続され
ており、インバータ213の出力はPMOS212のゲ
ートおよびパワーダウン反転信号出力端子214に接続
される。NMOS204、207、210、211のソ
ースは第2電源端子V−に接続され、PMOS205、
206、212のソースは第1電源端子V+に接続され
る。
【0044】演算増幅器とバイアス回路との接続は、第
1バイアス電圧出力端子202を第1バイアス電圧入力
端子4に接続し、第2バイアス電圧出力端子203を第
2バイアス電圧入力端子5に接続し、パワーダウン反転
信号出力端子214を第1パワーダウン制御信号入力端
子6に接続し、パワーダウン制御信号入力端子208を
第2パワーダウン制御信号入力端子7に接続する。
1バイアス電圧出力端子202を第1バイアス電圧入力
端子4に接続し、第2バイアス電圧出力端子203を第
2バイアス電圧入力端子5に接続し、パワーダウン反転
信号出力端子214を第1パワーダウン制御信号入力端
子6に接続し、パワーダウン制御信号入力端子208を
第2パワーダウン制御信号入力端子7に接続する。
【0045】以上説明したバイアス回路は、基準電圧の
電位が第2電源電位V−を基準電位とするときに用いる
のが好適である。基準電圧の基準電位が第1電源電位V
+のときには、次に説明する構成のバイアス回路を用い
るのが好適である。
電位が第2電源電位V−を基準電位とするときに用いる
のが好適である。基準電圧の基準電位が第1電源電位V
+のときには、次に説明する構成のバイアス回路を用い
るのが好適である。
【0046】図3は、バイアス回路の第2構成を示す回
路図である。このバイアス回路は、基準電圧入力端子3
01、第1バイアス電圧出力端子302、第2バイアス
電圧出力端子303、パワーダウン制御信号入力端子3
08、パワーダウン反転信号出力端子314、第1電源
端子V+および第2電源端子V−を具えている。バイア
ス回路は、NMOS305、306、309、312、
PMOS304、307、310、311およびインバ
ータ313により構成されている。
路図である。このバイアス回路は、基準電圧入力端子3
01、第1バイアス電圧出力端子302、第2バイアス
電圧出力端子303、パワーダウン制御信号入力端子3
08、パワーダウン反転信号出力端子314、第1電源
端子V+および第2電源端子V−を具えている。バイア
ス回路は、NMOS305、306、309、312、
PMOS304、307、310、311およびインバ
ータ313により構成されている。
【0047】NMOS309のソースは基準電圧入力端
子301に接続されており、そのゲートはパワーダウン
反転信号出力端子314に接続され、そのドレインはP
MOS310のドレインおよびPMOS304のゲート
に共通接続されている。PMOS310のゲートはパワ
ーダウン反転信号出力端子314に接続されている。P
MOS304のドレインは、NMOS305のゲートお
よびドレインと、NMOS312のドレインと、NMO
S306のゲートと、第2バイアス電圧出力端子303
とに接続される。NMOS306のドレインは、PMO
S307のドレインおよびゲートと、PMOS311の
ドレインと、第1バイアス電圧出力端子302とに接続
される。PMOS311のゲートは、パワーダウン反転
信号出力端子314に接続される。インバータ313の
出力はパワーダウン反転信号出力端子314に接続され
ており、インバータ313の入力はNMOS312のゲ
ートおよびパワーダウン制御信号入力端子308に接続
される。PMOS304、307、310、311のソ
ースは第1電源端子V+に接続され、NMOS305、
306、312のソースは第2電源端子V−に接続され
る。
子301に接続されており、そのゲートはパワーダウン
反転信号出力端子314に接続され、そのドレインはP
MOS310のドレインおよびPMOS304のゲート
に共通接続されている。PMOS310のゲートはパワ
ーダウン反転信号出力端子314に接続されている。P
MOS304のドレインは、NMOS305のゲートお
よびドレインと、NMOS312のドレインと、NMO
S306のゲートと、第2バイアス電圧出力端子303
とに接続される。NMOS306のドレインは、PMO
S307のドレインおよびゲートと、PMOS311の
ドレインと、第1バイアス電圧出力端子302とに接続
される。PMOS311のゲートは、パワーダウン反転
信号出力端子314に接続される。インバータ313の
出力はパワーダウン反転信号出力端子314に接続され
ており、インバータ313の入力はNMOS312のゲ
ートおよびパワーダウン制御信号入力端子308に接続
される。PMOS304、307、310、311のソ
ースは第1電源端子V+に接続され、NMOS305、
306、312のソースは第2電源端子V−に接続され
る。
【0048】演算増幅器とバイアス回路との間の接続
は、第1バイアス電圧出力端子302を第1バイアス電
圧入力端子4に接続し、第2バイアス電圧出力端子30
3を第2バイアス電圧入力端子5に接続し、パワーダウ
ン反転信号出力端子314を第1パワーダウン制御信号
入力端子6に接続し、パワーダウン制御信号入力端子3
08を第2パワーダウン制御信号入力端子7に接続す
る。
は、第1バイアス電圧出力端子302を第1バイアス電
圧入力端子4に接続し、第2バイアス電圧出力端子30
3を第2バイアス電圧入力端子5に接続し、パワーダウ
ン反転信号出力端子314を第1パワーダウン制御信号
入力端子6に接続し、パワーダウン制御信号入力端子3
08を第2パワーダウン制御信号入力端子7に接続す
る。
【0049】<演算増幅器の動作>以下、演算増幅器の
動作につき、図4を参照して説明する。図4は、演算増
幅器の動作の説明に供するグラフである。図4に示す各
グラフは、横軸に時間を取り、縦軸に電圧を取ってい
る。入力端子1、2に信号が入力された時点を基準時間
t0とする。
動作につき、図4を参照して説明する。図4は、演算増
幅器の動作の説明に供するグラフである。図4に示す各
グラフは、横軸に時間を取り、縦軸に電圧を取ってい
る。入力端子1、2に信号が入力された時点を基準時間
t0とする。
【0050】上述の第1差動増幅段10により、第1入
力端子1および第2入力端子2に入力される信号は差動
増幅されてノードN1に出力される。その出力信号は第
1入力端子1の位相に対して同相である(図4のN
1)。尚、その出力信号の直流電圧成分は、第1電源端
子V+とノードN1との間の電圧がPMOS14、15
のスレッショルド電圧よりやや大きな値となるように設
定されている。
力端子1および第2入力端子2に入力される信号は差動
増幅されてノードN1に出力される。その出力信号は第
1入力端子1の位相に対して同相である(図4のN
1)。尚、その出力信号の直流電圧成分は、第1電源端
子V+とノードN1との間の電圧がPMOS14、15
のスレッショルド電圧よりやや大きな値となるように設
定されている。
【0051】続いて、第1増幅段20により、ノードN
1における入力信号が反転増幅されてノードN3に出力
される。ノードN3の直流電位は、NMOS22のドレ
インおよびソース間電圧がこのNMOS22のスレッシ
ョルド電圧より十分小さい値になるように設定されてい
る(図4のN3)。
1における入力信号が反転増幅されてノードN3に出力
される。ノードN3の直流電位は、NMOS22のドレ
インおよびソース間電圧がこのNMOS22のスレッシ
ョルド電圧より十分小さい値になるように設定されてい
る(図4のN3)。
【0052】次に、第1レベルシフト段30により、ノ
ードN3に入力された信号がレベルシフトされてノード
N4に出力される。その出力信号は、入力に対して同相
であり、直流電位がNMOS31のスレッショルド電圧
分だけ第1電源端子V+の電位方向にシフトされている
(図4のN4)。
ードN3に入力された信号がレベルシフトされてノード
N4に出力される。その出力信号は、入力に対して同相
であり、直流電位がNMOS31のスレッショルド電圧
分だけ第1電源端子V+の電位方向にシフトされている
(図4のN4)。
【0053】また、第1入力端子1および第2入力端子
2に入力された信号は第1差動増幅段10に入力される
とともに、第2差動増幅段40にも入力される。そし
て、第1入力端子1および第2入力端子2に入力される
信号は、第2差動増幅段40により差動増幅されてノー
ドN2に出力される。その出力信号は第1入力端子1の
位相に対して同相である(図4のN2)。尚、その出力
信号の直流電圧成分が、第2電源端子V−とノードN2
との間の電圧がNMOS44、45のスレッショルド電
圧よりやや大きな値となるように設定されている。
2に入力された信号は第1差動増幅段10に入力される
とともに、第2差動増幅段40にも入力される。そし
て、第1入力端子1および第2入力端子2に入力される
信号は、第2差動増幅段40により差動増幅されてノー
ドN2に出力される。その出力信号は第1入力端子1の
位相に対して同相である(図4のN2)。尚、その出力
信号の直流電圧成分が、第2電源端子V−とノードN2
との間の電圧がNMOS44、45のスレッショルド電
圧よりやや大きな値となるように設定されている。
【0054】次に、第2増幅段50により、ノードN2
における入力信号が反転増幅されてノードN5に出力さ
れる。ノードN5の直流電位は、PMOS52のドレイ
ンおよびソース間電圧がこのPMOS52のスレッショ
ルド電圧より十分小さい値になるように設定してある
(図4のN5)。
における入力信号が反転増幅されてノードN5に出力さ
れる。ノードN5の直流電位は、PMOS52のドレイ
ンおよびソース間電圧がこのPMOS52のスレッショ
ルド電圧より十分小さい値になるように設定してある
(図4のN5)。
【0055】また、第2レベルシフト段60により、ノ
ードN5に入力された信号がレベルシフトされてノード
N6に出力される。その出力信号は、入力に対して同相
であり、直流電位がPMOS61のスレッショルド電圧
分だけ第2電源端子V−の電位方向にシフトされている
(図4のN6)。
ードN5に入力された信号がレベルシフトされてノード
N6に出力される。その出力信号は、入力に対して同相
であり、直流電位がPMOS61のスレッショルド電圧
分だけ第2電源端子V−の電位方向にシフトされている
(図4のN6)。
【0056】そして、出力段70は、ノードN4および
ノードN6の信号を入力信号として出力端子3に出力す
る。ノードN4およびノードN6における信号は、第1
入力端子1および第2入力端子2に入力される信号に対
して相補の関係にある。すなわち、第1入力端子1の信
号が正方向(第1電源端子V+の電位方向)に入力され
た場合には、ノードN6から負方向(第2電源端子V−
の電位方向)に増幅された信号が出力される。このと
き、ノードN4では同様に負方向に出力されるが、NM
OS31がダイオード接続されているので、ノードN4
の電位はNMOS31のスレッショルド電圧でクリップ
される(図4のN4)。
ノードN6の信号を入力信号として出力端子3に出力す
る。ノードN4およびノードN6における信号は、第1
入力端子1および第2入力端子2に入力される信号に対
して相補の関係にある。すなわち、第1入力端子1の信
号が正方向(第1電源端子V+の電位方向)に入力され
た場合には、ノードN6から負方向(第2電源端子V−
の電位方向)に増幅された信号が出力される。このと
き、ノードN4では同様に負方向に出力されるが、NM
OS31がダイオード接続されているので、ノードN4
の電位はNMOS31のスレッショルド電圧でクリップ
される(図4のN4)。
【0057】同様に、第1入力端子1の信号が負方向に
入力された場合には、ノードN4から正方向に増幅され
た信号が出力される。このとき、ノードN6では同様に
正方向に出力されるが、PMOS61がダイオード接続
されているので、ノードN6の電位はPMOS61のス
レッショルド電圧でクリップされる(図4のN6)。
入力された場合には、ノードN4から正方向に増幅され
た信号が出力される。このとき、ノードN6では同様に
正方向に出力されるが、PMOS61がダイオード接続
されているので、ノードN6の電位はPMOS61のス
レッショルド電圧でクリップされる(図4のN6)。
【0058】このように、第1入力端子1に正方向の信
号が入力された場合、ノードN6から負方向の信号が出
力されるので、出力段70のPMOS71のゲートおよ
びソース間の電圧が大きくなり、PMOS71を通して
出力負荷に大電流を供給できる。このとき、出力段70
のNMOS72のゲートおよびソース間電圧はNMOS
72のスレッショルド電圧相当なので、NMOS72に
はほとんど電流が流れない。
号が入力された場合、ノードN6から負方向の信号が出
力されるので、出力段70のPMOS71のゲートおよ
びソース間の電圧が大きくなり、PMOS71を通して
出力負荷に大電流を供給できる。このとき、出力段70
のNMOS72のゲートおよびソース間電圧はNMOS
72のスレッショルド電圧相当なので、NMOS72に
はほとんど電流が流れない。
【0059】同様に、第1入力端子1に負方向の信号が
入力された場合、ノードN4から正方向の信号が出力さ
れるので、出力段70のNMOS72のゲートおよびソ
ース間電圧が大きくなり、NMOS72を通して出力負
荷側から大電流を吸引できる。このとき、出力段70の
PMOS71のゲートおよびソース間電圧はPMOS7
1のスレッショルド電圧相当なので、PMOS71には
ほとんど電流が流れない。
入力された場合、ノードN4から正方向の信号が出力さ
れるので、出力段70のNMOS72のゲートおよびソ
ース間電圧が大きくなり、NMOS72を通して出力負
荷側から大電流を吸引できる。このとき、出力段70の
PMOS71のゲートおよびソース間電圧はPMOS7
1のスレッショルド電圧相当なので、PMOS71には
ほとんど電流が流れない。
【0060】尚、上述の第1位相補償回路80および第
2位相補償回路90により、演算増幅器の発振動作が抑
止される。
2位相補償回路90により、演算増幅器の発振動作が抑
止される。
【0061】また、PMOS101およびNMOS10
2は、パワーダウン機能を実現するためのものであり、
図2および図3に示すバイアス回路のパワーダウン動作
と連動して、演算増幅器の不動作時の消費電流を0にす
る。
2は、パワーダウン機能を実現するためのものであり、
図2および図3に示すバイアス回路のパワーダウン動作
と連動して、演算増幅器の不動作時の消費電流を0にす
る。
【0062】次に、バイアス回路の動作につき説明す
る。図2のバイアス回路では、パワーダウン制御信号入
力端子208に第2電源端子電圧V−に等しい電圧が入
力されたとき、PMOS209のソースおよびドレイン
間が導通状態となり、PMOS212、NMOS21
0、211が非導通状態となる。従って、基準電圧入力
端子201に入力された電圧およびNMOS204のコ
ンダクタンスに応じた電流がNMOS204に流れ、こ
の電流と同じ値の電流がPMOS205にも流れる。第
1バイアス電圧出力端子202の電圧は、この電流とP
MOS205のコンダクタンスとで決まる値となる。P
MOS206は、PMOS205に対してミラー接続さ
れているので、PMOS206に流れる電流は、PMO
S205に流れる電流とPMOS205、PMOS20
6のコンダクタンス比とで決まる値となる。NMOS2
07に流れる電流はPMOS206に流れる電流と同じ
なので、第2バイアス電圧出力端子203の電圧は、こ
の電流とNMOS207のコンダクタンスとで決まる値
となる。このことは、PMOS205に流れる電流およ
びNMOS207に流れる電流は電源電圧に依存せず、
基準電圧値およびトランジスタのコンダクタンスに依存
するだけであることを示している。
る。図2のバイアス回路では、パワーダウン制御信号入
力端子208に第2電源端子電圧V−に等しい電圧が入
力されたとき、PMOS209のソースおよびドレイン
間が導通状態となり、PMOS212、NMOS21
0、211が非導通状態となる。従って、基準電圧入力
端子201に入力された電圧およびNMOS204のコ
ンダクタンスに応じた電流がNMOS204に流れ、こ
の電流と同じ値の電流がPMOS205にも流れる。第
1バイアス電圧出力端子202の電圧は、この電流とP
MOS205のコンダクタンスとで決まる値となる。P
MOS206は、PMOS205に対してミラー接続さ
れているので、PMOS206に流れる電流は、PMO
S205に流れる電流とPMOS205、PMOS20
6のコンダクタンス比とで決まる値となる。NMOS2
07に流れる電流はPMOS206に流れる電流と同じ
なので、第2バイアス電圧出力端子203の電圧は、こ
の電流とNMOS207のコンダクタンスとで決まる値
となる。このことは、PMOS205に流れる電流およ
びNMOS207に流れる電流は電源電圧に依存せず、
基準電圧値およびトランジスタのコンダクタンスに依存
するだけであることを示している。
【0063】また、図3のバイアス回路では、パワーダ
ウン制御信号入力端子308に第2電源端子電圧V−に
等しい電圧が入力されたとき、NMOS309のソース
およびドレイン間が導通状態となり、NMOS312、
PMOS310、311が非導通状態となる。従って、
基準電圧入力端子301に入力された電圧およびPMO
S304のコンダクタンスに応じた電流がPMOS30
4に流れ、この電流と同じ値の電流がNMOS305に
も流れる。第2バイアス電圧出力端子303の電圧は、
この電流とNMOS305のコンダクタンスとで決まる
値となる。NMOS306は、NMOS305に対して
ミラー接続されているので、NMOS306に流れる電
流は、NMOS305に流れる電流とNMOS305、
NMOS306のコンダクタンス比とで決まる値とな
る。PMOS307に流れる電流はNMOS306に流
れる電流と同じなので、第1バイアス電圧出力端子30
2の電圧は、この電流とPMOS307のコンダクタン
スとで決まる値となる。このことは、NMOS305に
流れる電流およびPMOS307に流れる電流は電源電
圧に依存せず、基準電圧値およびトランジスタのコンダ
クタンスに依存するだけであることを示している。
ウン制御信号入力端子308に第2電源端子電圧V−に
等しい電圧が入力されたとき、NMOS309のソース
およびドレイン間が導通状態となり、NMOS312、
PMOS310、311が非導通状態となる。従って、
基準電圧入力端子301に入力された電圧およびPMO
S304のコンダクタンスに応じた電流がPMOS30
4に流れ、この電流と同じ値の電流がNMOS305に
も流れる。第2バイアス電圧出力端子303の電圧は、
この電流とNMOS305のコンダクタンスとで決まる
値となる。NMOS306は、NMOS305に対して
ミラー接続されているので、NMOS306に流れる電
流は、NMOS305に流れる電流とNMOS305、
NMOS306のコンダクタンス比とで決まる値とな
る。PMOS307に流れる電流はNMOS306に流
れる電流と同じなので、第1バイアス電圧出力端子30
2の電圧は、この電流とPMOS307のコンダクタン
スとで決まる値となる。このことは、NMOS305に
流れる電流およびPMOS307に流れる電流は電源電
圧に依存せず、基準電圧値およびトランジスタのコンダ
クタンスに依存するだけであることを示している。
【0064】また、このように生成した第1バイアス電
圧、第2バイアス電圧を使う図1の演算増幅器は、PM
OS32、43、52がPMOS205またはPMOS
307とミラー関係にあるので、PMOS32、43、
52に流れる電流も電源電圧に依存しない。同様に、演
算増幅器のNMOS13、22、62がNMOS207
またはNMOS305とミラー関係にあるので、NMO
S13、22、62に流れる電流も電源電圧に依存しな
い。さらに、ミラー関係にあるMOSトランジスタの各
々は同種のMOSトランジスタであるので、集積回路と
して製造した場合のMOSトランジスタの特性の製造バ
ラツキに対しても電流変化の依存度が小さくできる。
圧、第2バイアス電圧を使う図1の演算増幅器は、PM
OS32、43、52がPMOS205またはPMOS
307とミラー関係にあるので、PMOS32、43、
52に流れる電流も電源電圧に依存しない。同様に、演
算増幅器のNMOS13、22、62がNMOS207
またはNMOS305とミラー関係にあるので、NMO
S13、22、62に流れる電流も電源電圧に依存しな
い。さらに、ミラー関係にあるMOSトランジスタの各
々は同種のMOSトランジスタであるので、集積回路と
して製造した場合のMOSトランジスタの特性の製造バ
ラツキに対しても電流変化の依存度が小さくできる。
【0065】従って、この実施の形態の演算増幅器によ
れば、以下の効果を奏する。
れば、以下の効果を奏する。
【0066】1)出力段70のPMOS71を駆動する
第2増幅段50と入力端子1、2との間に第2差動増幅
段40を設けたので、レベルシフト回路を削減できる。
第2増幅段50と入力端子1、2との間に第2差動増幅
段40を設けたので、レベルシフト回路を削減できる。
【0067】2)第1差動増幅段10の負荷素子PMO
S14、15は第1増幅段20の駆動素子PMOS21
と同じPMOSで構成したので、トランジスタ特性の製
造バラツキを補償できる。第2差動増幅段40の負荷素
子NMOS44、45は第2増幅段50の駆動素子NM
OS51と同じNMOSで構成したので、トランジスタ
特性の製造バラツキを補償できる。
S14、15は第1増幅段20の駆動素子PMOS21
と同じPMOSで構成したので、トランジスタ特性の製
造バラツキを補償できる。第2差動増幅段40の負荷素
子NMOS44、45は第2増幅段50の駆動素子NM
OS51と同じNMOSで構成したので、トランジスタ
特性の製造バラツキを補償できる。
【0068】3)入力端子1、2から出力段70のNM
OS72のゲート間と、入力端子1、2から出力段70
のPMOS71のゲート間との、増幅段およびレベルシ
フト段は対称な構成としたので波形歪みを小さくでき
る。
OS72のゲート間と、入力端子1、2から出力段70
のPMOS71のゲート間との、増幅段およびレベルシ
フト段は対称な構成としたので波形歪みを小さくでき
る。
【0069】4)バイアス電圧は、基準電圧を使ったバ
イアス回路で発生させるようにしたので、電源電圧に対
する増幅器の無信号時の消費電流変動を小さくできる。
イアス回路で発生させるようにしたので、電源電圧に対
する増幅器の無信号時の消費電流変動を小さくできる。
【0070】5)バイアスの供給は、同種のMOSトラ
ンジスタによるミラー接続で行っているので、トランジ
スタ特性の製造バラツキによる無信号時の消費電流変動
を小さくできる。
ンジスタによるミラー接続で行っているので、トランジ
スタ特性の製造バラツキによる無信号時の消費電流変動
を小さくできる。
【0071】この製造バラツキによる消費電流、すなわ
ち、電源端子間に流れる貫通電流が発生すると、この増
幅回路内部に直流電位の変動(オフセット)が発生す
る。許容値を超えるオフセットとなった場合、このオフ
セットの偏位方向により、PMOSトランジスタ、NM
OSトランジスタの両トランジスタが無負荷状態でも電
流が流れてしまう。その結果、電源端子間に大きな貫通
電流が流れてしまう。
ち、電源端子間に流れる貫通電流が発生すると、この増
幅回路内部に直流電位の変動(オフセット)が発生す
る。許容値を超えるオフセットとなった場合、このオフ
セットの偏位方向により、PMOSトランジスタ、NM
OSトランジスタの両トランジスタが無負荷状態でも電
流が流れてしまう。その結果、電源端子間に大きな貫通
電流が流れてしまう。
【0072】このオフセットによる貫通電流をも抑制で
きる本発明の他の実施の形態が以下に図面を参照しなが
ら説明される。この説明では、前述の実施の形態におけ
る部位と同一の部位には、同じ符号が用いられている。
きる本発明の他の実施の形態が以下に図面を参照しなが
ら説明される。この説明では、前述の実施の形態におけ
る部位と同一の部位には、同じ符号が用いられている。
【0073】図5は、本発明の他の実施の形態を示す図
であって、この形態の差動増幅器は第1の入力端子1、
第2の入力端子2、出力端子3、第1のバイアス電圧入
力端子4、第2のバイアス電圧入力端子5、第1のパワ
ーダウン制御信号入力端子6、第2のパワーダウン制御
信号入力端子7、第1の差動増幅段10、第1の増幅段
20、第1のレベルシフト段30、第2の差動増幅段4
0、第2の増幅段50、第2のレベルシフト段60、出
力段70、第1の位相補償回路80、第2の位相補償回
路90、第1の過電流検出回路200、第2の過電流検
出回路300、第1の電流補償トランジスタ400、第
2の電流補償トランジスタ500を付加した回路で構成
される。本実施の形態において、第1の電源端子V+の
電位は、第2の電源端子V−の電位より高い電位であ
る。
であって、この形態の差動増幅器は第1の入力端子1、
第2の入力端子2、出力端子3、第1のバイアス電圧入
力端子4、第2のバイアス電圧入力端子5、第1のパワ
ーダウン制御信号入力端子6、第2のパワーダウン制御
信号入力端子7、第1の差動増幅段10、第1の増幅段
20、第1のレベルシフト段30、第2の差動増幅段4
0、第2の増幅段50、第2のレベルシフト段60、出
力段70、第1の位相補償回路80、第2の位相補償回
路90、第1の過電流検出回路200、第2の過電流検
出回路300、第1の電流補償トランジスタ400、第
2の電流補償トランジスタ500を付加した回路で構成
される。本実施の形態において、第1の電源端子V+の
電位は、第2の電源端子V−の電位より高い電位であ
る。
【0074】第1の差動増幅段10では、Nチャネル型
MOSトランジスタ(以下NMOSと呼ぶ)11のゲー
トが第1の入力端子1に、ソースがNMOS13のドレ
インに、ドレインがPチャネル型MOSトランジスタ
(以下PMOSと呼ぶ)14のドレインに接続される。
NMOS12のゲートは、第2の入力端子2に、ソース
がNMOS13のドレインに、ドレインがPMOS15
のドレインに接続される。PMOS14のゲートは、同
PMOS14のドレイン及びPMOS15のゲートに接
続され、PMOS14及び15のソースは第1の電源端
子V+に接続される。NMOS13のゲートは第2のバ
イアス電圧入力端子5に、ソースを第2の電源端子V−
に接続される。第1の差動増幅段10の出力はノードN
1に接続される。
MOSトランジスタ(以下NMOSと呼ぶ)11のゲー
トが第1の入力端子1に、ソースがNMOS13のドレ
インに、ドレインがPチャネル型MOSトランジスタ
(以下PMOSと呼ぶ)14のドレインに接続される。
NMOS12のゲートは、第2の入力端子2に、ソース
がNMOS13のドレインに、ドレインがPMOS15
のドレインに接続される。PMOS14のゲートは、同
PMOS14のドレイン及びPMOS15のゲートに接
続され、PMOS14及び15のソースは第1の電源端
子V+に接続される。NMOS13のゲートは第2のバ
イアス電圧入力端子5に、ソースを第2の電源端子V−
に接続される。第1の差動増幅段10の出力はノードN
1に接続される。
【0075】第1の増幅段20では、PMOS21のゲ
ートがノードN1に、ソースが第1の電源端子V+に、
ドレインがNMOS22のドレインに接続される。NM
OS22のゲートは、第2のバイアス入力端子5に、ソ
ースが第2の電源端子V−に接続される。第1の増幅段
20の出力はノードN3に接続される。
ートがノードN1に、ソースが第1の電源端子V+に、
ドレインがNMOS22のドレインに接続される。NM
OS22のゲートは、第2のバイアス入力端子5に、ソ
ースが第2の電源端子V−に接続される。第1の増幅段
20の出力はノードN3に接続される。
【0076】第1のレベルシフト段30では、NMOS
31のソースがノードN3に、ゲート、ドレインは共通
にPMOS32のドレインに接続される。PMOS32
のゲートは第1のバイアス電圧入力端子4に、ソースは
第1の電源端子V+に接続される。キャパシタ33がN
MOS31のドレイン、ソース間に接続される。第1の
レベルシフト段30の出力はノードN4に接続される。
31のソースがノードN3に、ゲート、ドレインは共通
にPMOS32のドレインに接続される。PMOS32
のゲートは第1のバイアス電圧入力端子4に、ソースは
第1の電源端子V+に接続される。キャパシタ33がN
MOS31のドレイン、ソース間に接続される。第1の
レベルシフト段30の出力はノードN4に接続される。
【0077】第2の差動増幅段40では、PMOS41
のゲートが第1の入力端子1に、ソースがPMOS43
のドレインに、ドレインがNMOS44のドレインに接
続される。PMOS42のゲートは、第2の入力端子2
に、ソースがPMOS43のドレインに、ドレインがN
MOS45のドレインに接続される。NMOS44のゲ
ートは、同NMOS44のドレイン及びNMOS45の
ゲートに接続され、NMOS44及び45のソースは第
2の電源端子V−に接続される。PMOS43のゲート
は第1のバイアス電圧入力端子4に、ソースが第1の電
源端子V+に接続される。第2の差動増幅段40の出力
はノードN2に接続される。
のゲートが第1の入力端子1に、ソースがPMOS43
のドレインに、ドレインがNMOS44のドレインに接
続される。PMOS42のゲートは、第2の入力端子2
に、ソースがPMOS43のドレインに、ドレインがN
MOS45のドレインに接続される。NMOS44のゲ
ートは、同NMOS44のドレイン及びNMOS45の
ゲートに接続され、NMOS44及び45のソースは第
2の電源端子V−に接続される。PMOS43のゲート
は第1のバイアス電圧入力端子4に、ソースが第1の電
源端子V+に接続される。第2の差動増幅段40の出力
はノードN2に接続される。
【0078】第2の増幅段50では、NMOS51のゲ
ートがノードN2に、ソースが第2の電源端子V−に、
ドレインがPMOS52のドレインに接続される。PM
OS52のゲートは、第1のバイアス入力端子4に、ソ
ースが第1の電源端子V+に接続される。第2の増幅段
50の出力はノードN5に接続される。
ートがノードN2に、ソースが第2の電源端子V−に、
ドレインがPMOS52のドレインに接続される。PM
OS52のゲートは、第1のバイアス入力端子4に、ソ
ースが第1の電源端子V+に接続される。第2の増幅段
50の出力はノードN5に接続される。
【0079】第2のレベルシフト段60では、PMOS
61のソースがノードN5に、ゲート、ドレインは共通
にNMOS62のドレインに接続される。NMOS62
のゲートは第2のバイアス電圧入力端子5に、ソースが
第2の電源端子V−に接続される。キャパシタ63がP
MOS61のドレイン、ソース間に接続される。第2の
レベルシフト段60の出力はノードN6に接続される。
61のソースがノードN5に、ゲート、ドレインは共通
にNMOS62のドレインに接続される。NMOS62
のゲートは第2のバイアス電圧入力端子5に、ソースが
第2の電源端子V−に接続される。キャパシタ63がP
MOS61のドレイン、ソース間に接続される。第2の
レベルシフト段60の出力はノードN6に接続される。
【0080】出力段70では、PMOS71のゲートが
ノードN6に、ソースが第1の電源端子V+に、ドレイ
ンがNMOS72のドレイン及び出力端子3に接続され
る。NMOS72のゲートがノードN4に、ソースが第
2の電源端子V−に接続される。
ノードN6に、ソースが第1の電源端子V+に、ドレイ
ンがNMOS72のドレイン及び出力端子3に接続され
る。NMOS72のゲートがノードN4に、ソースが第
2の電源端子V−に接続される。
【0081】第1の位相補償回路80は、ノードN6と
出力端子3の間に配置される。PMOS81とNMOS
82のそれぞれのソースとドレインが接続され、PMO
S81のゲートが第2の電源端子V−に、NMOS82
のゲートが第1の電源端子V+に接続される。第1の位
相補償回路80はMOS抵抗とキャパシタ83とが直列
接続された回路である。
出力端子3の間に配置される。PMOS81とNMOS
82のそれぞれのソースとドレインが接続され、PMO
S81のゲートが第2の電源端子V−に、NMOS82
のゲートが第1の電源端子V+に接続される。第1の位
相補償回路80はMOS抵抗とキャパシタ83とが直列
接続された回路である。
【0082】第2の位相補償回路90は、ノードN4と
出力端子3の間に配置される。PMOS91とNMOS
92のそれぞれのソースとドレインが接続され、PMO
S91のゲートが第2の電源端子V−に接続される。N
MOS92のゲートが第1の電源端子V+に接続され
る。第2の位相補償回路90は、MOS抵抗とキャパシ
タ93の直列接続の回路である。
出力端子3の間に配置される。PMOS91とNMOS
92のそれぞれのソースとドレインが接続され、PMO
S91のゲートが第2の電源端子V−に接続される。N
MOS92のゲートが第1の電源端子V+に接続され
る。第2の位相補償回路90は、MOS抵抗とキャパシ
タ93の直列接続の回路である。
【0083】PMOS101、NMOS102は、パワ
ーダウン制御のために設けられる。PMOS101のゲ
ートは第1のパワーダウン制御信号入力端子6に、ソー
スは第1の電源端子V+に、ドレインはノードN6に接
続される。NMOS102のゲートは第2のパワーダウ
ン制御信号入力端子7に、ソースは第2の電源端子V−
に、ドレインはノードN4に接続される。
ーダウン制御のために設けられる。PMOS101のゲ
ートは第1のパワーダウン制御信号入力端子6に、ソー
スは第1の電源端子V+に、ドレインはノードN6に接
続される。NMOS102のゲートは第2のパワーダウ
ン制御信号入力端子7に、ソースは第2の電源端子V−
に、ドレインはノードN4に接続される。
【0084】第1の過電流検出回路200では、第1の
入力端子201がノードN6に、第2の入力端子202
がノードN4に、出力端子が第1の電流補償トランジス
タ400のゲートに接続される。
入力端子201がノードN6に、第2の入力端子202
がノードN4に、出力端子が第1の電流補償トランジス
タ400のゲートに接続される。
【0085】第2の過電流検出回路300では、第1の
入力端子301がノードN6に、第2の入力端子302
がノードN4に、出力端子が第2の電流補償トランジス
タ500のゲートに接続される。
入力端子301がノードN6に、第2の入力端子302
がノードN4に、出力端子が第2の電流補償トランジス
タ500のゲートに接続される。
【0086】第1の電流補償トランジスタでは、ゲート
が第1の過電流検出回路200の出力203に、ドレイ
ンがノードN3に、ソースが第2の電源端子に接続され
る。
が第1の過電流検出回路200の出力203に、ドレイ
ンがノードN3に、ソースが第2の電源端子に接続され
る。
【0087】第2の電流補償トランジスタでは、ゲート
が第2の過電流検出回路300の出力303に、ドレイ
ンがノードN5に、ソースが第1の電源端子に接続され
る。
が第2の過電流検出回路300の出力303に、ドレイ
ンがノードN5に、ソースが第1の電源端子に接続され
る。
【0088】図6には、第1の過電流検出回路の具体回
路例が示される。
路例が示される。
【0089】この回路では、NMOS206のゲートは
第2の入力端子202に接続され、ドレインがPMOS
205のドレイン、ゲート、PMOS208のゲートに
共通に接続される。PMOS205のソースはPMOS
204のドレインおよびPMOS208のソースに接続
される。PMOS204のゲートは第1の入力端子20
1に接続される。PMOS208のドレインはNMOS
207のドレイン、ゲートに接続すると共に出力端子2
03に接続される。NMOS206、NMOS207の
ソースは第2の電源端子V−へ接続され、PMOS20
4のソースは第1の電源端子V+に接続される。
第2の入力端子202に接続され、ドレインがPMOS
205のドレイン、ゲート、PMOS208のゲートに
共通に接続される。PMOS205のソースはPMOS
204のドレインおよびPMOS208のソースに接続
される。PMOS204のゲートは第1の入力端子20
1に接続される。PMOS208のドレインはNMOS
207のドレイン、ゲートに接続すると共に出力端子2
03に接続される。NMOS206、NMOS207の
ソースは第2の電源端子V−へ接続され、PMOS20
4のソースは第1の電源端子V+に接続される。
【0090】図7には、第2の過電流検出回路の具体回
路の例が示されている。
路の例が示されている。
【0091】この回路では、PMOS304のゲートは
第1の入力端子301に接続され、ドレインがNMOS
305のドレイン、ゲート、NMOS308のゲートに
共通に接続される。NMOS305のソースはNMOS
306のドレインおよびNMOS308のソースに接続
される。NMOS306のゲートは第2の入力端子30
2に接続される。NMOS308のドレインはPMOS
307のドレイン、ゲートに接続されると共に出力端子
303に接続される。PMOS304、PMOS307
のソースは第1の電源端子V+へ接続され、NMOS3
06のソースは第2の電源端子V−に接続される。
第1の入力端子301に接続され、ドレインがNMOS
305のドレイン、ゲート、NMOS308のゲートに
共通に接続される。NMOS305のソースはNMOS
306のドレインおよびNMOS308のソースに接続
される。NMOS306のゲートは第2の入力端子30
2に接続される。NMOS308のドレインはPMOS
307のドレイン、ゲートに接続されると共に出力端子
303に接続される。PMOS304、PMOS307
のソースは第1の電源端子V+へ接続され、NMOS3
06のソースは第2の電源端子V−に接続される。
【0092】次にこの形態の回路の動作が説明される。
この回路は、第1の過電流検出回路200、第2の過電
流検出回路300、第1の電流補償トランジスタ40
0、第2の電流補償トランジスタ500を除いて上述の
実施の形態と同様に動作する。ここでは、増幅器の内部
にオフセットが発生した場合の動作が中心的に説明され
る。
この回路は、第1の過電流検出回路200、第2の過電
流検出回路300、第1の電流補償トランジスタ40
0、第2の電流補償トランジスタ500を除いて上述の
実施の形態と同様に動作する。ここでは、増幅器の内部
にオフセットが発生した場合の動作が中心的に説明され
る。
【0093】第1の差動増幅段の差動トランジスタNM
OS11、NMOS12、PMOS14、PMOS1
5、第2の差動増幅段の差動トランジスタPMOS4
1、PMOS42、NMOS44、NMOS54は、オ
フセットの発生をなくすために、同一のチャネル幅、チ
ャネル長で設計される。
OS11、NMOS12、PMOS14、PMOS1
5、第2の差動増幅段の差動トランジスタPMOS4
1、PMOS42、NMOS44、NMOS54は、オ
フセットの発生をなくすために、同一のチャネル幅、チ
ャネル長で設計される。
【0094】例えばこの両トランジスタのチャネル長に
ついて、NMOS11のチャネル長よりNMOS12の
チャネル長が短くできた場合には、ノードN1の直流電
位は第2の電源方向に動作点が移動する。これにより、
第1の増幅段20のPMOS21は、NMOS11、N
MOS12のチャネル長が同一にできた場合より大きな
電流を流すことになり、ノードN3の電位は第1の電源
方向に動作点が移動する。その後に接続された第1のレ
ベルシフト回路30のノードN4も第1の電源方向に動
作点が移動する。
ついて、NMOS11のチャネル長よりNMOS12の
チャネル長が短くできた場合には、ノードN1の直流電
位は第2の電源方向に動作点が移動する。これにより、
第1の増幅段20のPMOS21は、NMOS11、N
MOS12のチャネル長が同一にできた場合より大きな
電流を流すことになり、ノードN3の電位は第1の電源
方向に動作点が移動する。その後に接続された第1のレ
ベルシフト回路30のノードN4も第1の電源方向に動
作点が移動する。
【0095】この結果、出力段を構成するNMOS72
はより大きな電流を流そうとする。この電流増加分を補
うために、オフセットの発生していない第2の差動増幅
段、第2の増幅段、第2のレベルシフト段も、出力段を
構成するPMOS71が電流を流せるようにノードN6
の直流電位を第2の電源電位方向に移動させてしまい、
第1の電源端子と第2の電源端子間に入れられた出力段
を構成するPMOS71、NMOS72に過大な電流が
流れてしまう。
はより大きな電流を流そうとする。この電流増加分を補
うために、オフセットの発生していない第2の差動増幅
段、第2の増幅段、第2のレベルシフト段も、出力段を
構成するPMOS71が電流を流せるようにノードN6
の直流電位を第2の電源電位方向に移動させてしまい、
第1の電源端子と第2の電源端子間に入れられた出力段
を構成するPMOS71、NMOS72に過大な電流が
流れてしまう。
【0096】第1の過電流検出回路200、第2の過電
流検出回路300、第1の電流補償トランジスタ40
0、第2の電流補償トランジスタ500は、このような
オフセットが発生する出力段トランジスタを貫通する過
大な電流を防止するように働く。以下にその動作につい
て詳細な説明が示される。
流検出回路300、第1の電流補償トランジスタ40
0、第2の電流補償トランジスタ500は、このような
オフセットが発生する出力段トランジスタを貫通する過
大な電流を防止するように働く。以下にその動作につい
て詳細な説明が示される。
【0097】第1の過電流検出回路200の第1の入力
端子201はノードN6に接続され、第2の入力端子2
02はノードN4に接続されている。オフセットが発生
していない時には、ノードN6と第1の電源端子間の電
圧は、PMOSのスレッショルド電圧よりわずかに大き
な電圧となっている。同様にノードN4と第2の電源端
子間の電圧は、NMOSのスレッショルド電圧よりわず
かに大きな電圧となっている。従って、出力段70のP
MOS71、NMOS72にはわずかの電流が流れてい
る。
端子201はノードN6に接続され、第2の入力端子2
02はノードN4に接続されている。オフセットが発生
していない時には、ノードN6と第1の電源端子間の電
圧は、PMOSのスレッショルド電圧よりわずかに大き
な電圧となっている。同様にノードN4と第2の電源端
子間の電圧は、NMOSのスレッショルド電圧よりわず
かに大きな電圧となっている。従って、出力段70のP
MOS71、NMOS72にはわずかの電流が流れてい
る。
【0098】このノードN6、ノードN4を入力とする
第1の過電流検出回路200のPMOS204、PMO
S205、NMOS206にも電流が流れる。PMOS
204のチャネル幅対チャネル長の比はPMOS71の
チャネル幅対チャネル長に比べて1/50〜1/70に
設定され、NMOS206のチャネル幅対チャネル長の
比はNMOS72のチャネル幅対チャネル長に比べて1
/50〜1/70に設定される。
第1の過電流検出回路200のPMOS204、PMO
S205、NMOS206にも電流が流れる。PMOS
204のチャネル幅対チャネル長の比はPMOS71の
チャネル幅対チャネル長に比べて1/50〜1/70に
設定され、NMOS206のチャネル幅対チャネル長の
比はNMOS72のチャネル幅対チャネル長に比べて1
/50〜1/70に設定される。
【0099】従って、PMOS204、PMOS20
5、NMOS206に流れる電流は微小である。PMO
S208はPMOS205とミラー接続されており、そ
のミラー比に応じてPMOS208、NMOS207に
も微小電流が流れる。出力端子203と第2の電源端子
間にはNMOSのスレッショルド電圧よりわずかに大き
な電圧が出力される。
5、NMOS206に流れる電流は微小である。PMO
S208はPMOS205とミラー接続されており、そ
のミラー比に応じてPMOS208、NMOS207に
も微小電流が流れる。出力端子203と第2の電源端子
間にはNMOSのスレッショルド電圧よりわずかに大き
な電圧が出力される。
【0100】この出力を入力とする第1の電流補償トラ
ンジスタ400にも微小電流が流れる。この電流値は、
第1の増幅段20のPMOS21、NMOS22に流れ
ている電流に比べて十分小さいのでノードN3の電位に
は影響しない。
ンジスタ400にも微小電流が流れる。この電流値は、
第1の増幅段20のPMOS21、NMOS22に流れ
ている電流に比べて十分小さいのでノードN3の電位に
は影響しない。
【0101】同様に、第2の過電流検出回路300の第
1の入力端子301はノードN6に接続され、第2の入
力端子302はノードN4に接続されている。オフセッ
トが発生していない時には、このノードN6、ノードN
4を入力とする第2の過電流検出回路300のPMOS
304、NMOS305、NMOS306にも電流が流
れる。
1の入力端子301はノードN6に接続され、第2の入
力端子302はノードN4に接続されている。オフセッ
トが発生していない時には、このノードN6、ノードN
4を入力とする第2の過電流検出回路300のPMOS
304、NMOS305、NMOS306にも電流が流
れる。
【0102】PMOS304のチャネル幅対チャネル長
の比はPMOS71のチャネル幅対チャネル長に比べて
1/50〜1/70に設定され、NMOS306のチャ
ネル幅対チャネル長の比はNMOS72のチャネル幅対
チャネル長に比べて1/50〜1/70に設定される。
の比はPMOS71のチャネル幅対チャネル長に比べて
1/50〜1/70に設定され、NMOS306のチャ
ネル幅対チャネル長の比はNMOS72のチャネル幅対
チャネル長に比べて1/50〜1/70に設定される。
【0103】従って、PMOS304、NMOS30
5、NMOS306に流れる電流は微小である。NMO
S308はNMOS305とミラー接続されており、そ
のミラー比に応じてNMOS308、PMOS307に
も微小電流が流れる。出力端子303と第1の電源端子
間には、PMOSのスレッショルド電圧よりわずかに大
きな電圧が出力される。
5、NMOS306に流れる電流は微小である。NMO
S308はNMOS305とミラー接続されており、そ
のミラー比に応じてNMOS308、PMOS307に
も微小電流が流れる。出力端子303と第1の電源端子
間には、PMOSのスレッショルド電圧よりわずかに大
きな電圧が出力される。
【0104】この出力を入力とする第2の電流補償トラ
ンジスタ500にも微小電流が流れる。この電流値は第
2の増幅段50のNMOS51、PMOS52に流れて
いる電流に比べて十分小さいのでノードN5の電位には
影響しない。
ンジスタ500にも微小電流が流れる。この電流値は第
2の増幅段50のNMOS51、PMOS52に流れて
いる電流に比べて十分小さいのでノードN5の電位には
影響しない。
【0105】入力端子から入力される信号に対しては、
ノードN6が第2の電源電位方向に振れる時、ノードN
4も第2の電源電位方向に振られる。ノードN4が第1
の電源電位方向に振られる時、ノードN6も第1の電源
電位方向に振られる。このように相補的に動作するの
で、このノードN6、ノードN4を入力とする第1の過
電流検出回路200のPMOS204、PMOS20
5、NMOS206の電流変化はほとんどない。
ノードN6が第2の電源電位方向に振れる時、ノードN
4も第2の電源電位方向に振られる。ノードN4が第1
の電源電位方向に振られる時、ノードN6も第1の電源
電位方向に振られる。このように相補的に動作するの
で、このノードN6、ノードN4を入力とする第1の過
電流検出回路200のPMOS204、PMOS20
5、NMOS206の電流変化はほとんどない。
【0106】同様に第2の過電流検出回路300のPM
OS304、NMOS305、NMOS306の電流変
化もほとんどないので、入力信号に対する影響もない。
OS304、NMOS305、NMOS306の電流変
化もほとんどないので、入力信号に対する影響もない。
【0107】次にオフセットがある場合が説明される。
オフセットがある場合には、先に説明したように、NM
OS11のチャネル長よりNMOS12のチャネル長が
短くできた場合には、ノードN1の電位は第2の電源電
位方向に動作点が移動する。
オフセットがある場合には、先に説明したように、NM
OS11のチャネル長よりNMOS12のチャネル長が
短くできた場合には、ノードN1の電位は第2の電源電
位方向に動作点が移動する。
【0108】これにより、第1の増幅段20のPMOS
21は、NMOS11、NMOS12のチャネル長が同
一である場合より大きな電流を流すことになる。そうす
ると、ノードN3の電位は第1の電源方向に動作点が移
動し、その後に接続された第1のレベルシフト回路30
のノードN4も第1の電源方向に動作点が移動する。
21は、NMOS11、NMOS12のチャネル長が同
一である場合より大きな電流を流すことになる。そうす
ると、ノードN3の電位は第1の電源方向に動作点が移
動し、その後に接続された第1のレベルシフト回路30
のノードN4も第1の電源方向に動作点が移動する。
【0109】この動きと連動して、ノードN5の電位を
第2の電源電位方向に移動させるように第2の増幅段5
0のNMOS51の電流も増加する。このとき、このノ
ードN6、ノードN4を入力とする第1の過電流検出回
路200のPMOS204、PMOS205、NMOS
206には、大きな電流が流れる。PMOS205とミ
ラー接続されたPMOS208には、そのミラー比に応
じてPMOS208、NMOS207にも電流が流れ
る。出力端子203と第2の電源端子間の電圧は、NM
OSのスレッショルド電圧よりさらに大きな電圧とな
る。
第2の電源電位方向に移動させるように第2の増幅段5
0のNMOS51の電流も増加する。このとき、このノ
ードN6、ノードN4を入力とする第1の過電流検出回
路200のPMOS204、PMOS205、NMOS
206には、大きな電流が流れる。PMOS205とミ
ラー接続されたPMOS208には、そのミラー比に応
じてPMOS208、NMOS207にも電流が流れ
る。出力端子203と第2の電源端子間の電圧は、NM
OSのスレッショルド電圧よりさらに大きな電圧とな
る。
【0110】この出力が入力される第1の電流補償トラ
ンジスタ400には第1の増幅段20のオフセットによ
る電流増加分を補償する電流を吸引するので、ノードN
3、ノードN4の電位は第2の電源端子の電位方向に戻
され、出力段70のNMOS72の電流が減じられる。
ンジスタ400には第1の増幅段20のオフセットによ
る電流増加分を補償する電流を吸引するので、ノードN
3、ノードN4の電位は第2の電源端子の電位方向に戻
され、出力段70のNMOS72の電流が減じられる。
【0111】同様にノードN6、ノードN4を入力とす
る第2の過電流検出回路300のPMOS304、NM
OS305、NMOS306にも、大きな電流が流れ
る。NMOS305とミラー接続されたNMOS308
には、そのミラー比に応じてNMOS308、PMOS
307にも電流が流れる。出力端子303と第1の電源
端子間の電圧は、PMOSのスレッショルド電圧よりさ
らに大きな電圧となる。
る第2の過電流検出回路300のPMOS304、NM
OS305、NMOS306にも、大きな電流が流れ
る。NMOS305とミラー接続されたNMOS308
には、そのミラー比に応じてNMOS308、PMOS
307にも電流が流れる。出力端子303と第1の電源
端子間の電圧は、PMOSのスレッショルド電圧よりさ
らに大きな電圧となる。
【0112】この出力が入力される第2の電流補償トラ
ンジスタ500は、第2の増幅段50のオフセットによ
る電流増加分を補償する電流を供給するので、ノードN
5、ノードN6の電位は第1の電源端子の電位方向に戻
され、出力段70のPMOS71の電流が減じられる。
ンジスタ500は、第2の増幅段50のオフセットによ
る電流増加分を補償する電流を供給するので、ノードN
5、ノードN6の電位は第1の電源端子の電位方向に戻
され、出力段70のPMOS71の電流が減じられる。
【0113】本実施の形態では、以下に述べる効果があ
る。 a)増幅器内部で発生するオフセットによる出力段の過
電流を検出し、補正する回路を設けたので、製造ばらつ
きにより発生する過電流不良を激減できる。 b)過電流検出回路は、出力段のトランジスタのチャネ
ル幅対チャネル長比に比べて十分小さなチャネル幅対チ
ャネル長比で構成したので、回路追加による消費電流増
を小さくできる。 c)過電流検出回路は、出力段を構成するPMOSおよ
びNMOSのゲート電位の同相成分には応答しない構成
となっているので、正規の入力信号には影響せず、信号
の歪み等の品質に影響しない。 d)過電流補償は2ケのトランジスタで実現できるので
回路追加による回路規模の増大を小さくできる。
る。 a)増幅器内部で発生するオフセットによる出力段の過
電流を検出し、補正する回路を設けたので、製造ばらつ
きにより発生する過電流不良を激減できる。 b)過電流検出回路は、出力段のトランジスタのチャネ
ル幅対チャネル長比に比べて十分小さなチャネル幅対チ
ャネル長比で構成したので、回路追加による消費電流増
を小さくできる。 c)過電流検出回路は、出力段を構成するPMOSおよ
びNMOSのゲート電位の同相成分には応答しない構成
となっているので、正規の入力信号には影響せず、信号
の歪み等の品質に影響しない。 d)過電流補償は2ケのトランジスタで実現できるので
回路追加による回路規模の増大を小さくできる。
【0114】
【発明の効果】この発明の演算増幅器によれば、入力信
号は第1差動増幅段により差動増幅される。この第1差
動増幅段の出力は第1増幅段により逆相で増幅される。
一方、入力信号は第2差動増幅段により差動増幅され
る。この第2差動増幅段の出力は第2増幅段により逆相
で増幅される。第1および第2増幅段の増幅度が大きけ
れば、その出力が第1電源電位および第2電源電位近く
まで振れる。また、第1増幅段の出力は第1レベルシフ
ト段により第1電源電位の方向にレベルシフトされる。
第2増幅段の出力は第2レベルシフト段により第2電源
電位の方向にレベルシフトされる。このように、第1お
よび第2増幅段の出力が電源電位近くになったとき、出
力段のトランジスタがオフ領域となることを避けるため
に、それらのレベルをシフトさせる。従って、抵抗負荷
に対して電源電圧近くの大電力を供給でき、無信号時の
電源電圧に対する消費電流の変動を小さくできる。ま
た、入力端子と出力段のNチャネルトランジスタのゲー
トとの間と、入力端子とPチャネルトランジスタのゲー
トとの間とを対称な構成としたので、波形歪みを小さく
できる。
号は第1差動増幅段により差動増幅される。この第1差
動増幅段の出力は第1増幅段により逆相で増幅される。
一方、入力信号は第2差動増幅段により差動増幅され
る。この第2差動増幅段の出力は第2増幅段により逆相
で増幅される。第1および第2増幅段の増幅度が大きけ
れば、その出力が第1電源電位および第2電源電位近く
まで振れる。また、第1増幅段の出力は第1レベルシフ
ト段により第1電源電位の方向にレベルシフトされる。
第2増幅段の出力は第2レベルシフト段により第2電源
電位の方向にレベルシフトされる。このように、第1お
よび第2増幅段の出力が電源電位近くになったとき、出
力段のトランジスタがオフ領域となることを避けるため
に、それらのレベルをシフトさせる。従って、抵抗負荷
に対して電源電圧近くの大電力を供給でき、無信号時の
電源電圧に対する消費電流の変動を小さくできる。ま
た、入力端子と出力段のNチャネルトランジスタのゲー
トとの間と、入力端子とPチャネルトランジスタのゲー
トとの間とを対称な構成としたので、波形歪みを小さく
できる。
【図1】演算増幅器の構成を示す図である。
【図2】バイアス回路の第1構成を示す図である。
【図3】バイアス回路の第2構成を示す図である。
【図4】演算増幅器の動作の説明に供する図である。
【図5】演算増幅器の他の構成を示す図である。
【図6】第1の過電流検出回路の構成を示す図である。
【図7】第2の過電流検出回路の構成を示す図である。
10:第1差動増幅段 20:第1増幅段 30:第1レベルシフト段 40:第2差動増幅段 50:第2増幅段 60:第2レベルシフト段 70:出力段 80:第1位相補償回路 90:第2位相補償回路
Claims (20)
- 【請求項1】 Nチャネルトランジスタを差動増幅素子
として入力信号の差動増幅を行う第1差動増幅段と、 Pチャネルトランジスタを差動増幅素子として前記入力
信号の差動増幅を行う第2差動増幅段と、 前記第1差動増幅段の出力を逆相で増幅する第1増幅段
と、 前記第2差動増幅段の出力を逆相で増幅する第2増幅段
と、 第1電源電位にソースが接続されたPチャネルトランジ
スタと第2電源電位にソースが接続されたNチャネルト
ランジスタとを有し、前記第1および第2差動増幅段の
出力に基づき相補的動作を行う出力段と、 前記第1増幅段の出力を前記第1電源電位の方向にレベ
ルシフトして、前記出力段のNチャネルトランジスタの
ゲートを制御する第1レベルシフト段と、 前記第2増幅段の出力を前記第2電源電位の方向にレベ
ルシフトして、前記出力段のPチャネルトランジスタの
ゲートを制御する第2レベルシフト段とを具えることを
特徴とする演算増幅器。 - 【請求項2】 請求項1に記載の演算増幅器において、 前記第1および第2増幅段の各々は増幅用トランジスタ
および定電流素子により構成されており、 前記第1増幅段の増幅用トランジスタとして前記第1差
動増幅段の負荷トランジスタと実質的に同一特性のもの
を用いており、 前記第2増幅段の増幅用トランジスタとして前記第2差
動増幅段の負荷トランジスタと実質的に同一特性のもの
を用いていることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項3】 請求項1に記載の演算増幅器において、 前記第1および第2増幅段の出力直流電位は、これら第
1および第2増幅段の負荷素子を構成するトランジスタ
のソースおよびドレイン間の電圧が当該トランジスタの
スレッショルド電圧よりも小さくなるように設定してあ
ることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項4】 請求項1に記載の演算増幅器において、 前記第1差動増幅段、第2差動増幅段、第1増幅段、第
2増幅段、第1レベルシフト段および第2レベルシフト
段の各々の定電流素子を実現するトランジスタのバイア
ス電圧を、基準電源電圧を入力とするバイアス回路で発
生させることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項5】 請求項4に記載の演算増幅器において、 前記定電流素子を実現するトランジスタは、前記バイア
ス回路においてバイアス電圧を発生させるトランジスタ
と実質的に同一特性のトランジスタであり、これらトラ
ンジスタ間がミラー接続されていることを特徴とする演
算増幅器。 - 【請求項6】 請求項4に記載の演算増幅器において、 前記バイアス回路は、Pチャネルトランジスタで構成さ
れる定電流素子に流れる電流を決める第1バイアス電
圧、およびNチャネルトランジスタで構成される定電流
素子に流れる電流を決める第2バイアス電圧を発生する
ものであり、 これら第1および第2バイアス電圧の決定は、1個のP
チャネルトランジスタまたは1個のNチャネルトランジ
スタと基準電源電圧とで行うように構成してあることを
特徴とする演算増幅器。 - 【請求項7】 請求項1に記載の演算増幅器において、 前記出力段のPチャネルトランジスタのゲートと前記第
1電源電位との間に第1パワーダウン制御用トランジス
タを設けてあり、 前記出力段のNチャネルトランジスタのゲートと前記第
2電源電位との間に第2パワーダウン制御用トランジス
タを設けてあることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項8】 請求項1に記載の演算増幅器において、 前記出力段の出力端子と前記第2レベルシフト段の出力
端子との間に第1位相補償回路を設けてあり、 前記出力段の出力端子と前記第1レベルシフト段の出力
端子との間に第2位相補償回路を設けてあることを特徴
とする演算増幅器。 - 【請求項9】 請求項1に記載の演算増幅器において、 前記第1増幅段は、 前記第1電源電位にソースが接続され、前記第1差動増
幅段の出力端子にゲートが接続されたPチャネルトラン
ジスタと、 前記第2電源電位にソースが接続され、ゲートが第2バ
イアス電位に接続され、ドレインが前記Pチャネルトラ
ンジスタのドレインに接続されたNチャネルトランジス
タとを具えており、 前記Pチャネルトランジスタのドレインを出力端子とす
ることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項10】 請求項1に記載の演算増幅器におい
て、 前記第2増幅段は、 前記第2電源電位にソースが接続され、前記第2差動増
幅段の出力端子にゲートが接続されたNチャネルトラン
ジスタと、 前記第1電源電位にソースが接続され、ゲートが第1バ
イアス電位に接続され、ドレインが前記Nチャネルトラ
ンジスタのドレインに接続されたPチャネルトランジス
タとを具えており、 前記Nチャネルトランジスタのドレインを出力端子とす
ることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項11】 請求項1に記載の演算増幅器におい
て、 前記第1レベルシフト段は、 前記第1電源電位にソースが接続され、第1バイアス電
位にゲートが接続されたPチャネルトランジスタと、 前記第1増幅段の出力端子にソースが接続され、ゲート
およびドレインが共通接続され、これらゲートおよびド
レインの共通接続点が前記Pチャネルトランジスタのド
レインに接続されたNチャネルトランジスタとを具えて
おり、 前記ゲートおよびドレインの共通接続点を出力端子とす
ることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項12】 請求項1に記載の演算増幅器におい
て、 前記第2レベルシフト段は、 前記第2電源電位にソースが接続され、第2バイアス電
位にゲートが接続されたNチャネルトランジスタと、 前記第2増幅段の出力端子にソースが接続され、ゲート
およびドレインが共通接続され、これらゲートおよびド
レインの共通接続点が前記Nチャネルトランジスタのド
レインに接続されたPチャネルトランジスタとを具えて
おり、 前記ゲートおよびドレインの共通接続点を出力端子とす
ることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項13】 請求項8に記載の演算増幅器におい
て、 前記第1位相補償回路は、前記第2レベルシフト段と前
記出力段の出力端子との間に、Pチャネルトランジスタ
およびNチャネルトランジスタで構成したMOS抵抗
と、キャパシタとを順次に直列に結合したものであり、 前記Pチャネルトランジスタのゲートが前記第2電源電
位に接続され、前記Nチャネルトランジスタのゲートが
前記第1電源電位に接続されていることを特徴とする演
算増幅器。 - 【請求項14】 請求項8に記載の演算増幅器におい
て、 前記第2位相補償回路は、前記第1レベルシフト段と前
記出力段の出力端子との間に、Pチャネルトランジスタ
およびNチャネルトランジスタで構成したMOS抵抗
と、キャパシタとを順次に直列に結合したものであり、 前記Pチャネルトランジスタのゲートが前記第2電源電
位に接続され、前記Nチャネルトランジスタのゲートが
前記第1電源電位に接続されていることを特徴とする演
算増幅器。 - 【請求項15】 入力信号を差動増幅する第1および第
2の差動増幅手段と、該差動増幅手段の出力を増幅する
第1および第2の増幅手段と、該増幅手段の出力をレベ
ルシフトする第1および第2のレベルシフト手段と、第
1の電源電位にソースが接続されたPチャネルMOSト
ランジスタ及び第2の電源電位にソースが接続されたN
チャネルMOSトランジスタを有し前記レベルシフト手
段の出力に基づき相補的動作を行う出力手段とを具備し
た演算増幅器において、 第1および第2のレベルシフト手段の出力の電位を検出
する第1および第2の過電流検出回路を設け、該過電流
検出出力に基づき第1および第2の増幅手段の電流増加
分を補償する第1および第2の電流補償手段を設けたこ
とを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項16】 前記第1の過電流検出回路は、第1お
よび第2のレベルシフト手段の逆相電位変動を検出し、
検出出力として、第2の電源電位を基準として、Nチャ
ネルMOSトランジスタのスレッショルド電圧に電位変
動分を重畳させる手段を設けたことを特徴とする請求項
15記載の演算増幅器。 - 【請求項17】 前記第2の過電流検出回路は、第1お
よび第2のレベルシフト手段の逆相電位変動を検出し検
出出力として、第1の電源電位を基準として、Pチャネ
ルMOSトランジスタのスレッショルド電圧に電位変動
分を重畳させる手段を設けたことを特徴とする請求項1
5または16記載の演算増幅器。 - 【請求項18】 前記第1および第2の過電流検出のた
めのPチャネルMOSトランジスタおよびNチャネルM
OSトランジスタのチャネル幅対チャネル長比は、第1
の電源電位にソースが接続されたPチャネルMOSトラ
ンジスタ及び第2の電源電位にソースが接続されたNチ
ャネルMOSトランジスタを有し前記レベルシフト手段
の出力に基づき相補的動作を行う出力手段のそれぞれの
トランジスタのチャネル幅対チャネル長比よりも十分小
さいことを特徴とする請求項17記載の演算増幅器。 - 【請求項19】 前記第1の電流補償手段は、Nチャネ
ルMOSトランジスタで構成され、第1の増幅手段のN
チャネルMOSトランジスタと並列に配置されたことを
特徴とする請求項16乃至18記載の演算増幅器。 - 【請求項20】 前記第2の電流補償手段は、Pチャネ
ルMOSトランジスタで構成され、第2の増幅手段のP
チャネルMOSトランジスタと並列に配置されたことを
特徴とする請求項17乃至19記載の演算増幅器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10144367A JPH11220341A (ja) | 1997-11-26 | 1998-05-26 | 演算増幅器 |
US09/120,846 US6005440A (en) | 1997-11-26 | 1998-07-23 | Operational amplifier |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32463697 | 1997-11-26 | ||
JP9-324636 | 1997-11-26 | ||
JP10144367A JPH11220341A (ja) | 1997-11-26 | 1998-05-26 | 演算増幅器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11220341A true JPH11220341A (ja) | 1999-08-10 |
Family
ID=26475799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10144367A Withdrawn JPH11220341A (ja) | 1997-11-26 | 1998-05-26 | 演算増幅器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6005440A (ja) |
JP (1) | JPH11220341A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009159508A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Nec Electronics Corp | 演算増幅器及び積分回路 |
JP2014082535A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 演算増幅器 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3150101B2 (ja) * | 1998-04-20 | 2001-03-26 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 演算増幅回路 |
US6121837A (en) * | 1998-11-12 | 2000-09-19 | Exar Corporation | Constant gain amplifier |
KR100372633B1 (ko) * | 2000-07-20 | 2003-02-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 오프셋 전압을 갖는 비교기 |
US6433637B1 (en) * | 2001-03-23 | 2002-08-13 | National Semiconductor Corporation | Single cell rail-to-rail input/output operational amplifier |
US6566952B1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-05-20 | Cypress Semiconductor Corp. | Operational amplifier with extended output voltage range |
US6864725B2 (en) * | 2002-06-05 | 2005-03-08 | Micron Technology, Inc. | Low current wide VREF range input buffer |
JP3847241B2 (ja) * | 2002-10-01 | 2006-11-22 | Necエレクトロニクス株式会社 | 演算増幅器 |
JP2004317857A (ja) * | 2003-04-17 | 2004-11-11 | Nec Yamagata Ltd | 駆動回路及び表示装置 |
KR100620662B1 (ko) * | 2003-09-26 | 2006-09-19 | 엔이씨 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 차동 에이비 클래스 증폭 회로 및 이를 이용한 구동 회로 |
US7288993B2 (en) * | 2005-01-25 | 2007-10-30 | Analog Devices, Inc. | Small signal amplifier with large signal output boost stage |
US7248081B2 (en) * | 2005-07-08 | 2007-07-24 | Broadcom Corporation | Slicer with large input common mode range |
TWI300936B (en) * | 2006-07-03 | 2008-09-11 | Novatek Microelectronics Corp | A high-accuracy sample and hold circuit |
US7312598B1 (en) * | 2006-08-25 | 2007-12-25 | National Semiconductor Corporation | Capacitor free low drop out regulator |
TWI413360B (zh) * | 2008-04-29 | 2013-10-21 | Richtek Technology Corp | Class AB output stages with variable bias point control and their methods |
JP2013026959A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Renesas Electronics Corp | 信号変換回路、その信号変換回路を備えるアイソレータ回路及び信号変換方法 |
US11677591B2 (en) * | 2020-05-12 | 2023-06-13 | Saic Motor Corporation Limited | Bidirectional isolated communication circuit and method for differential signal |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4335355A (en) * | 1979-09-28 | 1982-06-15 | American Microsystems, Inc. | CMOS Operational amplifier with reduced power dissipation |
JP2885120B2 (ja) * | 1995-01-27 | 1999-04-19 | 日本電気株式会社 | 演算増幅器 |
JPH08274551A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 演算増幅器 |
-
1998
- 1998-05-26 JP JP10144367A patent/JPH11220341A/ja not_active Withdrawn
- 1998-07-23 US US09/120,846 patent/US6005440A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009159508A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Nec Electronics Corp | 演算増幅器及び積分回路 |
JP2014082535A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 演算増幅器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6005440A (en) | 1999-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH11220341A (ja) | 演算増幅器 | |
KR100355082B1 (ko) | 연산 증폭 방법 및 연산 증폭기 | |
US20050140445A1 (en) | Operational transconductance amplifier with DC offset elimination and low mismatch | |
US5530403A (en) | Low-voltage differential amplifier | |
JP3320434B2 (ja) | 演算増幅回路 | |
JPH077340A (ja) | 全差動増幅器 | |
US20060012429A1 (en) | Self biased differential amplifier | |
JP2005244276A (ja) | 差動増幅回路 | |
JP3848683B2 (ja) | 増幅器 | |
US7728669B2 (en) | Output stage circuit and operational amplifier thereof | |
US7098736B2 (en) | Amplifier circuit | |
JP2001185964A (ja) | カレントミラー回路および演算増幅器 | |
KR20180111577A (ko) | 트랜스컨덕턴스 증폭기 | |
JP3482159B2 (ja) | 電源装置、及びこれを用いた液晶表示装置 | |
JP4371618B2 (ja) | 差動増幅回路 | |
US6366169B1 (en) | Fast rail-to-rail class AB output stage having stable output bias current and linear performance | |
US7514877B2 (en) | Display panel driving circuit | |
US6903607B2 (en) | Operational amplifier | |
US7714653B2 (en) | Differential amplifier | |
KR100499856B1 (ko) | 가변 이득 증폭기 | |
JP4867066B2 (ja) | 増幅回路 | |
US7579911B2 (en) | Semiconductor circuit | |
JP3119221B2 (ja) | 演算増幅器 | |
EP1624568A1 (en) | Symmetrical pulse signal generator | |
JP3099788B2 (ja) | 演算増幅器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050802 |