JP2005242125A - 電気光学表示パネル製造用の多面取り基板 - Google Patents
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Abstract
【課題】 電気光学表示パネル(例えば液晶パネル)製造用の多面取り基板において、大判サイズの基板から小判サイズとして切り出された基板の切断基準線に対する切断ずれ量をノギスなどの測長器を用いることなく目視にて把握できるようにする。
【解決手段】 複数の液晶セル10が行方向および/または列方向に連設されており、各液晶セル10がそれらの間に設定される切断基準線BLに沿って最終的に個々の液晶パネルとして切り出される液晶パネル製造用の多面取り基板において、隣接する各液晶セル10に、それらの間に設定される切断基準線BLから所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークMAを形成するとともに、切断限界マークMAと基準切断線BLとの間にそれらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークMBを形成する。
【選択図】 図1
【解決手段】 複数の液晶セル10が行方向および/または列方向に連設されており、各液晶セル10がそれらの間に設定される切断基準線BLに沿って最終的に個々の液晶パネルとして切り出される液晶パネル製造用の多面取り基板において、隣接する各液晶セル10に、それらの間に設定される切断基準線BLから所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークMAを形成するとともに、切断限界マークMAと基準切断線BLとの間にそれらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークMBを形成する。
【選択図】 図1
Description
本発明は複数の表示セルが行方向および/または列方向に連設されている電気光学表示パネル製造用の多面取り基板に関し、さらに詳しく言えば、各表示セルを切り出す際の切断位置を示す切断マークに関するものである。
生産性の観点から一般的に、電気光学表示パネルの一つである液晶パネルはその元となる複数の液晶セルがマザー基板上でm行×n列の配列をもって同時に形成され、そのマザー基板から1行もしくは1列の単位で液晶セル多連基板として切り出される。そして、液晶セル多連基板の状態で液晶注入工程に運ばれ、その各液晶セル内に液晶が注入されたのち、液晶セル多連基板から液晶パネルが個々に切り出される、という工程を経て作製される。
このように液晶パネルの製造工程には数回の切断工程が含まれている。この切断は例えばロールカッタなどの切断工具を用いて基板にV字状の切り込み溝を入れたのち、その反対面側から切り込み溝に応力を加えることにより行われるが、切り込み溝を正確に入れるためマザー基板には切断マークが設けられる。
図4にその一例として特許文献1に開示されているマザー基板Mを示す。この例において、マザー基板Mには3行×3列の配列をもって液晶パネルの元となる9個の液晶セル10が含まれており、各液晶セル10に塗布される周辺シール材11の外側に位置する四隅には切断マークが設けられている。
ここで、左上の切断マークをC1,右上の切断マークをC2,左下の切断マークをC3,右下の切断マークをC4とする。なお、この切断マークC1〜C4は例えば正方形状のドットで、マザー基板Mの周辺に存在する捨て基板部MOの液晶セル10と隣接する隅にも設けられる。
これによると、隣接する四隅に切断マークC1〜C4が集まり、マザー基板Mを行単位で切断する場合には、切断マークC4とC2の間およびC3とC1の間を通るように切り込み溝を入れる。また、マザー基板Mを列単位で切断する場合には、切断マークC4とC3の間およびC2とC1の間を通るように切り込み溝を入れる。
隣接する四隅に集められた切断マークC1〜C4の隣接するマーク同士間の間隔がいずれも例えば0.2mmであるとすると、行方向および列方向ともにその中心の0.1mmのところを通る仮想線が切断基準線BLとなる。すなわち、切断許容誤差範囲は切断基準線BL±0.1mmとなる。なお、上記特許文献1によれば切断マークC1〜C4は透明電極の形成工程で基板の内面側に透明電極とともに透明電極材により形成される。
図5に上記マザー基板Mから行単位で切断された液晶セル多連基板(スティック基板)MSの一部分を示す。図5において、全形が示されている中央の液晶セルを10a,その左隣りおよび右隣のそれぞれ一部しか示されていない液晶セルを10b,10cとして、図6に液晶セル多連基板MSから液晶パネルとして切り出された液晶セル10aの単体を示す。
液晶セル多連基板MSから液晶セル10aを切り出すには、液晶セル10aと液晶セル10bとの間および液晶セル10aと液晶セル10cとの間で、それぞれ切断マークC2とC1との間および切断マークC4とC3との間の各中心を通る切断基準線BL1,BL2に沿って上記したように例えばロールカッタにより基板にV字状の切り込み溝を入れたのち、その反対面側から切り込み溝に応力を加えて基板を切断する。この切断を分断もしくは破断と呼ぶ場合もある。
この切断は切断用の工作機械によって実施されるが、液晶セル多連基板MSを工作機械の作業テーブルに載置する際に位置合わせ誤差が生じたり、また、切断(分断)時に基板に欠けなどが生ずることもあるため切断後に検査を行う。
この検査は例えば顕微鏡で切断部分を目視することにより行われ、切り口(切断面)が切断マークにかかっていたり、切断マークが無くなっているかもしくは隣の液晶セルの切断マークがが残されている場合には切断不良としてその液晶セルを排除する。
これで検査を終了する場合もあるが、図6に示すように切り目線が切断マーク間を通っている良品についても、例えば切断作業の信頼性の統計をとる必要上切断基準線BL1,BL2からの切断ずれ量αを測る場合がある。従来、この切断ずれ量αの計測は切り出された液晶セル10aの幅をノギスで測ることにより行うようにしているが、この方法ではかなりの時間がかかり作業性が悪いという問題がある。
したがって、本発明の課題は、大判サイズの基板から小判サイズとして切り出された基板の切断基準線に対する切断ずれ量をノギスなどの測長器を用いることなく目視にて把握できるようにすることにある。
上記課題を解決するため、本発明は、複数の表示セルが行方向および/または列方向に連設されており、上記各表示セルがそれらの間に設定される切断基準線に沿って最終的に個々の表示パネルとして切り出される電気光学表示パネル製造用の多面取り基板において、隣接する上記各表示セルには、それらの間に設定される上記切断基準線から所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークが形成されているとともに、上記切断限界マークと上記基準切断線との間には、それらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークが形成されていることを特徴としている。
本発明において、上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークのうち、少なくとも上記誤差読み取りマークは上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されていることが好ましい。
さらには、上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークとがともに上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されていることが好ましいが、本発明には、上記切断限界マークおよび/または上記誤差読み取りマークには、上記切断基準線と平行に引かれた仮想直線ラインの少なくとも両端に配置された2つのドットマークが含まれる態様も含まれる。
本発明によれば、切断限界マークと基準切断線との間にそれらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークが形成されているため、切り口を例えば顕微鏡などにより拡大して目視し誤差読み取りマークがどの程度削られているかもしくは残されているかを観察することにより、誤差読み取りマークを目盛りとして切断基準線に対する切断ずれ量を目視にて把握することができる。
次に、図1ないし図3を参照して本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図1は図示しないマザー基板から行単位で切り出された本発明に係る液晶セル多連基板の一部分を示す模式図であり、図2は図1の液晶セル多連基板から液晶パネルとして切り出された液晶セルの単体を示す模式図である。図1,図2はそれぞれ先に説明した図5,図6に対応しており、したがって以下の説明において従来例と変更を要しない部分には同一の参照符号を用いている。
図1に示す本発明が適用された液晶セル多連基板MSにおいて、液晶セル10a,10b,10cの各々には、その両辺に良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークMAのほかに誤差読み取りマークMBが形成されている。なお、液晶セル10aの両側に連設されている液晶セル10b,10cについてはその片側の辺のマークMA,MBのみが図示されているが、図示しない反対側の辺にもマークMA,MBが設けられている。
液晶セル10aとその左隣りの液晶セル10bとの間の仮想的な切断基準線をBL1,液晶セル10aとその右隣りの液晶セル10cとの間の仮想的な切断基準線をBL2とすると、切断限界マークMAは切断基準線BL1,BL2の両側にそれぞれ等距離として配置されている。この切断限界マークMAは先の図5に示した切断マークC1〜C4に相当するマークである。
この例において、切断限界マークMAは切断基準線BL1,BL2に平行な直線パターンとして形成されている。このように、切断限界マークMAは直線パターンの方が視認しやすいが、先の図5に示した切断マークC1〜C4と同じくドットパターンとして配置されてもよい。
誤差読み取りマークMBは、切断限界マークMA,MAの内側において切断基準線BL1,BL2の両側にそれぞれ等距離として配置されている。視認性の点からして、この誤差読み取りマークMBも切断基準線BL1,BL2に平行な直線パターンとして形成されることが好ましいが、上記切断マークC1〜C4と同じく直線パターンの両端に配置される2つのドットパターンとしてもよい。
一例として、切断限界マークMAと切断基準線BL1,BL2との距離が0.1mm(切断限界マークMA,MA間の距離にして0.2mm)であるとすると、誤差読み取りマークMBは切断基準線BL1,BL2から50μm(0.05mm)離れた位置に配置される。すなわち、誤差読み取りマークMBは切断限界マークMAと切断基準線BL1,BL2との間を2分する中間位置に配置される。
これによれば、図1の液晶セル多連基板MSから液晶パネルとして切り出された液晶セル10aの切り口(切断面)を検査する場合、図2に例示するように誤差読み取りマークMBの一部分が削られている場合には切断ずれ量αが約50μmであることが目視により判別することができる。
この例では、誤差読み取りマークMBを切断限界マークMAと切断基準線BL1,BL2との間を2分する中間位置に1本として配置しているが、別の例として誤差読み取りマークMBを2本として切断限界マークMAと切断基準線BL1,BL2との間を3分割するようにしてもよい。
本発明の液晶パネル製造用の多面取り基板には、マザー基板から行単位(もしくは列単位)で切り出された上記の液晶セル多連基板MSのみでなくマザー基板も含まれる。マザー基板への適用例を図3の模式図に示す。
図3にはマザー基板Mに含まれている互いに隣接する4つの液晶セル10のみが摘示されており、その行方向の切断基準線をGH,列方向の切断基準線をGLとして、各液晶セル10の四隅(先に説明した図4の切断マークC1〜C4が設けられる部分)に、行方向の切断基準線GHに対する切断限界マークMA1および誤差読み取りマークMB1と、列方向の切断基準線GLに対する切断限界マークMA2および誤差読み取りマークMB2とを形成する。
この場合、注意を要することは例えば行方向の切断基準線GHに沿って液晶セル多連基板MSを切り出したときに、その液晶セル多連基板MSに他方の列方向の切断基準線GLに対する切断限界マークMA2,誤差読み取りマークMB2が残されるように各切断限界マークMA1,MA2、誤差読み取りマークMB1,MB2を配置することである。
本発明は上記の例で説明した液晶パネルに限定されるものではなく、多面取り基板を用いる例えば有機ELパネル,プラズマディスプレイ表示パネルなどの電気光学表示パネルにも適用可能である。
10(10a,10b,10c) 液晶セル
11 周辺シール材
M マザー基板
MS 液晶セル多連基板
MA,MA1,MA2 切断限界マーク
MB,MB1,MB2 誤差読み取りマーク
11 周辺シール材
M マザー基板
MS 液晶セル多連基板
MA,MA1,MA2 切断限界マーク
MB,MB1,MB2 誤差読み取りマーク
Claims (4)
- 複数の表示セルが行方向および/または列方向に連設されており、上記各表示セルがそれらの間に設定される切断基準線に沿って最終的に個々の表示パネルとして切り出される電気光学表示パネル製造用の多面取り基板において、
隣接する上記各表示セルには、それらの間に設定される上記切断基準線から所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークが形成されているとともに、上記切断限界マークと上記基準切断線との間には、それらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークが形成されていることを特徴とする電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。 - 上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークのうち、少なくとも上記誤差読み取りマークは上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されている請求項1に記載の電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
- 上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークとが、ともに上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されている請求項1に記載の電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
- 上記切断限界マークおよび/または上記誤差読み取りマークには、上記切断基準線と平行に引かれた仮想直線ラインの少なくとも両端に配置された2つのドットマークが含まれる請求項1に記載の電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
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