JP2005236616A - 光電流・電圧変換回路 - Google Patents

光電流・電圧変換回路 Download PDF

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Abstract

【課題】 増幅器2の入出力間電圧がクランプ用MOSFETのしきい値電圧より低い電圧でも、受光ICの光電流・電圧変換回路内の増幅器2がドライブ電流不足とならず、回路動作の強光入力範囲の改善及び出力の安定化・高速化を図った光電流・電圧変換回路の提供。
【解決手段】 フォトダイオード1の一端を、出力電圧を抵抗11を介して入力端3に帰還させた増幅器2の入力端3に逆バイアス接続し、フォトダイオード1の光電流出力を電圧変換する回路において、増幅器2は3段の同一構成の反転増幅段が直流結合されて構成され、抵抗11にはPch型MOSFET12が並列接続され、そのゲートが2段目の反転増幅段出力端13に接続され、増幅器各段の定電流源出力と接地間に挿入された各電圧固定用MOSFET14、15、16を流れる電流を最終段のみ他の段より小さくまたは無くする。
【選択図】図1

Description

本発明は、受光素子により発生する光電流を電圧に変換する光電流・電圧変換回路に関し、特に強光入力時の回路動作の安定性と応答性に関する。
フォトダイオードなどの受光素子により発生する光電流を電圧に変換して出力する光電流・電圧変換回路が多くの分野で利用されている。例えば、FA関連のサーボ制御機器やシーケンサやインバータ機器等で入出力間を電気的に絶縁することを目的として、入力側の発光素子(例えば発光ダイオード)に電気信号を供給し、発光素子から出力側の受光素子へ光で信号を伝え、受光素子から電気信号を出力するフォトカプラの受光回路に用いられている。この光電流・電圧変換回路はIC化され受光ICとして使用されている。
以下、受光ICの一例200について、図10を参照して説明する。図10において、21はフォトダイオードで入射光を検出し、光電流Ipdを発生する。22は反転型の増幅器で入力端23と出力端24の間に帰還抵抗25(抵抗値をRfとする)が接続されている。フォトダイオード21の一端(図示例ではカソード電極)は増幅器22の入力端23に接続され、他端(アノード電極)は接地され、その両端にはほぼ一定の逆バイアス電圧がかけられている。
フォトダイオード21に光入力されない場合には、光電流Ipdは発生せず、帰還抵抗25には電流が流れないため、増幅器22の出力電圧Vaは入力端23とほぼ等しい電圧Voとなる。この電圧Voが基準値となり、フォトダイオード21に光入力があると、光量に応じた光電流Ipdが帰還抵抗25に流れ、帰還抵抗25の両端に(Ipd×Rf)の電圧を発生し、出力端24の電圧Vaは基準値電圧Voからほぼ電圧(Vo+Ipd×Rf)に変化する。
図10に示す受光ICを用いて例えば、フォトカプラを構成した場合、IC論理素子からHighまたはLowレベルの信号が発光素子に供給されると、発光素子から受光ICへ光で信号が伝わり、受光ICから論理に応じたHighまたはLowレベルの信号が出力される。このようにして、IC論理素子からの信号が入出力間を電気的に絶縁して伝達される。
フォトカプラの受光素子への入力信号レベルが大きくなると、受光ICに用いられる光電流・電圧変換回路の増幅器22が飽和し応答が遅くなり、IC論理素子からの信号が正確に伝達されなくなるという問題がある。
この増幅器の飽和の問題を回避する光電流・電圧変換回路が、特許文献1に開示されている。この例を図11、図12に示す。微弱光入力時は、帰還抵抗25が支配的となり比較的リニアな増幅をし、強光入力時は、主に帰還抵抗25と並列接続されたクランプ素子の特性に従った増幅となる。
図11は、クランプ素子としてダイオード27を用いている。図11において、フォトダイオード21は入射光を検出し、光電流Ipdを発生する。増幅器22は入力端23と出力端24の間に帰還抵抗25が接続されている。フォトダイオード21の一端(図示例ではカソード電極)は増幅器22の入力端23に接続され、その両端にはほぼ一定の逆バイアス電圧がかけられている。図示例ではフォトダイオード21の他端であるアノード電極が接地されている。そして、ダイオード27のカソードが増幅器22の入力端23に、アノードが出力端24に接続されている。
光入力が小さいときは、光電流Ipdも小さく、ダイオード27には電流が流れず帰還抵抗25に流れる電流も少ない。しかし、光入力が大きくなり光電流Ipdが増大すると、増幅器22の入出力間電圧がダイオードの順方向電圧(約0.6v〜1.0v)に達しダイオード27を流れる電流は急に増大する。光電流Ipdが増えて出力電圧が増大しようとするが、ダイオード27の作用で出力電圧は入力電圧と順方向電圧とを加えた電圧以上には上昇しない。このように、微弱光入力時はダイオード27が導通せずリニアな増幅をし、強光入力時は主にダイオード27のV−I特性に従った増幅となる。
図12は、クランプ素子としてエンハンスメント型Nch型MOSFET28を用いている。図12において、フォトダイオード21は入射光を検出し、光電流Ipdを発生する。増幅器22は入力端23と出力端24の間に帰還抵抗25が接続されている。フォトダイオード21の一端(図示例ではカソード電極)は増幅器22の入力端23に接続され、その両端にはほぼ一定の逆バイアス電圧がかけられている。図示例ではフォトダイオード21の他端であるアノード電極が接地されている。そして、MOSFET28のゲートとドレインが増幅器22の出力端24に、ソースが入力端23にそれぞれ接続されている。
光入力が小さいときは、光電流Ipdも小さく、MOSFET28には電流がほとんど流れず帰還抵抗25に流れる電流も少ない。しかし、光入力が大きくなり光電流Ipdが増大するにつれ、増幅器22の入出力間電圧すなわちMOSFET28のゲート・ソース間電圧VGSが増大し、MOSFET28を流れる電流はMOSFET28のVGS−ID特性に従い増大する。つまり、MOSFET28のオン抵抗が電流の増大とともに小さくなり、増幅器22の入出力間抵抗である帰還抵抗25とMOSFET28の合成抵抗も小さくなる。よって、光電流Ipdが増加しても、増幅器22の出力が光電流Ipdに比例して上昇することはない。このように、微弱光入力時は帰還抵抗25が支配的となり比較的リニアな増幅をし、強光入力時は主にMOSFET9のVGS−ID特性に従った増幅となる。
このように図11、図12に示す従来の回路210、220では、フォトダイオード21に大きな光入力があった場合に、帰還抵抗25と並列に接続したクランプ素子が導通状態となり、このため多くの光電流はクランプ素子を流れ増幅器22が飽和することを防止している。
図13に示す波形図を参照して、従来の光電流・電圧変換回路のクランプ動作を説明する。図13(a)は光入力強度の時間変化、図13(b)は光入力に対する増幅器出力電圧Vaの時間変化、図13(c)はクランプ動作による増幅器出力電圧Vaの伝播遅延時間の変化を示している。光入力強度がクランプ動作開始レベルを超えると図13(b)のクランプされていない状態を示す破線からクランプされた状態を示す実線へ出力電圧Vaが変化する。この時の出力電圧Vaの50%変化点までの伝播遅延時間tpHLは、クランプされていない状態を示すtpHL0からクランプされた状態を示すtpHL1へ短縮される。こうして、図13(c)に示すように光入力強度が増大してもクランプ効果により伝播遅延時間tpHLの増大を抑えることができる。
特開昭61−41213号公報 (第2−4頁、第1図、第4図、第5図)
ところが、図11、図12に示す従来の回路210、220では、クランプ素子に流れる電流は増幅器22の出力より供給されるため、増幅器22内部の本来の増幅作用を行うべき能動素子への電流供給が充分でない場合は、増幅器22のドライブ電流不足を招き応答性が悪くなるという問題がある。
これを、図14に示す波形図を参照して、従来の光電流・電圧変換回路の課題を説明する。図14(a)は光入力強度の時間変化、図14(b)はクランプされた増幅器出力電圧Vaの増幅器22のドライブ電流不足によるばらつき、図14(c)は増幅器22のドライブ電流不足による増幅器出力電圧Vaの伝播遅延時間のばらつきを示している。強光入力時のクランプ動作中に帰還抵抗25とクランプ素子への電流が増幅器22の電流能力を超えて増幅器22がドライブ電流不足すると、図14(b)のドライブ電流不足していない状態を示す実線からドライブ電流不足のため応答性が悪化した状態を示す点線のように出力電圧Vaがばらつく。従って、この時の出力電圧Vaの50%変化点までの伝播遅延時間tpHLも、ドライブ電流が不足していない状態を示すtpHL1からドライブ電流不足に起因する不安定動作状態を示すtpHL2やtpHL3のようにばらつき、図14(c)に示すようにクランプ動作しても増幅器22のドライブ電流不足により伝播遅延時間tpHLがばらつき、増幅器出力の安定化並びに高速化を図ることができないという問題があった。
近年の省電力設計への強い要求もあり、増幅器22の電流能力を単に高めるわけにもいかない。本発明は斯かる実情に鑑みなされたもので、増幅器22のクランプ素子に電流が流れる場合において、増幅器22のドライブ電流不足を抑制し、クランプ動作時における光電流・電圧変換回路の出力の安定性及び応答性を改善すると共にその動作範囲を改善した光電流・電圧変換回路を提供しようとするものである。
請求項1記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも大きくなるようにクランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、各電圧固定用MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項2記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも大きくなるようにクランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに増幅器は最終段を除く各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、各電圧固定用MOSFETを流れる電流を等しくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項3記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも小さくなるようにクランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、各電圧固定用MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項4記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも小さくなるようにクランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに増幅器は最終段を除く各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、各電圧固定用MOSFETを流れる電流を等しくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項5記載の発明は、増幅器を構成する反転増幅段がソース接地したMOSFETからなる同一構成の反転増幅段であることを特徴とする特許請求の範囲第1〜4に記載のいずれか1つの光電流・電圧変換回路である。
請求項6記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のNch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETはPch型で構成され、クランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段の最終段以外の偶数段目の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項7記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のNch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETはPch型で構成され、クランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用Nch型MOSFETが接続され、各電圧固定用Nch型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項8記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のNch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETはNch型で構成され、クランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項9記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のPch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETはNch型で構成され、クランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段の最終段以外の偶数段目の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と電源電圧端子間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項10記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のPch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETはNch型で構成され、クランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と電源電圧端子間にダイオード接続された各電圧固定用Nch型MOSFETが接続され、各電圧固定用Nch型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項11記載の発明は、入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のPch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、クランプ用MOSFETはPch型で構成され、クランプ用MOSFETのゲートが反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに増幅器は各反転増幅段出力と電源電圧端子間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路である。
請求項1〜5記載の発明の光電流・電圧変換回路によれば、クランプ用MOSFETのゲートを反転増幅段のうち最終段以外の増幅段出力に接続し、増幅器各段の定電流源出力と接地間に挿入された各電圧固定用MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくまたは無くすることにより、各段の定電流源から各電圧固定用MOSFETへの電流が増幅器最終段のみ少なくてすみまたは不必要なため、その分だけ最終段に接続される能動素子に対する電流能力の余裕ができるため、クランプ動作時に最終段定電流源のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善及び出力の安定化並びに高速化を図ることができる。
また、請求項6〜8記載の発明の光電流・電圧変換回路によれば、クランプ用MOSFETのゲートを反転増幅段のうち最終段以外の増幅段出力に接続し、増幅器各段の定電流源出力と接地間に挿入された各電圧固定用Nch型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくまたは無くすることにより、各段の各定電流源から各電圧固定用Nch型MOSFETへの電流が増幅器最終段のみ少なくてすみまたは不必要なため、その分だけ最終段に接続される能動素子への電流供給の余裕ができるため、クランプ動作時に最終段定電流源のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善及び出力の安定化並びに高速化を図ることができる。
さらに、請求項9〜11記載の発明の光電流・電圧変換回路によれば、クランプ用MOSFETのゲートを反転増幅段のうち最終段以外の増幅段出力に接続し、増幅器各段の定電流源出力と接地間に挿入された各電圧固定用Pch型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくまたは無くすることにより、各段の各電圧固定用Pch型MOSFETから各定電流源への電流が増幅器最終段のみ少なくてすみまたは不必要なため、その分だけ最終段に接続される能動素子からの電流吸収の余裕ができるため、クランプ動作時に最終段定電流源のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善及び出力の安定化並びに高速化を図ることができる。
強光入力によるクランプ動作時の光電流・電圧変換回路の動作範囲を改善し、出力の安定性及び応答性を改善するという目的を、増幅器各段の定電流源出力と接地間に挿入された各電圧固定用MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくまたは無くすることで実現した。
まず、請求項1、5、6記載に係る本発明の第1実施例の光電流・電圧変換回路110を図1を参照して説明する。図1において、1は受光素子としてのフォトダイオード、2は増幅器で、フォトダイオード1はアノードが接地され、カソードが増幅器2の入力端3に接続されている。増幅器2は、入力端3と出力端4の間に帰還抵抗11が接続されている。また増幅器2は、Nch型MOSFET5のソースが接地されドレインと電源電圧端子VDDとの間に定電流源8が接続され、ドレインと定電流源8との接続点が次段への入力端となっている。以下、Nch型MOSFET6、定電流源9、Nch型MOSFET7、定電流源10により同様の構成で3段の反転増幅段が直流結合され、初段の入力端が増幅器2の入力端3となり、最終段の出力端が増幅器2の出力端4となっている。尚、MOSFET5、6、7および定電流源8、9、10はそれぞれ同一形状、同一サイズの素子で構成されている。12はクランプ用Pch型MOSFETで、ドレインは増幅器2の入力端3に、ソースは増幅器2の出力端4に、ゲートは2段目の反転増幅段出力端13にそれぞれ接続されている。
さらに、増幅器2は、Nch型MOSFET5のドレインと定電流源8との接続点にダイオード接続されたNch型MOSFET14のドレインが接続されると共にソースが接地(接地端子をGndとする)され、同じく増幅器2のNch型MOSFET6、7の各ドレインと各定電流源9、10との各接続点にダイオード接続された各Nch型MOSFET15、16のドレインが接続されると共にソースが接地されている。
そして、各Nch型MOSFET14、15は同一形状、同一サイズの素子であるが、Nch型MOSFET16のサイズは各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしている。尚、各Nch型MOSFET14、15は、他の同一形状、同一サイズのNch型MOSFET5、6、7とは形状、サイズが違っていてもよい。
この実施例の光電流・電圧変換回路110の動作を説明する。フォトダイオード1に光入力が無い場合は、光電流Ipdは流れず、増幅器2の入力端3と出力端4は同一電圧となる。従って、増幅器2の出力端4すなわち入力端3である初段のMOSFET5のゲートには定電流源10から供給される電流とダイオード接続されたNch型MOSFET16に応じた電圧が発生する。さらに次段のMOSFET6のゲートにも定電流源8から供給される電流とダイオード接続されたNch型MOSFET14に応じた電圧が発生する。さらに次段も同様であり、各増幅段のMOSFET5、6、7及び定電流源8、9、10は各々同一形状、同一サイズの素子となっているため、結局各MOSFET5、6、7のゲートに発生する電圧は同一電圧Voとなる。
尚、ダイオード接続されたNch型MOSFET14、15、16が無くても各MOSFET5、6、7のゲートに発生する電圧は同一電圧Voとなるが、各増幅段の定電流源出力と接地間に挿入されたダイオード接続の各Nch型MOSFETにより各増幅段の感度が抑えられるため、電圧Voへの収束がより早く安定したものとなる。
フォトダイオード1に光入力があると、その光量に応じた光電流Ipdが発生し、この光電流Ipdが帰還抵抗11に増幅器2の出力端4から入力端3の方向に流れる。増幅器2の入力電圧をV、1段目の反転増幅段出力電圧をV、2段目の反転増幅段出力電圧をVで表わすと、増幅器2の入力電圧Vが電圧Voより降下し、1段目の反転増幅段出力電圧をVが電圧Voより上昇し、2段目の反転増幅段出力電圧をVが電圧Voより降下し、増幅器2の出力電圧Vaが電圧Voより上昇する。この電圧の下降および上昇は段を追うに従い順次増幅され、その結果、光電流Ipdは、帰還抵抗11の両端に発生する電圧Vr=Ipd×Rf(Rf:帰還抵抗11の抵抗値)に電圧変換され、出力電圧VaはVa=Vo+Vrとなる。したがって、各入出力電圧V、V、VおよびVaは図2のようになる。
フォトダイオード1への光入力レベルがさらに増加し、増幅器2の出力が増大しようとすると、出力電圧Vaとは逆相の2段目の反転増幅段出力電圧をVがより低下する。そして、出力電圧Vaと電圧Vとの差電圧(Va−V)がPch型MOSFET12のしきい値電圧VCLよりも大きくなると、Pch型MOSFET12が導通し光電流Ipdの一部がPch型MOSFET12に流れる。電圧Vは増幅器2の入力電圧Vよりも低くなっているため、従来例210、220より増幅器2の出力電圧Vaが差電圧(V−V)だけ低いレベルでPch型MOSFET12が導通し、従来例の光電流・電圧変換回路210、220に比べ図2に示す矢印Aの電圧範囲でのクランプ動作が機能する。
このPch型MOSFET12が導通し光電流Ipdの一部がPch型MOSFET12に流れている時の各反転増幅段出力端での電流は、キルヒホッフの法則からその接続点での電流和が零となっている。各反転増幅段出力端への各接続素子からの流入電流を正、流出電流を負として記号Iに符号を付加して表わすと、
1段目の反転増幅段出力端では
I8 =I5+ +I14
2段目の反転増幅段出力端13では
I9 =I6+ +I15
3段目の反転増幅段出力端ではI11+I12=Ipdであるから
I10=I7+I11+I12+I16=I7+I16+Ipd
となり、各増幅段のMOSFET5、6、7及び定電流源8、9、10は各々同一形状、同一サイズの素子となっているため、前記3つの式の各左辺及び各第1項は各々同一である。よって、
I14=I15=Ipd+I16
となる。
前述の通り、各Nch型MOSFET14、15は同一形状、同一サイズの素子であるが、Nch型MOSFET16のサイズは各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしているため、
I14=I15>I16
となる。電流I16が少ない分、帰還抵抗11やPch型MOSFET12への帰還電流(I11+I12)すなわちIpdを供給できる。言い換えれば、Nch型MOSFET16への電流を減らすことにより、強光入力時に帰還電流(I11+I12)=Ipdが流れても充分増幅MOSFET7が動作可能な電流を確保できるということである。
以上のように、Pch型MOSFET12のゲートを2段目の反転増幅段出力端13に接続したことにより、Pch型MOSFET12のゲート電圧を増幅器の入力電圧よりも(V−V)だけ低くできるので、増幅器の入出力間電圧差がクランプ電圧VCLより(V−V)だけ小さい電圧において、Pch型MOSFETが導通しクランプ動作を早めさせ、増幅器が飽和することを防止できる。
また、Nch型MOSFET16のサイズを各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしたことにより、各段の定電流源から各電圧固定用MOSFETへの電流が増幅器最終段のみ少なくてすみ、その分だけ最終段に接続されるMOSFET7への電流供給余裕ができるため、強光入力時に最終段定電流源10のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善と同時に出力の応答速度の乱れを解消でき、高速動作を安定に維持することができる。
尚、請求項2、5、6記載に係る本発明の実施例では、第1実施例においてNch型MOSFET16を削除すればよく、そのクランプ動作及びドライブ電流不足の回避の点で第1実施例と同様の作用効果が得られる。
次に、請求項1、5、7記載に係る本発明の第2実施例の光電流・電圧変換回路120を図3を参照して説明する。尚、図1と同一のものについては同一符号を付してその説明を省略する。17はクランプ用Pch型MOSFETで、ドレインは増幅器2の入力端3に、ソースは増幅器2の出力端4に、ゲートは1段目の反転増幅段出力端18にそれぞれ接続されている。図1に示す受光ICと異なる点は、Pch型MOSFET17のゲートが1段目の反転増幅段出力端18に接続されている点である。
この実施例の光電流・電圧変換回路120の基本的な動作については、光電流・電圧変換回路110と同一でありその説明を省略する。光入力が無い場合の増幅器2の入力端3と出力端4は同一電圧Voとなり、光入力がある場合の各入出力電圧V、V、VおよびVaは図4のようになる。
フォトダイオード1への光入力レベルがさらに増加し、増幅器2の出力が増大しようとすると、出力電圧Vaと同相の1段目の反転増幅段出力電圧をVがより上昇する。そして、出力電圧Vaと電圧Vとの差電圧(Va−V)がPch型MOSFET17のしきい値電圧VCLよりも大きくなると、Pch型MOSFET17が導通し光電流Ipdの一部がPch型MOSFET17に流れる。電圧Vは増幅器2の入力電圧である電圧Vよりも高くなっているため、従来例の光電流・電圧変換回路210、220より増幅器2の出力電圧Vaが差電圧(V−V)だけ高いレベルでPch型MOSFET17が導通し、従来例の光電流・電圧変換回路210、220に比べ図4に示す矢印Bの電圧範囲でのクランプ動作が機能する。
第1実施例と同じく、このPch型MOSFET17が導通し光電流Ipdの一部がPch型MOSFET17に流れている時の各反転増幅段出力端での電流は、キルヒホッフの法則からその接続点での電流和が零となっている。各反転増幅段出力端への各接続素子からの流入電流を正、流出電流を負として記号Iに符号を付加して表わすと、
1段目の反転増幅段出力端18では
I8 =I5+ +I14
2段目の反転増幅段出力端では
I9 =I6+ +I15
3段目の反転増幅段出力端ではI11+I17=Ipdであるから
I10=I7+I11+I17+I16=I7+I16+Ipd
となり、各増幅段のMOSFET5、6、7及び定電流源8、9、10は各々同一形状、同一サイズの素子となっているため、前記3つの式の各左辺及び各第1項は各々同一である。よって、
I14=I15=Ipd+I16
となる。
前述の通り、各Nch型MOSFET14、15は同一形状、同一サイズの素子であるが、Nch型MOSFET16のサイズは各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしているため、
I14=I15>I16
となる。電流I16が少ない分、帰還抵抗11やPch型MOSFET17への帰還電流(I11+I17)=Ipdを供給できる。言い換えれば、Nch型MOSFET16への電流を減らすことにより、強光入力時に帰還電流(I11+I17)=Ipdが流れても充分増幅MOSFET7が動作可能な電流を確保できるということである。
以上のように、Pch型MOSFET17のゲートを1段目の反転増幅段出力端18に接続したことにより、Pch型MOSFET17のゲート電圧を増幅器の入力電圧よりも(V−V)だけ高くできるので、増幅器の入出力間電圧差がクランプ電圧VCLより(V−V)だけ大きい電圧まではPch型MOSFET17が導通せずクランプ動作を遅らせ、増幅器出力が意図しない範囲でクランプされることを防止できる。
また、Nch型MOSFET16のサイズを各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしたことにより、各段の定電流源から各電圧固定用MOSFETへの電流が増幅器最終段のみ少なくてすみ、その分だけ最終段に接続されるMOSFET7への電流供給余裕ができるため、強光入力時に最終段定電流源10のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善と同時に出力の応答速度の乱れが解消され、高速動作を安定に維持することができる。
尚、請求項2、5、7記載に係る本発明の実施例では、第2実施例においてNch型MOSFET16を削除すればよく、そのクランプ動作及びドライブ電流不足の回避の点で第2実施例と同様の作用効果が得られる。
次に、請求項1、5、8記載に係る本発明の第3実施例の光電流・電圧変換回路130を図5を参照して説明する。尚、図3に示す光電流・電圧変換回路120と同一のものについては同一符号を付してその説明を省略する。図3に示す光電流・電圧変換回路120と異なる点は、クランプ用MOSFETをPch型からNch型にした点である。図において、19はクランプ用Nch型MOSFETで、ソースは増幅器2の入力端3に、ドレインは増幅器2の出力端4に、ゲートは1段目の反転増幅段出力端18にそれぞれ接続されている。
この実施例の光電流・電圧変換回路130の基本的な動作については、第2実施例の光電流・電圧変換回路120と同一でありその説明を省略する。光入力が無い場合の増幅器2の入力端3と出力端4は同一電圧Voとなり、光入力がある場合の各入出力電圧V、V、VおよびVaは図6のようになる。
フォトダイオード1への光入力レベルがさらに増加し、増幅器2の出力が増大しようとすると、入力電圧Vと逆相の1段目の反転増幅段出力電圧をVがより上昇する。そして、入力電圧Vと電圧Vとの差電圧(V−V)がNch型MOSFET19のしきい値電圧VCLよりも大きくなって初めてNch型MOSFET19が導通し光電流Ipdの一部がNch型MOSFET19に流れる。従って、従来例の光電流・電圧変換回路210、220に比べ図6に示す矢印Cの電圧がしきい値電圧VCLに達するまでクランプ動作は機能しない。
第2実施例と同じく、このNch型MOSFET19が導通し光電流Ipdの一部がNch型MOSFET19に流れている時の各反転増幅段出力端での電流は、キルヒホッフの法則からその接続点での電流和が零となっている。各反転増幅段出力端への各接続素子からの流入電流を正、流出電流を負として記号Iに符号を付加して表わすと、
1段目の反転増幅段出力端18では
I8 =I5+ +I14
2段目の反転増幅段出力端では
I9 =I6+ +I15
3段目の反転増幅段出力端ではI11+I19=Ipdであるから
I10=I7+I11+I19+I16=I7+I16+Ipd
となり、各増幅段のMOSFET5、6、7及び定電流源8、9、10は各々同一形状、同一サイズの素子となっているため、前記3つの式の各左辺及び各第1項は各々同一である。よって、
I14=I15=Ipd+I16
となる。
前述の通り、各Nch型MOSFET14、15は同一形状、同一サイズの素子であるが、Nch型MOSFET16のサイズは各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしているため、
I14=I15>I16
となる。電流I16が少ない分、帰還抵抗11やNch型MOSFET19への帰還電流(I11+I19)=Ipdを供給できる。言い換えれば、Nch型MOSFET16への電流を減らすことにより、強光入力時に帰還電流(I11+I19)=Ipdが流れても充分増幅MOSFET7が動作可能な電流を確保できるということである。
以上のように、Nch型MOSFET19のゲートを1段目の反転増幅段出力端18に接続したことにより、増幅器の差電圧(V−V)がクランプ電圧VCLよりも大きくなるまではNch型MOSFET19が導通せずクランプ動作をさらに遅らせ、増幅器出力が意図しない範囲でクランプされることを防止できる。
また、Nch型MOSFET16のサイズを各Nch型MOSFET14、15よりも小さくしたことにより、各段の定電流源から各電圧固定用MOSFETへの電流が増幅器最終段のみ少なくてすみ、その分だけ最終段に接続されるMOSFET7への電流供給余裕ができるため、強光入力時に最終段定電流源10のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善と同時に出力の応答速度の乱れが解消され、高速動作を安定に維持することができる。
尚、請求項2、5、8記載に係る本発明の実施例では、第2実施例においてNch型MOSFET16を削除すればよく、そのクランプ動作及びドライブ電流不足の回避の点で第2実施例と同様の作用効果が得られる。
また、請求項3、5、9記載に係る本発明の第4実施例の光電流・電圧変換回路140を図7を参照して説明する。図1に示す光電流・電圧変換回路110と異なる点は、フォトダイオード1の逆バイアスのかけ方として、実施例1ではフォトダイオード1のアノードが接地されているが、アノードを増幅器2の入力端3に接続しカソードを電源電圧端子VDD接続した点である。この場合、帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETを逆極性型のMOSFETに替え、増幅器2の各MOSFET5、6、7及び各MOSFET14、15、16をPch型MOSFETに替え、各Pch型MOSFETのソースを電源電圧端子VDDに接続し、各MOSFETのドレインと接地間に定電流源を接続し、各ドレインと各定電流源との接続点を次段への入力端とする構成としている。尚、図7において、図1の構成要素に相当するものについては相当符号に添え字「a」を付している。
この実施例の光電流・電圧変換回路の各増幅段の動作については、光電流・電圧変換回路110と逆であり、強光入力時、増幅器2aの出力が低下しようとすると、出力電圧Vaとは逆相の2段目の反転増幅段出力電圧Vがより増大する。そして、出力電圧Vaと電圧Vとの差電圧(V−Va)がクランプ用Nch型MOSFET11aのしきい値電圧VCLを越えると、クランプ用Nch型MOSFET11aが導通し、従来例では防止できなかった電圧範囲での飽和を防止できる。
また第1実施例と同じく、光電流Ipdの一部がクランプ用Nch型MOSFET11aに流れている時の各反転増幅段出力端での電流は、キルヒホッフの法則からその接続点での電流和が零となっており、最終段の電圧固定用MOSFETのサイズを他の段よりも小さくしたことにより、各段の定電流源から各電圧固定用MOSFETへの電流が増幅器最終段のみ少なくてすみ、その分だけ最終段に接続されるMOSFETへの電流能力余裕ができるため、強光入力時に最終段定電流源のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善と同時に出力の応答速度の乱れが解消され、高速動作を安定に維持することができる。
さらにまた、請求項3、5、10記載に係る本発明の第5実施例の光電流・電圧変換回路150を図8を参照して説明する。尚、図7と同一のものについては同一符号を付してその説明を省略する。図7に示す受光ICと異なる点は、Nch型MOSFET17aのゲートが1段目の反転増幅段出力端18aに接続されている点である。
この実施例の光電流・電圧変換回路150の基本的な動作についても光電流・電圧変換回路140と同一であり、強光入力時、増幅器2aの出力が低下しようとすると、出力電圧Vaと同相の1段目の反転増幅段出力電圧Vが低下する。そして、出力電圧Vaと電圧Vとの差電圧(Va−V)がクランプ用Nch型MOSFET17aのしきい値電圧VCLを越えるまでは、クランプ用Nch型MOSFET17aが導通せずクランプ動作を遅らせ、増幅器出力が意図しない範囲でクランプされることを防止できる。
また、これまでの実施例と同じく、光電流Ipdの一部がクランプ用Nch型MOSFETに流れている時の各反転増幅段出力端での電流は、キルヒホッフの法則からその接続点での電流和が零となっており、最終段の電圧固定用MOSFETのサイズを他の段よりも小さくしたことにより、各段の定電流源への各電圧固定用MOSFETから電流が増幅器最終段のみ少なくてすみ、その分だけ最終段に接続されるMOSFETに対する電流能力余裕ができるため、強光入力時に最終段定電流源のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善と同時に出力の応答速度の乱れが解消され、高速動作を安定に維持することができる。
さらにまた、請求項3、5、11記載に係る本発明の第6実施例の光電流・電圧変換回路160を図9を参照して説明する。尚、図8に示す光電流・電圧変換回路150と同一のものについては同一符号を付してその説明を省略する。図8に示す受光ICと異なる点は、クランプ用MOSFETをNch型からPch型にした点である。図において、19aはクランプ用Pch型MOSFETで、ソースは増幅器2aの入力端3aに、ドレインは増幅器2aの出力端4aに、ゲートは1段目の反転増幅段出力端18aにそれぞれ接続されている。
この実施例の光電流・電圧変換回路160の基本的な動作についても光電流・電圧変換回路150と同一であり、強光入力時、増幅器2aの出力が低下しようとすると、出力電圧Vaと同相の1段目の反転増幅段出力電圧Vが低下する。そして、増幅器の差電圧(V−V)がクランプ電圧VCLよりも大きくなるまではPch型MOSFET19aが導通せずクランプ動作をさらに遅らせ、増幅器出力が意図しない範囲でクランプされることを防止できる。
また、これまでの実施例と同じく、光電流Ipdの一部がクランプ用Pch型MOSFETに流れている時の各反転増幅段出力端での電流は、キルヒホッフの法則からその接続点での電流和が零となっており、最終段の電圧固定用MOSFETのサイズを他の段よりも小さくしたことにより、各段の定電流源への各電圧固定用MOSFETから電流が増幅器最終段のみ少なくてすみ、その分だけ最終段に接続されるMOSFETに対する電流能力余裕ができるため、強光入力時に最終段定電流源のドライブ電流不足を回避でき、光電流・電圧変換回路動作の強光入力範囲の改善と同時に出力の応答速度の乱れが解消され、高速動作を安定に維持することができる。
尚、実施例1〜6記載の本発明の光電流・電圧変換回路の各反転増幅段は、例えばソース接地の前段MOSFETとソースフォロワの後段MOSFETの2段構成であってもよい。また、実施例1〜6記載の本発明の光電流・電圧変換回路のダイオード接続された各MOSFETは、上記実施例に限定されずダイオード機能を有する素子であればよく、ダイオード素子そのものであってもよい。
本発明の光電流・電圧変換回路は、赤外線通信や光ケーブル通信等の光受信回路に広く適用できる。
本発明の第1実施例の光電流・電圧変換回路110を示す回路図。 図1に示す第1実施例の動作を説明するための電圧波形図。 本発明の第2実施例の光電流・電圧変換回路120を示す回路図。 図3に示す第2実施例の動作を説明するための電圧波形図。 本発明の第3実施例の光電流・電圧変換回路130を示す回路図。 図5に示す第3実施例の動作を説明するための電圧波形図。 本発明の第4実施例の光電流・電圧変換回路140を示す回路図。 本発明の第5実施例の光電流・電圧変換回路150を示す回路図。 本発明の第6実施例の光電流・電圧変換回路160を示す回路図。 従来の一実施例の光電流・電圧変換回路200を示す回路図。 従来の他の実施例の光電流・電圧変換回路210を示す回路図。 従来の更に他の実施例の光電流・電圧変換回路220を示す回路図。 従来の光電流・電圧変換回路のクランプ動作を説明するための波形図。 従来の光電流・電圧変換回路のドライブ電流不足による課題を説明するための波形図。
符号の説明
1、1a、21 フォトダイオード
2、2a、22 増幅器
3、3a、23 入力端
4、4a、24 出力端
5、5a、6、6a、7、7a MOSFET
8、8a、9、9a、10、10a 定電流源
11、11a、25 帰還抵抗
12、12a、17、17a、19、19a、28 クランプ用MOSFET
14、14a、15、15a、16、16a 電圧固定用MOSFET
13、13a、18、18a 反転増幅段出力端
27 ダイオード
Ipd 光電流
入力電圧
、V 反転増幅段出力電圧
CL クランプ電圧
DD 電源電圧端子
Va 出力電圧
Vo 基準値電圧
110、120、130、140、150、160 本発明の光電流・電圧変換回路
200、210、220 従来の光電流・電圧変換回路

Claims (11)

  1. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、前記帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも大きくなるように前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、前記各電圧固定用MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  2. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、前記帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも大きくなるように前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに前記増幅器は最終段を除く各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、前記各電圧固定用MOSFETを流れる電流を等しくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  3. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、前記帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも小さくなるように前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、前記各電圧固定用MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  4. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、前記帰還抵抗に並列に接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合された反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲート・ソース間電圧の絶対値がドレイン・ソース間電圧の絶対値よりも小さくなるように前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段のうち最終段以外の出力に接続され、さらに前記増幅器は最終段を除く各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用MOSFETが接続され、前記各電圧固定用MOSFETを流れる電流を等しくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  5. 前記増幅器を構成する反転増幅段がソース接地したMOSFETからなる同一構成の反転増幅段であることを特徴とする特許請求の範囲第1〜4に記載のいずれか1つの光電流・電圧変換回路。
  6. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のNch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、
    前記クランプ用MOSFETはPch型で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段の最終段以外の偶数段目の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、前記各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  7. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のNch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETはPch型で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用Nch型MOSFETが接続され、前記各電圧固定用Nch型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  8. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のNch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETはNch型で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と接地間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、前記各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  9. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のPch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETはNch型で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段の最終段以外の偶数段目の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と電源電圧端子間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、前記各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  10. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のPch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETはNch型で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と電源電圧端子間にダイオード接続された各電圧固定用Nch型MOSFETが接続され、前記各電圧固定用Nch型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
  11. 入出力端間に帰還抵抗が接続された増幅器と、増幅器の入力端と接地間に逆バイアス接続されたフォトダイオードと、帰還抵抗に並列接続されたクランプ用MOSFETとを有する光電流・電圧変換回路において、
    前記増幅器は3段以上で直流結合されたソース接地のPch型MOSFETからなる反転増幅段で構成され、前記クランプ用MOSFETはPch型で構成され、前記クランプ用MOSFETのゲートが前記反転増幅段の最終段以外の奇数段目の出力に接続され、さらに前記増幅器は各反転増幅段出力と電源電圧端子間にダイオード接続された各電圧固定用型MOSFETが接続され、前記各電圧固定用型MOSFETを流れる電流を最終段のみ他の段より小さくしたことを特徴とする光電流・電圧変換回路。
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