JP2005233929A - パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明の接触構造は、印刷回路基板、該印刷回路基板上に固定されたはんだ接合部、及び固定プレートを有する。はんだ接合部は、印刷回路基板上に固定され、該はんだ接合部は、接触金属ボールと接続された複数の接触金属バネを有する。固定プレートは、はんだ接合部間に位置決めされる。実質的に一定の圧力が、ウエハレベル・パッケージの表面と接触する固定プレートの表面を使用することによって、接触金属ボール及び金属バネの間で維持される。
【選択図】 図1
Description
(1)ポゴピン:高価であるとともに、バーンイン試験のコストが高い。
(2)金属プローブ:信頼度は普通、高価、組み立てが複雑。
(3)メンブレン接触:高価、信頼度が低い。
101 接触金属ボール
102 はんだ接合部
104 微小金属バネ
105 固定プレート
Claims (4)
- 印刷回路基板と、
前記印刷回路基板上に配置された固定プレートと、
前記固定プレート上に固定されたはんだ接合部であって、前記印刷回路基板に電気的に接続された複数の接触金属バネを有し、試験対象物に接触するために用いられるはんだ接合部と、
を含み、
前記固定プレートが、前記試験対象物の接触金属ボールと前記接触金属バネとの間に略一定の圧力を維持するように、前記試験対象物の表面に接触することを特徴とする、
実装後のバーンイン試験用接触構造。 - はんだボールなどの前記接触金属ボールがパッケージに接続され、前記金属バネが前記はんだ接合部に固定され、前記金属バネの材料がステンレス鋼を含み、前記はんだ接合部が、SMT技術によって前記印刷回路基板上に固定され、前記印刷回路基板が耐熱材料であり、前記耐熱材料が、FR4、FR5、及びBTから選択され、前記固定プレートの各表面及び前記金属バネの表面が同一平面にあり、前記固定プレートと前記印刷回路基板の材料が同一であり、前記固定プレートが複数のプレートによって構成され、最下部プレートの孔の口径が最小であり、最上部プレートの孔の口径が最大である、請求項1に記載の構造。
- 印刷回路基板を提供することと、
はんだ接合部及び固定プレートを前記印刷回路基板上に固定し、前記はんだ接合部に配置された金属バネをパッケージに電気結合させ、前記パッケージ及び前記金属バネの間に略一定の圧力を生じさせるために前記固定プレートの表面を利用することと、
を含む、実装後のバーンイン試験の接触方法。 - 前記パッケージに接続された、例えば、はんだボールなどの接触金属ボールをさらに含むとともに、前記金属バネが前記はんだ接合部に固定され、前記金属バネの材料がステンレス鋼であり、前記はんだ接合部が、SMT技術によって前記印刷回路基板上に固定され、前記印刷回路基板が、耐熱材料であり、前記耐熱材料が、FR4、FR5及びBTから選択され、前記固定プレートの各表面及び前記金属バネの表面が同一平面上にあり、前記固定プレート及び前記印刷回路基板の各材料が同一であり、前記固定プレートが、複数のプレートによって構成され、最下部プレートの孔の口径が最小であり、最上位プレートの孔の口径が最大である、請求項3に記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW093103677A TWI261676B (en) | 2004-02-16 | 2004-02-16 | Structure and method for package burn-in testing |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008099263A Division JP2008224675A (ja) | 2004-02-16 | 2008-04-07 | パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005233929A true JP2005233929A (ja) | 2005-09-02 |
Family
ID=34836983
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004234966A Pending JP2005233929A (ja) | 2004-02-16 | 2004-08-12 | パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 |
JP2008099263A Withdrawn JP2008224675A (ja) | 2004-02-16 | 2008-04-07 | パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008099263A Withdrawn JP2008224675A (ja) | 2004-02-16 | 2008-04-07 | パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20050182585A1 (ja) |
JP (2) | JP2005233929A (ja) |
KR (1) | KR20050081831A (ja) |
DE (1) | DE102004033646A1 (ja) |
SG (1) | SG140460A1 (ja) |
TW (1) | TWI261676B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006200983A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Denso Corp | 半導体集積回路装置およびその試験方法 |
US7262615B2 (en) * | 2005-10-31 | 2007-08-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for testing a semiconductor structure having top-side and bottom-side connections |
WO2010053884A1 (en) * | 2008-11-07 | 2010-05-14 | Idd Aerospace Corporation | Lighting systems |
CN103926430B (zh) * | 2014-04-23 | 2016-09-21 | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 | 一种硅通孔转接板测试方法 |
KR101753181B1 (ko) * | 2014-12-20 | 2017-07-03 | 인텔 코포레이션 | 소켓 어셈블리용 땜납 콘택트 |
CN216873443U (zh) | 2019-01-04 | 2022-07-01 | 恩格特公司 | 精确对准的组件 |
CN114509656B (zh) * | 2022-04-06 | 2022-10-14 | 杭州飞仕得科技有限公司 | 一种igbt驱动单板智能检测系统 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5532612A (en) * | 1994-07-19 | 1996-07-02 | Liang; Louis H. | Methods and apparatus for test and burn-in of integrated circuit devices |
JP2648120B2 (ja) * | 1995-02-08 | 1997-08-27 | 山一電機株式会社 | 表面接触形接続器 |
US6084421A (en) * | 1997-04-15 | 2000-07-04 | Delaware Capital Formation, Inc. | Test socket |
US5955888A (en) * | 1997-09-10 | 1999-09-21 | Xilinx, Inc. | Apparatus and method for testing ball grid array packaged integrated circuits |
US6220870B1 (en) * | 1998-02-27 | 2001-04-24 | Cerprobe Corporation | IC chip socket and method |
TW367415B (en) * | 1998-06-18 | 1999-08-21 | United Microelectronics Corp | Test method for ball grid array integrated circuit |
US6278285B1 (en) * | 1998-07-17 | 2001-08-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Configuration for testing integrated components |
JP2000182701A (ja) * | 1998-12-18 | 2000-06-30 | Honda Tsushin Kogyo Co Ltd | プローブピンとその製造方法及びコネクタ |
US6672881B2 (en) * | 2001-10-31 | 2004-01-06 | Fci Americas Technology, Inc. | Ball grid array socket |
TW555993B (en) * | 2002-01-15 | 2003-10-01 | Via Tech Inc | Chip test device to test the chip using BGA package |
US7044746B2 (en) * | 2002-10-16 | 2006-05-16 | Tyco Electronics Corporation | Separable interface electrical connector having opposing contacts |
-
2004
- 2004-02-16 TW TW093103677A patent/TWI261676B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-05-07 US US10/840,421 patent/US20050182585A1/en not_active Abandoned
- 2004-06-09 SG SG200403562-2A patent/SG140460A1/en unknown
- 2004-06-30 KR KR1020040050086A patent/KR20050081831A/ko active Search and Examination
- 2004-07-12 DE DE102004033646A patent/DE102004033646A1/de not_active Withdrawn
- 2004-08-12 JP JP2004234966A patent/JP2005233929A/ja active Pending
-
2005
- 2005-12-28 US US11/318,552 patent/US20060105594A1/en not_active Abandoned
-
2008
- 2008-04-07 JP JP2008099263A patent/JP2008224675A/ja not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050182585A1 (en) | 2005-08-18 |
US20060105594A1 (en) | 2006-05-18 |
TW200528735A (en) | 2005-09-01 |
SG140460A1 (en) | 2008-03-28 |
TWI261676B (en) | 2006-09-11 |
JP2008224675A (ja) | 2008-09-25 |
DE102004033646A1 (de) | 2005-09-08 |
KR20050081831A (ko) | 2005-08-19 |
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A977 | Report on retrieval |
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A602 | Written permission of extension of time |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A521 | Request for written amendment filed |
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