JP2005166768A - レーザーアニール装置及び薄膜トランジスタ製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 半導体膜が形成された基板の主面に対してレーザー光3を照射し、基板上の線状領域を加熱するレーザー出力部2と、上記基板の主面に対向させて設けられた射出口6aを有し、上記加熱領域に対し、射出口6aから不活性ガスを射出する線状射出ノズル6と、上記基板の主面に対向させて設けられた射出口7aを有し、上記加熱領域を両側から挟む側方領域に対し、射出口7aから不活性ガスを射出する環状射出ノズル7により構成される。射出口6aから基板へレーザー光3を照射する際、射出口6aからガス流11が出射されるとともに、射出口7aからガス流12が出射され、ガス流11に周囲の空気が巻き込まれるのを抑制している。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の実施の形態1によるレーザーアニール装置の要部の一構成例を示した断面図であり、図中の2はレーザー出力部、3はレーザー光、4はアニーラウインドー、5はガス収容室、6は線状射出ノズル、7は環状射出ノズル、8はガスボンベ、9はガス供給管、10はガス導入口、13はガス収容室筐体である。本実施の形態によるレーザーアニール装置1は、レーザーアニール時に線状のレーザー光を通過させる線状射出ノズル6から不活性ガスを射出するとともに、この線状射出ノズル6を取り囲む環状射出ノズル7からも不活性ガスを射出することにより、加熱領域内における基板上の酸素濃度を低減させている。
本実施の形態による薄膜トランジスタ製造方法は、図4〜図6の製造プロセスと比較すれば、非晶質シリコン膜44の形成後、非晶質シリコン膜44表面に形成された自然酸化膜をレーザー照射が行われるまでに除去する酸化膜除去工程を備えている点で異なる。
実施の形態1では、レーザー光源としてガスレーザーであるエキシマレーザーが用いられる場合の例について説明した。これに対し、本実施の形態では、レーザー光源として固体レーザーが用いられる場合について説明する。
2 レーザー出力部
3 レーザー光
4 アニーラウインドー
5 ガス収容室
6,71 線状射出ノズル
6a,71a 射出口(第1の射出口)
7 環状射出ノズル
7a,72a 射出口(第2の射出口)
8 ガスボンベ
9 ガス供給管
10 ガス導入口
11 第1のガス流
12 第2のガス流
13 ガス収容室筐体
21 支持部
31 レーザー発振器
32 ガスチューブ
33 共振器ミラー
34 反射ミラー
35 バリアブルアッテネータ
36 ビームホモジナイザー
37 短軸スリット
38 長軸スリット
41 絶縁性基板
42 窒化シリコン膜
43 酸化シリコン膜
44 非晶質シリコン膜
45 結晶性シリコン膜
46 TFT領域
46a チャネル領域
47 ゲート絶縁膜
48 ゲート電極
49 ソース・ドレイン領域
50 層間絶縁膜
51,56 コンタクトホール
52 ドレイン配線
53 ソース配線
54 パッシベーション膜
55 有機樹脂膜
72 側方射出ノズル
Claims (9)
- 半導体膜が形成された基板の主面に対してレーザー光を照射し、基板上の線状領域を加熱するレーザー照射手段と、
上記基板の主面に対向させて設けられた第1の射出口を有し、上記加熱領域に対し、第1の射出口から不活性ガスを射出する第1のガス射出手段と、
上記基板の主面に対向させて設けられた第2の射出口を有し、上記加熱領域を両側から挟む側方領域に対し、第2の射出口から不活性ガスを射出する第2のガス射出手段とを備えたことを特徴とするレーザーアニール装置。 - 上記第2のガス射出手段は、上記加熱領域に沿って、加熱領域全体を挟み込む側方領域に対して不活性ガスを射出することを特徴とする請求項1に記載のレーザーアニール装置。
- 上記レーザー照射手段は、第1の射出口からレーザー光を照射し、
上記第2の射出口は、第1の射出口を取り囲む環状の射出口からなることを特徴とする請求項1に記載のレーザーアニール装置。 - 上記第2の射出口は、不活性ガスを外側に向けて射出する環状射出ノズルからなることを特徴とする請求項3に記載のレーザーアニール装置。
- 上記加熱領域内における基板上の酸素濃度が45ppm以下であることを特徴とする請求項1に記載のレーザーアニール装置。
- 上記レーザー照射手段による加熱処理後の半導体膜の表面粗さRaが1nm以上3nm以下であることを特徴とする請求項1に記載のレーザーアニール装置。
- 基板上に非晶質の半導体膜を形成する半導体膜形成ステップと、
上記非晶質半導体膜が形成された基板の主面に対してレーザー光を照射し、基板上の線状領域を加熱するレーザー照射ステップと、
レーザー照射中の加熱領域に対して第1の射出口から不活性ガスを射出するとともに、上記加熱領域を両側から挟む側方領域に対して第2の射出口から不活性ガスを射出する不活性ガス射出ステップと、
レーザー照射により結晶化された半導体膜をパターニングするTFT領域形成ステップと、
パターニングによりTFT領域が形成された基板上にゲート絶縁膜を形成するゲート絶縁膜形成ステップと、
上記ゲート絶縁膜が形成された基板上に導電膜を形成し、パターニングするゲート電極形成ステップとからなることを特徴とする薄膜トランジスタ製造方法。 - 上記非晶質半導体膜の形成後に当該半導体膜表面に形成された自然酸化膜をレーザー照射前に除去する酸化膜除去ステップを備えたことを特徴とする請求項7に記載の薄膜トランジスタ製造方法。
- 上記レーザー照射ステップは、上記自然酸化膜の除去後、6時間以内にレーザー照射を開始するステップからなることを特徴とする請求項8に記載の薄膜トランジスタ製造方法。
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