JP2005151077A - 2板式カラー固体撮像装置及びデジタルカメラ - Google Patents

2板式カラー固体撮像装置及びデジタルカメラ Download PDF

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Abstract

【課題】 カラーフィルタを搭載しないことにより製造歩留まりを上げた固体撮像素子を用い装置の小型化と3板式の色再現性及び高感度化を実現する2板式カラー固体撮像装置を提供する。
【解決手段】 被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、第1固体撮像素子の半導体基板43に形成される各受光部が、前記第1色の入射光量に応じた画像信号を検出する第1色検出用高濃度不純物層51と、該不純物層51と異なる深さに形成され前記第2色の入射光量に応じた画像信号を検出する第2色検出用高濃度不純物層52とによって構成する。
【選択図】 図6

Description

本発明は2板式カラー固体撮像装置及びこの2板式カラー固体撮像装置を搭載したデジタルカメラに係り、特に、高感度且つ色再現性の優れた2板式カラー固体撮像装置及びデジタルカメラに関する。
CCDやCMOS等の固体撮像素子の微細化,多画素化が進展し、固体撮像素子を搭載したデジタルビデオカメラやデジタルスチルカメラ等のデジタルカメラで撮影した画像の解像度は、銀塩フィルムを用いて撮像した画像と遜色の無いレベルに達してきている。
固体撮像素子を用いたカラー固体撮像装置として、従来から、3板式のものと、2板式のものと、単板式のものが知られている。
3板式のカラー固体撮像装置は、例えば下記特許文献1に記載されている様に、半導体基板表面に多数の光電変換素子がアレイ状に形成された固体撮像素子を3個用い、被写体の光学像のうち赤色の光学像を第1の固体撮像素子で受光し、緑色の光学像を第2の固体撮像素子で受光し、青色の光学像を第3の固体撮像素子で受光する構成になっている。そのため、被写体からの入射光を赤色(R),緑色(G),青色(B)の各色の光学像に分離する色分解プリズムが用いられる。尚、固体撮像素子ではなく、撮像管を用いた3板式のものとして、下記特許文献2がある。
図23は、色分解プリズムの一例を示す構成図である。図示する色分解プリズム1は、第1プリズム部材1a,第2プリズム部材1b,第3プリズム部材1cと、部材1a,1b間に設けられた青色反射用ダイクロイック膜2と、部材1b,1c間に設けられた赤色反射用ダイクロイック膜3とからなる。
そして、第1プリズム部材1aに入射したR,G,Bの各色の光学像のうち青色(B)の光学像がダイクロイック膜2で反射して第3の固体撮像素子4で受光され、ダイクロイック膜2を透過した赤色(R),緑色(G)の各色光学像のうち赤色(R)の光学像がダイクロイック膜3で反射して第1の固体撮像素子5で受光され、ダイクロイック膜3を透過して第3プリズム部材1c中を直進した緑色(G)の光学像が第2の固体撮像素子4で受光される。
この3板式の固体撮像装置は、色分解性能が高く入射光を無駄にしないため、撮像画像の色再現性が優れ、感度が高いという利点を有する。しかし、3個の固体撮像素子4,5,6と複雑な色分解プリズム1が必要であり、しかも、プリズム1の前段に配置される図示しない集光レンズで結像したR,G,Bの各色光線の各固体撮像素子4,5,6に達する光路長を等しくする必要のため第3プリズム部材1cを省略できず、コストが嵩むと共に装置が大型化してしまうという問題がある。
2板式のカラー固体撮像装置は、例えば下記特許文献3,4に記載されているように、2つの固体撮像素子と、図23に示すプリズム1よりは簡単な構造の色分解プリズムを用いて構成される。図24は2板式カラー固体撮像装置に用いられるプリズムの一例を示す構成図である。この色分解プリズム7は、第1プリズム部材7a,第2プリズム部材7bと、両者間に設けられた緑色(G)反射用ダイクロイック膜8とからなり、第1プリズム部材7aに入射したR,G,Bの各色光学像のうち緑色(G)の光学像がダイクロイック膜8で反射して第1の固体撮像素子9で受光され、ダイクロイック膜8を透過した赤色(R),青色(B)の各光学像が、第2の固体撮像素子10で受光される。
第2の固体撮像素子10は、赤色(R)の光学像と青色(B)の光学像とを別々に受光するために、素子10の前面にカラーフィルタ11が設けられる。このカラーフィル11には、赤色(R)カラーフィルタと青色(B)カラーフィルタが例えば交互にストライプ状に設けられ、赤色カラーフィルタの背面側に配置された光電変換素子が赤色の受光量を検出し、青色カラーフィルタの背面側に配置された光電変換素子が青色の受光量を検出する様になっている。
この2板式のカラー固体撮像装置は、3板式のカラー固体撮像装置に比べて固体撮像素子数が2個で済み、プリズム7を安価に構成できるため、コスト低減を図ることが可能となる。しかし、カラーフィルタ11を用いるため、赤色カラーフィルタに入射した青色光と、青色カラーフィルタに入射した赤色光は光電変換素子に受光されずに無駄となり、このため3板式に比べて感度が悪いという問題がある。また、赤色(R)と青色(B)の各色入射光線は直進して固体撮像素子10に受光される構成のため、第2プリズム部材7bの厚さを省略できず、装置の厚さを低減できないという問題もある。
単板式のカラー固体撮像装置は、色分解プリズムを用いずにR,G,Bの各色光学像を1個の固体撮像素子で受光する構成となっている。このため、固体撮像素子の前面に、赤色(R)カラーフィルタと緑色(G)カラーフィルタと青色(B)カラーフィルタが所定規則に従ってモザイク状に配列されたカラーフィルタを形成し、半導体基板表面に形成された多数の光電変換素子の各々が、R,G,Bのうちの一色の光学像を受光する構成になっている。このカラーフィルタの一例を図25に示す。このカラーフィルタの配列はベイヤー配列といわれ、下記特許文献5に記載されている。
単板式のカラー固体撮像装置は、固体撮像素子が1個で済み、色分解プリズムが不要なため、コストが安く、装置が小型にできるという利点がある。しかし、赤色(R)カラーフィルタに入射した緑色(G)と青色(B)の光は光電変換されることはなく、緑色(G)カラーフィルタに入射した赤色(R)と青色(B)の光も光電変換されることがなく、同様に、青色(B)カラーフィルタに入射した赤色(R)と緑色(G)の光も光電変換されることがない。従って、入射光のうちの略1/3しか光電変換されず、感度が悪いという問題がある。
この問題は、下記特許文献6〜8に記載されているカラー固体撮像素子を用いることで回避できる。特許文献6には、カラーフィルタを使用せずに、基板に多層構造の半導体感光膜を積層し、各感光膜により、入射光中の赤色(R),緑色(G),青色(B)を分離して読み出す固体撮像素子が記載されている。
特許文献7には、カラーフィルタを搭載せずに、半導体基板内に深さ方向に分離した高濃度不純物層を3層設け、各高濃度不純物層により、入射光中の赤色(R),緑色(G),青色(B)を分離して検出する固体撮像素子が記載されている。この構造は、下記非特許文献1に記載されている半導体の光学的性質、即ち、光電変換素子の光電変換特性が入射光の波長及び半導体基板の深さ方向の位置に依存するという光学的性質を利用している。
また、特許文献8には、カラーフィルタを搭載せずに、半導体の光学的性質を利用して入射光中の赤色(R),緑色(G),青色(B)を分離して検出するCMOS型イメージセンサが記載されている。
図26は、特許文献7に記載されたカラー固体撮像素子の一画素分の断面図である。このカラー固体撮像素子では、半導体基板の表面側に形成されたPウェル層16内に、深さ方向に分離した3つの高濃度不純物層17,18,19が設けられている。半導体基板に入射する入射光のうち、青色(B)光は浅い位置までしか浸入できず、赤色(R)光は深い位置まで浸入でき、緑色(G)光はその中間の位置まで浸入できる。このため、最浅の高濃度不純物層17には青色(B)の入射光量に応じた光電荷が蓄積され、中間の高濃度不純物層18には緑色(G)の入射光量に応じた光電荷が蓄積され、最深の高濃度不純物層19には赤色(R)の入射光量に応じた光電荷が蓄積される。
図27は、図26に示す固体撮像素子で検出される各色R,G,Bの分光特性を示すグラフであり、カラーフィルタを用いなくても、赤色(R),緑色(G),青色(B)の各色を分離して検出できることを示している。しかし、このグラフから分かる通り、半導体基板の光学的性質を利用してR,G,Bの3色を分離する場合、各色R,G,Bの分離が十分でなく、例えば緑色(G)を検出する光電変換素子は緑色ばかりでなく赤色や青色の光も緑色として検出している。このため、この固体撮像素子で検出したR,G,Bの各色信号に基づいて撮像画像を再現した場合、色再現が難しいという問題がある。
上述したように、3板式,2板式,単板式のカラー固体撮像装置には、夫々利点と欠点が存在するため、デジタルカメラに搭載するカラー固体撮像装置をいずれの方式のものにするかは、製造コストと性能及びデジタルカメラの大きさによって決めることになる。
特に、近年の様に画素の微細化が進展した固体撮像素子では、固体撮像素子の製造歩留まりがデジタルカメラのコストに大きく関わるため、製造歩留まりを高くできる固体撮像素子を採用するのが望ましい。
画素の微細化が進展した固体撮像素子では、半導体基板表面に形成された受光部の上部に、カラーフィルタや平坦化膜、マイクロレンズ等を積層する必要があり、受光部とマイクロレンズ(トップレンズ)との間の距離(各画素の高さ)を短くすることができない。しかしその一方で、多画素化が進展した固体撮像素子では、各画素の開口部の寸法が入射光の波長オーダにまで小さくなってきており、このため、各画素におけるトップレンズから光電変換素子までの入射光路は細長い通路となっている。しかも、固体撮像素子の中央部に対して周辺部における入射光の入射角は斜めになるため、周辺部における光量不足すなわち色シェーディングを回避するために、周辺部の画素においては、入射角に合わせて各入射光路が斜めとなるように、カラーフィルタ,平坦化膜,マイクロレンズ等を積層しなくてはならず、これが固体撮像素子の製造歩留まりを低下させる一因となっている。
特開平5―244613号公報 特開昭48―37141号公報 特開平5―244610号公報 特開平3―274523号公報 米国特許第3971065号公報 米国特許第4438455号公報 特開平1―134966号公報 米国特許第5965875号公報 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, VOL.ED-15,NO.1,JANUARY 1968 の"A Planar Silicon Photosensor with an Optimal Spectral Response for Detecting Printed Material"PAUL A.GARY and JOHN G.LINVILL
従来の3板式カラー固体撮像装置は、色再現性が高く高感度であるが、複雑で大型の色分解プリズムと3つの固体撮像素子を使用するため、製造コストが嵩むとともに大型のデジタルカメラにしか搭載できないという問題がある。
従来の2板式カラー固体撮像装置は、3原色のうち1色をプリズムで反射して残り2色をカラーフィルタで分離する構成のため、感度が3板式のものに劣るという問題がある。また、カラーフィルタを形成した製造歩留まりの低い固体撮像素子を使用するため、コストが嵩むという問題もある。
従来のカラーフィルタを用いる単板式カラー固体撮像装置は、製造歩留まりの低い固体撮像素子を使用するためコストが嵩むと共に、入射光のうち利用しない色の光をカラーフィルタでカットするため、感度が悪いという問題がある。
従来のカラーフィルタを用いない単板式カラー固体撮像装置は、半導体の光学的性質を利用して3原色を分離し検出する構成のため、色分離性能が十分でなく、撮像画像の色再現が難しいという問題がある。また、1画素で3色を分離する構成のため、製造が困難であり、特に前記CMOS型イメージセンサにおいては各画素の周辺回路と配線が大規模となり、受光部領域の面積が狭くなるという問題もある。
本発明の目的は、カラーフィルタを搭載しないことにより製造歩留まりを上げた固体撮像素子を用い装置の小型化と3板式の色再現性及び高感度化を実現する2板式カラー固体撮像装置とこれを搭載したデジタルカメラを提供することにある。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、前記第1固体撮像素子が検出する前記第1色の画像信号の二次元平面上のサンプリングポイントと前記第2色の画像信号の二次元平面上のサンプリングポイントとが同一であることを特徴とする。
この構成により、色分解プリズムの構成が簡単となって低コスト,小型化が実現され、しかも3板式と同等の高画質,高感度の画像を撮像可能となり、更に、色モアレや偽色を低減可能となる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、前記第2固体撮像素子が検出する前記第3色の画像信号の二次元平面上のサンプリングポイントが前記第1色及び第2色の前記サンプリングポイントと同一であることを特徴とする。
この構成により、更に、色モアレや偽色の発生を回避できる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、前記第1固体撮像素子にアレイ状に形成され前記第1色及び前記第2色の光を受光する受光部の数と前記第2固体撮像素子にアレイ状に形成され前記第3色の光を受光する受光部の数とが同一であることを特徴とする。
この構成により、色分解プリズムの構成が簡単となって低コスト,小型化が実現され、しかも3板式と同等の高画質,高感度の画像を撮像可能となり、更に、色モアレや偽色を低減可能となる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、前記第1固体撮像素子に形成された複数の受光部の各々が前記第1色の画像信号と前記第2色の画像信号を出力する構成になっていることを特徴とする。
この構成により、色分解プリズムの構成が簡単となって低コスト,小型化が実現され、しかも3板式と同等の高画質,高感度の画像を撮像可能となり、更に、色モアレや偽色を低減可能となる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、前記第1固体撮像素子の半導体基板に形成される各受光部が、前記第1色の入射光量に応じた画像信号を検出する第1色検出用高濃度不純物層と、該第1色検出用高濃度不純物層と異なる深さに形成され前記第2色の入射光量に応じた画像信号を検出する第2色検出用高濃度不純物層とによって構成されることを特徴とする。
この構成により、色分解プリズムの構成が簡単となって低コスト,小型化が実現され、しかも3板式と同等の高画質,高感度の画像を撮像可能となり、更に、色モアレや偽色を低減可能となる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、前記第1色が青色であり、前記第2色が赤色であり、前記第3色が緑色であり、前記第1色検出用高濃度不純物層が前記第1固体撮像素子の前記半導体基板の表面部に形成され、前記第2色検出用高濃度不純物層が前記第1固体撮像素子の前記半導体基板の前記第1色検出用高濃度不純物層より深部に形成され、前記第2固体撮像素子に形成される前記第3色の入射光量に応じた画像信号を検出する第3色検出用高濃度不純物層が、前記第1色検出用高濃度不純物層と前記第2色検出用高濃度不純物層との中間の深さに形成されることを特徴とする。
この構成により、第1固体撮像素子から出力される第1色と第2色の色分離性能が高まると共に、第1固体撮像素子の製造も容易となる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、前記第1固体撮像素子及び前記第2固体撮像素子が夫々CCDで構成され、あるいは、MOS型イメージセンサで構成されることを特徴とする。更にまた、本発明の2板式カラー固体撮像素子は、前記第1固体撮像素子及び前記第2固体撮像素子の各受光部の配列がハニカム配列であることを特徴とする。
本発明の色分解プリズムは、被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離し、分離された前記第1色及び第2色の入射光を第1固体撮像素子に入射させ、分離された前記第3色の入射光を第2固体撮像素子に入射させる2板式カラー固体撮像装置の色分解プリズムにおいて、前記第1色及び第2色の入射光を反射して前記第1固体撮像素子に入射させるプリズム部材と、前記第3色の入射光を反射して前記第2固体撮像素子に入射させるプリズム部材とを備えることを特徴とする。
この構成により、色分解プリズムを小型,薄型に構成できる。
本発明の2板式カラー固体撮像装置は、色分解プリズムとして上記記載の色分解プリズムを用いたことを特徴とする。
この構成により、2板式カラー固体撮像装置の小型化,薄型化を図ることが可能となる。
本発明のデジタルカメラは、上記のいずれかに記載の板式カラー固体撮像装置を搭載することを特徴とする。
この構成により、デジタルカメラの小型化と薄型化を図れると共に、撮像画像の高画質化,高感度化を図ることが可能となる。
本発明によれば、装置の小型化と低コスト化を図れると共に、3板式カラー固体撮像装置に匹敵する色再現性と高感度化を2板式で実現することが可能となる。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。
〔第1実施形態〕
図1は、本発明の一実施形態に係るデジタルカメラ(この例ではデジタルスチルカメラ)のブロック構成図である。このデジタルカメラは、被写体からの入射光を集光するレンズや絞りを搭載した光学系21と、本実施形態に係る2板式CCDモジュール22と、光学系21とモジュール22との間に配置された赤外線カットフィルタ23とを備える。
本実施形態のデジタルカメラはまた、2板式CCDモジュール22から出力される赤色(R)信号,青色(B)信号,緑色(G)信号を取り込み相関二重サンプリング処理等を行うCDS回路24と、CDS回路24の出力信号を取り込んで利得制御処理等を行うプリプロセス回路25と、プリプロセス回路25から出力されるR,G,Bのアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換回路26と、A/D変換回路26から出力されるR,G,Bの画像信号を取り込んでホワイトバランス補正やガンマ補正処理等の信号処理を行ったり撮像画像の信号圧縮や伸張処理を行う回路27と、回路27に接続された画像メモリ28と、回路27が処理した撮像画像データを図示しない外部メモリに記録したりカメラ背面等に設けられた液晶表示部に表示したりする記録/表示回路29とを備える。
このデジタルカメラは更に、デジタルカメラ全体を統括制御するシステム制御回路30と、システム制御回路30からの指示信号により同期信号を発生する同期信号回路31と、同期信号に基づいてCCDモジュール22内の各CCDに駆動信号を出力するCCD駆動回路32とを備える。
本実施形態のデジタルカメラでは、システム制御回路30からの指示信号に基づいて光学系21のレンズ焦点や絞りが制御され、光学系21及び赤外線カットフィルタ23を通してモジュール22内の2つのCCDに被写体の光学像が結像する。そして、受光した光学像に応じて各CCDから赤色(R)信号,緑色(G)信号,青色(B)信号が出力され、プリプロセス回路25が同期信号に応じてR,G,B信号の利得制御等を行い、システム制御回路30からの指示に基づいて回路27が信号処理等を行うことで、CCDモジュール22から出力されたR,G,B信号に基づいて撮像画像が再生され、JPEG形式等のデータに圧縮された画像データが外部メモリに記録される。
図2は、図1に示す2板式CCDモジュール22の構成図である。この2板式CCDモジュールは、色分解プリズム35と、第1のCCD36及び第2のCCD37の2枚のCCDを備える。色分解プリズム35は、第1プリズム部材35aと、第2プリズム部材35bと、両者間に形成された緑色(G)反射用ダイクロイック膜38と、第2プリズム部材35bの端面に形成された全反射用のダイクロイック膜39とを備える。尚、膜39はダイクロイック膜である必要はなく、入射光を全反射するものであればよい。
第1プリズム部材35aは、図2に示す様に、断面が三角形状となっており、入射光がほぼ垂直に入射する光入射面35cと、光入射面35cに対して斜めに配置されダイクロイック膜38が蒸着形成された界面と、CCD37が対面する第3面とを備える。
第2プリズム部材35bも、断面が三角形状となっており、第1プリズム部材35a(ダイクロイック膜38)と接する界面と、この界面に対して斜めに配置され全反射膜39が蒸着形成された反射面と、CCD36が対面する第3面とを備える。
被写体からの入射光は、先ず第1プリズム部材35aの光入射面35aに垂直に入射し、そのうちの緑色(G)の入射光がダイクロイック膜38で反射し、次に光入射面35aで全反射して、第2のCCD37に結像する。第1プリズム部材35aからダイクロイック膜38を透過して第2プリズム部材35bに入射した赤色(R)と青色(B)の入射光は、全反射膜39で反射し、更に、第1プリズム部材35a界面で全反射されて第1のCCD36に結像する。
第1プリズム部材35aの端面のうち第2のCCD37が対面する端面には緑色トリミングフィルタ膜40が形成されており、これにより、CCD37には、図3に破線で示す分光特性の緑色(G)の光のみが入射する。第2プリズム部材35bの端面のうち第1のCCD36が対面する端面には赤色及び青色トリミングフィルタ膜41が形成されており、これにより、CCD36には、図3に実線で示す分光特性の赤色(R)及び青色(B)の光のみが入射する。尚、図3のR,G,Bの各分光特性のグラフは、緑色(G)のピーク点で正規化してある。
本実施形態では、ダイクロイック膜38,39の他にトリミングフィルタ40,41を設けているが、これは、R,G,Bの各色の分離性能を一層高めるためであり、トリミングフィルタ40,41を省略することも可能である。
図2に示す実施形態の色分解プリズム35は、第1プリズム部材35aに入射した緑色(G)の入射光が2回反射して第2CCD37に結像し、第2プリズム部材35bに赤色(R)と青色(B)の入射光が2回反射して第1CCD36に結像する構成としているため、第1CCD36の結像画像に対して第2CCD37の結像画像が鏡映反転した画像になることはない。
また、本実施形態の色分解プリズム35は、その光入射方向の寸法を、図24のプリズム部材7bを設ける必要がないため短くでき、CCDモジュールの小型化,軽量化,薄型化を図ることができる。しかし、大型のデジタルカメラに搭載するCCDモジュールであれば、色分解プリズムとして図24に図示したものを使用することも可能である。
図4は、CCD36の表面模式図である。CCD36は、半導体基板43の表面部分に、図示の例では、矩形で示す多数の受光部44(1つ1つの受光部を、以下「画素」ともいう。)が形成されている。各受光部44は、半導体基板43の表面に正方格子状となるように配置され、受光部44の各列の右隣には垂直転送路45が形成され、半導体基板43の下辺部分には、各受光部44から読み出され垂直転送路45を通して転送されてきた信号電荷を水平方向に転送する水平転送路(HCCD)46が形成されている。
図4では、各画素44中に「R/B」と記載しているが、これは、このCCD36の各画素44が、後述する断面構造により、カラーフィルタ無しに赤色(R)と青色(B)を別々に検出する機能を持っていることを示している。
図5は、図4に示す受光部44を4画素分拡大した図であり、転送電極を示す図である。本実施形態の転送電極47,48,49は3層ポリシリコン構造となっており、全画素読み出し可能なインターラインCCDを構成する。図示する例では、第3ポリシリコン電極49が青色(B)の信号電荷を読み出す読出ゲート電極を兼用し、第2ポリシリコン電極48が赤色(R)の信号電荷を読み出す読出ゲート電極を兼用している。
図6は、図5のVI―VI線断面図である。本実施形態に係るCCD36は、シリコン基板の持つ光学的性質を利用してRとBの色信号成分を分離するものである。即ち、シリコン基板の光吸収係数が長波長光(R)から短波長光(B)に至る可視域において異なるため、光吸収係数の大きい波長域の光はシリコン基板の浅い領域で吸収されシリコン基板の深部には到達しにくいが、逆に、光吸収係数の小さい波長域の光はシリコン基板の深い領域まで達するので、シリコン基板の深部においても光電変換が可能になるという性質を利用している。
図6において、n型半導体基板43には、表面側にPウェル層50が形成され、Pウェル層50内の浅部にN層(n1)51が、深部にN層(n3)52が深さ方向に分離して形成される。
主に短波長光(B)の入射光成分によって発生した信号電荷は、半導体基板43の厚さ方向に対して最も浅い位置に設けられたN層51に蓄積される。この信号電荷蓄積部を形成するN層51(不純物(リンまたは砒素(P又はAs))濃度は約5×1016〜17/cm、深さ0.2〜0.5μm:尚、この深さは、不純物濃度にも依存する。以下同様)が読出ゲート電極49下まで延在することで、主に短波長光(B)によって発生した電荷のみが、ゲート部を通って垂直転送路45に読み出される。
深部に形成されたN層(n3)52は、端部において半導体基板43の表面まで立ち上がるN領域(電荷通路)52aを有し、このN領域52aが、転送電極の一部からなる読出ゲート電極48下まで延在される。このN層52には、長波長光(R)によって発生した信号電荷が蓄積される。この信号電荷蓄積部を形成するN層52(不純物濃度は約5×1016〜17/cm、深さ1.0μm〜2.5μm)が読み出しゲート電極48下まで延在することで、主に長波長光(R)によって発生した電荷がゲート部を通って垂直転送路45に読み出される。
層でなる蓄積部52に対して電荷通路52aの不純物濃度が高くなるように濃度勾配を持たせるのがよい。これにより、深部にある蓄積部52からの信号電荷の読み出しが容易になり、電荷の読み出し残りを防止できる。
深さの異なる2種類の蓄積部51,52が設けられた半導体基板43の表面の一部には、浅いP層53が設けられており、更に最表面にはSiO膜54が設けられている。P層53の不純物(ボロン)濃度は約1×1018/cm、深さ約0.1〜0.2μm程度であり、受光部の表面における酸化膜―半導体界面の欠陥準位の低減に寄与している。従って、半導体基板43の深さ方向の最も浅い位置にある蓄積部51は、PP構造となっている。尚、N層51,52間のP領域のボロン濃度は、例えば1×1014〜16/cmに設定され、このP領域が蓄積部51と蓄積部52との間の電位障壁となって蓄積部51と蓄積部52の電荷混合が阻止され、混色の確率が低減される。
SiO膜54の上部表面には、受光領域を避けた位置に前述の転送電極47,48,49が形成され、更にその上部に、受光領域に開口部55aを持つ遮光膜55が設けられ、更にその上部に平坦化膜56が形成され、更にその上部にトップレンズ(マイクロレンズ)57が形成される。
図7は、CCD37の表面模式図であり、図8は、受光部の4画素分の拡大図である。CCD37は、後述する断面構造を持つ受光部44’を持つ他は、CCD36と全く同一構造である。即ち、画素数は同一であり、且つ画素配置(図示する例は、正方格子状)も同一である。このため、CCD36と同一部材には同一符号に「’」を付して図示し、その説明は省略する。尚、CCD36と同様に、このCCD37にも、カラーフィルタは設けられていない。尚、CCD36とCCD37は同一画素数であるが、これは実質的に有効画素数が同一であれば良く、光を受光しない無効画素の部分は同一でなくてもよい。
図9は、図8のIX―IX線断面図である。n型半導体基板43’の表面側に形成されたPウェル層50’内の表面部には、1段構造のN層でなる信号電荷の蓄積層(n2)58が形成される。この蓄積層58の深さは、図6の蓄積層51と蓄積層52の中間的な深さとなっている。
蓄積層58は、その端部において転送電極49’の一部からなる読出ゲート電極下まで延在し、主に中間波長光(G)の入射光成分によって発生した信号電荷が蓄積される。N層(n2)58は、例えば、その不純物濃度を、約5×1016〜17/cm、深さ0.5〜1.5μm程度とする。
図10(a)(b)は、夫々、CCD36とCCD37のポテンシャルプロファイルを示す図である。CCD36(図10(a))においては、最も波長の短いB光が、シリコン基板の最も浅い領域で吸収されて電荷を発生し、最初の蓄積層n1に蓄積される。最も波長の長いR光によって発生した電荷は、シリコン基板の最も深部にある蓄積層n3に蓄積される。このように、CCD36は、シリコン基板の光学的性質を利用して赤色(R)と青色(B)とを分離して検出するが、図2に示す色分解プリズム35がCCD36の前段に設けられているため、CCD36には、予め中間波長である緑色(G)が除かれた図3に実線で示す赤色(R)と青色(B)の光しか入射しない。このため、CCD36の赤色(R)と青色(B)の色分離性能は高く、蓄積部51,52の深さを厳密に制御しなくても図27に示す様ななだらかな分光特性となることはなく、高性能なCCDの製造が容易となる。
CCD37(図10(b))においては、上述した断面構造によりシリコン基板の光学的性質を利用して緑色(G)を検出するが、図2に示す色分解プリズム35により、予め長波長の赤色(R)と短波長の青色(B)が除かれた図3に破線で示す緑色(G)の光しか入射しない。このため、CCD37の緑色の色分離性能は高くなり、CCD36と同様に、蓄積部58の深さを厳密に制御しなくても、図27に示す様ななだらかな分光特性となることはない。
従って、本実施形態の2板式CCDでは、3板式と同一の色分解性能を得ることができ、また、3板式と同様に、同一サンプリング点において、CCD36からはR信号及びB信号が、CCD37からはG信号が同時に得られるため高解像度の画像データを得ることができ、しかも、同時化処理が不要なため画像処理における信号処理負荷が軽減する。更に、3板式と同様に、入射光の全てを利用できるため高感度化を達成することができ、しかも、図2に示す様に、被写体からの入射光の進行方向に対する色分解プリズムの長さを短くできるため、デジタルカメラの薄型化,小型化も達成でき、安価な色分解プリズムを使用できるため製造コストの低減を図ることも可能となる。
〔第2実施形態〕
上述した実施形態では、各画素を正方格子状に配置したCCDを例に説明したが、例えば、特開平10―136391号公報に記載されている様に、CCDの各画素を各行毎に1/2ピッチづつづらした所謂ハニカム画素配置のCCDでも本発明を実現できる。
図11は、ハニカム画素配置の第1CCD60の表面模式図であり、図12は、ハニカム画素配置の第2CCD70の表面模式図である。CCD60に設けられている各画素61は、断面構造は図6と同様であり、カラーフィルタ無しに赤色(R)と青色(B)の各色信号を同一画素で検出する様になっている。画素61は各行毎に1/2ピッチずれており、水平方向に隣接する画素61間に、垂直転送路62が蛇行して配置される。カラーフィルタ無しに緑色(G)の色信号を検出するCCD70の各画素71の断面構造は図9と同様であり、水平方向に隣接する画素71間に、垂直転送路72が蛇行して配置され、画素71は、緑色(G)の色信号を検出する。
図13は、CCD60の4画素分の拡大図であり、図14は、CCD70の4画素分の拡大図である。また、図15は、図13,図14の丸印XV内の転送電極を示す詳細図である。菱形に形成された素子分離帯63,73により各画素61,71が画成され、素子分離帯63,73に設けられたゲート部64,74から、画素間に設けられた垂直転送路62,72に信号電荷が読み出される。垂直転送路62,72上には、2層ポリシリコン構造でなる転送電極が重ねて設けられ、1つの画素に対して4本の転送電極81,82,83,84が対応付けられている。これにより、ハニカム画素配置のCCDは、2層ポリシリコン構造の転送電極で全画素読み出し(プログレッシブ動作)可能なCCDとなっている。
この第2実施形態の様に、同一画素数のハニカム画素配置のCCD60,70を2枚用いることでも、第1実施形態と同様の効果が得られると共に、ハニカム画素配置のCCDを用いることで、第1実施形態と比較して更に一層の多画素化が達成でき、しかも、2層ポリシリコン構造の転送電極でプログレッシブ動作が可能となり、製造コストの低減と製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。
〔第3実施形態〕
上述した実施形態では、固体撮像素子としてCCDを用いた例を説明したが、他の固体撮像素子、例えばCMOS型イメージセンサを用いても本発明を実現できる。
図16は、第1CMOS型イメージセンサの表面模式図である。この第1CMOS型イメージセンサ90は、n型半導体基板91の表面部に形成され、受光領域の脇に形成された垂直走査回路92と、半導体基板91の底辺側に形成された水平走査回路等(信号増幅回路,A/D変換回路,同期信号発生回路等)93とを備える。
受光領域には、多数の受光部94が二次元アレイ状に、この例では正方格子状に配列形成されている。図17は、図16のXVII―XVII線断面模式図である。この第1CMOS型イメージセンサ90も、前述の実施形態と同様に、カラーフィルタは搭載していない。第1CMOS型イメージセンサ90の各受光部94では、図17に示す様に、入射光のうち緑色(G)の入射光が、図1に示す色分解プリズム35を通ることで無くなるため、青色(B)と赤色(R)の入射光のみが受光部94に到達する。
この受光部94では、n型半導体基板91の表面側にPウェル層95が形成され、Pウェル層95内の表面に深さ0.1〜0.5μmのN層(n1)96が形成され、更にPウェル層95内の深部に、深さ1.0〜2.5μmのN層(n3)97がN層96と分離して形成されている。N層97は、端部において表面まで立ち上がる電荷通路97aが設けられている。
層96,97,97aは、この例では、不純物(リンまたは砒素(P又はAs))濃度を、約5×1016〜17/cmとしている。尚、各N層96,97の深さは、この不純物濃度にも依存する。
層96とN層17との間にはポテンシャル障壁となるP領域があり、このP領域はPウェル層95と同電位に保たれている。このポテンシャル障壁の高さを変えるために、N層96とN層97との間におけるP領域の不純物(ボロン)濃度(1×1015〜16/cm)を、Pウェル層95の不純物濃度(7×1014〜15/cm)と異なるようにしてもよい。
層96はオーミックコンタクト101によりB信号検出用アンプ102に接続され、N層97の電荷通路97aがオーミックコンタクト103によりR信号検出用アンプ104に接続される。このオーミックコンタクト101,103を良好に行うために、N層96,97aのうちこのコンタクト部分の不純物濃度を、この例では1×1019/cm以上としている。
斯かる受光部の断面構造により、カラー画像撮像前にリセットトランジスタがONされて各N層96,97の夫々のPN接合部に所定量の電荷が蓄積される。そして、N層96のPN接合部における蓄積電荷は、受光部に達した入射光のうち、青色(B)の入射光量に応じて発生したフォトキャリア分だけ放電し、N層97のPN接合部における蓄積電荷は、赤色(R)の入射光量に応じて発生したフォトキャリア分だけ放電し、各N層96,97の各PN接合部における電荷変化量が、B信号,R信号としてアンプ102,104によって独立に読み出される。
図18は、第2CMOS型イメージセンサの表面模式図である。第2CMOS型イメージセンサ98は、後述する断面構造を持つ受光部94’を持つ他は、第1CMOS型イメージセンサ90と全く同一構造であり、カラーフィルタも搭載していない。このため、第1CMOS型イメージセンサ90と同一部材には同一符号に「’」を付して図示し、その説明は省略する。
図19は、図18のXIX―XIX線断面模式図である。第2CMOS型イメージセンサ98の各受光部94’では、図19に示す様に、入射光のうち青色(B)と赤色(R)の入射光が、図1に示す色分解プリズム35を通ることで無くなるため、緑色(G)の入射光のみが受光部94’に到達する。
この受光部94’では、n型半導体基板91’の表面側にPウェル層95’が形成され、Pウェル層95’内の表面側に、深さ0.5〜1.5μmのN層(n2)99が形成されている。
層99はオーミックコンタクト105によりG信号検出用アンプ106に接続される。尚、N層99の不純物濃度やオーミックコンタクト部分の不純物濃度については、図17の説明と同様である。また、図17や図19では図示を省略したが、第1,第2CMOS型イメージセンサ90,98にも、遮光膜や平坦化層,マイクロレンズが積層される。
斯かる受光部の断面構造により、カラー画像撮像前にリセットトランジスタがONされてN層99のPN接合部に所定量の電荷が蓄積される。そして、N層99のPN接合部における蓄積電荷は、受光部に達した緑色(G)の入射光量に応じて発生したフォトキャリア分だけ放電し、この電荷変化量がG信号検出用のアンプ106に読み出される。
上述した各アンプ102,104,106の等価回路を図20に示す。また、図17,図19では図示を省略したが、半導体基板の最表面のうちコンタクト部分以外は、保護用のSiO膜で覆われている。また、図17,図19の各受光部における基板深さ方向のポテンシャルプロファイルの概念は、図10(a)(b)と概ね同様の形状となり、赤色(R)と青色(B)の信号分離が図られる。
図21は、第1CMOS型イメージセンサ90の1画素分に対応する二次元平面図である。半導体基板91の表面は、縦横に延びるLOCOSによる素子分離帯110によって碁盤の目の様に各受光部94が素子分離されており、図示する例では、各受光部94はほぼ正方形をなしている。
各受光部面積のうち、大部分に上述した各N層96,97が形成され、右端に短冊状の周辺回路部111が設けられる。この周辺回路部111に、上述したアンプ(ソースフォロアアンプ)102,104が設けられ、夫々、受光部に設けたコンタクトホール101,103を介して接続されたN層から色信号が読み出される。
図面上、縦方向に設けられた素子分離帯110の上に、信号出力線112と電源線113とリセット線114が敷設され、横方向に設けられた素子分離帯110の上に、2本の選択信号線115が設けられる。信号出力線112は各アンプ102,104の出力に接続され、電源線113には電源電圧が印加され、リセット線114にはリセット信号が印加される。
これらの選択信号やリセット信号は、図16に示す垂直走査回路92や水平走査回路等93等によって制御される。尚、受光部上に記載した点線矩形枠107は、遮光膜の開口部位置を示しており、この内側のみに光が通過し、その外側すなわち周辺回路部111やコンタクトホール101,103は遮光されている。この図に示されるように、一の受光部に設ける必要のある信号配線数や周辺回路数は少なくて済むため、本実施形態の固体撮像装置では、受光部面積を広くすることができ、明るい画像が撮像可能となる。
図22は、第2CMOS型イメージセンサ98の1画素分に対応する二次元平面図である。第1CMOS型イメージセンサ90とほぼ同じ構造であるため、第1CMOS型イメージセンサ90と同一部材には同一符号に「’」を付して図示し、その説明は省略する。
第2CMOS型イメージセンサ98では、受光部が1色の信号しか検出しないため、周辺回路部111’の面積は、図21の周辺回路部111に比べて半分となっている。また、選択信号は1つで済むため、縦方向に設ける信号線数と横方向に設ける信号線数とを同数とするため、図21では縦方向に設けた電源線113’を図22では横方向に設けている。
この様に、本実施形態の第1CMOS型イメージセンサ90と第2CMOS型イメージセンサを用いて2板式カラー固体撮像装置を構成しても、第1,第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
上述した第3実施形態は、各受光部を正方格子状に配列した例であるが、例えば、米国特許第4558365号公報に記載されている様に各行の受光部を1/2ピッチづつづらした所謂ハニカム画素配置のNMOS型イメージセンサでもよいことはいうまでもない。また、CMOS型,NMOS型に限らず、他の形式のMOS型イメージセンサでもよい。
以上述べた各実施形態の2板式カラー固体撮像装置及びこれを搭載したデジタルカメラによれば、フルカラー撮像が可能であり、また、撮像装置の小型化,低コスト化を実現できる。また、2板式の固体撮像装置でありながら、3板式の固体撮像装置と同等の高画質の(高解像度かつ色モアレ,偽色,色シェーディングのない)カラー撮像が可能となり、しかも、3板式よりも消費電力を削減することができる。
更に、従来の単板式固体撮像素子あるいは2板式固体撮像装置のようにカラーフィルタを使用しないので、入射光エネルギを有効に電気信号に変換でき、高感度化を図ることが可能となる。特に、CMOS型の固体撮像素子においては、一画素の中に配置される読み出し回路の規模が小さくなり、かつ信号線数を減らせるので、精度の高い集光系(マイクロレンズ)をチップ上に形成するのが容易となり、画質と感度を一層向上させることが可能となる。
本発明に係る2板式カラー固体撮像装置は、小型化,低コスト化と撮像画像の高画質化を両立させることが可能となり、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等のデジタルカメラに搭載するのに有用である。
本発明の一実施形態に係るデジタルスチルカメラのブロック構成図である。 図1に示す2板式CCDモジュールの構成図である。 図2に示す色分解プリズムの分光特性を示すグラフである。 図2に示す第1CCDの表面模式図である。 図4に示す第1CCDの4画素分の拡大図である。 図5のVI―VI線断面図である。 図2に示す第2CCDの表面模式図である。 図7に示す第2CCDの表面模式図である。 図8のIX―IX線断面図である。 (a)は図6に示す受光部のポテンシャルプロファイルを示す図である。 (b)は図9に示す受光部のポテンシャルプロファイルを示す図である。 本発明の第2実施形態に係る第1CCDの表面模式図である。 本発明の第2実施形態に係る第2CCDの表面模式図である。 図11に示す第1CCDの4画素分の拡大図である。 図12に示す第2CCDの4画素分の拡大図である。 図13,図14の円XV内の拡大図である。 本発明の第3実施形態に係る第1CMOS型イメージセンサの表面模式図である。 図16のXVII―XVII線断面模式図である。 本発明の第3実施形態に係る第2CMOS型イメージセンサの表面模式図である。 図18のXIX―XIX線断面模式図である。 図17,図19に示すアンプの等価回路図である。 図16に示す1画素分の平面模式図である。 図18に示す1画素分の平面模式図である。 従来の3板式カラー固体撮像装置の構成図である。 従来の2板式カラー固体撮像装置の構成図である。 従来の単板式カラー固体撮像装置に用いるカラーフィルタの平面図である。 従来のカラーフィルタを用いない単板式カラー固体撮像装置の一受光部の断面模式図である。 図26に示す単板式カラー固体撮像装置における分光特性を示すグラフである。
符号の説明
22 2板式CCDモジュール
35 色分解プリズム
36,60 第1CCD
37,70 第2CCD
38 緑色反射用ダイクロイック膜
39 全反射用ダイクロイック膜
44,44’,61,71 受光部
45,45’,62,72 垂直転送路
51,52,58,96,97,99 N
90 第1CMOS型イメージセンサ
98 第2CMOS型イメージセンサ

Claims (12)

  1. 被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、前記第1固体撮像素子が検出する前記第1色の画像信号の二次元平面上のサンプリングポイントと前記第2色の画像信号の二次元平面上のサンプリングポイントとが同一であることを特徴とする2板式カラー固体撮像装置。
  2. 前記第2固体撮像素子が検出する前記第3色の画像信号の二次元平面上のサンプリングポイントが前記第1色及び第2色の前記サンプリングポイントと同一であることを特徴とする請求項1に記載の2板式カラー固体撮像装置。
  3. 被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、前記第1固体撮像素子にアレイ状に形成され前記第1色及び前記第2色の光を受光する受光部の数と前記第2固体撮像素子にアレイ状に形成され前記第3色の光を受光する受光部の数とが同一であることを特徴とする2板式カラー固体撮像装置。
  4. 被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離する色分解プリズムと、該色分解プリズムによって分離された前記第1色及び第2色の入射光を受光する第1固体撮像素子と、前記色分解プリズムによって分離された前記第3色の入射光を受光する第2固体撮像素子とを備える2板式カラー固体撮像装置において、前記第1固体撮像素子に形成された複数の受光部の各々が前記第1色の画像信号と前記第2色の画像信号を出力する構成になっていることを特徴とする2板式カラー固体撮像装置。
  5. 前記第1固体撮像素子の半導体基板に形成される各受光部が、前記第1色の入射光量に応じた画像信号を検出する第1色検出用高濃度不純物層と、該第1色検出用高濃度不純物層と異なる深さに形成され前記第2色の入射光量に応じた画像信号を検出する第2色検出用高濃度不純物層とによって構成されることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の2板式カラー固体撮像装置。
  6. 前記第1色が青色であり、前記第2色が赤色であり、前記第3色が緑色であり、前記第1色検出用高濃度不純物層が前記第1固体撮像素子の前記半導体基板の表面部に形成され、前記第2色検出用高濃度不純物層が前記第1固体撮像素子の前記半導体基板の前記第1色検出用高濃度不純物層より深部に形成され、前記第2固体撮像素子に形成される前記第3色の入射光量に応じた画像信号を検出する第3色検出用高濃度不純物層が、前記第1色検出用高濃度不純物層と前記第2色検出用高濃度不純物層との中間の深さに形成されることを特徴とする請求項5に記載の2板式カラー固体撮像装置。
  7. 前記第1固体撮像素子及び前記第2固体撮像素子が夫々電荷結合素子(以下、CCDという。)で構成されることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の2板式カラー固体撮像装置。
  8. 前記第1固体撮像素子及び前記第2固体撮像素子が夫々MOS型イメージセンサで構成されることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の2板式カラー固体撮像装置。
  9. 前記第1固体撮像素子及び前記第2固体撮像素子の各受光部の配列がハニカム配列であることを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれかに記載の2板式カラー固体撮像装置。
  10. 被写体からの入射光を3原色の第1色及第2色と第3色とに分離し、分離された前記第1色及び第2色の入射光を第1固体撮像素子に入射させ、分離された前記第3色の入射光を第2固体撮像素子に入射させる2板式カラー固体撮像装置の色分解プリズムにおいて、前記第1色及び第2色の入射光を反射して前記第1固体撮像素子に入射させるプリズム部材と、前記第3色の入射光を反射して前記第2固体撮像素子に入射させるプリズム部材とを備えることを特徴とする2板式カラー固体撮像装置の色分解プリズム。
  11. 前記色分解プリズムとして請求項10記載の色分解プリズムを用いたことを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれかに記載の2板式カラー固体撮像装置。
  12. 請求項1乃至請求項9のいずれかまたは請求項11に記載の2板式カラー固体撮像装置を搭載したことを特徴とするデジタルカメラ。
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