JP2005150714A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005150714A5 JP2005150714A5 JP2004321392A JP2004321392A JP2005150714A5 JP 2005150714 A5 JP2005150714 A5 JP 2005150714A5 JP 2004321392 A JP2004321392 A JP 2004321392A JP 2004321392 A JP2004321392 A JP 2004321392A JP 2005150714 A5 JP2005150714 A5 JP 2005150714A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layers
- electro
- state
- optic material
- lithographic projection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Claims (14)
- 放射線の投影ビームを条件付ける照明システムと、
その断面においてパターンを前記投影ビームに付与するように働く個別制御可能要素アレイと、
基板を支持する基板テーブルと、
前記基板の標的部分上に前記パターン形成されたビームを投影する投影システムと
を備え、
前記各個別制御可能要素が3層の誘電体層のスタックを備え、前記3層のうちの少なくとも中間の1層が固体電子光学材料から形成され、それによって、制御信号の付与時、前記要素が第1の状態と第2の状態との間を選択的に変更され、前記第1の状態では、前記3層の誘電体層のうちの中間の1層と他の2層の間における1つの偏光状態についての屈折率の違いがより大きく、前記第2の状態では、前記1つの偏光状態についての前記屈折率の違いがより小さく、前記電子光学材料層の少なくとも1つの隣接層との境界においてそれぞれ透過され反射される放射線の比率が前記2つの状態で異なる、リソグラフィ装置。 - 前記スタックが、複数の追加の誘電体材料層を含み、前記追加層のうちの少なくとも1層が電子光学材料から形成され、それによって、前記第2の電子光学材料層に制御信号を付与することによって、1つの偏光状態についての前記追加層のうちの少なくとも1層の屈折率が変更されうる、請求項1に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記スタックの交互の層が固定屈折率を有する材料から形成され、その残りが電子光学材料から形成され、それによって、前記層にそれぞれの制御信号を付与することにより、所与の各偏光状態についての各電子光学材料層の前記屈折率が変更されうる、請求項1に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記電子光学材料層が、これらの層の各異常軸が相互にほぼ平行となるように配置されている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
- 少なくとも2層の電子光学材料層が、これらの層の異常軸が相互にほぼ垂直となるように配置されている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記スタック内の各電子光学材料層に独立して制御可能な制御電圧を印加するように構成されている電極をさらに備えている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記スタック内の2層以上の電子光学材料層に共通の制御電圧を印加するように構成されている電極をさらに備えている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
- 相互にほぼ平行な異常軸を有する電子光学材料層に共通の制御電圧を印加するように構成されている電極をさらに備えている、請求項4に記載のリソグラフィ投影装置。
- 各要素が、第1の方向に面偏光された放射線の伝播と、前記第1の方向にほぼ直交する第2の方向に面偏光された放射線の伝播とを独立して制御するように構成されている、請求項1に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記照明システムが、2次線源プレーンを有し、前記2次線源プレーン内で4つのポールを有する投影ビームを生成するようになっている、請求項9に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記4つのポールが対になって配置され、第1のポール対の中心を結合する直線が第2のポール対の中心を結合する直線に直交しており、前記直線が、実質上前記照明システムの光学軸において交差している、請求項10に記載のリソグラフィ投影装置。
- 前記第1のポール対の前記放射線が前記第1の方向に面偏光され、前記第2のポール対の前記放射線が前記第2の方向に面偏光されている、請求項11に記載のリソグラフィ投影装置。
- その断面においてパターンを放射線ビームに付与するように構成された個別制御可能要素アレイにおいて、個別制御可能要素の各々が3層の誘電体層のスタックを備え、前記3層のうちの少なくとも中間の1層が固体電子光学材料から形成され、それによって、制御信号の付与時、前記要素が第1の状態と第2の状態との間を選択的に変更され、前記第1の状態では、前記3層の誘電体層のうちの中間の1層と他の2層の間における1つの偏光状態についての屈折率の違いがより大きく、前記第2の状態では、前記1つの偏光状態についての前記屈折率の違いがより小さく、前記電子光学材料層の少なくとも1つの隣接層との境界においてそれぞれ透過され反射される放射線の比率が前記2つの状態で異なる、個別制御可能要素アレイ。
- 基板を提供する工程と、
照明システムを使用して放射線の投影ビームを条件付ける工程と、
その断面においてパターンを前記投影ビームに付与する個別制御可能要素アレイを使用する工程と、
この基板の標的部分上にパターン形成された放射線ビームを投影する工程と
を含み、
前記個別制御可能要素の各々が3層の誘電体層のスタックを備え、前記3層のうちの少なくとも中間の1層が固体電子光学材料から形成され、それによって、制御信号の付与時、前記要素が第1の状態と第2の状態との間を選択的に変更され、前記第1の状態では、前記3層の誘電体層のうちの中間の1層と他の2層の間における1つの偏光状態についての屈折率の違いがより大きく、前記第2の状態では、前記1つの偏光状態についての前記屈折率の違いがより小さく、前記電子光学材料層の少なくとも1つの隣接層との境界においてそれぞれ透過され反射される放射線の比率が前記2つの状態で異なる、デバイス製造方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP03257056 | 2003-11-07 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008216633A Division JP4860674B2 (ja) | 2003-11-07 | 2008-08-26 | リソグラフィ装置、個別制御可能要素アレイ及びデバイス製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005150714A JP2005150714A (ja) | 2005-06-09 |
JP2005150714A5 true JP2005150714A5 (ja) | 2008-10-16 |
JP4397791B2 JP4397791B2 (ja) | 2010-01-13 |
Family
ID=34610135
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004321392A Expired - Fee Related JP4397791B2 (ja) | 2003-11-07 | 2004-11-05 | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2008216633A Expired - Fee Related JP4860674B2 (ja) | 2003-11-07 | 2008-08-26 | リソグラフィ装置、個別制御可能要素アレイ及びデバイス製造方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008216633A Expired - Fee Related JP4860674B2 (ja) | 2003-11-07 | 2008-08-26 | リソグラフィ装置、個別制御可能要素アレイ及びデバイス製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7196772B2 (ja) |
JP (2) | JP4397791B2 (ja) |
KR (1) | KR100592826B1 (ja) |
CN (1) | CN100517073C (ja) |
DE (1) | DE602004017400D1 (ja) |
SG (1) | SG112084A1 (ja) |
TW (1) | TWI265382B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7196772B2 (en) * | 2003-11-07 | 2007-03-27 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US20060088076A1 (en) * | 2004-10-25 | 2006-04-27 | Yoram Lubianiker | Operational range designation and enhancement in optical readout of temperature |
US7268357B2 (en) * | 2005-05-16 | 2007-09-11 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Immersion lithography apparatus and method |
KR100764061B1 (ko) * | 2006-12-04 | 2007-10-08 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 및 그 형성 방법 |
KR101562073B1 (ko) * | 2007-10-16 | 2015-10-21 | 가부시키가이샤 니콘 | 조명 광학 시스템, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
CN101681125B (zh) * | 2007-10-16 | 2013-08-21 | 株式会社尼康 | 照明光学系统、曝光装置以及元件制造方法 |
EP2219077A1 (en) | 2009-02-12 | 2010-08-18 | Carl Zeiss SMT AG | Projection exposure method, projection exposure system and projection objective |
NL2004852A (en) * | 2009-06-30 | 2011-01-04 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and an array of reflective elements. |
US8318409B2 (en) * | 2009-10-21 | 2012-11-27 | GM Global Technology Operations LLC | Dynamic masking method for micro-truss foam fabrication |
FR2959025B1 (fr) * | 2010-04-20 | 2013-11-15 | St Microelectronics Rousset | Procede et dispositif de photolithographie |
NL2024009A (en) * | 2018-10-18 | 2020-05-07 | Asml Netherlands Bv | Control of optical modulator |
WO2023172228A2 (en) * | 2022-03-07 | 2023-09-14 | Istanbul Medipol Universitesi | A photolithography method and system |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3946370A (en) * | 1972-11-02 | 1976-03-23 | U.S. Philips Corporation | Method of making light-dot distribution for the holographic storage of binary information with the aid of electronically controlled switching masks |
JPS5987436A (ja) * | 1982-11-11 | 1984-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光バルブ |
CA1275317C (en) | 1984-02-28 | 1990-10-16 | Charles B. Roxlo | Superlattice electrooptic devices |
JPS61190935A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-25 | Hitachi Ltd | 露光装置 |
GB8610129D0 (en) * | 1986-04-25 | 1986-05-29 | Secr Defence | Electro-optical device |
US4786128A (en) * | 1986-12-02 | 1988-11-22 | Quantum Diagnostics, Ltd. | Device for modulating and reflecting electromagnetic radiation employing electro-optic layer having a variable index of refraction |
US5523193A (en) * | 1988-05-31 | 1996-06-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for patterning and imaging member |
DE59105735D1 (de) * | 1990-05-02 | 1995-07-20 | Fraunhofer Ges Forschung | Belichtungsvorrichtung. |
JPH0536586A (ja) * | 1991-08-02 | 1993-02-12 | Canon Inc | 像投影方法及び該方法を用いた半導体デバイスの製造方法 |
US5229872A (en) * | 1992-01-21 | 1993-07-20 | Hughes Aircraft Company | Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning |
US6219015B1 (en) * | 1992-04-28 | 2001-04-17 | The Board Of Directors Of The Leland Stanford, Junior University | Method and apparatus for using an array of grating light valves to produce multicolor optical images |
JP3224041B2 (ja) * | 1992-07-29 | 2001-10-29 | 株式会社ニコン | 露光方法及び装置 |
US5729331A (en) * | 1993-06-30 | 1998-03-17 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, optical projection apparatus and a method for adjusting the optical projection apparatus |
JP3339149B2 (ja) * | 1993-12-08 | 2002-10-28 | 株式会社ニコン | 走査型露光装置ならびに露光方法 |
JP3541327B2 (ja) * | 1994-09-26 | 2004-07-07 | 富士通株式会社 | 露光装置 |
US5677703A (en) * | 1995-01-06 | 1997-10-14 | Texas Instruments Incorporated | Data loading circuit for digital micro-mirror device |
JPH08250387A (ja) * | 1995-03-08 | 1996-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 縮小投影露光装置 |
US5530482A (en) * | 1995-03-21 | 1996-06-25 | Texas Instruments Incorporated | Pixel data processing for spatial light modulator having staggered pixels |
AU1975197A (en) * | 1996-02-28 | 1997-10-01 | Kenneth C. Johnson | Microlens scanner for microlithography and wide-field confocal microscopy |
US6211993B1 (en) * | 1996-05-20 | 2001-04-03 | Nz Applied Technologies Corporation | Thin film ferroelectric light modulators |
US5989752A (en) * | 1996-05-29 | 1999-11-23 | Chiu; Tzu-Yin | Reconfigurable mask |
JP4126096B2 (ja) | 1997-01-29 | 2008-07-30 | マイクロニック レーザー システムズ アクチボラゲット | 感光性被覆を有する基板上に集束レーザ放射により構造物を製作する方法と装置 |
US6177980B1 (en) * | 1997-02-20 | 2001-01-23 | Kenneth C. Johnson | High-throughput, maskless lithography system |
SE509062C2 (sv) | 1997-02-28 | 1998-11-30 | Micronic Laser Systems Ab | Dataomvandlingsmetod för en laserskrivare med flera strålar för mycket komplexa mikrokolitografiska mönster |
US5982553A (en) * | 1997-03-20 | 1999-11-09 | Silicon Light Machines | Display device incorporating one-dimensional grating light-valve array |
US6291110B1 (en) * | 1997-06-27 | 2001-09-18 | Pixelligent Technologies Llc | Methods for transferring a two-dimensional programmable exposure pattern for photolithography |
KR100280832B1 (ko) * | 1997-12-02 | 2001-04-02 | 정선종 | 노광 장비용 프로그래머블 마스크 |
SE9800665D0 (sv) * | 1998-03-02 | 1998-03-02 | Micronic Laser Systems Ab | Improved method for projection printing using a micromirror SLM |
US6798550B1 (en) * | 1999-11-18 | 2004-09-28 | Corning Applied Technologies Corporation | Spatial light modulator |
US6811953B2 (en) * | 2000-05-22 | 2004-11-02 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, method for manufacturing therof, method for exposing and method for manufacturing microdevice |
US6464692B1 (en) * | 2000-06-21 | 2002-10-15 | Luis Antonio Ruiz | Controllable electro-optical patternable mask, system with said mask and method of using the same |
JP3563384B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2004-09-08 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 画像記録装置 |
KR100545297B1 (ko) * | 2002-06-12 | 2006-01-24 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 리소그래피장치 및 디바이스 제조방법 |
JP3613342B2 (ja) * | 2002-08-27 | 2005-01-26 | 独立行政法人科学技術振興機構 | マスクレス露光装置 |
US6870554B2 (en) * | 2003-01-07 | 2005-03-22 | Anvik Corporation | Maskless lithography with multiplexed spatial light modulators |
US7061591B2 (en) * | 2003-05-30 | 2006-06-13 | Asml Holding N.V. | Maskless lithography systems and methods utilizing spatial light modulator arrays |
EP1482373A1 (en) * | 2003-05-30 | 2004-12-01 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
EP1530092B1 (en) | 2003-11-07 | 2008-10-29 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US7196772B2 (en) * | 2003-11-07 | 2007-03-27 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
-
2004
- 2004-10-26 US US10/972,788 patent/US7196772B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-10-28 TW TW093132822A patent/TWI265382B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-11-03 DE DE602004017400T patent/DE602004017400D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-11-05 KR KR1020040089871A patent/KR100592826B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-11-05 JP JP2004321392A patent/JP4397791B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-11-05 SG SG200407096A patent/SG112084A1/en unknown
- 2004-11-05 CN CNB2004100922320A patent/CN100517073C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-03-20 US US11/725,499 patent/US7826035B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-08-26 JP JP2008216633A patent/JP4860674B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI701462B (zh) | 液晶光束控制裝置及製造 | |
US9599762B2 (en) | Wire grid polarizer, liquid crystal device including the wire grid polarizer, 3-D stereoscopic image display device including the wire grid polarizer, and method of manufacturing the wire grid polarizer | |
JP2023123475A5 (ja) | ||
JP2005150714A5 (ja) | ||
US10690958B2 (en) | Beam deflector and three-dimensional display device including the same | |
US20080284924A1 (en) | Optical System | |
WO2010073585A1 (ja) | シート及び発光装置 | |
JP2006516753A5 (ja) | ||
CN112034658B (zh) | 变焦液晶透镜 | |
KR101886793B1 (ko) | 능동형 프리즘 구조체 | |
CN106199780A (zh) | 光学元件与光学装置 | |
WO2018014681A1 (zh) | 液晶光栅及其控制方法 | |
US11204527B2 (en) | Liquid crystal display panel, driving method therefor, and display device | |
CN103033988A (zh) | 配向膜的光配向装置及配向膜制造方法 | |
CN206020702U (zh) | 光学元件与光学装置 | |
CN105425503A (zh) | 电控可调焦摆焦液晶微透镜阵列及其制备方法 | |
CN103748489B (zh) | 图案相位差膜的制造方法、图案相位差膜及图像显示装置 | |
WO2005012990A1 (en) | Patterned optical retarder and method for manufacturing the same | |
WO2015137362A1 (ja) | グリッド偏光素子及び光配向装置 | |
TWI265382B (en) | Lithographic projection apparatus, array of individually controllable elements, and method for manufacturing devices involving fine structures | |
CN112198733A (zh) | 基于液晶透镜和液晶微透镜阵列的光束偏转装置及方法 | |
US9897815B2 (en) | Optical alignment device and spatial beam splitting prism thereof | |
KR20000057022A (ko) | 액정소자 및 그 제조방법 | |
JP5892499B2 (ja) | マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系及びマイクロリソグラフィ露光方法 | |
JP2019503501A5 (ja) |