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  1. 放射線の投影ビームを条件付ける照明システムと、
    その断面においてパターンを前記投影ビームに付与するように働く個別制御可能要素アレイと、
    基板を支持する基板テーブルと、
    前記基板の標的部分上に前記パターン形成されたビームを投影する投影システムと
    を備え、
    前記各個別制御可能要素が3層の誘電体層のスタックを備え、前記3層のうちの少なくとも中間の1層が固体電子光学材料から形成され、それによって、制御信号の付与時、前記要素が第1の状態と第2の状態との間を選択的に変更され、前記第1の状態では、前記3層の誘電体層のうちの中間の1層と他の2層の間における1つの偏光状態についての屈折率の違いがより大きく、前記第2の状態では、前記1つの偏光状態についての前記屈折率の違いがより小さく、前記電子光学材料層の少なくとも1つの隣接層との境界においてそれぞれ透過され反射される放射線の比率が前記2つの状態で異なる、リソグラフィ装置。
  2. 前記スタックが、複数の追加の誘電体材料層を含み、前記追加層のうちの少なくとも1層が電子光学材料から形成され、それによって、前記第2の電子光学材料層に制御信号を付与することによって、1つの偏光状態についての前記追加層のうちの少なくとも1層の屈折率が変更されうる、請求項1に記載のリソグラフィ投影装置。
  3. 前記スタックの交互の層が固定屈折率を有する材料から形成され、その残りが電子光学材料から形成され、それによって、前記層にそれぞれの制御信号を付与することにより、所与の各偏光状態についての各電子光学材料層の前記屈折率が変更されうる、請求項1に記載のリソグラフィ投影装置。
  4. 前記電子光学材料層が、これらの層の各異常軸が相互にほぼ平行となるように配置されている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
  5. 少なくとも2層の電子光学材料層が、これらの層の異常軸が相互にほぼ垂直となるように配置されている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
  6. 前記スタック内の各電子光学材料層に独立して制御可能な制御電圧を印加するように構成されている電極をさらに備えている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
  7. 前記スタック内の2層以上の電子光学材料層に共通の制御電圧を印加するように構成されている電極をさらに備えている、請求項2に記載のリソグラフィ投影装置。
  8. 相互にほぼ平行な異常軸を有する電子光学材料層に共通の制御電圧を印加するように構成されている電極をさらに備えている、請求項4に記載のリソグラフィ投影装置。
  9. 各要素が、第1の方向に面偏光された放射線の伝播と、前記第1の方向にほぼ直交する第2の方向に面偏光された放射線の伝播とを独立して制御するように構成されている、請求項1に記載のリソグラフィ投影装置。
  10. 前記照明システムが、2次線源プレーンを有し、前記2次線源プレーン内で4つのポールを有する投影ビームを生成するようになっている、請求項9に記載のリソグラフィ投影装置。
  11. 前記4つのポールが対になって配置され、第1のポール対の中心を結合する直線が第2のポール対の中心を結合する直線に直交しており、前記直線が、実質上前記照明システムの光学軸において交差している、請求項10に記載のリソグラフィ投影装置。
  12. 前記第1のポール対の前記放射線が前記第1の方向に面偏光され、前記第2のポール対の前記放射線が前記第2の方向に面偏光されている、請求項11に記載のリソグラフィ投影装置。
  13. その断面においてパターンを放射線ビームに付与するように構成された個別制御可能要素アレイにおいて、個別制御可能要素の各々が3層の誘電体層のスタックを備え、前記3層のうちの少なくとも中間の1層が固体電子光学材料から形成され、それによって、制御信号の付与時、前記要素が第1の状態と第2の状態との間を選択的に変更され、前記第1の状態では、前記3層の誘電体層のうちの中間の1層と他の2層の間における1つの偏光状態についての屈折率の違いがより大きく、前記第2の状態では、前記1つの偏光状態についての前記屈折率の違いがより小さく、前記電子光学材料層の少なくとも1つの隣接層との境界においてそれぞれ透過され反射される放射線の比率が前記2つの状態で異なる、個別制御可能要素アレイ。
  14. 基板を提供する工程と、
    照明システムを使用して放射線の投影ビームを条件付ける工程と、
    その断面においてパターンを前記投影ビームに付与する個別制御可能要素アレイを使用する工程と、
    この基板の標的部分上にパターン形成された放射線ビームを投影する工程と
    を含み、
    前記個別制御可能要素の各々が3層の誘電体層のスタックを備え、前記3層のうちの少なくとも中間の1層が固体電子光学材料から形成され、それによって、制御信号の付与時、前記要素が第1の状態と第2の状態との間を選択的に変更され、前記第1の状態では、前記3層の誘電体層のうちの中間の1層と他の2層の間における1つの偏光状態についての屈折率の違いがより大きく、前記第2の状態では、前記1つの偏光状態についての前記屈折率の違いがより小さく、前記電子光学材料層の少なくとも1つの隣接層との境界においてそれぞれ透過され反射される放射線の比率が前記2つの状態で異なる、デバイス製造方法。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7196772B2 (en) * 2003-11-07 2007-03-27 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20060088076A1 (en) * 2004-10-25 2006-04-27 Yoram Lubianiker Operational range designation and enhancement in optical readout of temperature
US7268357B2 (en) * 2005-05-16 2007-09-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Immersion lithography apparatus and method
KR100764061B1 (ko) * 2006-12-04 2007-10-08 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 그 형성 방법
KR101562073B1 (ko) * 2007-10-16 2015-10-21 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 시스템, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
CN101681125B (zh) * 2007-10-16 2013-08-21 株式会社尼康 照明光学系统、曝光装置以及元件制造方法
EP2219077A1 (en) 2009-02-12 2010-08-18 Carl Zeiss SMT AG Projection exposure method, projection exposure system and projection objective
NL2004852A (en) * 2009-06-30 2011-01-04 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and an array of reflective elements.
US8318409B2 (en) * 2009-10-21 2012-11-27 GM Global Technology Operations LLC Dynamic masking method for micro-truss foam fabrication
FR2959025B1 (fr) * 2010-04-20 2013-11-15 St Microelectronics Rousset Procede et dispositif de photolithographie
NL2024009A (en) * 2018-10-18 2020-05-07 Asml Netherlands Bv Control of optical modulator
WO2023172228A2 (en) * 2022-03-07 2023-09-14 Istanbul Medipol Universitesi A photolithography method and system

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3946370A (en) * 1972-11-02 1976-03-23 U.S. Philips Corporation Method of making light-dot distribution for the holographic storage of binary information with the aid of electronically controlled switching masks
JPS5987436A (ja) * 1982-11-11 1984-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光バルブ
CA1275317C (en) 1984-02-28 1990-10-16 Charles B. Roxlo Superlattice electrooptic devices
JPS61190935A (ja) * 1985-02-20 1986-08-25 Hitachi Ltd 露光装置
GB8610129D0 (en) * 1986-04-25 1986-05-29 Secr Defence Electro-optical device
US4786128A (en) * 1986-12-02 1988-11-22 Quantum Diagnostics, Ltd. Device for modulating and reflecting electromagnetic radiation employing electro-optic layer having a variable index of refraction
US5523193A (en) * 1988-05-31 1996-06-04 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for patterning and imaging member
DE59105735D1 (de) * 1990-05-02 1995-07-20 Fraunhofer Ges Forschung Belichtungsvorrichtung.
JPH0536586A (ja) * 1991-08-02 1993-02-12 Canon Inc 像投影方法及び該方法を用いた半導体デバイスの製造方法
US5229872A (en) * 1992-01-21 1993-07-20 Hughes Aircraft Company Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning
US6219015B1 (en) * 1992-04-28 2001-04-17 The Board Of Directors Of The Leland Stanford, Junior University Method and apparatus for using an array of grating light valves to produce multicolor optical images
JP3224041B2 (ja) * 1992-07-29 2001-10-29 株式会社ニコン 露光方法及び装置
US5729331A (en) * 1993-06-30 1998-03-17 Nikon Corporation Exposure apparatus, optical projection apparatus and a method for adjusting the optical projection apparatus
JP3339149B2 (ja) * 1993-12-08 2002-10-28 株式会社ニコン 走査型露光装置ならびに露光方法
JP3541327B2 (ja) * 1994-09-26 2004-07-07 富士通株式会社 露光装置
US5677703A (en) * 1995-01-06 1997-10-14 Texas Instruments Incorporated Data loading circuit for digital micro-mirror device
JPH08250387A (ja) * 1995-03-08 1996-09-27 Mitsubishi Electric Corp 縮小投影露光装置
US5530482A (en) * 1995-03-21 1996-06-25 Texas Instruments Incorporated Pixel data processing for spatial light modulator having staggered pixels
AU1975197A (en) * 1996-02-28 1997-10-01 Kenneth C. Johnson Microlens scanner for microlithography and wide-field confocal microscopy
US6211993B1 (en) * 1996-05-20 2001-04-03 Nz Applied Technologies Corporation Thin film ferroelectric light modulators
US5989752A (en) * 1996-05-29 1999-11-23 Chiu; Tzu-Yin Reconfigurable mask
JP4126096B2 (ja) 1997-01-29 2008-07-30 マイクロニック レーザー システムズ アクチボラゲット 感光性被覆を有する基板上に集束レーザ放射により構造物を製作する方法と装置
US6177980B1 (en) * 1997-02-20 2001-01-23 Kenneth C. Johnson High-throughput, maskless lithography system
SE509062C2 (sv) 1997-02-28 1998-11-30 Micronic Laser Systems Ab Dataomvandlingsmetod för en laserskrivare med flera strålar för mycket komplexa mikrokolitografiska mönster
US5982553A (en) * 1997-03-20 1999-11-09 Silicon Light Machines Display device incorporating one-dimensional grating light-valve array
US6291110B1 (en) * 1997-06-27 2001-09-18 Pixelligent Technologies Llc Methods for transferring a two-dimensional programmable exposure pattern for photolithography
KR100280832B1 (ko) * 1997-12-02 2001-04-02 정선종 노광 장비용 프로그래머블 마스크
SE9800665D0 (sv) * 1998-03-02 1998-03-02 Micronic Laser Systems Ab Improved method for projection printing using a micromirror SLM
US6798550B1 (en) * 1999-11-18 2004-09-28 Corning Applied Technologies Corporation Spatial light modulator
US6811953B2 (en) * 2000-05-22 2004-11-02 Nikon Corporation Exposure apparatus, method for manufacturing therof, method for exposing and method for manufacturing microdevice
US6464692B1 (en) * 2000-06-21 2002-10-15 Luis Antonio Ruiz Controllable electro-optical patternable mask, system with said mask and method of using the same
JP3563384B2 (ja) * 2001-11-08 2004-09-08 大日本スクリーン製造株式会社 画像記録装置
KR100545297B1 (ko) * 2002-06-12 2006-01-24 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피장치 및 디바이스 제조방법
JP3613342B2 (ja) * 2002-08-27 2005-01-26 独立行政法人科学技術振興機構 マスクレス露光装置
US6870554B2 (en) * 2003-01-07 2005-03-22 Anvik Corporation Maskless lithography with multiplexed spatial light modulators
US7061591B2 (en) * 2003-05-30 2006-06-13 Asml Holding N.V. Maskless lithography systems and methods utilizing spatial light modulator arrays
EP1482373A1 (en) * 2003-05-30 2004-12-01 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
EP1530092B1 (en) 2003-11-07 2008-10-29 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7196772B2 (en) * 2003-11-07 2007-03-27 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method

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