JP2005071512A - 不揮発性メモリ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】不揮発性メモリ装置10は、不揮発性のメモリ領域を含むデータ格納部14と、所定のデータ入力に対応して入力されたクロックをカウントするクロックカウンタ28と、クロックカウンタ28によってカウントされた実クロック数と、当該データ処理に対応して本来入力されるべき既定クロック数とを比較し、実クロック数が既定クロック数より多い場合をクロックのオーバーランとして検出するオーバーラン検出回路30と、を含む。制御回路18は、オーバーランが検出されたときには、データ書き込みを実行しないよう各部を制御する。
【選択図】図1
Description
Claims (4)
- 不揮発性のメモリ領域を含むメモリアレイと、
所定のデータ処理を行うべく入力されたクロックをカウントするクロックカウンタと、
前記クロックカウンタによってカウントされた実クロック数と、前記データ処理に対応して本来入力されるべき既定クロック数とを比較し、実クロック数が既定クロック数より多い場合をクロックのオーバーランとして検出するオーバーラン検出回路と、
を含み、前記オーバーランが検出されたときには、前記メモリアレイへのデータ書き込みを実行しないことを特徴とする不揮発性メモリ装置。 - 前記オーバーラン信号を格納するステータスレジスタを備えることを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
- 前記ステータスレジスタは、少なくとも、前記オーバーラン信号と、書き込みが完了したことを示す書き込み状態信号とを格納し、
前記格納されたオーバーラン信号および書き込み状態信号が、入力されたクロックに基づいてシリアルデータとして出力されることを特徴とする請求項2に記載の不揮発性メモリ装置。 - 不揮発性のメモリ領域を含むメモリアレイと、
入力されたシリアルデータを一時的に格納するデータレジスタと、
入力されたシリアルデータをデコードしてコマンドコードを取得するコマンドデコーダと、
前記取得されたコマンドコードに基づいて前記シリアルデータの終端ビットまでの既定クロック数を取得する既定クロック数取得部と、
前記シリアルデータに対応するチップセレクト信号またはチップイネーブル信号の終端を検出する終端検出部と、
入力されたクロックをカウントするクロックカウンタと、
前記クロックカウンタによって前記終端までにカウントされた実クロック数と取得された前記既定クロック数とを比較し、実クロック数が既定クロック数より多い場合にオーバーラン信号を生成するオーバーラン検出回路と、
前記オーバーラン検出信号を格納するステータスレジスタと、
を含み、前記ステータスレジスタに前記オーバーラン信号が格納されているときには、前記データレジスタから前記メモリアレイへのデータ書き込みを実行せず、ステータスレジスタにオーバーラン信号が格納されていないときにのみ、データレジスタからメモリアレイへのデータ書き込みを実行することを特徴とする不揮発性メモリ装置。
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JP2012056161A (ja) * | 2010-09-08 | 2012-03-22 | Kyocera Mita Corp | 画像処理装置及び画像形成装置 |
JP2015179561A (ja) * | 2015-06-10 | 2015-10-08 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2017073186A (ja) * | 2015-10-08 | 2017-04-13 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 不揮発性記憶装置 |
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