JP2005064409A - 有機トランジスタ - Google Patents

有機トランジスタ Download PDF

Info

Publication number
JP2005064409A
JP2005064409A JP2003295938A JP2003295938A JP2005064409A JP 2005064409 A JP2005064409 A JP 2005064409A JP 2003295938 A JP2003295938 A JP 2003295938A JP 2003295938 A JP2003295938 A JP 2003295938A JP 2005064409 A JP2005064409 A JP 2005064409A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
separator
organic
organic transistor
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003295938A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Iida
健二 飯田
Shiro Shichijo
司朗 七条
Kimihiko Saito
公彦 齊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Chemicals Inc
Original Assignee
Mitsui Chemicals Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Chemicals Inc filed Critical Mitsui Chemicals Inc
Priority to JP2003295938A priority Critical patent/JP2005064409A/ja
Publication of JP2005064409A publication Critical patent/JP2005064409A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

【目的】ソース電極とドレイン電極の間の極細いチャネル長の形成が容易で、且つ低コスト化・量産化を可能とする有機トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【構成】有機トランジスタの構造は、表面に凸型セパレータが形成されたポリイミド基板1上に前記セパレータを挟んでソース電極2とドレイン電極3が形成されており、且つそれら電極の上に有機半導体層4、絶縁体層5、ゲート電極6が形成された、いわゆる横型有機トランジスタ構造をしている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ソース電極とドレイン電極の間の極細いチャネル長の形成が容易で、且つ低コスト化・量産化を可能とする有機トランジスタ及びその製造方法に関するものである。
近年、有機高分子や有機低分子からなる有機半導体材料をチャネル領域に用いた有機トランジスタが活発に研究されている。これは有機ELを代表とするディスプレイの薄型が進む現在において、より軽量で柔軟であるフレキシブルディスプレイや電子ペーパーが近い将来に必要になると考えられているからである。ディスプレイのフレキシブル化が進めば、表示部分のみでなく駆動回路部分のフレキシブル化も必要となる。現在駆動回路の心臓部とも言える薄膜トランジスター(以下、TFTと記す)にはシリコン系の無機材料が使われているが、折り曲げるとTFTのチャネル領域、つまり半導体層にクラックが生じてしまうため、フレキシブルなデバイスを作製するには適さない。そこでフレキシビリティが高く軽量な有機半導体材料を用いた有機トランジスタへの期待が高まっている。例えば、特許文献1から特許文献5(特開平5−55568、特開2002−208486、特開2002−204012、特開2003−31816、特開2003−101104)などに示される方法で、有機高分子や有機低分子からなる有機半導体材料を用いて有機トランジスタを作製することが提案されている。
一方で、現状の無機TFTを有機TFTに取り替えることには製造上のメリットもあると言われている。これは塗布可能な有機高分子材料を用いれば、ソース、ドレイン、ゲートといった各電極や半導体層、絶縁体層といったトランジスタの各主要構造を、印刷(塗布)工程で作製することができるためである。現状の無機TFT作製工程では、真空中での蒸着や、フォトリソグラフィーによるパターニング、さらにエッチングなどといった複雑な工程を数多くこなす必要性があり、プロセス上のコストが大きくかかってしまう。これらが全て常温・常圧下で印刷(塗布)工程によって行うことができ、且つラインとして連続的に流すことができれば、大幅なコストダウンが期待される。このようなことから、例えば非特許文献1(T.Kawase et al. Tech Digest of IEDM , 623(2000))などでは、有機高分子材料を用いてインクジェット法とスピンコート法によりソース電極、ドレイン電極、ゲート電極、半導体層、及び絶縁体層を形成することで、有機トランジスタが作製できることを実証している。
しかしながら、このようなインクジェット法による有機トランジスタの作製においても、ソース電極とドレイン電極の間の極細いチャネル長を制御するため、リソグラフィー工程により基板上にセパレータとしてポリイミド凸部を形成したり、ポリイミド凸部をプラズマ処理により撥水化する必要があったりと、複雑な工程が必要となっている。したがって、基板準備から各デバイス構造の形成まで完全に連続的なライン化にすることが難しく、量産化・低コスト化には向かないという欠点があった。
特開平5−55568号公報 特開2002−208486号公報 特開2002−204012号公報 特開2003−31816号公報 特開2003−101104号公報 T.Kawase et al. Tech Digest of IEDM , 623(2000)
有機トランジスタを印刷(塗布)工程により連続的に作製する場合、この欠点はデバイス作製プロセスの完全連続ライン化の妨げになり、量産化・低コスト化が難しい。具体的には、リソグラフィー工程などの露光・現像プロセスが必要となるため、連続ライン中に大型な露光機や現像機が必要となったり、プラズマ処理などによる真空引きやガスパージなどが必要となるため、ラインの連続性が妨げられたりなどの問題があった。
本発明の目的は、ソース電極とドレイン電極の間の極細いチャネル長の形成が容易で、且つ低コスト化・量産化を可能とする有機トランジスタ及びその製造方法を提供することである。
本発明は、基板上にソース電極とドレイン電極とを分離するセパレータが基板と同一材料でかつ基板と一体で形成されており、該基板上にセパレータをはさんでそれぞれ有機材料からなるソース電極とドレイン電極が形成されていることを特徴とする有機トランジスタである。
本発明によれば、セパレータがあらかじめ基板と同じ材料でかつ基板と一体で形成されているため、セパレータが基板から剥がれてしまう恐れも無く基板を取り扱う際のハンドリング性がよくなり、連続ライン生産化が容易になる。
またソース電極とドレイン電極が形成されている下地面は親水処理がなされていることが好ましい。
本発明に従えば、前記セパレータと比較して、周囲の基板表面部分は親水化されているので、ソース電極とドレイン電極はセパレータ周囲に制御良く印刷(塗布)され、極細セパレータの幅に対応した極細いチャネル長を容易に形成できる。さらに本発明では、あらかじめ親水化された部分が基板上に形成されているため、プラズマ処理などによる基板の撥水化や溶液などによる親水化の処理を連続ライン工程中で必要とせず、大量生産化が容易になる。
さらに本発明において、前記基板上の親水化処理が微細な凸凹形状によって実現されることが好ましい。
このように親水化処理を微細凸凹形状によって実現することで、溶液などによる親水化処理が必要なくなり廃液処理などの環境問題が無くなる。
さらに本発明において、前記基板を高分子材料の成形によって作製することが好ましい。
また基板を金型を用いた成形によって作製することが好ましい。これによりデバイス作製ごとにリソグラフィー工程によって基板上に凸型セパレータや微細凸凹形状部を形成する必要が無くなり、基板を準備するプロセスの量産化・低コスト化が可能となる。さらには、射出成形やホットエンボス、押し出し成形などの各種成形技術によって、前記基板をフィルム化したりロール状に巻いたりすることができ、有機トランジスタのフレキシブル化と連続ライン生産化が可能となる。
さらに本発明において、前記高分子材料がポリイミド樹脂によって構成され、且つラビング処理がされていることが好ましい。
このようにポリイミド樹脂によって前記基板を作製することで、前記凸型又は凹型セパレータは比較的疎水性となるため、周囲の比較的親水性な微細凸凹形状部との濡れ性の差がより明確になり、さらに制御良く極細いチャネル長を形成することが可能となる。また、ポリイミド樹脂がラビング処理されていることで、その表面に印刷(塗布)されるソース電極材料、ドレイン電極材料、及び半導体層の材料を配向制御することができ、キャリア移動度やトランジスタ特性がより向上した有機トランジスタ構造を実現することが可能となる。
本発明を用いれば、極細い間隔を形成するセパレータが表面に形成された基板を、容易に且つ低コストに用意することができるため、極細いチャネル長を有した有機トランジスタを簡便に且つ低コストに作製することができる。さらに有機電極を形成する下地を親水性にすることにより、有機材料を塗布した後のパターニングが不要となる。親水性を微細凹凸で付与することにより、プロセス的に簡便になりまた溶液による親水処理が不要で廃液の問題がなくなる。
本発明者らは、ポリイミド基板表面に上底部と側面部が極めて平坦な微細な凸型形状を形成し、さらにその周囲には数10nm〜数um程度の微細な凸凹形状を形成することによって、微細な凸凹形状表面は比較的親水化され、凸型形状部に比べて溶液の濡れ性が上がることを見出した。さらに前記微細な凸凹形状表面にソース電極材やドレイン電極材を印刷(塗布)することで、それらが極細い凸型のセパレータを隔てて制御良く形成され、極細いチャネル長を有した有機トランジスタを容易に作製できることを見出した。さらに前記表面に微細な形状を有したポリイミド基板を成形によって複製できることを見出した。さらに前記ポリイミド基板を前もってラビング処理すれば、その表面に印刷(塗布)された高分子材料は分子配向することを見出した。これによりトランジスタ特性が向上する。
したがって本発明では、有機トランジスタを作製する際、表面に凸型の極細セパレータと微細な凸凹形状が形成された基板をあらかじめ成形によって複製することで準備した後、その基板をラビング処理する。さらに前記基板上にソース電極とドレイン電極を、前記極細セパレータを隔てて印刷(塗布)し、次いで印刷(塗布)などにより半導体層や絶縁体層、ゲート電極などを形成することで有機トランジスタを作製する。このような連続ライン工程化が可能となる簡便なプロセスで、有機トランジスタを作製することが可能となる。
ここで親水性を付与するための微細凸凹は、ポリイミド基板などを用いる場合この表面にセパレータを形成するために酸素プラズマでエッチングする際に、マスクで覆われない面に形成することができる。しかし図3に示すようにフォトリソグラフィーとドライエッチングによって周期的な微細凸凹構造11を作製することがより好ましい。すなわち図3において、レジストによるセパレータ部マスク7を用いてセパレータを形成した基板にレジストマスク10で微細パターンを形成し(図3(a))、これを酸素プラズマエッチングし(図3(b))、レジストマスクを除去して表面が微細凹凸で粗面化した基板が得られた(図3(c))。このとき微細凹凸を周期的に形成することにより粗面化を高めることができる。
またはセパレータ周囲の微細凸凹形状の代わりに、あらかじめ酸性溶液などによって親水化処理する方法を用いることももちろん可能である。さらには、図4のように微細な凸凹形状が凸型セパレータの側面12にも形成されていることが好ましい。
本発明の一実施例を図1を用いて説明する。以下、ポリイミド樹脂を基板として用いた場合について述べるが、その他の樹脂やガラスやセラミックスなどの絶縁材料を用いることはもちろん可能である。本実施例の有機トランジスタの構造は、表面に凸型セパレータ9が形成されたポリイミド基板1上に前記セパレータを隔ててソース電極2とドレイン電極3が形成されており、且つそれら電極の上に有機半導体層4、絶縁体層5、ゲート電極6が形成された、いわゆる横型有機トランジスタ構造をしている。
本実施例のプロセスを図2〜図9を用いて説明する。本実施例のプロセスは、初めにポリイミド樹脂基板表面に凸型のセパレータと微細な凸凹形状をフォトリソグラフィーとドライエッチングによって形成する。すなわちポリイミド基板1上にセパレータ部マスク7をフォトレジストで形成した(図2(a))。これを酸素プラズマでプラズマエッチングした(図2(b))。セパレータ周囲に形成される微細な凸凹形状8は、図2(b)、図2(c)のようにポリイミドの酸素ガスドライエッチングによって自然と形成される。次に、作製したポリイミド基板の凸部セパレータの形成された面と反対側の面をレーヨン繊維のついた回転ロールなどで摩擦(ラビング)処理する。以上のように準備したポリイミド基板表面の微細凸凹形状表面に、セパレータを隔てて導電性の溶液状の有機材料であるPEDOT(poly-ethylenedioxythio-phene)をインクジェット法により必要な個所のみに印刷することで、ソース電極13とドレイン電極14を形成する(図5)。このとき微細凸凹形状表面は凸型セパレータと比べて親水化されているため、各電極は極細いセパレータを隔てて制御良く所望の形状を形成することが可能である。したがって、図6のように微細凸凹構造15を所望の部分にのみ形成したポリイミド基板を用いればソース電極13とドレイン電極14の形状を任意に制御することが可能となる。各電極を基板上に印刷した後、100℃程度の熱処理によりこれら電極を乾燥・固化する。以上のように電極を形成した後、有機半導体材料としてキャリア移動度の高い高分子であるF8T2(fluorene - bithio - phene)を電極表面にスピンコートすることで有機半導体層16を形成する(図7(a))。有機半導体層をスピンコートした後、直ちに260℃程度の高温で熱処理することで、乾燥・固化する。以上のように有機半導体層を形成した後、有機絶縁材料であるPVP(poly - vinylphenol)を半導体層上にスピンコートして有機絶縁体層17を形成し(図7(b))、さらにその上にインクジェット法によりPEDOTのゲート電極18を形成し、これを100℃程度の熱処理により乾燥・固化することで(図7(c))、図1に示した有機トランジスタ構造が作製される。
本実施例ではインクジェット法により各電極を印刷しているが、グラビア印刷法やスクリーン印刷法などその他の印刷方法ももちろん適用可能である。また、本実施例ではスピンコートによって有機半導体層や有機絶縁体層を形成しているが、ダイコートやスプレーコートなどその他のコーティング手法ももちろん適用可能である。
本発明の別の実施例を図1を用いて説明する。以下、ポリイミド樹脂を基板として用いた場合について述べるが、その他の樹脂やガラスやセラミックスなどの絶縁材料を用いることはもちろん可能である。本実施例の有機トランジスタの構造は、表面に凸型セパレータが形成されたポリイミド基板1上に前記セパレータを挟んでソース電極2とドレイン電極3が形成されており、且つそれら電極の上に有機半導体層4、絶縁体層5、ゲート電極6が形成された、いわゆる横型有機トランジスタ構造をしている。本実施例では凸型形状のセパレータを用いているが、凹型形状をセパレータとして用いることはもちろん可能である。
本実施例のプロセスを図5〜図9を用いて説明する。本実施例のプロセスは、初めにポリイミド樹脂基板表面に凸型のセパレータと微細な凸凹形状を射出成形法で形成する。この他ホットエンボス法、押し出し成形法などの成形によって形成することも可能である。射出成形の場合、まず表面にセパレータを形成する凹形状21とその周囲に微細な凸凹形状20を有した金型となるスタンパ19を作製する(図8(a))。次にスタンパ表面に液状のポリイミド樹脂を流し込んで熱をかけることでポリイミド樹脂を固めて(図8(b))、冷却した後スタンパから固めた樹脂22を離型する(図8(c))。スタンパ19のセパレータに対応する凹形状21の側面23には、図9のように微細な凸凹形状が形成されていて、このスタンパによって成形された凸形状セパレータの側面には同様の微細な凸凹形状が転写される。以上のプロセスによって、表面に凸型のセパレータと微細な凸凹形状を有したポリイミド基板を大量且つ低コストに作製できる。
次に、成形したポリイミド基板をレーヨン繊維のついた回転ロールなどで摩擦(ラビング)処理する。摩擦処理は、セパレータや微細な凸凹形状が形成された面と反対側の面に行う。このようにして準備したポリイミド基板表面の微細凸凹構造11を有する表面に、セパレータ9を隔てて導電性の溶液状の有機材料をインクジェット法により印刷することで、ソース電極13とドレイン電極14を形成する(図5)。このとき微細凸凹構造を有する表面は凸型セパレータ9と比べて親水化されているため、各電極は極細いセパレータを挟んで制御良く所望の形状を形成することが可能である。したがって、図6のように微細凸凹形状を所望の部分にのみ形成したポリイミド基板を成形し、それを基板として用いればソース電極とドレイン電極の形状を任意に制御することが可能となる。以上のように電極を形成した後、有機半導体材料を電極表面にスピンコートすることで有機半導体層16を形成する(図7(a))。以上のように有機半導体層を形成した後、有機絶縁材料を半導体層上にスピンコートして有機絶縁体層17を形成し(図7(b))、さらにその上にインクジェット法によりゲート電極18を形成することで(図7(c))、有機トランジスタ構造が作製される。ここで用いる各有機材料は実施例1と同じ物を用いる。
本実施例ではインクジェット法により各電極を印刷しているが、グラビア印刷法やスクリーン印刷法などその他の印刷方法ももちろん適用可能である。また、本実施例ではスピンコートによって有機半導体層や有機絶縁体層を形成しているが、ダイコートやスプレーコートなどその他のコーティング手法ももちろん適用可能である。
このような有機トランジスタ及びその製造方法を用いることで、親水性・疎水性の部分が極細い間隔で表面に形成された基板を、容易に且つ低コストに用意することができるため、極細いチャネル長を有した有機トランジスタを簡便に且つ低コストに作製することができる。従って、量産化・製造コスト削減につながる。また、基板上に印刷(塗布)される材料の配向性を制御できるので、有機トランジスタの特性を向上することができる。
本発明の有機トランジスタ構造を説明する図である。 本発明の有機トランジスタの基板作製方法を説明する図である。 本発明の基板上の微細凸凹形状を説明する図である。 本発明の基板上のセパレータを説明する図である。 本発明の有機トランジスタのソース電極、ドレイン電極を印刷(塗布)する方法を説明する図である。 本発明の基板上所望の場所に電極を印刷(塗布)する方法を説明する図である。 本発明の有機トランジスタの製造方法の一部を説明する図である。 本発明の基板を成形する方法を説明する図である。 本発明の基板を成形する際のスタンパ形状を説明する図である。
符号の説明
1 ポリイミド基板、 2 ソース電極、 3 ドレイン電極
4 有機半導体層、 5 絶縁体層、 6 ゲート電極
7 セパレータ部マスク、 8 微細な凸凹形状部、9 セパレータ
10 レジストマスク、 11 微細凸凹構造、 12 セパレータの側面
13 ソース電極、 14 ドレイン電極、 15 微細凸凹構造
16 有機半導体層、 17 有機絶縁体層、 18 ゲート電極
19 スタンパ、 20 微細な凸凹形状、21 凹形状
22 樹脂、 23 側面

Claims (2)

  1. 基板上にソース電極とドレイン電極とを分離するセパレータが基板と同一材料でかつ基板と一体で形成されており、該基板上にセパレータをはさんでそれぞれ有機材料からなるソース電極とドレイン電極が形成されていることを特徴とする有機トランジスタ。
  2. ソース電極とドレイン電極が形成されている下地面は親水処理がなされていることを特徴とする請求項1に記載の有機トランジスタ。
JP2003295938A 2003-08-20 2003-08-20 有機トランジスタ Pending JP2005064409A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003295938A JP2005064409A (ja) 2003-08-20 2003-08-20 有機トランジスタ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003295938A JP2005064409A (ja) 2003-08-20 2003-08-20 有機トランジスタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005064409A true JP2005064409A (ja) 2005-03-10

Family

ID=34372002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003295938A Pending JP2005064409A (ja) 2003-08-20 2003-08-20 有機トランジスタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005064409A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006278982A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法、半導体装置、表示装置および電子機器
JP2006278686A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Toppan Printing Co Ltd パターン形成方法、並びに、これを用いた電気配線回路の形成方法および印刷トランジスタの形成方法
DE102005033756A1 (de) * 2005-07-15 2007-01-18 O-Flex Technologies Gmbh Verfahren zur Herstellung von elektronischen Bauteilen aus zwei mehrlagigen Ausgangsstrukturen
JP2007095828A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Dainippon Printing Co Ltd パターン形成体
JP2009026899A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Ricoh Co Ltd 積層構造体、電子素子、電子素子アレイ及び表示装置
JP2009026901A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Ricoh Co Ltd 積層構造体、電子素子、電子素子アレイ及び表示装置
JP2009026900A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Ricoh Co Ltd 積層構造体、電子素子及びそれらの製造方法、表示装置
EP2356514A1 (en) * 2008-11-13 2011-08-17 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO A method for forming a multi-level surface on a substrate with areas of different wettability and a semiconductor device having the same

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006278686A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Toppan Printing Co Ltd パターン形成方法、並びに、これを用いた電気配線回路の形成方法および印刷トランジスタの形成方法
JP4639898B2 (ja) * 2005-03-29 2011-02-23 凸版印刷株式会社 パターン形成方法、並びに、これを用いた電気配線回路の形成方法および印刷トランジスタの形成方法
US7799618B2 (en) 2005-03-30 2010-09-21 Seiko Epson Corporation Method of manufacturing semiconductor device, semiconductor device, display device, and electronic instrument
JP2006278982A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法、半導体装置、表示装置および電子機器
US8188465B2 (en) 2005-03-30 2012-05-29 Seiko Epson Corporation Method of manufacturing semiconductor device, semiconductor device, display device, and electronic instrument
JP4636921B2 (ja) * 2005-03-30 2011-02-23 セイコーエプソン株式会社 表示装置の製造方法、表示装置および電子機器
DE102005033756A1 (de) * 2005-07-15 2007-01-18 O-Flex Technologies Gmbh Verfahren zur Herstellung von elektronischen Bauteilen aus zwei mehrlagigen Ausgangsstrukturen
JP2007095828A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Dainippon Printing Co Ltd パターン形成体
JP2009026900A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Ricoh Co Ltd 積層構造体、電子素子及びそれらの製造方法、表示装置
JP2009026901A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Ricoh Co Ltd 積層構造体、電子素子、電子素子アレイ及び表示装置
JP2009026899A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Ricoh Co Ltd 積層構造体、電子素子、電子素子アレイ及び表示装置
EP2356514A1 (en) * 2008-11-13 2011-08-17 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO A method for forming a multi-level surface on a substrate with areas of different wettability and a semiconductor device having the same
JP2012508976A (ja) * 2008-11-13 2012-04-12 ネーデルランツ オルガニサティー フォール トゥーゲパストナトゥールヴェテンシャッペリーク オンデルズーク テーエンオー 異なるぬれ性のエリアを備えるマルチレベル表面を基板上に形成する方法およびそれを有する半導体素子
US8895438B2 (en) 2008-11-13 2014-11-25 Nederlandse Organisatie Voor Toegepast—Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno Method for forming a multi-level surface on a substrate with areas of different wettability and a semiconductor device having the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4996846B2 (ja) 電界効果トランジスタ及びその製造方法
JP5079980B2 (ja) 電子装置の形成方法
CN1288767C (zh) 图形加工方法
KR100858223B1 (ko) 자가정렬된 반도체 나노와이어 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
JP4876729B2 (ja) マイクロエンボス加工による電子装置の製造方法
JP2004503116A (ja) 有機電界効果トランジスタ(ofet)の製造及び構造化方法
JP2006147843A (ja) 電界効果トランジスタの製造方法およびその方法で製造された電界効果トランジスタ
TW200805723A (en) Field effect transistor and method of fabricating the same
US7396566B2 (en) Fabrication of organic electronic circuits by contact printing techniques
JP2004274015A (ja) フォトレジスト層のマイクログルーブに従って配列された半導体層を含む有機装置
JP2007067390A (ja) 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置
US20110117695A1 (en) Fabrication method of organic thin-film transistors
JP4853078B2 (ja) 印刷方法、電極パターンの形成方法及び薄膜トランジスタの形成方法
US20080006161A1 (en) Method of fabricating a structure
JP2005064409A (ja) 有機トランジスタ
JP2007103947A (ja) 薄膜トランジスタおよび電子デバイスを製造するための方法
US10262860B2 (en) Method of fabricating electrodes, method of fabricating thin film transistor, method of fabricating array substrate, thin film transistor, array substrate, and display apparatus
US20110147724A1 (en) Organic thin film transistor and method of manufacturing the same
CA2514133C (en) Reverse printing
US20080029833A1 (en) Transistor, an electronic circuit and an electronic device
JP2007095777A (ja) 有機半導体薄膜の製造方法及び有機半導体薄膜並びに電界効果トランジスタ
WO2005098927A1 (ja) Tftシートおよびその製造方法
JP2018037486A (ja) 薄膜トランジスタの製造方法
JP5670141B2 (ja) 局在パターンの作成方法
JP2007150030A (ja) 薄膜トランジスタ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050715

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081104

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090317