JP2005064105A - 静電チャック装置用電極シート、静電チャック装置および吸着方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 静電チャック装置は、絶縁性材料よりなる絶縁層1と、該絶縁層を介して電位差を生じさせるための該絶縁層の両面に設けられた第1電極層2および第2電極層3と、これら2つの電極層の表面を被覆する絶縁性薄膜4、5とよりなる電極シート10を、基盤7上に第2電極層が基盤側に位置するように貼着した構成を有している。この静電チャック装置の第1電極を接地し、第2電極に電圧を印加して被吸着体を絶縁性薄膜4上に吸着させる。
【選択図】 図1
Description
第1電極層と第2電極層との間に介在させる絶縁層を構成する絶縁性材料としては、セラミックス、プラスチックフィルム等、材質は何ら限定されるものではないが、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、アラミド、オレフィン、ポリエーテルサルフォン、ポリエーテルケトン、ポリテトラフルオロエチレン等のフィルムが好ましい。特に、高耐熱性であるポリイミドフィルムは、高温時においてもリーク電流が増大せず、エレクトロマイグレーション発生の危険性が極めて小さいので、好ましく使用することができる。また、絶縁層は、上記材質が2層以上積層されたものであってもよい。
(実施例1)(静電チャック装置の製作)
ポリイミドフィルム(東レ・デュポン社製、商標名:カプトン200H、厚さ50μm)の両面に、厚さ20μmの接着剤フィルムを介して、厚さ12μmの銅箔(三井金属鉱業社製、商標名:TQ‐VLP)を積層した。続いてエッチングによって一方の銅箔面に、幅5mmの導電性部分と幅5mmの絶縁性部分が交互に配置されたエリアが90×90mmである櫛形電極よりなる第1電極層(図4に示す形状)、他方の銅箔面に、全域導電性のエリアが90×90mmの電極よりなる第2電極層(図5に示す形状)を作製した後、さらに両方の電極層上にそれぞれ厚さ20μmの接着剤フィルムを介してポリイミドフィルム(カプトン200H)を積層し、電極シートを得た。
第1電極層の櫛形デザインを、導電性部分が幅2mm、絶縁性部分が幅2mmに変更した以外は、実施例1と同様の材料および作業条件によって、静電チャック装置を製作した。
第1電極層の櫛形デザインを、導電性部分が幅10mm、絶縁性部分が幅10mmに変更した以外は、実施例1と同様の材料および作業条件によって、静電チャック装置を製作した。
吸着面に使用するポリイミドフィルムを、カプトン200Hに代えてユーピレックス75S(宇部興産社製、厚さ75μm)とした以外は、実施例1と同様の材料および作業条件によって、静電チャック装置を製作した。
ポリイミドフィルム(カプトン200H)の片面に、厚さ20μmの接着剤フィルムを介して、厚さ12μmの銅箔(TQ‐VLP)を積層した。続いてエッチングにより、第1電極(幅2mm)および第2電極(幅2mm)よりなる1対の櫛形対向電極(図6に示す形状)を、絶縁部分の幅2mmになるように銅箔面に形成した(櫛型電極の有効エリアは90×90mmとした)。さらに電極層上に厚さ20μmの接着剤フィルムを介してポリイミドフィルム(カプトン200H)を積層し、静電チャック装置用電極シートを得た。
櫛形対向電極のデザインを、第1電極、第2電極、およびこれら電極の絶縁部分を、全て幅1mmに変更した以外は、比較例1と同様の材料および作業条件によって、静電チャック装置を製作した。
吸着面に使用するポリイミドフィルムを、カプトン200Hに代えてユーピレックス75S(宇部興産社製、厚さ75μm)に変更した以外は、比較例1と同様の材料および作業条件によって、静電チャック装置を製作した。
(耐電圧)
静電チャック装置の第1電極層および第2電極層の間(比較例1〜3では第1電極と第2電極の間)に電位差10kVの電圧を5分間印加し、耐電圧特性を評価した。評価は25℃および100℃において実施し、絶縁破壊の有無および5分印加終了直前のリーク電流値により優劣を判断した。結果を表2に示す。
実施例1〜4においては、100℃においても、リーク電流値が充分小さく、高い絶縁性を維持していることが確認された。これに対して、比較例1〜3の場合は、実施例1〜4の場合よりもリーク電流値が大きく、特に100℃においては絶縁抵抗が著しく低下し、また、比較例2の場合では絶縁破壊が発生した。
静電チャック装置の第1電極層および第2電極層の間(比較例1〜3では第1電極と第2電極の間)に電位差5kVの電圧を印加し、無アルカリガラス板に対する吸着特性を評価した。ガラスサイズは0.3×80×80mmであり、ガラスを50mm/分の速さで垂直方向に引き剥がした際の剥離強度を測定し、優劣を判断した。なお、測定環境は、25℃/55%RH、吸着時間は1分間とした。結果を表3に示す。
実施例1〜4の場合は、何れも無アルカリガラスに対して高い吸着力を発現した。これに対して、比較例1および3の場合の結果からは、従来の双極型のデザインで静電チャック装置を設計する場合には、櫛形対向電極のパターンを精細にして、且つ吸着面に薄い材料を使用しなければ高い吸着力が得られないことが判った。
先ず静電チャック装置の吸着面上に、長辺が大凡1mmの無アルカリガラスの破片を撒布し、さらに0.3×80×80mmの無アルカリガラス板、4kgの平板状の錘を順次静置して荷重を加えた(ガラス板に加わる荷重は、0.6N/cm2 )。
Claims (12)
- 絶縁性材料よりなる絶縁層と、該絶縁層を介して電位差を生じさせるための該絶縁層の両面に設けられた第1電極層および第2電極層と、これら2つの電極層の表面を被覆する絶縁性薄膜とよりなることを特徴とする静電チャック装置用電極シート。
- 第1電極層がパターン状に形成された導電部よりなることを特徴とする請求項1に記載の静電チャック装置用電極シート。
- 第1電極層および第2電極層が厚さ150μm以下の金属箔よりなることを特徴とする請求項1に記載の静電チャック装置用電極シート。
- 絶縁性材料よりなる絶縁層が厚さ12.5〜300μmのポリイミドフィルムであることを特徴とする請求項1に記載の静電チャック装置用電極シート。
- 第1電極層および第2電極層の表面を被覆する絶縁性薄膜が厚さ12.5〜300μmのポリイミドフィルムよりなることを特徴とする請求項1に記載の静電チャック装置用電極シート。
- 絶縁性材料よりなる絶縁層と、該絶縁層を介して電位差を生じさせるための該絶縁層の両面に設けられた第1電極層および第2電極層と、これら2つの電極層の表面を被覆する絶縁性薄膜とよりなる電極シートを、基盤上に第2電極層が基盤側に位置するように貼着してなることを特徴とする静電チャック装置。
- 第1電極層がパターン状に形成された導電部よりなることを特徴とする請求項6に記載の静電チャック装置。
- 第1電極層および第2電極層が厚さ150μm以下の金属箔よりなることを特徴とする請求項6に記載の静電チャック装置。
- 絶縁性材料よりなる絶縁層が厚さ12.5〜300μmのポリイミドフィルムであることを特徴とする請求項6に記載の静電チャック装置。
- 第1電極層および第2電極層の表面を被覆する絶縁性薄膜が厚さ12.5〜300μmのポリイミドフィルムよりなることを特徴とする請求項6に記載の静電チャック装置。
- 請求項6に記載の静電チャック装置の第1電極層および第2電極層の一方を接地し、他方の電極層に電圧を印加して、第1電極層側の絶縁性薄膜上に被吸着体を吸着することを特徴とする静電チャック装置による被吸着体の吸着方法。
- 第1電極層を接地することを特徴とする請求項11に記載の吸着方法。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007007674A1 (ja) | 2005-07-08 | 2007-01-18 | Creative Technology Corporation | 静電チャック及び静電チャック用の電極シート |
JP2008282875A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 静電チャックおよび静電チャックの製造方法 |
WO2009013803A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. | 静電チャックの表面電位制御方法 |
KR100965407B1 (ko) | 2006-03-06 | 2010-06-24 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 다중 전극 패턴을 가지는 정전척 |
US7881036B2 (en) | 2005-12-06 | 2011-02-01 | Creative Technology Corporation | Electrode sheet for electrostatic chuck, and electrostatic chuck |
KR20160081760A (ko) * | 2014-12-31 | 2016-07-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 다층 가변 소자 및 이를 포함하는 표시 장치 |
JP2016127282A (ja) * | 2014-12-31 | 2016-07-11 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 多層可変素子及び表示装置 |
KR20200040152A (ko) * | 2018-10-08 | 2020-04-17 | 한국생산기술연구원 | 전기접착식 그리퍼 및 그의 제조방법 |
TWI765518B (zh) * | 2021-01-07 | 2022-05-21 | 財團法人工業技術研究院 | 靜電吸盤及其製備方法 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4542959B2 (ja) * | 2005-07-14 | 2010-09-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 静電吸着電極、基板処理装置および静電吸着電極の製造方法 |
CN1994839B (zh) * | 2006-01-05 | 2012-07-18 | 财团法人工业技术研究院 | 静电吸附装置 |
CN104124127A (zh) * | 2013-04-27 | 2014-10-29 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 托盘及等离子体加工设备 |
WO2016060205A1 (ja) * | 2014-10-17 | 2016-04-21 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置 |
CN108346611B (zh) * | 2017-01-24 | 2021-05-18 | 中微半导体设备(上海)股份有限公司 | 静电吸盘及其制作方法与等离子体处理装置 |
CN106666870A (zh) * | 2017-02-23 | 2017-05-17 | 际华三五四三针织服饰有限公司 | 防霾口罩 |
JP6965776B2 (ja) * | 2018-02-08 | 2021-11-10 | トヨタ自動車株式会社 | 静電吸着搬送装置およびその方法 |
CN108551713A (zh) * | 2018-03-30 | 2018-09-18 | 成都同明新材料技术有限公司 | 一种静电吸附面板 |
TWI819046B (zh) * | 2018-08-02 | 2023-10-21 | 日商創意科技股份有限公司 | 靜電吸附體 |
CN115985833B (zh) * | 2023-02-03 | 2023-11-14 | 广东海拓创新技术有限公司 | 一种半永久吸附功能的静电卡盘的制造方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5928354A (ja) * | 1982-08-10 | 1984-02-15 | Toshiba Corp | 静電チヤツク用薄膜 |
JPH0227748A (ja) * | 1988-07-16 | 1990-01-30 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 静電チャック装置及びその作成方法 |
JPH04186653A (ja) * | 1990-11-17 | 1992-07-03 | Toshiba Corp | 静電チャック |
JPH05226462A (ja) * | 1992-02-18 | 1993-09-03 | Fujitsu Ltd | 静電チャック |
JPH06244147A (ja) * | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置 |
JPH06302678A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-10-28 | Tokyo Electron Ltd | 静電チャック |
JPH08203991A (ja) * | 1994-07-15 | 1996-08-09 | Applied Materials Inc | 多電極静電チャック |
JP2003243493A (ja) * | 2002-02-15 | 2003-08-29 | Taiheiyo Cement Corp | 双極型静電チャック |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1178392A (zh) * | 1996-09-19 | 1998-04-08 | 株式会社日立制作所 | 静电吸盘和应用了静电吸盘的样品处理方法及装置 |
JPH10125769A (ja) * | 1996-10-21 | 1998-05-15 | Matsushita Electron Corp | 静電チャック電極構造 |
KR20020059438A (ko) * | 1999-12-09 | 2002-07-12 | 보스트 스티븐 엘. | 편평한 막 전극을 갖는 정전 척 |
KR100427459B1 (ko) * | 2001-09-05 | 2004-04-30 | 주성엔지니어링(주) | 아크 방지용 정전척 |
-
2003
- 2003-08-08 JP JP2003289934A patent/JP4057977B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-07-31 KR KR1020040060680A patent/KR100614021B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-08-05 CN CNB2004100700363A patent/CN1319144C/zh active Active
- 2004-08-05 TW TW093123479A patent/TWI242256B/zh active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5928354A (ja) * | 1982-08-10 | 1984-02-15 | Toshiba Corp | 静電チヤツク用薄膜 |
JPH0227748A (ja) * | 1988-07-16 | 1990-01-30 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 静電チャック装置及びその作成方法 |
JPH04186653A (ja) * | 1990-11-17 | 1992-07-03 | Toshiba Corp | 静電チャック |
JPH05226462A (ja) * | 1992-02-18 | 1993-09-03 | Fujitsu Ltd | 静電チャック |
JPH06244147A (ja) * | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置 |
JPH06302678A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-10-28 | Tokyo Electron Ltd | 静電チャック |
JPH08203991A (ja) * | 1994-07-15 | 1996-08-09 | Applied Materials Inc | 多電極静電チャック |
JP2003243493A (ja) * | 2002-02-15 | 2003-08-29 | Taiheiyo Cement Corp | 双極型静電チャック |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4928454B2 (ja) * | 2005-07-08 | 2012-05-09 | 株式会社クリエイティブ テクノロジー | 静電チャック及び静電チャック用の電極シート |
KR100976320B1 (ko) * | 2005-07-08 | 2010-08-16 | 가부시키가이샤 크리에이티브 테크놀러지 | 정전척 및 정전척용 전극 시트 |
WO2007007674A1 (ja) | 2005-07-08 | 2007-01-18 | Creative Technology Corporation | 静電チャック及び静電チャック用の電極シート |
US8158238B2 (en) | 2005-07-08 | 2012-04-17 | Creative Technology Corporation | Electrostatic chuck and electrode sheet for electrostatic chuck |
US7881036B2 (en) | 2005-12-06 | 2011-02-01 | Creative Technology Corporation | Electrode sheet for electrostatic chuck, and electrostatic chuck |
KR100965407B1 (ko) | 2006-03-06 | 2010-06-24 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 다중 전극 패턴을 가지는 정전척 |
JP2008282875A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 静電チャックおよび静電チャックの製造方法 |
US8023246B2 (en) | 2007-05-08 | 2011-09-20 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Electrostatic chuck and method of manufacturing the same |
TWI417164B (zh) * | 2007-05-08 | 2013-12-01 | Shinko Electric Ind Co | 靜電夾盤及其製造方法 |
WO2009013803A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. | 静電チャックの表面電位制御方法 |
KR20160081760A (ko) * | 2014-12-31 | 2016-07-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 다층 가변 소자 및 이를 포함하는 표시 장치 |
JP2016127282A (ja) * | 2014-12-31 | 2016-07-11 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 多層可変素子及び表示装置 |
US9748469B2 (en) | 2014-12-31 | 2017-08-29 | Lg Display Co., Ltd. | Multilayer actuator and display device comprising the same |
KR102381743B1 (ko) * | 2014-12-31 | 2022-04-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 다층 가변 소자 및 이를 포함하는 표시 장치 |
KR20200040152A (ko) * | 2018-10-08 | 2020-04-17 | 한국생산기술연구원 | 전기접착식 그리퍼 및 그의 제조방법 |
KR102253843B1 (ko) | 2018-10-08 | 2021-05-20 | 한국생산기술연구원 | 전기접착식 그리퍼 및 그의 제조방법 |
TWI765518B (zh) * | 2021-01-07 | 2022-05-21 | 財團法人工業技術研究院 | 靜電吸盤及其製備方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200516690A (en) | 2005-05-16 |
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TWI242256B (en) | 2005-10-21 |
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