JP2005011391A - 光ディスク記録装置および記録方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】簡易な構成で、相変化型光ディスクにオーバーライトする信号の記録特性の劣化を抑制する光ディスク記録装置および記録方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光ディスクに記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、予め設定された変調度を記憶する記憶手段と、前記変調度測定手段により測定された変調度と前記記憶手段に記憶された変調度とを比較する比較手段と、該比較手段による比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段とを備えることにより、簡易な構成で、オーバーライトする信号の記録特性の劣化を抑制する光ディスク記録装置および記録方法を提供する。
【選択図】 図７
【解決手段】光ディスクに記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、予め設定された変調度を記憶する記憶手段と、前記変調度測定手段により測定された変調度と前記記憶手段に記憶された変調度とを比較する比較手段と、該比較手段による比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段とを備えることにより、簡易な構成で、オーバーライトする信号の記録特性の劣化を抑制する光ディスク記録装置および記録方法を提供する。
【選択図】 図７
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、相変化型光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置および記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、メディア媒体の小型化、省スペース化の要請に応えるべく、何度も情報の書き換えが可能である相変化型光ディスクが情報の記録や保存に多く用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、相変化型光ディスクにオーバーライトする場合に、以前に情報が記録された時のレーザパワーが高すぎると、その後にオーバーライトした信号の記録特性が著しく劣化する傾向にある。図１６は、相変化型光ディスクであるＣＤ−ＲＷに１６倍速で信号を書き込んだ場合に、１回目と２回目とで記録のレーザパワーを変化させてオーバーライトした信号の特性を示したものである。図１６において、横軸は、１回目の記録パワーと２回目の記録パワーの差（Ｄｅｌｔａ Ｐｗ）であり、左側の縦軸は、１回目の記録パワーでの変調度（１ｍ１１）と２回目の記録パワーでの変調度（２ｍ１１）の差（１ｍ１１−２ｍ１１：Ｄｅｌｔａ ｍ１１）を、右側の縦軸は、オーバーライト後のＣ１エラーの値を示している。
【０００４】
この結果をみると、横軸のＤｅｌｔａ Ｐｗの値がマイナスになるほど、すなわち、１回目の記録パワーが高いほど変調度の差（Ｄｅｌｔａ ｍ１１）が大きく、また、２回目記録後のＣ１エラーも増加する傾向にある。さらに、１回目の記録パワーが２回目の記録パワーに対して、５ｍＷ以上大きい場合には、オーバーライト後のＣ１エラーの値が数百となり、読取エラーが発生する危険性が高い。こうした問題は、特に、異なる機種の間でオーバーライトを行う場合に顕著である。
【０００５】
そこで、本発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであって、相変化型光ディスクにオーバーライトする信号の記録特性の劣化を抑制する光ディスク記録装置および記録方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するため、本発明は、以下の手段を提案している。
請求項１に係る発明は、変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録装置であって、光ディスクに記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、予め設定された変調度を記憶する記憶手段と、前記変調度測定手段により測定された変調度と前記記憶手段に記憶された変調度とを比較する比較手段と、該比較手段による比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段とを有することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【０００７】
請求項１２に係る発明は、相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録方法であって、光ディスクに記録されている信号の変調度を測定するステップと、前記測定された変調度と予め設定された変調度とを比較するステップと、比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録手順を変更することを特徴とする光ディスク記録方法を提案している。
【０００８】
これらの発明によれば、変調度測定手段の作動により、光ディスクにすでに記録されている信号の変調度を測定され、その測定値が記憶手段に格納される。測定された変調度は、比較手段の作動により、予め設定された変調度の値と比較され、比較の結果、すでに記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときには、制御手段の作動により、光ディスクへの記録波形あるいは記録方法が変更される。
【０００９】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載された光ディスク記録装置について、前記変調度測定手段において測定された変調度に関する補正値を記憶する補正値記憶手段を有し、前記比較手段が前記変調度測定手段により測定された変調度を前記補正値記憶手段に記憶された補正値にに基づいて補正した後に、前記予め設定された変調度と比較することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１０】
再生された信号の変調度は、光ディスク装置を構成する光学系の特性により個体差を生じるが、この発明によれば、記憶された補正値に基づいて、変調度測定手段により測定された変調度が補正された後に、比較手段によって、予め設定された変調度と比較されることから、このような装置の個体差による影響を除去することができる。
【００１１】
請求項３に係る発明は、相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録装置であって、前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度を測定するとともに、既に記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、該変調度測定手段により測定された変調度を比較する比較手段と、該比較手段による比較の結果、前記既に記録されている信号の変調度が前記信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段とを有することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１２】
請求項１３に係る発明は、相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録方法であって、前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに信号を記録するステップと、該信号の変調度を測定するステップと、既に記録されている信号の変調度を測定するステップと、前記測定されたそれぞれの変調度を比較するステップと、比較の結果、前記既に記録されている信号の変調度が前記信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録手順を変更することを特徴とする光ディスク記録方法を提案している。
【００１３】
これらの発明によれば、変調度測定手段の作動により、光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度と、既に記録されている信号の変調度とが測定される。そして、比較手段の作動により変調度測定手段において測定されたそれぞれの変調度が比較され、比較の結果、既に記録されている信号の変調度が信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、制御手段の作動により、光ディスクへの記録波形あるいは記録方法が変更される。
【００１４】
請求項４に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、前記光ディスクへの記録用レーザパワーを前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高い値に変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１５】
この発明によれば、制御手段の作動により、光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高い記録用レーザパワーに変更するため、これにより、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００１６】
請求項５に係る発明は、前記制御手段が、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、前記光ディスクへの消去用レーザパワーを前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な記録用レーザパワーまたは予め設定された記録用レーザパワーよりも高い値に変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１７】
この発明によれば、制御手段の作動により、光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高いレーザパワーに消去用パワーを変更するため、これにより、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００１８】
請求項６に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の先頭のパルス幅が広くなるよう変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１９】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録波形を予め定められた記録波形に対して、記録波形の先頭のパルス幅が広くなるよう変更されるため、記録パワーを上げる場合と同様の効果が期待できる。
【００２０】
請求項７に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のパルス幅が広くなるよう変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００２１】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録波形を予め定められた記録波形に対して、記録波形の最終のパルス幅が広くなるよう変更されるため、記録パワーを上げる場合と同様の効果が期待できる。
【００２２】
請求項８に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のオフパルス幅が狭くなるよう変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００２３】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録波形を予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のオフパルス幅が狭くなるよう変更されるため、結果的に、記録波形の最終のパルス幅が広くした場合と同様の効果が期待できる。
【００２４】
請求項９に係る発明は、前記制御手段が、前記記録方法を既に記録された信号の消去動作を行った後に、予め定められた記録波形で記録動作を行うこと方法に変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００２５】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録された信号の消去動作を行った後に、予め定められた記録波形で記録動作を行うため、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００２６】
請求項１０に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、前記記録方法を同一の信号を同一の領域に２回以上記録する方法に変更する光ディスク記録装置を提案している。
【００２７】
この発明によれば、制御手段の作動により、同一の信号を同一の領域に２回以上記録することから、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００２８】
請求項１１に係る発明は、請求項９に記載された光ディスク記録装置について、前記同一の信号を同一の領域に２回以上記録するときに、最初の記録用レーザパワーを最も高くし、次第に記録用レーザパワーを低くして記録する光ディスク記録装置を提案している。
【００２９】
この発明によれば、同一の信号を同一の領域に２回以上記録するときに、最初の記録用レーザパワーを最も高くし、次第に記録用レーザパワーを低くして記録することから、以前記録された信号の影響を緩和して、今後、何度か書き換えが実行されても記録特性の劣化を最小限に抑えることができる。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置について図１から図１５ を参照して詳細に説明する。
本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置は、図１に示すように、光ディスク１と、ピックアップ２と、ＡＰＣ（ＡＰＣ：Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）３と、ＲＦアンプ４と、サーボ回路５と、信号処理回路６と、ＣＰＵ（ＣＰＵ：Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）７とを備えている。
【００３１】
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える記録媒体であり、例えば、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ等がある。ピックアップ２は、光ディスクに情報の記録や情報の再生、消去を行う光学ユニットであり、半導体レーザや対物レンズ、フォトディテクタ、フロントモニタダイオード等の光学系を構成する素子と対物レンズをフォーカス方向あるいはトラッキング方向に駆動する駆動系とから構成されている。ＡＰＣ３は、ピックアップ２内のフロントモニタダイオードからの電流をモニタして、半導体レーザの出射パワーを所望の値に制御するための制御ブロックである。
【００３２】
ＲＦアンプ４は、ピックアップ内のフォトディテクタから電流を演算し、ＲＦ信号を生成するとともに、対物レンズを制御するためのフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成する。また、本実施形態においては、ＲＦ信号の変調度を測定する回路ブロックも内蔵している。具体的には、図２に示すように、変調度測定回路は、ピークホールド回路１１と、ボトムホールド回路１２と、演算部１３と、記憶部１４と、比較部１５とから構成されている。
【００３３】
ピークホールド回路１１は、生成されたＲＦ信号を入力して、ＲＦ信号のボトムレベルをホールドし、ボトムホールド回路１２は、ＲＦ信号を入力してＲＦ信号のボトムレベルをホールドする。得られたピークホールド値、ボトムホールド値は、演算部１３に出力され、演算部１３において、図３に示すＩｔｏｐ、Ｉｂｏｔが算出されたのち、以下の演算式（１）に基づいて、変調度が算出される。
Ｍ１１＝（Ｉｔｏｐ−Ｉｂｏｔ）／Ｉｔｏｐ （１）
演算部１３において、算出された変調度は、記憶部１４に格納され、これらの値が比較部１５において比較されたのち、比較結果がＣＰＵ７に出力される。
【００３４】
なお、記録特性の点から、変調度は、０．６程度が望ましく、この値から０．１以上ずれた値になるとＣ１エラーが増加して再生エラーを生ずることがわかっている。また、変調度は、装置の個体差によりバラツキが大きいことから、例えば、各装置ごとに基準ディスクの少なくとも２点で信号を再生し、各点での変調度を測定するとともに、これを基準値（例えば、０．６）と比較して、予め各装置の補正値を測定し、これをＣＰＵ７内の記憶装置に格納しておき、ディスクにオーバーライトを行う場合には、測定した変調度に前述の補正を行った上で、記録特性を維持するための適切な手段を講ずる必要がある。
【００３５】
サーボ回路５は、ＲＦアンプ４から入力したフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に基づいて、適切な制御量を算出した後、これを図示しない駆動回路に出力する。また、サーボ回路５には、制御系を安定させるためのイコライザー回路が各ループごとに備えられている。信号処理回路６は、ＲＦ信号から生成したＥＦＭ信号を入力し、データの処理を行う一方、図示しないＰＬＬ回路を備え、スピンドルモータの回転を制御する。ＣＰＵ７は、ＲＯＭ（ＲＯＭ：Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に格納された制御プログラムに基づいて、装置全体の制御を行う。本実施形態においては、変調度の比較結果に基づいて、記録波形のパワーの変更、パルス幅の変更や記録方法の変更等の制御を行う。
【００３６】
また、ＡＰＣ３は、図４に示すように、半導体レーザ（ＬＤ）２１と、フロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２と、電流電圧変換抵抗２３ａ、２３ｂと、増幅器２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、２４ｄと、サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂと、ＬＤドライバ２６と、ＬＤドライバ２６内に備えられたスイッチ２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅと、エンコーダ２８、Ａ／Ｄコンバータ２９ａ、２９ｂと、ＣＰＵ３０と、Ｄ／Ａコンバータ３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ、３１ｅと、リード／ライト切換スイッチ３２と、温度検出部３３とを備えている。なお、本実施形態においては、レーザ出力制御部は２系統設けられている。
【００３７】
半導体レーザ２１は、所定の電流を供給することにより、レーザ発光する半導体素子であり、光ディスク装置においては、ディスク上への情報の記録あるいはディスクに記録された情報の再生、消去を行うために用いられ、光ディスク装置の光ピックアップ内に備えられている。フロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２は、光ピックアップ内において、半導体レーザ２１に対向して設けられ、半導体レーザ２１から発せられたレーザ光を受光し、これを電流値に変換する。この電流値をモニタすることによりレーザパワーを監視できる。
【００３８】
電流電圧変換抵抗２３ａ、２３ｂは、フロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２から出力された電流を次段の増幅器２４ａ、２４ｂで電圧増幅するために、電流を電圧に変換する抵抗器である。増幅器２４ａ、２４ｂは、次段のサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂを有効に機能させるために、電圧に変換されたフロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２からの出力を増幅する。サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂは、電圧に変換されたレーザ出力を所定の間隔でサンプルホールドして、その結果を出力する。この出力値と設定値を比較制御することにより、半導体レーザ１のレーザ出力を制御する。増幅器２４ｃ、２４ｄは、サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂの出力値とＤ／Ａコンバータ３１ａ、３１ｂの出力値との差分を増幅する。
【００３９】
ＬＤドライバ２６は、増幅器２４ｃ、２４ｄの出力を入力して、半導体レーザ２１に供給するための電流を生成する。なお、本実施形態においては、ＬＤドライバが５系統備えられており、それぞれの出力が結合されている。したがって、後述するスイッチ２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅをエンコーダ２８でコントロールし、スイッチがＯＮとなったＬＤドライバの出力が加算されて半導体レーザ２１に出力される。ＬＤドライバ内に備えられたスイッチ２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅは、エンコーダ２８からのＯＮ／ＯＦＦ信号に従って動作し、本実施形態においては、５系統備えられたＬＤドライバの出力をそれぞれ制御する。
【００４０】
Ａ／Ｄコンバータ２９ａ、２９ｂは、ＬＤドライバ２６の入力電圧をデジタル値に変換してＣＰＵ３０に入力する。ＣＰＵ３０は、制御プログラムを格納し、光ディスク装置の全体を制御するとともに、レーザ出力制御部においては、Ａ／Ｄコンバータ２９ａ、２９ｂからの入力値を格納し、この値をもとに、他のレーザ出力を制御するための電流値を演算し、エンコーダ２８の制御にあわせて所望の値をＤ／Ａコンバータ３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ、３１ｅに出力する。温度検出部３３は、半導体レーザ２１の近傍に設けられており、半導体レーザ２１の温度を検出するために、例えば、サーミスタと抵抗等から構成された温度センサーが備えられている。
【００４１】
本実施形態において用いられる記録波形は、図５に示すような波形になっている。この記録波形は、ディスクの組成等を考慮し、品質の高いピットを形成するために定められたものであり、４つの異なるレーザ出力Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｐ、Ｐｂが設定されている。これらのレーザパワーおよび各パルスのパルス幅は、オレンジブックに規定されているが、用いる各光ディスクには微妙な組成の相違があるため、光ディスクの記録装置の開発段階で、どの光ディスクにターゲットを絞って、記録パワーの設定を行ったのかによって、あるディスクには適切であるが、別のディスクについては、記録パワーが大きすぎるという問題が起こる場合がありうる。そこで、本実施形態においては、以下のような処理を行うことにより、記録特性の維持を図ることとしている。
【００４２】
次に、図７から図１５を用いて、オーバーライト時の処理について説明する。第１の実施例は、図７に示すようなフローになっており、まず、ＣＰＵ７が現在のアドレスと記録領域のアドレスを確認した上で、ピックアップ２内の対物レンズをトラッキング方向に移動させ、あるいはピックアップ２を搭載したキャリッジを移動させることによりシーク動作を実行する（ステップ１０１）。シーク動作を完了し、記録領域に到達すると、すでに記録されている信号を再生して、ＲＦアンプ４内の変調度測定回路にて、変調度（ｍ１１）を測定する（ステップ１０２）。測定した変調度は、前述したように、ＣＰＵ７内の記憶装置に格納されている装置固有の補正値をもちいて補正される。
【００４３】
補正された変調度は、記憶部１４に一旦格納された後、予め設定された変調度（例えば、０．６５）と比較部１５で比較される（ステップ１０３）。比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定し（ステップ１０６）、オーバーライトの動作を行う（ステップ１０５）。一方で、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録パワーを最適パワーよりも大きく（Ｐｗｏ＋Ｐｗ１）にして（ステップ１０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ１０５）。なお、最適な記録パワーは、ＣＤ−ＲＷの基準ディスクに、標準的な記録装置を用いて１６倍速で記録する場合に、約２５ｍＷ程度であるが、記録パワーは記録速度により変化するものであるため、ディスクの種別と合わせて、記録速度ごとに、予め最適な値を定めることが必要である。また、記録パワーを大きくするには、図４で、ＣＰＵ３０からＤ／Ａコンバータ３１ａから３１ｅにセットする値を大きくする制御を行うことになる。
【００４４】
また、オーバーライトを重ねたときの記録回数とそのときのＣ１エラーあるいはジッタ値の関係は、図６のようになる。すなわち、記録パワーが低いと一回目のＣ１エラーあるいはジッタ値が大きく悪化するものの、その後は、特性が改善する傾向にあり、記録パワーが大きいと一回目のＣ１エラーあるいはジッタ値は、記録パワーが低いときに比べてよいものの、回を重ねるごとに特性が急激に悪化する傾向にある。したがって、二回目以降の記録パワーとしては、様々な実験データから前回の記録パワーに対して、３ｍＷ以上大きくすることは適切でない。
【００４５】
図８は、第２の実施例における処理フローを示している。第２の実施例では、まず、ＣＰＵ７が現在のアドレスと試し書き領域のアドレスを確認した上で、ピックアップ２内の対物レンズをトラッキング方向に移動させ、あるいはピックアップ２を搭載したキャリッジを移動させることによりシーク動作を実行する（ステップ２０１）。シーク動作を完了し、試し書き領域に到達すると、最適な記録パワーで信号の記録を実行する（ステップ２０２）。信号の記録動作が完了すると、いま記録した信号を再生して、ＲＦアンプ４内の変調度測定回路にて、変調度（ｍ１１ｔ）を測定する（ステップ２０３）。測定した変調度は前述したようにＣＰＵ７内の記憶装置に格納されている装置固有の補正値をもちいて補正される。
【００４６】
次に、ＣＰＵ７が現在のアドレスと記録領域のアドレスを確認した上で、シーク動作を実行する（ステップ２０４）。シーク動作を完了し、記録領域に到達すると、すでに記録されている信号を再生して、ＲＦアンプ４内の変調度測定回路にて、変調度（ｍ１１）を測定する（ステップ２０５）。測定した変調度は、前述したように、ＣＰＵ７内の記憶装置に格納されている装置固有の補正値をもちいて補正される。
【００４７】
補正された変調度は、記憶部１４に一旦格納された後、ステップ２０３で測定された試し書き領域に記録された信号の変調度と比較部１５で比較される（ステップ２０６）。比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定し（ステップ２０９）、オーバーライトの動作を行う（ステップ２０８）。一方で、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録パワーを最適パワーよりも大きく（Ｐｗｏ＋Ｐｗ１）にして（ステップ２０７）、オーバーライト動作を行う（ステップ２０８）。
【００４８】
図９は、第３の実施例における処理フローを示している。第３の実施例では、ステップ３０１からステップ３０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、消去パワーを最適パワーに設定し（ステップ３０６）、オーバーライトの動作を行い（ステップ３０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、消去パワーを記録パワーの最適値よりも大きく（Ｐｅｏ＋Ｐｅ１）にして（ステップ３０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ３０５）点において異なっている。しかし、この場合も、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００４９】
図１０は、第４の実施例における処理フローを示している。第４の実施例では、ステップ４０１からステップ４０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ４０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ４０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録波形のうち先頭のパルス幅を広く設定して（ステップ４０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ４０５）点において異なっている。しかし、記録波形のパルス幅を広く設定することは、等価的に記録パワーを高くすることであるから、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。また、パルス幅を変更するためには、図４に示すＣＰＵ３０がエンコーダ２８から出力される信号のパルス幅を制御すればよい。
【００５０】
図１１は、第５の実施例における処理フローを示している。第５の実施例では、ステップ５０１からステップ５０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ５０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ５０５）、補正された測定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録波形のうち最後のパルス幅を広く設定して（ステップ５０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ５０５）点において異なっている。しかし、記録波形のパルス幅を広く設定することは、等価的に記録パワーを高くすることであるから、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５１】
図１２は、第６の実施例における処理フローを示している。第６の実施例では、ステップ６０１からステップ６０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ６０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ６０５）、補正された測定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録波形のうち最後のオフパルス幅を狭く設定して（ステップ６０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ６０５）点において異なっている。しかし、最後のオフパルスを狭く設定するということは、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５２】
なお、相変化型光ディスクであるＣＤ−ＲＷに１６倍速で信号を記録する場合の記録波形は、図５のようになっており、先頭パルス、途中パルス、途中オフパルス、最終パルス、最終オフパルスは、図５の通りである。所定のディスクに対する実験データによると、これら各パルスのパルス幅は、例えば、１Ｔをビットクロック（１６倍速では、１４．４ｎｓｅｃ）とすると、先頭パルス幅＝（２８／３２）＊Ｔ、途中パルス幅＝（２０／３２）＊Ｔ、途中オフパルス幅＝（１−２０／３２）＊Ｔ＝（１２／３２）＊Ｔ、最終パルス幅＝（２０／３２）＊Ｔ、最終オフパルス幅＝（１０／３２）＊Ｔである。また、実験データによれば、パルス幅を大きくする目安は、（４／３２）＊Ｔであるため、上記の例にこれを適用すると、先頭パルス幅＝（３２／３２）＊Ｔ、途中パルス幅＝（２０／３２）＊Ｔ、途中オフパルス幅＝（１−２０／３２）＊Ｔ＝（１２／３２）＊Ｔ、最終パルス幅＝（２４／３２）＊Ｔ、最終オフパルス幅＝（１０／３２）＊Ｔとなる。
【００５３】
図１３は、第７の実施例における処理フローを示している。第７の実施例では、ステップ７０１からステップ７０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ７０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ７０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、消去動作を行って（ステップ７０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ７０５）点において異なっている。しかし、オーバーライトの動作の前に、消去動作を行うことにより、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５４】
図１４は、第８の実施例における処理フローを示している。第８の実施例では、ステップ８０１からステップ８０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ８０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ８０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して記録動作を行い（ステップ８０４）、再度、同様の記録動作を行う（ステップ８０５）点において異なっている。しかし、定められた記録波形で記録動作を２回行うことにより、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５５】
図１５は、第９の実施例における処理フローを示している。第９の実施例では、ステップ９０１からステップ９０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ９０９）、オーバーライトの動作を行う（ステップ９１１）。一方で、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲（例えば、変調度差０．０５以内）よりも大きいときは、第２の閾値（例えば、変調度差０．１以内）と比較し、この範囲内にあるか否かを判断する（ステップ９０４）。このとき、補正された測定値が第２の閾値の範囲内であるときは、記録パワーを最適パワーよりも大きく（Ｐｗ＝Ｐｗｏ＋Ｐｗ１）して（ステップ９１０）、記録動作を行う（ステップ９１１）。
【００５６】
一方で、補正された測定値が第２の閾値の範囲内にないときは、記録パワーをステップ９１０と同様に、最適パワーよりも大きくして（ステップ９０５）、記録動作を行い（ステップ９０６）、再度、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ９０７）、記録動作を行う（ステップ９０８）。なお、記録動作を多段階で行うときの記録パワーの値は、例えば、すでに記録されている信号の記録パワーが最適パワーよりも５ｍＷ高いと想定される場合には、最適パワーよりも３ｍＷ高い記録パワーで一度記録動作を行い、ついで、最適パワーで、もう一度記録動作を行う方法でもよいし、一回目は、最適パワーより３ｍＷ高い記録パワーで記録し、二回目は、最適パワーよりも１．５ｍＷ高い記録パワーで記録した後に、最適パワーで記録する方法でもよい。いずれの場合も、何度かに分けて、記録パワーを下げながら記録動作を行うことで、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５７】
以上、図面を参照して本発明の実施形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本実施形態においては、相変化型光ディスクとしてＣＤ−ＲＷを例にとって説明したが、相変化型光ディスクであれば、例えば、ＤＶＤ−ＲＷにも適用することができる。また、本実施形態においては、多くの実施例について個別に説明したが、これらの実施例を適宜組み合わせて用いることもできる。
【００５８】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、相変化型光ディスクにオーバーライトした信号の記録特性の劣化を簡易な方法でかつ特別な回路や設備等を必要とせず、効果的に抑制できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態に係る光ディスク記録装置の構成図である。
【図２】本実施形態に係る変調度測定回路の構成図である。
【図３】ＲＦ信号の変調度を示す図である。
【図４】本実施形態に係るＡＰＣの構成図である。
【図５】記録波形の概念図である。
【図６】記録パワーの大きさによる記録回数とＣ１エラーあるいはジッタ値の相関を示す図である。
【図７】本実施形態に係る第１の実施例の処理フローである。
【図８】本実施形態に係る第２の実施例の処理フローである。
【図９】本実施形態に係る第３の実施例の処理フローである。
【図１０】本実施形態に係る第４の実施例の処理フローである。
【図１１】本実施形態に係る第５の実施例の処理フローである。
【図１２】本実施形態に係る第６の実施例の処理フローである。
【図１３】本実施形態に係る第７の実施例の処理フローである。
【図１４】本実施形態に係る第８の実施例の処理フローである。
【図１５】本実施形態に係る第９の実施例の処理フローである。
【図１６】記録パワーの差に基づく変調度あるいはＣ１エラーの変化の様子を示す図である。
【符号の説明】
１・・・光ディスク、２・・・ピックアップ、３・・・ＡＰＣ、４・・・ＲＦアンプ、５・・・サーボ回路、６・・・信号処理回路、７、３０・・・ＣＰＵ、１１・・・ピークホールド回路、１２・・・ボトムホールド回路、１３・・・演算部、１４・・・記憶部、１５・・・比較部、２１・・・半導体レーザ（ＬＤ）、２２・・・フロントモニタダイオード、２３ａ、２３ｂ・・・電流電圧変換抵抗、２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、２４ｄ・・・増幅器、２５ａ、２５ｂ・・・サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）、２６・・・ＬＤドライバ、２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅ・・・スイッチ、２８・・・エンコーダ、２９ａ、２９ｂ・・・Ａ／Ｄコンバータ、３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ、３１ｅ・・・Ｄ／Ａコンバータ、３２・・・リード／ライト切換スイッチ、３３・・・温度検出部、
【発明の属する技術分野】
本発明は、相変化型光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置および記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、メディア媒体の小型化、省スペース化の要請に応えるべく、何度も情報の書き換えが可能である相変化型光ディスクが情報の記録や保存に多く用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、相変化型光ディスクにオーバーライトする場合に、以前に情報が記録された時のレーザパワーが高すぎると、その後にオーバーライトした信号の記録特性が著しく劣化する傾向にある。図１６は、相変化型光ディスクであるＣＤ−ＲＷに１６倍速で信号を書き込んだ場合に、１回目と２回目とで記録のレーザパワーを変化させてオーバーライトした信号の特性を示したものである。図１６において、横軸は、１回目の記録パワーと２回目の記録パワーの差（Ｄｅｌｔａ Ｐｗ）であり、左側の縦軸は、１回目の記録パワーでの変調度（１ｍ１１）と２回目の記録パワーでの変調度（２ｍ１１）の差（１ｍ１１−２ｍ１１：Ｄｅｌｔａ ｍ１１）を、右側の縦軸は、オーバーライト後のＣ１エラーの値を示している。
【０００４】
この結果をみると、横軸のＤｅｌｔａ Ｐｗの値がマイナスになるほど、すなわち、１回目の記録パワーが高いほど変調度の差（Ｄｅｌｔａ ｍ１１）が大きく、また、２回目記録後のＣ１エラーも増加する傾向にある。さらに、１回目の記録パワーが２回目の記録パワーに対して、５ｍＷ以上大きい場合には、オーバーライト後のＣ１エラーの値が数百となり、読取エラーが発生する危険性が高い。こうした問題は、特に、異なる機種の間でオーバーライトを行う場合に顕著である。
【０００５】
そこで、本発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであって、相変化型光ディスクにオーバーライトする信号の記録特性の劣化を抑制する光ディスク記録装置および記録方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するため、本発明は、以下の手段を提案している。
請求項１に係る発明は、変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録装置であって、光ディスクに記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、予め設定された変調度を記憶する記憶手段と、前記変調度測定手段により測定された変調度と前記記憶手段に記憶された変調度とを比較する比較手段と、該比較手段による比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段とを有することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【０００７】
請求項１２に係る発明は、相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録方法であって、光ディスクに記録されている信号の変調度を測定するステップと、前記測定された変調度と予め設定された変調度とを比較するステップと、比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録手順を変更することを特徴とする光ディスク記録方法を提案している。
【０００８】
これらの発明によれば、変調度測定手段の作動により、光ディスクにすでに記録されている信号の変調度を測定され、その測定値が記憶手段に格納される。測定された変調度は、比較手段の作動により、予め設定された変調度の値と比較され、比較の結果、すでに記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときには、制御手段の作動により、光ディスクへの記録波形あるいは記録方法が変更される。
【０００９】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載された光ディスク記録装置について、前記変調度測定手段において測定された変調度に関する補正値を記憶する補正値記憶手段を有し、前記比較手段が前記変調度測定手段により測定された変調度を前記補正値記憶手段に記憶された補正値にに基づいて補正した後に、前記予め設定された変調度と比較することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１０】
再生された信号の変調度は、光ディスク装置を構成する光学系の特性により個体差を生じるが、この発明によれば、記憶された補正値に基づいて、変調度測定手段により測定された変調度が補正された後に、比較手段によって、予め設定された変調度と比較されることから、このような装置の個体差による影響を除去することができる。
【００１１】
請求項３に係る発明は、相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録装置であって、前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度を測定するとともに、既に記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、該変調度測定手段により測定された変調度を比較する比較手段と、該比較手段による比較の結果、前記既に記録されている信号の変調度が前記信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段とを有することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１２】
請求項１３に係る発明は、相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録方法であって、前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに信号を記録するステップと、該信号の変調度を測定するステップと、既に記録されている信号の変調度を測定するステップと、前記測定されたそれぞれの変調度を比較するステップと、比較の結果、前記既に記録されている信号の変調度が前記信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録手順を変更することを特徴とする光ディスク記録方法を提案している。
【００１３】
これらの発明によれば、変調度測定手段の作動により、光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度と、既に記録されている信号の変調度とが測定される。そして、比較手段の作動により変調度測定手段において測定されたそれぞれの変調度が比較され、比較の結果、既に記録されている信号の変調度が信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、制御手段の作動により、光ディスクへの記録波形あるいは記録方法が変更される。
【００１４】
請求項４に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、前記光ディスクへの記録用レーザパワーを前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高い値に変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１５】
この発明によれば、制御手段の作動により、光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高い記録用レーザパワーに変更するため、これにより、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００１６】
請求項５に係る発明は、前記制御手段が、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、前記光ディスクへの消去用レーザパワーを前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な記録用レーザパワーまたは予め設定された記録用レーザパワーよりも高い値に変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１７】
この発明によれば、制御手段の作動により、光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高いレーザパワーに消去用パワーを変更するため、これにより、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００１８】
請求項６に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の先頭のパルス幅が広くなるよう変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００１９】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録波形を予め定められた記録波形に対して、記録波形の先頭のパルス幅が広くなるよう変更されるため、記録パワーを上げる場合と同様の効果が期待できる。
【００２０】
請求項７に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のパルス幅が広くなるよう変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００２１】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録波形を予め定められた記録波形に対して、記録波形の最終のパルス幅が広くなるよう変更されるため、記録パワーを上げる場合と同様の効果が期待できる。
【００２２】
請求項８に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のオフパルス幅が狭くなるよう変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００２３】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録波形を予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のオフパルス幅が狭くなるよう変更されるため、結果的に、記録波形の最終のパルス幅が広くした場合と同様の効果が期待できる。
【００２４】
請求項９に係る発明は、前記制御手段が、前記記録方法を既に記録された信号の消去動作を行った後に、予め定められた記録波形で記録動作を行うこと方法に変更することを特徴とする光ディスク記録装置を提案している。
【００２５】
この発明によれば、制御手段の作動により、記録された信号の消去動作を行った後に、予め定められた記録波形で記録動作を行うため、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００２６】
請求項１０に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置について、前記制御手段が、前記記録方法を同一の信号を同一の領域に２回以上記録する方法に変更する光ディスク記録装置を提案している。
【００２７】
この発明によれば、制御手段の作動により、同一の信号を同一の領域に２回以上記録することから、以前記録された信号の影響を緩和することができる。
【００２８】
請求項１１に係る発明は、請求項９に記載された光ディスク記録装置について、前記同一の信号を同一の領域に２回以上記録するときに、最初の記録用レーザパワーを最も高くし、次第に記録用レーザパワーを低くして記録する光ディスク記録装置を提案している。
【００２９】
この発明によれば、同一の信号を同一の領域に２回以上記録するときに、最初の記録用レーザパワーを最も高くし、次第に記録用レーザパワーを低くして記録することから、以前記録された信号の影響を緩和して、今後、何度か書き換えが実行されても記録特性の劣化を最小限に抑えることができる。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置について図１から図１５ を参照して詳細に説明する。
本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置は、図１に示すように、光ディスク１と、ピックアップ２と、ＡＰＣ（ＡＰＣ：Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）３と、ＲＦアンプ４と、サーボ回路５と、信号処理回路６と、ＣＰＵ（ＣＰＵ：Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）７とを備えている。
【００３１】
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える記録媒体であり、例えば、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ等がある。ピックアップ２は、光ディスクに情報の記録や情報の再生、消去を行う光学ユニットであり、半導体レーザや対物レンズ、フォトディテクタ、フロントモニタダイオード等の光学系を構成する素子と対物レンズをフォーカス方向あるいはトラッキング方向に駆動する駆動系とから構成されている。ＡＰＣ３は、ピックアップ２内のフロントモニタダイオードからの電流をモニタして、半導体レーザの出射パワーを所望の値に制御するための制御ブロックである。
【００３２】
ＲＦアンプ４は、ピックアップ内のフォトディテクタから電流を演算し、ＲＦ信号を生成するとともに、対物レンズを制御するためのフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成する。また、本実施形態においては、ＲＦ信号の変調度を測定する回路ブロックも内蔵している。具体的には、図２に示すように、変調度測定回路は、ピークホールド回路１１と、ボトムホールド回路１２と、演算部１３と、記憶部１４と、比較部１５とから構成されている。
【００３３】
ピークホールド回路１１は、生成されたＲＦ信号を入力して、ＲＦ信号のボトムレベルをホールドし、ボトムホールド回路１２は、ＲＦ信号を入力してＲＦ信号のボトムレベルをホールドする。得られたピークホールド値、ボトムホールド値は、演算部１３に出力され、演算部１３において、図３に示すＩｔｏｐ、Ｉｂｏｔが算出されたのち、以下の演算式（１）に基づいて、変調度が算出される。
Ｍ１１＝（Ｉｔｏｐ−Ｉｂｏｔ）／Ｉｔｏｐ （１）
演算部１３において、算出された変調度は、記憶部１４に格納され、これらの値が比較部１５において比較されたのち、比較結果がＣＰＵ７に出力される。
【００３４】
なお、記録特性の点から、変調度は、０．６程度が望ましく、この値から０．１以上ずれた値になるとＣ１エラーが増加して再生エラーを生ずることがわかっている。また、変調度は、装置の個体差によりバラツキが大きいことから、例えば、各装置ごとに基準ディスクの少なくとも２点で信号を再生し、各点での変調度を測定するとともに、これを基準値（例えば、０．６）と比較して、予め各装置の補正値を測定し、これをＣＰＵ７内の記憶装置に格納しておき、ディスクにオーバーライトを行う場合には、測定した変調度に前述の補正を行った上で、記録特性を維持するための適切な手段を講ずる必要がある。
【００３５】
サーボ回路５は、ＲＦアンプ４から入力したフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に基づいて、適切な制御量を算出した後、これを図示しない駆動回路に出力する。また、サーボ回路５には、制御系を安定させるためのイコライザー回路が各ループごとに備えられている。信号処理回路６は、ＲＦ信号から生成したＥＦＭ信号を入力し、データの処理を行う一方、図示しないＰＬＬ回路を備え、スピンドルモータの回転を制御する。ＣＰＵ７は、ＲＯＭ（ＲＯＭ：Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に格納された制御プログラムに基づいて、装置全体の制御を行う。本実施形態においては、変調度の比較結果に基づいて、記録波形のパワーの変更、パルス幅の変更や記録方法の変更等の制御を行う。
【００３６】
また、ＡＰＣ３は、図４に示すように、半導体レーザ（ＬＤ）２１と、フロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２と、電流電圧変換抵抗２３ａ、２３ｂと、増幅器２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、２４ｄと、サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂと、ＬＤドライバ２６と、ＬＤドライバ２６内に備えられたスイッチ２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅと、エンコーダ２８、Ａ／Ｄコンバータ２９ａ、２９ｂと、ＣＰＵ３０と、Ｄ／Ａコンバータ３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ、３１ｅと、リード／ライト切換スイッチ３２と、温度検出部３３とを備えている。なお、本実施形態においては、レーザ出力制御部は２系統設けられている。
【００３７】
半導体レーザ２１は、所定の電流を供給することにより、レーザ発光する半導体素子であり、光ディスク装置においては、ディスク上への情報の記録あるいはディスクに記録された情報の再生、消去を行うために用いられ、光ディスク装置の光ピックアップ内に備えられている。フロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２は、光ピックアップ内において、半導体レーザ２１に対向して設けられ、半導体レーザ２１から発せられたレーザ光を受光し、これを電流値に変換する。この電流値をモニタすることによりレーザパワーを監視できる。
【００３８】
電流電圧変換抵抗２３ａ、２３ｂは、フロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２から出力された電流を次段の増幅器２４ａ、２４ｂで電圧増幅するために、電流を電圧に変換する抵抗器である。増幅器２４ａ、２４ｂは、次段のサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂを有効に機能させるために、電圧に変換されたフロントモニタダイオード（ＦＰＤ）２２からの出力を増幅する。サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂは、電圧に変換されたレーザ出力を所定の間隔でサンプルホールドして、その結果を出力する。この出力値と設定値を比較制御することにより、半導体レーザ１のレーザ出力を制御する。増幅器２４ｃ、２４ｄは、サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２５ａ、２５ｂの出力値とＤ／Ａコンバータ３１ａ、３１ｂの出力値との差分を増幅する。
【００３９】
ＬＤドライバ２６は、増幅器２４ｃ、２４ｄの出力を入力して、半導体レーザ２１に供給するための電流を生成する。なお、本実施形態においては、ＬＤドライバが５系統備えられており、それぞれの出力が結合されている。したがって、後述するスイッチ２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅをエンコーダ２８でコントロールし、スイッチがＯＮとなったＬＤドライバの出力が加算されて半導体レーザ２１に出力される。ＬＤドライバ内に備えられたスイッチ２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅは、エンコーダ２８からのＯＮ／ＯＦＦ信号に従って動作し、本実施形態においては、５系統備えられたＬＤドライバの出力をそれぞれ制御する。
【００４０】
Ａ／Ｄコンバータ２９ａ、２９ｂは、ＬＤドライバ２６の入力電圧をデジタル値に変換してＣＰＵ３０に入力する。ＣＰＵ３０は、制御プログラムを格納し、光ディスク装置の全体を制御するとともに、レーザ出力制御部においては、Ａ／Ｄコンバータ２９ａ、２９ｂからの入力値を格納し、この値をもとに、他のレーザ出力を制御するための電流値を演算し、エンコーダ２８の制御にあわせて所望の値をＤ／Ａコンバータ３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ、３１ｅに出力する。温度検出部３３は、半導体レーザ２１の近傍に設けられており、半導体レーザ２１の温度を検出するために、例えば、サーミスタと抵抗等から構成された温度センサーが備えられている。
【００４１】
本実施形態において用いられる記録波形は、図５に示すような波形になっている。この記録波形は、ディスクの組成等を考慮し、品質の高いピットを形成するために定められたものであり、４つの異なるレーザ出力Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｐ、Ｐｂが設定されている。これらのレーザパワーおよび各パルスのパルス幅は、オレンジブックに規定されているが、用いる各光ディスクには微妙な組成の相違があるため、光ディスクの記録装置の開発段階で、どの光ディスクにターゲットを絞って、記録パワーの設定を行ったのかによって、あるディスクには適切であるが、別のディスクについては、記録パワーが大きすぎるという問題が起こる場合がありうる。そこで、本実施形態においては、以下のような処理を行うことにより、記録特性の維持を図ることとしている。
【００４２】
次に、図７から図１５を用いて、オーバーライト時の処理について説明する。第１の実施例は、図７に示すようなフローになっており、まず、ＣＰＵ７が現在のアドレスと記録領域のアドレスを確認した上で、ピックアップ２内の対物レンズをトラッキング方向に移動させ、あるいはピックアップ２を搭載したキャリッジを移動させることによりシーク動作を実行する（ステップ１０１）。シーク動作を完了し、記録領域に到達すると、すでに記録されている信号を再生して、ＲＦアンプ４内の変調度測定回路にて、変調度（ｍ１１）を測定する（ステップ１０２）。測定した変調度は、前述したように、ＣＰＵ７内の記憶装置に格納されている装置固有の補正値をもちいて補正される。
【００４３】
補正された変調度は、記憶部１４に一旦格納された後、予め設定された変調度（例えば、０．６５）と比較部１５で比較される（ステップ１０３）。比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定し（ステップ１０６）、オーバーライトの動作を行う（ステップ１０５）。一方で、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録パワーを最適パワーよりも大きく（Ｐｗｏ＋Ｐｗ１）にして（ステップ１０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ１０５）。なお、最適な記録パワーは、ＣＤ−ＲＷの基準ディスクに、標準的な記録装置を用いて１６倍速で記録する場合に、約２５ｍＷ程度であるが、記録パワーは記録速度により変化するものであるため、ディスクの種別と合わせて、記録速度ごとに、予め最適な値を定めることが必要である。また、記録パワーを大きくするには、図４で、ＣＰＵ３０からＤ／Ａコンバータ３１ａから３１ｅにセットする値を大きくする制御を行うことになる。
【００４４】
また、オーバーライトを重ねたときの記録回数とそのときのＣ１エラーあるいはジッタ値の関係は、図６のようになる。すなわち、記録パワーが低いと一回目のＣ１エラーあるいはジッタ値が大きく悪化するものの、その後は、特性が改善する傾向にあり、記録パワーが大きいと一回目のＣ１エラーあるいはジッタ値は、記録パワーが低いときに比べてよいものの、回を重ねるごとに特性が急激に悪化する傾向にある。したがって、二回目以降の記録パワーとしては、様々な実験データから前回の記録パワーに対して、３ｍＷ以上大きくすることは適切でない。
【００４５】
図８は、第２の実施例における処理フローを示している。第２の実施例では、まず、ＣＰＵ７が現在のアドレスと試し書き領域のアドレスを確認した上で、ピックアップ２内の対物レンズをトラッキング方向に移動させ、あるいはピックアップ２を搭載したキャリッジを移動させることによりシーク動作を実行する（ステップ２０１）。シーク動作を完了し、試し書き領域に到達すると、最適な記録パワーで信号の記録を実行する（ステップ２０２）。信号の記録動作が完了すると、いま記録した信号を再生して、ＲＦアンプ４内の変調度測定回路にて、変調度（ｍ１１ｔ）を測定する（ステップ２０３）。測定した変調度は前述したようにＣＰＵ７内の記憶装置に格納されている装置固有の補正値をもちいて補正される。
【００４６】
次に、ＣＰＵ７が現在のアドレスと記録領域のアドレスを確認した上で、シーク動作を実行する（ステップ２０４）。シーク動作を完了し、記録領域に到達すると、すでに記録されている信号を再生して、ＲＦアンプ４内の変調度測定回路にて、変調度（ｍ１１）を測定する（ステップ２０５）。測定した変調度は、前述したように、ＣＰＵ７内の記憶装置に格納されている装置固有の補正値をもちいて補正される。
【００４７】
補正された変調度は、記憶部１４に一旦格納された後、ステップ２０３で測定された試し書き領域に記録された信号の変調度と比較部１５で比較される（ステップ２０６）。比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定し（ステップ２０９）、オーバーライトの動作を行う（ステップ２０８）。一方で、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録パワーを最適パワーよりも大きく（Ｐｗｏ＋Ｐｗ１）にして（ステップ２０７）、オーバーライト動作を行う（ステップ２０８）。
【００４８】
図９は、第３の実施例における処理フローを示している。第３の実施例では、ステップ３０１からステップ３０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、消去パワーを最適パワーに設定し（ステップ３０６）、オーバーライトの動作を行い（ステップ３０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、消去パワーを記録パワーの最適値よりも大きく（Ｐｅｏ＋Ｐｅ１）にして（ステップ３０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ３０５）点において異なっている。しかし、この場合も、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００４９】
図１０は、第４の実施例における処理フローを示している。第４の実施例では、ステップ４０１からステップ４０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ４０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ４０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録波形のうち先頭のパルス幅を広く設定して（ステップ４０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ４０５）点において異なっている。しかし、記録波形のパルス幅を広く設定することは、等価的に記録パワーを高くすることであるから、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。また、パルス幅を変更するためには、図４に示すＣＰＵ３０がエンコーダ２８から出力される信号のパルス幅を制御すればよい。
【００５０】
図１１は、第５の実施例における処理フローを示している。第５の実施例では、ステップ５０１からステップ５０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ５０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ５０５）、補正された測定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録波形のうち最後のパルス幅を広く設定して（ステップ５０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ５０５）点において異なっている。しかし、記録波形のパルス幅を広く設定することは、等価的に記録パワーを高くすることであるから、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５１】
図１２は、第６の実施例における処理フローを示している。第６の実施例では、ステップ６０１からステップ６０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ６０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ６０５）、補正された測定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録波形のうち最後のオフパルス幅を狭く設定して（ステップ６０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ６０５）点において異なっている。しかし、最後のオフパルスを狭く設定するということは、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５２】
なお、相変化型光ディスクであるＣＤ−ＲＷに１６倍速で信号を記録する場合の記録波形は、図５のようになっており、先頭パルス、途中パルス、途中オフパルス、最終パルス、最終オフパルスは、図５の通りである。所定のディスクに対する実験データによると、これら各パルスのパルス幅は、例えば、１Ｔをビットクロック（１６倍速では、１４．４ｎｓｅｃ）とすると、先頭パルス幅＝（２８／３２）＊Ｔ、途中パルス幅＝（２０／３２）＊Ｔ、途中オフパルス幅＝（１−２０／３２）＊Ｔ＝（１２／３２）＊Ｔ、最終パルス幅＝（２０／３２）＊Ｔ、最終オフパルス幅＝（１０／３２）＊Ｔである。また、実験データによれば、パルス幅を大きくする目安は、（４／３２）＊Ｔであるため、上記の例にこれを適用すると、先頭パルス幅＝（３２／３２）＊Ｔ、途中パルス幅＝（２０／３２）＊Ｔ、途中オフパルス幅＝（１−２０／３２）＊Ｔ＝（１２／３２）＊Ｔ、最終パルス幅＝（２４／３２）＊Ｔ、最終オフパルス幅＝（１０／３２）＊Ｔとなる。
【００５３】
図１３は、第７の実施例における処理フローを示している。第７の実施例では、ステップ７０１からステップ７０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ７０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ７０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、消去動作を行って（ステップ７０４）、オーバーライト動作を行う（ステップ７０５）点において異なっている。しかし、オーバーライトの動作の前に、消去動作を行うことにより、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５４】
図１４は、第８の実施例における処理フローを示している。第８の実施例では、ステップ８０１からステップ８０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ８０３）、オーバーライトの動作を行い（ステップ８０５）、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲外（例えば、変調度差０．０５以上）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して記録動作を行い（ステップ８０４）、再度、同様の記録動作を行う（ステップ８０５）点において異なっている。しかし、定められた記録波形で記録動作を２回行うことにより、前回、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５５】
図１５は、第９の実施例における処理フローを示している。第９の実施例では、ステップ９０１からステップ９０３までの処理は、第１の実施形態と同様であるが、比較の結果、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲内（例えば、変調度差０．０５以内）のときは、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ９０９）、オーバーライトの動作を行う（ステップ９１１）。一方で、補正された測定値が設定値に対して所定の範囲（例えば、変調度差０．０５以内）よりも大きいときは、第２の閾値（例えば、変調度差０．１以内）と比較し、この範囲内にあるか否かを判断する（ステップ９０４）。このとき、補正された測定値が第２の閾値の範囲内であるときは、記録パワーを最適パワーよりも大きく（Ｐｗ＝Ｐｗｏ＋Ｐｗ１）して（ステップ９１０）、記録動作を行う（ステップ９１１）。
【００５６】
一方で、補正された測定値が第２の閾値の範囲内にないときは、記録パワーをステップ９１０と同様に、最適パワーよりも大きくして（ステップ９０５）、記録動作を行い（ステップ９０６）、再度、記録パワーを最適パワーに設定して（ステップ９０７）、記録動作を行う（ステップ９０８）。なお、記録動作を多段階で行うときの記録パワーの値は、例えば、すでに記録されている信号の記録パワーが最適パワーよりも５ｍＷ高いと想定される場合には、最適パワーよりも３ｍＷ高い記録パワーで一度記録動作を行い、ついで、最適パワーで、もう一度記録動作を行う方法でもよいし、一回目は、最適パワーより３ｍＷ高い記録パワーで記録し、二回目は、最適パワーよりも１．５ｍＷ高い記録パワーで記録した後に、最適パワーで記録する方法でもよい。いずれの場合も、何度かに分けて、記録パワーを下げながら記録動作を行うことで、高い記録パワーで記録された信号の影響を抑制するという点においては同様の作用を奏する。なお、すでに記録されている信号の変調度を設定された変調度と比較するのではなく、第２の実施例のように、試し書き領域に最適パワーで記録された信号の変調度と比較してもよい。
【００５７】
以上、図面を参照して本発明の実施形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本実施形態においては、相変化型光ディスクとしてＣＤ−ＲＷを例にとって説明したが、相変化型光ディスクであれば、例えば、ＤＶＤ−ＲＷにも適用することができる。また、本実施形態においては、多くの実施例について個別に説明したが、これらの実施例を適宜組み合わせて用いることもできる。
【００５８】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、相変化型光ディスクにオーバーライトした信号の記録特性の劣化を簡易な方法でかつ特別な回路や設備等を必要とせず、効果的に抑制できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態に係る光ディスク記録装置の構成図である。
【図２】本実施形態に係る変調度測定回路の構成図である。
【図３】ＲＦ信号の変調度を示す図である。
【図４】本実施形態に係るＡＰＣの構成図である。
【図５】記録波形の概念図である。
【図６】記録パワーの大きさによる記録回数とＣ１エラーあるいはジッタ値の相関を示す図である。
【図７】本実施形態に係る第１の実施例の処理フローである。
【図８】本実施形態に係る第２の実施例の処理フローである。
【図９】本実施形態に係る第３の実施例の処理フローである。
【図１０】本実施形態に係る第４の実施例の処理フローである。
【図１１】本実施形態に係る第５の実施例の処理フローである。
【図１２】本実施形態に係る第６の実施例の処理フローである。
【図１３】本実施形態に係る第７の実施例の処理フローである。
【図１４】本実施形態に係る第８の実施例の処理フローである。
【図１５】本実施形態に係る第９の実施例の処理フローである。
【図１６】記録パワーの差に基づく変調度あるいはＣ１エラーの変化の様子を示す図である。
【符号の説明】
１・・・光ディスク、２・・・ピックアップ、３・・・ＡＰＣ、４・・・ＲＦアンプ、５・・・サーボ回路、６・・・信号処理回路、７、３０・・・ＣＰＵ、１１・・・ピークホールド回路、１２・・・ボトムホールド回路、１３・・・演算部、１４・・・記憶部、１５・・・比較部、２１・・・半導体レーザ（ＬＤ）、２２・・・フロントモニタダイオード、２３ａ、２３ｂ・・・電流電圧変換抵抗、２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、２４ｄ・・・増幅器、２５ａ、２５ｂ・・・サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）、２６・・・ＬＤドライバ、２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、２７ｄ、２７ｅ・・・スイッチ、２８・・・エンコーダ、２９ａ、２９ｂ・・・Ａ／Ｄコンバータ、３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ、３１ｅ・・・Ｄ／Ａコンバータ、３２・・・リード／ライト切換スイッチ、３３・・・温度検出部、
Claims (13)
- 相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録装置であって、
光ディスクに記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、
予め設定された変調度を記憶する記憶手段と、
前記変調度測定手段により測定された変調度と前記記憶手段に記憶された変調度とを比較する比較手段と、
該比較手段による比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段と
を有することを特徴とする光ディスク記録装置。 - 前記変調度測定手段において測定された変調度に関する補正値を記憶する補正値記憶手段を有し、
前記比較手段が前記変調度測定手段により測定された変調度を前記補正値記憶手段に記憶された補正値にに基づいて補正した後に、前記予め設定された変調度と比較することを特徴とする請求項１に記載された光ディスク記録装置。 - 相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録装置であって、
前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度を測定するとともに、既に記録されている信号の変調度を測定する変調度測定手段と、
該変調度測定手段により測定された変調度を比較する比較手段と、
該比較手段による比較の結果、前記既に記録されている信号の変調度が前記信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録方法を変更する制御手段と
を有することを特徴とする光ディスク記録装置。 - 前記制御手段が、前記光ディスクへの記録用レーザパワーを前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な値または予め設定された値よりも高い値に変更することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記制御手段が、前記光ディスクへの消去用レーザパワーを前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに記録した信号により定まる最適な記録用レーザパワーまたは予め設定された記録用レーザパワーよりも高い値に変更することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の先頭のパルス幅が広くなるよう変更することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のパルス幅が広くなるよう変更することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記制御手段が、予め定められた記録波形に対して、記録波形の最後のオフパルス幅が狭くなるよう変更することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記制御手段が、前記記録方法を既に記録された信号の消去動作を行った後に、予め定められた記録波形で記録動作を行うこと方法に変更することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記制御手段が、前記記録方法を同一の信号を同一の領域に２回以上記録する方法に変更する請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク記録装置。
- 前記同一の信号を同一の領域に２回以上記録するときに、最初の記録用レーザパワーを最も高くし、次第に記録用レーザパワーを低くして記録する請求項９に記載された光ディスク記録装置。
- 相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録方法であって、
光ディスクに記録されている信号の変調度を測定するステップと、
前記測定された変調度と予め設定された変調度とを比較するステップと、
比較の結果、記録されている信号の変調度が予め設定された変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録手順を変更することを特徴とする光ディスク記録方法。 - 相変化型光ディスクに半導体レーザを用いて信号を記録する光ディスク記録方法であって、
前記光ディスクの信号が記録されていないエリアに信号を記録するステップと、該信号の変調度を測定するステップと、
既に記録されている信号の変調度を測定するステップと、
前記測定されたそれぞれの変調度を比較するステップと、
比較の結果、前記既に記録されている信号の変調度が前記信号が記録されていないエリアに記録した信号の変調度よりも大きいときに、前記光ディスクへの記録波形あるいは記録手順を変更することを特徴とする光ディスク記録方法。
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