JPH09198661A

JPH09198661A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH09198661A
Application number: JP8026097A
Authority: JP
Inventors: Tatsuaki Sakurai; 樹明桜井
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1996-01-20
Filing date: 1996-01-20
Publication date: 1997-07-31

Abstract

(57)【要約】【課題】相変化型光ディスクにおいても再生信号のア
シンメトリのステップ状の変化が発生しないように記録
を行うことにより、信頼性の高い記録が可能な相変化型
光ディスク装置を得ると共に、ＣＤ−ＲＯＭ等の従来型
の２値化回路搭載の光ディスク装置でも、正確な再生を
可能にした信頼性の高い記録が可能な相変化型光ディス
ク装置を得る。【解決手段】光ディスク上のデータの書き換え回数を
管理する管理領域を有する相変化型光ディスクにデータ
の記録、再生、消去を行う光ディスク装置において、回
路系全体を制御するＣＰＵ等の制御手段と、記録パワー
を変化させる記録パワー変更手段とを備え、データの書
き換え回数に応じて、記録パワーを変化させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、相変化型光ディ
スクを使用する光ディスク装置に係り、特に、相変化型
光ディスクの最適記録方法を可能にした光ディスク装置
に関する。また、メディアを用いた光カード装置にも関
する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、光ディスク装置においては、光
ディスクからの反射光を受光素子で受光して光電変換
（アナログ信号に変換）を行い、その出力をさらに２値
化（デジタル信号化）することにより情報の再生を行っ
ている。このような光ディスク装置では、再生信号を２
値化する際、光ディスク毎の反射率の違いやアシンメト
リの差に対応するために、２値化されたデジタル信号を
検出し、“Ｈ”レベルと“Ｌ”レベルの比が一定となる
ように２値化のスライスレベルを変化させる方法が用い
られている（例えばソニー社、データブック「ＳＥＭＩ
ＣＯＮＤＵＣＴＯＲ」 ’９４〜’９５、ｐ９２）。

【０００３】また、より高精度に再生信号の２値化を行
うために、ディスクから読出された再生信号を所定のス
ライスレベルで２値化し、記録情報をデジタルデータに
変換する装置において、再生信号の振幅レベルが変動し
たとき、それに応じてスライスレベルを可変するように
した装置が提案されている（例えば特開平５−６７３３
２号公報）。他方、相変化型光ディスクにおいては、書
き換え回数により記録、再生特性が変化することが知ら
れており、書き換え回数の異なる場所を一定の記録パワ
ーで記録した信号を再生すると、再生信号のアシンメト
リが変化する。この状態を、次の図１２に示す。

【０００４】図１２は、相変化型光ディスク上におい
て、書き換え回数の異なる場所を一定の記録パワーで記
録した情報の再生信号の一例を示す図である。図におい
て、Ａは書き換え回数が異なる領域の境界を示す。

【０００５】この図１２には、書き換え回数が１回の場
合と、１０００回の場合とを対比して示している。そし
て、それぞれの領域の再生信号の一部を、拡大図で下方
に示している。例えば、２番目（書き換え回数が１００
０回）の再生信号のように、光ディスクのある特定領域
のみを繰り返し書き換え動作を行った場合には、書き換
え回数が多い場所と少ない場所との間（図１２の境界
Ａ）で、アシンメトリの変化がステップ状に現われるこ
とを意味している。

【０００６】このような再生信号を、先に説明した２つ
の従来例のような方法で２値化すると、図１２に示した
ような境界Ａの区間では、正確な２値化が行われず、デ
ータの信頼性が損なわれる、という問題がある。なお、
これらの従来例の方法においても、ローパスフィルタの
時定数やＤ／Ａコンバータ出力の変化速度をコントロー
ルすることにより、アシンメトリのステップ状変化にあ
る程度対応可能である。しかし、光ディスク上に欠陥な
どが存在する場合には、欠陥の影響を受けてスライスレ
ベルが大きく変化するので、逆にエラーが多くなってし
まう。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】相変化型光ディスク上
において、先の図１２で説明したように、書き換え回数
の異なる場所を一定の記録パワーで記録した情報は、そ
の再生信号のアシンメトリがステップ状に変化するた
め、特にその境界（図１２のＡ）付近では、正確な２値
化が行えず、データの信頼性が損なわれる、という問題
がある。この発明では、相変化型光ディスクにおいても
再生信号のアシンメトリのステップ状の変化が発生しな
いように記録を行うことにより、信頼性の高い記録が可
能な相変化型光ディスク装置を得ることを課題とする。
また、ＣＤ−ＲＯＭ等の従来型の２値化回路搭載の光デ
ィスク装置でも、正確な再生を可能にした信頼性の高い
記録が可能な相変化型光ディスク装置を得ることを課題
とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明では、光
ディスク上のデータの書き換え回数を管理する管理領域
を有する相変化型光ディスクにデータの記録、再生、消
去を行う光ディスク装置において、回路系全体を制御す
るＣＰＵ等の制御手段と、記録パワーを変化させる記録
パワー変更手段とを備え、データの書き換え回数に応じ
て、記録パワーを変化させるようにしている。

【０００９】請求項２の発明では、請求項１の光ディス
ク装置において、データの書き換え回数の管理は、記録
エリアを複数のブロックに分割し、各ブロック内にブロ
ック毎の書き換え回数を記録する管理領域を設けて、書
き換え回数を管理するようにしている。

【００１０】請求項３の発明では、請求項１の光ディス
ク装置において、データの書き換え回数の管理は、記録
エリアを複数のブロックに分割し、少なくとも１つのブ
ロックを書き換え回数を管理する管理領域に割り当て
て、各ブロックの書き換え回数を管理するようにしてい
る。

【００１１】請求項４の発明では、請求項１から請求項
３の光ディスク装置において、アシンメトリ検出手段を
備え、試し書き領域において記録パワー変更手段により
記録パワーを変化させながら記録した後、アシンメトリ
検出手段によりアシンメトリを検出して、記録パワーと
アシンメトリとの関係を予め求めておき、記録パワーの
補正は、書き換え回数、および記録パワーとアシンメト
リとの関係によって行うようにしている。

【００１２】請求項５の発明では、相変化型光ディスク
の記録領域を複数のブロックに分割し、各ブロック毎に
データを書き換えるパケットライト方式の相変化型光デ
ィスク装置において、回路系の動作を制御するＣＰＵ等
の制御手段と、記録パワーを変化させる記録パワー変更
手段と、再生信号のアシンメトリを検出するアシンメト
リ検出手段とを備え、試し書き領域において試し書きを
行い、記録パワーとアシンメトリとの関係を算出すると
共に、記録するブロックの前後のブロックの再生信号の
アシンメトリをアシンメトリ検出手段により検出し、前
後のブロックのアシンメトリの大きさに合わせて、記録
パワーとアシンメトリとの関係を変化させながら記録す
るようにしている。

【００１３】請求項６の発明では、請求項５の相変化型
光ディスク装置において、再生信号のエラー率を測定す
るエラー率測定回路を備え、試し書き領域において記録
パワーを変化させながら記録を行い、エラー率を測定す
ることによって最適記録パワーを求め、各ブロック間の
リンキング部で記録パワーを変化させて、ブロック内の
データ部において最適記録パワーにより記録するように
している。

【００１４】

【発明の実施の形態】

第１の実施の形態この第１の実施の形態は、請求項１と請求項２の発明に
対応しているが、請求項３と請求項４の発明にも関連し
ている。この第１の実施の形態では、相変化型光ディス
ク上のデータの書き換え回数に応じて、各ブロックの記
録パワーを制御する点に特徴を有している。

【００１５】図１は、この発明の相変化型光ディスク装
置について、第１の実施の形態を示す機能ブロック図で
ある。図において、１は相変化型光ディスク、２は光ピ
ックアップ、３は半導体レーザ、４は受光素子、５は回
路系で、５１はＣＰＵ、５２は半導体レーザ制御回路、
５３は半導体レーザ駆動回路、５４は増幅器、５５はサ
ーボ回路系、５６は２値化回路、ＬＢはレーザ光束を示
す。

【００１６】この図１に示した相変化型光ディスク１
は、光ピックアップ２から出射されたレーザ光束ＬＢに
よって、データの記録再生が行われる。この光ピックア
ップ２内には、半導体レーザ３と複数の受光素子４およ
び光学系（図示せず）が含まれており、半導体レーザ３
と複数の受光素子４は、回路系５に接続されている。回
路系５は、ＣＰＵ５１によって全体の動作が制御され、
半導体レーザ３は、ＣＰＵ５１の指令に基づいて、半導
体レーザ制御回路５２および半導体レーザ駆動回路５３
により所定のパワー（記録時は記録パワー、再生時は再
生パワー）によって点灯される。

【００１７】このＣＰＵ５１は、半導体レーザ制御回路
５２を介して記録パワーを変化させることができる。ま
た、受光素子４は、レーザ光束ＬＢが相変化型光ディス
ク１で反射された光を受光して光電変換し、その出力は
増幅器５４内で所定の演算が行われる。その出力の１つ
は、サーボ回路系５５へ入力されて、フォーカスおよび
トラックサーボに用いられる。

【００１８】この場合に、サーボのオン／オフも、当然
ＣＰＵ５１によって制御される。増幅器５４のもう１つ
の出力は、２値化回路５６に接続されてデジタル信号と
なり、復調器（図示せず）等へ送られてデータの再生が
行われる。この第１の実施の形態は、図１の相変化型光
ディスク装置によって、次の図２に示したようなフォー
マットを有する相変化型光ディスク１上にデータを記録
する場合である。

【００１９】図２は、相変化型光ディスクのフォーマッ
トについて、その構成の一例を示す図である。

【００２０】この図２には、相変化型光ディスク１のス
パイラル上のトラック（ディスク１枚分）を、例えば１
００ブロックに分割した場合を示しており、その内の１
つのブロック（ブロック２）を拡大図で示している。各
ブロックには、ブロックの後半部分に管理領域が設けら
れており、管理領域には、当該ブロックのデータの書き
換え回数（ｎ）を記録しておく（請求項２の発明）。こ
の相変化型光ディスク１の所定のブロックに記録を行う
場合には、以下の手順に従う。

【００２１】図３は、この発明の光ディスク装置の第１
の実施の形態について、相変化型光ディスク１の所定の
ブロックの記録時における主要な処理の流れを示すフロ
ーチャートである。図において、＃１〜＃４はステップ
を示す。

【００２２】ステップ＃１で、これから記録を行うブロ
ックのデータの再生を行う。ステップ＃２で、記録を行
うブロックの書き換え回数ｎを確認する。ステップ＃３
で、記録パワーＰｗを決定する。この決定には、最適記
録パワーＰｗ０に所定の関数Ｆ（ｎ）をかけて演算す
る。ここで、Ｐｗ０は、例えばディスク毎に定められて
いるディスクの最適記録パワーである。なお、関数Ｆ
（ｎ）は、書き換え回数とアシンメトリの関係を補正す
る関数であり、例えば書き換え回数ｎが増加するに従っ
てアシンメトリが大きくなる傾向にある相変化型光ディ
スクにおいては、徐々に記録パワーを小さくするような
関数となる。ステップ＃４で、所定ブロックに記録パワ
ーＰｗで記録を行う。

【００２３】以上のステップ＃１〜＃４の処理によっ
て、当該ブロックの書き換え回数ｎに応じた記録パワー
Ｐｗによるデータの記録が行われる。図１に示した相変
化型光ディスク装置では、半導体レーザ制御回路５２と
半導体レーザ駆動回路５３とによって、記録パワーＰｗ
が設定される（請求項１の発明）。このような動作によ
って、相変化型光ディスクの書き換え回数がディスク上
の位置によりバラついていても、ほぼ一定のアシンメト
リで記録することができるので、再生回路側に特殊な機
能を付加することなく、信頼性の高い再生信号を得るこ
とが可能になる。

【００２４】第２の実施の形態この第２の実施の形態は、請求項３の発明に対応してい
るが、請求項１と請求項４の発明にも関連している。先
の第１の実施の形態では、相変化型光ディスク上のデー
タの書き換え回数の管理領域を、各ブロック毎に設ける
場合を説明したが、この第２の実施の形態では、特定の
ブロックにデータの書き換え回数の管理領域を設けてい
る点に特徴を有している。

【００２５】図４は、相変化型光ディスクのフォーマッ
トについて、その構成の他の一例を示す図である。

【００２６】この図４には、相変化型光ディスク１のス
パイラル上のトラック（ディスク１枚分）を、例えば１
００ブロックに分割した場合を示しており、その内の１
つのブロック（ブロック１００）を拡大図で示してい
る。この図４では、１００ブロックの内、最後の２つの
ブロック（ブロック９９とブロック１００）を管理領域
として使用し、最初の９８ブロックをデータ領域として
使用する場合である。２つの管理領域の内、１つが主に
使用される管理領域（ブロック１００）で、もう１つは
予備の管理領域（ブロック９９）である。予備の管理領
域を使用するのは、例えば最初に使用していた管理領域
の書き換え回数が、所定値を越えてしまった場合等であ
る。

【００２７】管理領域の詳細は、図４の下段に拡大図で
示しているが、管理領域の内部がさらに１００分割さ
れ、各分割毎にディスク上の各ブロックの書き換え回数
を記録するようになっている。先の図２では、各ブロッ
クの後半部分に管理領域を設けているが、この図４で
は、特定のブロックを管理領域に割り当てている。この
相変化型光ディスク１の所定のブロックを書き換える場
合には、以下の手順に従う。

【００２８】図５は、この発明の光ディスク装置の第２
の実施の形態について、相変化型光ディスク１の所定の
ブロックの書き換え時における主要な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、＃１１〜＃１５は
ステップを示す。

【００２９】ステップ＃１１で、管理領域の書き換え回
数ｎのデータを再生する。ステップ＃１２で、記録する
ブロックの書き換え回数ｎを確認する。ステップ＃１３
で、記録パワーＰｗを決定する。この決定には、最適記
録パワーＰｗ０に所定の関数Ｆ（ｎ）をかけて演算す
る。この処理は、先の図３のフローのステップ＃３と同
様である。

【００３０】ステップ＃１４で、所定ブロックに記録パ
ワーＰｗで記録を行う。ステップ＃１５で、管理領域の
データの書き換えを行う。このとき、記録したブロック
の書き換え回数ｎを「＋１」して記録する。なお、管理
領域の記録の際にも、管理領域の記録回数に応じて記録
パワーを変える。また、当然、管理領域内には管理領域
の書き換え回数についても記録しておく（書き換えの都
度、更新する）。

【００３１】以上の動作によって、先の第１の実施の形
態の場合と同様に、相変化型光ディスクの書き換え回数
が、ディスク上の位置によりバラついていても、ほぼ一
定のアシンメトリで記録することができるので、再生回
路側に特殊な機能を付加することなく、信頼性の高い再
生信号を得ることが可能になる。また、先の第１の実施
の形態（請求項２の発明）に比較して、データが記録さ
れる各ブロック内（ブロック１〜９８）には原則的にデ
ータのみとなるので、データ再生時の実効転送レートが
大きくなる、という効果も得られる。

【００３２】第３の実施の形態この第３の実施の形態は、請求項４の発明に対応してい
るが、請求項１から請求項３の発明にも関連している。
この第３の実施の形態では、試し書き領域において記録
パワーを変化させながら記録した後、アシンメトリを検
出して、記録パワーとアシンメトリとの関係を予め求め
ておき、記録パワーの補正は、書き換え回数、および記
録パワーとアシンメトリとの関係によって行う点に特徴
を有している。

【００３３】図６は、この発明の相変化型光ディスク装
置について、第３の実施の形態を示す機能ブロック図で
ある。図における符号は図１と同様であり、５７はアシ
ンメトリ検出回路を示す。

【００３４】この図６に示した相変化型光ディスク装置
は、先の図１の増幅器５４の出力にアシンメトリ検出回
路５７を付加した点が異なっているだけで、その他の構
成は図１と同様である。付加されたアシンメトリ検出回
路５７は、ＣＰＵ５１からの制御によって、ある所定期
間の再生信号のアシンメトリの測定結果をＣＰＵ５１へ
知らせるように動作する。この相変化型光ディスク１の
所定のブロックを書き換える場合には、以下の手順に従
う。

【００３５】図７は、この発明の光ディスク装置の第３
の実施の形態について、相変化型光ディスク１の所定の
ブロックの書き込み時における主要な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、＃２１〜＃２８は
ステップを示す。

【００３６】ステップ＃２１で、管理領域の書き換え回
数ｎのデータを再生する。ステップ＃２２で、書き換え
ブロックの書き換え回数ｎを検出する。ステップ＃２３
で、ＰＣＡ（ｐｏｗｅｒｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎａ
ｒｅａ）において、記録パワーを変化させながら記録を
行う。ステップ＃２４で、ＰＣＡのアシンメトリ測定を
行う。

【００３７】ステップ＃２５で、記録パワーとアシンメ
トリとの関係を算出する。ステップ＃２６で、記録パワ
ーＰｗを設定する。この決定には、記録するブロックの
書き換え回数ｎから、標準的な記録パワーＰｗ０のとき
のアシンメトリを想定し、そのアシンメトリを補正する
ように、先のステップ＃２５で求めた関係を利用して、
記録パワーＰｗを決定する。この関数をＧ（ｎ）とす
る。ステップ＃２７で、記録パワーＰｗによりデータブ
ロックの記録を行う。ステップ＃２８で、管理領域の記
録を行う。

【００３８】以上の動作によって、試し書き領域で試し
書きを行うので、ディスク毎の記録パワーとアシンメト
リとの関係が明らかになっている。すなわち、この第３
の実施の形態では、ディスク毎の記録パワーとアシンメ
トリとの関係を検出し、アシンメトリを補正している。
したがって、相変化型光ディスクの書き換え回数が、デ
ィスク上の位置によりバラついていても、ほぼ一定のア
シンメトリで記録することができるので、再生回路側に
特殊な機能を付加することなく、信頼性の高い再生信号
を得ることが可能になる。

【００３９】第４の実施の形態この第４の実施の形態は、請求項５の発明に対応してい
るが、請求項６の発明にも関連している。この第４の実
施の形態では、相変化型光ディスクの記録領域を複数の
ブロックに分割し、各ブロック毎にデータを書き換える
パケットライト方式の相変化型光ディスク装置におい
て、先の第３の実施の形態と同様に、試し書き領域にお
いて試し書きを行い、記録パワーとアシンメトリとの関
係を算出すると共に、記録するブロックの前後のブロッ
クの再生信号のアシンメトリをアシンメトリ検出手段に
より検出し、前後のブロックのアシンメトリの大きさに
合わせて、記録パワーとアシンメトリとの関係を変化さ
せながら記録する点に特徴を有している。

【００４０】図８は、この発明の相変化型光ディスク装
置について、第４の実施の形態を示す機能ブロック図で
ある。図における符号は図６と同様であり、５８はエラ
ー率検出回路を示す。

【００４１】この図８に示した相変化型光ディスク装置
は、先の図６の２値化回路５６の出力にエラー率検出回
路５８をを付加した点が異なっているだけで、その他の
構成は図６と同様である。付加されたエラー率検出回路
５８は、ＣＰＵ５１からの指示によって、ある所定期間
の２値化回路５６出力のエラー率の測定結果をＣＰＵ５
１へ知らせるように動作する。この相変化型光ディスク
１の所定のブロックに書き込む場合には、以下の手順に
従う。

【００４２】図９は、この発明の光ディスク装置の第４
の実施の形態について、相変化型光ディスク１の所定の
ブロックの書き込み時における主要な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、＃３１〜＃４３は
ステップを示す。

【００４３】まず、ステップ＃３１で、ＰＣＡにおい
て、記録パワーを変化させながら記録を行う。ステップ
＃３２で、記録したエリアのエラー率を、エラー率検出
回路５８によって記録パワー毎に測定する。ステップ＃
３３で、エラー率が十分に小さい記録パワー範囲Ｐｌ〜
Ｐｈを求める。ステップ＃３４で、記録パワー毎にアシ
ンメトリを測定する。

【００４４】ステップ＃３５で、記録パワーとアシンメ
トリとの関係を求める。ステップ＃３６で、記録するブ
ロックの前のブロックの最後の部分のアシンメトリと、
後のブロックの最初の部分のアシンメトリとを検出す
る。ステップ＃３７で、記録する前のブロックのアシン
メトリと一致するアシンメトリとなる記録パワーＰ１を
求める。ステップ＃３８で、記録する後のブロックのア
シンメトリと一致するアシンメトリとなる記録パワーＰ
２を求める。

【００４５】ステップ＃３９で、記録パワーＰ１および
Ｐ２が、レベルＰｌとＰｈの間に入っているかどうか判
定する。記録パワーＰ１あるいはＰ２が、レベルＰｌと
Ｐｈの間にないときは、ステップ＃４０へ進む。ステッ
プ＃４０では、以下の処理によってＰ１、Ｐ２の値を変
更する。Ｐ１＜ＰｌのときＰ１＝ＰｌＰ１＞ＰｈのときＰ１＝ＰｈＰ２＜ＰｌのときＰ２＝ＰｌＰ２＞ＰｈのときＰ２＝Ｐｈまた、先のステップ＃３９で判定した結果、ＰｌとＰｈ
の間（範囲内）のときも、ステップ＃４１へ進む。ステ
ップ＃４１で、記録すべきブロックに、記録パワーＰ１
によって記録を開始する。ステップ＃４２で、記録中に
Ｐ１からＰ２まで徐々にパワーを変更する。ステップ＃
４３で、記録パワーＰ２によって記録を終了する。

【００４６】以上の動作によって、実際に記録してある
データのアシンメトリに合わせて記録することが可能に
なるので、ブロックとブロックの間の再生信号のステッ
プ状の変化がなくなり、確実に再生できる記録を行うこ
とができる。

【００４７】第５の実施の形態この第５の実施の形態は、請求項６の発明に対応してい
るが、請求項５の発明にも関連している。この第５の実
施の形態では、記録パワーのブロック内の変更を、ブロ
ックの先頭部分と終了部分にあるリンキング部において
行うことにより、再生が必要なデータ部において最適パ
ワーでの記録が行えるようにして、ブロック間のアシン
メトリのステップ状の変化が生じないようにした点に特
徴を有している。ハード構成は、先の図８と同様であ
る。

【００４８】図１０は、相変化型光ディスクのフォーマ
ットについて、第５の実施の形態による構成の一例を示
す図である。

【００４９】この図１０には、相変化型光ディスク１の
スパイラル上のトラック（ディスク１枚分）を、例えば
１００ブロックに分割した場合を示しており、その内の
１つのブロック（ブロック２）を拡大図で示している。
この図１０は、先の図２と同様であるが、各ブロックに
は、中央にデータ部が設けられており、その両端には、
リンキング部が設けられている。この相変化型光ディス
ク１の所定のブロックに記録を行う場合には、以下の手
順に従う。

【００５０】図１１は、この発明の光ディスク装置の第
５の実施の形態について、相変化型光ディスク１の所定
のブロックの書き込み時における主要な処理の流れを示
すフローチャートである。図において、＃５１〜＃６５
はステップを示す。

【００５１】まず、ステップ＃５１で、ＰＣＡにおい
て、記録パワーを変化させながら記録を行う。ステップ
＃５２で、記録したエリアのエラー率を、エラー率検出
回路５８によって記録パワー毎に測定する。ステップ＃
５３で、最適記録パワーＰｏを算出する。ステップ＃５
４で、エラー率が十分に小さい記録パワー範囲Ｐｌ〜Ｐ
ｈを求める。

【００５２】ステップ＃５５で、記録パワー毎にアシン
メトリを測定する。ステップ＃５６で、記録パワーとア
シンメトリとの関係を求める。ステップ＃５７で、記録
するブロックの前のブロックの最後の部分のアシンメト
リと、後のブロックの最初の部分のアシンメトリとを検
出する。ステップ＃５８で、記録する前のブロックのア
シンメトリと一致するアシンメトリとなる記録パワーＰ
１を求める。

【００５３】ステップ＃５９で、記録する後のブロック
のアシンメトリと一致するアシンメトリとなる記録パワ
ーＰ２を求める。ステップ＃６０で、記録パワーＰ１お
よびＰ２が、レベルＰｌとＰｈの間に入っているかどう
か判定する。記録パワーＰ１あるいはＰ２が、レベルＰ
ｌとＰｈの間にないときは、ステップ＃６１へ進む。ス
テップ＃６１では、以下の処理によってＰ１、Ｐ２の値
を変更する。Ｐ１＜ＰｌのときＰ１＝ＰｌＰ１＞ＰｈのときＰ１＝ＰｈＰ２＜ＰｌのときＰ２＝ＰｌＰ２＞ＰｈのときＰ２＝Ｐｈまた、先のステップ＃６０で判定した結果、ＰｌとＰｈ
の間（範囲内）のときも、ステップ＃６２へ進む。ステ
ップ＃６２で、記録すべきブロックに、記録パワーＰ１
によって記録を開始する。

【００５４】ステップ＃６３で、リンキング部におい
て、Ｐ１からＰｏまで徐々にパワーを変更する。ステッ
プ＃６４で、記録パワーＰｏによってデータ部に記録す
る。ステップ＃６５で、リンキング部において、Ｐｏか
らＰ１まで徐々にパワーを変更する。

【００５５】以上の処理によって、記録パワーのブロッ
ク内の変更が、ブロックの先頭部分と終了部分にあるリ
ンキング部において行われる。そして、ブロックの中央
部では最適記録が行われることになる。また、再生が必
要なデータ部において最適パワーでの記録が行われ、ブ
ロック間のアシンメトリのステップ状の変化が生じな
い。

【００５６】ここで、以上の第１から第５の実施の形態
（請求項１から請求項６の発明）で説明した光ディスク
装置において、その発明の適用が可能な相変化型光ディ
スクの組成を列挙すれば、下記のようなものがある。元素ａｔｍｉｃ％Ａｇ（銀）４Ｉｎ（インジウム）１２Ｓｂ（アンチモン）５７Ｔｅ（テルル）２７ｔｏｔａｌ１００

【００５７】

【発明の効果】請求項１の光ディスク装置では、記録回
数に応じて記録パワーを変えて、書き換え回数による記
録特性の変化を抑制している。したがって、再生信号の
アシンメトリのステップ状の変化が発生せず、安価な２
値化回路でも、信頼性の高い再生が可能な記録を行うこ
とができる。

【００５８】請求項２の光ディスク装置では、請求項１
の光ディスク装置において、光ディスクの記録エリアを
複数のブロックに分割して、ブロック毎に記録回数を管
理している。したがって、請求項１の光ディスク装置の
効果に加えて、容易に書き換え回数の管理が確実にで
き、信頼性の高い記録を行うことができる。

【００５９】請求項３の光ディスク装置では、請求項１
の光ディスク装置において、光ディスクの記録エリアを
複数のブロックに分割して、ブロック毎に記録回数を管
理している。したがって、請求項１の光ディスク装置の
効果に加えて、書き換え回数の管理が確実にでき、信頼
性の高い記録が可能となる。また、請求項２の光ディス
ク装置による書き換え回数の管理に比較して、データの
領域を連続して確保することができるので、オーディオ
データ等の記録も可能である。

【００６０】請求項４の光ディスク装置では、請求項１
から請求項３の光ディスク装置において、試し書き領域
で試し書きを行うので、ディスク毎の記録パワーとアシ
ンメトリとの関係が明らかになっている。したがって、
請求項１から請求項３の光ディスク装置の効果に加え
て、より正確なアシンメトリ補正が可能となる。

【００６１】請求項５の光ディスク装置では、実際に記
録してあるデータのアシンメトリに合わせて記録するよ
うにしている。したがって、ブロックとブロックの間の
再生信号のステップ状の再生信号の変化がなく、確実に
再生可能な記録を行うことができる。

【００６２】請求項６の光ディスク装置では、請求項５
の光ディスク装置において、ブロックの中央部では最適
記録が行われるようにしている。したがって、請求項３
の光ディスク装置の効果に加えて、より信頼性の高い記
録を行うことが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の相変化型光ディスク装置について、
第１の実施の形態を示す機能ブロック図である。

【図２】相変化型光ディスクのフォーマットの構成の一
例を示す図である。

【図３】この発明の光ディスク装置の第１の実施の形態
について、相変化型光ディスク１の所定のブロックの記
録時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。

【図４】相変化型光ディスクのフォーマットについて、
その構成の他の一例を示す図である。

【図５】この発明の光ディスク装置の第２の実施の形態
について、相変化型光ディスク１の所定のブロックの書
き換え時における主要な処理の流れを示すフローチャー
トである。

【図６】この発明の相変化型光ディスク装置について、
第３の実施の形態を示す機能ブロック図である。

【図７】この発明の光ディスク装置の第３の実施の形態
について、相変化型光ディスク１の所定のブロックの書
き込み時における主要な処理の流れを示すフローチャー
トである。

【図８】この発明の相変化型光ディスク装置について、
第４の実施の形態を示す機能ブロック図である。

【図９】この発明の光ディスク装置の第４の実施の形態
について、相変化型光ディスク１の所定のブロックの書
き込み時における主要な処理の流れを示すフローチャー
トである。

【図１０】相変化型光ディスクのフォーマットについ
て、第５の実施の形態による構成の一例を示す図であ
る。

【図１１】この発明の光ディスク装置の第５の実施の形
態について、相変化型光ディスク１の所定のブロックの
書き込み時における主要な処理の流れを示すフローチャ
ートである。

【図１２】相変化型光ディスク上において、書き換え回
数の異なる場所を一定の記録パワーで記録した情報の再
生信号の一例を示す図である。

【符号の説明】

１相変化型光ディスク２光ピックアップ３半導体レーザ４受光素子５回路系で５１ＣＰＵ５２半導体レーザ制御回路５３半導体レーザ駆動回路５４増幅器５５サーボ回路系５６２値化回路５７アシンメトリ検出回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスク上のデータの書き換え回数を
管理する管理領域を有する相変化型光ディスクにデータ
の記録、再生、消去を行う光ディスク装置において、回路系全体を制御するＣＰＵ等の制御手段と、記録パワーを変化させる記録パワー変更手段とを備え、データの書き換え回数に応じて、記録パワーを変化させ
ることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】請求項１の光ディスク装置において、データの書き換え回数の管理は、記録エリアを複数のブ
ロックに分割し、各ブロック内にブロック毎の書き換え
回数を記録する管理領域を設けて、書き換え回数を管理
することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】請求項１の光ディスク装置において、データの書き換え回数の管理は、記録エリアを複数のブ
ロックに分割し、少なくとも１つのブロックを書き換え
回数を管理する管理領域に割り当てて、各ブロックの書
き換え回数を管理することを特徴とする光ディスク装
置。
【請求項４】請求項１から請求項３の光ディスク装置
において、アシンメトリ検出手段を備え、試し書き領域において記録パワー変更手段により記録パ
ワーを変化させながら記録した後、前記アシンメトリ検
出手段によりアシンメトリを検出して、記録パワーとア
シンメトリとの関係を予め求めておき、記録パワーの補正は、書き換え回数、および前記記録パ
ワーとアシンメトリとの関係によって行うことを特徴と
する相変化型光ディスク装置。
【請求項５】相変化型光ディスクの記録領域を複数の
ブロックに分割し、各ブロック毎にデータを書き換える
パケットライト方式の相変化型光ディスク装置におい
て、回路系の動作を制御するＣＰＵ等の制御手段と、記録パワーを変化させる記録パワー変更手段と、再生信号のアシンメトリを検出するアシンメトリ検出手
段とを備え、試し書き領域において試し書きを行い、記録パワーとア
シンメトリとの関係を算出すると共に、記録するブロッ
クの前後のブロックの再生信号のアシンメトリを前記ア
シンメトリ検出手段により検出し、前後のブロックのア
シンメトリの大きさに合わせて、前記記録パワーとアシ
ンメトリとの関係を変化させながら記録することを特徴
とする相変化型光ディスク装置。
【請求項６】請求項５の相変化型光ディスク装置にお
いて、再生信号のエラー率を測定するエラー率測定回路を備
え、試し書き領域において記録パワーを変化させながら記録
を行い、エラー率を測定することによって最適記録パワ
ーを求め、各ブロック間のリンキング部で記録パワーを
変化させて、ブロック内のデータ部において最適記録パ
ワーにより記録することを特徴とする相変化型光ディス
ク装置。