JP2004364280A - 線形および飽和領域で動作可能なパワーmosfet用電流センス - Google Patents

線形および飽和領域で動作可能なパワーmosfet用電流センス Download PDF

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Abstract

【課題】 パワーMOSFETの線形および飽和の両方の動作領域でパワーMOSFETを流れる電流をセンスする電流センス回路を提供する。
【解決手段】 電流センス回路は、パワーMOSFETに結合しパワーMOSFETの飽和動作領域でパワーMOSFETを流れる電流をセンスする第1回路と、パワーMOSFETに結合しMOSFETの線形動作領域でMOSFETを流れる電流をセンスする第2回路とを備える。
【選択図】 図1

Description

本発明は、パワーMOSFETに関し、特に、パワーMOSFETを流れる電流が、MOSFET動作の線形領域および飽和領域の両方でセンスされることを可能にする、パワーMOSFET用電流センス回路に関する。
現在のところ、パワーMOSFETが飽和領域にある時、すなわちそのドレイン−ソース電圧が約3〜4ボルトよりも低い時に、パワーMOSFETを流れるドレイン−ソース電流をセンスする、パワーMOSFET用電流センス構造を設けることは知られている。ドレイン−ソース電圧が約3〜4ボルトよりも高い時には、MOSFETはいわゆる線形領域で動作している。現在までのところ、パワーMOSFETが線形領域や飽和領域のいずれで動作している時においても、それら電流をセンスする電流センス回路はまだ提供されていない。
本発明の目的は、飽和および線形の両方の動作領域においてパワーMOSFETの電流をセンスできるパワーMOSFET用電流センス回路を提供することにある。
本発明の上記目的およびその他の目的は、パワーMOSFETの線形および飽和の両方の動作領域でパワーMOSFETを流れる電流をセンスする回路によって達成される。この回路は、パワーMOSFETに連結してパワーMOSFETの飽和動作領域でパワーMOSFETを流れる電流をセンスする第1の回路と、パワーMOSFETに連結してパワーMOSFETの線形動作領域でパワーMOSFETを流れる電流をセンスする第2の回路とを具備する。
本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照する本発明の以下の詳細な説明から明らかとなるであろう。
本発明は、図面を参照して、以下の説明欄においてさらに詳細に説明される。
図面を参照すると、図1はパワーMOSFET20を図示している。このパワーMOSFET20は、負荷電流を導通させる1つまたは複数のメインMOSFETセル20Aと、はるかに低レベル(例えばメインMOSFET電流の10,000分の1の電流)で、かつそのメインMOSFET電流に比例する(この場合、1/10,000倍の)電流を通す1つまたは複数の電流センスセル20Bとを備える。2つの電流センス回路が設けられており、その第1の回路10は飽和領域で電流をセンスし、その第2の回路100は線形領域で電流をセンスする。センスされた電流は、その都度、抵抗RDGの両端の電圧として検出される。
図2を参照すると、飽和動作領域で電流をセンスする図1の第1の回路10の構成が示されている。特に、図示の回路は、パワーMOSFETのドレイン−ソース電圧が約3〜4ボルトよりも低い時に動作する。パワーMOSFETは20で示され、1つまたは複数のメインMOSFETセル20Aおよび1つまたは複数の電流センスセル20Bを含む。負荷電流I Loadが図示のように負荷を流れる。センス電流isensが、増幅器22の反転入力に供給される。パワーMOSFETのソースが、増幅器22の非反転入力に与えられる。増幅器22には、正負の電源VddおよびVss2が供給される。増幅器22の出力はFET24(この場合、Pチャネルデバイス24)に供給される。デバイス24のドレインが診断出力負荷、例えば抵抗Rdgに接続される。抵抗Rdgを流れる電流は負荷を流れる電流Iloadに比例し、抵抗Rdgの両端の電圧はその負荷電流I loadに比例する。
この回路は以下のように動作する。メインMOSFETセル20AのVdsが約3〜4ボルトよりも低い時に、増幅器22は電源Vss2とドレイン電圧Vddの間にバイアスされているため、増幅器22は、パワーMOSFETのドレイン−ソース電圧が約3〜4ボルトよりも低い場合にのみ出力を供給する。したがって、抵抗Rdgを流れる電流は、パワーMOSFETがオンである時にのみ、負荷を流れる電流の尺度となり、MOSFETがそのアクティブクランプ段階(active clamp stage)にある時には、またはターンオンもしくはターンオフ中の時には、すなわちMOSFETがそのいわゆる線形モードにあり、ドレイン−ソース電圧が3〜4ボルトを超える時には、抵抗Rdgを流れる電流は負荷を流れる電流の尺度とはならない。
増幅器22は、電流センスセル20Bからの電流のシンク(流れ込み側)となるために、反転入力における電圧、すなわち電圧Visensは、非反転入力における電圧Vsに等しい。ひとたび反転入力および非反転入力における電圧が等しくなると、電流センスセル20Bの両端の電圧は、メインパワートランジスタの電圧Vdsに等しくなる。したがって、電流Isensは、メイントランジスタセル20Aに対する電流センスセル20B内のセルの比で、メインMOSFETセル20Aの電流に比例する。例えば、その比は1/10,000である。したがって、増幅器22は、その増幅器22の反転入力における電圧が、その増幅器22の非反転入力における電圧に追従するように、PチャネルMOSデバイス24をドライブ(駆動)する。増幅器22の反転入力に接続されたデバイス24のソースは、電流Isensのシンクとなる。デバイス24を流れる電流、したがって抵抗Rdgを流れる電流が追随し、抵抗Rdgの両端の電圧は、MOSデバイス20Aがその飽和動作モードにある時、すなわちVdsが約3〜4ボルト以下である時に、MOSデバイス20Aの電流の尺度となる。増幅器22は、Vss2とドレイン電圧の間にバイアスされるため、電圧Vdsが約3〜4ボルトよりも低い時に、すなわちパワーMOSFETがその飽和動作領域にある時にのみ、診断出力を送出する。Vdsが約3〜4ボルトを超える時には、その増幅器22の出力はゼロである。
図3は、パワーMOSFETがその線形動作領域にある時、例えばオンまたはオフに切り替わっている時でVdsが約3〜4ボルトよりも高い時に、パワーMOSFETを流れる電流をセンスする、パワーMOSFETに連結した第2の回路100の構成を示す。抵抗101はパワーMOSFETの1つまたは複数の電流センスセル20Bに直列に接続する。別の抵抗103は、抵抗101と共に電流分割器(current divider)を構成する。第1および第2のMOSFET105及び107とで、電流ミラー構成を備える。電流源109がこの電流ミラー構成に接続する。第3の抵抗111がトランジスタ(MOSFET)107のソースに接続し、抵抗103を流れる電流を所定の比でミラー(映し出し)する。
増幅器122の反転入力が、第1の抵抗Rと直列に結合した電流源124によって与えられる電圧基準(voltage reference)を受けるように結合する。増幅器122の非反転入力は、トランジスタ107のドレインに結合し、かつ第2の抵抗Rを通じてメインパワーMOSFETのドレイン電位Vddに結合する。増幅器122の出力は、第1および第2のPチャネルデバイス126および128に結合する。Pチャネルデバイス126および128のゲートは互いに結合し、それらのソースはメインパワーMOSFETのドレイン電位Vddに接続される。デバイス126のドレインはトランジスタ107のソースに結合し、第2デバイス128のドレインは、グラウンドへの抵抗RDGに結合した診断出力に結合する。
さらに、デバイス126および128は、デバイスを流れる電流の比が図示のような所定の比(例えば1対60の比)になるように備えられる。
この回路は以下のように動作する。
おおよその抵抗111に対する抵抗103の抵抗値の比で、電流i2は電流i1比例する。トランジスタ105と107の電流ミラー構成により、抵抗111を流れる電流(これはi2にほぼ等しい)は、おおよそ、電流i1にR103/R111を乗じたものとなる。図示の実施形態では、R103は150オーム(ohms)であり、R111は4300オームである。デバイス128と126の間の電流比により、電流IDGは電流i2の60倍、すなわちR103/R111×i1の60倍にほぼ等しい。図示の実施形態では、これはおよそ第1の抵抗R1を流れる電流の2倍である。この2の係数の理由は、抵抗103の両端の電圧降下が大きく、電流I Loadに対する電流i1の比に影響を与えるからである。この2の係数は、電流I sensからソースへのオフセット効果をほとんど補正する。線形モードおよび飽和モードの期間中に同じ比にすることは、抵抗111の値を変えてみることによって達成することができる。安定性を高めるため、IDGは開ループでドライブされる。抵抗101は、その抵抗値が抵抗103の抵抗値に比べて相対的に高いためにほとんど影響を及ぼさず、ダイ(dies)の接続が切れる時の静電放電を防御する。
負荷への電流が増大すると、電流I sensも増大する。というのは、電流センスセル20Bが、ドレイン−ソース接続の両端の並列抵抗101および103と直列に接続されているからである。抵抗101の両端の電圧、したがって抵抗103の両端の電圧も同様に上昇し、デバイス107によってミラーされているデバイス105を流れる電流が増大する。トランジスタ107を流れる電流が増大すると、増幅器122の非反転入力における電圧が低下し、増幅器122の出力を負にドライブ(駆動)するとともに、トランジスタ126および128を正にバイアスして、電流i2およびIDGが増大する。電流i2が増大すると、トランジスタ107および105の電流が減少して、増幅器122の入力における電圧が再び等しくなるまで、増幅器122の非反転入力の電圧レベルが低下する。こうして、抵抗RDGの両端の電圧は、メインパワーMOSFET20Aを流れる電流に比例する。
パワーMOSFETの両端のVdsが約3〜4ボルトを下回る場合には、図2のセンス回路10がIsensからの電流をセンスするため、Isens−sk(ソース)電圧差が0ボルトになる。したがって、抵抗101および103の両端の電圧が0になるため、トランジスタ105および107がオフになる。これにより電流i2が0に降下するため、図3の回路100の出力が止まり、その結果として図2の回路10が、MOSFETの飽和動作領域における電流に比例する出力を生成する。
Vdsが約3〜4ボルトを上回る時には、すなわちパワーMOSFETが線形領域にある時には、図2の増幅器22は、バイアスがVddとVss2の間にあるため出力が止まり、図3の回路が出力を供給する(線形領域)。
したがって、図2および図3に示す2つの回路が協働し、パワーMOSFETの両端の電圧が約3〜4ボルト以下であり、パワーMOSFETが飽和領域で動作している時には図2の回路が出力を生成し、その電圧が3〜4ボルトよりも高く、パワーMOSFETが線形動作領域にある時には図3の回路が動作する。
以上、本発明について、その特定の実施形態に関して説明したが、当業者には、他の多くの変形および変更ならびに他の用途は明らかであろう。したがって、本発明は、本明細書の特定の開示によってではなく、特許請求の範囲のみによって限定されるべきである。
線形領域および飽和領域の両方でMOSFETのドレイン−ソース電流をセンスする回路を含むパワーMOSFETを示す図である。 飽和動作領域でパワーMOSFETのドレイン−ソース電流をセンスする図1の回路の一部を示す図である。 線形動作領域でパワーMOSFETのドレイン−ソース電流をセンスする図1の回路の一部を示す図である。
符号の説明
10 第1の回路
20 パワーMOSFET
20A メインMOSFET
20B 電流センスセル
22 増幅器
24 Pチャネルデバイス(FET)
100 第2の回路
101 抵抗
103 抵抗
105 第1のMOSFET
107 第2のMOSFET
109 電流源
111 第3の抵抗
122 増幅器
124 電流源
126 Pチャネルデバイス
128 Pチャネルデバイス

Claims (12)

  1. パワーMOSFETを流れる電流を、該パワーMOSFETの線形および飽和の両方の動作領域でセンスする電流センス回路であって、
    前記パワーMOSFETに結合し、該パワーMOSFETの飽和動作領域で該パワーMOSFETを流れる電流をセンスする第1回路と、
    前記パワーMOSFETに結合し、該MOSFETの線形動作領域で該MOSFETを流れる電流をセンスする第2回路と
    を備えたことを特徴とする電流センス回路。
  2. 前記第1回路は前記パワーMOSFETのドレイン−ソース電圧が特定電圧以下であることに応答し、前記第2回路は前記パワーMOSFETのドレイン−ソース電圧が該特定電圧以上であることに応答することを特徴とする請求項1に記載の回路。
  3. 前記特定電圧が約3〜4ボルトであることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  4. 前記パワーMOSFETが、負荷電流が流れるメインセルと電流センスセルとを含み、前記第1回路が、前記メインセルおよび前記電流センスセルに結合し、第1および第2電源を有する増幅器を備えることにより、前記第1回路は前記特定電圧以下のパワーMOSFETドレイン−ソース電圧に応答し、該増幅器は、抵抗を越えて出力を供給し、それにより該抵抗の両端の電圧が前記パワーMOSFETメインセルの電流に比例することを特徴とする請求項2に記載の回路。
  5. 前記増幅器の出力が、別のトランジスタの制御電極に接続され、該別のトランジスタの主電極が前記抵抗に直列に接続されていることを特徴とする請求項4に記載の回路。
  6. 前記電流センスセルの両端の電圧降下が前記パワーMOSFETのメインセルの両端の電圧降下に等しくなるように、前記増幅器が前記別のトランジスタをドライブ(駆動)することを特徴とする請求項5に記載の回路。
  7. 前記第2回路が、前記電流センスセルと直列に結合した抵抗と、該抵抗に結合し電流ミラー出力を供給する電流ミラーとを備えることにより、該電流ミラー出力により得られる電流が前記電流センスセルを流れる電流に比例し、さらに前記電流ミラー出力に結合するとともに基準電圧に結合した増幅器を備え、該増幅器が前記電流ミラーからの電流に比例するとともに前記パワーMOSFETのメインセルの電流に比例する出力を生成することを特徴とする請求項1に記載の回路。
  8. 前記第2回路の増幅器が別のトランジスタに結合し、該別のトランジスタが抵抗と直列に結合し、該抵抗の両端に、前記パワーMOSFETのメインセルを流れる電流に比例する電圧が生じることを特徴とする請求項7に記載の回路。
  9. 前記第2回路が第1および第2トランジスタをさらに備え、該第1および第2トランジスタの制御電極が前記増幅器の出力に結合し、該第1トランジスタは前記増幅器にフィードバック信号を供給するために前記電流ミラーに結合し、該第2トランジスタは抵抗に結合し、該抵抗の両端に、前記パワーMOSFETのメインセルの電流に比例する電圧が生じることを特徴とする請求項7に記載の回路。
  10. 前記第2トランジスタが開ループで前記抵抗に結合していることを特徴とする請求項9に記載の回路。
  11. 前記第1および第2トランジスタの電流の比があらかじめ設定されていることを特徴とする請求項9に記載の回路。
  12. 前記第1回路の増幅器は、前記パワーMOSFETのドレイン−ソース電圧が特定レベルよりも低い時に出力を供給し、該ドレイン−ソース電圧が該特定レベルよりも高い時には出力の供給を停止するようにバイアスされ、前記第2回路の増幅器は、前記ドレイン−ソース電圧が前記特定レベルよりも高い時に出力を供給し、前記ドレイン−ソース電圧が前記特定レベルよりも低い時には出力の供給を停止するように動作することを特徴とする請求項1に記載の回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009230421A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Denso Corp 負荷電流供給回路
JPWO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2014-07-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP7391720B2 (ja) 2020-03-05 2023-12-05 株式会社東芝 半導体集積回路装置および電流検出回路

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6897662B2 (en) * 2001-10-26 2005-05-24 Micrel, Incorporated Method and apparatus for optimizing the accuracy of an electronic circuit
US7034542B2 (en) * 2004-02-24 2006-04-25 Texas Instruments Incorporated Current sensing circuit and method
US7365559B2 (en) * 2005-05-03 2008-04-29 Potentia Semiconductor Inc. Current sensing for power MOSFETs
WO2007003967A2 (en) * 2005-07-06 2007-01-11 Cambridge Semiconductor Limited Switch mode power supply control systems
US7710098B2 (en) * 2005-12-16 2010-05-04 Cambridge Semiconductor Limited Power supply driver circuit
GB0615029D0 (en) * 2005-12-22 2006-09-06 Cambridge Semiconductor Ltd Switch mode power supply controllers
US7733098B2 (en) * 2005-12-22 2010-06-08 Cambridge Semiconductor Limited Saturation detection circuits
GB2433657A (en) * 2005-12-22 2007-06-27 Cambridge Semiconductor Ltd Saturation detection circuit
US7336085B2 (en) * 2006-02-17 2008-02-26 Infineon Technologies Ag Current sensing circuit
US7728565B2 (en) * 2007-11-12 2010-06-01 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Non-invasive load current sensing in low dropout (LDO) regulators
WO2010052947A1 (ja) * 2008-11-04 2010-05-14 株式会社村田製作所 車両用電源装置
JP5135199B2 (ja) * 2008-12-22 2013-01-30 パナソニック株式会社 電流検出回路およびそれを用いた電圧コンバータ
KR101090032B1 (ko) * 2010-02-08 2011-12-05 삼성전기주식회사 전원 제어 시스템 및 이를 이용한 전력 증폭 시스템
US8624610B2 (en) * 2011-02-23 2014-01-07 Texas Instruments Incorporated Synthesized current sense resistor for wide current sense range
US9720020B2 (en) * 2014-05-28 2017-08-01 Nxp B.V. Broad-range current measurement using variable resistance
US9891249B2 (en) * 2014-05-28 2018-02-13 Nxp B.V. Broad-range current measurement using duty cycling
DE102016207714B4 (de) * 2016-05-04 2018-08-23 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Spannungsregler mit Stromstärkeverringerungsmodus und entsprechendes Verfahren
US10845396B2 (en) * 2018-09-19 2020-11-24 Texas Instruments Incorporated Apparatus and system for wide-range current sensing
US20230185321A1 (en) * 2021-12-14 2023-06-15 Qorvo Us, Inc. Current-monitor circuit for voltage regulator in system-on-chip

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0369048A1 (de) * 1988-11-15 1990-05-23 Siemens Aktiengesellschaft Schaltungsanordnung zur Laststromregelung in einem Leistungs-MOSFET
US5374857A (en) 1992-05-29 1994-12-20 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Circuit for providing drive current to a motor using a sensefet current sensing device and a fast amplifier
DE4444623A1 (de) * 1994-12-14 1996-06-27 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Laststromregelung eines Leistungs-MOSFET
DE19838657B4 (de) 1998-08-25 2008-01-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststromes eines Leistungs-Feldeffekt-Halbleiterbauelementes
US6545513B2 (en) * 2001-05-17 2003-04-08 Denso Corporation Electric load drive apparatus
US6597210B2 (en) * 2001-10-03 2003-07-22 Bruce W. Carsten Apparatus and method for control and driving BJT used as controlled rectifier

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009230421A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Denso Corp 負荷電流供給回路
JPWO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2014-07-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP5666694B2 (ja) * 2011-04-05 2015-02-12 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP7391720B2 (ja) 2020-03-05 2023-12-05 株式会社東芝 半導体集積回路装置および電流検出回路

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Publication number Publication date
JP4022208B2 (ja) 2007-12-12
US7005881B2 (en) 2006-02-28
US20040227539A1 (en) 2004-11-18
DE102004024112B4 (de) 2007-04-12
DE102004024112A1 (de) 2004-12-16

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