JP2004342116A - ハードディスクドライブテスト方法,ハードディスクドライブテスト装置,データ保存装置および記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ランダムな要求に応答してHDDが装着されたかを検査し,それぞれの装着HDDに対して一つのテストスレッドを順次に割り当てることによって,HDDのような複数のデバイスをテストする方法が提供される。装着されたHDDをテストするためにテストスレッドが呼出しおよび要求された時,それぞれの割り当てられたスレッドは一連のテスト作業を一つずつ行い,テストスレッドによってテストの一作業が終了する度に各HDDのテスト状態が記録される。従って,次のテストスレッドが記録されたテスト状態を参照できる。
【選択図】 図8
Description
(1)選択されたポートに連結されたHDDに対するパワーオン命令がパワーカード330に入力される。
(2)ポート情報データ構造体1000にテスト開始時間を記録する。典型的に,ポート情報データ構造体1000は,ポートに対するHDDテスト情報あるいはポートに対するHDDテスト情報データ構造体に対するリンクを含む。また,HDDテスト情報データ構造体は,HDDシリアルナンバー,モデル情報,コーディング情報,テスト状態情報,容量情報,テスト結果,テスト時間を含むとしても良い。このHDDテスト情報データ構造体は,MESにテスト結果を伝送する時に参照される。
(3)テストの開始を表すために着脱ジグ304のLEDをターンオンさせる命令がパワーカード330に入力される。
(4)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(5)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)HDDにReset命令が入力される。
(2)HDDのテスト準備が終わったかを確認する。
(3)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(4)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)HDDのコーディング情報を受信してHDDテスト情報データ構造体に保存する。
(2)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(3)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)HDDテスト情報データ構造体1000に保存されたコーディング情報に基づいてHDDのモデル名が認識され,MESにその情報が報告される。HDDのモデル名は,MESからB/I scriptとコードとをダウンロードする時に参照される。
(2)確認された情報は,HDDテスト情報データ構造体1000に保存される。
(3)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(4)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)HDD テスト情報によるB/I scriptおよびcodeがHDDにダウンロードされる。
(2)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(3)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)codeがダウンロードされたHDDがテストを初期化するために再ブートされる。
(2)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(3)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)HDDをテストした結果が報告されているかを確認する。
(2)HDDのテストが終了した後,テスト結果はHDDテスト情報データ構造体1000に保存され,MESに報告される。
(3)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(4)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(1)選択されたポートに連結されたHDDに対するパワーオフ命令がパワーカード330に入力され,テストスレッドは終了される。
802 初期化情報ロードモジュール
804 初期化モジュール
806 イベント待機モジュール
808 ハードディスクスキャンイベントサービスモジュール
810 テストスレッド実行イベントサービス
812 ユーザインターフェースサービス
Claims (26)
- ハードディスクドライブ(HDD)テスト装置に,それぞれがランダムに着脱されうる複数のHDDをテストするハードディスクドライブテスト方法において:
HDDが装着されているかを検査する過程と;
装着されたHDDそれぞれに,同時に行うことができるテストスレッドを,順次に割り当てる過程と;
各前記テストスレッドが当該装着されたHDDに割り当てられた場合,当該装着されたHDDに対する各テストスレッドによって,テストにおける一連の作業を一つずつ行う過程と;
前記テストスレッドのうち何れか一つによって一連のテスト作業中の一つが完了する度に,装着されたHDDそれぞれのテスト状態を記録する過程と;
を含むことを特徴とする,ハードディスクドライブテスト方法。 - 前記一連のテスト作業には優先順位が付けられ,
それぞれのテストスレッドによって,装着されたHDDに相応する前記テストスレッドで行われるテスト作業の優先順位と,他の装着されたHDDで行われる他のテスト作業の優先順位とを比較する過程と;
前記テストスレッドに割り当てられたHDDで行われる作業の優先順位が他のHDDで行われる作業の優先順位より低いか,または同じである場合,作業を行わずに当該テストスレッドの実行を終了させる過程と;
をさらに含むことを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。 - 装着されたHDDをテストする一連のテスト作業は,
HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連テストスクリプトおよびコードを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,そして,テスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含み,
リセットする作業が最も高い優先順位を有することを特徴とする,請求項2に記載のハードディスクドライブテスト方法。 - 装着されたHDDに対して同時に割り当てられたテストスレッドの数は,HDDテスト装置の資源に依存して制限されることを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
- 前記テストスレッドは,それぞれの装着されたHDDのテスト状態の記録によってハードディスクテスト装置の資源を効率的に共有するために,互いに通信することを特徴とする,請求項4に記載のハードディスクドライブテスト方法。
- 前記HDDが装着されているかを検査する過程および各HDDにテストスレッドを,順次に割り当てる過程は周期的に行われることを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
- 前記HDDが装着されているかを検査する過程は第1周期以内に行われ,
前記それぞれのHDDにテストスレッドを,順次に割り当てる過程は第2周期以内に行われ,
前記第1周期は前記第2周期より短いことを特徴とする,請求項6に記載のハードディスクドライブテスト方法。 - 装着されたHDDをテストする一連のテスト作業は,
HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連テストスクリプトおよびコードを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,テスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含むことを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。 - 当該装着されたHDDをテストする一連のテスト作業は,
装着されたHDDのモデル名を確認する作業,および,データベースから前記モデル名に関連したテストスクリプトおよびコードをダウンロードする作業,をさらに含むことを特徴とする,請求項8に記載のハードディスクドライブテスト方法。 - 各装着されたHDDのシリアルポートに連結される多重ポートシリアル通信スイッチの複数の入出力シリアルポートを通じて,それぞれの装着されたHDDへのシリアル通信チャンネルを選択的に確立する過程と;
各装着されたHDDに対する各テストに相応するハードディスクポート情報データ構造体を発生させる過程と;
各テストのHDDポート情報データ構造体に,装着されたHDDに対するシリアル通信チャンネルが確立された多重ポートシリアル通信スイッチの入出力シリアルポートのうち何れか一つのポート番号とテスト状態とを記録する過程と;
HDDポート情報データ構造体によって各テストスレッドによる各テストの作業を同期化する過程と;
をさらに備えることを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。 - 装着できる複数の装置それぞれをテストするための各作業完了状態の記録によって,テストソフトウェアスレッドが複数の作業を順次に一つずつ行う過程と;
各装着された装置に対するテストソフトウェアスレッドの作業完了状態の記録によって,各装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて,各装着された装置に,各装着された装置をテストするための複数の作業のうちそれぞれの作業ごとに一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てる過程と;
を含むテスト方法。 - HDDテスト装置にランダムに着脱されうる複数のHDDをテストするコンピュータプログラムが記録されたコンピュータで読み出し可能な記録媒体において:
HDDスキャニングスレッド実行イベント,テストスレッド実行イベント,ユーザインターフェースサービスイベント,HDDスキャニングスレッド実行開始イベント,そしてテストスレッド実行開始イベントを含むグループのうちから選択されるイベントの発生を待機し,発生するイベントに相応するスレッドを呼び出すイベント待機モジュールと;
HDDスキャニングスレッド実行イベントが呼び出された時,HDDの着脱を検査するスキャンイベントサービスモジュールと;
テストスレッド実行イベントが発生する時,装着されたHDDとの通信を通じて装着されたHDDの状態を検査しつつ装着されたHDDをテストするテストスレッド実行イベントサービスモジュールと;
を含むプログラムが記録された記録媒体。 - 前記テストスレッド実行イベントサービスモジュールは,
前記装着されたHDDに対するそれぞれの作業毎に一つのテストスレッドを割り当てることによって,装着されたHDDをテストするために,装着されたHDDのうち何れか一つに対する一連の作業を順次に一つずつ行うことを特徴とする,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。 - 一連のテスト作業は,優先順位によって並べられ,
前記テストスレッド実行サービスモジュールは,自身に割り当てられたHDDで行われる作業の優先順位と,他の装着されたHDDで行われる他の作業の優先順位とを比較し,割り当てられたHDDに対する作業の優先順位が他のHDDに対する作業の優先順位より低いか,または同じである場合,作業の遂行を終了するプログラムが記録されたことを特徴とする,請求項13に記載の記録媒体。 - 装着された複数のHDDのうち何れか一つを,装着されたHDDとしてテストする一連の作業は,
HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連したテストコードおよびスクリプトを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,そしてテスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含み,
前記リセットする作業が最も高い優先順位を有する,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項14に記載の記録媒体。 - 前記ユーザインターフェースサービスモジュールは,
ユーザのテスト開始命令が入力された場合,HDDスキャニングスレッド実行開始イベントとテストスレッド実行開始イベントとを発生させ,
前記HDDスキャニングスレッド実行開始イベントおよびテストスレッド実行開始イベントは,HDDスキャニングスレッド実行イベントおよびテストスレッド実行イベントをそれぞれ周期的に起動させる,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。 - 前記HDDスキャニングスレッド実行イベントは,第1周期以内に発生し,前記テストスレッド実行イベントは第2周期以内に発生し,
前記第1周期は,前記第2周期より短い,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項16に記載の記録媒体。 - 同時に実行されうるテストスレッドの数は,HDDテスト装置の資源に依存して制限される,プログラムが記録されたことを特徴とする請求項13に記載の記録媒体。
- 前記テストスレッドは客体であってHDDテスト装置の資源を効率的に共有するために互いに通信する,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項18に記載の記録媒体。
- 装着されたHDDのうち何れか一つに対する前記テストスレッド実行イベントサービスモジュールは,
前記装着されたHDDをテストするために前記テストスレッド実行イベントサービスモジュールが呼び出されたとき,一連の作業を一つずつ行い,
前記一連の作業は,
HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連したテストスクリプトおよびコードを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,テスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含む,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。 - 前記一連のテスト作業は,
装着されたHDDのモデル名を確認する作業,およびデ,ータベースから前記モデル名に関連したテストコードおよびスクリプトをダウンロードする作業,をさらに含むプログラムが記録されたことを特徴とする,請求項20に記載の記録媒体。 - ユーザインターフェースサービスイベントが発生する時に呼び出され,ユーザに装着されたHDDのテスト状態を知らせるディスプレイアップデートスレッドサービスモジュールをさらに含むプログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。
- 少なくともデバイステスト装置を制御するプログラムが保存されたデータ保存装置において:
各装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて複数の装着できるデバイスのうちそれぞれをテストする各作業完了状態の記録によって,一つのテストソフトウェアスレッドが複数の作業を一つずつ行う過程と;
各装着された装置に対するテストソフトウェアスレッドの作業完了状態の記録によって,各装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて各装着されたデバイスに各装着された装置をテストするための複数の作業のうちそれぞれの作業ごとに一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てる過程と;
を含むプロセスによるプログラムが記録されたデータ保存装置。 - 複数の着脱可能なHDDと;
単一のホストコンピュータとそれぞれのHDDとの間の通信チャンネルを選択的に確立する過程と;
それぞれの装着されたHDDをテストする各作業完了状態の記録によって,テストソフトウェアスレッドが複数の作業を一つずつ行う過程と;
各装着されたHDDに対するテストソフトウェアスレッドの作業完了状態の記録によって,各装着されたHDDに対するシリアル通信インターフェースを通じて各装着されたHDDに,各装着されたHDDをテストするための複数の作業のうちそれぞれの作業ごとに一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てる過程と;
を含み,
各HDDの前記単一のホストコンピュータとのインターフェースに関係なく各装着されたハードディスクを直接テストできるプロセスによって前記単一のホストコンピュータを制御するプログラムが記録されたコンピュータプロセッサを含むハードディスクドライブテスト装置。 - 前記HDDそれぞれは,標準UARTポートを有し,
前記単一のホストコンピュータは,少なくとも一つのシリアル通信ポートを有し,そして前記単一のホストコンピュータの一つのシリアル通信ポートとそれぞれのHDDの標準UARTポート間に選択的に確立されたシリアル通信チャンネルを通じてそれぞれのHDDを直接テストすることを特徴とする,請求項24に記載のハードディスクドライブテストテスト装置。 - 前記単一のホストコンピュータは,第1シリアル通信ポートとしての前記シリアル通信ポートおよび第2シリアル通信ポートを有し,
前記HDDのシリアルポートに連結されるスイッチの複数の入出力シリアルポートのうち何れか一つと前記単一のホストコンピュータの第2シリアルポートとの間で,シリアル通信チャンネルを選択的に確立するように,前記単一のホストコンピュータによってシリアルポート選択チャンネルを確立するため前記第1および第2シリアル通信ポートに循環的に通信可能に連結されうる多重ポートシリアル通信スイッチをさらに含むことを特徴とする,請求項24に記載のハードディスクドライブテスト装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2003-0030893A KR100498498B1 (ko) | 2003-05-15 | 2003-05-15 | 하드디스크 드라이브의 테스트 방법 및 이에 적합한 기록매체 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004342116A true JP2004342116A (ja) | 2004-12-02 |
JP4664621B2 JP4664621B2 (ja) | 2011-04-06 |
Family
ID=33411724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004146673A Expired - Fee Related JP4664621B2 (ja) | 2003-05-15 | 2004-05-17 | ハードディスクドライブテスト方法,ハードディスクドライブテスト装置,データ保存装置および記録媒体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7243043B2 (ja) |
JP (1) | JP4664621B2 (ja) |
KR (1) | KR100498498B1 (ja) |
CN (1) | CN1320460C (ja) |
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US20040230399A1 (en) | 2004-11-18 |
CN1573707A (zh) | 2005-02-02 |
KR20040098682A (ko) | 2004-11-26 |
CN1320460C (zh) | 2007-06-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060822 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061117 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080108 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080507 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20080513 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20090313 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20100727 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101116 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110107 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140114 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |