JP2004342116A - ハードディスクドライブテスト方法,ハードディスクドライブテスト装置,データ保存装置および記録媒体 - Google Patents

ハードディスクドライブテスト方法,ハードディスクドライブテスト装置,データ保存装置および記録媒体 Download PDF

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Abstract

【課題】 HDDテスト方法およびそれに適した記録媒体を提供する。
【解決手段】 ランダムな要求に応答してHDDが装着されたかを検査し,それぞれの装着HDDに対して一つのテストスレッドを順次に割り当てることによって,HDDのような複数のデバイスをテストする方法が提供される。装着されたHDDをテストするためにテストスレッドが呼出しおよび要求された時,それぞれの割り当てられたスレッドは一連のテスト作業を一つずつ行い,テストスレッドによってテストの一作業が終了する度に各HDDのテスト状態が記録される。従って,次のテストスレッドが記録されたテスト状態を参照できる。
【選択図】 図8

Description

本発明は,ハードディスクドライブをテストする方法に係り,特に,ランダムに着脱されうる複数のハードディスクドライブをテストする方法,装置およびそれに適したコンピュータにより読み取り可能な記録媒体に関する。
公知されたように,ハードディスクドライブ(Hard Disc Drive:以下,HDDという。)は,機械的な構成要素よりなるHDA(Head Disc Assembly)と回路的な構成要素よりなるPCBA(Printed Circuit Board Assembly)とを結合して構成される。このようなHDDは,回転する磁気ディスク上をヘッドが微細な間隙を維持した状態で浮上および移動し,データを磁気的に記録および/または再生し,かつ,大量のデータを高速でアクセスできる。そのため,コンピュータシステムの補助記憶装置として広く使われている。
HDDは,ほとんどが機械組立工程,サーボライト工程,機能テスト工程,バーンイン(Burn−in)テスト工程を経て製造され,以後,上記のバーンインテスト工程を通過したHDDセットが,正常にディフェクト処理されたかを確認する最終テスト工程のような後工程を経て出荷される。
HDDの製造工程を詳細に説明すれば,次の通りである。
まず,第1段階である機械組立工程は,機械的な構成要素よりなるHDAを製造する工程であって,通常クリーンルーム内で行われる。
第2段階であるサーボライト工程は,アクチュエータのサーボ制御のためのサーボ記録パターン(servo write pattern)をディスク上に記録する工程であって,通常サーボライタによって行われる。
第3段階である機能テスト工程は,機械組立工程で作られたHDAとPCBAとを結合させ,これらが正常にマッチングされて動作するかをテストする。機能テスト工程で,HADとPCBAとの結合体は,特定テストシステムと結合され,約20分〜25分の間基本テストを経る。
第4段階であるバーンインテスト工程は,HDDの製造工程のうち最も長い時間(通常,8時間〜16時間)がかかる工程であり,ディスク上に存在するディフェクトを見つけ,かつ,校正する。
第5段階である最終テスト工程は,前述されたバーンイン工程を通過したHDDセットが正常なディフェクト処理を行われているか,を確認するための工程であり,特定テストシステムを利用して各HDDセットのディフェクト処理状態を確認する。
最終テスト工程では,それぞれのHDDを別途のテストコンピュータに接続してテストを行う。各テストコピュータは,近距離通信網(LAN)を通じてホストコンピュータに連結され,テストプログラムによって連結されるHDDをテストし,その結果をホストコンピュータに出力する。
ホストコンピュータは,各テストコンピュータから入力される状態データをディスプレイ装置に表示し,作業者はモニタリングされた状態データを見て合格の如何を決定する。最終テスト工程を通過したHDDは,出荷検査工程,包装および出荷工程を経て一つの完成された製品として出荷される。
上記のようにバーンインテスト工程は,HDDの製造工程のうち最も長い時間がかかるため,制限された時間および空間において,高い信頼性で出来る限り多くのHDDをテストするテスト装置が要求される。従来のテスト装置は,例えば,特許文献1,2,3,4,5,6,7,8および9に開示されている。
図1は,従来のHDDのテスト装置200の外観を示す図面であって,特許文献1に開示されているものである。
図1を参照すれば,HDDが積載されるバーンインチャンバ30はテスト装置の前方に位置し,パワーカードが整列して配置された制御チャンバ40は分離壁80によって区分され,HDDテスト装置200の後方に位置し,一体に形成される。パワーカードは,バーンインチャンバ30に積載された各HDD,および,20〜24台からなるテストコンピュータ50への電源供給を制御する。各テストコンピュータ50は,例えば,6個のHDDを制御およびモニタリング(テスト)する。
制御チャンバ40の上段に設置された電源分配部は,パワーカードおよびテストコンピュータ50を管理し,管理者の入出力を受けるホストコンピュータに電源を分配する。一方,制御チャンバ40の下端に設置されたDC電源供給器はテストされるHDDに電源を供給する。
また,ユーザインターフェースのためにディスプレイ装置,キーボード(図示せず)がバーンインチャンバ30の上端の全面部に装置され,高温維持のためのヒータおよびブロワーがバーンインチャンバ30の上下段に装置される。
図2は,図1に示された従来のHDDテスト装置200の内部構成を示す機能ブロック図である。図2を参照すれば,図1に示されたHDDテスト装置200は,一台のホストコンピュータ600と20〜24台のテストコンピュータ612〜618とが第1制御バス660を通じて連結され,それぞれのテストコンピュータ612〜618にはさらに3個のデュアルチャンネルIDEアダプター622,624,626が第2制御バス630を通じて連結される。また,それぞれのデュアルチャンネルIDEアダプター622,624,626には2台のHDD642〜644,646〜648,650〜652がそれぞれ接続される。
ホストコンピュータ600がブートされた後,ホストコンピュータ600は第1制御バス660を通じてテストコンピュータ612〜618との通信ネットワークを構築する。この第1制御バス660は,通常のLANで実現される。
この第1制御バス660を通じてテストコンピュータ612〜618がブートされれば,テストコンピュータ612〜618はテストプログラムを実行し,テストコンピュータ612〜618とホストコンピュータ600との間の通信チャンネルが形成される。
上記のように,テストコンピュータ612〜618とホストコンピュータ600との間の通信チャンネルが形成された場合,ホストコンピュータ600は,各テストコンピュータ612〜618から状態を得ることができ,その状態をディスプレイ装置の画面に表示する。また,ヒータを利用してバーンインチャンバ30内の温度を調節する。
テストされるHDDをHDDテスト装置200のバーンインチャンバ30に挿入したとき,テストコンピュータ612〜618は,HDDの装着,例えば,HDD652の装着を感知し,デュアルチャンネルIDEアダプター626を通じてテストコードとスクリプトとをHDDにアップロードする。
以後,テストコンピュータ612〜618は,IDEインターフェースを通じてテスト結果または進行状態をモニタリングし,そのデータをホストコンピュータ600に伝送する。そして,ホストコンピュータ600は,テスト結果または進行状況をディスプレイ装置の画面に表示する。
図1および図2に示されたような従来のHDDテスト装置200は,それぞれのテストコンピュータを6台のHDDに連結する構造を有するので,以前の1:1のテスト方式よりは効率が良い。しかし,図1および図2に示されたHDDテスト装置200は,依然として20〜24台のテストコンピュータを要求しているので非経済的である。これらのテストコンピュータは,制御チャンバ40に,それらを収容するための大きな空間を要する。また,高価なデュアルIDEアダプターを各テストコンピュータに対して3個ずつ搭載しなければならないので,図1および図2に示されたHDDテスト装置200は,従来の1:1のテスト装置に比べてコストが多くかかる。
また,図2に示されたように,ホストコンピュータ600が一つの通信構造(一つのコンピュータと他の一つのコンピュータとの連結構造)を通じてテストコンピュータ612〜618に連結され,それぞれのテストコンピュータ612〜618は,デュアルIDEアダプターというさらに他の通信構造を通じてHDDを制御しているため,エラー発生の可能性が高い。このような複雑な通信構造においては,エラー発生時のシステムデバッグが困難になる。
さらに,HDDのインターフェースの標準が変更されたときには,全てのIDEアダプターを代替する必要が生じ,かつ,テストコンピュータ612〜618にローディングされたテストプログラムも修正しなければならない。
また,それぞれのHDDに対するテストにかかる時間は,テストされるHDDの種類あるいはディフェクトの有無によって変動する。HDDのテスト効率は,また,テスト方法にも依存する。特に,最も簡単な方法として,一つのHDDのテストにかかり得る最大のテスト時間を考慮して,複数のHDDにその最大の時間を割り当てるものである。
しかし,最初にテストが終了するハードディスクのテスト終了時点から最後にテストが終了するHDDのテスト終了時点まで,不要な時間が消費されるため,このような方法は生産的ではない。したがって,それぞれのHDDがランダムに着脱されうる効率的なHDDテスト方法が要求される。
韓国特許公開1997−76738号 韓国特許公開1998−35445号 韓国特許公開1999−60619号 韓国特許公開1999−65516号 米国特許第6,434,498号明細書 米国特許第6,208,477号明細書 米国特許第6,434,499号明細書報
本発明は,従来のHDDテスト装置が有する上記問題点に鑑みてなされたものであり,本発明の目的は,それぞれのHDDをランダムに着脱することが可能な,新規かつ改良されたハードディスクドライブテスト方法,ハードディスクドライブテスト装置,データ保存装置およびこのテスト方法のためのプログラムを記録した記録媒体を提供することである。
本発明の付加的な特徴および長所は,以下の説明により明らかになる。
上記課題を解決するために,本発明のある観点によれば,HDDが装着されているかを検査するためにスキャニングを行う過程と;装着されたHDDをテストするためにテストスレッドが呼出され,または,要求された場合,一連のテスト作業を一つずつ行うテストスレッドを装着されたHDDそれぞれに順次に割り当てる過程と;上記テストスレッドによってテスト作業のうち何れか一つが完了する度に,次のテストスレッドが参照されうるように,装着されたHDDそれぞれのテスト状態を記録する過程と,を含むHDDのテスト方法が提供される。また,それぞれがランダムに着脱されうる複数のHDDをテストする。ここでスレッドは,一つの起動中のタスクから起動できる,より小さいモジュールを含む。
本発明はそれぞれがランダムに着脱されうる複数のHDDに対するテストを行うプログラムが備わったコンピュータで読み出し可能な読記録媒体によって達成される。
上記記録媒体は,HDDスキャニングスレッド実行イベント,テストスレッド実行イベント,ユーザインターフェースサービスイベント,HDDスキャニングスレッド実行開始イベント,そしてテストスレッド実行開始イベントを備えるイベントのグループのうちから選択されるイベントの発生を待機し,発生したイベントに相応するスレッドを呼出すイベント待機モジュールと,上記HDDスキャニングスレッド実行イベントが呼出された時に呼出され,HDDの着脱を検出するスキャンイベントサービスモジュールと,上記テストスレッド実行イベントが発生した時に呼出され,HDDとのシリアル通信を通じて装着されたHDDの状態を検査しつつ装着されたHDDをテストするテストスレッド実行イベントサービスモジュールと,を含む。
以上説明したように本発明では,HDDが装着されたかを検査し,順次に装着されたHDDそれぞれに対して一つのテストスレッドを割り当てることによって,複数のHDDをランダムな要請に応じて検査する方法が提供される。これによって,HDDの容量が増加し,テスト時間が長くなり,装備増設が必要な状況における,投資費の負担を画期的に減じることができる。
以下に添付図面を参照しながら,本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお,本明細書および図面において,実質的に同一の機能構成を有する構成要素については,同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
テストコンピュータを使用せずにただ一つのホストコンピュータを使用して複数のHDDをテストするHDDテスト装置が,韓国特許出願No.2003−30895(2003年5月15日出願)に開示され,これら特許出願の内容は本実施形態において参照される。
同時係留され,本願に関連した日本特許出願の明細書に開示されたように,シリアル通信ポートを備えた一般的なコンピュータがシリアル通信ハードディスクテスト装置内のホストコンピュータとして使われる。特に,ホストコンピュータの二つのシリアル通信ポートと選択可能な周辺シリアルポートとを提供するシリアル通信スイッチング装置を使用して,テストされるHDDとホストコンピュータとの間のシリアル通信チャンネルが確立される。スイッチング装置の選択可能なシリアル通信ポートのうち特定の(他の)一つを使用して,ホストコンピュータとのシリアル通信チャンネルを,あるHDDから他のHDDに変更することが可能であり,これにより一つのホストコンピュータを使用して複数のHDDをテストすることが可能になる。
このために,シリアル通信HDDテスト装置は多くのHDDを収容するバーンインチャンバを必要とする。シリアル通信スイッチング装置は,韓国特許出願No.2003−30894(2003年5月15日出願)に開示され,これら特許出願の内容は本実施形態において参照される。
図3〜図5は,本発明の実施形態によるHDDのテストに使われるHDDテスト装置を示す透視構成図である。図3〜図5を参照すれば,HDDテスト装置300は,その中央部に,複数のHDDが複数の着脱ジグ304(図面には一つの着脱ジグだけ示されている)に積載されうるバーンインチャンバ302を備える。着脱ジグ304上のLEDは,当該着脱ジグ304に装着されたHDDのテスト状態を示す。
HDDドライブテスト装置300の中央部の後面にはRS−232信号,すなわち,テストドライブ制御信号をHDDのTTL信号レベルに変換させるか,またはその逆動作を行うことによって,HDDがPCBインターフェースボード328と通信するRS−232トランスミッタ/レシーバ,を有するPCBインターフェースボード328(図5および図8に示される)が設けられる。PCBインターフェースボード328は,PCBインターフェースボード328とシリアル通信交換機316との間のシリアル通信チャンネルを形成するためのシリアル通信RS−232Cインターフェースコネクタ,そしてパワーカード330(図7に示される)に連結するためのDCパワー供給コネクタをさらに備える。
HDDテスト装置の上部306および下部308から出されたRS−232信号線,LEDコントロール信号線,電源供給線は,HDDテスト装置300の支持ダクト310(図面にはただ一つの支持ダクトだけが示される)の後に続き,各PCBインターフェースボード328の当該インターフェースコネクタに連結される。
典型的に,HDDテスト装置300の下部308には,電場ボード(electricity board)334,DC電源供給器332,そして,HDDへの電源供給を制御し着脱ジグ304上のLEDにテストドライブ状態表示LEDコントロール信号を出力するパワーカード330(図7に示される)がハウジング内部に設置され,吸気口312がハウジングに形成されている。
パワーカード330を制御する制御信号を供給するホストコンピュータ314の信号線が,テスト装置の上部306にあるシリアル通信交換機316を通じてパワーカード330に連結される。また,パワーカード330からのLEDコントロール信号線と電源供給線とが着脱ジグ304上のLEDおよびバーンインチャンバ302の内部のPCBインターフェースボード328にそれぞれ連結される。
本実施形態の一特徴によれば,ホストコンピュータ314の制御信号線は,シリアル通信交換機316を通じてPCBインターフェースボード328に連結される。
典型的に,ホストコンピュータ314,シリアル通信交換機316,電場ボード334,DCパワーサプライ332,パワーカード330を含むパワーコントローラ360(図7に詳細に示される),およびファン318がHDDテスト装置300の上部306に位置している。このHDDテスト装置300は,テストされるHDDから発生する熱をバーンインチャンバ302から排出させ,上記テストされるHDDの温度を実質的に一定(常温)に維持する。
HDDテスト装置300の上部306の前面には,作業者(ユーザ,制御装置)がホストコンピュータ314とインターフェースするための,ディスプレイ装置320,入力装置としてキーボード,およびマウスを有するインターフェース部322が設置される。
また,HDDテスト装置300の上部306の前面には,DC電源供給器,ホストコンピュータ314,ファン318をオン/オフするスイッチ,電源状態を確認できる電源表示窓を備える電源表示部324が配置される。HDDテスト装置300の上部306の内部には,他の(上部)DC電源供給器332,他のパワーカード334,そして作動信号を上部DCパワー供給器332に提供する他の電場ボード334が設置される。このように,上部306の内部は,下部308の内部と非常に似ている。
バーンインチャンバ302において,テストされるHDDを着脱する着脱ジグ304は,支持ダクト310に対して長手方向および場合によっては幅方向に積載されている。
図6は,図3に示された着脱ジグ304の透視図である。図6に示されたように,着脱ジグ304の内側にはHDDのパワーピンと二つのUART(Universal Asynchronous Receiver Transmitter)ピンとに接続されるポゴピン(pogo pin)602,604が設置され,着脱ジグ304の外側にはポゴピン602,604と接続されたポゴピンコネクタ606が設けられる。このような着脱ジグ304は,韓国特開1999−70583号公報(1999年9月15日公開),韓国特開1998−31599号公報(1998年7月25日公開),韓国特開1998−47465号公報(1998年9月15日公開)に開示されている。
ポゴピンコネクタ606は,バーンインチャンバ302の後側に位置した分離台326(図5参照)を通してPCBインターフェースボード328に連結される。PCBインターフェースボード328は,シリアル通信交換機316からの制御信号を受信し,受信された制御信号をHDDに適した電圧レベル(典型的に,TTLレベル信号)に変換し,そして受信および変換された制御信号をポゴピンコネクタ606に提供する。このような方法でホストコンピュータ314はHDDと通信できる。
図3に示されたHDDテスト装置300および図6に示された着脱ジグ304に対して,着脱ジグ304の前側(図面の左側)には,典型的に2個のLED608が提供され,それぞれのLEDは,着脱ジグ304に設置されたテストされるHDDの状態を表示する3個の色相が発光する。
着脱ジグ304の後側には,2個の3色LED608を制御するために,対応するパワーカードを通じてホストコンピュータ314からの信号を供給するLEDコントロール信号線がコネクタ610に連結されている。このような方法で,LED608はホストコンピュータ314によって決定されるHDDのテスト状態に相応してオンとなる。
前述したように,HDDテスト装置300の上部306と下部308とには,電場ボード334(図7に示される),DC電源供給器(図7に示される),およびHDDに電源を供給し,LED608を制御するパワーカード330が装着される。
電場ボード334は,HDDテスト装置300にメイン電源が印加された後,ホストコンピュータ314に電源が印加され,作動を開始するように構成される。また,電場ボード334は,シリアル通信交換機316を通じてホストコンピュータ314からのDC電源印加命令を受けてDC電源供給器332を作動させ,DC電圧レベル調整信号をDC電源供給器332に提供する。DC電源供給器332によってバーンインチャンバ302内に収容できるHDDの数に相応する数のパワーカード330にパワーが供給され,パワーカード330を通じて各着脱ジグ304上のテストHDDにDC電源が供給される。
バーンインチャンバ302のインターフェースボード328に連結される電源線を通じて電圧を測定することによって,パワーカード330は,HDDが着脱ジグ304に装着されたかを判断する。また,供給されるDC電圧を測定することもある。典型的に,パワーカード330は,シリアル通信交換機316を通じてホストコンピュータ314と連結され,HDDの着脱状態,パワー供給状態,そして他の情報をホストコンピュータ314に伝送し,着脱ジグ304のLED制御もしくはHDDへの電源供給のオン/オフのためにホストコンピュータ314から提供される命令を実行する。
HDDテスト装置300の全体およびHDDテストを制御するホストコンピュータ314は,シリアル通信交換機316を通じてHDDテスト装置300の各部分を制御する。
本実施形態の一特徴によれば,ホストコンピュータ314は,シリアル通信交換機316を通じたシリアル通信信号によってHDDとパワーカード330とを制御する。したがって,シリアル通信交換機316は,HDD,PCBインターフェースボード328およびパワーカード330とシリアル通信する。特に,シリアル通信信号によりシリアル通信交換機316を通じてホストコンピュータ314とHDDとを通信するために,シリアル通信交換機316からのシリアル通信信号をPCBインターフェースボード328を通じてHDDに伝送する時,シリアル通信交換機316で使われる電圧レベルとHDDの内部のTTL信号のレベルとが相異するので,シリアル通信信号の電圧レベルを変更する。一方,パワーカード330は,ホストコンピュータ314からの制御信号に応答して着脱ジグ304に装置されたLED608を制御する。すなわち,PCBインターフェースボード328に伝送される信号は,ホストコンピュータ314からの制御信号およびパワーカード330からのLED制御信号で構成される。
HDDテスト装置300の上部306の前面のディスプレイ装置302もホストコンピュータ314に連結される。作業者が各テストHDDの状態をモニタリングできる情報は,ディスプレイ装置320に表示される。インターフェース部322,例えば,キーボード,マウスを通じて作業者はホストプログラムあるいはホストプログラムの特定機能を実行させることができる。
電源表示部324には典型的にHDDテスト装置300の全体の電源供給をオン/オフするマスター電源ボタン,ホストコンピュータ314をオン/オフする電源ボタン,テスト装置の上部306および下部308に設置されているDC電源供給器をオン/オフする電源ボタン,ファン318をオン/オフする電源ボタンが装着される。また,電力供給状態は,電力ディスプレイ装置の窓を通じて直接確認できる。ファン318は,テストHDDの作動によって発生した熱をHDDテスト装置300の外部に排出させる。
図7は,図3に示された本発明の実施形態によるHDDテスト装置の内外部構成および動作を示すブロック図である。ホストコンピュータ314は,ネットワークを通じて工程履歴データベース(MES)と通信し,シリアル通信交換機316を通じて複数のHDD,電場ボード334,および,ソフトウェアやハードウェアを含む周辺環境によって決定される多数のHDDに対する電源およびLED信号を制御する複数のパワーカード330と通信できるように連結される。言い換えれば,制御できるHDDの最大数はソフトウェアによって決定され,制限がない。
本実施形態の一特徴によれば,シリアル通信交換機316は,パワーコントローラ360や複数の着脱ジグ304に接続できる複数のシリアル通信線,および,制御線に通信可能に接続される。特に,パワーコントローラ360は,電場ボード334,パワーカード330およびDCパワー供給器332を含む。図7において,ホストコンピュータ314は標準のコンピュータであり,シリアル通信交換機316はHDDをテストするために複数のHDDと標準コンピュータ314とをシリアル通信を通じてインターフェースする上記標準コンピュータ314の周辺装置である。
図3〜図5および図7に示されたような本実施形態の一特徴によれば,ホストコンピュータ314,シリアル通信交換機316およびHDDは,HDDをテストするためにシリアル通信交換機316がシリアル通信を通じて標準コンピュータ316と複数のHDDとをインターフェースする一つの個体として提供される。しかし,本実施形態はそのような具体的な構造に限定されるものではない。前述された図7の例示的な実施形態において,パワーコントローラ360がシリアル通信交換機316と分離された個体であり,シリアル通信交換機316と通信できるように接続される別個の構成要素で具現されているが,本実施形態はそのような構成に限定されず,パワーコントローラ360はシリアル通信交換機360の一部分となるように構成されるとしても良い。
まず,ホストコンピュータ314がブートされた後,ホストコンピュータ314は,HDDをテストするためのホストプログラムを実行させる。ホストプログラムの制御によって,ホストコンピュータ314はシリアル通信交換機316を通じて電場ボード334にDC電源供給の命令を行う。電場ボード334の制御下にDC電源供給器332が電源を供給し始めると,パワーカード330が作動し,ホストコンピュータ314は,各パワーカード330を通じて継続的に着脱ジグ304上のHDDの着脱状態をチェックする。パワーカード330は,典型的にHDDに連結される電源ラインでの電圧降下を検出することによってHDDの着脱の如何をチェックする。
図7の例によれば,ホストコンピュータ314の制御下において,各パワーカード330は,8個のHDDに接続された8個のPCBインターフェースカード328のそれぞれに提供するDC電源を制御し,また着脱ジグ304のLED608も制御する。
パワーカード330が,新しいHDDの着脱ジグ304への装着を認識すれば,ホストコンピュータ314,シリアル通信交換機316,および装着されたHDDのPCBインターフェースボード328間で確立されたシリアル通信チャンネルを通じてホストコンピュータ314は装着されたHDDと直接通信し始める。
ホストコンピュータ314は,HDDからドライブ情報,例えばインターフェース規格,モデル名,バージョン情報等を得て,かかるドライブ情報をMESに伝送する。またホストコンピュータ314は,MESからそのHDDに適するテストスクリプトとテストコードとをダウンロードし,テストスクリプトとテストコードとをHDDに伝送し,HDDのテストを開始させる。
ホストコンピュータ314は,ディスプレイ装置320を通じて装着されたHDDに関するテスト状態を表示し,着脱ジグ304上のLED608のオン/オフを制御するためにパワーカード330に命令を送る。特に,テスト完了後,HDDがテスト結果をホストコンピュータ314に伝送すれば,ホストコンピュータ314はHDDへの電源供給を遮断するようにパワーカード330に命令を出し,テスト結果をディスプレイ装置320と着脱ジグ304のLED608とを通じて表示し,テスト結果をMESにも伝送する。
図3〜図5に示されたHDDテスト装置300は,例えば,一つのパワーカード330につき8個のHDDを制御することができ,18個のパワーカード330を使用した場合,ホストコンピュータ314のシリアル通信ポートCOM1とCOM2とを経由し,かつホストコンピュータ314,シリアル通信交換機316,PCBインターフェースボード328,およびHDDのUARTポート間のシリアル通信チャンネルの確立を通じて,144個のHDD,電場ボード334,および18個のパワーカード330を直接制御することができる。従って,同時に144個のHDDをテストできることになる。
図8は,本発明の実施形態によるHDDテスト方法を示すフローチャートである。HDDをテストするコンピュータプログラム800は,HDDテスト装置,例えば,HDDテスト装置300のホストコンピュータ314によって行われる。しかし,本実施形態は,HDDテスト装置300の操作/制御に限定されず,また着脱されうるHDDを有するあらゆるHDDテスト装置の操作/制御のために実現されうる。
本実施形態において,ホストコンピュータ314は,ホストコンピュータ314の二つのシリアル通信ポートCOM1およびCOM2を使用して複数のHDDをテストする。例えば,一つのシリアル通信ポートCOM2はデータパスであってホストコンピュータ314をシリアル通信チャンネルを通じてHDDと通信し,他の一つのシリアル通信ポートCOM1はラウティング(routing)制御パスであって,複数のHDDとホストコンピュータのシリアル通信ポートCOM2間のデータパスとして使われるシリアル通信チャンネルを確立するために,ホストコンピュータ314をしてシリアル通信交換機316を制御せしめる。
図8に示されたように,HDDテストプログラムは大きく初期化情報ロードモジュール802,初期化モジュール804,イベント待機モジュール806,HDDスキャンイベントサービスモジュール808,テストスレッド実行イベントサービスモジュール810,およびユーザインターフェースサービスモジュール812を含み,本実施形態の過程を行う。
初期化情報ロードモジュール802は,初期化ファイル,例えば“ini”拡張子を有するファイルを再生して,電場ボード334,パワーカード330,およびシリアル通信交換機316それぞれと各ポートとの連結状態,シリアル通信交換機316のポートとHDDスロットとの連結状態(例えば,PCBインターフェースボード328)と装備番号とを把握する。
初期化モジュール804は,典型的にHDDに電源を供給する,パワーカード330に電源を供給するDCパワー供給器332に対する電場ボード334を通じてHDDに電源を供給し,HDDの状態を作業者に知らせるために着脱ジグ304のLED608を制御する。初期化モジュール804は,また,内部パラメータを初期化し,ユーザインターフェース(ディスプレイ)を初期化する。
イベント待機モジュール806は,例えば,HDDスキャニングスレッド実行イベント,テストスレッド実行イベント,ユーザインターフェースサービスイベント,HDDスキャニングスレッド実行開始イベント,テストスレッド実行開始イベントのイベント発生を待機し,HDDスキャンイベントサービス808,テストスレッド実行イベントサービス810,およびユーザインターフェースサービス812のような発生したイベントに相応するサービスモジュールを呼出す。
テストスレッド実行イベントが発生した場合,新しく作られたテストスレッド実行イベントサービス810が,テストされるHDD(ポート)に割り当てられる(すなわち,ホストコンピュータのシリアルポート,シリアル通信交換機316のシリアル入力ポートおよびシリアル出力ポートの何れか一つ,PCBインターフェースボード328,テストHDDのUARTポートとによって形成された,ホストコンピュータ314とHDDシリアルポート間で確立されたシリアル通信チャンネルを通じて,テストスレッド実行イベントサービスモジュール810はテストHDDと通信する)。
HDDスキャンスレッド実行イベントおよびテストスレッド実行イベントは,それぞれ第1周期および第2周期に発生するインタラプトであり,第1周期は第2周期より短い。例えば,HDDスキャニングスレッド実行イベントに関連した第1周期は50msecであり,テストスレッド実行イベントに関連した第2周期は100msecである。ユーザインターフェースサービスイベントは,作業者のテスト開始命令あるいはテストスレッドによって非周期的に発生する。例えば,装着されたHDDのテスト結果をユーザインターフェースを通じてユーザに知らせる場合に,特に,テストスレッドはユーザインターフェースサービスイベントを作る。
HDDスキャンスレッド実行イベントが発生した時に呼出されるハードディスクスキャンイベントサービスモジュール808は,HDDの装着の如何を検査する。
テストスレッド実行イベントが発生した時に呼出されるテストスレッド実行イベントサービスモジュール810は,確立されたシリアル通信チャンネルを通じてHDDと通信しつつHDDの状態を検査し,バーンイン(B/I)テストを行う。
ユーザインターフェースサービスイベントが発生した時に呼出されるユーザインターフェースサービスモジュール812は,作業者にHDDテスト進行状態を知らせてユーザ操作を可能にし,MESにテスト結果を知らせてテスト結果を管理させる。
一例として,HDDテスト装置200でHDDをテストする本実施形態の方法は,図8〜図13を参照して説明される。
ホストコンピュータ314がブートされ,HDDテストプログラムが実行されれば,HDDテスト装置300の連結状態が初期化情報ロードモジュール802によって検査され,パワーカード330に連結されたDC電源供給器332が初期化モジュール804によって,電場ボード334を通じて初期化される。特に,シリアル通信交換機316に電場ボード334に連結されたポートのID番号が通知されれば,シリアル通信交換機316はホストコンピュータ314のシリアル通信ポートCOM1を電場ボード334の通信ポートに連結する。それにより,電場ボード334はパワーカード330に連結されたDCパワー供給器332を初期化する。次いで,DCパワー供給器332はHDDの操作に必要なDCパワーを各パワーカード330に印加する。
初期化動作の最後で,電場ボード334と18個のパワーカード330との間の通信チャンネルが確立されると,パワーカード330は,パワーカード330に連結された着脱ジグ304のLED608を初期化する。次いで,着脱ジグ304のLED608がテスト可能状態を表し,作業者はHDDを着脱ジグ304に挿し込む。
バーンインチャンバ302の着脱ジグ304にHDDを装着し,例えば,インターフェース部322を通じて,HDDテストプログラム800によってディスプレイ部,例えば,ディスプレイ部320に提示されるユーザインターフェースで作業者がテスト開始ボタンを押し(すなわち,テスト開始命令が入力されれば),HDDテストプログラム800のイベント待機モジュール806はテストスタートイベントの発生をユーザインターフェースサービスイベントとして認識する。テストスタートイベントを認識した後,HDDテストプログラム800のハードディスクスキャンイベントサービスモジュール808は,HDDの着脱を検査する。特に,パワーカード330は,パワーが提供されなければならないHDDの着脱に関する情報を保存し,HDDテストプログラム800のハードディスクスキャンイベントサービスモジュール808から要請があれば,このHDDの着脱情報をHDDテストプログラム800に提供する。
次いで,HDDテストプログラム800のテストスレッド実行イベントサービスモジュール810は,装着されたHDDそれぞれをテストする。
本実施形態において,ホストコンピュータ314は,HDDテストプログラム800を使用し,データパスであるホストコンピュータ314のシリアル通信ポートCOM2と,シリアル通信交換機316の入出力シリアル通信ポートとを通じ,優先順位に応じてホストコンピュータ314に連結されたHDDをテストする。
HDDテストプログラム800は,HDDそれぞれのテスト状態に関する情報を含んでいる。HDDそれぞれのテスト状態は,ディスプレイアップデートスレッドによってディスプレイ部320にディスプレイされ,テスト結果はMESに伝送される。
図9は,図8に示されたHDDテスト方法でHDDスキャンイベントサービスの動作を示すフローチャートである。スキャンイベントサービスモジュール808は,以前のHDDスキャニングスレッドの動作が終了したかを検査する(902段階)。902段階で,もし以前のHDDスキャニングスレッドがまだ終了されていないとすれば,スキャンイベントサービスモジュール808はHDDテストプログラムにリターンする。
902段階で,もし以前のHDDスキャニングスレッドの動作が終了したとすれば,スキャニングする次のパワーカード330を選択する(904段階)。したがって,904段階でハードディスクスキャンスレッド実行イベントが発生する度に順次にパワーカード330のうち次のものが選択され,HDDスキャニングスレッドは選択されたパワーカード330をスキャンする(906段階)。
典型的に,HDDスキャンスレッド実行イベントは,例えば毎50msecごとに発生する周期的なインタラプトである。したがって,ハードディスクスキャンスレッド実行イベントが発生した場合,ハードディスクスキャンイベントサービス808は,HDDの着脱を検査するためにパワーカード330のうち一つに保存された情報を再生する。
図10は,図9に示されたHDDスキャニングスレッドの動作を示すフローチャートである。特に,HDDスキャニングスレッドは,次のような動作を行う。
(1)まず,パワーカード330を使用してHDDの装着の如何を決定する。
(2)新しいHDDの着脱の如何が確認されれば,ポート情報データ構造体1000をアップデートする(場合によっては,作られる)。ここで,ポート情報データ構造体1000は,ポート番号,ポート番号に当るHDD着脱の如何,テスト状態,テスト開始時間の情報を有する。このようなポート情報データ構造体1000は,次に詳細に説明されるように,テストスレッドによって参照される。
(3)HDDスキャニングスレッドを終了する。
図11は,図8に示されたテストスレッド実行イベントサービスの動作を示すフローチャートである。
テストスレッド実行イベントが発生すれば,テストスレッド実行イベントサービスモジュール810は,まず実行中であるテストスレッドがn個(例えば,図11において5個)であるかを検査する(1102段階)。
もし,1102段階で現在実行中であるテストスレッドがn個であれば,HDDテストプログラム800にリターンする。このとき,nは同時に最大限に実行されうるテストスレッドの数であり,ホストコンピュータ314の資源,テストにかかる時間によって適切に選択される。同時に実行されうるテストスレッドの実行数とテストが進行中であるHDDの数とは同一ではないということに注意しなければならない。なぜなら,後述するようにHDDに対するあるテスト作業が終了した後では,テストスレッドはHDD内のいかなる作業にも関与せず,自動的に終了するためである。
本実施形態の一特徴によれば,テストスレッド実行イベントは,100msecの周期で発生する。同時に実行できるテストスレッドの数nは,例えば,5であり,この場合に5個までのテストスレッドが同時に実行される。
もし,1102段階で現在実行中であるテストスレッドの数がn個未満であれば,新しいテストスレッドに対するポートが選択され(すなわち,本実施形態におけるシリアルポートは,ホストコンピュータ314,シリアル通信交換機316,PCBインターフェースボード328,およびHDDのUART間で選択されて確立されたシリアル通信チャンネルを表す),選定されたシリアルポートの優先順位より高い優先順位を有するシリアルポートがあるかを検査する(1104段階)。これらシリアルポートはHDDに連結されており,ポート番号によって管理される。ホストコンピュータ314は,ホストコンピュータ314のCOM2(データパス),シリアル通信交換機316の出力シリアルポートによってHDDに通信可能に連結されたHDDシリアルポートを通じて,HDDと通信しつつHDDをテストする。
HDDに接続されたシリアルポート(ここで,ポートとして参照される)は,ポートシリアル番号の順で,新しいテストスレッドに1つずつ割り当てられる。
ここで,1104段階でテストスレッド実行イベントサービスモジュール810は,ポート情報データ構造体1000を参照して新しく発生したテストスレッドに割り当てられたポートの優先順位より高い優先順位を有するポートがあるかどうか(すなわち,新しいテストスレッドによって占有されたポートで行われなければならないテスト作業より高い実行優先順位を有するHDDテスト作業が実行されているか,あるいは実行されなければならないポートがある。)を検査する。
ここで,優先順位の比較対象となるポートは,全ての待機ポートを含む。この待機ポートは,新しく発生したテストスレッドが占有するポート以外であり,他のテストスレッドによって占有されているポートを含む。
実行されるテストスレッドの数は限定され,テストスレッドは,テストスレッド実行イベントにより発生し,ポート番号の順によりハードディスクドライブに割り当てられる。ここでは,ハードディスクドライブに対し,同時に2個以上のテストスレッドは割り当てられない。
また,テストスレッドの実行数に余裕が有るとしても,発生したテストスレッドは,自分自身に割り当てられた作業を遂行する前に,まず自身の作業の優先順位と,待機常態にある他のハードディスクドライブの作業の優先順位を比較する。
もし,1104段階で新しく発生したテストスレッドに割り当てられたポートの優先順位より高い優先順位を有するポートがあった場合,テストスレッド実行イベントサービスモジュール810は,他の新しいテストスレッドが,高い優先順位ポートに連結されたHDDをテストするための高い優先順位のポートに優先的に割り当てられるように,現在のテストスレッドを終了する。したがって,テストスレッド実行イベントサービス810によって,ポートはポート番号の順序通りに順次に新しいテストスレッドに割り当てられ,ポートに連結されたHDDはポート番号の順序でテストされる。
上記現在のテストスレッドとは,所定のハードディスクに割り当てられて実行されているが,テスト作業は遂行していないテストスレッドであり,他の新しいテストスレッドとは,今後発生するテストスレッドを言う。
テストスレッドは,ハードディスクドライブのポート番号順に割り当てられるが,テストスレッドの割当順位が高かったとしても,優先順位が低い作業を処理するテストスレッドを早期に終了させ,高い優先順位を持つハードディスクドライブに対する作業を優先的に遂行する。
1104段階で現在のテストスレッドに割り当てられたポートより高い優先順位を有するポートがない場合には,テストスレッドはポート情報データ構造体1000を参照して該当するHDDで行われるテスト作業のリストを得る。
テストスレッドは,HDDにおける作業リストでの一つの作業が終了するまで行う(言い換えれば,テストスレッドは一度に一つの作業を行う。)。(1106段階)
テスト作業が完了すれば,スレッドを終了する前に,装着されたHDDポートに対するHDDテスト作業の作業実行順序によるハードディスクテスト状態を表すポート情報データ構造体1000内のテスト状態を更新する。したがって,各ハードディスクテスト状態は装着されたHDDに対して完了したHDDテスト作業を表す。
HDDは,多数のシーケンシャルな作業を通じてテストされ,これら作業の例は,下記の表1に示される。
Figure 2004342116
表1の左側列に示される実行順序は,各作業が実行される順序を表す。表1の右側列に示される優先順位は各作業の実行優先順位を表す。テストスレッドに行われる各作業の具体的な内容は,次の通りである。
(1.power on)
(1)選択されたポートに連結されたHDDに対するパワーオン命令がパワーカード330に入力される。
(2)ポート情報データ構造体1000にテスト開始時間を記録する。典型的に,ポート情報データ構造体1000は,ポートに対するHDDテスト情報あるいはポートに対するHDDテスト情報データ構造体に対するリンクを含む。また,HDDテスト情報データ構造体は,HDDシリアルナンバー,モデル情報,コーディング情報,テスト状態情報,容量情報,テスト結果,テスト時間を含むとしても良い。このHDDテスト情報データ構造体は,MESにテスト結果を伝送する時に参照される。
(3)テストの開始を表すために着脱ジグ304のLEDをターンオンさせる命令がパワーカード330に入力される。
(4)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(5)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(2.reset)
(1)HDDにReset命令が入力される。
(2)HDDのテスト準備が終わったかを確認する。
(3)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(4)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(3.HDD identify)
(1)HDDのコーディング情報を受信してHDDテスト情報データ構造体に保存する。
(2)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(3)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(4.Model identify)
(1)HDDテスト情報データ構造体1000に保存されたコーディング情報に基づいてHDDのモデル名が認識され,MESにその情報が報告される。HDDのモデル名は,MESからB/I scriptとコードとをダウンロードする時に参照される。
(2)確認された情報は,HDDテスト情報データ構造体1000に保存される。
(3)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(4)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(5.B/I Script/Code Download)
(1)HDD テスト情報によるB/I scriptおよびcodeがHDDにダウンロードされる。
(2)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(3)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(6.Power off−on)
(1)codeがダウンロードされたHDDがテストを初期化するために再ブートされる。
(2)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(3)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
7.Monitor Test Result
(1)HDDをテストした結果が報告されているかを確認する。
(2)HDDのテストが終了した後,テスト結果はHDDテスト情報データ構造体1000に保存され,MESに報告される。
(3)ポート情報データ構造体1000の状態情報がアップデートされる。
(4)ディスプレイアップデートイベントが誘導され,テストスレッドが終了される。
(8.Power off)
(1)選択されたポートに連結されたHDDに対するパワーオフ命令がパワーカード330に入力され,テストスレッドは終了される。
HDDのテストにおいて,6番目の作業,すなわち,Power off−on作業が終了してから7番目の作業,すなわち,テスト結果モニタリング作業が終了するまでの作業動作は,ホストコンピュータ314と関係なくHDD内で行われる。
ダウンロードされたscriptとcodeとを使用してHDDで行われるプロセスは本実施形態のように韓国特開1997−7634号公報(1997年2月21日公開)に詳細に開示される。
上記表1での優先順位は,多数のHDDがテストされている時に高い優先順位の作業動作を行っているHDDに優先権を与えるための作業動作の優先順位である。
典型的に,長い時間がかかる作業動作は,高い優先順位を有する。例えば,HDDのリセット動作とモデル名を確認する動作とは他の動作より長い時間がかかるので,高い優先順位を有する。詳述した実施形態において,優先順位は作業にかかる時間によるが,本実施形態は,このような構成に限定されず,本実施形態はいずれかの優先順位の決定基準,例えば,次の作業待機時間,他の重要性基準,HDDテスト結果,あるいは実行順序によって決定されることもある。
図12は,図11に示されたテストスレッドによって行われる作業を示すフローチャートである。各テストスレッドは基本的に図12に示され,表1にリストされたようにテストのための全ての作業(本例では,8つの作業)を行うことができ,それが呼出される度に一つずつ行われる。したがって,HDDのテストに含まれる作業実行順序および作業実行優先順位(表1にリストされたように)による一連の作業が,テストスレッドを同時に遂行させることによって高い効率で行われるようになる。
図12に示されたように,スレッドが終了するとき,各テストスレッドは,各作業を終了する前に作業の実行順序に従ってHDDポートのポート情報データ構造体1000内のテスト状態情報を更新する。従って,他のテストスレッドは,そのHDDポートに対する更新されたテスト状態情報を参照し,占有されたポートにおける作業の実行優先順位に従って,実行順序での次の作業を続けることができる。
図13は,ポート情報データ構造体,HDDスキャニングスレッド,テストスレッド,およびディスプレイアップデートスレッドの関係を示す図である。HDDテスト情報データ構造体を含むポート情報データ構造体1000は,ポートに連結された各HDDのテスト状態を表す各種情報が記録される所であり,HDDスキャニングスレッド,テストスレッド,およびディスプレイアップデートスレッドによって特定ポート上のHDDの着脱,当該ポートに対するHDDテスト作業状態,およびディスプレイされたユーザインターフェース上で当該ポートに対するハードディスクテスト作業状態情報を更新するために参照される。ポート情報データ構造体1000は,図10に示されたような構造を有し,ポート番号,HDDの着脱,テスト状態,テスト開始時間のような情報を保存する。
スキャニングスレッドは,HDDポート上にHDDの着脱の如何によってポート情報データ構造体1000内の情報を更新する。HDDスキャニングスレッド実行イベントが発生する度に行われるHDDスキャニングスレッドは,パワーカード330を順次に参照してどんなポートにHDDが装着されているかを検査し,その結果に基づいてポート情報データ構造体1000内のHDDの着脱に関する情報を更新する。
当該HDDポートに対するテスト作業が完結されれば,各テストスレッドはポート情報データ構造体1000内のテスト状態を更新する。各テストスレッドは,ポート情報データ構造体1000内にテスト開始時間情報,すなわち,HDDに対するテストが始まる時間に関する情報,およびHDDテスト結果情報を保存する。
装着されたHDDそれぞれのテスト状態およびテスト結果を,作業者のためにモニター等のディスプレイ装置に表示するため,ポート情報データ構造体1000は,ディスプレイアップデートスレッドによって参照される。
図14は,図8に示されたユーザインターフェースサービスの動作を示すフローチャートである。ユーザインターフェースサービスモジュール812は,ユーザインターフェースサービスイベントが発生した時に呼出される。上記のように,ユーザインターフェースサービスイベントは,スタートボタン(すなわち,入力命令)を入力することによって起動する。例えば,スタートボタンが押されると,ユーザインターフェースサービスモジュール812は,ハードディスクスキャニング開始イベントとテストスレッド開始イベントとを起動させる。ハードディスクスキャニング開始イベントとテストスレッド開始イベントとは周期的にHDDスキャニングスレッド実行イベントとテストスレッド実行イベントとをそれぞれ起動させる。
ディスプレイアップデートスレッドは,ユーザインターフェースサービスモジュール812によって呼出される。ユーザインターフェースサービスモジュール812は,ポート情報データ構造体1000を参照してディスプレイ部320を通じてHDDのテスト状態をユーザに知らせる。ユーザインターフェースサービスモジュール812は,また,テスト結果をMESおよびディスプレイ部320のユーザインターフェースに提供する。HDDテスト情報データ構造体を含むポート情報データ構造体1000は,HDDポートおよび当該HDDポートで装着され,かつテストされたHDDのHDDシリアルナンバーによるテスト結果を記録可能にする。
本実施形態によるHDDのテスト方法において,n個までのテストスレッドが同時に作動できる。n個のテストスレッドは,通信資源,すなわち,通信チャンネルを互いに占めるために競争するよりは,通信チャンネルを効率的に使用するために互いに通信し,かつ互いに同期される。このために,ウィンドウ基盤(window−based)のミューテックス客体(mutex objects)が使用されうる。
ミューテックス客体は,カーネル客体(kernel objects)のうち一つであり,最小限のプロセスを行うために要求されるだけの資源を獲得するために使われ,多数のスレッドが互いに通信可能にする。
図8〜図14の上記モジュールのように具現された本実施形態のプロセスは,ソフトウェアおよび演算ハードウェア(場合によっては)で実現されうる。したがって,本実施形態は,HDDが装着されたかを検査し,順次に装着されたHDDそれぞれに対して一つのテストスレッドを割り当てることによって,ランダムな要請に応じた複数のHDDを検査する方法を提供する。
それぞれの割り当てられたスレッドは,装着されたHDDをテストするために呼出しおよび要求された時,一連のテスト作業を一つずつ行い,テストスレッドのうち一つによって一つの作業が終了する度に各HDDのテスト状態を記録し,次のテストスレッドが記録されたテスト状態を参照することによって,次の作業を続けることができる。
各HDDは,当該HDDに要求される時間によってテストされる。特に,本実施形態はHDDのテストに限定されず,装置のシリアルポートを通じて複数の装置のテストにも利用されうる。本実施形態は装着された装置をテストするための各作業完了状態の記録を行い,テストスレッドによって複数の作業を一つずつ行う過程と,そしてそれぞれの装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて複数の装着された装置のうち各装着されたHDDに各装着された装置のテストスレッド作業完了状態の記録によって,それぞれの装着された装置をテストする複数の作業のうち各作業ごとに一つのテストスレッドを割り当てる過程とを含む方法を提供する。
また,本実施形態のプロセスを行う装置は本発明を達成できる。例えば,本実施形態は,複数の着脱可能なHDDと,単一のホストコンピュータと各HDDとの間で選択的に通信チャンネルを確立し,テストソフトウェアスレッドによってそれぞれの装着されたHDDをテストするための各作業完了状態の記録によって複数の作業を一つずつ行い,そして選択的に確立されたそれぞれの装着されたHDDとの通信チャンネルを通じてそれぞれの装着されたHDDにそれぞれの装着されたHDDをテストするための複数の作業のうち各作業ごとにそれぞれのHDDに対するテストソフトウェアスレッド作業完了状態の記録によって,一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てるプログラムが記録されたコンピュータプロセッサを有する単一のホストコンピュータを備えるHDDテスト装置を提供する。
本実施形態によるHDDテスト方法は,コンピュータシステムで実行できるソフトウェアとして実現されうる。このような場合,前述された動作モジュールは,本実施形態のプロセスを行うコードセグメントとして実現される。ソフトウェアあるいはコードセグメントは,半導体メモリ装置,ROM,フラッシュメモリ,消去可能なROM(EROM),フロッピー(登録商標)ディスク,光ディスク,ハードディスク,光ファイバ媒体,無線周波数(RF)網などの記録媒体に保存されるが,これに制限されない。
ソフトウェアあるいはコードセグメントは,コンピュータデータ信号として電子網チャンネル,空気,電子系,RF網のような伝送媒体あるいはコンピュータネットワーク上の搬送波と共に伝送されうる。
以上,添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが,本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば,特許請求の範囲に記載された範疇内において,各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり,それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
本発明は複数のHDDを同時にテストして生産性を高める最適化したハードディスクドライブテスト方法,ハードディスクドライブテスト装置,データ保存装置およびこのテスト方法のためのプログラムを記録した記録媒体に適応可能である。
従来のHDDテスト装置の外観を示す図面である。 図1に示された従来のHDDクテスト装置の内部構成を示す機能ブロック図である。 本発明の実施形態によるHDDのテストに使われたHDDテスト装置を示す透視構成図である。 本発明の実施形態によるHDDのテストに使われたHDDテスト装置を示す透視構成図である。 本発明の実施形態によるHDDのテストに使われたHDDテスト装置を示す透視構成図である。 図3に示された着脱ジグの透視図である。 図3に示された本発明の実施形態によるHDDテスト装置の内外部構成および動作を示すブロック図である。 本発明の実施形態によるHDDテスト方法を示すフローチャートである。 図8に示されたHDDテスト方法でHDDスキャンイベントサービスの動作を示すフローチャートである。 図9に示されたHDDスキャニングスレッドの動作を示すフローチャートである。 図8に示されたテストスレッド実行イベントサービスの動作を示すフローチャートである。 図11に示されたテストスレッドによって行われる作業を示すフローチャートである。 ポート情報データ構造体,HDDスキャニングスレッド,テストスレッド,そしてディスプレイアップデートスレッドの関係を示すダイヤグラムである。 図8に示されたユーザインターフェースサービスの動作を示すフローチャートである。
符号の説明
800 HDDテストプログラム
802 初期化情報ロードモジュール
804 初期化モジュール
806 イベント待機モジュール
808 ハードディスクスキャンイベントサービスモジュール
810 テストスレッド実行イベントサービス
812 ユーザインターフェースサービス

Claims (26)

  1. ハードディスクドライブ(HDD)テスト装置に,それぞれがランダムに着脱されうる複数のHDDをテストするハードディスクドライブテスト方法において:
    HDDが装着されているかを検査する過程と;
    装着されたHDDそれぞれに,同時に行うことができるテストスレッドを,順次に割り当てる過程と;
    各前記テストスレッドが当該装着されたHDDに割り当てられた場合,当該装着されたHDDに対する各テストスレッドによって,テストにおける一連の作業を一つずつ行う過程と;
    前記テストスレッドのうち何れか一つによって一連のテスト作業中の一つが完了する度に,装着されたHDDそれぞれのテスト状態を記録する過程と;
    を含むことを特徴とする,ハードディスクドライブテスト方法。
  2. 前記一連のテスト作業には優先順位が付けられ,
    それぞれのテストスレッドによって,装着されたHDDに相応する前記テストスレッドで行われるテスト作業の優先順位と,他の装着されたHDDで行われる他のテスト作業の優先順位とを比較する過程と;
    前記テストスレッドに割り当てられたHDDで行われる作業の優先順位が他のHDDで行われる作業の優先順位より低いか,または同じである場合,作業を行わずに当該テストスレッドの実行を終了させる過程と;
    をさらに含むことを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  3. 装着されたHDDをテストする一連のテスト作業は,
    HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連テストスクリプトおよびコードを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,そして,テスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含み,
    リセットする作業が最も高い優先順位を有することを特徴とする,請求項2に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  4. 装着されたHDDに対して同時に割り当てられたテストスレッドの数は,HDDテスト装置の資源に依存して制限されることを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  5. 前記テストスレッドは,それぞれの装着されたHDDのテスト状態の記録によってハードディスクテスト装置の資源を効率的に共有するために,互いに通信することを特徴とする,請求項4に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  6. 前記HDDが装着されているかを検査する過程および各HDDにテストスレッドを,順次に割り当てる過程は周期的に行われることを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  7. 前記HDDが装着されているかを検査する過程は第1周期以内に行われ,
    前記それぞれのHDDにテストスレッドを,順次に割り当てる過程は第2周期以内に行われ,
    前記第1周期は前記第2周期より短いことを特徴とする,請求項6に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  8. 装着されたHDDをテストする一連のテスト作業は,
    HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連テストスクリプトおよびコードを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,テスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含むことを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  9. 当該装着されたHDDをテストする一連のテスト作業は,
    装着されたHDDのモデル名を確認する作業,および,データベースから前記モデル名に関連したテストスクリプトおよびコードをダウンロードする作業,をさらに含むことを特徴とする,請求項8に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  10. 各装着されたHDDのシリアルポートに連結される多重ポートシリアル通信スイッチの複数の入出力シリアルポートを通じて,それぞれの装着されたHDDへのシリアル通信チャンネルを選択的に確立する過程と;
    各装着されたHDDに対する各テストに相応するハードディスクポート情報データ構造体を発生させる過程と;
    各テストのHDDポート情報データ構造体に,装着されたHDDに対するシリアル通信チャンネルが確立された多重ポートシリアル通信スイッチの入出力シリアルポートのうち何れか一つのポート番号とテスト状態とを記録する過程と;
    HDDポート情報データ構造体によって各テストスレッドによる各テストの作業を同期化する過程と;
    をさらに備えることを特徴とする,請求項1に記載のハードディスクドライブテスト方法。
  11. 装着できる複数の装置それぞれをテストするための各作業完了状態の記録によって,テストソフトウェアスレッドが複数の作業を順次に一つずつ行う過程と;
    各装着された装置に対するテストソフトウェアスレッドの作業完了状態の記録によって,各装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて,各装着された装置に,各装着された装置をテストするための複数の作業のうちそれぞれの作業ごとに一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てる過程と;
    を含むテスト方法。
  12. HDDテスト装置にランダムに着脱されうる複数のHDDをテストするコンピュータプログラムが記録されたコンピュータで読み出し可能な記録媒体において:
    HDDスキャニングスレッド実行イベント,テストスレッド実行イベント,ユーザインターフェースサービスイベント,HDDスキャニングスレッド実行開始イベント,そしてテストスレッド実行開始イベントを含むグループのうちから選択されるイベントの発生を待機し,発生するイベントに相応するスレッドを呼び出すイベント待機モジュールと;
    HDDスキャニングスレッド実行イベントが呼び出された時,HDDの着脱を検査するスキャンイベントサービスモジュールと;
    テストスレッド実行イベントが発生する時,装着されたHDDとの通信を通じて装着されたHDDの状態を検査しつつ装着されたHDDをテストするテストスレッド実行イベントサービスモジュールと;
    を含むプログラムが記録された記録媒体。
  13. 前記テストスレッド実行イベントサービスモジュールは,
    前記装着されたHDDに対するそれぞれの作業毎に一つのテストスレッドを割り当てることによって,装着されたHDDをテストするために,装着されたHDDのうち何れか一つに対する一連の作業を順次に一つずつ行うことを特徴とする,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。
  14. 一連のテスト作業は,優先順位によって並べられ,
    前記テストスレッド実行サービスモジュールは,自身に割り当てられたHDDで行われる作業の優先順位と,他の装着されたHDDで行われる他の作業の優先順位とを比較し,割り当てられたHDDに対する作業の優先順位が他のHDDに対する作業の優先順位より低いか,または同じである場合,作業の遂行を終了するプログラムが記録されたことを特徴とする,請求項13に記載の記録媒体。
  15. 装着された複数のHDDのうち何れか一つを,装着されたHDDとしてテストする一連の作業は,
    HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連したテストコードおよびスクリプトを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,そしてテスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含み,
    前記リセットする作業が最も高い優先順位を有する,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項14に記載の記録媒体。
  16. 前記ユーザインターフェースサービスモジュールは,
    ユーザのテスト開始命令が入力された場合,HDDスキャニングスレッド実行開始イベントとテストスレッド実行開始イベントとを発生させ,
    前記HDDスキャニングスレッド実行開始イベントおよびテストスレッド実行開始イベントは,HDDスキャニングスレッド実行イベントおよびテストスレッド実行イベントをそれぞれ周期的に起動させる,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。
  17. 前記HDDスキャニングスレッド実行イベントは,第1周期以内に発生し,前記テストスレッド実行イベントは第2周期以内に発生し,
    前記第1周期は,前記第2周期より短い,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項16に記載の記録媒体。
  18. 同時に実行されうるテストスレッドの数は,HDDテスト装置の資源に依存して制限される,プログラムが記録されたことを特徴とする請求項13に記載の記録媒体。
  19. 前記テストスレッドは客体であってHDDテスト装置の資源を効率的に共有するために互いに通信する,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項18に記載の記録媒体。
  20. 装着されたHDDのうち何れか一つに対する前記テストスレッド実行イベントサービスモジュールは,
    前記装着されたHDDをテストするために前記テストスレッド実行イベントサービスモジュールが呼び出されたとき,一連の作業を一つずつ行い,
    前記一連の作業は,
    HDDに電源を供給する作業,HDDをリセットする作業,ダウンロードされた関連したテストスクリプトおよびコードを参照してHDDをセルフテストする作業,HDDのテスト終了の如何を検査する作業,テスト終了後HDDへの電源供給を中断させる作業を含む,プログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。
  21. 前記一連のテスト作業は,
    装着されたHDDのモデル名を確認する作業,およびデ,ータベースから前記モデル名に関連したテストコードおよびスクリプトをダウンロードする作業,をさらに含むプログラムが記録されたことを特徴とする,請求項20に記載の記録媒体。
  22. ユーザインターフェースサービスイベントが発生する時に呼び出され,ユーザに装着されたHDDのテスト状態を知らせるディスプレイアップデートスレッドサービスモジュールをさらに含むプログラムが記録されたことを特徴とする,請求項12に記載の記録媒体。
  23. 少なくともデバイステスト装置を制御するプログラムが保存されたデータ保存装置において:
    各装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて複数の装着できるデバイスのうちそれぞれをテストする各作業完了状態の記録によって,一つのテストソフトウェアスレッドが複数の作業を一つずつ行う過程と;
    各装着された装置に対するテストソフトウェアスレッドの作業完了状態の記録によって,各装着された装置に対するシリアル通信インターフェースを通じて各装着されたデバイスに各装着された装置をテストするための複数の作業のうちそれぞれの作業ごとに一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てる過程と;
    を含むプロセスによるプログラムが記録されたデータ保存装置。
  24. 複数の着脱可能なHDDと;
    単一のホストコンピュータとそれぞれのHDDとの間の通信チャンネルを選択的に確立する過程と;
    それぞれの装着されたHDDをテストする各作業完了状態の記録によって,テストソフトウェアスレッドが複数の作業を一つずつ行う過程と;
    各装着されたHDDに対するテストソフトウェアスレッドの作業完了状態の記録によって,各装着されたHDDに対するシリアル通信インターフェースを通じて各装着されたHDDに,各装着されたHDDをテストするための複数の作業のうちそれぞれの作業ごとに一つのテストソフトウェアスレッドを割り当てる過程と;
    を含み,
    各HDDの前記単一のホストコンピュータとのインターフェースに関係なく各装着されたハードディスクを直接テストできるプロセスによって前記単一のホストコンピュータを制御するプログラムが記録されたコンピュータプロセッサを含むハードディスクドライブテスト装置。
  25. 前記HDDそれぞれは,標準UARTポートを有し,
    前記単一のホストコンピュータは,少なくとも一つのシリアル通信ポートを有し,そして前記単一のホストコンピュータの一つのシリアル通信ポートとそれぞれのHDDの標準UARTポート間に選択的に確立されたシリアル通信チャンネルを通じてそれぞれのHDDを直接テストすることを特徴とする,請求項24に記載のハードディスクドライブテストテスト装置。
  26. 前記単一のホストコンピュータは,第1シリアル通信ポートとしての前記シリアル通信ポートおよび第2シリアル通信ポートを有し,
    前記HDDのシリアルポートに連結されるスイッチの複数の入出力シリアルポートのうち何れか一つと前記単一のホストコンピュータの第2シリアルポートとの間で,シリアル通信チャンネルを選択的に確立するように,前記単一のホストコンピュータによってシリアルポート選択チャンネルを確立するため前記第1および第2シリアル通信ポートに循環的に通信可能に連結されうる多重ポートシリアル通信スイッチをさらに含むことを特徴とする,請求項24に記載のハードディスクドライブテスト装置。

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007066126A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法
JP2009176101A (ja) * 2008-01-25 2009-08-06 Fujitsu Ltd 情報処理装置及びシステム、並びに、記憶領域管理方法及びプログラム
KR102251743B1 (ko) * 2020-10-08 2021-05-13 주식회사 리포나 정보 제공 장치의 보수 관리 방법 및 시스템

Families Citing this family (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100461117C (zh) * 2005-12-07 2009-02-11 微星科技股份有限公司 可调整工作频率的硬件元件的效能最佳化方法
KR100714863B1 (ko) * 2005-12-27 2007-05-07 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브의 번-인 테스트 과정을 제어할 수있는 방법, 기록매체 및 하드디스크 드라이브
CN100458966C (zh) * 2005-12-29 2009-02-04 深圳易拓科技有限公司 硬盘综合测试系统
CN100461126C (zh) * 2006-05-23 2009-02-11 纬创资通股份有限公司 计算机外设接口测试装置
KR100779114B1 (ko) * 2006-10-04 2007-11-27 (주)명정보기술 스카시 인터페이스 변환 기술을 적용한 하드디스크 다중테스트장치
US7730293B2 (en) * 2006-10-26 2010-06-01 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Hard disk drive self-test system and method
CN101388254B (zh) * 2007-09-13 2010-12-15 英业达股份有限公司 存储装置的测试方法
US7996174B2 (en) 2007-12-18 2011-08-09 Teradyne, Inc. Disk drive testing
US8549912B2 (en) 2007-12-18 2013-10-08 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US8179625B1 (en) 2008-03-26 2012-05-15 Xyratex Technology Limited Method for fast verification of servo patterns and test on magnetic media
US8238099B2 (en) 2008-04-17 2012-08-07 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8041449B2 (en) 2008-04-17 2011-10-18 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
US8117480B2 (en) 2008-04-17 2012-02-14 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
US7848106B2 (en) 2008-04-17 2010-12-07 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8160739B2 (en) 2008-04-17 2012-04-17 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
US8095234B2 (en) 2008-04-17 2012-01-10 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
US7945424B2 (en) 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
US8305751B2 (en) 2008-04-17 2012-11-06 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US20090262455A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature Control Within Disk Drive Testing Systems
US8102173B2 (en) 2008-04-17 2012-01-24 Teradyne, Inc. Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit
MY149779A (en) 2008-06-03 2013-10-14 Teradyne Inc Processing storage devices
US8095332B2 (en) * 2008-09-10 2012-01-10 Getac Technology Corporation Method for pre-heating hard disk drive of computer device
US8352795B2 (en) * 2009-02-11 2013-01-08 Honeywell International Inc. High integrity processor monitor
US8547123B2 (en) 2009-07-15 2013-10-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system with a conductive heating assembly
US7920380B2 (en) 2009-07-15 2011-04-05 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US8628239B2 (en) 2009-07-15 2014-01-14 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8687356B2 (en) 2010-02-02 2014-04-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8466699B2 (en) 2009-07-15 2013-06-18 Teradyne, Inc. Heating storage devices in a testing system
US7995349B2 (en) 2009-07-15 2011-08-09 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8116079B2 (en) 2009-07-15 2012-02-14 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US8687349B2 (en) 2010-07-21 2014-04-01 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9001456B2 (en) 2010-08-31 2015-04-07 Teradyne, Inc. Engaging test slots
CN102023272B (zh) * 2010-12-24 2014-03-26 许继电气股份有限公司 一种高压直流输电换流暂态低电压试验方法及其电路
US10803970B2 (en) * 2011-11-14 2020-10-13 Seagate Technology Llc Solid-state disk manufacturing self test
US8645774B2 (en) 2011-12-13 2014-02-04 International Business Machines Corporation Expedited memory drive self test
US8850290B2 (en) * 2012-11-09 2014-09-30 International Business Machines Corporation Error rate threshold for storage of data
US9021321B2 (en) * 2012-12-10 2015-04-28 International Business Machines Corporation Testing disk drives shared by multiple processors in a supercomputer complex
US9459312B2 (en) 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
CN104678233A (zh) * 2013-12-02 2015-06-03 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 一种光盘驱动器测试机的工作步骤
CN104678234A (zh) * 2013-12-02 2015-06-03 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 一种光盘驱动器测试机
CN104678129A (zh) * 2013-12-02 2015-06-03 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 一种光盘驱动器测试机的线板插针检测板
CN104678232A (zh) * 2013-12-02 2015-06-03 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 一种光盘驱动器测试机的检测座
CN104850480B (zh) * 2015-05-18 2017-08-18 曙光信息产业(北京)有限公司 高密度存储服务器硬盘性能测试的方法及装置
US11119893B2 (en) * 2015-09-22 2021-09-14 Advanced Micro Devices, Inc. Computing system with wireless debug code output
CN106294084A (zh) * 2016-09-12 2017-01-04 恒为科技(上海)股份有限公司 一种硬盘状态监测系统
CN106647689A (zh) * 2016-09-30 2017-05-10 杭州迪普科技股份有限公司 一种整机测试系统
CN107025156B (zh) * 2017-04-14 2020-02-21 苏州浪潮智能科技有限公司 一种基于Windows系统的计算机老化方法
CN109086173B (zh) * 2017-06-13 2022-08-16 龙芯中科技术股份有限公司 一种操作系统的设备测试方法、装置和存储介质
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
CN107507649A (zh) * 2017-09-26 2017-12-22 苏州恒成芯兴电子技术有限公司 一种适用于固态硬盘的全自动测试系统及其方法
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
CN110335637B (zh) * 2019-04-18 2021-06-29 深圳市德明利技术股份有限公司 一种对存储设备进行测试的方法和装置以及设备
CN110333975B (zh) * 2019-04-18 2023-05-02 深圳市德明利技术股份有限公司 一种存储设备的测试方法和装置以及设备
CN111045903A (zh) * 2019-10-25 2020-04-21 武汉迎风聚智科技有限公司 高并发的tpc-e测试方法以及装置
US11106557B2 (en) * 2020-01-21 2021-08-31 EMC IP Holding Company LLC Persistence points based coverage mechanism for flow testing in high-performance storage systems
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US12007411B2 (en) 2021-06-22 2024-06-11 Teradyne, Inc. Test socket having an automated lid
CN113760615B (zh) * 2021-07-30 2024-05-14 郑州云海信息技术有限公司 一种固态硬盘单板检测方法和相关装置
CN113742151A (zh) * 2021-09-06 2021-12-03 江苏芯盛智能科技有限公司 多版本cdm工具自动测试方法、装置和计算机设备

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS605646A (ja) 1983-06-23 1985-01-12 Techno Paaku Mine:Kk マルチプレクサ
JPS639337A (ja) 1986-06-30 1988-01-16 Pfu Ltd シリアルインタフエ−スを用いるシステムの通信制御方式
US4888549A (en) * 1987-10-30 1989-12-19 Wilson Laboratories, Inc. System for testing individually a plurality of disk drive units
JPH01222549A (ja) 1988-03-02 1989-09-05 Fujitsu Ltd 2チャネル自動ダイヤル方式
JP2830269B2 (ja) 1990-01-12 1998-12-02 ソニー株式会社 ディスク装置
CA2048034C (en) 1990-07-31 1997-10-07 Mitsuru Kurata Ink jet recording apparatus
US5357519A (en) * 1991-10-03 1994-10-18 Apple Computer, Inc. Diagnostic system
JP2548480B2 (ja) * 1992-02-10 1996-10-30 富士通株式会社 アレイディスク装置のディスク装置診断方法
US5644705A (en) * 1995-01-11 1997-07-01 International Business Machines Corporation Method and apparatus for addressing and testing more than two ATA/IDE disk drive assemblies using an ISA bus
CN1060575C (zh) * 1995-02-17 2001-01-10 宏碁电脑股份有限公司 测试电脑硬盘驱动器型号的方法及装置
JP3328723B2 (ja) 1995-04-27 2002-09-30 オムロン株式会社 通信処理装置、及びこれを有するプログラマブルコントローラ
US5875293A (en) * 1995-08-08 1999-02-23 Dell Usa, L.P. System level functional testing through one or more I/O ports of an assembled computer system
US5708663A (en) * 1996-04-22 1998-01-13 Adtran, Inc. ISDN terminal adapter for use with external modem and employing software-based serial communication framing for ISDN `D` channel signaling
KR19980035445A (ko) 1996-11-13 1998-08-05 김광호 하드디스크 드라이브의 테스트장치
KR100214308B1 (ko) * 1996-05-11 1999-08-02 윤종용 하드디스크 드라이브의 테스트장치
KR100229034B1 (ko) 1996-10-31 1999-11-01 윤종용 하드디스크의 드라이브의 번인 테스트용 착탈지그
KR100403039B1 (ko) 1996-12-14 2003-12-18 삼성전자주식회사 포고 핀을 이용한 하드 디스크 드라이브 테스트용 착탈지그의 드라이브 착탈방법
US6208477B1 (en) * 1997-06-06 2001-03-27 Western Digital Corporation Hard disk drive having a built-in self-test for measuring non-linear signal distortion
KR19990060610A (ko) 1997-12-31 1999-07-26 윤종용 교환시스템에서의 통신용 디바이스 온라인 상태 체크방법
KR100542698B1 (ko) 1997-12-31 2006-04-06 삼성전자주식회사 보조기억장치 테스트장비 보호 방법 및 장치
KR100505586B1 (ko) 1998-01-14 2005-09-30 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브의 번-인 테스트 진행 상태 판별 장치 및방법
KR100460766B1 (ko) 1998-02-21 2005-01-17 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브용 테스트장치의 착탈장치
US6434498B1 (en) * 1998-06-26 2002-08-13 Seagate Technology Llc Hard disc drive verification tester
US6434499B1 (en) * 1998-06-26 2002-08-13 Seagate Technology Llc Hard disc drive verification tester
US6389560B1 (en) 1999-01-19 2002-05-14 Sun Microsystems, Inc. Universal serial bus interpreter
US6317798B1 (en) * 1999-02-11 2001-11-13 Hewlett-Packard Company Remote initiation of BIOS console redirection
US6516053B1 (en) * 1999-06-21 2003-02-04 National Instruments Corporation System and method for testing telecommunication service installations
KR20010049089A (ko) 1999-11-30 2001-06-15 서평원 간이 전자교환기의 데이터통신 관리장치 및 그 방법
KR100334154B1 (ko) 1999-12-04 2002-04-25 김원기 응집기의 운전방법 및 그 장치
JP3388726B2 (ja) 2000-07-06 2003-03-24 株式会社ユタカ技研 2通路排気管及びその製造方法
CN1254744C (zh) * 2001-02-14 2006-05-03 英业达股份有限公司 利用存取装置执行操作系统以对电脑进行测试的方法
US6971084B2 (en) * 2001-03-02 2005-11-29 National Instruments Corporation System and method for synchronizing execution of a batch of threads
WO2002087211A2 (en) * 2001-04-25 2002-10-31 Pemstar, Inc. Hard drive test fixture
KR100438770B1 (ko) * 2001-05-28 2004-07-05 삼성전자주식회사 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법 및최적화된 설계 파라미터 적용 방법
US6850994B2 (en) * 2001-11-16 2005-02-01 Microsoft Corporation Method for determining status of a computer device and detecting device behavior in response to a status request

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007066126A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法
US8027801B2 (en) 2005-09-01 2011-09-27 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Multi drive test system for data storage device
JP2009176101A (ja) * 2008-01-25 2009-08-06 Fujitsu Ltd 情報処理装置及びシステム、並びに、記憶領域管理方法及びプログラム
US8341468B2 (en) 2008-01-25 2012-12-25 Fujitsu Limited Information apparatus
KR102251743B1 (ko) * 2020-10-08 2021-05-13 주식회사 리포나 정보 제공 장치의 보수 관리 방법 및 시스템

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