KR100438770B1 - 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법 및최적화된 설계 파라미터 적용 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 설정 및 적용 방법에 관한 것으로서, 특히 제품 사용 시간과 특성의 변화로 인한 불량을 미리 예측하여, 불량이 예측된 조건에서의 신호 처리 회로에 적용되는 설계 파라미터들을 최적화시켜 저장하고, 데이터 저장 시스템의 사용 조건이 변경되어 에러가 발생되는 경우에 미리 예측된 조건에서 최적화시킨 설계 파라미터들을 적용하여 신호 처리를 실행시키는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법 및 최적화된 설계 파라미터 적용 방법에 관한 것이다.

본 발명에 의하면 데이터 저장 시스템이 품질 보증하는 사용 기간 및 사용 빈도수를 대폭적으로 늘릴 수 있는 효과가 발생된다.

Description

데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법 및 최적화된 설계 파라미터 적용 방법{Method for optimizing design parameters and method for setting the optimized design parameters in data storage system}

본 발명은 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 설정 및 적용 방법에 관한것으로서, 특히 제품 사용 시간과 특성의 변화로 인한 불량을 미리 예측하여, 불량이 예측된 조건에서의 신호 처리 회로에 적용되는 설계 파라미터들을 최적화시켜 저장하고, 데이터 저장 시스템의 사용 조건이 변경되어 에러가 발생되는 경우에 미리 예측된 조건에서 최적화시킨 설계 파라미터들을 적용하여 신호 처리를 실행시키는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법 및 최적화된 설계 파라미터 적용 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 시스템을 구성하는 모든 부품들은 시간의 경과 및 사용에 의하여 손실이 필연적으로 발생된다. 데이터 저장 시스템 중의 하나인 하드 디스크 드라이브의 경우에 있어서도 마찬가지로 시간의 경과 및 사용 빈도에 따라서 기록매체의 보자력이 변하게 되는데, 이로 인하여 자화된 신호의 감쇄가 일어나게 된다. 또한, 헤드의 반복된 사용(리드/라이트)으로 인하여 헤드 성능의 저하 등이 발생하게 된다. 이러한 진행성 성능 저하는 제품의 사용 초기에는 문제가 되지 않으나, 사용 시간의 경과에 따라서는 궁극적으로 불량을 유발시키게 된다. 이러한 손실은 저장 매체에 저장된 아날로그 신호를 유저 데이터인 디지털 신호로 변환시키는 과정에서 전기 신호가 부적절하게 되며, 이로 인하여 오류를 발생시켜 제품의 불량을 유발시키게 된다.

종래의 기술에 의한 하드 디스크 드라이브의 설계 파라미터 설정 방법은 일반적인 테스트 조건을 갖는 번인 (Burn-In) 공정에서 기록 전류(Write current), 독출 전류(Read current) 및 각종 필터 계수들을 일률적으로 결정하였다. 이 계수들은 하드 디스크 드라이브의 읽기(Read) 특성에 중대한 영향을 주는 계수들이며,현재와 같은 방법으로 계수들을 결정함에 따라 현재의 각 부품의 상태에 최적화 되어있다. 그러나, 하드 디스크 드라이브의 부품들은 시간의 경과에 따라 열화되고, 특히 읽기 특성을 담당하는 리드 센서(Read sensor)는 다른 부품에 비하여 수명이 더 낮아 짧은 기간에 하드 디스크 드라이브의 성능을 저하시켜 불량을 유발시키는 원인이 되어왔다. 그러나, 전술한 바와 같은 방법으로 종래 기술에 의한 방법으로 설정되어 있는 고정된 설계 파리미터들은 시간의 경과 및 사용 빈도의 증가에 따라서 시스템을 구성하는 부품 중에서 특히 읽기 특성을 담당하는 리드 센서의 열화 특성에 기인하여 각 계수들이 변경된 리드 센서의 특성에 부합하지 못하게 되는데, 이로 인하여 시스템을 최적화시키지 못하게 되고, 최종적으로 읽기 에러를 유발시켜 신호 처리시에 불량을 발생시키는 문제점이 있었다.

본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 상술한 문제점을 해결하기 위하여 시간의 경과 및 제품 사용의 빈도수에 따른 제품의 특성 변화를 예측하여 손실이 진행된 조건을 포함하여 다양한 조건에서의 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 설계 파라미터들을 설정하여 저장시킨 후에, 데이터 저장 시스템의 사용 조건이 변경되어 에러가 발생되는 경우에 미리 예측된 조건에서 최적화시킨 설계 파라미터들을 적용하여 신호 처리를 실행시키는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법 및 최적화된 설계 파라미터 적용 방법을 제공하는데 있다.

도 1은 본 발명이 적용되는 하드 디스크 드라이브의 구성의 평면도이다.

도 2는 하드 디스크 드라이브를 제어하는 전기 시스템의 회로도이다.

도 3은 본 발명에 의한 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법의 흐름도이다.

도 4는 본 발명에 의한 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 적용 방법의 흐름도이다.

도 5는 헤드 앰프의 변화에 따른 BER의 특성을 도시한 것이다.

도 6은 FIR 필터의 제1,2,3 조건에 대한 파라미터 값을 나타낸다.

도 7은 도 6의 테이블을 적용한 에러 레이트(error rate) 곡선이다.

도 8은 도 7의 줌(zoom) 곡선이다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 데이터 저장 시스템의설계 파라미터 최적화 방법은 데이터 저장 시스템의 설계 변수 설정 방법에 있어서, (a) 일반적인 번인 테스트 조건에서 상기 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 제1의 설계 파라미터 값들을 결정하여 저장하는 단계, (b) 상기 데이터 저장 시스템에서 예측되는 진행성 불량 발생 조건을 생성시키는 단계 및 (c) 상기 예측되는 진행성 불량 조건에서 상기 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 제3의 설계 파라미터 값들을 설정하여 저장하는 단계를 포함함을 특징으로 한다.

상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법의 제1실시 예는 데이터 저장 시스템의 신호 처리 방법에 있어서, (a) 일반적인 번인 테스트 조건에서 최적화된 제1의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 실행시키는 단계 및 (b) 상기 단계(a)에 의한 신호 처리 과정에서 에러가 발생되는 경우에, 진행성 불량 조건에서 최적화된 제3의 설계 파라미터들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 재시도하는 단계를 포함함을 특징으로 한다.

위의 단계(a)에서 얻어진 파라미터 값이 디폴트(default) 값이 되며, 정상적인 경우의 읽기 모드에서 이용된다.

상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법의 제2실시 예는 데이터 저장 시스템의 신호 처리 방법에 있어서, (a) 일반적인 번인 테스트 조건에서 최적화된 제1의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 실행시키는 단계, (b) 상기 단계(a)에 의한 신호 처리 과정에서 에러가 발생되는 경우에, 진행성 불량 조건에서 최적화된 제3의 설계 파라미터 값들과 상기 제1의 설계 파라미터 값들의 평균값으로 설정된 제2의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 재시도하는 단계 및 (c) 상기 단계(b)에 의한 신호 처리 과정에서 에러가 발생되는 경우에, 상기 제3의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 재시도하는 단계를 포함함을 특징으로 한다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명이 적용되는 하드 디스크 드라이브(10)의 구성을 보여준다. 드라이브(10)는 스핀들 모터(14)에 의하여 회전되는 적어도 하나의 자기 디스크(12)를 포함하고 있다. 드라이브(10)는 디스크 표면(18)에 인접되게 위치한 변환기(도면에 미도시)를 또한 포함하고 있다.

변환기는 각각의 디스크(12)의 자계를 감지하고 자화시킴으로써 회전하는 디스크(12)에서 정보를 읽거나 기록할 수 있다. 전형적으로 변환기는 각 디스크 표면(18)에 결합되어 있다. 비록 단일의 변환기로 설명되어 있지만, 이는 디스크(12)를 자화시키기 위한 기록용 변환기와 디스크(12)의 자계를 감지하기 위한 분리된 읽기용 변환기로 이루어져 있다고 이해되어야 한다. 읽기용 변환기는 자기 저항(MR : Magneto-Resistive) 소자로부터 구성되어 진다.

변환기는 헤드(20)에 통합되어 질 수 있다. 헤드(20)는 변환기와 디스크 표면(18)사이에 공기 베어링(air bearing)을 생성시키는 구조로 되어 있다. 헤드(20)는 헤드 스택 어셈블리(Head Stack Assembly:22)에 결합되어 있다. 헤드 스택 어셈블리(22)는 보이스 코일(26)을 갖는 엑츄에이터 암(24)에 부착되어 있다. 보이스 코일(26)은 보이스 코일 모터(VCM : Voice Coil Motor 30)를 특정하는 마그네틱 어셈블리(28)에 인접되게 위치하고 있다. 보이스 코일(26)에 공급되는 전류는 베어링 어셈블리(32)에 대하여 엑츄에이터 암(24)을 회전시키는 토오크를 발생시킨다. 엑츄에이터 암(24)의 회전은 디스크 표면(18)을 가로질러 변환기를 이동시킬 것이다.

정보는 전형적으로 디스크(12)의 환상 트랙내에 저장된다. 각 트랙(34)은 일반적으로 복수의 섹터를 포함하고 있다. 각 섹터는 데이터 필드(data field)와 식별 필드(identification field)를 포함하고 있다. 식별 필드는 섹터 및 트랙(실린더)을 식별하는 그레이 코드(Gray code)를 포함하고 있다. 변환기는 다른 트랙에 있는 정보를 읽거나 기록하기 위하여 디스크 표면(18)을 가로질러 이동된다.

도 2는 하드 디스크 드라이브(10)를 제어할 수 있는 전기 시스템(40)을 보여준다. 시스템(40)은 리드/라이트(R/W) 채널 회로(44) 및 프리-앰프 회로(46)에 의하여 헤드(20)에 결합된 콘트롤러(42)를 포함하고 있다. 콘트롤러(42)는 디지털 신호 프로세서(DSP : Digital Signal Processor), 마이크로프로세서, 마이크로콘트롤러 등이 된다. 콘트롤러(42)는 디스크(12)로부터 읽거나 또는 디스크(12)에 정보를 기록하기 위하여 읽기/쓰기 채널(44)로 제어신호를 공급한다. 정보는 전형적으로 R/W 채널로부터 호스트 인터페이스 회로(47)로 전송된다. 호스트 인터페이스 회로(47)는 퍼스널 컴퓨터와 같은 시스템에 인터페이스하기 위하여 디스크 드라이브를 허용하는 버퍼 메모리 및 제어 회로를 포함하고 있다.

콘트롤러(42)는 보이스 코일(26)에 구동 전류를 공급하는 VCM 구동 회로(48)에 또한 결합되어 있다. 콘트롤러(42)는 VCM의 여기 및 변환기의 움직임을 제어하기 위하여 구동 회로(48)로 제어신호를 공급한다.

콘트롤러(42)는 읽기 전용 메모리(ROM : Read Only Memory) 또는 플레쉬 메모리 소자(50)와 같은 비휘발성 메모리 및 랜덤 악세스 메모리(RAM : Random Access Memory) 소자(52)에 결합되어 있다. 메모리 소자(50, 52)는 소프트웨어 루틴을 실행시키기 위하여 콘트롤러(42)에 의하여 사용되어지는 명령어 및 데이터를 포함하고 있다. 소프트웨어 루틴의 하나로서 한 트랙에서 다른 트랙으로 변환기를 이동시키는 시크 루틴이 있다. 시크 루틴은 변환기를 정확한 트랙으로 이동시키는 것을 보증하기 위한 서보 제어 루틴을 포함하고 있다.

또한, 메모리 소자(50, 52)에는 일반적인 번인 테스트 조건에서 상기 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 제1의 설계 파라미터 값, 본 발명에 의하여 예측되는 진행성 불량 조건에서 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 제3의 설계 파라미터 값 및 제1의 설계 파라미터 값과 제3의 설계 파라미터 값들의 평균값으로 결정된 제2의 설계 파라미터 값들이 저장되어 있다.

도 3은 본 발명에 의한 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법의 흐름도를 도시한 것이다. 이를 단계별로 상세히 설명하기로 한다.

단계301 ∼ 단계306은 일반적인 조건에서의 번인 테스트 공정에 해당된다.

즉, 하드 디스크 드라이브의 주변 환경을 고온으로 가열하여 일반적인 번인 테스트 조건으로 만든다(단계301). 이는 신호의 손실에 대비하기 위하여 하드 디스크 드라이브를 악조건에 초점을 맞추어 정상적으로 동작시키기 위한 마진을 갖도록고온의 스트레스를 하드 디스크 드라이브에 인가하는 것이다.

일반적인 번인 테스트 조건을 만든 후에, 하드 디스크 드라이브의 설계 파라미터에 해당되는 기록 전류(Wc), 독출 전류(Rc), 저역통과필터(LPF) 계수, FIR 필터 탭을 최적화시키는 프로세스를 다음과 같이 실행한다(단계302∼단계305).

기록 전류는 기록 헤드와 디스크 면들의 특성을 고려하여 최적화시키는데, 일 예로서, 기록전류 제어값에 대응하는 듀티를 가지는 PWM신호에 의해 기록전류를 조정하며, 기록전류 제어값을 PWM신호에 의해 일정 범위내에서 단계적으로 증가시키면서 각 단계마다 일정 횟수만큼 독출시험을 하고, 그에 따른 에러발생횟수에 근거하여 최적의 기록전류 제어값을 설정한다.

독출 전류는 독출 헤드의 자재별 전기 응답에 대하여 에러 발생 횟수를 최소화시키도록 최적화시킨다.

저역통과필터 계수는 아날로그 신호 처리에 사용되는 저역통과필터의 부스트 값, 주파수 특성 등을 결정하는 파라미터로서 에러 발생이 최소화되는 값으로 결정한다.

FIR 필터 탭은 디지털 신호 처리에 사용되는 FIR 필터의 탭을 에러 발생이 최소화되는 값으로 결정한다.

이와 같이 일반적인 번인 테스트 조건에서 최적화된 기록 전류(Wc), 독출 전류(Rc), 저역통과필터(LPF) 계수, FIR 필터 탭에 관한 파라미터 값을 제1의 설계 파라미터 값으로 메모리(50)에 저장한다(단계306).

다음으로, 하드 디스크 드라이브를 예측되는 진행성 불량(failure) 발생 조건으로 인위적으로 다음과 같이 만든다(단계307).

n-1 트랙과 n+1에 라이트를 반복한 후에 n트랙에서 데이터를 독출하면서 독출된 신호의 AGC(Automatic Gain Control) 이득 값을 모니터링하면, 인접 트랙에 라이트하는 횟수에 비례하여 AGC 이득값이 증가되는 것을 알 수 있다. 이는 인접 트랙에 라이트를 반복하면 누설 플럭스(leakage flux)로 인하여 AGC 이득값이 포화될 때까지 선형적으로 증가시키게 된다. 헤드 앰프에서 출력되는 신호의 크기는 AGC 이득값과 반비례하는 관계를 갖고 있으므로 인접 트랙에 라이트하는 횟수에 비례하여 선형적으로 헤드 앰프의 출력이 감소됨을 알 수 있다.

그리고, 헤드 앰프의 출력 감소에 따라서 도 5에 도시된 바와 같이 BER(Bit Error Rate)이 증가되는 것을 알 수 있다.

이는 하드 디스크 드라이브와 같은 마그네틱 장치는 모두 시간 변화에 따른 물성의 변화와 외부 환경의 변화가 헤드 앰프의 감소로 나타나게 된다. 이로 인하여 헤드 앰프 감소(손실) 전에 최적화되었던 신호 처리에 관계되는 설계 파라미터 값들은 반복된 사용에 따라 변화된 환경에서 하드 디스크 드라이브를 최적화시키지 못하여 신호 처리 과정에서 에러를 발생시키게 된다.

본 발명에서는 이와 같이 시간의 경과 및 반복된 사용에 따라 고객 환경에서 발생이 예측되는 진행성 불량 발생 조건을 공장 제조 단계에서 고객의 사용 환경에서 하드 디스크 드라이브가 최악의 조건이 발생되는 시점을 만들고, 이에 대한 계수의 최적값을 찾아내어 고객 환경에서 최악이 되는 시점이 되더라도 이 시점에 적합한 파라미터를 공자 제조 단계에서 미리 결정한 제2 또는 제3의 값을 적용하여신호처리하여 제품의 수명을 연장시키고 불량을 방지하게 된다. 고객 환경에서 예상되는 최악의 시점은 하드 디스크 드라이브의 시간 경과에 따른 부품들의 열화의 결과가 마그네틱 헤드의 출력값(Amplitude)의 감소라는 점에 착안하여, 이와 동일한 상태를 구현하기 위하여 계수를 결정하는 판단 근거가 될 신호가 기록되어 있는 트랙의 인접 트랙에 오프 트랙 기록을 반복하여 판단 근거가 될 트랙의 신호를 인접 트랙 기록이 침범하여 판단 근거가 될 트랙에 간섭을 주어 판단 근거가 될 트랙의 신호 크기를 작게 만든다. 인접 트랙의 반복 기록 횟수는 동일한 상태에서 인접 트랙에서의 오프 트랙 기록을 하여 최초의 공정에서 부품의 최적화된 상태에서 얻어진 계수 값으로 결정의 판단 근거가 될 트랙의 불량이 발생될 때까지 오프 트랙 기록을 실행시키는 조건으로 결정한다.

그리고 나서, 이러한 진행성 불량 발생 조건에서 하드 디스크 드라이브의 설계 파라미터 중에서 진행성 불량에 관련된 설계 변수에 해당되는 독출 전류(Rc), 저역통과필터(LPF) 계수, FIR 필터 탭에 관련된 파라미터들을 최적화시키는 프로세스를 실행한다(단계308∼단계310).

이와같이, 예측되는 진행성 불량 발생 조건에서 최적화된 설계 파라미터인 독출 전류(Rc), 저역통과필터(LPF) 계수, FIR 필터 탭에 관한 파라미터 값들을 제3의 설계 파라미터 값으로 메모리에 저장한다(단계311).

그리고 나서, 일반적인 번인 테스트 조건(제1조건)과 예측되는 진행성 불량 발생 조건(제3조건)의 중간 조건에 적합한 설계 파라미터 값들을 구하기 위하여 제1의 설계 파라미터 값과 제3의 설계 파라미터 값의 평균값을 연산하여 제2의 설계 파라미터 값으로 설정하여 메모리에 저장한다(단계312).

이와 같은 방법에 의하여 일반적인 번인 테스트 조건에서 설정된 제1의 설계 파라미터 값과 진행성 불량이 발생되는 조건에서 설정된 제3의 설계 파라미터 값 및 이들의 중간 조건에 적합한 제2의 설계 파라미터 값들을 각각 메모리에 저장하여 하드 디스크 드라이브의 사용 조건의 변화에 적합한 설계 파라미터 값이 적용될 수 있도록 한다.

위의 일 실시 예에서는 제1,2,3의 3가지 조건에서의 설계 파라미터 값들을 설정하였는데, 설계 마진이 큰 경우에는 제1,3의 2가지 조건에서의 설계 파라미터 값을 설정하여, 이를 하드 디스크 드라이브의 신호 처리 회로에 적용할 수도 있다.

이와 같이, 여러 조건에서 설정된 제1,2,3의 설계 파라미터 값들을 실제 하드 디스크 드라이브에서 적용하여 신호 처리하는 방법을 도 4의 흐름도를 중심으로 설명하기로 한다.

우선, 하드 디스크 드라이브의 콘트롤러(42)에 호스트 인터페이스(47)로부터 독출 명령이 인가되면, 하드 디스크 드라이브의 신호 처리 회로의 설계 파라미터 값들의 초기값은 일반적인 번인 테스트 조건에서 최적화시킨 제1의 파라미터 값들을 적용하여 독출 프로세스를 실행한다(단계401).

제1의 설계 파라미터 값들을 적용하여 독출 프로세스를 실행하는 과정에서 에러가 발생되는지를 판단하여(단계402), 에러가 발생되면 콘트롤러(42)는 재시도(retry) 루틴을 요구한 후에(단계403), 하드 디스크 드라이브에 적용된 설계 파라미터 값들을 제2의 설계 파라미터 값들로 변경시킨 후에 에러가 발생된 트랙에서 독출 프로세스를 재시도한다(단계404).

제2의 설계 파라미터 값들을 적용하여 독출 프로세스를 실행하는 과정에서 에러가 발생되는지를 판단하여(단계405), 에러가 발생되면 하드 디스크 드라이브의 적용된 설계 파라미터 값들을 제3의 설계 파라미터 값들로 변경시킨 후에 에러가 발생된 트랙에서 독출 프로세스를 재시도한다(단계406).

제3의 설계 파라미터 값들을 적용하여 독출 프로세스를 실행하는 과정에서 에러가 발생되는지를 판단하여(단계407), 에러가 발생되면 최종적으로 에러가 발생되었다는 정보를 생성시켜 호스트 인터페이스(47)를 통하여 호스트 컴퓨터(도면에 미도시)로 전송한다(단계408).

만일 단계402, 단계405 및 단계407에서 에러가 발생되지 않은 것으로 판단되면, 호스트 인터페이스(48)로부터 입력되는 다음 코멘드를 실행시킨다(단계409).

도 6은 일 예로서 제1의 조건(A), 제3의 조건(B) 및 제2의 조건((A+B)/2)에서의 FIR 필터의 파라미터 값을 테이블로 표시한 것이며, 도 6의 테이블을 적용하여 실제로 고객 환경에서 부품의 열화로 인해 번인 공정에서 최적화되어 있던 계수로 에러가 발생하는 드라이브에 적용하여 에러 레이트를 측정한 결과를 도 7 및 도 8에 도시하였다.

도 7에 도시된 바와 같이, 제1의 조건(A)의 파라미터 값을 적용하는 경우에 시간의 경과와 반복 사용에 의해 점점 리드 아웃(read out)이 나빠지면서 급격히 에러 레이트가 나빠지는 현상을 보여주고 있으며, 제3의 조건(B) 및 제2의 조건(Half of A B)의 파라미터 값을 적용하면 가장 나쁜 상태에서도 에러 레이트가 양품 수준으로 향상됨을 보여준다.

또한, 도 8을 보면 초기의 베스트한 경우에서는 제1의 조건(A)의 파라미터 값을 적용하면 에러 레이트가 좋게 나타남을 알 수 있다. 그러나, 시간이 경과함에 따라 급격히 에러 발생 빈도가 높아지게 되는데, 제2의 조건(B) 및 제3의 조건(C)은 초기의 베스트한 경우에는 제1의 조건보다 에러 발생 빈도가 높았으나, 시간의 경과와 반복 사용에 의해 리드 센서(Read sensor ; head)가 열화되어 리드 아웃(Amplitude)이 낮아져서 더 나쁜 상태가 되면 적절한 계수임이 증명된다.

이는 외부 환경이나 자재의 물성 변화로 인하여 리드 아웃이 나빠져도 이러한 조건을 예측하여 설정된 제2,3의 조건에서 최적화시킨 설계 파라미터들을 적용함으로써 불량을 막을 수 있으며 제품의 수명을 늘릴 수 있게 된다는 것을 의미한다.

위의 일 실시 예에서는 설계 파라미터 값들을 3가지 조건에서 설정한 후에, 에러 발생되는 경우마다 설계 파라미터 값들을 변경시켜 재시도하여 신호 처리하였으나, 설계 마진이 큰 경우에는 제1조건의 설계 파라미터 값들과 제3조건의 설계 파라미터 값만을 이용하여 신호 처리할 수 있도록 프로그램할 수도 있다.

본 발명은 방법, 장치, 시스템 등으로서 실행될 수 있다. 소프트웨어로 실행될 때, 본 발명의 구성 수단들은 필연적으로 필요한 작업을 실행하는 코드 세그먼트들이다. 프로그램 또는 코드 세그먼트들은 프로세서 판독 가능 매체에 저장되어 질 수 있으며 또는 전송 매체 또는 통신 망에서 반송파와 결합된 컴퓨터 데이터 신호에 의하여 전송될 수 있다. 프로세서 판독 가능 매체는 정보를 저장 또는 전송할수 있는 어떠한 매체도 포함한다. 프로세서 판독 가능 매체의 예로는 전자 회로, 반도체 메모리 소자, ROM, 플레쉬 메모리, 이레이져블 ROM(EROM : Erasable ROM), 플로피 디스크, 광 디스크, 하드 디스크, 광 섬유 매체, 무선 주파수(RF) 망, 등이 있다. 컴퓨터 데이터 신호는 전자 망 채널, 광 섬유, 공기, 전자계, RF 망, 등과 같은 전송 매체 위로 전파될 수 있는 어떠한 신호도 포함된다.

첨부된 도면에 도시되어 설명된 특정의 실시 예들은 단지 본 발명의 예로서 이해되어 지고, 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 본 발명에 기술된 기술적 사상의 범위에서도 다양한 다른 변경이 발생될 수 있으므로, 본 발명은 보여지거나 기술된 특정의 구성 및 배열로 제한되지 않는 것은 자명하다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 의하면 제품 사용 시간과 특성의 변화로 인한 불량을 미리 예측하여, 진행성 불량이 예측된 조건에서의 신호 처리 회로에 적용되는 설계 파라미터들을 최적화시켜 저장하고, 데이터 저장 시스템의 사용 조건이 변경되어 에러가 발생되는 경우에 미리 예측된 조건에서 최적화시킨 설계 파라미터들로 변경시키도록 제어함으로써, 데이터 저장 시스템이 품질 보증하는 사용 기간 및 사용 빈도수를 대폭적으로 늘릴 수 있는 효과가 발생된다.

Claims (11)

1. 데이터 저장 시스템의 설계 변수 설정 방법에 있어서,

   (a) 일반적인 번인 테스트 조건에서 상기 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 제1의 설계 파라미터 값들을 결정하여 저장하는 단계;

   (b) 상기 데이터 저장 시스템에서 인접 트랙에서의 오프 트랙 기록을 불량이 발생될 때까지 반복 실행하여 예측되는 진행성 불량 발생 조건을 생성시키는 단계; 및

   (c) 상기 예측되는 진행성 불량 조건에서 상기 데이터 저장 시스템을 최적화시키는 재시도 모드에서 적용될 제3의 설계 파라미터 값들을 설정하여 저장하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 제1의 설계 파라미터 값 및 상기 제3의 설계 파라미터 값들의 평균값을 연산하여 제2의 설계 파라미터 값으로 저장하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법.
3. 삭제
4. 제1항에 있어서, 상기 제3의 설계 파라미터는 진행성 불량에 대한 일정한 규칙성을 갖는 설계 파라미터임을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법.
5. 제4항에 있어서, 상기 제3의 설계 파라미터는 적어도 독출 전류, 필터 계수 설정에 관련된 파라미터임을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 설계 파라미터 최적화 방법.
6. 데이터 저장 시스템의 신호 처리 방법에 있어서,

   (a) 일반적인 번인 테스트 조건에서 최적화된 제1의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 실행시키는 단계; 및

   (b) 상기 단계(a)에 의한 신호 처리 과정에서 에러가 발생되는 경우에, 인접 트랙에서의 오프 트랙 기록을 불량이 발생될 때까지 반복한 진행성 불량 조건에서 상기 데이터 저장 시스템을 최적화시키도록 초기 설정된 제3의 설계 파라미터들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 재시도하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법.
7. 삭제
8. 제6항에 있어서, 상기 단계(b)의 재시도 실행 결과 에러가 발생되는 경우에, 최종적으로 에러가 발생됨을 알리는 데이터를 생성시키는 단계를 포함함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법.
9. 데이터 저장 시스템의 신호 처리 방법에 있어서,

   (a) 일반적인 번인 테스트 조건에서 최적화되어 초기 저장된 제1의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 실행시키는 단계;

   (b) 상기 단계(a)에 의한 신호 처리 과정에서 에러가 발생되는 경우에, 진행성 불량 조건에서 최적화되어 초기 설정된 제3의 설계 파라미터 값들과 상기 제1의 설계 파라미터 값들의 평균값으로 설정된 제2의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 재시도하는 단계; 및

   (c) 상기 단계(b)에 의한 신호 처리 과정에서 에러가 발생되는 경우에, 상기 제3의 설계 파라미터 값들을 상기 데이터 저장 시스템에 적용하여 신호 처리를 재시도하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법.
10. 제9항에 있어서, 상기 진행성 불량 조건은 인접 트랙에서의 오프 트랙 기록을 불량이 발생될 때까지 실행한 조건으로 결정함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법.
11. 제9항에 있어서, 상기 단계(c)의 재시도 실행 결과 에러가 발생되는 경우에 최종적으로 에러가 발생됨을 알리는 데이터를 생성시키는 단계를 포함함을 특징으로 하는 데이터 저장 시스템의 최적화된 설계 파라미터 적용 방법.