JP2004294436A5 - - Google Patents
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- ハウジング(39)と、
電子ビームを生成する電子銃(20)と、
前記電子ビームが当たるとX線を生成する材料を含む陽極(22)と、
公称フラックスを有するX線ビームを生成するように前記電子ビームが前記陽極(22)に当たる第1の方向と前記X線フラックスが前記公称フラックスと比較して減少する第2の方向とに、前記電子ビームを交互に向ける手段(24)と、
を含むことを特徴とするX線源(12)。 - 前記ビームが前記第2の方向に向けられている間に該電子ビームを受けるためのビームストップ(26)を更に含むことを特徴とする、請求項1に記載のX線源(12)。
- 前記電子ビームが、該電子ビームが前記第2の方向に向けられている時に、選択された焦点から間隔を置いた位置において前記陽極(22)に当たることを特徴とする、請求項1に記載のX線源(12)。
- 前記電子ビームを向ける前記手段(24)が、少なくとも1つの電磁場を生成する手段(46)を含むことを特徴とする、請求項1に記載のX線源(12)。
- 電子ビームを生成する電子銃(20)と、
前記電子のビームが当たるとX線を生成する材料を含む陽極(22)と、
前記陽極(22)と前記電子ビームとの間に選択的に相対運動を生じさせる手段(24)と、を含み、
第1の相対位置において、前記電子ビームが前記陽極(22)に当たって公称フラックスを有するX線ビームを生成し、第2の相対位置において、前記X線フラックスが前記公称フラックスと比較して減少する、
ことを特徴とするX線源(12)。 - 電子ビームを生成する電子銃(20)と、前記電子ビームが当たるとX線を生成する材料を含む陽極(22)と、公称フラックスを有するX線ビームを生成するように前記電子ビームが前記陽極(22)に当たる第1の方向と前記X線フラックスが前記公称フラックスと比較して減少する第2の方向とに、前記電子ビームを交互に向ける手段(24)と、を含むX線源(12)と、
前記X線ビームを受けるように配置されたX線検出器(14)と、
前記検出器(14)の出力を読取る手段(16)と、
前記電子ビームを操向する前記手段(24)と前記検出器(14)を読取る前記手段(16)とを、前記電子ビームが前記第2の方向に向けられている時に前記検出器(14)の前記出力が読取られるように連係させる手段(40)と、
を含むことを特徴とするX線検査システム(10)。 - 前記電子ビームを操向する前記手段(24)と前記検出器(14)を読取る前記手段(16)とを連係させる前記手段(40)が、前記電子ビームを操向する前記手段(24)と前記検出器(14)を読取る前記手段(16)とに接続された制御装置(40)を含むことを特徴とする、請求項6に記載のX線検査システム(10)。
- 前記電子ビームを操向する前記手段(24)が、電源(48)に接続された少なくとも1つの偏向コイル(46)を含むことを特徴とする、請求項6に記載のX線検査システム(10)。
- 前記電子ビームを操向する前記手段(24)が、電源(48)に接続された少なくとも一対の静電偏向プレートを含むことを特徴とする、請求項6に記載のX線検査システム(10)。
- 電子ビームを生成する電子銃(20)と、前記電子ビームが当たるとX線を生成する材料を含む陽極(22)と、公称フラックスを有するX線ビームを生成するように前記電子ビームが前記陽極(22)に当たる第1の方向と前記X線フラックスが前記公称フラックスと比較して減少する第2の方向とに、前記電子ビームを交互に向ける手段(24)と、を含むX線源(12)を設ける段階と、
X線検出器(14)を設ける段階と、
前記検出器(14)の出力を読取る手段(16)を設ける段階と、
前記第1の方向と前記第2の方向とに前記電子ビームを交互に向ける段階と、
前記電子ビームが前記第2の方向に向けられている間に前記検出器(14)の前記出力を読取る段階と、
を含むことを特徴とする対象を検査する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/400,177 US6826255B2 (en) | 2003-03-26 | 2003-03-26 | X-ray inspection system and method of operating |
US10/400,177 | 2003-03-26 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004294436A JP2004294436A (ja) | 2004-10-21 |
JP2004294436A5 true JP2004294436A5 (ja) | 2007-05-10 |
JP4693358B2 JP4693358B2 (ja) | 2011-06-01 |
Family
ID=32824987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004088223A Expired - Fee Related JP4693358B2 (ja) | 2003-03-26 | 2004-03-25 | X線検査システム及びそれを作動させる方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6826255B2 (ja) |
EP (1) | EP1463085B1 (ja) |
JP (1) | JP4693358B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7497620B2 (en) * | 2006-03-28 | 2009-03-03 | General Electric Company | Method and system for a multiple focal spot x-ray system |
US7529336B2 (en) | 2007-05-31 | 2009-05-05 | Test Research, Inc. | System and method for laminography inspection |
ATE547803T1 (de) * | 2007-06-21 | 2012-03-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Schnelle dosismodulierung über z-deflektion in einer rotierenden anode oder einer rotierenden rahmenröhre |
DE102009037688B4 (de) * | 2009-08-17 | 2011-06-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Steuerung eines Elektronenstrahls für die Erzeugung von Röntgenstrahlung sowie Röntgenröhre |
DE102011082878A1 (de) | 2011-09-16 | 2013-03-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung |
CA3039309C (en) * | 2016-10-19 | 2023-07-25 | Adaptix Ltd. | X-ray source |
DE102020134487A1 (de) * | 2020-12-21 | 2022-06-23 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Röntgenquelle und Betriebsverfahren hierfür |
US11961694B2 (en) | 2021-04-23 | 2024-04-16 | Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. | Fiber-optic communication for embedded electronics in x-ray generator |
US11864300B2 (en) | 2021-04-23 | 2024-01-02 | Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. | X-ray source with liquid cooled source coils |
US12035451B2 (en) * | 2021-04-23 | 2024-07-09 | Carl Zeiss X-Ray Microscopy Inc. | Method and system for liquid cooling isolated x-ray transmission target |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2335014A (en) | 1942-01-13 | 1943-11-23 | Gen Electric | Magnetic induction accelerator |
US2394070A (en) | 1942-06-02 | 1946-02-05 | Gen Electric | Magnetic induction accelerator |
NL270945A (ja) * | 1961-03-02 | |||
US3149257A (en) * | 1962-04-25 | 1964-09-15 | Dean E Wintermute | X-ray devices for use on the human body |
US3822410A (en) | 1972-05-08 | 1974-07-02 | J Madey | Stimulated emission of radiation in periodically deflected electron beam |
US4048496A (en) * | 1972-05-08 | 1977-09-13 | Albert Richard D | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
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JPH0184610U (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-06 | ||
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-
2003
- 2003-03-26 US US10/400,177 patent/US6826255B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-03-25 JP JP2004088223A patent/JP4693358B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-03-26 EP EP04251830.8A patent/EP1463085B1/en not_active Expired - Lifetime
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