JP5486762B2 - 複数焦点x線システムのための方法及びシステム - Google Patents
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Description
12 X線源
14 検出器
16 検出器読取り手段
18 ターゲット
20 電子銃
22 固定アノード
26 ハウジング
28 アパーチャ
30 ビーム操向手段
32 電子ビーム
34 偏向コイル
36 コイル電源装置
38 検出器素子
39 アクチュエータ
40 シンチレータ構成要素
41 制御装置
42 光電構成要素
46 X線ビーム
Claims (6)
- X線検査システム(10)を作動させる方法であって、
電子銃(20)、電子が衝突するとX線を放射する高密度物質の固定アノード(22)、及び前記電子銃(20)によって発生された電子ビーム(32)を方向付けするための偏向コイル(34)を含み、ハウジング内に配置されたX線源(12)を設けるステップと、
前記X線源から照射された放射線を受けかつそれに当たる放射線束に応答して出力を生成するように作動可能な検出器(14)を設けるステップと、
前記検出器(14)を平行移動するための検出器調整手段を設けるステップと、
第1の時間インターバルの間に、前記検出器(14)に衝突する第1のX線ビーム(46)を発生するように前記電子ビーム(32)を前記アノード(22)上の第1の焦点(44)に方向付けするステップと、
前記偏向コイル(34)を使用して、第2の時間インターバルの間に、前記検出器(14)に衝突する第2のX線ビーム(46)を発生するように前記電子ビーム(32)を前記第1の焦点(44)から間隔をおいた前記アノード(22)上の第2の焦点(44)に方向付けするステップと、
前記電子ビーム(32)の位置に合わせて前記検出器(14)を物理的に平行移動するステップと、
を含み、
別個の焦点のそれぞれは、焦点冷却のための全総合面積を増加させるのを可能にするほど十分に他から距離を置いて設置され、
前記電子ビーム経路内に既知の形状及びサイズの1つ又はそれ以上の基準像形成部材(43)が配置される、
方法。 - 後続の時間インターバルの間に、前記検出器の素子の後続の1つに整列した後続のX線ビーム(46)を発生するように前記電子ビーム(32)を前記第1及び第2の焦点(44)から間隔をおいた前記アノード(22)上の後続の焦点(44a)に方向付けするステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記アノード(22)が、複数の前記焦点(44)を含み、
前記電子ビーム(32)が、該電子ビーム(32)が各焦点(44)に再方向付けされる前に各焦点(44)を冷却することが可能になるように、前記焦点(44)に連続して方向付けされる、
請求項1または2に記載の方法。 - X線検査システム(10)であって、
電子銃(20)、電子が衝突するとX線を放射する高密度物質の固定アノード(22)、及び前記電子銃(20)によって発生された電子ビーム(32)を方向調整するための偏向コイル(34)を含み、ハウジング内に配置されたX線源(12)と、
前記X線源から照射された放射線を受けるように配置された検出器の素子(38)を備え、それに当たる放射線束に応答して出力を生成するように作動可能な検出器(14)と、
を含み、
前記偏向コイル(34)は、時間インターバルの間、対応するX線ビーム(46)を連続して発生するように前記電子ビーム(32)を前記アノード(22)上の複数の焦点(44)の選択した1つに連続して方向付けし、
前記X線検査システム(10)は、さらに、
前記時間インターバルの間、前記電子ビーム(32)の位置に合わせて前記検出器の素子(38)の各々の出力を読取るための手段と、
前記電子ビーム(32)の位置に合わせて前記検出器(14)を物理的に平行移動するための検出器調整手段と、
を含み、
別個の焦点のそれぞれは、焦点冷却のための全総合面積を増加させるのを可能にするほど十分に他から距離を置いて設置され、
前記電子ビーム経路内に既知の形状及びサイズの1つ又はそれ以上の基準像形成部材(43)が配置される、
システム。 - 前記検出器に整列した後続のX線ビーム(46)を発生するように、前記偏向コイル(34)が、前記電子ビーム(32)を前記複数の焦点(44)の選択した1つの焦点(44)から間隔をおいた前記アノード(22)上の後続の焦点(44a)に方向付けするように構成されている、請求項4に記載のシステム。
- 前記アノード(22)が、複数の前記焦点(44)を含み、
前記電子ビーム(32)が、該電子ビーム(32)が各焦点(44)に再方向付けされる前に各焦点(44)を冷却することが可能になるように、前記焦点(44)に連続して方向付けされる、
請求項5に記載のシステム。
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