JP2004146687A - 磁気記憶装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】書き込み電流の低減を図ることが可能な磁気記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】磁気記憶装置は、第1の方向に延在された第1の配線10と、この第1の配線10の上方に配置された金属層13と、この金属層13上の所定領域に配置されたMTJ素子19と、このMTJ素子19上に配置されたコンタクト層23と、第1の方向と異なる第2の方向に延在され、コンタクト層23上に配置され、コンタクト層23の上部を覆う突出部30を有する第2の配線25と、金属層13、MTJ素子19、コンタクト層23及び第2の配線25の周囲に埋設され、第2の配線25の表面と同じ高さの表面を有する絶縁膜21とを具備する。
【選択図】 図1
【解決手段】磁気記憶装置は、第1の方向に延在された第1の配線10と、この第1の配線10の上方に配置された金属層13と、この金属層13上の所定領域に配置されたMTJ素子19と、このMTJ素子19上に配置されたコンタクト層23と、第1の方向と異なる第2の方向に延在され、コンタクト層23上に配置され、コンタクト層23の上部を覆う突出部30を有する第2の配線25と、金属層13、MTJ素子19、コンタクト層23及び第2の配線25の周囲に埋設され、第2の配線25の表面と同じ高さの表面を有する絶縁膜21とを具備する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、強磁性体を用いた情報再生技術に係わり、特に磁気抵抗効果素子を利用した磁気記憶装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
磁気ランダムアクセスメモリ(Magnetic Random Access Memory:以下MRAMと略記)とは、情報の記録媒体として強磁性体の磁化方向を利用した、記録情報を随時、書き換え、保持、読み出すことができる固体メモリの総称である。
【0003】
MRAMのメモリセルは、通常複数の強磁性体を積層した構造を有する。情報の記録は、メモリセルを構成する複数の強磁性体の磁化の相対配置を平行又は反平行にし、この平行又は反平行の状態を2進の情報“1”,“0”にそれぞれ対応させて行う。記録情報の書き込みは、クロスストライプ状に配置された書き込み線に電流を流し、この電流によって生じる電流磁界により、各セルの強磁性体の磁化方向を反転させることによって行われる。記録保持時の消費電力は原理的にゼロであり、また電源を切っても記録保持が行われる不揮発性メモリである。一方、記録情報の読み出しは、セルを構成する強磁性体の磁化方向とセンス電流との相対角又は複数の強磁性層間の磁化の相対角によってメモリセルの電気抵抗が変化する現象、いわゆる磁気抵抗効果を利用して行う。
【0004】
MRAMの機能と従来の誘電体を用いた半導体メモリの機能とを比較すると、
(1)完全な不揮発性であり、また1015回以上の書き換えが可能であること、
(2)非破壊読み出しが可能であり、リフレッシュ動作を必要としないため読み出しサイクルを短くすることが可能であること、(3)電荷蓄積型のメモリセルに比べ、放射線に対する耐性が強いこと、等の多くの利点を有している。MRAMの単位面積あたりの集積度、書き込み及び読み出し時間は、おおむねDRAMと同程度となりうることが予想される。従って、不揮発性という大きな特色を生かし、携帯機器用の外部記録装置、LSI混載用途、さらにはパーソナルコンピューターの主記憶メモリへの応用が期待されている。
【0005】
現在、実用化の検討が進められているMRAMでは、メモリセルに強磁性トンネル効果(Tunnel Magneto−Resistance:以下TMR効果と略記)を示す素子を用いている(例えば、非特許文献1参照。)。このTMR効果を示す素子(以下MTJ(Magnetic Tunnel Junction)素子と略記)は、主として強磁性層/絶縁層/強磁性層からなる3層膜で構成され、絶縁層をトンネルして電流が流れる。トンネル抵抗値は、両強磁性金属層の磁化の相対角の余弦に比例して変化し、両磁化が反平行の場合に極大値をとる。例えばNiFe/Co/Al2O3/Co/NiFeからなるトンネル接合では、50OeV以下の低磁界において25%を越える磁気抵抗変化率が見いだされている(例えば、非特許文献2参照。)。MTJ素子の構造としては、磁界感度の改善を目的として、一方の強磁性体に隣接して反強磁性体を配置し、磁化方向を固着させた、いわゆるスピンバルブ構造のもの(例えば、非特許文献3参照。)、また磁気抵抗変化率のバイアス依存性を改善するために、2重のトンネルバリアを設けたもの(例えば、非特許文献4参照。)が、知られている。
【0006】
【非特許文献1】
Roy Scheuerlein, et al.,A 10ns Read and Write Non−Volatile Memory Array Using a Magnetic Tunnel Junction and FET Switch in each Cell,「2000 ISSCC Digest of Technical Papers」,(米国),2000年2月,p.128−129
【0007】
【非特許文献2】
M Sato, et al.,Spin−Valve−Like Properties and Annealing Effect in Ferromagnetic Tunnel Junctions,「IEEE Trans.Mag.」,(米国),1997年,第33巻,第5号,p.3553−3555
【0008】
【非特許文献3】
M Sato, et al.,Spin−Valve−Like Properties of Ferromagnetic Tunnel Junctions,「Jpn.J.Appl.Phys.」,1997年,第36巻,Part 2,p.200−201
【0009】
【非特許文献4】
K Inomata, et al.,Spin−dependent tunneling between a soft ferromagnetic layer and hard magnetic nano particles,「Jpn.J.Appl.Phys.」,1997年,第36巻,Part 2,p.1380−1383
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
このような従来におけるMRAMのメモリセル部は、図15(a)、(b)、図16に示すように、ビット線25及び書き込みワード線10の交点に、MTJ素子19が配置される。このMTJ素子19は、下部金属層13及び第1のコンタクト12などを介して、例えばトランジスタやダイオードのようなスイッチング素子(図示せず)Tr1に接続されている。
【0011】
上記のようなMRAMのメモリセル部は、次のような方法で形成される。この従来の方法を、図17乃至図26を参照に以下に説明する。
【0012】
まず、図17(a)、(b)に示すように、絶縁膜11及び第1のコンタクト12上に下部金属層13が形成され、この下部金属層13上にMTJ材料層14が形成される。そして、このMTJ材料層14上に2層の第1及び第2のハードマスク15,16が積層される。
【0013】
次に、図18(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が選択的にエッチングされ、MTJ素子19の形状が第2のハードマスク16に転写される。
【0014】
続いて、図19(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16を用いて、第1のハードマスク15がエッチングされ、MTJ素子19の形状が第1のハードマスク15に転写される。
【0015】
その後、図20(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が剥離される。
【0016】
次に、図21(a)、(b)に示すように、第1のハードマスク15を用いてMTJ材料層14がエッチングされ、MTJ材料層14がMTJ素子19の形状にパターニングされる。
【0017】
次に、図22(a)、(b)に示すように、下部金属層13及び第1のハードマスク15上に絶縁膜21aが形成され、この絶縁膜21aが下部金属層13の所望の形状にパターニングされる。
【0018】
次に、図23(a)、(b)に示すように、絶縁膜21aを用いて下部金属層13がエッチングされる。
【0019】
次に、図24(a)、(b)に示すように、絶縁膜11、21a上に絶縁膜21bが形成される。
【0020】
次に、図25(a)、(b)に示すように、例えば化学機械研磨法(CMP:Chemical Mechanical Polish)を用いて、絶縁膜21a、21bの表面が平坦化される。これにより、第1のハードマスク15の表面が露出される。
【0021】
次に、図26(a)、(b)に示すように、絶縁膜21b及び第1のハードマスク15上に絶縁膜21cが形成される。次に、絶縁膜21c内にトレンチ22が形成され、このトレンチ22内及び絶縁膜21c上にバリアメタル層24、Al膜、バリアメタル層26が順に形成される。そして、例えばRIEにより、バリアメタル層24、Al膜、バリアメタル層26が選択的にエッチングされ、MTJ素子19にコンタクト23を介して接続されたビット線25が形成される。このようにして、MRAMのメモリセル部が形成される。
【0022】
しかしながら、上述する従来技術によるMRAMでは、Alからなるビット線25とMTJ素子19とは、第1のハードマスク15とコンタクト23との合計膜厚分X’だけ離れてしまっている。従って、MTJ素子19にデータを書き込む際、十分な大きさの磁界をMTJ素子19に与えるためには、ビット線25に流す書き込み電流をある程度高める必要があった。しかし、高密度電流を流すとエレクトロマイグレーションが生じやすいAlで形成されたビット線25では、これらの要求に応えることが困難であった。
【0023】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、書き込み電流の低減を図ることが可能な磁気記憶装置及びその製造方法を提供することにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記目的を達成するために以下に示す手段を用いている。
【0025】
本発明の第1の視点による磁気記憶装置は、第1の方向に延在された第1の配線と、前記第1の配線の上方に配置された第1の金属層と、前記第1の金属層上の所定領域に配置された第1の磁気抵抗効果素子と、前記第1の磁気抵抗効果素子上に配置された第1のコンタクト層と、前記第1の方向と異なる第2の方向に延在され、前記第1のコンタクト層上に配置され、前記第1のコンタクト層の上部を覆う突出部を有する第2の配線と、前記第1の金属層、前記第1の磁気抵抗効果素子、前記第1のコンタクト層及び前記第2の配線の周囲に埋設され、前記第2の配線の表面と同じ高さの表面を有する第1の絶縁膜とを具備する。
【0026】
本発明の第2の視点による磁気記憶装置の製造方法は、第1の絶縁膜上に、金属層、磁気抵抗効果膜及びマスク層を順に形成する工程と、前記マスク層を用いて前記磁気抵抗効果膜を選択的に除去し、磁気抵抗効果素子を形成する工程と、前記金属層を選択的に除去し、前記金属層をセル毎に分離する工程と、前記金属層及び前記磁気抵抗効果素子を覆う第2の絶縁膜を形成する工程と、前記第2の絶縁膜を所定の厚さまで平坦化する工程と、前記第2の絶縁膜を選択的にエッチングし、前記マスク層の上部を露出するトレンチを形成する工程と、前記トレンチ内に配線材が形成され、前記マスク層の前記上部を覆う突出部を有する配線を形成する工程とを具備する。
【0027】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する参照符号を付す。
【0028】
[第1の実施形態]
第1の実施形態は、磁気抵抗効果素子(以下、MTJ(Magnetic Tunnel Junction)素子と称す)の上方に配置されたビット線をダマシンプロセスで形成することにより、ビット線をMTJ素子に近づけたものである。
【0029】
図1(a)、(b)は、本発明の第1の実施形態に係る磁気記憶装置の断面図を示す。図1(a)、(b)に示すように、書き込みワード線10とビット線25が互いに異なる方向(本例では垂直方向)に延在され、これら書き込みワード線10及びビット線25の交点にMTJ素子19が配置されている。このMTJ素子19は、下部金属層13及び第1のコンタクト12を介して、例えばトランジスタやダイオードのようなスイッチング素子(図示せず)に接続されている。また、MTJ素子19は、第2のコンタクト23を介してビット線25に接続されている。ここで、第2のコンタクト23は、MTJ素子19のパターニングの際に用いられる第1のハードマスク15からなるため、MTJ素子19とほぼ同じ平面形状をしている。
【0030】
そして、本発明の第1の実施形態では、ビット線21は、例えばCu膜で形成されたダマシン構造となっている。つまり、ビット線21の表面と絶縁膜21の表面とは、ほぼ等しくなっている。そして、ビット線21は、第2のコンタクト23の上部を覆う突出部30を有している。この突出部30は、第2のコンタクト23の膜厚Dの10%以上の厚みAで、第2のコンタクト23の表面からMTJ素子19の方へ突出している。従って、ビット線25の突出部30とMTJ素子19とは、第2のコンタクト23の膜厚Dより短い距離Xしか離れていないことになる。
【0031】
図2(a)、(b)乃至図12(a)、(b)は、本発明の第1の実施形態に係る磁気記憶装置の製造工程の断面図を示す。以下に、第1の実施形態に係る磁気記憶装置の製造方法について説明する。尚、ここでは、書き込みワード線10及び第1のコンタクト12を形成した後から説明する。
【0032】
まず、図2(a)、(b)に示すように、第1の絶縁膜11及び第1のコンタクト12上に下部金属層13が形成され、この下部金属層13上にMTJ材料層14が形成される。そして、このMTJ材料層14上に2層の第1及び第2のハードマスク15,16が積層される。ここで、第1のハードマスク15は例えば導電性膜で形成され、第2のハードマスク16は非導電性膜(絶縁膜)で形成される。尚、第2のハードマスク16は、導電性膜で形成されてもよい。
【0033】
次に、図3(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が選択的にエッチングされ、MTJ素子19の形状が第2のハードマスク16に転写される。
【0034】
続いて、図4(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16を用いて、第1のハードマスク15がエッチングされ、MTJ素子19の形状が第1のハードマスク15に転写される。
【0035】
その後、図5(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が剥離される。
【0036】
次に、図6(a)、(b)に示すように、第1のハードマスク15を用いてMTJ材料層14がエッチングされ、MTJ材料層14がMTJ素子19の形状にパターニングされる。
【0037】
次に、図7(a)、(b)に示すように、下部金属層13及び第1のハードマスク15上にフォトレジスト20が塗布され、下部金属層13が所望の形状にパターニングされる。これにより、下部金属層13はセル毎に分離される。
【0038】
次に、図8(a)、(b)に示すように、フォトレジスト20を用いて下部金属層13がエッチングされる。その後、フォトレジスト20は除去される。尚、下部金属層13のパターニングの際のマスクとしては、フォトレジスト20の代わりに絶縁膜を用いてもよい。
【0039】
次に、図9(a)、(b)に示すように、第1の絶縁膜11、下部金属層13及び第1のハードマスク15上に第2の絶縁膜21が形成される。
【0040】
次に、図10(a)、(b)に示すように、例えば化学機械研磨法(CMP:Chemical Mechanical Polish)を用いて、第2の絶縁膜21の表面の凹凸が平坦化される。ここで、平坦化後の第2の絶縁膜21の膜厚Yは、後に形成するビット線25の所定の厚さを考慮して調整する必要がある。つまり、第1のハードマスク15上の第2の絶縁膜21の膜厚を、ビット線25の膜厚程度にするとよい。
【0041】
尚、第2の絶縁膜21の平坦化は、次のように行われてもよい。まず、あらかじめ全面に平坦化レジスト又は類似する薬剤を塗布して、平坦面を形成しておく。そして、平坦面を形成後、反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)で第2の絶縁膜21を全面エッチバックすることで平坦化が実現できる。平坦化レジスト又は類似する薬剤としては、例えば、感光性樹脂、非感光性樹脂、有機ガラス等があげられ、熱硬化性を有するものが利用できる。その際、MTJ素子19を被覆する第2の絶縁膜21と、前記平坦化レジスト又は類似する薬剤とが、このエッチング工程においてほぼ等しいエッチング速度を有している必要がある。
【0042】
次に、図11(a)、(b)に示すように、例えばレジスト(図示せず)を用いて第2の絶縁膜21が選択的にエッチングされ、ビット線25形状のトレンチ22が形成される。この際、第1のハードマスク15に達するまでエッチングが行われることにより、第1のハードマスク15からなる第2のコンタクト23が、ビット線25のトレンチ22と自己整合的に形成される。
【0043】
尚、トレンチ22の形成におけるエッチングの終点検出は、例えばプラズマ発光分析、二次イオン質量分析といった公知のモニター方法を用いて、第1のハードマスク15の成分を検出することにより行われる。この際、検出感度を高めるために、メモリセルの周辺回路部にも、MTJ素子19や第1のハードマスク15と同じ階層に、本来必要としないダミーのMTJ素子や第1のハードマスクを配置してもよい。
【0044】
次に、図12(a)、(b)に示すように、トレンチ22内にバリアメタル層24が形成され、このバリアメタル層24上にビット線25の材料層(例えばCu膜)が形成される。
【0045】
次に、図1(a)、(b)に示すように、例えばCMPを用いてバリアメタル層24及び材料層が平坦化され、Cu膜からなるビット線25が形成される。このようにして、磁気記憶装置のメモリセル部が形成される。
【0046】
上記第1の実施形態によれば、ビット線25の配線材料をCu膜とし、このビット線25をダマシンプロセスで形成している。これにより、ビット線25に、コンタクト23の上部を覆うように突出した突出部30を形成できる。さらに、マスク層15をコンタクト23として使用しているため、ビット線25とMTJ素子19との距離Xを従来よりも短くすることができる。従って、ビット線25に大電流を流さなくとも、MTJ素子19に十分な大きさの磁界をかけることができるため、書き込み電流の低減を図ることができる。
【0047】
また、ビット線25の配線材料としてエレクトロマイグレーションを抑制できるCu膜を用いているため、従来のAl膜に比べて、配線電流密度を向上させることができる。
【0048】
また、MTJ素子19とビット線25を接続するコンタクト23を、ビット線25形成用のトレンチ22と自己整合的に形成できる。このため、従来よりも工程数を削減でき、コストの削減を図ることができる。
【0049】
[第2の実施形態]
第2の実施形態は、複数のMTJ素子を、半導体基板の表面に対して垂直な方向(縦方向)に積み重ねている。
【0050】
図13、図14は、本発明の第2の実施形態に係る磁気記憶装置の断面図を示す。この第2の実施形態では、上記第1の実施形態と異なる構造を中心に説明する。
【0051】
図13、図14に示すように、第2の実施形態において、第1の実施形態と異なる点は、MTJ素子(MTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4)を、半導体基板1の表面に対して垂直な方向(縦方向)に、複数段に積み重ねた点である。尚、本例では、4つのMTJ素子を積み重ねてあるが、MTJ素子の数は4つに限定されない。
【0052】
具体的には、半導体基板1の表面に、読み出し用のスイッチング素子であるMOSトランジスタTrが配置される。このMOSトランジスタTrのゲート電極は読み出しワード線RWLとなり、ソース領域3にはデータ転送線DLが接続されている。ここで、図13の場合、読み出しワード線RWLは書き込みワード線WWLと同じ方向に延び、データ転送線DLはビット線BLと同じ方向に延びている。一方、図14の場合、読み出しワード線RWLはビット線BLと同じ方向に延び、データ転送線DLは書き込みワード線WWLと同じ方向に延びている。
【0053】
そして、読み出しワード線RWLの上方に、4個のMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4が積み重ねられている。このMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4は、下部金属層13−1,13−2,13−3,13−4とコンタクト23−1,23−2,23−3,23−4の間にそれぞれ配置されている。このような4個のMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4は、コンタクトを介して互いに直列に接続されている。そして、最下段のMTJ1は、下部金属層13−1やコンタクトを介してMOSトランジスタTrのドレイン領域2に接続され、データ転送線DLにつながっている。
【0054】
また、第1の実施形態と同様に、ビット線BL1,BL2,BL3,BL4のそれぞれは、例えばCu膜で形成されたダマシン構造となっている。つまり、ビット線BL1,BL2,BL3,BL4のそれぞれの表面は、周囲を埋め込む絶縁膜(図示せず)の表面とほぼ等しくなっている。そして、ビット線BL1,BL2,BL3,BL4のそれぞれは、コンタクト23−1,23−2,23−3,23−4の上部を覆う突出部30−1,30−2,30−3,30−4を有している。この突出部30−1,30−2,30−3,30−4は、コンタクトコンタクト23−1,23−2,23−3,23−4の膜厚の10%以上の厚みを有している。
【0055】
上記第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0056】
さらに、MTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4を半導体基板1の上方に積み重ね、これらMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4を互いに直列に接続し読み出し用のスイッチング素子を共有している。このため、メモリセルの高密度化を図ることができるため、メモリ容量を増大することが可能となる。
【0057】
その他、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で、種々に変形することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【0058】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、書き込み電流の低減を図ることが可能な磁気記憶装置及びその製造方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)は本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置を示す断面図、図1(b)は本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置を示す断面図。
【図2】図2(a)は、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図2(b)は、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図3】図3(a)は、図2(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図3(b)は、図2(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図4】図4(a)は、図3(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図4(b)は、図3(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図5】図5(a)は、図4(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図5(b)は、図4(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図6】図6(a)は、図5(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図6(b)は、図5(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図7】図7(a)は、図6(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図7(b)は、図6(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図8】図8(a)は、図7(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図8(b)は、図7(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図9】図9(a)は、図8(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図9(b)は、図8(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図10】図10(a)は、図9(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図10(b)は、図9(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図11】図11(a)は、図10(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図11(b)は、図10(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図12】図12(a)は、図11(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図12(b)は、図11(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図13】本発明の第2の実施形態に係わる磁気記憶装置を示す断面図
【図14】本発明の第2の実施形態に係わる他の磁気記憶装置を示す断面図
【図15】図15(a)は、従来技術による磁気記憶装置を示す平面図、図15(b)は、図15(a)はXVB−XVB線に沿った磁気記憶装置を示す断面図。
【図16】従来技術によるメモリセル部と周辺回路部とを備えた磁気記憶装置を示す断面図。
【図17】図17(a)は、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図17(b)は、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図18】図18(a)は、図17(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図18(b)は、図17(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図19】図19(a)は、図18(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図19(b)は、図18(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図20】図20(a)は、図19(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図20(b)は、図19(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図21】図21(a)は、図20(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図21(b)は、図20(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図22】図22(a)は、図21(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図22(b)は、図21(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図23】図23(a)は、図22(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図23(b)は、図22(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図24】図24(a)は、図23(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図24(b)は、図23(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図25】図25(a)は、図24(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図25(b)は、図24(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図26】図26(a)は、図25(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図26(b)は、図25(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【符号の説明】
1…半導体基板、
2…ドレイン領域、
3…ソース領域、
10、WWL1、WWL2、WWL3、WWL4…書き込みワード線、
11…第1の絶縁膜、
12…第1のコンタクト、
13、13−1、13−2、13−3、13−4…下部金属層、
14…MTJ材料層、
15…第1のハードマスク、
16…第2のハードマスク、
19、MTJ1、MTJ2、MTJ3、MTJ4…MTJ素子、
20…フォトレジスト、
21…第2の絶縁膜、
22…トレンチ、
23、23−1、23−2、23−3、23−4…第2のコンタクト、
24、BM1、BM2、BM3、BM4…バリアメタル層、
25、BL1、BL2、BL3、BL4…ビット線、
30、30−1、30−2、30−3、30−4…突出部、
DL…データ転送線、
RWL…読み出しワード線、
Tr…トランジスタ。
【発明の属する技術分野】
本発明は、強磁性体を用いた情報再生技術に係わり、特に磁気抵抗効果素子を利用した磁気記憶装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
磁気ランダムアクセスメモリ(Magnetic Random Access Memory:以下MRAMと略記)とは、情報の記録媒体として強磁性体の磁化方向を利用した、記録情報を随時、書き換え、保持、読み出すことができる固体メモリの総称である。
【0003】
MRAMのメモリセルは、通常複数の強磁性体を積層した構造を有する。情報の記録は、メモリセルを構成する複数の強磁性体の磁化の相対配置を平行又は反平行にし、この平行又は反平行の状態を2進の情報“1”,“0”にそれぞれ対応させて行う。記録情報の書き込みは、クロスストライプ状に配置された書き込み線に電流を流し、この電流によって生じる電流磁界により、各セルの強磁性体の磁化方向を反転させることによって行われる。記録保持時の消費電力は原理的にゼロであり、また電源を切っても記録保持が行われる不揮発性メモリである。一方、記録情報の読み出しは、セルを構成する強磁性体の磁化方向とセンス電流との相対角又は複数の強磁性層間の磁化の相対角によってメモリセルの電気抵抗が変化する現象、いわゆる磁気抵抗効果を利用して行う。
【0004】
MRAMの機能と従来の誘電体を用いた半導体メモリの機能とを比較すると、
(1)完全な不揮発性であり、また1015回以上の書き換えが可能であること、
(2)非破壊読み出しが可能であり、リフレッシュ動作を必要としないため読み出しサイクルを短くすることが可能であること、(3)電荷蓄積型のメモリセルに比べ、放射線に対する耐性が強いこと、等の多くの利点を有している。MRAMの単位面積あたりの集積度、書き込み及び読み出し時間は、おおむねDRAMと同程度となりうることが予想される。従って、不揮発性という大きな特色を生かし、携帯機器用の外部記録装置、LSI混載用途、さらにはパーソナルコンピューターの主記憶メモリへの応用が期待されている。
【0005】
現在、実用化の検討が進められているMRAMでは、メモリセルに強磁性トンネル効果(Tunnel Magneto−Resistance:以下TMR効果と略記)を示す素子を用いている(例えば、非特許文献1参照。)。このTMR効果を示す素子(以下MTJ(Magnetic Tunnel Junction)素子と略記)は、主として強磁性層/絶縁層/強磁性層からなる3層膜で構成され、絶縁層をトンネルして電流が流れる。トンネル抵抗値は、両強磁性金属層の磁化の相対角の余弦に比例して変化し、両磁化が反平行の場合に極大値をとる。例えばNiFe/Co/Al2O3/Co/NiFeからなるトンネル接合では、50OeV以下の低磁界において25%を越える磁気抵抗変化率が見いだされている(例えば、非特許文献2参照。)。MTJ素子の構造としては、磁界感度の改善を目的として、一方の強磁性体に隣接して反強磁性体を配置し、磁化方向を固着させた、いわゆるスピンバルブ構造のもの(例えば、非特許文献3参照。)、また磁気抵抗変化率のバイアス依存性を改善するために、2重のトンネルバリアを設けたもの(例えば、非特許文献4参照。)が、知られている。
【0006】
【非特許文献1】
Roy Scheuerlein, et al.,A 10ns Read and Write Non−Volatile Memory Array Using a Magnetic Tunnel Junction and FET Switch in each Cell,「2000 ISSCC Digest of Technical Papers」,(米国),2000年2月,p.128−129
【0007】
【非特許文献2】
M Sato, et al.,Spin−Valve−Like Properties and Annealing Effect in Ferromagnetic Tunnel Junctions,「IEEE Trans.Mag.」,(米国),1997年,第33巻,第5号,p.3553−3555
【0008】
【非特許文献3】
M Sato, et al.,Spin−Valve−Like Properties of Ferromagnetic Tunnel Junctions,「Jpn.J.Appl.Phys.」,1997年,第36巻,Part 2,p.200−201
【0009】
【非特許文献4】
K Inomata, et al.,Spin−dependent tunneling between a soft ferromagnetic layer and hard magnetic nano particles,「Jpn.J.Appl.Phys.」,1997年,第36巻,Part 2,p.1380−1383
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
このような従来におけるMRAMのメモリセル部は、図15(a)、(b)、図16に示すように、ビット線25及び書き込みワード線10の交点に、MTJ素子19が配置される。このMTJ素子19は、下部金属層13及び第1のコンタクト12などを介して、例えばトランジスタやダイオードのようなスイッチング素子(図示せず)Tr1に接続されている。
【0011】
上記のようなMRAMのメモリセル部は、次のような方法で形成される。この従来の方法を、図17乃至図26を参照に以下に説明する。
【0012】
まず、図17(a)、(b)に示すように、絶縁膜11及び第1のコンタクト12上に下部金属層13が形成され、この下部金属層13上にMTJ材料層14が形成される。そして、このMTJ材料層14上に2層の第1及び第2のハードマスク15,16が積層される。
【0013】
次に、図18(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が選択的にエッチングされ、MTJ素子19の形状が第2のハードマスク16に転写される。
【0014】
続いて、図19(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16を用いて、第1のハードマスク15がエッチングされ、MTJ素子19の形状が第1のハードマスク15に転写される。
【0015】
その後、図20(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が剥離される。
【0016】
次に、図21(a)、(b)に示すように、第1のハードマスク15を用いてMTJ材料層14がエッチングされ、MTJ材料層14がMTJ素子19の形状にパターニングされる。
【0017】
次に、図22(a)、(b)に示すように、下部金属層13及び第1のハードマスク15上に絶縁膜21aが形成され、この絶縁膜21aが下部金属層13の所望の形状にパターニングされる。
【0018】
次に、図23(a)、(b)に示すように、絶縁膜21aを用いて下部金属層13がエッチングされる。
【0019】
次に、図24(a)、(b)に示すように、絶縁膜11、21a上に絶縁膜21bが形成される。
【0020】
次に、図25(a)、(b)に示すように、例えば化学機械研磨法(CMP:Chemical Mechanical Polish)を用いて、絶縁膜21a、21bの表面が平坦化される。これにより、第1のハードマスク15の表面が露出される。
【0021】
次に、図26(a)、(b)に示すように、絶縁膜21b及び第1のハードマスク15上に絶縁膜21cが形成される。次に、絶縁膜21c内にトレンチ22が形成され、このトレンチ22内及び絶縁膜21c上にバリアメタル層24、Al膜、バリアメタル層26が順に形成される。そして、例えばRIEにより、バリアメタル層24、Al膜、バリアメタル層26が選択的にエッチングされ、MTJ素子19にコンタクト23を介して接続されたビット線25が形成される。このようにして、MRAMのメモリセル部が形成される。
【0022】
しかしながら、上述する従来技術によるMRAMでは、Alからなるビット線25とMTJ素子19とは、第1のハードマスク15とコンタクト23との合計膜厚分X’だけ離れてしまっている。従って、MTJ素子19にデータを書き込む際、十分な大きさの磁界をMTJ素子19に与えるためには、ビット線25に流す書き込み電流をある程度高める必要があった。しかし、高密度電流を流すとエレクトロマイグレーションが生じやすいAlで形成されたビット線25では、これらの要求に応えることが困難であった。
【0023】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、書き込み電流の低減を図ることが可能な磁気記憶装置及びその製造方法を提供することにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記目的を達成するために以下に示す手段を用いている。
【0025】
本発明の第1の視点による磁気記憶装置は、第1の方向に延在された第1の配線と、前記第1の配線の上方に配置された第1の金属層と、前記第1の金属層上の所定領域に配置された第1の磁気抵抗効果素子と、前記第1の磁気抵抗効果素子上に配置された第1のコンタクト層と、前記第1の方向と異なる第2の方向に延在され、前記第1のコンタクト層上に配置され、前記第1のコンタクト層の上部を覆う突出部を有する第2の配線と、前記第1の金属層、前記第1の磁気抵抗効果素子、前記第1のコンタクト層及び前記第2の配線の周囲に埋設され、前記第2の配線の表面と同じ高さの表面を有する第1の絶縁膜とを具備する。
【0026】
本発明の第2の視点による磁気記憶装置の製造方法は、第1の絶縁膜上に、金属層、磁気抵抗効果膜及びマスク層を順に形成する工程と、前記マスク層を用いて前記磁気抵抗効果膜を選択的に除去し、磁気抵抗効果素子を形成する工程と、前記金属層を選択的に除去し、前記金属層をセル毎に分離する工程と、前記金属層及び前記磁気抵抗効果素子を覆う第2の絶縁膜を形成する工程と、前記第2の絶縁膜を所定の厚さまで平坦化する工程と、前記第2の絶縁膜を選択的にエッチングし、前記マスク層の上部を露出するトレンチを形成する工程と、前記トレンチ内に配線材が形成され、前記マスク層の前記上部を覆う突出部を有する配線を形成する工程とを具備する。
【0027】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する参照符号を付す。
【0028】
[第1の実施形態]
第1の実施形態は、磁気抵抗効果素子(以下、MTJ(Magnetic Tunnel Junction)素子と称す)の上方に配置されたビット線をダマシンプロセスで形成することにより、ビット線をMTJ素子に近づけたものである。
【0029】
図1(a)、(b)は、本発明の第1の実施形態に係る磁気記憶装置の断面図を示す。図1(a)、(b)に示すように、書き込みワード線10とビット線25が互いに異なる方向(本例では垂直方向)に延在され、これら書き込みワード線10及びビット線25の交点にMTJ素子19が配置されている。このMTJ素子19は、下部金属層13及び第1のコンタクト12を介して、例えばトランジスタやダイオードのようなスイッチング素子(図示せず)に接続されている。また、MTJ素子19は、第2のコンタクト23を介してビット線25に接続されている。ここで、第2のコンタクト23は、MTJ素子19のパターニングの際に用いられる第1のハードマスク15からなるため、MTJ素子19とほぼ同じ平面形状をしている。
【0030】
そして、本発明の第1の実施形態では、ビット線21は、例えばCu膜で形成されたダマシン構造となっている。つまり、ビット線21の表面と絶縁膜21の表面とは、ほぼ等しくなっている。そして、ビット線21は、第2のコンタクト23の上部を覆う突出部30を有している。この突出部30は、第2のコンタクト23の膜厚Dの10%以上の厚みAで、第2のコンタクト23の表面からMTJ素子19の方へ突出している。従って、ビット線25の突出部30とMTJ素子19とは、第2のコンタクト23の膜厚Dより短い距離Xしか離れていないことになる。
【0031】
図2(a)、(b)乃至図12(a)、(b)は、本発明の第1の実施形態に係る磁気記憶装置の製造工程の断面図を示す。以下に、第1の実施形態に係る磁気記憶装置の製造方法について説明する。尚、ここでは、書き込みワード線10及び第1のコンタクト12を形成した後から説明する。
【0032】
まず、図2(a)、(b)に示すように、第1の絶縁膜11及び第1のコンタクト12上に下部金属層13が形成され、この下部金属層13上にMTJ材料層14が形成される。そして、このMTJ材料層14上に2層の第1及び第2のハードマスク15,16が積層される。ここで、第1のハードマスク15は例えば導電性膜で形成され、第2のハードマスク16は非導電性膜(絶縁膜)で形成される。尚、第2のハードマスク16は、導電性膜で形成されてもよい。
【0033】
次に、図3(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が選択的にエッチングされ、MTJ素子19の形状が第2のハードマスク16に転写される。
【0034】
続いて、図4(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16を用いて、第1のハードマスク15がエッチングされ、MTJ素子19の形状が第1のハードマスク15に転写される。
【0035】
その後、図5(a)、(b)に示すように、第2のハードマスク16が剥離される。
【0036】
次に、図6(a)、(b)に示すように、第1のハードマスク15を用いてMTJ材料層14がエッチングされ、MTJ材料層14がMTJ素子19の形状にパターニングされる。
【0037】
次に、図7(a)、(b)に示すように、下部金属層13及び第1のハードマスク15上にフォトレジスト20が塗布され、下部金属層13が所望の形状にパターニングされる。これにより、下部金属層13はセル毎に分離される。
【0038】
次に、図8(a)、(b)に示すように、フォトレジスト20を用いて下部金属層13がエッチングされる。その後、フォトレジスト20は除去される。尚、下部金属層13のパターニングの際のマスクとしては、フォトレジスト20の代わりに絶縁膜を用いてもよい。
【0039】
次に、図9(a)、(b)に示すように、第1の絶縁膜11、下部金属層13及び第1のハードマスク15上に第2の絶縁膜21が形成される。
【0040】
次に、図10(a)、(b)に示すように、例えば化学機械研磨法(CMP:Chemical Mechanical Polish)を用いて、第2の絶縁膜21の表面の凹凸が平坦化される。ここで、平坦化後の第2の絶縁膜21の膜厚Yは、後に形成するビット線25の所定の厚さを考慮して調整する必要がある。つまり、第1のハードマスク15上の第2の絶縁膜21の膜厚を、ビット線25の膜厚程度にするとよい。
【0041】
尚、第2の絶縁膜21の平坦化は、次のように行われてもよい。まず、あらかじめ全面に平坦化レジスト又は類似する薬剤を塗布して、平坦面を形成しておく。そして、平坦面を形成後、反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)で第2の絶縁膜21を全面エッチバックすることで平坦化が実現できる。平坦化レジスト又は類似する薬剤としては、例えば、感光性樹脂、非感光性樹脂、有機ガラス等があげられ、熱硬化性を有するものが利用できる。その際、MTJ素子19を被覆する第2の絶縁膜21と、前記平坦化レジスト又は類似する薬剤とが、このエッチング工程においてほぼ等しいエッチング速度を有している必要がある。
【0042】
次に、図11(a)、(b)に示すように、例えばレジスト(図示せず)を用いて第2の絶縁膜21が選択的にエッチングされ、ビット線25形状のトレンチ22が形成される。この際、第1のハードマスク15に達するまでエッチングが行われることにより、第1のハードマスク15からなる第2のコンタクト23が、ビット線25のトレンチ22と自己整合的に形成される。
【0043】
尚、トレンチ22の形成におけるエッチングの終点検出は、例えばプラズマ発光分析、二次イオン質量分析といった公知のモニター方法を用いて、第1のハードマスク15の成分を検出することにより行われる。この際、検出感度を高めるために、メモリセルの周辺回路部にも、MTJ素子19や第1のハードマスク15と同じ階層に、本来必要としないダミーのMTJ素子や第1のハードマスクを配置してもよい。
【0044】
次に、図12(a)、(b)に示すように、トレンチ22内にバリアメタル層24が形成され、このバリアメタル層24上にビット線25の材料層(例えばCu膜)が形成される。
【0045】
次に、図1(a)、(b)に示すように、例えばCMPを用いてバリアメタル層24及び材料層が平坦化され、Cu膜からなるビット線25が形成される。このようにして、磁気記憶装置のメモリセル部が形成される。
【0046】
上記第1の実施形態によれば、ビット線25の配線材料をCu膜とし、このビット線25をダマシンプロセスで形成している。これにより、ビット線25に、コンタクト23の上部を覆うように突出した突出部30を形成できる。さらに、マスク層15をコンタクト23として使用しているため、ビット線25とMTJ素子19との距離Xを従来よりも短くすることができる。従って、ビット線25に大電流を流さなくとも、MTJ素子19に十分な大きさの磁界をかけることができるため、書き込み電流の低減を図ることができる。
【0047】
また、ビット線25の配線材料としてエレクトロマイグレーションを抑制できるCu膜を用いているため、従来のAl膜に比べて、配線電流密度を向上させることができる。
【0048】
また、MTJ素子19とビット線25を接続するコンタクト23を、ビット線25形成用のトレンチ22と自己整合的に形成できる。このため、従来よりも工程数を削減でき、コストの削減を図ることができる。
【0049】
[第2の実施形態]
第2の実施形態は、複数のMTJ素子を、半導体基板の表面に対して垂直な方向(縦方向)に積み重ねている。
【0050】
図13、図14は、本発明の第2の実施形態に係る磁気記憶装置の断面図を示す。この第2の実施形態では、上記第1の実施形態と異なる構造を中心に説明する。
【0051】
図13、図14に示すように、第2の実施形態において、第1の実施形態と異なる点は、MTJ素子(MTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4)を、半導体基板1の表面に対して垂直な方向(縦方向)に、複数段に積み重ねた点である。尚、本例では、4つのMTJ素子を積み重ねてあるが、MTJ素子の数は4つに限定されない。
【0052】
具体的には、半導体基板1の表面に、読み出し用のスイッチング素子であるMOSトランジスタTrが配置される。このMOSトランジスタTrのゲート電極は読み出しワード線RWLとなり、ソース領域3にはデータ転送線DLが接続されている。ここで、図13の場合、読み出しワード線RWLは書き込みワード線WWLと同じ方向に延び、データ転送線DLはビット線BLと同じ方向に延びている。一方、図14の場合、読み出しワード線RWLはビット線BLと同じ方向に延び、データ転送線DLは書き込みワード線WWLと同じ方向に延びている。
【0053】
そして、読み出しワード線RWLの上方に、4個のMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4が積み重ねられている。このMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4は、下部金属層13−1,13−2,13−3,13−4とコンタクト23−1,23−2,23−3,23−4の間にそれぞれ配置されている。このような4個のMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4は、コンタクトを介して互いに直列に接続されている。そして、最下段のMTJ1は、下部金属層13−1やコンタクトを介してMOSトランジスタTrのドレイン領域2に接続され、データ転送線DLにつながっている。
【0054】
また、第1の実施形態と同様に、ビット線BL1,BL2,BL3,BL4のそれぞれは、例えばCu膜で形成されたダマシン構造となっている。つまり、ビット線BL1,BL2,BL3,BL4のそれぞれの表面は、周囲を埋め込む絶縁膜(図示せず)の表面とほぼ等しくなっている。そして、ビット線BL1,BL2,BL3,BL4のそれぞれは、コンタクト23−1,23−2,23−3,23−4の上部を覆う突出部30−1,30−2,30−3,30−4を有している。この突出部30−1,30−2,30−3,30−4は、コンタクトコンタクト23−1,23−2,23−3,23−4の膜厚の10%以上の厚みを有している。
【0055】
上記第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0056】
さらに、MTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4を半導体基板1の上方に積み重ね、これらMTJ1,MTJ2,MTJ3,MTJ4を互いに直列に接続し読み出し用のスイッチング素子を共有している。このため、メモリセルの高密度化を図ることができるため、メモリ容量を増大することが可能となる。
【0057】
その他、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で、種々に変形することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【0058】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、書き込み電流の低減を図ることが可能な磁気記憶装置及びその製造方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)は本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置を示す断面図、図1(b)は本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置を示す断面図。
【図2】図2(a)は、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図2(b)は、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図3】図3(a)は、図2(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図3(b)は、図2(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図4】図4(a)は、図3(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図4(b)は、図3(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図5】図5(a)は、図4(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図5(b)は、図4(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図6】図6(a)は、図5(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図6(b)は、図5(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図7】図7(a)は、図6(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図7(b)は、図6(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図8】図8(a)は、図7(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図8(b)は、図7(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図9】図9(a)は、図8(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図9(b)は、図8(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図10】図10(a)は、図9(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図10(b)は、図9(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図11】図11(a)は、図10(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図11(b)は、図10(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図12】図12(a)は、図11(a)に続く、本発明の第1の実施形態に係わるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図12(b)は、図11(b)に続く、本発明の第1の実施形態に係わる書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図13】本発明の第2の実施形態に係わる磁気記憶装置を示す断面図
【図14】本発明の第2の実施形態に係わる他の磁気記憶装置を示す断面図
【図15】図15(a)は、従来技術による磁気記憶装置を示す平面図、図15(b)は、図15(a)はXVB−XVB線に沿った磁気記憶装置を示す断面図。
【図16】従来技術によるメモリセル部と周辺回路部とを備えた磁気記憶装置を示す断面図。
【図17】図17(a)は、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図17(b)は、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図18】図18(a)は、図17(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図18(b)は、図17(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図19】図19(a)は、図18(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図19(b)は、図18(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図20】図20(a)は、図19(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図20(b)は、図19(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図21】図21(a)は、図20(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図21(b)は、図20(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図22】図22(a)は、図21(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図22(b)は、図21(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図23】図23(a)は、図22(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図23(b)は、図22(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図24】図24(a)は、図23(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図24(b)は、図23(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図25】図25(a)は、図24(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図25(b)は、図24(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【図26】図26(a)は、図25(a)に続く、従来技術によるビット線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図、図26(b)は、図25(b)に続く、従来技術による書き込みワード線の延在方向の磁気記憶装置の製造工程を示す断面図。
【符号の説明】
1…半導体基板、
2…ドレイン領域、
3…ソース領域、
10、WWL1、WWL2、WWL3、WWL4…書き込みワード線、
11…第1の絶縁膜、
12…第1のコンタクト、
13、13−1、13−2、13−3、13−4…下部金属層、
14…MTJ材料層、
15…第1のハードマスク、
16…第2のハードマスク、
19、MTJ1、MTJ2、MTJ3、MTJ4…MTJ素子、
20…フォトレジスト、
21…第2の絶縁膜、
22…トレンチ、
23、23−1、23−2、23−3、23−4…第2のコンタクト、
24、BM1、BM2、BM3、BM4…バリアメタル層、
25、BL1、BL2、BL3、BL4…ビット線、
30、30−1、30−2、30−3、30−4…突出部、
DL…データ転送線、
RWL…読み出しワード線、
Tr…トランジスタ。
Claims (16)
- 第1の方向に延在された第1の配線と、
前記第1の配線の上方に配置された第1の金属層と、
前記第1の金属層上の所定領域に配置された第1の磁気抵抗効果素子と、
前記第1の磁気抵抗効果素子上に配置された第1のコンタクト層と、
前記第1の方向と異なる第2の方向に延在され、前記第1のコンタクト層上に配置され、前記第1のコンタクト層の上部を覆う突出部を有する第2の配線と、
前記第1の金属層、前記第1の磁気抵抗効果素子、前記第1のコンタクト層及び前記第2の配線の周囲に埋設され、前記第2の配線の表面と同じ高さの表面を有する第1の絶縁膜と
を具備することを特徴とする磁気記憶装置。 - 前記第2の配線はCu膜で形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気記憶装置。
- 前記突出部は、前記第1のコンタクト層の表面から前記第1の磁気抵抗効果素子の方へ、前記第1のコンタクト層の膜厚の10%以上突出していることを特徴とする請求項1に記載の磁気記憶装置。
- 前記第2の配線の底面及び側面に形成されたバリアメタル層と
をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載の磁気記憶装置。 - 前記第1のコンタクト層の平面形状は、前記第1の磁気抵抗効果素子の平面形状とほぼ同じであることを特徴とする請求項1に記載の磁気記憶装置。
- 前記第2の配線の上方に配置され、前記第1の方向に延在された第3の配線と、
前記第3の配線の上方に配置された第2の金属層と、
前記第2の金属層上の所定領域に配置され、前記第1の磁気抵抗効果素子と直列に接続された第2の磁気抵抗効果素子と、
前記第2の磁気抵抗効果素子上に配置された第2のコンタクト層と、
前記第2の方向に延在され、前記第2のコンタクト層上に配置された第4の配線と、
前記第2の金属層、前記第2の磁気抵抗効果素子、前記第2のコンタクト層及び前記第4の配線の周囲に埋設され、前記第4の配線の表面と同じ高さの表面を有する第2の絶縁膜と
をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載の磁気記憶装置。 - 第1の絶縁膜上に、金属層、磁気抵抗効果膜及びマスク層を順に形成する工程と、
前記マスク層を用いて前記磁気抵抗効果膜を選択的に除去し、磁気抵抗効果素子を形成する工程と、
前記金属層を選択的に除去し、前記金属層をセル毎に分離する工程と、
前記金属層及び前記磁気抵抗効果素子を覆う第2の絶縁膜を形成する工程と、
前記第2の絶縁膜を所定の厚さまで平坦化する工程と、
前記第2の絶縁膜を選択的にエッチングし、前記マスク層の上部を露出するトレンチを形成する工程と、
前記トレンチ内に配線材が形成され、前記マスク層の前記上部を覆う突出部を有する配線を形成する工程と
を具備することを特徴とする磁気記憶装置の製造方法。 - 前記配線材はCu膜であることを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記突出部が前記マスク層の膜厚の10%以上突出するように、前記トレンチを形成することを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記配線の底面及び側面にバリアメタル層を形成する工程と
をさらに具備することを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。 - 前記金属層の除去は、フォトレジスト又は絶縁膜をマスクとして行うことを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記マスク層上の前記第2の絶縁膜の膜厚が前記配線の膜厚となるように、前記第2の絶縁膜を前記所定の厚さまで平坦化することを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記マスク層は導電性膜で形成することを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記トレンチを形成する際に、前記マスク層からなるコンタクトを自己整合的に形成することを特徴とする請求項13に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記トレンチの形成におけるエッチングの終点検出は、前記マスク層の成分を検出することにより行われることを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
- 前記磁気抵抗効果素子が配置されたメモリセルの周辺回路部において、前記磁気抵抗効果素子及び前記マスク層と同じ階層にダミーの磁気抵抗効果素子及びマスク層を配置して、前記トレンチを形成することを特徴とする請求項7に記載の磁気記憶装置の製造方法。
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