JP2004125493A - 検査システム - Google Patents

Abstract

【課題】一定速度で搬送される帯状物品につき、欠陥情報とロット情報とを関連付けて提供してオペレータの負担を軽減できる検査システムの提供。
【解決手段】一定方向に搬送される帯状物品の２種以上の欠陥を検出する浮く数の欠陥検出部と、前記欠陥検出部のそれぞれで検出した前記欠陥の種類、発生位置、および発生周期に関する欠陥情報を収集・管理する欠陥情報管理部と、前記帯状物品のロットに関するロット情報が格納されてなるロット情報管理部と、前記欠陥情報管理部からの欠陥情報と前記ロット情報とを互いに関連付けて特定のフォーマットを構成する中央処理管理部と、前記フォーマットを表示する表示部とを備える検査システム。
【選択図】　　　　図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査システムに関し、特に、一定方向に搬送される平版印刷版などの帯状物の表面の欠陥につき、発生傾向を容易に把握できる検査システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
平版印刷版は、一般に、連続した帯状のアルミニウム薄板であるアルミニウムウェブに、砂目立て、陽極酸化、シリケート処理などの表面処理を順次行い、次いで、感光液を塗布・乾燥して感光層を形成した後、所望のサイズに裁断するという工程を経て製造される。
【０００３】
前記裁断工程に移行する前に、感光層の欠陥部（金属光沢傷、色筋、擦り傷、塗布ムラ、異物の付着など）の有無について、オンライン表面検査装置によって光学的に検査される。
【０００４】
そして、前記オンライン表面検査装置が前記欠陥部を検出した時には、平版印刷版の側縁部に識別ラベルを貼付して、前記欠陥部の存在する区間の始点と終点とが判るようにしていた。
【０００５】
そして、裁断時に前記識別ラベルで示された区間の始点と終点とを裁断して、前記欠陥部のある部分を不良品として排除していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
前記オンライン表面検査装置で検出した欠陥部の種類と、発生位置と、発生間隔との関係が整理できれば、オペレータが前記欠陥部の発生傾向を把握するのが容易になるから、対策も講じ易くなる。
【０００７】
また、不良品として排除するほどではない軽微な欠陥についても、欠陥の種類と、発生場所および間隔との関係を整理できれば、オペレータは、前記欠陥の発生傾向を知り、前記欠陥が微小なうちに必要な対策を講じることができるから好ましい。
【０００８】
更に、製造された平版印刷版につき、検査結果に基いてリアルタイムで生産計画を組みなおし、材料であるアルミニウムウェブのロールの割り当て数量である引当数量を新たに設定できれば、生産の遅延や資材の無駄を最小限に押さえることができる。
【０００９】
加えて、前記オンライン表面検査装置では、種々の種類やロットの平版印刷版を検査することが一般的である。そして、平版印刷版の種類やロットが異なれば幅が異なることがあるので、前記オンライン表面検査装置において、平版印刷版の幅に応じて走査幅を自動的に変更できれば、オペレータの負担を大幅に軽減できる。
【００１０】
本発明は、平版印刷版などの帯状物につき、オンライン表面検査装置で検出した欠陥の発生傾向を容易に把握できる欠陥情報を、前記帯状物のロット情報に関連付けてオペレータに提示することにより、オペレータの負担を軽減できる検査システムを提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、一定方向に搬送される帯状物の２種以上の欠陥をそれぞれ検出する複数の欠陥検出部と、前記欠陥検出部が検出した欠陥の種類、発生位置、および発生周期に関する欠陥情報をそれぞれ収集し、管理する複数の欠陥情報管理部と、前記帯状物のロットに関するロット情報が格納されてなるロット情報管理部と、前記欠陥情報管理部のそれぞれから欠陥情報を読み出し、前記ロット情報と互いに関連付け、所定の管理用フォーマットを構成する中央処理管理部と、前記中央処理管理部で構成された管理用フォーマットを表示する表示部とを備えてなることを特徴とする検査システムに関する。
【００１２】
前記検査システムにおいては、前記帯状物の２種類以上の欠陥が前記複数の欠陥検出部の少なくとも１つにより検出される。そして、前記欠陥のそれぞれについて欠陥情報が出力され、前記帯状物に関するロット情報と関連付けされて特定のフォーマットとして表示される。
【００１３】
したがって、オペレータは、前記帯状物に発生する可能性のある複数種の欠陥について、ロット毎の欠陥の種類、発生位置、および発生頻度を容易に把握できる。
【００１４】
また、前記帯状物のロット情報から前記帯状物の製造条件などを容易に割り出すことができるから、前記欠陥を解消するために必要な対策を、容易に、且つ迅速に立てることができる。
【００１５】
更に、前記欠陥情報から、ロット毎の帯状物の得率を求めることができるから、前記得率に基いて、後述するロール引当数量を再設定できる。
【００１６】
前記帯状物としては、たとえば平版印刷版が挙げられるが、他には、録音テープやビデオテープなどの磁気テープ、写真フィルムや映画フィルムなどの銀塩感光層を有する帯状銀塩感光材料、帯状鋼鈑や、帯状ステンレス板、帯状アルミニウム板などの帯状金属板、各種プラスチックフィルム、紙、および布帛などが挙げられる。
【００１７】
前記欠陥検出部は、前記欠陥を光学的に検出する光学的検出装置には限定されず、超音波や電波を用いて欠陥を検出するものも使用できる。
【００１８】
前記欠陥検出部で検出される欠陥としては、前記帯状物の基材が露出する大きな傷、前記帯状物の表面のむら、表面に形成された微細な傷、表面に付着した異物、表面に塗布層が設けられている平版印刷版や磁気テープなどの帯状物において前記塗布層を形成する塗布層形成液が塗布されていない未塗布部分などが挙げられる。
【００１９】
前記表示部としては、コンピュータのディスプレー、およびプリンタなどが挙げられる。
【００２０】
前記ロット情報としては、前記帯状物の品種、ロット番号、公称幅および厚みなどの寸法、および後述するロール引当数量などが挙げられるが、これらの事項には限定されない。
【００２１】
請求項２に記載の発明は、前記ロット情報管理部に格納されるロット情報が、前記帯状物の品種、ロット番号、公称幅、厚み、および前記帯状物の生産に必要な基材ロールの数量であるロール引当数量に関する情報である検査システムに関する。
【００２２】
前記検査システムにおいては、前記帯状物の品種名およびロット番号と欠陥情報とを互いに関連付けて表示することにより、前記帯状物の生産管理がより木目細かに行える。
【００２３】
また、生産計画量と前記欠陥情報とを互いに関連付けて表示することにより、オペレータは、欠陥の発生の多いロットについて前記ロール引当数量を増加させ、新たな引当数量に基いて前記材料を発注するなどの生産計画の修正を容易に行うことができる。
【００２４】
請求項３に記載の発明は、中央処理管理部が、前記欠陥情報および前記ロット情報に基いて前記帯状物の得率を割り出し、前記ロット情報管理部が前記中央処理管理部の割り出した得率に基いて前記基材のロール数量を調整する検査システムに関する。
【００２５】
前記帯状物のある特定のロットにおける欠陥の発生率が集中的に発生し、大量の不良品が生じたときには、当初予定していた基材ロールの数量では不足が生じる可能性がある。
【００２６】
しかし、前記検査システムにおいては、前記帯状物のロット毎における欠陥の発生具合から前記ロットにおける良品の割合である得率を計算し、前記得率に応じて前記基材のロール数量を調整しているから、前記の場合においても基材ロールに不足が生じることがない。
【００２７】
請求項４に記載の発明は、前記ロット情報管理部が、前記中央処理管理部の割り出した得率に基いて前記ロール引当数量を更新する検査システムに関する。
【００２８】
前記生産システムにおいては、ロール引当数量を更新することにより、基材ロールの数量を調整しているから、基材ロールの数量の調整に前記ロット情報管理部に格納されているロット情報が利用できる。したがって、前記基材ロールの数量を調整するための新たなシステムを付加する必要がなく、システム全体の構成が簡略化できる。
【００２９】
請求項５に記載の発明は、前記中央処理管理部が、欠陥の種類に応じて警報装置に警報を発生させる検査システムに関する。
【００３０】
前記検査システムによれば、不良品に繋がるような重大な欠陥を検出したときには、前記警報装置を通してオペレータに警報を与えることができるから、オペレータがこのような欠陥を見過ごすことが防止される。
【００３１】
請求項６に記載の発明は、前記中央処理管理部が、前記欠陥情報管理部から入力される欠陥の傾向に基いて前記欠陥検出部における異常の有無を判定する検査システムに関する。
【００３２】
前記検査システムによれば、前記帯状体における欠陥の発生状況だけでなく、前記欠陥検出部の運転状況をリアルタイムで確認できるから、前記欠陥の発生が異常に多いとの表示が前記表示部においてなされたときに、オペレータは、前記異常表示が、帯状物そのものの異常に起因するのか、それとも前記欠陥検出部の故障に起因するのかを容易に判定できる。
【００３３】
請求項６に係る検査システムの具体例としては、前記中央処理管理部が、前記欠陥情報管理部を介して前記欠陥検出部から運転状況を示すデータを読み出して前記判定を行なう検査システムが挙げられる。
【００３４】
前記検査システムにおいては、前記中央処理管理部が、前記欠陥検出部が前記帯状物上において欠陥を検出する幅である検出幅のデータを前記欠陥情報出力装置から読み出し、前記帯状物の公称幅であるロット幅を前記ロット情報管理部から読み出し、前記検査幅と前記ロット幅とを比較し、前記検査幅と前記ロット幅との差が一定範囲内のときは、前記検査幅は正常であると判定し、前記差が前記範囲を超えたときは、前記検査幅は異常であると判定し、前記判定結果を前記表示部に入力して表示させてもよい。
【００３５】
前記検査システムによれば、オペレータは、前記検査幅が前記ロット幅と比較して過大か、適正か、それとも過小かを、前記ディスプレーの画面上でリアルタイムで確認できる。
【００３６】
前記請求項１〜６に記載の検査システムは、前記帯状物が、帯状のアルミニウム薄板であるアルミニウムウェブの少なくとも一方の面に感光性または感熱性の製版層を形成してなる平版印刷版である検査システムを含む。
【００３７】
前記検査システムによれば、オペレータは、生産中の平版印刷版について、ロット別および品種別の欠陥の種類、発生位置、および発生頻度を容易に把握できるので、前記欠陥に対する対策の立案および生産計画の修正が容易に行える。
【００３８】
また、前記請求項１〜６に記載の検査システムにおいては、前記ロット情報管理部に、前記欠陥情報出力装置から欠陥情報を読み込んで前記ロット情報を修正する機能をもたせてもよい。
【００３９】
帯状物に発生する欠陥の頻度が多い場合には、前記部分を不良品として排除する必要があるが、不良品として排除する部分が多い場合には、当初のロット情報では帯状物に不足が生じる場合がある。
【００４０】
しかし、前記検査システムにおいては、前記の場合に、前記ロール引当数量を増加させる修正を行うことにより、帯状物の生産に支障が生じるのを防止することができる。
【００４１】
【発明の実施の形態】
１．実施形態１
本発明に係る検査システムの一例であり、一定の速度で搬送される平版印刷版の表面に存在する欠陥の有無、位置、および周期などを検査するオンライン表面検査システムの構成を、図１および図２を用いて説明する。
【００４２】
図１および図２に示すように、実施形態１に係るオンライン表面検査システム１００は、平版印刷版Ｐの感光層を形成した側の面であるＡ面の全幅に亘ってレーザ光を走査して前記Ａ面上の光沢傷を検出するＡ面レーザ光走査型検出装置２と、平版印刷版ＰのＡ面とは反対側の面であるＢ面の全幅に亘ってレーザ光を走査して前記Ｂ面上の光沢傷を検出するＢ面レーザ光走査型検出装置４と、電荷結合素子（ＣＣＤ）により、前記Ａ面に形成された感光層表面の欠陥を検出する色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８とを備える。なお、平版印刷版Ｐの感光層は、本発明に係る検査システムで検査できる平版印刷版における製版層の一例である。
【００４３】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２とＢ面レーザ光走査型検出装置４とは、欠陥信号処理装置５０に接続され、色筋検出装置１２と擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６と色検出装置１８とは、欠陥信号処理装置５２に接続されている。
【００４４】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２と、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４と、色筋検出装置１２と、擦り傷検出装置１４と、光沢検出装置１６と、色検出装置１８とは、何れも本発明の検査システムにおける欠陥検出部に相当し、中でも前記欠陥検出部のうちの光学的検出装置に相当する。
【００４５】
また、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４は、本発明の検査システムにおけるレーザ光走査型検出装置に相当し、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８は、前記検査システムにおけるＣＣＤ型欠陥検出装置に相当する。
【００４６】
オンライン表面検査システム１００は、さらに、平版印刷版Ｐの搬送ラインに設けられ、平版印刷版Ｐの側縁部に、欠陥の発生した区間の始点と終点とを示すマークを附するマーキング装置８０も備えている。
【００４７】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８は、図２に示すように、平版印刷版Ｐの搬送方向ａに沿って上流側から下流側に向かってＢ面レーザ光走査型検出装置４、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、色検出装置１８、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、色筋検出装置１２の順で配置されている。
【００４８】
そして、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６、および色検出装置１８のそれぞれの下方には検査ローラ４０が配設され、各検査ロール４０の間には、平版印刷版Ｐを巻き掛けてテンションをとるテンションローラ４２が設けられている。
【００４９】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４の近傍にはそれぞれ検査ローラ４４および４６が配設されている。
【００５０】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４は、図２および図３に示すように、レーザ光源（図示せず。）からのレーザ光を検査ローラ４４または４６に巻き掛けられて搬送される平版印刷版Ｐの全幅に亘って、図３において矢印ｂで示す方向に走査するレーザ光照射部２Ａ（４Ａ）と、平版印刷版Ｐの幅方向に沿って受光素子を配列した受光素子アレイからなり、Ａ面またはＢ面からの反射光を受光してその強度に応じた光電流を出力するレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）とを備える。レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）においては、一定速度で回転するポリゴンミラーによりレーザ光を一方向に走査することができる。また、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、平版印刷版Ｐの全幅に亘って延在する。
【００５１】
レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）およびレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、何れも欠陥信号処理装置５０に接続されている。レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、前記レーザ光が平版印刷版Ｐに照射される位置である受光位置と前記受光位置における光電流の強さとを欠陥信号処理装置５０に出力する。
【００５２】
一方、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）およびレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から入力された反射光強度およびレーザ光照射位置についての情報に基き、欠陥信号処理装置５０からの指令により、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）におけるレーザ光強度、走査速度、および走査幅が制御される。
【００５３】
検査ローラ４４（４６）には、平版印刷版Ｐの搬送距離を検出するタコメータ２Ｃ（４Ｃ）が接続され、前記タコメータ２Ｃ（４Ｃ）も欠陥信号処理装置５０に接続されている。
【００５４】
色筋検出装置１２は、図２に示すように、前記Ａ面の全幅に亘って帯状の光を照射する１対の光源２０とＣＣＤカメラ２２とを備える。ＣＣＤカメラ２２は、平版印刷版Ｐの幅方向に配列されたＣＣＤからなり、前記Ａ面からの反射光を受光するＣＣＤアレイ２２Ａと、光源２０からの光がＡ面で反射された反射光をＣＣＤアレイ２２Ａに集光させる集光レンズ２２Ｂとを有する。なお、光源２０は、Ａ面上において、照射光が平版印刷版Ｐの全幅に亘る同一直線上に集中するように配設されている。色筋検出装置１２は、平版印刷版Ｐの搬送方向ａに沿って伸び、周囲とは色彩の異なる筋状の欠陥である色筋を検出する機能を有する。
【００５５】
色筋検出装置１２においては、図４に示すように、ＣＣＤカメラ２２からの受光電圧を欠陥信号処理装置５２に出力し、欠陥信号処理装置５２は、前記受光電圧に基いて光源２０に光量制御信号を出力し、光源２０は、前記光量制御信号に基いて平版印刷版Ｐに照射する光量を調節する。これは、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８についても同様である。
【００５６】
擦り傷検出装置１４もまた、前記Ａ面の全幅に亘って帯状の光を照射する光源２４とＣＣＤカメラ２２と同様の構成を有するＣＣＤカメラ２６とを備える。しかし、色筋検出装置１２にとは異なり、光源２４の個数は１個である。そして、ＣＣＤカメラ２６の正面に、光源２４からの光がＡ面で反射された反射光中の縦波をカットし、横波だけを通過させる偏光フィルタ２８が設けられ、Ａ面上の擦り傷を検出する機能を有する。
【００５７】
光沢検出装置１６は、点状の明暗および傷と異物とをに検出する機能を有し、前記Ａ面に光を照射する蛍光灯からなる光源３２と、前記光源３２からの光が前記Ａ面で反射された反射光を検知するＣＣＤカメラ３４とを備える。ＣＣＤカメラ３４は、ＣＣＤが正方形状に配列されたＣＣＤアレイ３４Ａと、前記Ａ面からの反射光をＣＣＤアレイ３４Ａに集光させるおける集光レンズ３４Ｂとを備える。
【００５８】
色検出装置１８は、点状の色むらや異物を検出する機能を有し、光沢検出装置１６と同様に、前記Ａ面に光を照射する蛍光灯からなる光源３６と、ＣＣＤカメラ３４と同様の構成を有し、前記光源３６からの光が前記Ａ面で反射された反射光を検知するＣＣＤカメラ３８とを備える。但し、光沢検出装置１６とは異なり、光源３６は１対設けられ、照射光が、平版印刷版Ｐの全幅に亘る同一直線上に集中するように配設されている。
色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８においては、ＣＣＤカメラ２２（２６、３４、３６）を、平版印刷版Ｐの搬送経路である搬送面の幅方向に亘って複数台設けることができる。図４は、色筋検出装置１２について、ＣＣＤカメラ２２および光源２０と検査ローラ４０および平版印刷版Ｐとの相対的な位置関係を示す。
【００５９】
欠陥信号処理装置５０は、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４からのデータを処理してＡ面およびＢ面における欠陥の位置、種類を判定する機能と、前述のように、入力された設定情報に基いてＡ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４を制御する機能とを有する。
【００６０】
欠陥信号処理装置５０は、図１に示すように制御コンピュータ５４に接続されている。
【００６１】
欠陥信号処理装置５０には、更に、欠陥信号処理装置５０において判定された１または２以上の種類の欠陥について、周期を判定する欠陥周期判定コンピュータ６４と、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ６４の判定結果に基いてＡ面およびＢ面における欠陥の位置および種類を表示する欠陥表示モニター６６とが接続されている。
【００６２】
欠陥周期判定コンピュータ６４は、制御コンピュータ５４に接続されている。
【００６３】
制御コンピュータ５４は、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ６４を制御したり、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ６４とデータおよび制御指令を授受したりする機能を有し、他に、マーキング装置８０を制御する機能も有している。
【００６４】
制御コンピュータ５４は、信号中継装置５８に接続され、さらに、警報ランプや警報ブザーなどの各種外部警報装置（図示せず。）を作動させる外部接点出力部６８にも接続されている。
【００６５】
欠陥信号処理装置５０、制御コンピュータ５４、欠陥周期判定コンピュータ６４、および外部接点出力部６８は、本発明の検査システムにおける欠陥情報管理部に相当する。
【００６６】
欠陥信号処理装置５２は、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８から送出された各種欠陥データを処理してＡ面上における欠陥の種類および位置を判定する機能と、設定情報が入力され、この設定情報に基いて色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８を制御する機能を有する。
【００６７】
欠陥信号処理装置５２には、図１に示すように、欠陥信号処理装置５２において判定された欠陥の位置および種類を表示する欠陥表示ディスプレー６５と、制御コンピュータ５６とが接続されている。
【００６８】
制御コンピュータ５６は、欠陥信号処理装置５２とデータおよび制御指令を授受したりする機能を有し、他に、マーキング装置８０を制御する機能も有している。制御コンピュータ５６もまた、信号中継装置５８に接続されている。
【００６９】
欠陥信号処理装置５２、制御コンピュータ５６、および欠陥表示ディスプレー６５もまた、本発明の検査システムにおける欠陥情報管理部に相当する。
【００７０】
信号中継装置５８には、更に、制御コンピュータ５４および５６から出力された各種欠陥情報を総合すると同時に、制御コンピュータ５４および５６に欠陥信号処理装置５０および欠陥信号処理装置５２を設定・制御する各種設定情報を送出する統括コンピュータ６０、および統括コンピュータ６０に平版印刷版のロットに関するロット情報および現在時刻などの情報を送出するとともに、統括コンピュータ６０から各種欠陥情報を受けとり、ある特定のロットの平版印刷版の生産に必要なアルミニウムウェブのロール数量であるロール引当数量を再割り当てするなどの生産計画の変更を行う生産管理コンピュータ６２が接続されている。生産管理コンピュータ６２で取り扱うロット情報としては、平版印刷版Ｐの品種、ロット番号、幅、厚み、およびロール引当数量などがある。
【００７１】
統括コンピュータ６０には、マウスによって各種の指示が入力されるとともに前記欠陥情報および前記ロット情報を表示するディスプレー７０、およびディスプレー７０で表示した内容をプリントアウトするプリンタ７２が接続されている。
【００７２】
生産管理コンピュータ６２は、本発明の検査システムにおけるロット情報管理部に相当し、統括コンピュータ６０は、前記検査システムにおける中央処理管理部に相当する。そして、ディスプレー７０およびプリンタ７２は、前記検査システムにおける表示部に相当する。
【００７３】
以下、オンライン表面検査システム１００の作用について説明する。
【００７４】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４におけるレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から欠陥信号処理装置５０に入力される受光信号は、図５に示すように、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）の受光素子アレイにおいて前記反射光を受光した受光素子の位置を示す位置データＬと、前記受光素子において発生した光電流Ｉの大きさとについての情報を含む。ここで、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、平版印刷版Ｐの搬送面の近傍に配設されているから、位置データＬは、前記レーザ光の平版印刷版Ｐの幅方向に沿った照射位置にほぼ一致する。
【００７５】
欠陥信号処理装置５０においては、図６に示すように、前記受光信号のうち、光電流ＩをＡ／Ｄ変換器５０ＡにおいてＡ／Ｄ変換し、次いで微分回路５０Ｂにおいて微分して微分信号Ｉ’を得る。
【００７６】
光沢傷は、下地のアルミニウム層が露出するほどの深い傷であるから、創面は通常強い金属光沢を帯びている。故に、図５および図６に示すように、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）からのレーザ光が光沢傷ｓに当ると強く反射され、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）にも強度の高いレーザ光が入射して光電流Ｉが急激に増大する。
【００７７】
したがって、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’においても、光電流Ｉ_ｐに対応する急峻な正のスパイク状ピークＳｐ１とそれに引き続く急峻な負のスパイク状ピークＳｐ２とが出現する。
【００７８】
そこで、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’を比較回路５０Ｃに入力し、比較回路５０Ｃにおいて、スパイク状ピークＳｐ１およびＳｐ２の有無、およびスパイク状ピークＳｐ１の高さが予め設定された基準値ｉを超えたかどうかを判定し、スパイク状ピークＳｐ１およびＳｐ２が出現し、しかもスパイク状ピークＳｐ１の高さが基準値ｉを超えたとき、前記スパイク状ピークＳｐ１からＳｐ２までの部分に光沢欠陥があると判定する。そして、光沢傷の大きさを示すデータとして、前記スパイク状ピークＳｐ１からＳｐ２までの光電流Ｉのピーク値である光電流Ｉ_ｄｆを出力する。
【００７９】
ここで、平版印刷版Ｐは、図５に示すように、幅方向に沿ってレーン１（Ｌ１）、レーン２（Ｌ２）、レーン３（Ｌ３）…、レーン１５（Ｌ１５）の１５の帯域に分割される。そして、欠陥信号処理装置５０における受光位置信号処理部５０Ｄには、入力された位置データＬがＬ１〜Ｌ１５の何れに対応するかという対応関係が記憶されている。
【００８０】
受光位置信号処理部５０Ｄは、スパイク状ピークＳｐ１およびＳｐ２に対応する位置データＬが入力されると、光沢傷の位置を示す欠陥位置データＬ_ｄｆを出力する。
【００８１】
比較回路５０Ｃから出力された光電流Ｉ_ｄｆと受光位置信号処理部５０Ｄから入力された欠陥位置データＬ_ｄｆとは、欠陥判定部５０Ｅに入力される。また、タコメータ２Ｃ（４Ｃ）から出力されたスパイク状ピークＳｐ１およびＳｐ２に対応する平版印刷版Ｐの搬送距離ｄ_ｃｖも、適宜Ａ／Ｄ変換されて欠陥判定部５０Ｅに入力される。
【００８２】
欠陥判定部５０Ｅにおいては、光電流Ｉ_ｄｆと搬送距離ｄ_ｃｖと欠陥発生レーンＬ_ｄｆとから、光沢傷の幅、長さおよび搬送方向ａに沿った位置を求め、予め設定された光沢傷の幅および長さと種類（欠陥Ａ〜Ｈ（Ａ面）および欠陥ａ〜ｈ（Ｂ面））に基き、前記光沢傷が欠陥Ａ〜Ｈおよび欠陥ａ〜ｈの何れに相当するかを判定する。そして、前記判定結果に基き、光沢傷について、位置および種類に関する欠陥情報を、制御コンピュータ５４および欠陥表示モニター６６および欠陥周期判定コンピュータ６４に入力する。
【００８３】
また、欠陥判定部５０Ｅは、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）における１回の走査において、最初にレーザ光を受光した受光素子の位置データＬ_{ｆｉｒｓｔ}と最後にレーザ光を受光した受光素子の位置データＬ_ｌａｓｔも制御コンピュータ５４に入力する。
【００８４】
欠陥周期判定コンピュータ６４においては、前記データに基き、光沢傷が搬送方向ａに沿ってどの位の間隔で発生しているかという光沢傷の発生周期を求め、前記発生周期を制御コンピュータ５４に入力する。
【００８５】
制御コンピュータ５４は、欠陥信号処理装置５０の光沢傷に関する欠陥情報、および欠陥周期判定コンピュータ６４からの前記発生周期に関する発生周期情報を、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に出力する。
【００８６】
制御コンピュータ５４は、また、前記位置データＬ_{ｆｉｒｓｔ}およびＬ_ｌａｓｔに基き、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４において平版印刷版Ｐを検査する幅である検査幅Ｗ_１を求める。検査幅Ｗ_１も、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に入力される。
【００８７】
欠陥信号処理装置５０は、更に、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）に印加される印加電圧ｖの価も、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）の運転状態を示すデータとして制御コンピュータ５４に入力し、制御コンピュータ５４は、前記印加電圧ｖの価を、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に入力する。
【００８８】
色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からのデータは、欠陥信号処理装置５２において以下の手順に従って処理される。
【００８９】
以下、前記手順について、色筋検出装置１２を例にとって説明する。
【００９０】
色筋検出装置１２の備えるＣＣＤカメラ２２から欠陥信号処理装置５２に、ＣＣＤアレイ２２Ａにおける受光電圧Ｖと、前記受光電圧Ｖを発生したＣＣＤがＣＣＤアレイ２２ＡにおけるどのＣＣＤに当るかを示す位置データＬとが入力される。
【００９１】
図７に示すように、欠陥信号処理装置５２におけるＡ／Ｄ変換部５２Ａで受光電圧Ｖはアナログ量からデジタル量に変換される。そして、前記デジタル量に変換された受光電圧は、前記ＣＣＤの位置データＬと関連付けて記憶装置５２Ｂに一旦記憶される。そして、信号処理回路５２Ｃでノイズ低減処理される。
【００９２】
信号処理回路５２Ｃでノイズ低減処理された受光電圧Ｖと位置データＬとは、比較器５２Ｄに入力される。
【００９３】
ここで、前述のように、感光層は、アルミニウムウェブに砂目立てなどの処理を施して製造された基材を長手方向に連続的に搬送しつつ、感光液を塗布し、嵌装することにより形成されるから、平版印刷版Ｐの感光層における厚さが過大な部分および厚さが過小な部分は、平版印刷版Ｐの長手方向に沿った筋状に現れる。そして、前記感光層は、通常、濃緑色または藍色に着色しているから、前記感光層の厚さの過大な部分は、周囲よりも色の濃い濃色筋として現れ、前記感光層の厚さの過小な部分は、周囲よりも色の薄い淡色筋として現れる。前記濃色筋および淡色筋を色筋という。
【００９４】
したがって、前記色筋の現れた平版印刷版をＣＣＤカメラ２２で撮影すると、色筋の部分においては、周囲よりも低い受光電圧（濃色筋の場合）または高い受光電圧（淡色筋の場合）が出力される。
【００９５】
そこで、比較器５２Ｄにおいては、入力された受光電圧Ｖを、比較器５２Ｄに予め入力された上限電圧Ｖ_ｍａｘおよび下限電圧Ｖ_ｍｉｎと比較し、受光電圧Ｖが上限電圧Ｖ_ｍａｘを超えた場合および下限電圧Ｖ_ｍｉｎよりも低かった場合、色筋が存在すると判定する、そして、前記色筋の程度を示すデータとして、前記受光電圧Ｖの大きさが出力され、前記色筋の位置を示すデータとして、前記色筋からの反射光を受光したＣＣＤの位置データＬが出力される。
【００９６】
そして、比較器５２Ｄから制御コンピュータ５６に、前記色筋についての欠陥情報として、色筋の有無、前記色筋における受光電圧Ｖ、および色筋を検出したＣＣＤの位置データＬが入力される。
【００９７】
また、比較器５２Ｄは、ＣＣＤアレイ２２ＡにおけるＡ面からの反射光を受光したＣＣＤのうち、両端のものの位置データＬも制御コンピュータ５６に入力する。制御コンピュータ５６は、前記位置データＬに基いて色筋検査装置１２の検査幅Ｗ_２を求める。
【００９８】
制御コンピュータ５６は、前記位置データＬから、前記色筋が、平版印刷版の帯域Ｌ１〜Ｌ１５の何れに存在するかを判定する。また、受光電圧Ｖから前記色筋が厚み過大部および厚み過小部の何れに相当するか、および前記色筋の程度を判定する。
【００９９】
擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からのデータも、欠陥信号処理装置５２において、同様の手順に従って処理され、擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物を検出したＣＣＤにおける受光電圧および前記ＣＣＤの位置データが制御コンピュータ５６に入力される。制御コンピュータ５６は、受光電圧およびＣＣＤの位置データに基いて擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物の有無、大きさ、および平版印刷版ＰにおけるＬ１〜Ｌ１５のどの帯域に存在するかという位置を判定する。
【０１００】
制御コンピュータ５６においては、さらに、前記位置データに基いて擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８のそれぞれ検査幅である検査幅Ｗ_３、Ｗ_４、およびＷ_５を求める。
【０１０１】
制御コンピュータ５６は、これらの欠陥情報および検査幅についての情報を欠陥表示ディスプレー６５において表示するとともに、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に入力する。
【０１０２】
統括コンピュータ６０においては、図８に示すように、制御コンピュータ５４から光沢傷についての欠陥情報が入力され、色筋、擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物についての欠陥情報が制御コンピュータ５６から入力され、生産管理コンピュータ６２から平版印刷版Ｐについてロット番号、幅（アルミ幅）、厚み、アルミニウムウェブのメーカー、品種名、およびロール引当数量などのロット情報が入力される。統括コンピュータ６０は、中央処理装置６０Ｂと記憶装置６０Ａとを有し、中央処理装置６０Ｂは、これらの情報を記憶装置６０Ａの所定の領域に格納する。
【０１０３】
中央処理装置６０Ｂは、また、ディスプレー７０から入力された各種指示に応じて、記憶装置６０Ａから前記欠陥常法およびロット情報を読み出し、所定のフォーマットを構成してディスプレー７０に出力する。
【０１０４】
そして、ディスプレー７０は、前記フォーマットに基いて、グラフおよび帳簿形式の各種傾向管理画面を表示する。
【０１０５】
ディスプレー７０に表示される傾向管理画面は、たとえば、図９に示すように、画面の左上部に位置し、平版印刷版のＡ面の帯域Ｌ１〜Ｌ１５における欠陥の発生状況をグラフで示すＡ面傾向管理画面、画面の右上部に位置し、平版印刷版のＢ面の帯域Ｌ１〜Ｌ１５における欠陥の発生状況をグラフで表示するＢ面傾向管理画面、画面の左下部に位置し、前記Ａ面において欠陥を検出した帯域である検出レーンと、前記検出レーンにおける欠陥の検出位置および発生周期とを示すＡ面周期判定結果と、画面の右下部に位置し、前記Ｂ面における検出レーンと、前記検出レーンにおける欠陥の検出位置および発生周期とを示すＢ面周期判定結果とから構成される。
【０１０６】
前記Ａ面傾向管理画面における前記グラフの下方には、表示しようとする欠陥の種類を指定するキーであるＪ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌと、前記欠陥を全て表示させる全選択キーと、前記欠陥の指定を解除する解除キーとが表示されている。ここで、Ｊ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌは、表１に示すように、Ａ面における以下の欠陥に対応する。
【０１０７】
【表１】

なお、前記欠陥のうち、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌについては、前記図９および表１には示されていないが、Ｓ１とＳ２との２つの感度設定を行うことができる。感度をＳ１に設定すると、不良品として排除すべきＮＧレベルの欠陥のみが検出される。一方、感度をＳ２に設定すると、不良品として排除するほどではないＯＫレベルの欠陥も検出され、得られたデータから欠陥の発生傾向を管理する傾向管理を行うことができる。
【０１０８】
同様に、前記Ｂ面傾向管理画面における前記グラフの下方には、表示しようとする欠陥の種類を指定するキーであるｊ、ｋ、ｍ、ｎと、前記欠陥を全て表示させる全選択キーと、前記欠陥の指定を解除する解除キーとが表示されている。ここで、ｊ、ｋ、ｍ、ｎは、表２に示すように、Ｂ面における以下の欠陥に対応する。
【０１０９】
【表２】

前記画面における前記Ａ面周期判定結果および前記Ｂ面周期判定結果の下方には、表示などの切替を行う１２個のファンクションキーである「Ｆ１：傾向管理」、「Ｆ２：Ａ面傾向」、「Ｆ３：Ｂ面傾向」、「Ｆ４：ＳＬ幅データ」、「Ｆ５：ＳＬ状態」、「Ｆ６：ＭＩＴ−４状態」、「Ｆ７：Ａ面周期」、「Ｆ８：Ｂ面周期」、「Ｆ９：印刷」、「Ｆ１０：メンテナンス」、「Ｆ１１：出側ジャンボ」、および「Ｆ１２：終了」の１２個のキーが表示されている。なお、図９に示す傾向管理画面は、「Ｆ１：傾向管理」キーをクリックすることにより表示される。
【０１１０】
傾向管理画面の左上端部には、生産管理コンピュータ６２から入力されたロット情報のうちの、平版印刷版Ｐの品種名が表示される。
【０１１１】
ディスプレー７０の表示画面において、図９における「Ｆ２：Ａ面傾向」キーをクリックすると、図９に示す傾向管理画面の中のＡ面傾向管理画面を拡大して表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。
【０１１２】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示を受け取ると、記憶装置６０ＡからＡ面における欠陥情報を読み出し、ディスプレー７０に入力する。
【０１１３】
ディスプレー７０は、前記欠陥情報が入力されると、図１０に示すようなＡ面傾向管理画面を表示する。
【０１１４】
Ａ面傾向管理画面においては、図１０に示すように、帯域Ｌ１〜Ｌ１５のそれぞれについて平版印刷版Ｐの搬送距離と欠陥の発生個数との関係を示すグラフが表示される。前期グラフにおいては、縦軸が搬送距離であり、横軸が欠陥の発生個数である。また、欠陥が０個のときは黒丸が、欠陥が２個以上のときは赤丸が表示される。制御コンピュータ５４または５６から欠陥の発生周期のデータが入力されると、前記グラフのそれぞれの下方に、前記発生周期がミリメートル単位で表示される。
【０１１５】
なお、図１０は、欠陥Ｊ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌの全てについて帯域Ｌ１〜Ｌ１５毎の発生状況を表示している状態を示すが、たとえば「Ｊ」キーをクリックすることにより、欠陥Ｊの発生状況のみを表示させることができる。
【０１１６】
ディスプレー７０において、図９または図１０における「Ｆ３：Ｂ面傾向」キーをクリックすると、図９に示す傾向管理画面の中のＢ面傾向管理画面を拡大して表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。
【０１１７】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示を受け取ると、記憶装置６０ＡからＢ面における欠陥情報を読み出し、ディスプレー７０に入力する。
【０１１８】
ディスプレー７０は、前記欠陥情報が入力されると、図１１に示すようなＢ面傾向管理画面を表示する。
【０１１９】
前記Ｂ面傾向管理画面においても、同様に、帯域Ｌ１〜Ｌ１５のそれぞれについて平版印刷版Ｐの搬送距離と欠陥の発生個数との関係を示すグラフが表示される。その他の点についても、表示すべき欠陥を指定するキーとして、ｊ、ｋ、ｍ、ｎの４個のキーが設けられている以外は、前記Ａ面傾向管理画面と同様である。
【０１２０】
図９、図１０、または図１１に示す画面における「Ｆ７：Ａ面周期」キーをクリックすると、前記Ａ面傾向管理画面で指定した欠陥について周期を表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。
【０１２１】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示が入力されると、欠陥情報の中の前記欠陥についての発生周期、発生位置、およびロット情報の中の品種名、ロット番号、およびアルミ幅を記憶装置６０Ａから呼び出し、ディスプレー７０に伝達する。
【０１２２】
ディスプレー７０は、前記情報が入力されると、図１２に示す帳簿形式の画面であるＡ面周期判定結果を表示する。
【０１２３】
Ａ面周期判定結果の画面には、図１２における左側から、年月日、時刻、品種、ロット番号、アルミニウム幅、欠陥検出位置を示す検出幅、欠陥の発生周期を示す周期、欠陥を検出した帯域を示す検出レーン、前記欠陥の検出位置におけるロール径である該当ロール径、および該当ロール番号の１０個の欄が設けられている。
【０１２４】
図９〜図１２における「Ｆ８：Ｂ面周期」キーをクリックすると、前記Ａ面周期判定結果のところで述べたのと同様にして、前記Ｂ面傾向管理画面で指定した欠陥の周期が、図１３に示す帳簿形式の画面であるＢ面周期判定結果としてディスプレー７０に表示される。
【０１２５】
図９〜図１３における「Ｆ１１：ジャンボ出側」キーをクリックすると、ディスプレー７０は、不良品として排除すべき著しい欠陥であるジャンボ押傷についての設定画面であるジャンボ押傷設定画面を表示する。ジャンボ押傷設定画面の一例を図１４に示す。
【０１２６】
図１４に示すように、ジャンボ押し傷設定画面における上部には、Ａ面レーザ光走査型検出装置２またはＢ面レーザ光走査型検出装置４で検出された光沢傷である欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、およびＨの何れを、ジャンボ押傷に指定するかを入力する「Ａ」キー〜「Ｇ」キーが設けられ、その下方には、欠陥Ａ〜Ｇを全てジャンボ押傷に指定する「全選択」キーと、「Ａ」キー〜「Ｇ」キーまたは「全選択」キーで入力した内容を取り消す「全解除」キーとが設けられている。
【０１２７】
ここで、欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、およびＨは、以下の表３に示す種類の欠陥である。
【０１２８】
【表３】

「全選択」キーおよび「全解除」キーの下方には、後述する出側停止印字設定画面に移行する「出側設定」キーと、前記出側停止印字設定画面からジャンボ押し傷設定画面に戻る「ジャンボ設定」キーとが設けられている。
【０１２９】
ジャンボ押傷設定画面においてジャンボ押傷を指定したときのデータの流れを図１６に示す。
【０１３０】
ジャンボ押傷設定画面において、図１４および図１６に示すように、たとえば「Ａ」キー、「Ｂ」キー、「Ｅ」キー、および「Ｆ」キーをクリックすると、ディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに、前記欠陥Ａ〜Ｈのうち、欠陥Ａ、Ｂ，Ｅ、およびＦをジャンボ押傷に指定すべき旨の指示が入力される。
【０１３１】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示が入力されると、欠陥Ａ、Ｂ，Ｅ、およびＦをジャンボ押傷として指定する。
【０１３２】
次に、制御コンピュータ５４から中央処理装置６０Ｂに欠陥Ｘについての欠陥情報が入力されると、中央処理装置６０Ｂは、前記欠陥Ｘが、ジャンボ押傷に指定された欠陥Ａ、Ｂ，Ｅ、およびＦの群に包含されるか否かを判定する。そして、前記判定がＹｅｓの場合には、警報出力を制御コンピュータ５４に入力する。
【０１３３】
制御コンピュータ５４は、前記警報出力が入力されると外部接点出力部６８に外部警報装置を作動させるべき旨の指示を入力する。
【０１３４】
外部接点出力部６８は、制御コンピュータ５４から前記指示が入力されると警報ランプや警報ブザーなどを作動させる。
【０１３５】
図１４に示す画面において「出側停止」キーをクリックしたとき、ディスプレー７０には、図１５に示すような出側停止印字設定画面が表示される。
【０１３６】
出側停止印字設定画面には、図１５に示すように、Ａ面レーザ光走査型検出装置２で検出される欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、およびＨの何れを、平版印刷版Ｐの搬送ラインを停止すべき欠陥である出側停止欠陥に指定するかを設定する「Ａ」キー〜「Ｈ」キーと、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８で欠陥Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、およびＬの何れを前記出側停止欠陥に指定するかを設定する「Ｓ」キー〜「Ｌ」キーと、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４で検出される欠陥ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、およびｈの何れを前記出側停止欠陥に指定するかを設定する「ａ」キー〜「ｈ」キーとが表示されている。
【０１３７】
ここで、欠陥ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、およびｈは、以下の表４に示す種類の欠陥である。
【０１３８】
【表４】

なお、「Ａ」キーの左側には、欠陥Ａ〜Ｈの全てを前記出側停止欠陥に指定する「ＳＬＡ面全選択」キーが表示され、「Ｓ」キーの左側には、欠陥Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、およびＬの全てを前記出側停止欠陥に指定する「ＭＩＴ全選択」キーが表示されている。そして、「ａ」キーの左側には、欠陥ａ〜ｈの全てを前記出側停止欠陥に指定する「ＳＬＢ面全選択」キーが表示されている。
【０１３９】
「ａ」キー〜「ｈ」キーの下方には、欠陥Ａ〜Ｈ、欠陥Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌ、および欠陥ａ〜ｈの全てを前記出側停止欠陥に指定する「全選択」キーと、「全選択」キーに隣接して設けられ、前記指定を解除する「全解除」キーとが表示されている。
【０１４０】
「全選択」キーと「全解除」キーとの下方には、「出側停止」キーと「ジャンボ設定」キーとが表示されている。
【０１４１】
出側停止印字設定画面において、「Ａ」キー〜「Ｈ」キーなどをクリックして前記出側停止欠陥を指定したときのデータの流れを図１７に示す。
【０１４２】
図１７に示すように、ディスプレー７０において、たとえば「Ａ」キー、「Ｂ」キー、「Ｄ」キー、「Ｅ」キー、「Ｆ」キーをクリックすると、ディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに、欠陥Ａ，Ｂ、Ｄ、Ｅ、およびＦを出側停止欠陥に指定すべき旨の指示が入力される。
【０１４３】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示が入力されると、前記指示に従って欠陥Ａ，Ｂ、Ｄ、Ｅ、およびＦを出側停止欠陥に指定する。
【０１４４】
制御コンピュータ５４および制御コンピュータ５６から欠陥Ｙについての欠陥情報が入力されると、中央処理装置６０Ｂは、前記欠陥Ｙが出側停止欠陥に包含されるか否かを判定する。そして、前記判定がＹｅｓであったときは、制御コンピュータ５４または制御コンピュータ５６に、平版印刷版Ｐの搬送ラインを停止すべき旨の指示を入力する。制御コンピュータ５４および制御コンピュータ５６は、前記指示が入力されると、停止信号を前記搬送ラインに入力し、前記搬送ラインを停止させる。
【０１４５】
図９〜図１５にに示す画面において、「Ｆ４：ＳＬ幅データ」キーをクリックすると、中央処理装置６０Ｂは、制御コンピュータ５４から入力された検出幅Ｗ_１の価と、生産管理コンピュータ６２から入力された日付、時刻、品種名、ロット番号、Ａｌ幅とをディスプレー７０に入力して図１８に示す「ＳＬ７０００幅検出データ」画面に表示させるとともに、検出幅Ｗ_１と前記Ａｌ幅とを比較してその判定結果もディスプレー７０に表示させる。ここで、中央処理装置６０Ｂは、検出幅Ｗ_１と前記Ａｌ幅との差がたとえば±４ｍｍ以内であれば正常と判定し、前記差が４ｍｍを越えると異常と判定する。
【０１４６】
オペレータは、前記画面を見ることにより、検出幅Ｗ_１が正常範囲内にあるか否かを判断でき、検出幅Ｗ_１が正常範囲内に無い場合には、制御コンピュータ５４において、検出幅Ｗ_１を再設定することができる。
【０１４７】
図９〜図１５および図１８に示す画面において、「Ｆ５：ＳＬ状態」キーをクリックすると、中央処理装置６０Ｂは、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）への印加電圧ｖの価を制御コンピュータ５４から読み出し、ディスプレー７０に入力する。
【０１４８】
ディスプレー７０においては、図１９に示すように、日付、時刻、品種名、ロット番号、およびアルミニウム幅などのロット情報とともに印加電圧ｖの価をＳＬ７０００状態表示画面に表示する。なお、印加電圧ｖの価は、「ＰＭＴＥ印加電圧」の欄に表示される。
【０１４９】
オペレータは、前記ＳＬ７０００状態表示画面を見ることにより、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）に適正な範囲の電圧が印加されているかいないか、および受光素子毎の印加電圧の差が余り大きくはないか否かを知ることができる。
【０１５０】
図９〜図１５、図１８、および図１９に示す画面において、「Ｆ６：ＭＩＴ−４状態」キーをクリックすると、中央処理装置６０Ｂは、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６、および色検出装置１８におけるＣＣＤカメラへの印加電圧即ちカメラ電圧の価および光源設定値を制御コンピュータ５６から読み出し、ディスプレー７０に入力する。
【０１５１】
ディスプレー７０においては、図２０に示すように、前記ロット情報とともに光源設定値およびカメラ電圧をＭＩＴ−４状態表示画面に表示する。
【０１５２】
オペレータは、前記ＭＩＴ−４状態表示画面を見ることにより、ＣＣＤカメラ２２、２６、３４、および３８が正常に作動しているか否か、および光源２０、２４、３２、および３６の設定電圧が適正であるか否かを知ることができる。
【０１５３】
実施形態１に係るオンライン表面検査システムにおいては、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置２、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８で検出された欠陥の種類、発生位置、および発生周期などの欠陥情報を、平版印刷版Ｐのロット情報と関連させて表示するから、オペレータは、どのロットの平版印刷版にどのような種類の欠陥がどの程度の頻度で発生したか、および前記ロットにおける不良品の発生量はどの程度かを容易に把握できる。
【０１５４】
したがって、オペレータは、前記ロットの平版印刷版を生産するのに必要なアルミニウムウェブロールの再引当を行うなどの生産計画の修正をリアルタイムで行えるから、たとえ、不良品が大量に発生して製品として出荷できる平版印刷版の得率が減少しても、アルミニウムウェブに不足が生じる前に、不足分のアルミニウムウェブロールを発注できる。故に、前記場合においても、アルミニウムウェブに不足が生じて生産に支障が生じることが防止される。
【０１５５】
また、不良品として排除する必要のない微小な欠陥についても、発生した帯域、発生頻度、発生位置をグラフ化して表示するから、オペレータは、前記欠陥の発生傾向を容易に把握できる。したがって、前記欠陥が出側停止欠陥のような重大な欠陥に到る前に対策を講じることができるから、平版印刷版Ｐの損失を大幅に減らすことができる。
【０１５６】
更に、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置２、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８の運転状況もディスプレー７０に表示されるから、オペレータは、欠陥の検出が異常に多い場合、平版印刷版Ｐ側の異常によるものなのか、Ａ面レーザ光走査型検出装置２などの欠陥検出部の側の異常によるものなのかを容易に判断できる。
【０１５７】
更に、前記欠陥情報およびロット情報は、互いに関連付けられた状態で統括コンピュータ６０における記憶装置６０Ａに格納されるから、製造条件と欠陥の発生傾向との関係を整理・検討することが容易に行える。
【０１５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、一定速度で搬送される帯状物につき、欠陥情報とロット情報とを関連付けてオペレータに提供することにより、オペレータの負担を軽減できる検査システムが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明に係る検査システムの一例であり、一定の速度で搬送される平版印刷版を検査するオンライン表面検査システムの構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、図１に示すオンライン表面検査システムが備えるＡ面レーザ光走査型検出装置、Ｂ面レーザ光走査型検出装置、色筋検出装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置の配置を示す概略図である。
【図３】図３は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置におけるレーザ光照射部およびレーザ光受光部の相対的な位置関係を示す斜視図である。
【図４】図４は、色筋検出装置について、ＣＣＤカメラおよび光源と検査ローラおよび平版印刷版との相対的な位置関係を示す斜視図である。
【図５】図５は、図３に示すＡ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置において、平版印刷版に照射されたレーザ光をレーザ光受光部において受光した状態を示す概略平面図である。
【図６】図６は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置からのデータを処理する欠陥信号処理装置の構成およびデータの流れを示すブロック図である。
【図７】図７は、色筋検査装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置からのデータを処理する欠陥信号処理装置の構成およびデータの流れを示すブロック図である。
【図８】図８は、統括コンピュータ６０の構成および情報の流れを示すブロック図である。
【図９】図９は、図１に示すオンライン表面検査システムの備えるディスプレーに傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１０】図１０は、前記ディスプレーにＡ面傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１１】図１１は、前記ディスプレーにＢ面傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１２】図１２は、前記ディスプレーに帳簿形式の画面であるＡ面周期判定結果が表示されたところを示す平面図である。
【図１３】図１３は、前記ディスプレーにＢ面周期判定結果が表示されたところを示す平面図である。
【図１４】図１４は、不良品として排除すべき著しい欠陥であるジャンボ押傷についての設定画面であるジャンボ押傷設定画面が前記ディスプレーに表示されたところを示す平面図である。
【図１５】図１５は、平版印刷版の搬送を停止する必要がある程の著しい欠陥である出側停止欠陥について設定を行う出側停止印字設定画面が前記ディスプレーに表示されたところを示す平面図である。
【図１６】図１６は、ジャンボ押傷設定画面においてジャンボ押傷を指定したときのディスプレーと統括コンピュータおよび制御コンピュータとの間のデータの流れを示すブロック図である。
【図１７】図１７は、出側停止印字設定画面において出側停止欠陥を指定したときのディスプレーと統括コンピュータおよび制御コンピュータとの間のデータの流れを示すブロック図である。
【図１８】図１８は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置における検査幅と平版印刷版Ｐの実際の幅であるアルミ幅との関係を表示するＳＬ７０００検出幅データ画面を示す平面図である。
【図１９】図１９は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置の運転状況を表示するＳＬ７０００状態表示画面を示す平面図である。
【図２０】図２０は、図２に示す色筋検出装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置の運転状態を表示するＭＩＴ−４状態表示画面を示す平面図である。
【符号の説明】
２　　　　Ａ面レーザ光走査型検出装置
４　　　　Ｂ面レーザ光走査型検出装置
１２　　　　色筋検出装置
１４　　　　擦り傷検出装置
１６　　　　光沢検出装置
１８　　　　色検出装置
５０　　　　欠陥信号処理装置
５２　　　　欠陥信号処理装置
５４　　　　制御コンピュータ
５６　　　　制御コンピュータ
６０　　　　統括コンピュータ
７０　　　　ディスプレー

Claims (6)

1. 一定方向に搬送される帯状物の２種以上の欠陥をそれぞれ検出する複数の欠陥検出部と、
   前記欠陥検出部が検出した欠陥の種類、発生位置、および発生周期に関する欠陥情報をそれぞれ収集し、管理する複数の欠陥情報管理部と、
   前記帯状物のロットに関するロット情報が格納されてなるロット情報管理部と、
   前記欠陥情報管理部のそれぞれから欠陥情報を読み出し、前記ロット情報と互いに関連付け、所定の管理用フォーマットを構成する中央処理管理部と、
   前記中央処理管理部で構成された管理用フォーマットを表示する表示部とを
   備えてなることを特徴とする検査システム。
2. 前記ロット情報管理部に格納されるロット情報は、前記帯状物の品種、ロット番号、幅、厚み、および前記帯状物の基材のロール数量であるロール引当数量に関する情報である請求項１に記載の検査システム。
3. 前記中央処理管理部は、前記欠陥情報および前記ロット情報に基いて前記帯状物の得率を割り出し、前記ロット情報管理部は、前記中央処理管理部の割り出した得率に基いて前記基材のロール数量を調整する請求項１または２に記載の検査システム。
4. 前記ロット情報管理部は、前記中央処理管理部の割り出した得率に基いて前記ロール引当数量を更新することにより、前記基材のロール数量を調整する請求項３に記載の検査システム。
5. 前記中央処理管理部は、欠陥の種類に応じて警報装置に警報を発生させる請求項１〜４の何れか１項に記載の検査システム。
6. 前記中央処理管理部は、前記欠陥情報管理部から入力される欠陥の傾向に基いて前記欠陥検出部における異常の有無を判定する請求項１〜５の何れか１項に記載の検査システム。

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