JP2004117344A5 - - Google Patents

Claims (9)

1. 所定のテストプロセッサで所定の期待ビットストリームと比較することによって評価される信号のビットストリームを調節する方法であって、
   遷移調節フィルタでビットストリームを受けとるステップと、
   前記テストプロセッサにより前記遷移調節フィルタに遷移フレーム信号を与えるステップを含み、該遷移フレーム信号は、許容されるような不確定的レイテンシの時間位置に関する情報、および信号評価のために前記ビットストリームのどの複数のビットをビットブロックとして一貫して維持するかの情報を備え、
   前記受けとられた信号の前記ビットストリームを前記遷移フレーム信号に従って調節するステップを含み、前記調節されたビットストリームの前記ビットブロックが期待ビットストリームに合わせて整列される、前記ビットストリームを調節する方法。
2. 前記遷移フレーム信号によって与えられる前記情報は、イベントタイプＷＡＩＴ（Ｗ）を加えることによって前記期待ビットストリームに埋め込まれることができ、前記イベントタイプＷＡＩＴ（Ｗ）は、前記期待ビットストリームとの比較による評価のために前記次の信号遷移を待つことを示す請求項１に記載の方法。
3. 前記信号が前記遷移調節フィルタによって受けとられる前に、評価される前記信号のビットストリームで、始めの無効ランダムビットが抑制される、請求項１または請求項２の１つに記載の方法。
4. 前記信号が前記遷移調節フィルタで受けとられる前に、評価される前記信号のビットストリームで、アイドルビット群が抑制される、請求項１から３のいずれか１つに記載の方法。
5. 評価される前記信号の前記ビットストリームは前記電子装置の出力信号であり、前記出力信号は前記電子装置に供給される所定の入力信号における応答である、請求項１から４のいずれか１つに記載の前記遷移を調節するための方法を含む、電子装置をテストする方法。
6. 前記方法は、少なくとも前記電子装置、または前記電子装置のためのインターフェースボード、または前記電子装置の外部の自動テスト装置で実施される、請求項５に記載の方法。
7. 前記調節されたビットストリームを前記所定の期待ビットストリームと比較し、前記比較の結果自動的に前記電子装置が所定の仕様を満足するかどうかを確定する請求項５または６に記載の方法。
8. 望ましくはデータ媒体上に記憶され、コンピュータ等のデータ処理システムで動作するときに請求項１から７のいずれか１つに記載の方法を実行するための、ソフトウエアプログラムまたは製品。
9. 所定の期待ビットストリームと比較することによって評価される信号のビットストリームを調節するシステムであって、
   遷移フレーム信号を与えるよう構成されたテストプロセッサを備え、該遷移フレーム信号は、許容されるような不確定的レイテンシの時間位置に関する情報、および信号評価のために前記ビットストリームのどの複数のビットをビットブロックとして一貫して維持するかの情報を与え、
   評価される前記信号のビットストリームを受けとり、かつ前記遷移フレーム信号を前記テストプロセッサから受けとり、前記受けとられた信号のビットストリームを前記遷移フレーム信号に従って調節するよう構成された遷移調節フィルタを備え、その結果、前記調節されたビットストリームの前記ビットブロックが期待ビットストリームに合わせて整列される、前記システム。