JP2004115344A - 耐熱性アモルファス多孔質材料及びその製造方法ならびに触媒担体 - Google Patents
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- 239000011148 porous material Substances 0.000 title claims abstract description 141
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims abstract description 28
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 20
- 239000005055 methyl trichlorosilane Substances 0.000 claims abstract description 10
- JLUFWMXJHAVVNN-UHFFFAOYSA-N methyltrichlorosilane Chemical compound C[Si](Cl)(Cl)Cl JLUFWMXJHAVVNN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 150000007530 organic bases Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 claims abstract 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 46
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 34
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 29
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 25
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 21
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 19
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 16
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 13
- CAOGOBJNZZSZOX-UHFFFAOYSA-N C[SiH2]N=C=N Chemical compound C[SiH2]N=C=N CAOGOBJNZZSZOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- 238000001354 calcination Methods 0.000 claims description 3
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 claims 5
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 150000001718 carbodiimides Chemical class 0.000 abstract description 3
- MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N dichlorosilane Chemical compound Cl[SiH2]Cl MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 32
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 8
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 8
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 7
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 5
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910007991 Si-N Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910006294 Si—N Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 4
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 4
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PPDADIYYMSXQJK-UHFFFAOYSA-N trichlorosilicon Chemical compound Cl[Si](Cl)Cl PPDADIYYMSXQJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229920001795 coordination polymer Polymers 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- UAOMVDZJSHZZME-UHFFFAOYSA-N diisopropylamine Chemical compound CC(C)NC(C)C UAOMVDZJSHZZME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 3
- 239000012263 liquid product Substances 0.000 description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 3
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 3
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-MICDWDOJSA-N Trichloro(2H)methane Chemical compound [2H]C(Cl)(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-MICDWDOJSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- LIKFHECYJZWXFJ-UHFFFAOYSA-N dimethyldichlorosilane Chemical compound C[Si](C)(Cl)Cl LIKFHECYJZWXFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000000740 n-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 2
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005046 Chlorosilane Substances 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229910018540 Si C Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002808 Si–O–Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007746 Zr—O Inorganic materials 0.000 description 1
- KWXZYMZLCZTNQD-UHFFFAOYSA-N [SiH3]N=C=N Chemical compound [SiH3]N=C=N KWXZYMZLCZTNQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007514 bases Chemical class 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- KOPOQZFJUQMUML-UHFFFAOYSA-N chlorosilane Chemical class Cl[SiH3] KOPOQZFJUQMUML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJOOHPMOJXWVHK-UHFFFAOYSA-N chlorotrimethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)Cl IJOOHPMOJXWVHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 1
- BUMGIEFFCMBQDG-UHFFFAOYSA-N dichlorosilicon Chemical group Cl[Si]Cl BUMGIEFFCMBQDG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940043279 diisopropylamine Drugs 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000002149 energy-dispersive X-ray emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000007783 nanoporous material Substances 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 238000002407 reforming Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】本アモルファス多孔質材料は、孔径が2〜50nmである細孔を有し、1400℃以下において多孔質構造を維持できることを特徴とする。孔径が2〜50nmである細孔の容積の合計は、全細孔の容積の合計に対して60%以上である。細孔容積が0.02〜0.2mL/gであり、且つ比表面積が20〜100m2/gである。Si、C及びNを主成分として構成される。本製造方法は、メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン及びビストリアルキルシリルカルボジイミドを、有機塩基の存在下に重合してポリシリルカルボジイミドとする重合工程と、このポリシリルカルボジイミドを焼成する焼成工程と、を備える。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、耐熱性アモルファス多孔質材料及びその製造方法並びに触媒担体に関し、更に詳しくは、1400℃までの温度で優れた耐熱性を有するアモルファス多孔質材料及びその製造方法並びにこのアモルファス多孔質材料を用いた触媒担体に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、触媒や吸着剤等への利用のために孔径の小さい多孔質材料の開発が盛んに行われている。特に、メソ細孔とよばれる約2〜50nmの孔径を有するアモルファスシリカ多孔質材料は、特許文献1等に開示されている。また、特許文献2には、実質的にアモルファスシリカからなり、サブナノメーターから十数ナノメーターまでの径の均一なナノ細孔構造を有するナノ多孔質材料が開示されている。
【0003】
【特許文献1】
特開平10−36109号公報
【特許文献2】
特開2001−104744号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようなメソ細孔を有する多孔質材料、あるいはサブナノメーターから十数ナノメーターに及ぶ細孔を有する多孔質材料は、Si−O−Siで表されるシロキサン結合を有するアモルファスシリカによって構成されている。しかし、このような多孔質材料は、500℃以上の高温環境下となると、シロキサン結合の結合状態が変化することにより、多孔質構造を構成する微孔の閉塞が開始して、安定に存在し得ないという問題があった。
そこで、特開2000−189772号公報には、耐熱性を高めるべく、シロキサン結合の一部をZrで置換したSi−Zr−Oの3元素・酸化物系の多孔質材料が開示されている。しかし、この材料は、350〜700℃(特に400〜500℃)の温度の製造されているため、この製造温度よりも高い温度で用いると、熱分解や結晶化が進行して、多孔質構造を維持できない。一方、耐熱性に優れたアモルファス材料としては、アモルファスSi−C−N材料が知られており、例えば、Nature, Vol.374, 6 APRIL, (1995) 526に高温安定性に関する報告がある。このアモルファスSi−C−N材料は、Si−C−N系金属有機ポリマーを熱処理して合成されている。Si−C−N系金属有機ポリマーは、熱処理工程でSi−C−N系金属有機ポリマー自身の熱分解により生成する揮発性低分子の脱離、及び金属有機ポリマーに含まれる有機基の分解脱離が起こり、最終的に生成するアモルファスSi−C−N材料に細孔が形成されることがあるが、その細孔径を制御する技術は確立されていない。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、以下に示される。
[1] 孔径が2〜50nmである細孔を有し、1400℃以下において多孔質構造を維持できることを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
[2] 孔径が2〜50nmである細孔の容積の合計が、全細孔の容積の合計に対して60%以上である上記[1]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[3] 細孔容積が0.02〜0.2ml/gであり、且つ、比表面積が20〜100m2/gである上記[1]又は[2]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[4] 珪素、炭素及び窒素を主成分として構成される上記[1]乃至[3]のいずれかに記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[5] 珪素、炭素及び窒素を主成分として構成され、孔径が2〜50nmである細孔を有することを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
[6] 1400℃以下において多孔質構造を維持できる上記[5]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[7] 上記珪素、炭素及び窒素の含有量は、これらの合計を100質量%とした場合、それぞれ、40質量%以上、10質量%以上、及び20質量%以上である上記[5]又は[6]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[8] メチルシリルカルボジイミド単量体単位と、ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)と、を有する重合体を焼成して得られたことを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
[9] 上記メチルシリルカルボジイミド単量体単位は[(CH3)Si(NCN)1 . 5]、且つ、上記ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位は[(R1)(R2)Si(NCN)](R1及びR2は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜5の炭化水素基である。)であり、該メチルシリルカルボジイミド単量体単位及び該ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位の含有割合は、その合計を100モル%とした場合、5〜66モル%及び95〜34モル%である上記[8]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[10] メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)、及びビストリアルキルシリルカルボジイミド(アルキル基は、炭素数1〜3の炭化水素基である。)を、有機塩基の存在下に重合してポリシリルカルボジイミドとし、これを焼成して得られたことを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
[11] 上記ジアルキルジクロロシラン、及び上記ビストリアルキルシリルカルボジイミドのアルキル基はすべてメチル基である上記[10]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
[12] メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)、及びビストリアルキルシリルカルボジイミド(アルキル基は、炭素数1〜3の炭化水素基である。)を、有機塩基の存在下に重合してポリシリルカルボジイミドを合成する重合工程と、該ポリシリルカルボジイミドを焼成する焼成工程と、を備えることを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法。
[13] 上記焼成工程における焼成温度は、900〜1400℃である上記[12]に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法。
[14] 上記[10]に記載のポリシリルカルボジイミドを基材の表面に存在させて焼成することを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法。
[15] 上記[1]乃至[11]のいずれかに記載の耐熱性アモルファス多孔質材料からなることを特徴とする触媒担体。
【0006】
【発明の効果】
本発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、1400℃近い高温領域においても形状を維持することができ、高温における反応に用いられる触媒として非常に有用である。また、孔径が2〜50nmである細孔の容積の合計が60%以上である場合には、反応をより効率的に進めることができる。更に、細孔容積が0.02〜0.2ml/gであり、且つ、比表面積が20〜100m2/gである場合には、高温領域における気体分子等の反応場等となる触媒担体として利用する場合に非常に有用である。
また、本発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、珪素、炭素及び窒素が主成分であり、3次元網目構造を規則的に有するため、上記と同様、高温における反応に用いられる触媒として非常に有用である。更に、珪素、炭素及び窒素の含有量が所定量であれば、アモルファス状態を維持しつつ安定した耐熱性を発揮することができる。
【0007】
本発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、少なくとも2種の所定の単量体単位を有する重合体を焼成して得られたものであることから、3次元網目構造を規則的に有する。
上記単量体単位を形成する化合物として、メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン、及びビストリアルキルシリルカルボジイミドを用いた場合、容易に重合することができ、その結果、重合体の焼成によって効率よく耐熱性アモルファス多孔質材料を得ることができる。
更に、焼成温度を900〜1400℃とした場合には、十分な細孔形成を実現することができる。
【0008】
また、上記重合体を基材の表面に存在させ、焼成によって得られた耐熱性アモルファス多孔質材料は、基材の形状に合わせた有用な材料とすることができる。本発明の触媒担体によれば、2〜50nmの孔径及び高い細孔容積率を生かした触媒性能を発揮することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を更に詳しく説明する。
第1の観点の発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、孔径が2〜50nmである細孔、即ちメソ細孔を有し、1400℃以下において多孔質構造を維持することができる。本多孔質材料は、上記細孔の一部が、3次元の網目状に連なり、連通経路がランダムに配置された3次元網目構造を有する。このような材料を構成する素材としては特に限定されないが、通常、無機材料からなるものである。本多孔質材料は、好ましくは珪素、炭素及び窒素を主成分として構成される材料である。珪素、炭素及び窒素の関与する結合をはじめとする構造等は特に限定されない。珪素及び窒素は、アモルファス構造を構築するための主要元素であり、そのために一定量の含有量が必要となる。また、炭素は、本多孔質材料の耐熱性を向上させるための元素であり、同様に一定量の含有量を必要とする。炭素が含有されることにより耐熱性が向上する理由は、次のように考えられる。即ち、Si−N系アモルファスネットワーク構造中に形成されるSiN4テトラヘドラルユニット構造に炭素原子が配位して高温で安定なアモルファスネットワーク構造をとる、あるいはSiCsN4−s(1≦s≦3)テトラヘドラルユニット構造を形成して、Si−N系アモルファスの結晶化に必要となるSiN4テトラヘドラルユニット構造の形成を阻害するためである。
【0010】
珪素、炭素及び窒素の含有量は上記性質を満たす範囲であれば特に限定されないが、これらの合計を100質量%とした場合、好ましくは、それぞれ40質量%以上、10質量%以上、及び20質量%以上であり、より好ましくは、それぞれ40〜65質量%、10〜35質量%、及び20〜45質量%であり、更に好ましくは、それぞれ40〜50質量%、20〜30質量%、30〜40質量%である。炭素の含有量が多すぎると、SiCの微細結晶粒子がSi−N系アモルファス中に析出して多孔質構造が不均一になる傾向にある。
【0011】
尚、上記主成分とは、材料全体に対して、70質量%以上であることを意味する。本発明においては珪素、炭素及び窒素の含有量の合計は、より好ましくは80質量%以上、更に好ましくは90質量%以上、特に好ましくは95〜100質量%である。従って、珪素、炭素及び窒素以外で含有される、いわゆる不可避的な含有成分としては、酸素、塩素等が挙げられる。酸素の含有量は少ないことが好ましく、特に1質量%未満であることが好ましい。酸素が多く含まれると、高温でSiOあるいは二酸化炭素の放出を伴う多孔質材料の分解反応が進行して、多孔質構造を安定に維持することが困難になるからである。また、上記不純物成分の存在状態等は特に限定されない。
【0012】
上記細孔の孔径は2〜50nmであるが、孔径の分布は広くてもよいし、狭くてもよい。また、孔径が2〜50nmである細孔の容積の合計は、孔径が2nm未満及び孔径が50nmを超える細孔の容積を加えた全細孔の容積の合計に対して、好ましくは60%以上、より好ましくは70〜100%、更に好ましくは80〜100%である。60%未満では孔径が2nm未満及び50nmを超える細孔の影響を受け、所望の機能が低下する傾向にある。
【0013】
上記細孔の細孔容積は、好ましくは0.02〜0.2ml/g、より好ましくは0.04〜0.2ml/g、更に好ましくは0.06〜0.15ml/gである。細孔容積が0.02ml/g未満では、例えば、気体分子の反応場としての応用の観点から、気体透過に対する抵抗が大きくなり、所望の機能が低下する傾向にある。一方、0.2ml/gを超えると、1000〜1400℃の高温領域において細孔構造を維持できなくなる傾向にある。
また、上記細孔の比表面積は、好ましくは20〜100m2/g、より好ましくは20〜80m2/g、更に好ましくは40〜80m2/g、特に好ましくは60〜80m2/gである。比表面積が20m2/g未満では、所望の機能が低下する傾向にある。一方、100m2/gを超えると、1000〜1400℃の高温領域において細孔構造を維持できなくなる傾向にある。
【0014】
本多孔質材料の形状は特に限定されない。粒状であってもよいし、特定の形状、例えば、板状(多角形、円形、楕円形、長尺形等)、筒状、線状(直線、曲線等)、塊状(立方体、直方体、球形、略球形等)等であってもよい。また、金属、セラミックス、ガラス等の無機素材、あるいは樹脂等の有機素材からなる基材を被覆するような膜であってもよい。粒状である場合には、好ましい粒径は10〜100μmである。また、膜である場合には、好ましい厚さは200〜1000nmである。膜厚が小さい場合、例えば、気体分子の反応場としての応用の観点から、気体透過に対する抵抗が少なくなるので好ましい。
【0015】
第2の観点の発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、珪素、炭素及び窒素を主成分として構成され、孔径が2〜50nmである細孔を有する。
珪素、炭素及び窒素を主成分とした構成及び孔径については、第1の観点の発明における説明と同様とすることができる。
本多孔質材料は、上記のような構成及び性質を有し、常温においてはもちろん、1400℃以下の高温領域において多孔質構造を維持することができる。
【0016】
第3の観点の発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、メチルシリルカルボジイミド単量体単位と、ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)と、を有する重合体を焼成して得られたものである。
上記重合体は、液状であることが好ましい。また、上記重合体を構成するメチルシリルカルボジイミド単量体単位及びジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位を形成する化合物は特に限定されない。これらの単量体単位を形成する化合物を別々に処理することによって各単量体単位としたものであってもよいし、両者の共存下に各単量体単位としたものであってもよい。
【0017】
上記メチルシリルカルボジイミド単量体単位は、下記一般式(1)に示されるものであり、通常、1<m≦1.5であり、好ましくはm=1.5である。
【化1】
【0018】
また、上記ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位は、下記一般式(2)に示されるものである。アルキル基R1及びR2は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜5の炭化水素基(メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基等)であり、R1及びR2が同一であっても、異なっていてもよい。好ましくは、R1及びR2がともにメチル基の場合、又は、エチル基の場合である。上記アルキル基として、炭素数が6以上のものを用いると、得られる重合体を焼成しても目的の多孔質材料が得られないことがある。
【化2】
【0019】
焼成される重合体を構成するメチルシリルカルボジイミド単量体単位及びジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位の各含有量は特に限定されないが、両者の合計を100モル%とすると、好ましくは5〜66モル%及び95〜34モル%、より好ましくは5〜50モル%及び95〜50モル%、更に好ましくは5〜20モル%及び95〜80モル%、特に好ましくは5〜10モル%及び95〜90モル%である。上記メチルシリルカルボジイミド単量体単位の含有量が多すぎると、重合体自体が固体となりやすく、これを焼成しても所望の性質を有する多孔質材料が得られにくい傾向にあり、一方、上記ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位の含有量が多すぎると、焼成によって重合体がほとんど分解してしまう傾向にある。
【0020】
上記重合体の焼成条件等は特に限定されず、以下の「耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法」における説明と同様とすることができる。
【0021】
第4の観点の発明の耐熱性アモルファス多孔質材料は、メチルトリクロロシラン(CH3)SiCl3、ジアルキルジクロロシラン(R3)(R4)SiCl2(アルキル基R3及びR4は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜5の炭化水素基である。)、及びビストリアルキルシリルカルボジイミド(R5)3Si−NCN−Si(R6)3(アルキル基R5及びR6は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜3の炭化水素基である。)を、有機塩基の存在下に重合してポリシリルカルボジイミドを合成する重合工程と、該ポリシリルカルボジイミドを焼成する焼成工程と、を備えることを特徴とする本耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法によって得ることができる。
【0022】
上記ポリシリルカルボジイミドを合成するために用いられるジアルキルジクロロシランのアルキル基R3及びR4は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜5の炭化水素基(メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基等)であり、2つのアルキル基R3あるいはR4が同一であっても、異なっていてもよい。好ましくはともにメチル基とすることである。上記アルキル基として、炭素数が6以上のものを用いると、得られるポリシリルカルボジイミドを焼成しても目的の多孔質材料が得られないことがある。
【0023】
また、上記ポリシリルカルボジイミドを合成するために用いられるビストリアルキルシリルカルボジイミドのアルキル基R5及びR6は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜3の炭化水素基(メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基)であり、R5あるいはR6の中の各アルキル基が同一であっても、異なっていてもよい。また、R5あるいはR6の中の2つのアルキル基が同一であってもよい。更には、R5及びR6がともに同じであっても、異なっていてもよい。好ましくはR5及びR6の各3つすべてをメチル基とすることである。上記アルキル基として、炭素数が4以上のものを用いると、得られるポリシリルカルボジイミドを焼成しても目的の多孔質材料が得られないことがある。
上記ジアルキルジクロロシラン及びビストリアルキルシリルカルボジイミドのアルキル基は、すべてがメチル基であることが特に好ましい。
上記重合工程における反応式は、上記アルキル基R5及びR6をともにメチル基とした場合、下記式(3)に示される。
【化3】
【0024】
ここで、[(CH3)Si(NCN)1 . 5]p[(R3)(R4)Si(NCN)]qの構造は、下記のように示される。
【化4】
【0025】
上記重合工程において、メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン、及びビストリアルキルシリルカルボジイミドの重合比は、第3の観点の発明の耐熱性アモルファス多孔質材料に説明したように、メチルシリルカルボジイミド単量体単位及びジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位の含有量が上記範囲に入るように選択すればよい。メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン、及びビストリアルキルシリルカルボジイミドの使用量の合計を100モル%とした場合、好ましい重合比は、それぞれ5〜20モル%、50〜70モル%及び30〜50モル%であり、より好ましくはそれぞれ5〜10モル%、55〜60モル%及び35〜40モル%である。
【0026】
重合時に用いられる有機塩基としては特に限定されず、珪素含有化合物の重合で用いられている公知の塩基性化合物を用いることができる。その例としては、ピリジン、トリエチルアミン、ジイソプロピルアミン等が挙げられる。上記有機塩基の使用量は、メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン、及びビストリアルキルシリルカルボジイミドの使用量の合計を100モルとした場合、好ましくは10〜30モル、より好ましくは20〜30モルである。
【0027】
上記重合工程における重合雰囲気は、不活性ガス雰囲気であることが好ましく、例えば、アルゴン、ヘリウム、窒素等が挙げられる。
【0028】
上記焼成工程において、焼成温度は900〜1400℃であり、好ましくは950〜1400℃、より好ましくは1000〜1300℃、更に好ましくは1000〜1100℃である。尚、下限温度までの昇温条件、焼成後の降温速度、更に加熱の手段は特に限定されない。焼成温度が900℃未満では、細孔の生成が不完全となる傾向にある。一方、1400℃を超えると、細孔の生成割合が減少したり、生成物が結晶化する等して、多孔質構造を維持できなくなる傾向にある。また、上記焼成温度における保持時間は、好ましくは0.5〜2時間、より好ましくは1〜1.5時間である。更に、焼成雰囲気は、不活性ガス雰囲気であることが好ましく、例えば、アルゴン、ヘリウム、窒素等が挙げられる。
【0029】
上記ポリシリルカルボジイミドが焼成によってアモルファス多孔質材料となるメカニズムについて、上記式(3)における[(CH3)Si(NCN)1 . 5]p[(R3)(R4)Si(NCN)]qを用いて説明する。即ち、下記式(5)に示すように、上記式(4)の構造を有するポリシリルカルボジイミドは約500〜800℃において、アルキル(R3−R4)、アセトニトリル(CH3CN)、メタン(CH4)及び水素(H2)が脱離して、Six−Cy−Nz(アモルファスSi−C−N)が生成し始める。脱離した部分はその後、細孔となる。
【化5】
そして、更に高温になるにつれて、材料の緻密化が起こり、50nmより大きい細孔の消滅が進行して、アモルファスSi−C−N多孔質材料となる。
【0030】
本多孔質材料は、通常、粒状であるが、上記のように、各種基材を被覆するような膜であってもよいし、基材から分離された膜体であってもよい。その製造方法としては、上記ポリシリルカルボジイミドを基材の表面に存在させて、例えば、基材表面に塗膜を形成させ、これを焼成すればよい。上記基材としては、上記例示した無機素材、有機素材等を用いることができるが、焼成工程によって変形、変質あるいは上記ポリシリルカルボジイミドと反応しない無機素材が好ましい。基材の形状は、板状、網状、筒状等挙げられるが、特に限定されない。基材の表面は平滑であってもよいし、凹凸を有するものであってもよいし、多孔質であってもよい。多孔質素材の例としては、アルミナ、シリカ、炭化ケイ素、窒化ケイ素、炭素等が挙げられる。膜体とするためには、焼成後に剥離しやすい素材からなる基材を選択することが好ましい。
【0031】
ポリシリルカルボジイミドからなる塗膜の形成方法は特に限定されない。例えば、ディッピング法、スプレー法、スピン法等が挙げられる。また、塗膜の厚さは、用途等により適宜選択すればよいが、通常、0.4〜2μm、好ましくは0.4〜1μmである。塗膜形成後、乾燥されるが、その条件は、ポリシリルカルボジイミドを含む溶液の粘度、塗膜の厚さに応じて適宜選択すればよい。
上記のようにして得られた塗膜付き基材は、上記と同様の条件で焼成することによって、アモルファス多孔質材料を得ることができる。
【0032】
本発明の触媒担体は、上記アモルファス多孔質材料からなるものである。
触媒担体とは、その表面に触媒を保持することができるものであり、アモルファス多孔質材料からなる触媒担体は、均一な細孔径及び一定の細孔容積を有するので、その大きさに合わせて触媒を保持すればよいので有用である。更に、貴金属等を担持させる場合には、小さな細孔に充填され、これらが凝集することがないため、例えば、高温における貴金属の粒成長を抑制することができる。触媒担体の例としては、700℃から800℃以上の高温で用いるメタン改質触媒担体等が挙げられる。
【0033】
【実施例】
以下、実験例により本発明を具体的に説明する。
1.ポリシリルカルボジイミドの合成
実験例1([(CH3)Si(NCN)1 . 5]p[(CH3)2Si(NCN)]q (p:q=9:91)の合成)
市販の(CH3)SiCl3と、(CH3)2SiCl2と、(CH3)3Si−NCN−Si(CH3)3とを用いて合成した。まず、(CH3)2SiCl2(20ml、0.166モル)と、(CH3)3Si−NCN−Si(CH3)3(25.3ml、0.111モル)と、触媒量のピリジンとを200mlの3頚フラスコに入れ、アルゴン雰囲気下、130℃から150℃で24時間撹拌した。室温まで冷却した後、(CH3)SiCl3(2ml、0.017モル)を反応液に加えて、150℃で4時間撹拌した。その後、反応混合物より、副生成した(CH3)3SiClを62℃で、また、クロロシラン類及び触媒として添加したピリジンを120℃まで加熱してそれぞれ留去した。得られた液状生成物の一部を、FT−IR(KBr錠剤法、室温)で解析した結果、カルボジイミドNCN基及びSi−CH3基にそれぞれ帰属できる特徴的な吸収帯が、2164cm− 1及び1255cm−1に観察された。以下、この反応生成物を「PSCD−1」とする。
【0034】
実験例2([(CH3)Si(NCN)1 . 5]p[(CH3)2Si(NCN)]q (p:q=4:96)の合成)
(CH3)SiCl3(0.89ml、0.007モル)と、(CH3)2SiCl2(20ml、0.175モル)と、(CH3)3Si−NCN−Si(CH3)3(25.3ml、0.111モル)とを用い、実施例1と同様にして合成し、液状生成物を得た。以下、この反応生成物を「PSCD−2」とする。
【0035】
実験例3([(CH3)Si(NCN)1 . 5]p[(C6H5)2Si(NCN)]q (p:q=9:91)の合成)
(CH3)SiCl3(0.89ml、0.007モル)と、(C6H5)2SiCl2(34.8ml、0.166モル)と、(CH3)3Si−NCN−Si(CH3)3(25.3ml、0.111モル)とを用い、実施例1と同様にして合成し、液状生成物を得た。この一部を、1H−NMR(CDCl3溶媒、25℃)で解析した結果、試料の約50%は、未反応の(C6H5)2SiCl2及び(CH3)3Si−NCN−Si(CH3)3であった。
【0036】
2.アモルファス多孔質粉末の製造及び評価
実施例1
実験例1で得られたPSCD−1を減圧下、50〜120℃で加熱固化して粉末を得た。これを、アルゴン雰囲気下、室温から1000℃まで昇温した後、1000℃で1時間保持した。得られた粉末の平均粒子径は、25μmであった。この粉末の化学分析を行った結果、珪素量44質量%、炭素量25質量%及び窒素量30.5質量%であり、不純物酸素量は0.5質量%であった。また、この粉末をX線回折で解析した結果、アモルファスであることが確認できた。次に、このSi−C−N粉末を、窒素雰囲気中で更に1400℃、及び1500℃でそれぞれ1時間加熱して耐熱性を調べた。その結果を図1に示す。
【0037】
図1から明らかなように、得られたアモルファスSi−C−N多孔質粉末は、1400℃においてアモルファス状態を維持できる。一方、1500℃では、窒化珪素の結晶化が一部開始していることが分かった。
【0038】
実施例1で得られたアモルファスSi−C−N多孔質粉末と、この粉末を、窒素雰囲気下、1400℃で1時間加熱した粉末の細孔構造解析を、窒素吸着法(装置名;「オートソーブ1」、QUANTA CHROME社製)により行った。その結果を表1に示す。また、比表面積を、上記装置を用いて窒素吸着法により測定した。その結果を表1に併記した。
【0039】
【表1】
【0040】
比較例1
実験例2で得られたPSCD−2を、実施例1と同様にして焼成したところ、粘性油状物質が少量得られたのみとなった。これは、PSCD−2が、主に高温で分解してガス化する[(CH3)2Si(NCN)]4で構成されていたため、と考えられる。
【0041】
比較例2
市販のSi−C−N系有機金属ポリマー(化学組成;SiN0.79C0.62H2.21)を、窒素雰囲気下、300℃で1時間加熱して粉末を得た。これを、実施例1と同様の方法で焼成した。得られた粉末の平均粒子径は、27μmであった。この粉末の化学分析を行った結果、珪素量68質量%、炭素量9.2質量%及び窒素量22質量%であり、不純物酸素量は0.8質量%であった。また、この粉末をX線回折で解析した結果、アモルファスであることが確認できた。次に、このSi−C−N粉末の耐熱性を実施例1と同様に調べた。その結果を図2に示す。
【0042】
図2から明らかなように、得られたアモルファスSi−C−N粉末は、1400℃で既に、窒化珪素の結晶化が開始していること、また1500℃では、主に窒化珪素と炭化珪素の結晶で構成されていることが分かった。
【0043】
また、このアモルファスSi−C−N多孔質粉末の細孔構造解析、及び比表面積の測定を実施例1と同様に行った。その結果を表1に併記する。
【0044】
比較例2
市販のSi−N系有機金属ポリマー(化学組成;SiN0.82H1.77)とSi−C系有機金属ポリマー(化学組成;SiC2.09H4.98)を、質量比が1:3となるように混合した。この混合物を比較例1と同様に焼成した。得られた粉末の平均粒子径は、20μmであった。この粉末の化学分析を行った結果、珪素量41質量%、炭素量36.2質量%及び窒素量22.5質量%であり、不純物酸素量は0.3質量%であった。また、この粉末をX線回折で解析した結果、アモルファスであることが確認できた。次に、このSi−C−N粉末の耐熱性を実施例1と同様に調べた。その結果を図3に示す。
【0045】
図3から明らかなように、得られたアモルファスSi−C−N粉末は、1400℃で既に、窒化珪素の結晶化が開始していること、また1500℃では、主に窒化珪素と炭化珪素の結晶で構成されていることが分かった。
【0046】
また、このアモルファスSi−C−N多孔質粉末の細孔構造解析、及び比表面積の測定を実施例1と同様に行った。その結果を表1に併記する。
【0047】
表1より、比較例1及び比較例2のアモルファス粉末は、1000℃で合成した場合、目的とするメソ細孔構造に制御できない。また、これらのアモルファス粉末は1400℃で既に結晶化が開始して緻密化が進行した結果、ミクロ細孔容積及びメソ細孔容積が減少するともに、一部の細孔が成長して直径50nmを超えるマクロ細孔の容積が増加している。これらの多孔質構造変化により、全細孔容積中のミクロ細孔容積も著しく減少している。一方、実施例1のアモルファス多孔質粉末は、1000℃で合成して得られたときと、1400℃に熱処理したときとで、結晶化が起こらないためにメソ細孔容積がほとんど変化せず、高いメソ細孔容積率を示した。
【0048】
3.アモルファス多孔質膜の製造及び評価
実施例2
実施例1で得られたPSCD−1を、縦10mm、横10mm、厚さ1mm、細孔径0.08μmの平板状多孔質窒化珪素基材の表面にスピンコーティングした後、実施例1と同様の方法で、Si−C−N多孔質膜を得た。図4には、得られた膜の電子顕微鏡観察結果を示す。膜の厚さは、約300nmであった。また、透過型電子顕微鏡を用いた電子線回折解析、及びEDS分析より、この膜はアモルファスであることが分かった。
【0049】
このアモルファスSi−C−N多孔質膜の細孔構造解析を、実施例1と同様にして行った。その結果を表2に示す。
【0050】
【表2】
【0051】
表2より、実施例2で得られたアモルファスSi−C−N多孔質膜は、実施例1と同様に、メソ細孔を有するアモルファス多孔質材料として有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1で得られた粉末のX線回折パターンを示す説明図である。
【図2】比較例1で得られた粉末のX線回折パターンを示す説明図である。
【図3】比較例2で得られた粉末のX線回折パターンを示す説明図である。
【図4】実施例2で得られた多孔質膜の電子顕微鏡写真である。
Claims (15)
- 孔径が2〜50nmである細孔を有し、1400℃以下において多孔質構造を維持できることを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 孔径が2〜50nmである細孔の容積の合計が、全細孔の容積の合計に対して60%以上である請求項1に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 細孔容積が0.02〜0.2ml/gであり、且つ、比表面積が20〜100m2/gである請求項1又は2に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 珪素、炭素及び窒素を主成分として構成される請求項1乃至3のいずれかに記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 珪素、炭素及び窒素を主成分として構成され、孔径が2〜50nmである細孔を有することを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 1400℃以下において多孔質構造を維持できる請求項5に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 上記珪素、炭素及び窒素の含有量は、これらの合計を100質量%とした場合、それぞれ、40質量%以上、10質量%以上、及び20質量%以上である請求項5又は6に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- メチルシリルカルボジイミド単量体単位と、ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)と、を有する重合体を焼成して得られたことを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 上記メチルシリルカルボジイミド単量体単位は[(CH3)Si(NCN)1 . 5]、且つ、上記ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位は[(R1)(R2)Si(NCN)](R1及びR2は、それぞれ独立して選ばれる炭素数1〜5の炭化水素基である。)であり、該メチルシリルカルボジイミド単量体単位及び該ジアルキルシリルカルボジイミド単量体単位の含有割合は、その合計を100モル%とした場合、5〜66モル%及び95〜34モル%である請求項8に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)、及びビストリアルキルシリルカルボジイミド(アルキル基は、炭素数1〜3の炭化水素基である。)を、有機塩基の存在下に重合してポリシリルカルボジイミドとし、これを焼成して得られたことを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料。
- 上記ジアルキルジクロロシラン、及び上記ビストリアルキルシリルカルボジイミドのアルキル基はすべてメチル基である請求項10に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料。
- メチルトリクロロシラン、ジアルキルジクロロシラン(アルキル基は、炭素数1〜5の炭化水素基である。)、及びビストリアルキルシリルカルボジイミド(アルキル基は、炭素数1〜3の炭化水素基である。)を、有機塩基の存在下に重合してポリシリルカルボジイミドを合成する重合工程と、該ポリシリルカルボジイミドを焼成する焼成工程と、を備えることを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法。
- 上記焼成工程における焼成温度は、900〜1400℃である請求項12に記載の耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法。
- 請求項10に記載のポリシリルカルボジイミドを基材の表面に存在させて焼成することを特徴とする耐熱性アモルファス多孔質材料の製造方法。
- 請求項1乃至11のいずれかに記載の耐熱性アモルファス多孔質材料からなることを特徴とする触媒担体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002284135A JP4270834B2 (ja) | 2002-09-27 | 2002-09-27 | 耐熱性アモルファス多孔質材料及びその製造方法ならびに触媒担体 |
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JP2002284135A JP4270834B2 (ja) | 2002-09-27 | 2002-09-27 | 耐熱性アモルファス多孔質材料及びその製造方法ならびに触媒担体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004115344A true JP2004115344A (ja) | 2004-04-15 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4270834B2 (ja) |
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---|---|---|---|---|
JP2005343775A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 含窒素炭素系複合材料 |
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JP2010174133A (ja) * | 2009-01-29 | 2010-08-12 | Teijin Ltd | ポリシリルカルボジイミド化合物およびその製造方法 |
JP2012533510A (ja) * | 2009-07-21 | 2012-12-27 | マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツール フォーデルング デル ヴィッセンシャフテン エー.ヴェー. | 窒化物、炭化物および炭窒化物網目構造を実現するための、水素を含まない重合体イソシアネートに基づく無機樹脂の調製方法および保護コーティングとしてのその使用 |
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