JP2004104156A - 半導体装置用パッケージ及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 樹脂基板にヒートシンクを付けた半導体パッケージで、ヒートシンク(
以下、HS)を接地層或いは電源層として使用する半導体パッケージの製造を簡素化し、製造コストを低減させ、パッケージの配線を容易にする半導体パッケージ及びその製造方法の提供。
【解決手段】 パッケージ本体10に導電性接着剤26によりHS20を一体接着する半導体装置用パッケージにおいて、パッケージ本体10のHS20との接着面に配線パターン12が設けられ、接着面に配線パターン12とHS20との接続部位のみが露出する保護皮膜14を被覆し、HS20の表面にパッケージ本体10と接着する範囲に導電性接着剤26を塗布し、保護皮膜14に導電性接着剤26によりHS20を接着し、導電性接着剤26により、保護皮膜14から露出した配線パターン12の部位と、HS20とが、電気的に接続する。
【選択図】    図1

Description

 本発明はヒートシンク付きの半導体装置用パッケージ及びその製造方法に関する。
 PPGA(Plastic Pin Grid Array) 、PBGA(Plastic Ball Grid Array)といったパッケージの本体にプリント基板等の樹脂基板を使用した半導体装置用パッケージで、発熱量の大きなチップを搭載するものでは、パッケージ本体からの熱放散性が劣ることからパッケージの外面にヒートシンクを設けて提供される製品がある。
 図2はパッケージの本体に樹脂基板を使用したヒートシンク付きの半導体装置用パッケージの要部を拡大して示す断面図である。10はパッケージの本体を構成する樹脂基板であり、複数枚のプラスチック基板を積層して形成されている。12は配線パターン、14は樹脂基板10の表面の配線パターン12を被覆するソルダレジスト、16は外部接続用のリードピンである。
 20は樹脂基板10の外面に接着剤層18により接着した金属製のヒートシンクである。樹脂基板10の中央部には半導体チップ30を収納するための収納孔が開口し、半導体チップ30はヒートシンク20に導電性接着剤等により接合されて搭載されている。
 ヒートシンク20は半導体チップ30からの熱放散を促進させるためのもので、樹脂基板10の配線パターン12とヒートシンク20とは通常、接着剤層18により電気的に絶縁して接着されるが、ヒートシンク20を接地層あるいは電源層として使用する場合があり、その場合は接地ラインあるいは電源ラインとなる配線パターン12とヒートシンク20とを電気的に接続する必要がある。
 図2に示す例は、ヒートシンク20と配線パターン12とをワイヤボンディングによって電気的に接続した例である。32がボンディングワイヤである。ヒートシンク20と配線パターン12とを電気的に接続する他の方法としては、樹脂基板10にヒートシンク20を接着した後、樹脂基板10とヒートシンク20を貫通する貫通孔を設け、貫通孔にスルーホールめっきを施してヒートシンク20と配線パターン12とを電気的に接続する方法、また、樹脂基板10をヒートシンク20に接着した後、樹脂基板10側からドリル加工によってヒートシンク20にまで達する接続孔を設け、接続孔に導電性ぺーストを充填して電気的に接続する方法がある。
 図3はヒートシンク付きの半導体装置用パッケージを作成する従来法を示す。この方法ではリードピン16を装着するためのピン装着孔17を設けた樹脂基板10とヒートシンク20とを位置合わせし、電気的絶縁性を有するプリプレグ等の接着性樹脂シート18aを介して、加圧および加熱により一体化する。
 従来法でヒートシンク20を接地層あるいは電源層とする場合は、ワイヤボンディング法あるいは樹脂基板10とヒートシンク20に貫通孔を設けてスルーホールめっきを施すといった方法によるから、貫通孔を設けて電気的に接続する方法の場合は製造工程が複雑になるという問題があり、ワイヤボンディング法の場合はヒートシンク20と配線パターン12とをボンディングするため、半導体チップ30とボンディングする配線パターンの他にヒートシンク20とボンディングする配線パターンを設けたり、ヒートシンク20にワイヤボンディングするための領域を確保したりしなければならない等の制約をうけるという問題点があった。
 本発明はこれらの問題点を解消すべくなされたものであり、その目的とするところは、樹脂基板を本体とするヒートシンク付きの半導体パッケージで、ヒートシンクを接地層あるいは電源層として使用する半導体パッケージの製造工程を簡素化し、半導体パッケージの製造コストを効果的に引き下げることを可能にするとともに、パッケージの配線を容易にする半導体パッケージ及びその製造方法を提供するにある。
 本発明は上記目的を達成するため次の構成を備える。
 すなわち、パッケージ本体に導電性接着剤を介してヒートシンクを一体に接着して成る半導体装置用パッケージにおいて、前記パッケージ本体の前記ヒートシンクとの接着面に配線パターンが設けられると共に、該接着面に配線パターンと前記ヒートシンクとの接続部位のみが露出する保護皮膜が被覆され、前記ヒートシンクの表面には前記パッケージ本体と接着する範囲に前記導電性接着剤が塗布され、該保護皮膜に前記導電性接着剤を介して前記ヒートシンクが接着され、前記導電性接着剤により、前記保護皮膜から露出した配線パターンの部位と、前記ヒートシンクとが、電気的に接続されたことを特徴とする。
 また、パッケージ本体とヒートシンクとを接着剤により一体に接着して成る半導体装置用パッケージの製造方法において、前記パッケージ本体の前記ヒートシンクとの接着面に配線パターンを設けると共に、該接着面に配線パターンと前記ヒートシンクとの接続部位のみが露出する保護皮膜を被覆した後、前記ヒートシンク表面の前記パッケージ本体と接着する範囲に前記導電性接着剤を塗布し、該保護皮膜に前記導電性接着剤を介して前記ヒートシンクを接着して、前記導電性接着剤により、前記保護皮膜から露出した配線パターンの部位と、前記ヒートシンクとを電気的に接続することを特徴とする。
 本発明に係る半導体パッケージおよび半導体パッケージの製造方法によれば、ヒートシンクと樹脂基板の配線パターンとの電気的接続が容易であり、また樹脂基板とヒートシンクとを接着する操作のみで同時に樹脂基板の配線パターンとヒートシンクとが電気的に接続でき、製造工程を短縮して製造コストを効果的に引き下げることが可能になる。
 以下、本発明の好適な実施形態につき添付図面に基づいて説明する。
 図1は半導体装置用パッケージの製造方法の実施形態を示す。本実施の形態では、金属製のヒートシンク20の表面で樹脂基板10と接着する範囲に導電性接着剤26を塗布し、樹脂基板10については、樹脂基板10に設けた配線パターン12のうちヒートシンク20と電気的に接続する部位を露出させて、ソルダレジスト14等の保護被膜で被覆する。
 樹脂基板10とヒートシンク20とを位置合わせし、導電性接着剤26を介して樹脂基板10とヒートシンク20とを接着することにより、樹脂基板10の配線パターン12とヒートシンク20とが導電性接着剤26を介して電気的に接続される。
 樹脂基板10でヒートシンク20と電気的に接続する配線パターン12の部位を露出させてソルダレジスト14で被覆するには、配線パターン12が形成された樹脂基板10の表面を感光性ソルダレジストで被覆した後、感光性ソルダレジストを所定のパターンで露光、現像する方法によればよい。なお、外部接続端子としてリードピン16を使用する場合はピン装着孔17にソルダレジスト14がはいり込まないようにして被覆する。
 樹脂基板10とヒートシンク20とを導電性接着剤26で接着すると、導電性接着剤26がソルダレジスト14が除去された開口部にはいり込み、ヒートシンク20と配線パターン12とが電気的に接続されてヒートシンク20と樹脂基板10が接着される。
 なお、上記実施形態では、外部接続端子としてリードピンを用いる製品について説明したが、外部接続端子はリードピンに限らず、PBGAのようなボールバンプを用いるものについても同様に適用することができる。
 また、本発明はプリント基板等の樹脂基板をパッケージ本体に用いるものに適用して好適な熱放散性を得ることができ、製造コストを低減させることができるが、パッケージ本体にセラミック回路基板を用いるヒートシンク付きの半導体装置用パッケージに適用することも可能である。
半導体装置用パッケージの製造方法の実施形態を示す半導体装置用パッケージの断面図である。 半導体装置用パッケージの従来例の構成を示す断面図である。 半導体装置用パッケージの従来の製造方法を示す説明図である。
符号の説明
 10 樹脂基板
 12 配線パターン
 14 ソルダレジスト
 16 リードピン
 17 ピン装着孔
 18 接着剤層
 18a 接着性樹脂シート
 20 ヒートシンク
 26 導電性接着剤
 30 半導体チップ
 32 ボンディングワイヤ

Claims (2)

  1.  パッケージ本体に導電性接着剤を介してヒートシンクを一体に接着して成る半導体装置用パッケージにおいて、
     前記パッケージ本体の前記ヒートシンクとの接着面に配線パターンが設けられると共に、該接着面に配線パターンと前記ヒートシンクとの接続部位のみが露出する保護皮膜が被覆され、
     前記ヒートシンクの表面には前記パッケージ本体と接着する範囲に前記導電性接着剤が塗布され、
     該保護皮膜に前記導電性接着剤を介して前記ヒートシンクが接着され、前記導電性接着剤により、前記保護皮膜から露出した配線パターンの部位と、前記ヒートシンクとが、電気的に接続されたことを特徴とする半導体装置用パッケージ。
  2.  パッケージ本体とヒートシンクとを接着剤により一体に接着して成る半導体装置用パッケージの製造方法において、
     前記パッケージ本体の前記ヒートシンクとの接着面に配線パターンを設けると共に、該接着面に配線パターンと前記ヒートシンクとの接続部位のみが露出する保護皮膜を被覆した後、
     前記ヒートシンク表面の前記パッケージ本体と接着する範囲に前記導電性接着剤を塗布し、
     該保護皮膜に前記導電性接着剤を介して前記ヒートシンクを接着して、前記導電性接着剤により、前記保護皮膜から露出した配線パターンの部位と、前記ヒートシンクとを電気的に接続することを特徴とする半導体装置用パッケージの製造方法。
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