JP2004087610A - 半導体装置の製造方法及びこれに用いられるマウント装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】この発明は、半導体素子を短い時間で確実にマウントできる半導体装置の製造方法を提供することにある。
【解決手段】半導体素子Eをツール14で保持する保持工程と、保持した半導体素子Eを上記ツールとともに下降させる下降工程と、この下降工程の途中で上記ツールに超音波を印加し、保持した半導体素子Eを超音波振動させる超音波付与加工程と、上記半導体素子Eを超音波振動させながらワークF又は半導体素子裏面に供給された溶融した半田Hを押圧する押圧工程とを有するマウント工程を備えた。
【選択図】 図4
【解決手段】半導体素子Eをツール14で保持する保持工程と、保持した半導体素子Eを上記ツールとともに下降させる下降工程と、この下降工程の途中で上記ツールに超音波を印加し、保持した半導体素子Eを超音波振動させる超音波付与加工程と、上記半導体素子Eを超音波振動させながらワークF又は半導体素子裏面に供給された溶融した半田Hを押圧する押圧工程とを有するマウント工程を備えた。
【選択図】 図4
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ワークに半導体素子をマウントするマウント工程を有する半導体装置の製造方法、及びこれに用いられるマウント装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、半導体装置の製造過程においては、完成した半導体素子をパッケージに収納するために、リードフレームのアイランド部や基板などに上記半導体素子を搭載するマウント工程がある。このマウント工程では、半導体素子を搬送および接合するためにマウント装置が使用される。
【0003】
このマウント装置は基部を有する。この基部の所定位置には水平面内の一方向X、およびX方向に対して直交する方向Yに移動可能なXYテーブルが設けられている。XYテーブルの上面には箱状のマウントヘッドが設けられ、XYテーブルとともにX及びY方向に移動可能となっている。
【0004】
マウントヘッドはほぼ垂直に配置されたボールねじを備えている。このボールねじにはアームの長手方向の一端部がほぼ水平に支持されており、ボールねじを回転させることによって、アームを上下方向に駆動できるようになっている。
【0005】
アームの長手方向の他端部には超音波ホーンの一端部がほぼ水平に支持されている。超音波ホーンは、他端側にゆくにつれて縮径するテーパ形状に形成され、その最小径である先端部には棒状体からなるツールの上端部がほぼ垂直に支持されている。ツールの下端には吸引ブロックが設けられ、その下面側には吸引力と摩擦力とによって半導体素子を保持できるようになっている。
【0006】
上記基部には、上記ツールと対応位置してワークとしてのリードフレームを支持するワーク支持部が設けられている。ワーク支持部の内部にはヒータが設けられ、このヒータによってワーク支持部上面に支持されたリードフレームは約360[℃]〜370[℃]に加熱されている。そのため、リードフレーム上に供給された半田はヒータの加熱によって溶融状態となっている。
【0007】
リードフレームに半導体素子をマウントする場合、吸引ブロックの下面側に半導体素子を吸引保持するとともに、XYテーブルを駆動して保持した半導体素子をリードフレーム上に位置決めする。そして、ツールを下降し、吸引ブロックに保持された半導体素子をリードフレーム上の半田に押し当てる。それによって、リードフレームに半導体素子を接合する。
【0008】
しかしながら、溶融した半田の表面には酸化膜が形成されており、半導体素子を押し当てただけでは、半導体素子のリードフレームとの接合面側に半田が十分に濡れ広がらず、リードフレームに半導体素子がしっかりと接合されないことがあった。
【0009】
そこで、リードフレームに半導体素子を確実に接合する方法として、図6(a)と(b)に示すように、半導体素子が半田に接触した後、半導体素子に所定時間だけ超音波振動を印加し、この超音波振動によって半田を半導体素子の接合面側に濡れ広がらせるというものがある。
【0010】
また、他の方法として、図5(a)と(c)に示すように、半導体素子が半田に接触した後、XYテーブルの駆動により、ツールに保持された半導体素子をX方向、及びY方向に微小距離だけ移動(スクラブ動作)させ、それによって、半田を半導体素子の接合面側に濡れ広がらせるというものもある。
【0011】
なお、図5(a)は半導体素子を保持したツールの軌跡、(b)はツールに超音波を印加するタイミングを示すタイミング図、(c)は半導体素子をスクラブ動作させるタイミング図であり、図5(a)中の点Rは半導体素子が半田に接触する位置を示し、点Sは半導体素子が到達する最下点の位置を示している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図5(a)と(b)に示すように、半導体素子への超音波振動の付与は、半導体素子が半田表面に接触した後に開始されていた。しかしながら、半導体素子が半田に接触してから超音波振動を付与した場合、半田表面に形成された酸化膜を十分に破壊することができず、半田が半導体素子の接合面側で十分に濡れ広がらないことがあった。
【0013】
また、半導体素子をスクラブ動作させるためには、ツールを保持した超音波ホーン、及び超音波ホーンを支持する上下駆動機構をXYテーブルとともに駆動する必要がある。しかしながら、XYテーブルを駆動するには、数百ミリ秒程度の長い時間がかかるため、生産性の点で問題があった。
【0014】
また、マウント時には、半導体素子が半田に接触することによって、半田の温度が低下することがある。そのため、この温度低下分を考慮して、半田を過加熱、すなわち接合に必要な温度よりも高い温度に加熱しておくことがある。しかしながら、半田は高温になるにつれて酸化し易くなるため、過加熱によって温度低下分を補償する場合、半田表面に酸化膜が厚く形成され、半田の接合力が一層低下することがある。
【0015】
そこで、半導体素子が半田に接触しても半田の温度が低下しないように、予め半導体素子を加熱しておくということが考えられる。しかしながら、半導体素子を加熱する際、ツールに加熱機構を直接に搭載すると、印加された超音波の特性が損なわれて所望の超音波振幅が得られず、半田が半導体素子の接合面側に十分に濡れ広がらないことがあった。
【0016】
この発明は、半導体素子を短い時間で確実にマウントできる半導体装置の製造方法を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、半導体素子をツールで保持する保持工程と、保持した半導体素子を上記ツールとともに下降させる下降工程と、この下降工程の途中で上記ツールに超音波を印加し、保持した半導体素子を超音波振動させる超音波付与加工程と、上記半導体素子を超音波振動させながらワーク又は半導体素子裏面に供給された溶融した半田を押圧する押圧工程とを具備することを特徴とするマウント工程を有する半導体装置の製造方法にある。
【0018】
請求項2記載の発明は、上記超音波付与工程は、ツールに保持された半導体素子が最下点に到達するまで継続されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法にある。
【0019】
請求項3記載の発明は、上記超音波付与工程は、ツールに保持された半導体素子が最下点に到達した後も所定時間だけ継続されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法にある。
【0020】
請求項4記載の発明は、基部と、この基部に設けられ、ワークを支持するとともに、支持したワークを加熱するワーク支持部と、上記基部に上記ワーク支持部と対応位置して設けられ、半導体素子を保持するとともに、半導体素子を上記ワーク表面に供給された溶融した半田に押圧するツールと、このツールを介して半導体素子に超音波振動を付与する超音波振動付与手段と、上記ツールと一体的に駆動され、このツールを非接触で加熱する加熱手段とを有することを特徴とするマウント装置にある。
【0021】
請求項5記載の発明は、上記加熱手段は、挿通孔を備えた加熱ブロックと、この加熱ブロックを加熱する加熱源とを備え、上記ツールは、上記挿通孔に非接触を保って挿通されていることを特徴とする請求項4記載のマウント装置にある。
【0022】
この発明によれば、半導体素子が半田と接触すると同時に、半田表面に形成された酸化膜を完全に破壊することができ、半導体素子の接合面全体に半田を行き渡らせることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながらこの発明の一実施の形態を説明する。
【0024】
図1に示すマウント装置は基部1を有する。この基部1の所定位置には、水平面内の一方向X、および方向Xに対して直交する方向Yに移動可能なXYテーブル2が設けられている。このXYテーブル2の上面には箱体からなるマウントヘッド3が設けられ、XYテーブル2とともにX及びY方向に移動可能となっている。
【0025】
マウントヘッド3はほぼ垂直に配置されたボールねじ5を備えている。このボールねじ5には、アーム4の長手方向の一端部がほぼ水平に支持されており、モータ6によりボールねじ5を回転させることで、アーム4を上下方向に駆動できるようになっている。
【0026】
アーム4の長手方向の他端部には、断面ほぼL字状の取り付け部材7が設けられている。この取り付け部材7には、L字状のブラケット8を介して加熱手段としての矩形状の加熱ブロック9が支持されている。加熱ブロック9の内部には加熱源としてのカートリッジ式の加熱装置10が着脱可能に設けられ、その側方には上下に連通する挿通孔11が形成されている。
【0027】
また、上記取り付け部材7には、超音波ホーン13の一端部が部材12を介してほぼ水平に支持されている。この超音波ホーン13は、長手方向の他端部側にゆくにつれて縮径するテーパ形状に形成され、最小径を有する先端部には、内部に吸引孔14a(図3にのみ図示)を備えたツール14の上端部がほぼ垂直に支持されている。
【0028】
すなわち、ツール14と加熱ブロック9とはアーム4の動作に伴って、一体的に動くようになっている。
【0029】
図1と図2に示すように、上記加熱ブロック9の挿通孔11には、ツール14が挿通孔11の内周面に接触しないように挿入されている。このツール14の下端部は加熱ブロック9の下面側に突出し、その突出した下端には保持部としてのほぼ矩形状の角錐コレット15が設けられている。
【0030】
図3に示すように、角錐コレット15の下面には、ほぼ矩形状の凹部16が形成され、凹部16を構成する4つの内側壁16aは、それぞれ下方(図3では上方)にゆくにつれて広がる傾斜面となっている。
【0031】
凹部16の上面16b、すなわち凹部16の開口部と対向する面には、上記吸引孔14aと連通する吸引口16cが開口形成されている。また、ツール14の吸引孔14aには吸引装置(図示しない)が接続されている。
【0032】
それによって、角錐コレット15の凹部16に半導体素子Eを係合させるとともに、上記吸引装置を作動することで、角錐コレット15の下面側に半導体素子Eを吸引保持できるようになっている。
【0033】
図1に示すように、上記基部1の上面には、ツール14と対応位置して搬送台17が設けられている。この搬送台17は基部1に対して移動自在となっていて、駆動装置(図示しない)によって所定方向に駆動されるようになっている。
【0034】
搬送台17の上面にはワークとしてのリードフレームFが載置される。このリードフレームFは、搬送台17の上面に設けられた抑え板18によって搬送台17の上面に保持され、搬送台17とともに所定方向に搬送されるようになっている。
【0035】
また、搬送台17は内部にヒータ19を備え、このヒータ19によって搬送台17の上面に保持したリードフレームFを加熱できるようになっている。
【0036】
次に、図4を用いて上記構成のマウント装置を使用する際のマウント方法について説明する。
【0037】
搬送台17の上面にリードフレームFを保持したならば、このリードフレームFの所定位置に半田Hをスポット状に供給する。
【0038】
次いで、図示しないゲージング台上に位置決めされた半導体素子Eを角錐コレット17で吸引保持するとともに、XYテーブル2を駆動して、保持した半導体素子Eを半田Hに対応位置させる。このときの半導体素子Eの位置を、図4(a)に第1の位置Pで示す。
【0039】
次いで、モータ6を駆動して半導体素子Eをツール14とともに第1の位置Pから下降させる。そして、半導体素子Eが同図に示す予め設定された第2の位置Qに到達したら、超音波ホーン13によってツール14に超音波を印加する。ツール14に印加された超音波はツール14を長手方向に伝播し、角錐コレット15に保持された半導体素子Eを超音波振動させる。
【0040】
次いで、半導体素子Eをさらに下降させ、超音波振動する半導体素子EをリードフレームF上に供給された半田Hに接触させる。このときの半導体素子Eの位置を、図4に第3の位置Rで示す。
【0041】
このとき、リードフレームFは、搬送台17に設けられたヒータ19によって約360[℃]〜370[℃]に加熱されている。そのため、リードフレームFに供給された半田Hは溶融状態となっている。
【0042】
半導体素子Eが半田Hに接触すると、半導体素子Eに付与された超音波振動によって、半田Hの表面に形成された酸化膜が破壊され、酸化膜内部の溶融した半田Hが半導体素子の接合面側で濡れ広がる。そして、半導体素子Eをさらに下降させることによって、半田Hを半導体素子Eの接合面側で押し広げながら、接合面全体に行きわたらせることになる。
【0043】
半導体素子Eが、最下点である第4の位置Sに到達したら、超音波の印加を停止するとともに、図4(a)に(イ)で示す実線に沿ってツール14を上昇させ、次の工程に移行する。以上で、半導体素子EをリードフレームFにマウントする工程は終了する。
【0044】
上述した半導体装置の製造方法及びマウント装置によれば、半導体素子Eが半田Hに接触する前から、この半導体素子Eに超音波振動を付与するようにした。
【0045】
そのため、半導体素子Eが半田Hに接触したときには、半導体素子Eが所望の振幅を得ているから、半田H表面に形成された酸化膜を完全に破壊することができる。その結果、半田Hが半導体素子Eの接合面全体にわたって濡れ広がるため、半導体素子EとリードフレームFとの接合性を向上させることができる。
【0046】
しかも、半導体素子Eが半田Hと接触すると同時に半田H表面の酸化膜が破壊されるから、酸化膜の破壊に要する時間が短縮され、生産性、歩留まりが向上する。
【0047】
また、加熱手段を用いて角錐コレット15を半田Hの融点以上に加熱するようにした。
【0048】
そのため、半導体素子EをリードフレームFにマウントする際、溶融した半田Hが角錐コレット15に接触しても、角錐コレット15上に凝固付着することがないから、常に所定のマウント精度を維持することができる。
【0049】
しかも、加熱ブロック9の挿通孔11にツール14を非接触で挿入し、このツール14を挿通孔11内周壁との間の空気を介して加熱するようにした。
【0050】
そのため、超音波ホーン13からの超音波振動を半導体素子Eに効率よく伝えることができる。
【0051】
また、角錐コレット15の下面に半導体素子Eを収容するための凹部16を形成した。
【0052】
そのため、半導体素子Eは角錐コレット15の下面側にしっかりと保持されるから、半導体素子Eに大きな振幅の超音波振動を印加しても、半導体素子Eの位置がずれないようになっている。
【0053】
しかも、凹部16の内側壁16aを角錐コレット15の下面側に向って広がる傾斜面とし、これら内側壁16aに半導体素子Eの周縁部を係合させるようにした。
【0054】
そのため、従来のように半導体素子Eを保持する際に、半導体素子Eの表面と角錐コレット15との間の摩擦力を利用しないので、半導体素子Eの表面部分が超音波振動によって破損し難くなっている。
【0055】
さらに、半導体素子Eに超音波振動を付与すると、半導体素子Eと角錐コレット15の凹部16との間のはめあいが向上し、半導体素子Eの姿勢がリードフレームFに対してほぼ平行となるように修正されるから、半田Hの接合厚さを均一化することができる。
【0056】
なお、この発明は上記一実施の形態に限定されるものではない。すなわち、上記実施の形態のように、リードフレームF表面に半田を付与する代わりに、裏面に予め半田が付与されている半導体素子Eを用い、この半田を介してリードフレームFに半導体素子Eを接合するようにしてもよい。この場合も、上述した接合性、生産性、歩留まりの向上などの効果が得られるのは言うまでもない。
【0057】
一方、ツール14を非接触で加熱できるのであれば、ツール14を加熱する加熱手段として、図5に示すように、上記ブラケット8に例えばドライヤ21などを設け、このドライヤ21からツール14に向けてホットエアーを供給してもよい。また、高周波加熱などを用いてツール14を加熱してもよい。
【0058】
また、さらなる接合安定化を図るために、ツール14が第4の位置S(最下点)に到達した後、図4(a)中の点線(ロ)に示すように、所定時間だけその高さを維持するとともに、図4(c)に示すように、ツール14が第5の位置Tにおいて上昇を開始するまで、半導体素子Eに超音波振動を付与し続けてもよい。
【0059】
【発明の効果】
この発明によれば、半導体素子とワークとが円滑に接合されるから、接合に係る時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態に係るマウント装置の構成図。
【図2】この発明の一実施の形態に係る加熱手段の斜視図。
【図3】この発明の一実施の形態に係る角錐コレットの斜視図。
【図4】この発明の一実施の形態に係るマウント工程を示し、(a)はツールに保持された半導体素子の軌跡を示す図、(b)はツールに超音波を印加するタイミングを示すタイミング図、(c)はツールに超音波を印加するタイミングの変形例を示すタイミング図。
【図5】この発明の一実施の形態に係る加熱手段の変形例を示す斜視図。
【図6】従来におけるマウント工程を示し、(a)はツールに保持された半導体素子の軌跡を示す図、(b)はツールに超音波を印加するタイミングを示すタイミング図、(c)はスクラブ動作のタイミングを示すタイミング図。
【符号の説明】
14…ツール
E…半導体素子
F…リードフレーム(ワーク)
H…半田
S…第4の位置(最下点)
1…基部
17…ワーク支持部
9…加熱ブロック(加熱手段)
11…挿通孔
10…加熱装置(加熱源)
16…凹部
16a…内側壁
【発明の属する技術分野】
この発明は、ワークに半導体素子をマウントするマウント工程を有する半導体装置の製造方法、及びこれに用いられるマウント装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、半導体装置の製造過程においては、完成した半導体素子をパッケージに収納するために、リードフレームのアイランド部や基板などに上記半導体素子を搭載するマウント工程がある。このマウント工程では、半導体素子を搬送および接合するためにマウント装置が使用される。
【0003】
このマウント装置は基部を有する。この基部の所定位置には水平面内の一方向X、およびX方向に対して直交する方向Yに移動可能なXYテーブルが設けられている。XYテーブルの上面には箱状のマウントヘッドが設けられ、XYテーブルとともにX及びY方向に移動可能となっている。
【0004】
マウントヘッドはほぼ垂直に配置されたボールねじを備えている。このボールねじにはアームの長手方向の一端部がほぼ水平に支持されており、ボールねじを回転させることによって、アームを上下方向に駆動できるようになっている。
【0005】
アームの長手方向の他端部には超音波ホーンの一端部がほぼ水平に支持されている。超音波ホーンは、他端側にゆくにつれて縮径するテーパ形状に形成され、その最小径である先端部には棒状体からなるツールの上端部がほぼ垂直に支持されている。ツールの下端には吸引ブロックが設けられ、その下面側には吸引力と摩擦力とによって半導体素子を保持できるようになっている。
【0006】
上記基部には、上記ツールと対応位置してワークとしてのリードフレームを支持するワーク支持部が設けられている。ワーク支持部の内部にはヒータが設けられ、このヒータによってワーク支持部上面に支持されたリードフレームは約360[℃]〜370[℃]に加熱されている。そのため、リードフレーム上に供給された半田はヒータの加熱によって溶融状態となっている。
【0007】
リードフレームに半導体素子をマウントする場合、吸引ブロックの下面側に半導体素子を吸引保持するとともに、XYテーブルを駆動して保持した半導体素子をリードフレーム上に位置決めする。そして、ツールを下降し、吸引ブロックに保持された半導体素子をリードフレーム上の半田に押し当てる。それによって、リードフレームに半導体素子を接合する。
【0008】
しかしながら、溶融した半田の表面には酸化膜が形成されており、半導体素子を押し当てただけでは、半導体素子のリードフレームとの接合面側に半田が十分に濡れ広がらず、リードフレームに半導体素子がしっかりと接合されないことがあった。
【0009】
そこで、リードフレームに半導体素子を確実に接合する方法として、図6(a)と(b)に示すように、半導体素子が半田に接触した後、半導体素子に所定時間だけ超音波振動を印加し、この超音波振動によって半田を半導体素子の接合面側に濡れ広がらせるというものがある。
【0010】
また、他の方法として、図5(a)と(c)に示すように、半導体素子が半田に接触した後、XYテーブルの駆動により、ツールに保持された半導体素子をX方向、及びY方向に微小距離だけ移動(スクラブ動作)させ、それによって、半田を半導体素子の接合面側に濡れ広がらせるというものもある。
【0011】
なお、図5(a)は半導体素子を保持したツールの軌跡、(b)はツールに超音波を印加するタイミングを示すタイミング図、(c)は半導体素子をスクラブ動作させるタイミング図であり、図5(a)中の点Rは半導体素子が半田に接触する位置を示し、点Sは半導体素子が到達する最下点の位置を示している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図5(a)と(b)に示すように、半導体素子への超音波振動の付与は、半導体素子が半田表面に接触した後に開始されていた。しかしながら、半導体素子が半田に接触してから超音波振動を付与した場合、半田表面に形成された酸化膜を十分に破壊することができず、半田が半導体素子の接合面側で十分に濡れ広がらないことがあった。
【0013】
また、半導体素子をスクラブ動作させるためには、ツールを保持した超音波ホーン、及び超音波ホーンを支持する上下駆動機構をXYテーブルとともに駆動する必要がある。しかしながら、XYテーブルを駆動するには、数百ミリ秒程度の長い時間がかかるため、生産性の点で問題があった。
【0014】
また、マウント時には、半導体素子が半田に接触することによって、半田の温度が低下することがある。そのため、この温度低下分を考慮して、半田を過加熱、すなわち接合に必要な温度よりも高い温度に加熱しておくことがある。しかしながら、半田は高温になるにつれて酸化し易くなるため、過加熱によって温度低下分を補償する場合、半田表面に酸化膜が厚く形成され、半田の接合力が一層低下することがある。
【0015】
そこで、半導体素子が半田に接触しても半田の温度が低下しないように、予め半導体素子を加熱しておくということが考えられる。しかしながら、半導体素子を加熱する際、ツールに加熱機構を直接に搭載すると、印加された超音波の特性が損なわれて所望の超音波振幅が得られず、半田が半導体素子の接合面側に十分に濡れ広がらないことがあった。
【0016】
この発明は、半導体素子を短い時間で確実にマウントできる半導体装置の製造方法を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、半導体素子をツールで保持する保持工程と、保持した半導体素子を上記ツールとともに下降させる下降工程と、この下降工程の途中で上記ツールに超音波を印加し、保持した半導体素子を超音波振動させる超音波付与加工程と、上記半導体素子を超音波振動させながらワーク又は半導体素子裏面に供給された溶融した半田を押圧する押圧工程とを具備することを特徴とするマウント工程を有する半導体装置の製造方法にある。
【0018】
請求項2記載の発明は、上記超音波付与工程は、ツールに保持された半導体素子が最下点に到達するまで継続されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法にある。
【0019】
請求項3記載の発明は、上記超音波付与工程は、ツールに保持された半導体素子が最下点に到達した後も所定時間だけ継続されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法にある。
【0020】
請求項4記載の発明は、基部と、この基部に設けられ、ワークを支持するとともに、支持したワークを加熱するワーク支持部と、上記基部に上記ワーク支持部と対応位置して設けられ、半導体素子を保持するとともに、半導体素子を上記ワーク表面に供給された溶融した半田に押圧するツールと、このツールを介して半導体素子に超音波振動を付与する超音波振動付与手段と、上記ツールと一体的に駆動され、このツールを非接触で加熱する加熱手段とを有することを特徴とするマウント装置にある。
【0021】
請求項5記載の発明は、上記加熱手段は、挿通孔を備えた加熱ブロックと、この加熱ブロックを加熱する加熱源とを備え、上記ツールは、上記挿通孔に非接触を保って挿通されていることを特徴とする請求項4記載のマウント装置にある。
【0022】
この発明によれば、半導体素子が半田と接触すると同時に、半田表面に形成された酸化膜を完全に破壊することができ、半導体素子の接合面全体に半田を行き渡らせることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながらこの発明の一実施の形態を説明する。
【0024】
図1に示すマウント装置は基部1を有する。この基部1の所定位置には、水平面内の一方向X、および方向Xに対して直交する方向Yに移動可能なXYテーブル2が設けられている。このXYテーブル2の上面には箱体からなるマウントヘッド3が設けられ、XYテーブル2とともにX及びY方向に移動可能となっている。
【0025】
マウントヘッド3はほぼ垂直に配置されたボールねじ5を備えている。このボールねじ5には、アーム4の長手方向の一端部がほぼ水平に支持されており、モータ6によりボールねじ5を回転させることで、アーム4を上下方向に駆動できるようになっている。
【0026】
アーム4の長手方向の他端部には、断面ほぼL字状の取り付け部材7が設けられている。この取り付け部材7には、L字状のブラケット8を介して加熱手段としての矩形状の加熱ブロック9が支持されている。加熱ブロック9の内部には加熱源としてのカートリッジ式の加熱装置10が着脱可能に設けられ、その側方には上下に連通する挿通孔11が形成されている。
【0027】
また、上記取り付け部材7には、超音波ホーン13の一端部が部材12を介してほぼ水平に支持されている。この超音波ホーン13は、長手方向の他端部側にゆくにつれて縮径するテーパ形状に形成され、最小径を有する先端部には、内部に吸引孔14a(図3にのみ図示)を備えたツール14の上端部がほぼ垂直に支持されている。
【0028】
すなわち、ツール14と加熱ブロック9とはアーム4の動作に伴って、一体的に動くようになっている。
【0029】
図1と図2に示すように、上記加熱ブロック9の挿通孔11には、ツール14が挿通孔11の内周面に接触しないように挿入されている。このツール14の下端部は加熱ブロック9の下面側に突出し、その突出した下端には保持部としてのほぼ矩形状の角錐コレット15が設けられている。
【0030】
図3に示すように、角錐コレット15の下面には、ほぼ矩形状の凹部16が形成され、凹部16を構成する4つの内側壁16aは、それぞれ下方(図3では上方)にゆくにつれて広がる傾斜面となっている。
【0031】
凹部16の上面16b、すなわち凹部16の開口部と対向する面には、上記吸引孔14aと連通する吸引口16cが開口形成されている。また、ツール14の吸引孔14aには吸引装置(図示しない)が接続されている。
【0032】
それによって、角錐コレット15の凹部16に半導体素子Eを係合させるとともに、上記吸引装置を作動することで、角錐コレット15の下面側に半導体素子Eを吸引保持できるようになっている。
【0033】
図1に示すように、上記基部1の上面には、ツール14と対応位置して搬送台17が設けられている。この搬送台17は基部1に対して移動自在となっていて、駆動装置(図示しない)によって所定方向に駆動されるようになっている。
【0034】
搬送台17の上面にはワークとしてのリードフレームFが載置される。このリードフレームFは、搬送台17の上面に設けられた抑え板18によって搬送台17の上面に保持され、搬送台17とともに所定方向に搬送されるようになっている。
【0035】
また、搬送台17は内部にヒータ19を備え、このヒータ19によって搬送台17の上面に保持したリードフレームFを加熱できるようになっている。
【0036】
次に、図4を用いて上記構成のマウント装置を使用する際のマウント方法について説明する。
【0037】
搬送台17の上面にリードフレームFを保持したならば、このリードフレームFの所定位置に半田Hをスポット状に供給する。
【0038】
次いで、図示しないゲージング台上に位置決めされた半導体素子Eを角錐コレット17で吸引保持するとともに、XYテーブル2を駆動して、保持した半導体素子Eを半田Hに対応位置させる。このときの半導体素子Eの位置を、図4(a)に第1の位置Pで示す。
【0039】
次いで、モータ6を駆動して半導体素子Eをツール14とともに第1の位置Pから下降させる。そして、半導体素子Eが同図に示す予め設定された第2の位置Qに到達したら、超音波ホーン13によってツール14に超音波を印加する。ツール14に印加された超音波はツール14を長手方向に伝播し、角錐コレット15に保持された半導体素子Eを超音波振動させる。
【0040】
次いで、半導体素子Eをさらに下降させ、超音波振動する半導体素子EをリードフレームF上に供給された半田Hに接触させる。このときの半導体素子Eの位置を、図4に第3の位置Rで示す。
【0041】
このとき、リードフレームFは、搬送台17に設けられたヒータ19によって約360[℃]〜370[℃]に加熱されている。そのため、リードフレームFに供給された半田Hは溶融状態となっている。
【0042】
半導体素子Eが半田Hに接触すると、半導体素子Eに付与された超音波振動によって、半田Hの表面に形成された酸化膜が破壊され、酸化膜内部の溶融した半田Hが半導体素子の接合面側で濡れ広がる。そして、半導体素子Eをさらに下降させることによって、半田Hを半導体素子Eの接合面側で押し広げながら、接合面全体に行きわたらせることになる。
【0043】
半導体素子Eが、最下点である第4の位置Sに到達したら、超音波の印加を停止するとともに、図4(a)に(イ)で示す実線に沿ってツール14を上昇させ、次の工程に移行する。以上で、半導体素子EをリードフレームFにマウントする工程は終了する。
【0044】
上述した半導体装置の製造方法及びマウント装置によれば、半導体素子Eが半田Hに接触する前から、この半導体素子Eに超音波振動を付与するようにした。
【0045】
そのため、半導体素子Eが半田Hに接触したときには、半導体素子Eが所望の振幅を得ているから、半田H表面に形成された酸化膜を完全に破壊することができる。その結果、半田Hが半導体素子Eの接合面全体にわたって濡れ広がるため、半導体素子EとリードフレームFとの接合性を向上させることができる。
【0046】
しかも、半導体素子Eが半田Hと接触すると同時に半田H表面の酸化膜が破壊されるから、酸化膜の破壊に要する時間が短縮され、生産性、歩留まりが向上する。
【0047】
また、加熱手段を用いて角錐コレット15を半田Hの融点以上に加熱するようにした。
【0048】
そのため、半導体素子EをリードフレームFにマウントする際、溶融した半田Hが角錐コレット15に接触しても、角錐コレット15上に凝固付着することがないから、常に所定のマウント精度を維持することができる。
【0049】
しかも、加熱ブロック9の挿通孔11にツール14を非接触で挿入し、このツール14を挿通孔11内周壁との間の空気を介して加熱するようにした。
【0050】
そのため、超音波ホーン13からの超音波振動を半導体素子Eに効率よく伝えることができる。
【0051】
また、角錐コレット15の下面に半導体素子Eを収容するための凹部16を形成した。
【0052】
そのため、半導体素子Eは角錐コレット15の下面側にしっかりと保持されるから、半導体素子Eに大きな振幅の超音波振動を印加しても、半導体素子Eの位置がずれないようになっている。
【0053】
しかも、凹部16の内側壁16aを角錐コレット15の下面側に向って広がる傾斜面とし、これら内側壁16aに半導体素子Eの周縁部を係合させるようにした。
【0054】
そのため、従来のように半導体素子Eを保持する際に、半導体素子Eの表面と角錐コレット15との間の摩擦力を利用しないので、半導体素子Eの表面部分が超音波振動によって破損し難くなっている。
【0055】
さらに、半導体素子Eに超音波振動を付与すると、半導体素子Eと角錐コレット15の凹部16との間のはめあいが向上し、半導体素子Eの姿勢がリードフレームFに対してほぼ平行となるように修正されるから、半田Hの接合厚さを均一化することができる。
【0056】
なお、この発明は上記一実施の形態に限定されるものではない。すなわち、上記実施の形態のように、リードフレームF表面に半田を付与する代わりに、裏面に予め半田が付与されている半導体素子Eを用い、この半田を介してリードフレームFに半導体素子Eを接合するようにしてもよい。この場合も、上述した接合性、生産性、歩留まりの向上などの効果が得られるのは言うまでもない。
【0057】
一方、ツール14を非接触で加熱できるのであれば、ツール14を加熱する加熱手段として、図5に示すように、上記ブラケット8に例えばドライヤ21などを設け、このドライヤ21からツール14に向けてホットエアーを供給してもよい。また、高周波加熱などを用いてツール14を加熱してもよい。
【0058】
また、さらなる接合安定化を図るために、ツール14が第4の位置S(最下点)に到達した後、図4(a)中の点線(ロ)に示すように、所定時間だけその高さを維持するとともに、図4(c)に示すように、ツール14が第5の位置Tにおいて上昇を開始するまで、半導体素子Eに超音波振動を付与し続けてもよい。
【0059】
【発明の効果】
この発明によれば、半導体素子とワークとが円滑に接合されるから、接合に係る時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態に係るマウント装置の構成図。
【図2】この発明の一実施の形態に係る加熱手段の斜視図。
【図3】この発明の一実施の形態に係る角錐コレットの斜視図。
【図4】この発明の一実施の形態に係るマウント工程を示し、(a)はツールに保持された半導体素子の軌跡を示す図、(b)はツールに超音波を印加するタイミングを示すタイミング図、(c)はツールに超音波を印加するタイミングの変形例を示すタイミング図。
【図5】この発明の一実施の形態に係る加熱手段の変形例を示す斜視図。
【図6】従来におけるマウント工程を示し、(a)はツールに保持された半導体素子の軌跡を示す図、(b)はツールに超音波を印加するタイミングを示すタイミング図、(c)はスクラブ動作のタイミングを示すタイミング図。
【符号の説明】
14…ツール
E…半導体素子
F…リードフレーム(ワーク)
H…半田
S…第4の位置(最下点)
1…基部
17…ワーク支持部
9…加熱ブロック(加熱手段)
11…挿通孔
10…加熱装置(加熱源)
16…凹部
16a…内側壁
Claims (5)
- 半導体素子をツールで保持する保持工程と、
保持した半導体素子を上記ツールとともに下降させる下降工程と、
この下降工程の途中で上記ツールに超音波を印加し、保持した半導体素子を超音波振動させる超音波付与加工程と、
上記半導体素子を超音波振動させながらワーク又は半導体素子裏面に供給された溶融した半田を押圧する押圧工程と
を具備することを特徴とするマウント工程を有する半導体装置の製造方法。 - 上記超音波付与工程は、ツールに保持された半導体素子が最下点に到達するまで継続されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
- 上記超音波付与工程は、ツールに保持された半導体素子が最下点に到達した後も所定時間だけ継続されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
- 基部と、
この基部に設けられ、ワークを支持するとともに、支持したワークを加熱するワーク支持部と、
上記基部に上記ワーク支持部と対応位置して設けられ、半導体素子を保持するとともに、半導体素子を上記ワーク表面に供給された溶融した半田に押圧するツールと、
このツールを介して半導体素子に超音波振動を付与する超音波振動付与手段と、
上記ツールと一体的に駆動され、ツールを非接触で加熱する加熱手段と
を有することを特徴とするマウント装置。 - 上記加熱手段は、
挿通孔を備えた加熱ブロックと、
この加熱ブロックを加熱する加熱源と
を備え、
上記ツールは、上記挿通孔に非接触を保って挿通されていることを特徴とする請求項4記載のマウント装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002244016A JP2004087610A (ja) | 2002-08-23 | 2002-08-23 | 半導体装置の製造方法及びこれに用いられるマウント装置 |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004087610A true JP2004087610A (ja) | 2004-03-18 |
Family
ID=32052631
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Country Status (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006303060A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ボンディング装置およびボンディングヘッドならびに電子部品のボンディング方法 |
JP2010050465A (ja) * | 2009-09-11 | 2010-03-04 | Tdk Corp | 超音波振動を用いて実装部品を被実装部品に実装する実装装置 |
US7814645B2 (en) | 2007-07-30 | 2010-10-19 | Tdk Corporation | Mounting apparatus mounting surface-mounted device on receiving device using ultrasonic vibration |
JP7471027B1 (ja) | 2023-01-16 | 2024-04-19 | 株式会社大橋製作所 | 実装装置 |
-
2002
- 2002-08-23 JP JP2002244016A patent/JP2004087610A/ja active Pending
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