JP2003529759A - センサ素子、特に温度センサ - Google Patents
センサ素子、特に温度センサInfo
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/18—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
- G01K7/183—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer characterised by the use of the resistive element
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Abstract
(57)【要約】
本発明は、感知領域(11)が曝されている温度の影響下に電気抵抗が変化する感知領域(11)を有するセンサ素子、特に温度センサ(5)に関する。この場合、感知領域(11)は、少なくとも十分に表面メタライゼーションを備えている少なくとも1種の成分を含有する出発材料のガラスセラミック溶着物(15)を有する。本願の温度センサ(5)は1000℃を越える温度での使用のために特に適当であり、その際、該センサは白金−抵抗のような抵抗特性を示す。
Description
【0001】
本発明はメインクレームの様式によるセンサ素子、特に温度センサに関する。
【0002】
従来の技術
DE19651454A1号の出願から、金属被覆されたガラスの溶着によっ
て製造される電気抵抗は公知である。これによって、ガラス基材中に埋め込まれ
た網状構造の金属相が生じる。この金属相は、例えば白金金属薄膜から形成され
る。
て製造される電気抵抗は公知である。これによって、ガラス基材中に埋め込まれ
た網状構造の金属相が生じる。この金属相は、例えば白金金属薄膜から形成され
る。
【0003】
DE19636493C1号から、ガラス粉末表面上に化学的に結合している
貴金属塩でガラス粉末の成核を行うことは公知である。更に、そのようにして播
種されたガラス粉末が、典型的な厚さがナノメートル程度の表面メタライゼーシ
ョンを備えることは公知である。DE19636493C1号から、更にまた播
種の方法及び前記のような表面メタライゼーションによる金属粉末の被覆のため
の方法が公知である。
貴金属塩でガラス粉末の成核を行うことは公知である。更に、そのようにして播
種されたガラス粉末が、典型的な厚さがナノメートル程度の表面メタライゼーシ
ョンを備えることは公知である。DE19636493C1号から、更にまた播
種の方法及び前記のような表面メタライゼーションによる金属粉末の被覆のため
の方法が公知である。
【0004】
最後に温度センサは、目下のところ白金を薄膜の形でセラミック基板上に蒸着
させ、その際、蒸着された白金層をレーザで所望の抵抗値までトリミングし、排
気ガス中での使用のために、その上をガラス層で保護することによって製造され
る。
させ、その際、蒸着された白金層をレーザで所望の抵抗値までトリミングし、排
気ガス中での使用のために、その上をガラス層で保護することによって製造され
る。
【0005】
本発明の利点
本発明によるセンサ素子は従来の技術に比べて機械的に強固であり、コスト的
に有利であり、かつ例えば排気ガス中で1100℃までの温度で使用可能な温度
センサを製造できることである。該温度センサは、この場合、その製造のために
引き続きガラスで覆うことによる高価な薄膜プロセスを必要とせずに公知の白金
−抵抗温度センサと同様の温度特性を示す。
に有利であり、かつ例えば排気ガス中で1100℃までの温度で使用可能な温度
センサを製造できることである。該温度センサは、この場合、その製造のために
引き続きガラスで覆うことによる高価な薄膜プロセスを必要とせずに公知の白金
−抵抗温度センサと同様の温度特性を示す。
【0006】
本発明の有利な開発は、従属請求項に挙げられる措置からもたらされる。
【0007】
このように、製造された温度センサの所望の温度依存性の実現のために、表面
メタライゼーションを0.5nm〜10nm、特に1nm〜3nmの平均厚で実
施することが特に有利である。
メタライゼーションを0.5nm〜10nm、特に1nm〜3nmの平均厚で実
施することが特に有利である。
【0008】
更に、ガラスセラミック溶着物を本発明によるセンサ素子の感知領域において
慣用の薄膜プロセスによって、例えば市場で入手できる酸化アルミニウム既製基
板上に適用し、1工程において約900℃の温度で焼き付けできることは有利で
ある。この場合、基板、特にAl2O3に適合されたガラスセラミック溶着物の
熱膨張率によって作動の際に少なくとも熱機械的膨張は殆ど生じない。
慣用の薄膜プロセスによって、例えば市場で入手できる酸化アルミニウム既製基
板上に適用し、1工程において約900℃の温度で焼き付けできることは有利で
ある。この場合、基板、特にAl2O3に適合されたガラスセラミック溶着物の
熱膨張率によって作動の際に少なくとも熱機械的膨張は殆ど生じない。
【0009】
特に網状構造に構成され、その中に埋め込まれた金属相を有するガラスセラミ
ック溶着物の形の感知領域の態様は更に、1400℃を越える慣用の焼結温度さ
えも省略できるという利点を有する。そのような高い焼結温度は従来の技術にお
いてガラスセラミック溶着物の代わりに、例えば白金粉末と混合されているAl2 O3又は二酸化ジルコニウムのようなセラミックを使用する場合には不可欠で
ある。白金の特性を有する所望の抵抗の構成のための前記のようなセラミック粉
末は本発明により使用されるガラスセラミック溶着物に対して、1400℃より
高い温度で生成された白金層はしばしば凝結し、かつ十分な電導性の保証のため
に事前に作成された伝導経路が更に開裂するので、金属性の抵抗特性を有する作
用物質を得ることができないという欠点を有する。
ック溶着物の形の感知領域の態様は更に、1400℃を越える慣用の焼結温度さ
えも省略できるという利点を有する。そのような高い焼結温度は従来の技術にお
いてガラスセラミック溶着物の代わりに、例えば白金粉末と混合されているAl2 O3又は二酸化ジルコニウムのようなセラミックを使用する場合には不可欠で
ある。白金の特性を有する所望の抵抗の構成のための前記のようなセラミック粉
末は本発明により使用されるガラスセラミック溶着物に対して、1400℃より
高い温度で生成された白金層はしばしば凝結し、かつ十分な電導性の保証のため
に事前に作成された伝導経路が更に開裂するので、金属性の抵抗特性を有する作
用物質を得ることができないという欠点を有する。
【0010】
作成されたセンサ素子の比電気抵抗は、最終的に有利にはガラスセラミック溶
着物のための出発材料の成分に生じる表面メタライゼーションによって調整でき
る。
着物のための出発材料の成分に生じる表面メタライゼーションによって調整でき
る。
【0011】
更に、ガラスセラミック溶着物の製造のための出発材料は850℃〜950℃
で溶着させてよく、その際、晶出後に耐火性相が生成し、これらは1000℃を
越える温度まで温度安定性であり、かつそれらの熱膨張率はAl2O3に適合さ
れていることが有利である。このように製造されたガラスセラミック溶着物は、
更に出発材料の成分の表面メタライゼーションを除外する場合には、高温でも電
気的に絶縁性である。これらは、例えば800℃で10kV/mmより高い電気
的な絶縁耐性を有する。
で溶着させてよく、その際、晶出後に耐火性相が生成し、これらは1000℃を
越える温度まで温度安定性であり、かつそれらの熱膨張率はAl2O3に適合さ
れていることが有利である。このように製造されたガラスセラミック溶着物は、
更に出発材料の成分の表面メタライゼーションを除外する場合には、高温でも電
気的に絶縁性である。これらは、例えば800℃で10kV/mmより高い電気
的な絶縁耐性を有する。
【0012】
電気的な接点(Kontaktierung)及びガラスセラミック溶着物への導線の製造
のために、更に同様に、変更された組成を有するガラスセラミック溶着物及びそ
れによって変更された抵抗特性を使用できる。しかしながらまた、市場で入手で
きる低抵抗の電極ペーストを導線及び接点の構成のために適当である。
のために、更に同様に、変更された組成を有するガラスセラミック溶着物及びそ
れによって変更された抵抗特性を使用できる。しかしながらまた、市場で入手で
きる低抵抗の電極ペーストを導線及び接点の構成のために適当である。
【0013】
センサ素子のその下方に存在する基板の温度感知領域を熱的に減結合するため
に、更にガラスセラミック溶着物と基板との間に中間層を設けることが有利であ
る。そのために、有利にはセンサ素子の感知領域中のガラスセラミック溶着物の
ための出発材料と同様の組成を有するガラスセラミックからなる中間層を使用す
るが、その際、出発材料の成分の表面メタライゼーションを省略した。その場合
には、中間層は電気的に絶縁性である。
に、更にガラスセラミック溶着物と基板との間に中間層を設けることが有利であ
る。そのために、有利にはセンサ素子の感知領域中のガラスセラミック溶着物の
ための出発材料と同様の組成を有するガラスセラミックからなる中間層を使用す
るが、その際、出発材料の成分の表面メタライゼーションを省略した。その場合
には、中間層は電気的に絶縁性である。
【0014】
前記のような中間層の使用は、それによって少なくとも十分にセンサ素子の測
定値の測定値歪曲を感知領域から基板方向への熱流出によって防ぐことができる
。これは、中間層がAl2O3からなる基板に対して実質的により低い熱伝導性
を有することからもたらされる。
定値の測定値歪曲を感知領域から基板方向への熱流出によって防ぐことができる
。これは、中間層がAl2O3からなる基板に対して実質的により低い熱伝導性
を有することからもたらされる。
【0015】
図面
本発明を図面を基にして、かつ以下の記載においてより詳細に説明する。図1
は上面図での温度センサの第1の実施態様を示し、図2は断面における温度セン
サの第2の実施態様を示している。
は上面図での温度センサの第1の実施態様を示し、図2は断面における温度セン
サの第2の実施態様を示している。
【0016】
実施例
まず、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム、二酸化チタン、酸化ナトリウム、酸
化カリウム及び酸化カルシウムを含有する出発粉末から溶融させているガラス粉
末を調製する。詳細には、出発粉末は38質量%〜48質量%のSiO2、15
質量%〜19質量%のAl2O3、4.5質量%〜10質量%のTiO2、0.
1質量%〜1.5質量%のNa2O、0.1質量%〜1.5質量%のK2O及び
23質量%〜30質量%のCaOを含有する。
化カリウム及び酸化カルシウムを含有する出発粉末から溶融させているガラス粉
末を調製する。詳細には、出発粉末は38質量%〜48質量%のSiO2、15
質量%〜19質量%のAl2O3、4.5質量%〜10質量%のTiO2、0.
1質量%〜1.5質量%のNa2O、0.1質量%〜1.5質量%のK2O及び
23質量%〜30質量%のCaOを含有する。
【0017】
有利には出発粉末は45質量%のSiO2、17質量%のAl2O3、9質量
%のTiO2、0.5質量%のNa2O、0.5質量%のK2O及び28質量%
のCaOからなる。
%のTiO2、0.5質量%のNa2O、0.5質量%のK2O及び28質量%
のCaOからなる。
【0018】
出発粉末から自体公知の方法においてまずガラスを溶融させた後に、該ガラス
を1μm〜20μm、特に2μm〜10μmの平均粒度を有するガラス粉末に粉
砕する。解説される実施例においては、平均粒度は5μmである。
を1μm〜20μm、特に2μm〜10μmの平均粒度を有するガラス粉末に粉
砕する。解説される実施例においては、平均粒度は5μmである。
【0019】
以下にこうして製造されたガラス粉末に次いで白金からなる表面メタライゼー
ションを施す。このためにガラス粉末をまずDE19636493C1から公知
の方法において、ガラス粉末粒子の表面に結合している貴金属塩で成核させる。
引き続き、こうして成核されたガラス粉末を白金−金属層によって表面メタライ
ゼーションの形で無電界メタライゼーションによって被覆する。この無電界メタ
ライゼーションは、DE19636493C1号から公知の方法において同様に
、成核されたガラス粉末を白金塩及び還元剤を含有する浴中で無電界でメタライ
ゼーションを実施する。使用されるガラス粉末の表面メタライゼーション実施の
終わりに、従って個々のガラス粉末粒子の表面に少なくとも十分に白金メタライ
ゼーションが施されているガラス粉末が生じる。
ションを施す。このためにガラス粉末をまずDE19636493C1から公知
の方法において、ガラス粉末粒子の表面に結合している貴金属塩で成核させる。
引き続き、こうして成核されたガラス粉末を白金−金属層によって表面メタライ
ゼーションの形で無電界メタライゼーションによって被覆する。この無電界メタ
ライゼーションは、DE19636493C1号から公知の方法において同様に
、成核されたガラス粉末を白金塩及び還元剤を含有する浴中で無電界でメタライ
ゼーションを実施する。使用されるガラス粉末の表面メタライゼーション実施の
終わりに、従って個々のガラス粉末粒子の表面に少なくとも十分に白金メタライ
ゼーションが施されているガラス粉末が生じる。
【0020】
以下で得られるガラスセラミック溶着物の比電気抵抗を実質的に規定する前記
のように適用される表面メタライゼーションの厚さは、平均して0.5nm〜1
0nm、特に1nm〜3nmである。解説された例においては、500Ωの抵抗
の調整のために、約2nmの表面メタライゼーションの平均厚に調整する。
のように適用される表面メタライゼーションの厚さは、平均して0.5nm〜1
0nm、特に1nm〜3nmである。解説された例においては、500Ωの抵抗
の調整のために、約2nmの表面メタライゼーションの平均厚に調整する。
【0021】
このように解説されたように使用されるガラス粉末に白金からなる表面メタラ
イゼーションを施した後に、これらを第1の厚膜ペーストに加工する。このため
に、メタライゼーションされたガラス粉末にバインダー、例えばセルロース及び
、溶剤、例えばテルピネオールを添加する。
イゼーションを施した後に、これらを第1の厚膜ペーストに加工する。このため
に、メタライゼーションされたガラス粉末にバインダー、例えばセルロース及び
、溶剤、例えばテルピネオールを添加する。
【0022】
こうして調製された第1の厚膜ペーストの他に、以下で製造すべきガラスセラ
ミック溶着物の、製造された温度センサの感知領域での電気的接触のための伝導
経路の製造のために第2の厚膜ペーストを製造する。第2の厚膜ペーストは前記
で説明した第1の厚膜ペーストのための出発粉末と金属粉末、特にパラジウム粉
末との混合物を含有する。更に、この第2の厚膜ペーストには、前記のバインダ
ー及び溶剤が添加されている。従って、伝導経路の製造のための第2の厚膜ペー
ストは温度センサの感知領域中のガラスセラミック溶着物の製造のための第1の
厚膜ペーストとは全体で、第2の厚膜ペーストの場合には使用されるガラス粉末
の表面メタライゼーションが省略され、かつその代わりに、第2の厚膜ペースト
には直接パラジウム粉末が添加されることだけが異なる。
ミック溶着物の、製造された温度センサの感知領域での電気的接触のための伝導
経路の製造のために第2の厚膜ペーストを製造する。第2の厚膜ペーストは前記
で説明した第1の厚膜ペーストのための出発粉末と金属粉末、特にパラジウム粉
末との混合物を含有する。更に、この第2の厚膜ペーストには、前記のバインダ
ー及び溶剤が添加されている。従って、伝導経路の製造のための第2の厚膜ペー
ストは温度センサの感知領域中のガラスセラミック溶着物の製造のための第1の
厚膜ペーストとは全体で、第2の厚膜ペーストの場合には使用されるガラス粉末
の表面メタライゼーションが省略され、かつその代わりに、第2の厚膜ペースト
には直接パラジウム粉末が添加されることだけが異なる。
【0023】
図1は切片の形のAl2O3からなる公知の既製基板を示しており、その表面
上には少なくとも片面に公知のように伝導経路12及び接続接触面13を印刷し
た。そこには、前記の第2の厚膜ペーストを使用した。伝導経路12の幅は、典
型的には10μm〜100μmであり、その厚さは1μm〜10μmである。引
き続き、基板10上の感知領域11に、表面メタライゼーションを施したガラス
粉末を有する第1の厚膜ペーストを印刷した。解説される実施例で温度センサ5
として構成されたセンサ素子の感知領域11は、この場合、電気抵抗が測定され
るべき外部の温度の影響下に変化するような領域である。特に、感知領域11は
触媒の監視又はエンジン制御での解説された温度センサ5の使用の際に、高温の
排気ガスに曝される。感知領域11のサイズは、解説される実施例においては、
約5mmであり、幅は約0.1mmであり、高さは約30μmである。感知領域
11の膨張は従って第1の厚膜ペーストで印刷された基板10上の領域によって
定義される。
上には少なくとも片面に公知のように伝導経路12及び接続接触面13を印刷し
た。そこには、前記の第2の厚膜ペーストを使用した。伝導経路12の幅は、典
型的には10μm〜100μmであり、その厚さは1μm〜10μmである。引
き続き、基板10上の感知領域11に、表面メタライゼーションを施したガラス
粉末を有する第1の厚膜ペーストを印刷した。解説される実施例で温度センサ5
として構成されたセンサ素子の感知領域11は、この場合、電気抵抗が測定され
るべき外部の温度の影響下に変化するような領域である。特に、感知領域11は
触媒の監視又はエンジン制御での解説された温度センサ5の使用の際に、高温の
排気ガスに曝される。感知領域11のサイズは、解説される実施例においては、
約5mmであり、幅は約0.1mmであり、高さは約30μmである。感知領域
11の膨張は従って第1の厚膜ペーストで印刷された基板10上の領域によって
定義される。
【0024】
一方で導線12及び導線12を横断する感知領域11中に、以下でガラスセラ
ミック溶着物15を形成すべき第1の厚膜ペーストを印刷した後で、そのように
印刷された基板10に850℃〜950℃の温度で熱処理を行う。この場合に、
印刷された厚膜ペーストからガラスセラミック溶着物が形成する、すなわち出発
材料中のガラス粉末が溶着し、その際に、同時に1000℃を越えて温度安定性
であり、その熱膨張率がAl2O3からなる基板10に適合されている耐火性相
が晶出する。
ミック溶着物15を形成すべき第1の厚膜ペーストを印刷した後で、そのように
印刷された基板10に850℃〜950℃の温度で熱処理を行う。この場合に、
印刷された厚膜ペーストからガラスセラミック溶着物が形成する、すなわち出発
材料中のガラス粉末が溶着し、その際に、同時に1000℃を越えて温度安定性
であり、その熱膨張率がAl2O3からなる基板10に適合されている耐火性相
が晶出する。
【0025】
この熱処理において、従って一方で感知領域11に、ガラスセラミック基材中
に埋め込まれた、特に網状構造に形成された白金からなる金属相を有するガラス
セラミック溶着物15が形成する。更に熱処理において導線12の領域に同時に
、そこに印刷された第2の厚膜ペーストから同様にガラスセラミック基材中に埋
め込まれたパラジウムからなる金属相を有するガラスセラミック溶着物を形成す
る。従って、全体的に、慣用の白金抵抗(Pt100素子又はPt200素子)
のような比電気抵抗の特性を少なくとも十分に有する温度センサ5の形のセンサ
素子が生じる。
に埋め込まれた、特に網状構造に形成された白金からなる金属相を有するガラス
セラミック溶着物15が形成する。更に熱処理において導線12の領域に同時に
、そこに印刷された第2の厚膜ペーストから同様にガラスセラミック基材中に埋
め込まれたパラジウムからなる金属相を有するガラスセラミック溶着物を形成す
る。従って、全体的に、慣用の白金抵抗(Pt100素子又はPt200素子)
のような比電気抵抗の特性を少なくとも十分に有する温度センサ5の形のセンサ
素子が生じる。
【0026】
その関連においては、本願で解説される実施形の他の導線12をガラスセラミ
ック溶着物の位置に慣用の低抵抗電極ペーストの印刷によって製造できることを
強調する。その点では、解説される実施例に関してはガラスセラミック溶着物1
5を感知領域11に十分に説明したように施すことが重要である。しかしながら
導線12もしくは接続接触表面13の具体的な実現に関しては、従来の技術から
既に公知の方法を使用してよく、これらの方法は前記に説明したようなガラスセ
ラミック−金属−混合構造の製造を無理には必要としない。
ック溶着物の位置に慣用の低抵抗電極ペーストの印刷によって製造できることを
強調する。その点では、解説される実施例に関してはガラスセラミック溶着物1
5を感知領域11に十分に説明したように施すことが重要である。しかしながら
導線12もしくは接続接触表面13の具体的な実現に関しては、従来の技術から
既に公知の方法を使用してよく、これらの方法は前記に説明したようなガラスセ
ラミック−金属−混合構造の製造を無理には必要としない。
【0027】
図2は、温度センサ5の形のセンサ素子の他の実施例を示しており、該センサ
は図1による実施例とは、少なくとも製造されたガラスセラミック溶着物15と
基板10との間の感知領域11中に付加的な中間層14が設けられていることだ
けが異なる。この中間層14は、例えば20μm〜100μmの厚さを有し、か
つ基板10からのガラスセラミック溶着物15の熱的な減結合に役立つ。その点
では、中間層14は基板10、説明した例においてはAl2O3に対して実質的
に低い熱伝導性を有することが必要である。
は図1による実施例とは、少なくとも製造されたガラスセラミック溶着物15と
基板10との間の感知領域11中に付加的な中間層14が設けられていることだ
けが異なる。この中間層14は、例えば20μm〜100μmの厚さを有し、か
つ基板10からのガラスセラミック溶着物15の熱的な減結合に役立つ。その点
では、中間層14は基板10、説明した例においてはAl2O3に対して実質的
に低い熱伝導性を有することが必要である。
【0028】
中間層14の製造のために、再びガラスセラミック溶着物15の製造のために
既に使用された、そこで説明されるガラス粉末を含有する出発材料を使用する。
しかしながら、この場合には、ガラス粉末の表面メタライゼーションが省略され
る、すなわちガラス粉末をバインダー及び溶剤によって、表面メタライゼーショ
ンを備えている成分を含有せず、金属粉末の添加も有さない第3の厚膜ペースト
に加工される。
既に使用された、そこで説明されるガラス粉末を含有する出発材料を使用する。
しかしながら、この場合には、ガラス粉末の表面メタライゼーションが省略され
る、すなわちガラス粉末をバインダー及び溶剤によって、表面メタライゼーショ
ンを備えている成分を含有せず、金属粉末の添加も有さない第3の厚膜ペースト
に加工される。
【0029】
図2による実施例においては、従ってまず基板10上に感知領域11で中間層
14を印刷する。次いで図1による実施例と全く同様に基板10上に伝導経路1
2を印刷するか、もしくは接続接触表面13を作成する。この伝導経路12の印
刷は、この場合、これらが感知領域11にまで達し、従って部分的に中間層14
上にも印刷されるように実施する。引き続き導線12を横断する感知領域11中
に第1の厚膜ペーストを第1の実施例と同様に印刷する。最終的に、こうして製
造された基板10に再び850℃〜950℃の熱処理を実施し、その際、感知領
域11において一方ではガラスセラミック溶着物15が形成し、これは白金−抵
抗素子のような比電気抵抗の特性を有する。同時に導線12がパラジウム相を有
するガラスセラミック溶着物からなるガラスセラミック−金属−混合構造の形で
形成する。最後に、その熱処理において第3の厚膜ペーストから電気的に絶縁性
のガラスセラミック溶着物が中間層14として形成する。
14を印刷する。次いで図1による実施例と全く同様に基板10上に伝導経路1
2を印刷するか、もしくは接続接触表面13を作成する。この伝導経路12の印
刷は、この場合、これらが感知領域11にまで達し、従って部分的に中間層14
上にも印刷されるように実施する。引き続き導線12を横断する感知領域11中
に第1の厚膜ペーストを第1の実施例と同様に印刷する。最終的に、こうして製
造された基板10に再び850℃〜950℃の熱処理を実施し、その際、感知領
域11において一方ではガラスセラミック溶着物15が形成し、これは白金−抵
抗素子のような比電気抵抗の特性を有する。同時に導線12がパラジウム相を有
するガラスセラミック溶着物からなるガラスセラミック−金属−混合構造の形で
形成する。最後に、その熱処理において第3の厚膜ペーストから電気的に絶縁性
のガラスセラミック溶着物が中間層14として形成する。
【図1】
図1はAl2O3からなる公知の既製基板を示している。
【図2】
図2は、温度センサ5の形のセンサ素子の他の実施例を示している。
5 温度センサ、 10 基板、 11 感知領域、 12 伝導経路、 1
3 接続接触表面、 14 中間層、 15 ガラスセラミック溶着物、
3 接続接触表面、 14 中間層、 15 ガラスセラミック溶着物、
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 フリーデリケ リントナー
ドイツ連邦共和国 ゲールリンゲン イン
メルマンシュトラーセ 24
(72)発明者 トーマス ブリンツ
ドイツ連邦共和国 ビッシンゲン ウンタ
ー デア テック フォルデレ シュトラ
ーセ 113
(72)発明者 ウルリヒ アイゼレ
ドイツ連邦共和国 シユツツトガルト ベ
ックラーシュトラーセ 6ベー
Fターム(参考) 4G062 AA08 AA09 BB01 DA05 DB04
DC01 DD01 DE01 DF01 EA01
EB02 EB03 EC02 EC03 ED01
EE04 EF01 EG01 FA01 FB03
FC01 FD01 FE01 FF01 FG01
FH01 FJ01 FK01 FL01 GA01
GA10 GB01 GC01 GD01 GE01
HH01 HH03 HH05 HH07 HH09
HH11 HH13 HH15 HH17 HH20
JJ01 JJ03 JJ05 JJ07 JJ10
KK01 KK03 KK05 KK07 KK10
MM07 MM31 NN32 QQ20
Claims (16)
- 【請求項1】 センサ素子、特に温度センサ(5)であって、これは感知領
域(11)を有し、該領域の電気抵抗が、感知領域(11)が曝されている温度
の影響下に変化するセンサ素子において、該感知領域(11)が、少なくとも十
分に表面メタライゼーションを備えている少なくとも1つの成分を含有する出発
材料のガラスセラミック溶着物(15)を有することを特徴とするセンサ素子。 - 【請求項2】 表面メタライゼーションが白金メタライゼーションである、
請求項1記載のセンサ素子。 - 【請求項3】 表面メタライゼーションが0.5nm〜10nm、特に1n
m〜3nmの平均厚を有する、請求項1又は2記載のセンサ素子。 - 【請求項4】 表面メタライゼーションを備えた出発材料の成分がガラス粉
末であり、これは、SiO2、Al2O3、TiO2、Na2O、K2O及びC
aOを含有する出発粉末から溶融されている、請求項1記載のセンサ素子。 - 【請求項5】 出発粉末が38質量%〜48質量%のSiO2、15質量%
〜19質量%のAl2O3、4.5質量%〜10質量%のTiO2、0.1質量
%〜1.5質量%のNa2O、0.1質量%〜1.5質量%のK2O及び23質
量%〜30質量%のCaOを含有する、請求項4記載のセンサ素子。 - 【請求項6】 ガラス粉末が1μm〜20μm、特に2μm〜10μmの平
均粒度を有する、請求項4記載のセンサ素子。 - 【請求項7】 ガラスセラミック溶着物(15)が、特に網状構造に構成さ
れた、ガラスセラミック基材中に埋め込まれた金属相を有する、請求項1から6
までのいずれか1項記載のセンサ素子。 - 【請求項8】 出発材料が第1の厚膜ペーストである、請求項1から7まで
のいずれか1項記載のセンサ素子。 - 【請求項9】 ガラスセラミック溶着物(15)が結晶質の、特に耐火性の
相を有し、かつ1000℃より高い温度まで温度安定性である、請求項1から8
までのいずれか1項記載のセンサ素子。 - 【請求項10】 ガラスセラミック溶着物(15)が基板(10)上に配置
され、特に基板(10)上に存在する伝導経路(12)と接触面(13)を介し
て電気的に接触可能である、請求項1から9までのいずれか1項記載のセンサ素
子。 - 【請求項11】 センサ素子が温度センサ(5)であり、該センサは少なく
とも十分に、白金−抵抗素子のような比電気抵抗の特性を示す、請求項1から1
0までのいずれか1項記載のセンサ素子。 - 【請求項12】 出発材料が基板(10)上に適用、特に印刷され、次いで
850℃〜950℃で溶着されている、請求項1から11までのいずれか1項記
載のセンサ素子。 - 【請求項13】 ガラスセラミック−金属−複合構造の伝導経路(12)が
、金属粉末、特にパラジウム粉末との出発粉末の混合物を有する第2の厚膜ペー
ストの溶着物から構成されている、請求項1から12までのいずれか1項記載の
センサ素子。 - 【請求項14】 伝導経路(12)及び/又はガラスセラミック溶着物(1
5)の熱膨張率が基板(10)、特にAl2O3の熱膨張率に適合されている、
請求項1から13までのいずれか1項記載のセンサ素子。 - 【請求項15】 感知領域(11)中のガラスセラミック溶着物(15)が
少なくとも部分的に基板(10)の少なくとも1つの中間層(14)を介して減
結合されている、請求項1から14までのいずれか1項記載のセンサ素子。 - 【請求項16】 中間層(14)が出発材料を有する第3の厚膜ペーストの
ガラスセラミック溶着物であり、その際、ガラス粉末の表面メタライゼーション
が行われていない、請求項15記載のセンサ素子。
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---|---|
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US4332081A (en) * | 1978-06-22 | 1982-06-01 | North American Philips Corporation | Temperature sensor |
US4400684A (en) * | 1981-08-31 | 1983-08-23 | Ford Motor Company | Fast response temperature sensor |
US4517545A (en) * | 1982-01-22 | 1985-05-14 | Trw Inc. | Thick film temperature sensitive device and method and material for making the same |
DE3924518A1 (de) * | 1989-07-25 | 1991-01-31 | Haefele Umweltverfahrenstechik | Temperatursensor und verfahren zu seiner herstellung |
JP3175890B2 (ja) * | 1993-12-27 | 2001-06-11 | 日本碍子株式会社 | 温度センサ |
DE19540194C1 (de) * | 1995-10-30 | 1997-02-20 | Heraeus Sensor Gmbh | Widerstandsthermometer aus einem Metall der Platingruppe |
DE19636493C1 (de) * | 1996-09-09 | 1998-03-26 | Bosch Gmbh Robert | Mit Edelmetallsalzen bekeimte Substrate oder Pulver und Verfahren zu ihrer Herstellung |
DE19651454C2 (de) * | 1996-12-11 | 2002-04-11 | Bosch Gmbh Robert | Zündkerze |
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- 2001-02-24 US US09/980,472 patent/US6636142B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-02-24 WO PCT/DE2001/000721 patent/WO2001075408A1/de active Application Filing
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