JP2003529425A - マトリックス・アドレス式イメージング・パネル内の局所容量性結合を使用した自動照射制御のための方法及び装置 - Google Patents

マトリックス・アドレス式イメージング・パネル内の局所容量性結合を使用した自動照射制御のための方法及び装置

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JP2003529425A JP2001573774A JP2001573774A JP2003529425A JP 2003529425 A JP2003529425 A JP 2003529425A JP 2001573774 A JP2001573774 A JP 2001573774A JP 2001573774 A JP2001573774 A JP 2001573774A JP 2003529425 A JP2003529425 A JP 2003529425A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 撮影用放射線に対するパネルの照射の瞬間値に対する限局性の読み取り値を表す値を、累積したイメージング・エネルギー線量の算出に対する入力として用い、全体の撮影放射線量を制御する。 【解決手段】 容量性結合を示すイメージング・パネルの限局性区域を含むセンサ(40)からなるアレイを有するマトリックス・アドレス式イメージング・パネル(318)は、それぞれの区域に固有の照射を表す信号を提供する1以上のAEC電極受信域区域(750)を有している。別の実施形態では、イメージング・アレイは、放射線センサ内の電極とデータ線の間の容量性結合を読み取りかつ処理してAEC信号を提供するデータ線信号監視区域(770)を含んでいる。別の実施形態では、イメージング・アレイはAEC電極域受信区域(750)とデータ線信号監視区域(770)の両者を含み、これらがイメージング・アレイに対する放射線源(312)の制御用のAEC制御装置に結合する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マトリックス・アドレス式イメージング・パネルのための照射制御
の仕組みに関し、より具体的には、撮影対象が吸収したX線量を推定して自動照
射制御(AEC)を得るために容量性結合の限局性区域をコントロールとして使
用するマトリックス・アドレス式イメージング・パネルに関する。
【0002】
【発明の背景】
半導体薄膜トランジスタ(TFT)及び放射線センサにより構成されるマトリ
ックス・アドレス式X線イメージング・パネルは、医用分野や工業検査分野にお
いて多くの有用な用途がある。典型的には、こうした半導体イメージング・シス
テムでは、放射線センサと読み出しデバイスからなる2次元マトリックスを使用
して放射線を入射放射エネルギーに対応するディジタル信号に変換している。医
学的応用で使用される放射線イメージング・システムでは、患者の身体を通過す
る、あるいは患者の身体から放出される、放射線エネルギーを検出して画像化す
る。
【0003】 ヒトや動く患者、あるいは動きのない部分とすることがある撮影対象にイメー
ジング・エネルギー源からのイメージング・エネルギーを印加すると、そのイメ
ージング・エネルギーの一部分はこの対象により阻止され、また残りの部分は対
象を通過してイメージング・デバイスに当たる。典型的には、このエネルギーは
電荷または電圧に変換される。この変換は、直接型放射線センサのアレイにより
直接的に行われるか、またはフォトダイオードなどのフォトセンサ・アレイによ
り電荷または電圧に変換される光にそのエネルギーを変換しているシンチレータ
を使用して間接的に行われるかのいずれかである。この電荷量は、検出器上に入
射する吸収放射線エネルギーの量と比例させると有利である。各センサは対応す
る制御スイッチ(例えば、TFT)を介して対応するデータ線に接続させる。各
制御スイッチは、スキャン線制御装置により制御を受けるスキャン線により、対
応するセンサからの出力信号をその関連するデータ線に選択的に送るように動作
可能である。制御スイッチは、一度に1つのスイッチの割合で選択的に閉じられ
、出力信号をデータ線に送っている。各データ線はそれぞれの読み出し増幅器に
より読み取られ積算される。この別々に積算したセンサ値は、表示デバイス上に
表示させる際に対象の画像描出を形成するように処理かつ組み立てられる。
【0004】 撮影対象(患者であるヒトなど)に対する照射中にX線量を検知するセンサか
らなるパネル内に累積したX線量または信号はリアルタイムで読み出しできるこ
とが望ましい。累積線量に対するこうした計測を用いて所望の照射レベルに到達
した時点を判定し、これによりX線管を遮断することができる。所望の照射は、
イメージング・システムの特性(例えば、飽和の回避が必要)や撮影対象の特性
(例えば、患者の場合では、最良の医療実践の下での適当な線量)などの要因、
あるいはこれら両者の要因により決まってくる。累積したX線量計測値に基づい
てX線管を遮断する方法は、典型的には、自動照射制御(Automatic
Exposure Control:AEC)と呼ばれる。
【0005】 イメージング・システムの一タイプでは、そのAECは、検出器やフィルム・
カセッテの下側(例えば、イメージング・パネルの外部)に位置させた1つまた
は複数の専用放射線センサを含んでいる。センサの有効ボリューム内で吸収され
たX線が生成させる信号を用いて、撮影対象やイメージング・デバイスが吸収し
た線量を推定する。この方法は、システムのコストや複雑性が上昇すること(専
用の照射制御コンポーネントの場合)、放射線センサが発生させる信号と検出器
や撮影対象内での吸収線量とを相関させるようにシステムを較正することがこと
が困難であること(イメージング・パネルやフィルムと分離した照射制御センサ
の場合)などの多くの欠点をもっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
イメージャ・パネルの飽和を検知するための強固で有力なシステムがあること
が望ましく、またさらに、こうしたシステムがイメージング・パネルの複雑性、
コスト、あるいは動作特性に悪影響を与えないことが望ましい。こうしたシステ
ムはさらに、容易に較正できることが望ましい。
【0007】 撮影用放射線に対するパネルの照射の瞬間値に対する限局性の読み取り値を表
す値を、累積したイメージング・エネルギー線量の算出に対する入力として用い
、これにより全体の撮影放射線量の制御のための基準を提供できるとさらに有利
である。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の実施の一形態では、イメージング・システムは、その各々がそれぞれ
1つの放射線センサを備えている複数のピクセルを有するマトリックス・アドレ
ス式イメージング・パネルを含んでいる。各ピクセルはさらに、画像情報を読み
取るためにピクセル放射線センサをイメージング・パネル内のそれぞれのデータ
線に選択的に結合させるように配置している少なくとも1つのそれぞれのピクセ
ル読み出しスイッチを備えている。少なくとも1つのデータ線照射信号は、イメ
ージング・パネル内の少なくとも1つの照射監視データ線に由来しており、照射
制御装置と結合している。この動作モード中では、本システムは、照射監視デー
タ線と容量性結合した少なくとも1つの放射線センサから容量性結合したデータ
線照射信号を検知するように構成されている。このデータ線照射信号は、照射制
御装置により処理され、照射監視データ線のそれぞれのピクセル読み出しスイッ
チが電気的に開放状態にある照射制御期間中に検知された入射放射線に対応する
パネル照射信号が提供される。
【0009】 本発明の実施の一形態では、その各々のピクセル放射線センサがそれぞれ1つ
のピクセル読み出しスイッチを介してそれぞれ1つのデータ線に接続されている
複数の放射線センサ・ピクセルを有するマトリックス・アドレス式イメージング
・パネルを備えるイメージング・システムを動作させる方法は、ピクセル読み出
しスイッチを開放にした状態で少なくとも1つの放射線センサから少なくとも1
つのデータ線上に出現する照射信号を検知するステップと、データ線上のピクセ
ル読み出しスイッチが非導通状態にある期間中に発生したデータ線照射信号に基
づいてパネル照射信号を発生させるステップと、を含んでいる。この照射信号は
、フォトダイオードのデータ線への容量性結合を介してデータ線上に出現し、典
型的にはイメージング・エネルギー源のための制御入力として使用されるリアル
タイム・パネル照射信号を発生させるように構成した照射制御装置により検知さ
れる。
【0010】 本発明の別の実施形態では、マトリックス・アドレス式イメージング・パネル
用の照射制御機構のための方法及びシステムは、AEC電極と垂直方向で隣接し
て配置されたピクセル・ダイオード電極により規定されるそれぞれのAEC受信
域区域を提供するためにイメージング・パネルのそれぞれの限局性区域に配置さ
れた少なくとも1つの自動照射制御(AEC)信号線を備えている。このAEC
線は一方、外部の増幅器に結合させて、パネル照射制御で使用するための限局性
照射信号を発生させている。
【0011】 本発明のさらに別の実施形態では、イメージャはデータ線照射信号のための結
合と、上述したような少なくとも1つのAEC電極との両者を備えている。
【0012】 本発明に関する上記の特徴並びにその他の特徴は、幾つかの図において同じ記
号が同じ部品を表している添付の図面と一緒に以下の詳細な説明を検討すること
によって、さらに容易に理解できよう。
【0013】
【発明の実施の形態】
本発明による放射線イメージャ110は、放射線エネルギー113により撮影
対象114が照射されるように配置した放射線イメージング・エネルギー源11
2を備える。対象114を通過する放射線エネルギー113は、イメージング・
パネル118、読み出し回路120、イメージャ処理装置115及び照射制御装
置125を備えている放射線検出器200内で検知される。照射制御装置125
及びイメージャ制御装置115は、エネルギー源112の状態を制御している線
源制御装置126と結合されており、さらにまた画像処理装置180はイメージ
ャ110が作成した画像データを表示するためにディスプレイ122に結合され
ている。
【0014】 イメージング・パネル118は典型的には、その各々がそれぞれ1つの放射線
センサを備えているピクセルからなるマトリックス・アドレス式アレイ(さらに
詳細には以下で説明する)を備えている。「マトリックス・アドレス式(mat
rix−addressed)」とは、ピクセルからなる横列と縦列であって、
それぞれのデータ線に対する放射線センサの電気的結合を制御することによりピ
クセルからのデータを選択的に読み出すことができるように、それぞれ1つのデ
ータ線とそれぞれ1つの制御線(ディジタル・イメージャ技術分野では「スキャ
ン」線と呼ばれることが多い)とに各々結合されているようなピクセルの横列と
縦列を意味している。各ピクセルはさらに、イメージング・パネル内で、ピクセ
ル放射線センサをそれぞれのデータ線に選択的に結合させるように配置した少な
くとも1つのそれぞれのピクセル読み出しスイッチを備えている。動作時には、
本イメージャは照射サイクルの間で、入射放射線フラックスに対応する電荷を収
集していながらピクセルがそれぞれのデータ線から切断されている期間である収
集期間と、パネルに結合した読み出し用電子回路がデータを収集できるようにピ
クセル放射線センサをデータ線と電気的に接続させる期間である読み出し期間と
、を提供するように制御を受ける。
【0015】 照射制御装置125は、イメージャ110の動作時に線源制御装置126(す
なわち、放射線113による対象114の照射)を制御するように構成されてい
る(以下で詳細に説明する)。本明細書で使用する場合、「ように適応され(a
dapted to)」、「構成された(configured)」や同様の表
現は、1つまたは複数の入力信号に対応して出力(例えば、制御信号)を発生さ
せるようにプログラムされた計算装置や制御装置(プログラム可能な計算デバイ
スや特定用途向けの集積回路など)を意味している。「照射制御」とは、本明細
書で使用する場合、イメージャ・パネル118の少なくとも一部分上に入射する
放射線113の照射(すなわち、線量)の監視であって、特に、イメージャ・パ
ネル118のピクセル放射線センサがデータ線に直接接続されていない(すなわ
ち、それぞれのピクセル読み出しスイッチを介して接続されない)期間であるイ
メージング読み出しサイクルの収集期間中における監視を意味している。本発明
の実施形態では、収集期間中の照射の検知はイメージャ・パネル内の既存の放射
線センサ及びマトリックス式アドレス線(例えば、データ線)により実行させて
おり、照射制御監視のために専用とした別の放射線センサを必要としない。
【0016】 こうした収集期間中に照射を検知することは、幾つかの理由から望ましい。例
えば、医学的検討によりX線に対する過剰な被曝を回避するように照射を追跡し
ながらヒトや動きのある対象を撮影する場合では、撮影対象114の放射線被曝
が1つの要因となる。さらに、その照射が大量過ぎて、飽和状態となる放射線セ
ンサが多くなり過ぎパネル118が所望の情報を提供できない場合では、画質が
劣化することがある。さらに、適正な撮影には、照射の追跡を使用して十分な放
射線エネルギーが確実に印加できるようにするための有用な画像情報を生成でき
るだけの少なくとも最小レベルの照射が必要である。
【0017】 別法として、放射線センサは、エネルギー源112からの放射線を直接電荷に
変換することができる半導体の肉厚層を備えることがある。こうしたデバイスは
、いわゆる直接型半導体X線センサである。本明細書で使用する場合、「放射線
センサ」や同様の表現は、撮影のために使用する入射放射線を検出して対応する
電気信号に変換するための手段について最も広い意味合いで示すために使用して
いる。限定ではなく一例として、フォトセンサ・アレイを使用した仕組みについ
て本明細書に記載している。
【0018】 イメージング・パネル118は典型的には、そのイメージング・パネル118
内で半導体放射線センサのアレイと光学的に結合しているシンチレータ116を
さらに備えている。こうした仕組みでは、その放射線センサは典型的には、フォ
トダイオードなどのフォトセンサを備えている。動作時には、入射放射線(例え
ば、X線)はシンチレータ層(例えば、ヨウ化セシウムなどを含む)内で大部分
が吸収され、これにより光子が発生し、次いでこれらの光子はフォトセンサ・ア
レイにより検出される。本発明の照射制御様式はさらに、直接型変換デバイス(
すなわち、入射放射線(例えば、X線)をシンチレータを使用せずに直接電荷に
変換するデバイス)を備える検出器などの放射線イメージング・パネルに関する
別の実施形態と共に使用することもできる。
【0019】 イメージング・システム110に関する本発明の実施の一形態を図2に示す。
限定的ではなく例示的には、放射線エネルギー源112はX線管を備えており、
イメージング・パネル118はフォトセンサ・アレイ135に結合させたシンチ
レータ116(図2では図示せず)を備えている。
【0020】 パネル118内のフォトセンサ・アレイ135は、半導体素子(代表的なフォ
トダイオード130や関連する読み出しスイッチ132など)からなる複数の横
列と縦列を備えている。図示を容易にするためこれら半導体素子のうちの一部に
のみ名称を付けてある。フォトダイオード130は、薄膜電界効果トランジスタ
(「FET」)132などのピクセル読み出しスイッチにより、図2で垂直方向
に延びるように表している対応するデータ線134に選択的に接続されており、
これによりパネル118のアレイ内の縦列が規定されている。別法として、ダイ
オードは、FETのピクセル切換え機能を提供するような配置で使用することが
できる。図2では、アレイのうちの数個の縦列と数個の横列のみを表しているが
、実際のイメージング・パネル118内には極めて多数の縦列と横列が使用され
ていることを理解されたい。
【0021】 本発明の実施の一形態を図示するために、所与のフォトダイオード130をそ
の対応するデータ線134に容量性結合させている寄生フリンジ性容量(par
asitic fringing capacitance)136、並びに所
与のフォトダイオード130を隣接するデータ線140(すなわち、このデータ
線は隣接する縦列のフォトダイオードに対応する)と容量性結合させている同様
のフリンジ性容量138を図2に示している。本明細書で使用する場合、「フリ
ンジ性容量」、「寄生容量」や同様の表現は、データ線やダイオード電極など、
アレイ設計上は互いに電気的に絶縁されているアレイ内の構成要素の間の容量性
結合を意味している。本発明では、通常では望ましくないフリンジ性容量を照射
制御システム向けの信号源として使用し、これによりイメージング・システムの
コスト及び複雑性を軽減させている。
【0022】 スイッチ132の各横列は、スイッチ制御回路144に応答する1本の対応す
るスキャン線、または制御線142(典型的にはスキャン線を意味し、図2では
水平方向に延びるように示す)を有しており、これにより画像読み出しサイクル
内において所与の横列のすべてのスイッチ(それぞれの制御線142に対応する
)を同時に閉じて当該横列に沿った放射線センサ130のそれぞれのデータ線1
34を介した読み出しを可能にしている。
【0023】 データ線134は、パネルからの電気信号を収集し、これらの信号を制御装置
115及び画像処理装置180に分配している読み出し回路120と結合させて
いる。読み出し回路120はデータ線と結合させた複数の積算増幅器146を備
えており、典型的配置では、図2に示すように、それぞれの増幅器146を各デ
ータ線に結合させている。各増幅器146にはそれぞれ1つのリセット回路16
2を結合させており、これにより画像または照射信号読み出しのための電荷積算
の前に増幅器を周知の状態にリセットさせることが可能となる。各増幅器146
はさらに、それぞれ1つのサンプルアンドホールド回路164と結合させ、これ
に結合させたそれぞれの増幅器146が受け取った全電荷(電荷増幅器から出る
電圧に対応する)を計測させている。S/H回路164が発生させた信号は、そ
れぞれのアナログ対ディジタル変換器166に結合させ、続いてディジタル・マ
ルチプレクサ168に結合させて、制御装置115及びディスプレイ180にさ
らに分配している。
【0024】 照射制御装置125はイメージャ・パネル118内の少なくとも1つのデータ
線と結合させた少なくとも1つの増幅器146から照射信号を受け取るように適
応されているが、典型的には、複数のデータ線を使用して照射を監視しており、
さらに最も一般的には、イメージャ・パネル118内のすべてのデータ線を使用
している(照射制御のために監視を受ける具体的な線は、例えばディジタル・マ
ルチプレクサ168に加える制御信号により選択することができる)。制御装置
125は、イメージャ・パネル118から受け取った少なくとも1つの照射信号
に対応させてパネル照射信号を発生させるように構成する。このパネル照射信号
を使用してさらに、エネルギー源112による撮影対象114に対する曝射を終
了させるように線源制御装置126と結合させる制御信号を(選択した照射レベ
ルが満たされた時点で)発生させている。
【0025】 通常は、イメージャ・パネル118内の各データ線は、読み出し回路120を
介して照射制御装置125と結合させる。別の実施形態では、パネル内のデータ
線の総数未満のデータ線からなる選択したグループ(例えば、図2のデータ線1
34、140、141などのグループ)を照射制御装置125と結合させ、これ
らのデータ線からの信号を使用してパネル照射信号を発生させている。照射制御
装置125に結合させるデータ線の選択は、ディジタル・マルチプレクサ168
により選択的に達成することができる。したがって、例えば、撮影対象に応じて
、イメージャ110のオペレータ(また別法としては、制御装置115内のプロ
グラム)により、パネル118上の照射関心対象エリアの適当なモデルを選択す
ることができる。照射関心対象エリアとは、撮影対象114の特質からして、照
射読み出しサイクル中に計測した照射により、撮影対象に対する適当な曝射時間
の決定に使用できる良好なサンプルを提供できるようなエリアのことをいう(こ
れについては、以下でさらに詳細に検討する)。
【0026】 通常の画像読み取りサイクルにおいて、単一のスキャン線の場合では、それぞ
れの電荷増幅器146はある周知の状態になるようにリセットさせる。図2の例
示的回路では、リセットの一部として、スイッチ162をある時間閉じること、
並びに続いてスイッチ162を開放することが含まれる。画像作成のための信号
読み出しは、画像制御装置115及びスイッチ制御回路144を介して所与のス
キャン線(例えば、スキャン線142)上のそれぞれのピクセル読み出しスイッ
チ(例えば、スイッチ132)をオンにする(すなわち、そのFETを導通状態
にする)ことにより開始される。この状態により照射期間中にセンサ130上に
累積した電荷が、それぞれのデータ線(例えば、線134)と結合されたそれぞ
れの電荷増幅器146に転送される。次いで、スキャン線は(スイッチ制御回路
144からの信号により)オフ状態になるように制御されて、増幅器146が受
け取った電荷はS/H回路164に転送され、そしてさらにA/D回路166に
転送され、最終的にはマルチプレクサ168に転送される。単一線の場合で1回
の読み出し機能を完了させるのにかかる典型的な時間は、約30マイクロ秒〜約
100マイクロ秒の範囲である。
【0027】 自動照射動作モードでは、すべてのスキャン線はオフ状態になるように制御さ
れ、どのセンサも全くそれぞれのデータ線に直接結合されないようにする。次い
で、エネルギー源112をオン状態にする。このモードの場合、電荷増幅器14
6をある周知の状態にリセットさせた状態で、各データ線と容量性結合させた電
荷を当該データ線と結合させたそれぞれの増幅器146に連続して転送している
。最終のリセット(例えば、あるサイクルの開始)以降に増幅器が受け取った電
荷は、照射または画像制御装置により決定されるある所望の時点でサンプルアン
ドホールド(S/H)回路164及びA/D回路166により取り込まれる。こ
の読み取り動作は複数回反復させることができる。ディジタル・マルチプレクサ
168が受け取ったそれぞれのデータ線からのこれらの信号は照射制御装置12
5と結合させる。増幅器は、典型的には、エネルギー源112からの各放射線照
射を監視する間に複数回のリセットを受ける。照射1回あたり1回のリセット・
サイクルとすることもできるが、典型的には、データ線上に誘導される電荷レベ
ルは増幅器の最大信号容量を超えることになる。増幅器がリセットを受けるたび
ごとに、リセット前の最終の読み取り値を画像制御装置内に格納し後続の読み取
り値と合算する。この信号の合算は、データ線上で検出される累積した容量性結
合電荷を表すように作成され、この合算信号により監視しているデータ線に対す
る累積線量が表され、またこれを用いて対象114への放射線照射を所与の累積
線量において終了させるための制御信号を発生させている。各X線照射は、典型
的には、約0.1秒〜10秒の範囲にある。
【0028】 限定ではなく一例として、イメージャ110はヒトの腹部を撮影するために使
用することができる。そのデータ線が撮影しているヒトの長軸と概ね平行になる
ようにイメージャを整列されている場合、イメージャ・パネル118内でパネル
の中央領域にあるピクセルは身体の肉厚の部位の下に位置することになる。この
状況では、腹部の中央領域での1ピクセルあたりのX線信号は、全信号を当該デ
ータ線に装着したピクセル数で除した値に比例し、またX線照射の大きさは以下
に概略を示すようにして計算することができる。
【0029】 別の例では、イメージャ110はマンモグラフィに利用することができる。こ
の仕組みでは、その照射関心領域は乳房の大部分を描出している画像の中央領域
にある。乳房は一定の厚さまで圧迫されるため、イメージャに対するX線照射は
乳房のほとんどの部分の下で同じとなる。データ線からの信号の空間的変動によ
り、乳房の形状を推定することができる。この形状情報を用いることにより、各
データ線ごとに、乳房組織に覆われたピクセルの比率を推定することができる。
詳細には、胸壁の近傍では、ピクセルの大部分またはすべてが覆われている。C
C方向撮影(すなわち、上面像)では、典型的には、パネル内のピクセルの約7
5%が組織の下になり、一方側面撮影では、典型的には、臨床症例の大部分(約
75%)において、そのピクセルのすべてが覆われる。イメージャのうち組織塊
の下位置にくる中央領域では、1ピクセルあたりのX線照射量は照射監視データ
線上で検出した信号を当該データ線上のピクセル数で除した値に対応する。ある
データ線上のうちの幾つかのピクセルが組織により覆われていない場合、より一
層強い信号が生じることになり、組織に覆われた区域の照射を表す値を得るため
には、覆われていないピクセルによる信号を全体のデータ線信号から差し引くこ
とが必要となる。後者の場合に差し引かれる信号は、覆われていないピクセル数
を推定するためのモデルにより推定することができる。ただし、この手順では、
データ線上で覆われていないピクセル数が増加すると、精度の向上に悪影響を及
ぼす。別法として、X線に対し不透明な材料(例えば、約1mm厚のタングステ
ンや銅などの金属)をイメージャ・パネルの上位置で組織のところまで挿入し覆
われていないピクセル数を減少させることができる。
【0030】 本発明による照射制御装置125を備える放射線イメージャでは、イメージン
グ・パネル118内の放射線センサは、照射量を算出するための照射信号源とし
て利用されている。この仕組みでは、照射量を決定するためにパネルと分離され
たセンサは不要となり、さらにパネル分離のセンサにおいて検出した放射線と検
出器パネル上に入射する放射線とを相関させる較正過程も不要となる。
【0031】 パネル118の特性をより詳細に検討することにより、照射制御装置125の
動作に対するより十分な理解を得ることができる。ダイオード130の陰極側は
、それぞれの照射監視データ線134(すなわち、ダイオード130がそれぞれ
のピクセル読み出しスイッチ132を介して結合しているデータ線)、並びに隣
接する照射監視データ線140(すなわち、当該のダイオード横列の隣接するダ
イオード143がそれぞれのピクセル読み出しスイッチを介して結合しているデ
ータ線)と容量性結合している。この寄生結合容量Cfringeの大きさは、パネル
の構造により様々である。典型的には、この大きさは0.2〜0.7pF/cm
の範囲にある、すなわち、100マイクロメートルのピクセルでは0.002〜
0.007pF/ピクセルの範囲にある。ダイオード132の陰極位置の電位は
パネル118にX線が入射するに連れて変化する。この電荷のある部分はデータ
線134と容量性結合される。ダイオード上に誘導される電荷に対するこの結合
された電荷信号の比は、次式により得られる。
【0032】 Cfringe/Cdiode 〜0.005/0.5=0.01,すなわち1% 上式において、Cdiodeはダイオード130の静電容量である。
【0033】 所与のピクセル縦列内のすべてのダイオードからの信号は、そのそれぞれのデ
ータ線(例えば、アレイの当該縦列内のフォトダイオード130、133、その
他(図示せず)ではデータ線134)、並びにその隣接するデータ線(例えば、
アレイの当該縦列内のフォトダイオード143、145、その他(図示せず)で
はデータ線140)と結合する。マンモグラフィで使用される典型的なパネルの
1つでは、データ線1本あたり約2300個(Nd)のダイオードが存在し、両
側のダイオードに対して結合が生じる。したがって、各照射監視データ線と結合
されるのはその数の2倍、すなわち4600個のダイオードとなる。所与のデー
タ線(ダイオードがその片側にしか存在しない位置であるイメージャ・パネルの
辺縁部にあるデータ線を除く)上の結合信号は、ピクセルのすべてが等しく照射
されるとすると、単一のピクセル上の累積電荷の約46倍(0.01×(2Nd
)=46)となる。
【0034】 読み出し増幅器146(電荷増幅器ともいう)は、画像読み出し過程でピクセ
ル読み出し信号を提供するためにイメージャ・パネル118内の各データ線に結
合させる。これら同じ増幅器を使用して、読み出しサイクルの収集部分の間にデ
ータ線上に誘導される電荷を検出し、この情報を照射制御装置125に提供して
いる。このような読み出し増幅器146の複合的な使用は、撮影過程で通常使用
される読み出しタイミングを修正することにより達成できる。典型的な半導体放
射線イメージャの読み出し増幅器設計での電荷積算の最小時間は約30μsec
である。これより長い電荷積算時間は容易に達成でき、イメージャまたは照射制
御装置からの信号により制御することができる。各ピクセル・ダイオード内での
最大電荷生成率は、約3pC/secであり、増幅器はその利得範囲に応じて約
5pCで飽和する。所与の信号線上に誘導される電荷を8000μsecという
比較的短い曝射時間にわたって積算した場合、概ね(8000μsec)(3p
C/sec)(46)=1.1pCの大きさの信号が得られる。
【0035】 読み出し増幅器146は対象114に対する実質的に全照射時間にわたり積算
を実行し、照射制御装置125と(読み出し回路120を介して)結合させた各
照射監視データ線からの信号を積算するように制御されている。照射制御装置1
25は典型的には、選択した照射監視データ線に沿った各ピクセル縦列に対する
平均積算電荷の疑似的連続読み出し値を提供するように構成されている。この実
施形態では、A/D回路166からの信号は、約0.1〜10msecごとに発
生し、これによりデータ線照射信号に対する十分に高速の時間サンプリングを照
射制御装置に提供している。照射読み出しサイクルの収集過程(放射線照射量を
表す電荷がアレイ内のそれぞれのフォトダイオードから累積されている期間にあ
たる)において、それぞれのピクセル読み出しスイッチを非導通状態になるよう
に制御し、アレイ内のフォトダイオードとそれぞれのデータ線との間に直接的な
導体経路が存在しないようにする。
【0036】 読み出し増幅器146向けに選択される積算時間は、イメージャ処理装置11
5内の読み取り及びリセット回路120により決定される。照射制御装置125
の使用を最適化するためには、読み出しタイミング(すなわち、増幅器146か
らの信号をサンプルアンドホールド回路164によりサンプリングしA/D回路
166によりディジタル化する際の速度)は、約0.1〜約10msecの範囲
になるように選択される。照射期間中に増幅器162をリセットする回数は1回
から約100回までの間で変更することができる。1回のリセットが望ましいが
、増幅器162の飽和を防止するために複数回のリセットを選択するのが普通で
ある。複数回リセット・モードでは、その増幅器出力はリセット・スイッチ16
2を閉じる直前にサンプリングする。これらの中間の電荷サンプル値は照射制御
装置内で合算し、フォトダイオード上に累積している全電荷の計測値を得ている
。増幅器146のリセット間隔は、典型的には、1〜100msecの範囲であ
る。A/D回路の読み取り間隔は、典型的には、0.1〜10msecごとであ
る。別の動作モードでは、増幅器のリセットの直前に1回だけ増幅器出力をディ
ジタル化している。各フレーム時間中に、データ線上のこれらの電荷誘導信号の
瞬時値を照射制御装置125により監視して合算し、これにより、対象114が
照射されている所与の収集期間中の累積線照射に対する概ね連続した計測値を提
供している。選択した照射レベル(上で言及したように、画質、患者被曝、処置
時間などの要因に応じて決定される)に達したら、照射制御装置125は、線源
制御装置126と結合させた信号を発生させ、線源112による対象114の曝
射を(例えば、線源の回転または被覆、あるいは線源の消勢により)停止させる
【0037】 動作時には、イメージャ処理装置115により制御された読み出しサイクルの
開始時点で、イメージング・エネルギー源112からのエネルギーが対象114
に加えられる。照射サイクルの収集期間中には、照射監視データ線と容量性結合
した照射信号が照射制御装置125により検知される。照射サイクルの所与の収
集期間中のイメージング・エネルギーの累積照射量は、監視対象のデータ線上の
容量性結合した照射信号の積算に基づいて決定される。イメージング・エネルギ
ー源は、所定の放射線照射レベルに到達した時点で対象114に対する曝射を停
止するように照射制御装置125により制御されている。次いで、ピクセル読み
出しスイッチが選択的に閉じられ、アレイ内の放射線センサ上に累積した電荷の
読み出しが可能となり、この読み出し信号が処理されて対象114の画像が作成
される。
【0038】 本発明の別の実施形態では、自動照射制御(AEC)で使用される信号を発生
させる限局性エリアを得るために追加的なAEC構造が設けられている。
【0039】 本発明のこの実施形態によるX線イメージング・システム300の簡略ブロッ
ク図を図3に示す。イメージング・エネルギー源(例えば、X線源312)は、
X線制御スイッチ314により制御されており、このX線制御スイッチ314に
よりX線源312を電源315に接続させ、撮影対象(すなわち、被検体)31
4に向けてX線照射野313が放出される。上述したように、放射線はフォトセ
ンサ・アレイと結合させたシンチレータにより検出するのが一般的であるが、別
法では直接型放射線検出器のアレイを備えている。本明細書に記載したこのフォ
トセンサ・アレイの仕組みは限定ではなく一例である。線源312に対して対象
314の反対側に配置したX線シンチレータ316は、対象314を通過し本明
細書に記載したように配列させたフォトセンサ・ピクセル30からなる2次元フ
ラットパネル・アレイ318上に入射するX線を検出している。フォトセンサ3
1、32、...、41、42、...、などからの画像信号出力は、読み出し
回路350により制御されているそれぞれの増幅器400、401、...など
により読み取られ、A/D(アナログ対ディジタル)変換器354によりディジ
タル・データに変換される。この信号は処理装置360により処理され、次いで
この画像信号は記憶装置362に提供され、また要求に応じて、ディスプレイ(
典型的には、ビデオ・メモリ364を介する)、D/A(ディジタル対アナログ
)変換器366、並びにビデオ・モニタなどの画像表示デバイス368に送られ
る。
【0040】 さらに、イメージャ300は、それぞれのAEC読み出し回路810と結合さ
れている少なくとも1つのAEC増幅器800(また別法としては、追加的な同
様の増幅器801など)を備えており、この読み出し回路810はさらにそれぞ
れのA/D変換器820に結合されている。AEC増幅器800、読み出し回路
810及び変換器820からなる結合したそれぞれのグループは、典型的にはイ
メージャ処理装置360内に構成されているAEC照射制御装置830に結合さ
せている。以下でより詳細に開示するが、AEC増幅器800の各々は、放射線
源312の制御で使用するための追加の限局性照射情報を提供するためにイメー
ジャ・アレイ内に配置した1つのAEC電極と結合させている。アレイ318内
の各AEC電極は、典型的には、それぞれ1つのAEC増幅器に結合させている
【0041】 本発明のこの実施形態によるアレイ318の代表的なフォトセンサ・ピクセル
30を図4に示す(図3及び4では、実線により電気導体を介した接続を表し、
破線により本明細書で説明している誘導による結合を表している)。ピクセル3
0は、底部電極42を有するダイオード40と、アレイ318を覆うように配置
された共通電極(図示せず)に対する接続点44とを備えている。ダイオード4
0は切換えデバイス50に結合されており、この切換えデバイス50は、典型的
には、ゲート電極52と、ダイオード底部電極42に結合されたドレイン電極5
4と、データ線20に結合されたソース電極56とを有する薄膜トランジスタ(
TFT)である。ゲート電極52はスキャン線10に接続されている。さらに、
AEC電極700は、ダイオード底部電極42とAEC電極700の間に静電容
量が存在するようにしてピクセル内に配置されている。AEC電極の典型的な幅
は、約2マイクロメートル〜約50マイクロメートルの範囲にある。
【0042】 図4には、ダイオード底部電極42と第1のデータ線20の間に第1のフリン
ジ容量1(Cfringe 1またはCf1)、底部電極42と第2の隣接するデータ線2
2の間に第2のフリンジ容量2(Cfringe 2またはCf2)、ダイオード底部電極
42とAEC電極700の間にAEC線フリンジ容量3(CAEC)という、代表
的な容量性結合も図示している。
【0043】 本発明のこの実施形態のAEC様式を限局性AEC信号を提供するように十分
に適応させると、典型的には、アレイ318内の選択した数のピクセル30だけ
がAEC電極700を備え、一方残りのピクセルは図2に示した電気的配置に対
応することになる。AEC電極700と共に使用するように選択する具体的なピ
クセル30は、例えば、希望するイメージャの使用方法や撮影しようとする対象
がそのイメージャ・パネルを覆う可能性が高いエリアに基づいて設計過程で(製
作の前に)決定される。
【0044】 AEC電極を備えたピクセルを有するイメージャ318の代表的部分の断面図
を図5に示す。AEC電極は、アレイ318をその上に製作するための基材65
を覆うように配置させる。本明細書で使用する場合、「を覆うように(over
)」、「の上側に(above)」、「の下側に(under)」、「垂直方向
で隣接する(vertically adjacent)」や同様の表現は、ア
レイ構造内での図面で表現したような構成要素の配置を大まかに記載するために
使用しており、こうした用語の使用はそのデバイスの向きに関する動作上の限定
を意味するものではなく、またこうした用語の使用により言及した素子の間に材
料や構造体を介在させているか介在させていないかを示すものでもない。
【0045】 AEC電極はダイオード底部電極42と垂直方向で隣接するように基材65上
に配置させる(このダイオード底部電極42は、この仕組みでは、AEC電極7
00の形成に続いて製作されることになる)。AEC電極700とダイオード底
部電極42の間には、誘電材料層63(典型的には、窒化けい素、酸化けい素(
silicon oxide)、あるいはこれらの組み合わせ)を配置させる。
ダイオードの上部電極を備えている共通電極60も図示しており、共通電極60
は、典型的には、インジウム・スズ酸化物などの光伝送用電気導体(light
transmissive electrical conductor)を
備えている。さらに、ダイオード40を囲繞する誘電層61を図示しており、同
様にしてAEC電極容量3(CAEC)、ダイオード40の内部静電容量5(CPD
)、及びフリンジ容量1(Cfringe 1)も図示している。
【0046】 動作時には、アレイに対する放射線照射は、センサ上に入射した際にダイオー
ド内で電荷の変化を生じさせるような光子を発生させる。この電荷の変化は、表
示画像を作成する元になる読み出し信号を発生させるための基準となるものであ
る。この変化はセンサの底部電極42の電圧にも影響を及ぼし、これによりイメ
ージャ内の別の電極に寄生容量結合を生じさせる。本発明で対象としている3つ
の寄生容量は、図4において、第1のフリンジ容量1(Cf1)、第2のフリンジ
容量2(Cf2)及びAEC電極容量3(CAEC)として示している。さらに、ダ
イオード底部電極42とダイオード上部電極の間にピクセル・ダイオード静電容
量5(Cpixel)を示している。ピクセル・ダイオード静電容量5はダイオード
上に入射する放射線が発生させる電荷を蓄積するために必要となる主要な静電容
量(principle capacitance)であるため、ピクセル・ダ
イオード静電容量5は典型的には、設計上、上記の静電容量のうち最大となる。
この電荷は、ダイオード上に入射する放射線のためにダイオード底部電極42上
に誘導される。この放射線は、典型的には、シンチレータ316からの光であり
、また別法としては、フォトダイオードの半導体材料と相互作用する直接X線放
射である。ダイオード底部電極42上に蓄積された電荷により、寄生容量の第1
のフリンジ容量1(Cf1)と第2のフリンジ容量2(Cf2)を通じて第1の隣接
するデータ線20と第2の隣接するデータ線22のそれぞれに電荷が誘導される
。ダイオード底部電極42とAEC電極700の間にも寄生容量を表示しており
、AEC電極寄生容量3(CAEC)と表している。これら3つの容量、Cf1、Cf 2 及びCAECは、ダイオード底部電極42の全静電容量の微小部分にあたり、底部
電極42とダイオード上部電極の間の静電容量の方が圧倒的に大きいため、寄生
(容量)と呼ばれている。
【0047】 AEC電極700を備えるイメージャ318の一部分の平面図を図6に示す。
典型的には、アレイ318は10インチ×10インチの誘電体基材上に製作した
約2300×1800ピクセルからなるマトリックスを備えている。限定ではな
く一例として、図6では、代表的な第1のAEC電極701及び第2のAEC電
極702を備えた1つのAEC電極受信域区域750を示している。第1及び第
2のAEC電極701、702は、イメージャ・アレイ318内の各AEC電極
受信域区域750(図6には、その代表的な1つを図示している)のためにAE
C電極をそれぞれ1つのAEC増幅器800に接続させる役割をするAEC信号
線705と電気的に結合している。AEC電極701及び702は、AEC電極
受信域区域750内のピクセルのそれぞれのダイオード底部電極42の下に位置
するように配置される(図6では、AEC電極受信域区域750内のピクセルの
ダイオード底部電極42は、区域750内のピクセルを図示するために黒くして
ある)。図6では例示的グループ内にこうした電極を2つだけ示しているが、さ
らに多くの数のAEC電極、概ね10〜1000個のAEC電極を1つまたは複
数のそれぞれのAEC電極受信域区域750内で一緒にグループ分けし、容易に
計測可能な信号を発生させ、かつイメージャ318のより広い区域にわたる平均
照射値を表す信号を提供すると有利である。同様に、イメージャ全体にわたる入
射X線の空間分布に関する情報を得るために複数の受信域を使用することも可能
である。
【0048】 AEC電極700と上側のダイオード底部電極42の間のAEC容量性結合3
は、AEC電極幅が5μmの場合、典型的には、イメージング・アレイ内で約0
.03pFである(この静電容量の正確な値は、もちろん、AEC電極とダイオ
ード底部電極の間に介在する誘電材料63の厚さの関数である)。第1のフリン
ジ寄生容量1(底部電極42とデータ線20の間の容量(図4))は、典型的に
は、約0.005pFである。ダイオード底部電極42の電位がX線照射により
変化すると、電荷は隣接するデータ線20、22、並びにAEC電極700と結
合される。フォトダイオード上に誘導される電荷に対する結合した電荷の比は、
この典型的な結合容量に対しては、関係式Cf/Cpixelより得られる。ピクセル
静電容量Cpixelは、約0.5pFであり、また、典型的な結合比は1〜6%の
範囲である。
【0049】 代表的なAEC電極受信域区域は、アレイ上の全ピクセルのうちの1つの部分
集合と電気的に結合させる。限定ではなく一例として、アレイ318内のピクセ
ルの総数の一部分である総数の約1/256がそれぞれ1つのAEC電極受信域
区域内に含まれることになる。標準的なマトリックス・アレイ318が概ね23
00×1800の、すなわち約414万個のフォトダイオード、からなる横列と
縦列を含むとすると、全面積の1/256は概ね16,000個のフォトダイオ
ードに相当する。これらの各フォトダイオードごとに、利用可能な信号のうちの
約6%が関連するAEC電極700と容量性結合される。したがって、こうした
AEC電極受信域1つにおける正味の応答は、フォトダイオードがすべて均等に
照射を受けているとすると単一のフォトダイオード上に累積した電荷の(0.0
6)×(16,000)=960倍となる。パネルのうち大きなX線強度(例え
ば、間に置かれた撮影対象による減衰がないX線強度)に曝露される区域におい
て、このAEC電極受信域内のAEC電極700上に誘導される電荷を約800
μsecの間積算した後、約2.3pCの信号が得られる[(800μsec)
(3pC/sec)(960)=2.3pC]。この値は容易に、画像技術分野
で周知の電荷増幅器の動作範囲内となる。このため、飽和を回避するためには増
幅器は約1msecごとにリセットすることが必要となる。
【0050】 AEC増幅器800(すなわち、アレイ内の各AEC電極受信域区域750に
対するそれぞれの増幅器800)は、X線源312の動作を制御している処理装
置360内のAEC計算機830(図3)と結合させる。それぞれのAEC電極
受信域区域750から検知される電荷により、アレイの当該部分上に入射するX
線放射量の限局性指示値が提供される。通常のイメージャ動作の間において、各
データ線縦列からの情報の読み出しは、典型的には連続して行われ、この通常の
イメージング・モードは所与の照射を得るようにX線イメージング・エネルギー
源を遮断し終えた後に行われる。X線源が付勢されている期間中に、イメージャ
のAEC様式を用いて適正なX線照射の長さが決定され、かつそれぞれのAEC
電極受信域区域からの信号は別々に積算され、さらに算出された積算値は、典型
的にはAEC計算機830で処理され累積したイメージング・エネルギー照射が
決定される。累積したイメージング・エネルギー値が所定の値に達した時点で、
イメージング・エネルギー源は、実施する具体的な撮影展開が与えられた際にイ
メージャのオペレータにより選択するのと同様にして遮断される。
【0051】 本発明のさらに別の実施形態では、上述のAEC電極受信域区域を上述したよ
うなデータ線照射信号監視と組み合わせている。例えば、図6に示すように、A
EC電極受信区域750はアレイのあるエリアに配置させると共に、データ線照
射信号監視区域770もこのアレイ内に配置させる。限定ではなく一例として、
データ線照射監視区域770はデータ線26の周囲に配置させ、データ線26と
、データ線26の両側のピクセルのダイオード底部電極との間のフリンジ容量が
AEC検知のために利用できるようにしている。図示を明瞭とするため図6では
、区域770で検知するピクセル内のダイオードは黒く表示してある。区域77
0内では、その容量性結合は、図6でデータ線26の左側に示すダイオードの間
では第1の寄生フリンジ容量1(Cf1)により、データ線26の右側では第2の
寄生フリンジ容量2(Cf2)により提供される。データ線26や関連する第1及
び第2のフリンジ容量は、もちろん、アレイ318内のデータ線で使用可能な潜
在的なデータ線照射信号監視区域770のうちの単なる一例である。上でより詳
細に記載したように、データ線26を含め各データ線は、AEC機能を得るため
にデータ線上に誘導される電荷を時間サンプリングするように適応された読み出
し回路増幅器400と結合させている。
【0052】 AEC電極受信域区域750とデータ線照射信号監視区域770の両者を有す
るこのイメージャの仕組みでは、それぞれの区域からの信号は、典型的には(常
にではないが)、その大きさが同じになる。限定ではなく一例として、データ線
26はこの線の両側でピクセルと容量性結合する。各データ線は、典型的には、
約4000個の隣接ピクセル(片側あたり2000個)を有している。各フォト
ダイオードでの電荷生成が最大で3pC/secとなるような同じX線強度では
、800μsecの間の全結合電荷は(800μsec)(3pC/sec)(
4000)(0.01)=0.096pCとなる。X線照射中に、データ線上の
電荷誘導信号の瞬時値が各時間間隔で監視され、これによりX線照射のリアルタ
イムの瞬時値に対するリアルタイムの計測値(すなわち、疑似連続計測値)が得
られる。所望の照射レベルに到達した後、X線管は遮断される。
【0053】 上述の説明及び図面から明らかなように、区域750及び770と連携させた
AECの方法は様々な特性を有することが理解できよう。データ線照射信号監視
区域770はデータ線に沿った平均X線照射量に関する情報を提供し、一方AE
C電極域受信区域750は画像の局所区域での平均照射量を提供する。典型的に
は、画像区域内の照射量は最小X線強度に設定することが望ましい。大部分の場
合では、撮影対象が撮影表面の全体を覆うことはないため、データ線区域770
のうちのある部分は極めて大きなX線強度に曝露されることになる。AEC受信
区域750が複数ある場合は、AEC受信区域のうちの幾つかが、典型的には完
全に撮影対象の下に位置することになる。したがって、AEC照射制御装置83
0は、AEC信号のうち最小のものが所望の値に到達した時点でX線源を遮断す
ることができる。AEC照射の算出をさらに一層複雑にすると有利となり得るこ
とを理解されたい。例えば、その対象は金属や骨など何らかの高吸収区域を含む
ことがある。この場合、AEC照射制御装置は所望により画像の別の区域で照射
を最適化することができる。AEC受信域区域の大きさ及び数は、この方式によ
り任意に作成するとができ、また必要に応じてこれらを用いてパネル318の全
体をカバーすることができる。撮影対象のエリアと密接に関連するAEC受信域
区域750が特定されている場合は、この特定されているエリアだけが示す全累
積X線照射を得ることができる。
【0054】 このように、本発明の様々な実施形態について図示し説明してきたが、当業者
であれば、本発明の精神及び範囲を逸脱することなく、多くの変更及び修正を行
うことができることを理解されよう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の一形態による放射線イメージャの簡略ブロック図である。
【図2】 本発明の実施の一形態によるイメージング・システムの簡略ブロック図と回路
図を組み合わせた図である。
【図3】 本発明の別の実施形態によるX線イメージング・システムの簡略ブロック図で
ある。
【図4】 本発明の実施の一形態による代表的なピクセルの回路図である。
【図5】 本発明の実施の一形態によるイメージャの一部分の断面図である。
【図6】 本発明の実施形態に従った自動照射制御機能を有するイメージャの平面図であ
る。
【符号の説明】
10 スキャン線 20 データ線、第1のデータ線 22 第2の隣接するデータ線 26 データ線 30 フォトセンサ・ピクセル 31、32、... フォトセンサ 40 ダイオード 41、42、... フォトセンサ 42 ダイオード底部電極 50 切換えデバイス 52 ゲート電極 54 ドレイン電極 56 ソース電極 60 共通電極 61 誘電層 63 誘電材料層 65 基材 110 放射線イメージャ 112 放射線イメージング・エネルギー源 113 放射線エネルギー 114 撮影対象 115 イメージャ処理装置 116 シンチレータ 118 イメージング・パネル 120 読み出し回路 122 ディスプレイ 125 照射制御装置 126 線源制御装置 130 フォトダイオード 132 電界効果トランジスタ(FET)、読み出しスイッチ 133 フォトダイオード 134 データ線 135 フォトセンサ・アレイ 136 寄生フリンジ性容量 138 フリンジ性容量 140 照射監視データ線 141 データ線 142 スキャン線、制御線 143 フォトダイオード 144 スイッチ制御回路 145 フォトダイオード 146 電荷増幅器、読み出し増幅器 162 リセット回路 164 サンプルアンドホールド回路、S/H回路 166 アナログ対ディジタル変換器 168 ディジタル・マルチプレクサ 180 画像処理装置 200 放射線検出器 300 X線イメージング・システム 312 イメージング・エネルギー源、X線源 313 X線制御スイッチ 314 撮影対象、被検体 315 電源 316 X線シンチレータ 318 アレイ 350 読み出し回路 354 A/D(アナログ対ディジタル)変換器 360 イメージャ処理装置 360 信号処理装置 362 記憶装置 364 ビデオ・メモリ 366 D/A(ディジタル対アナログ)変換器 368 ビデオ・モニタ、画像表示デバイス 400 読み出し回路増幅器 401 増幅器 700 AEC電極 701 第1のAEC電極 702 第2のAEC電極 705 AEC信号線 750 AEC電極受信域区域 770 データ線照射監視区域 800 AEC増幅器 801 増幅器 810 AEC読み出し回路 820 A/D変換器 820 変換器 830 AEC計算機、AEC照射制御装置 CAEC AEC線フリンジ容量3 Cfringe 1、Cf1 第1のフリンジ容量1 Cfringe 2、Cf2 第2のフリンジ容量2 CPD ダイオードの内部静電容量5 Cpixel ピクセル・ダイオード静電容量5
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 7/18 H04N 7/18 L H05G 1/44 H05G 1/44 A (72)発明者 ハン,サン・スー アメリカ合衆国、12309、ニューヨーク州、 ニスカユナ、ランキン・ロード、2100番 Fターム(参考) 2G088 EE01 FF02 GG19 GG21 JJ05 KK40 4C092 AA01 AB03 AC01 AC08 CC03 CD06 CE16 CJ01 CJ16 DD10 4C093 AA01 CA32 CA35 EA02 EB12 EB13 EB17 EB20 EB28 FA18 FA32 FA45 FA52 5C024 AX12 AX14 GX03 GX09 HX13 HX17 HX23 5C054 AA06 CA02 CB03 CB05 CC04 CE16 CH02 FA09 HA12

Claims (49)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 その各々がそれぞれ1つのピクセル読み出しスイッチ(13
    2)を介してそれぞれ1つのデータ線(134)に接続されている複数の放射線
    センサ(130)を有するマトリックス・アドレス式イメージング・パネル(1
    18)を含むイメージング・システム(110)を動作させる方法であって、 イメージング・エネルギー源(12)からのイメージング・エネルギーを対象
    に印加するステップと、 照射監視データ線(134)からの少なくとも1つのデータ線照射信号を検知
    するステップであって、ピクセル読み出しスイッチを電気的に開放状態にした状
    態で少なくとも1つの放射線センサ(130)を前記照射監視データ線に容量性
    結合させている、ステップと、 前記少なくとも1つの照射監視データ線上の前記検知した照射信号と対応させ
    てパネル照射信号を発生させるステップと、 を含む方法。
  2. 【請求項2】 前記イメージング・エネルギー源(112)がX線を印加す
    ると共に、前記放射線センサ(130)がフォトセンサと直接型半導体X線セン
    サからなる群より選択され、かつ前記ピクセル・スイッチ(132)がダイオー
    ドと電界効果トランジスタからなる群より選択されている、請求項1に記載のイ
    メージング・システムの動作方法。
  3. 【請求項3】 前記放射線センサの各々がフォトダイオード(130)を備
    えると共に、前記イメージング・パネルがさらに前記フォトダイオードのアレイ
    と光学的に結合したシンチレータ(116)を備えている、請求項2に記載のイ
    メージング・システムの動作方法。
  4. 【請求項4】 前記パネル照射信号に対応させて撮影対象に対する曝射を制
    御するステップをさらに含む請求項1に記載のイメージング・システムの動作方
    法。
  5. 【請求項5】 前記パネル照射信号を発生させるように前記データ線照射信
    号を処理するステップをさらに含む請求項4に記載のイメージング・システムの
    動作方法。
  6. 【請求項6】 照射制御装置(125)により監視させる少なくとも1つの
    照射監視データ線を選択するステップをさらに含む請求項5に記載のイメージン
    グ・システムの動作方法。
  7. 【請求項7】 少なくとも1つの照射監視データ線を選択する前記ステップ
    がさらに、関心対象エリア内でイメージャ・パネル照射情報を抽出するために撮
    影対象のモデルを適用するステップを含む、請求項6に記載のイメージング・シ
    ステムの動作方法。
  8. 【請求項8】 前記照射監視データ線と容量性結合させた前記ピクセルが、
    前記ピクセル読み出しスイッチにより前記照射監視データ線(140)と結合す
    るように配置されたそれぞれの照射監視データ線フォトダイオード(143、1
    45)からなる縦列と、それぞれの照射監視データ線フォトダイオードからなる
    前記縦列に隣接する縦列のフォトダイオード(130、123)とを備えている
    、請求項3に記載のイメージング・システムの動作方法。
  9. 【請求項9】 前記データ線上の照射信号に基づいて前記イメージング・エ
    ネルギー源(12)を遮断するステップをさらに含む請求項8に記載のイメージ
    ング・システムの動作方法。
  10. 【請求項10】 前記パネル照射信号に対応させて撮影対象に対する曝射を
    制御する前記ステップがさらに、イメージング・エネルギー源(12)を消勢す
    るステップと、前記エネルギー源と撮影対象の間で放射線の通過を阻止するよう
    に前記イメージング・エネルギー源を覆うステップのうちの少なくとも一方を含
    んでいる、請求項4に記載のイメージング・システムの動作方法。
  11. 【請求項11】 複数のピクセルを有するマトリックス・アドレス式イメージング・パネル(1
    18)と、 少なくとも1つのそれぞれの放射線センサ(130)と、前記イメージング・
    パネル内で該ピクセル放射線センサをそれぞれのデータ線(134)に選択的に
    結合させるように配置させた少なくとも1つのそれぞれのピクセル読み出しスイ
    ッチ(132)とを備えている前記ピクセルのそれぞれと、 前記イメージング・パネル内で少なくとも1つの照射監視データ線(134、
    140)に結合させた照射制御装置(125)であって、前記照射監視データ線
    と容量性結合させた少なくとも1つの放射線センサからの容量性結合した照射信
    号を検知し、かつ前記照射監視データ線のためのそれぞれのピクセル読み出しス
    イッチが開放状態にある期間である照射制御期間中に検知した入射放射線に対応
    するパネル照射信号を発生させるように構成されている、照射制御装置(125
    )と、 を備えるイメージング・システム(110)。
  12. 【請求項12】 前記放射線センサ(130)が、フォトセンサと直接型半
    導体X線センサ検出体からなる群より選択される、請求項11に記載のイメージ
    ング・システム。
  13. 【請求項13】 前記照射制御装置(125)が、前記イメージング・パネ
    ル内で読み出し回路(120)を介してデータ線のうちのそれぞれの1つに結合
    されており、前記読み出し回路は前記データ線の各々のためにそれぞれ1つの電
    荷増幅器(146)を備えている、請求項11に記載のイメージング・システム
  14. 【請求項14】 前記照射制御装置(125)が、前記読み出し回路(12
    0)から受け取った照射信号に対応しており、イメージング・システムの照射サ
    イクル内の収集期間中に前記イメージング・パネル上に入射する放射線照射量を
    表すような前記パネル照射信号を発生させるように構成されている、請求項11
    に記載のイメージング・システム。
  15. 【請求項15】 イメージング・エネルギー源(112)と、前記エネルギ
    ー源及び前記照射制御装置(125)と結合させた線源制御装置(126)とを
    さらに備えており、前記照射制御装置からの制御信号に応答して前記エネルギー
    源が撮影対象に対する曝射を停止するようにしている、請求項11に記載のイメ
    ージング・システム。
  16. 【請求項16】 前記イメージング・エネルギー源(12)がX線源である
    、請求項11に記載のイメージング・システム。
  17. 【請求項17】 シンチレータ(116)と結合させたフォトセンサ・ピクセル(130)のア
    レイを有するマトリックス・アドレス式イメージング・パネル(118)と、 線源制御装置(136)に結合されたX線源(112)であって、前記線源制
    御装置からの信号に応答して該線源と前記イメージング・パネルの間に配置した
    撮影対象(114)に対する曝射をするように配置されているX線源(112)
    と、 前記イメージング・パネル内において、その各々がそれぞれ1つのピクセル読
    み出しスイッチ(132)を介してそれぞれ1つのデータ線(134)に結合さ
    れている1つのフォトダイオード(130)を備えているそれぞれのフォトセン
    サ・ピクセルからの読み出しを制御するように構成されているイメージャ制御装
    置(115)であって、前記ピクセル読み出しスイッチは該イメージャ制御装置
    が発生させる信号に応答している、イメージャ制御装置(115)と、 前記データ線のうちの少なくとも1つに結合させた前記それぞれのピクセル読
    み出しスイッチが非導通状態となるように制御されているときに、前記少なくと
    も1つのデータ線からの容量性結合した照射信号を選択的に受け取るように前記
    イメージャ・パネルに結合させた照射制御装置(125)と、を備えるイメージ
    ング・システム(110)であって、 前記照射制御装置(125)は、前記線源制御装置(126)と結合されると
    共に、前記容量性結合した照射信号に対応させてパネル照射信号を発生させかつ
    前記線源制御装置に印加するための制御信号を発生させるように構成されている
    、イメージング・システム(110)。
  18. 【請求項18】 前記照射制御装置(125)が読み出し回路(120)を
    介して前記データ線に選択的に結合されている、請求項17に記載のイメージャ
  19. 【請求項19】 前記読み出し回路(120)がそれぞれのデータ線からの
    信号(118)を前記照射制御装置(125)に選択的に結合させるための手段
    を備えている、請求項17に記載のイメージャ。
  20. 【請求項20】 前記照射信号が、前記データ線と、前記イメージャ・パネ
    ル内で前記データ線の両側に配置されたそれぞれの縦列内のフォトダイオードと
    の間のフリンジ容量を介して前記データ線に結合されているそれぞれのデータ線
    上での信号を表している、請求項17に記載のイメージャ。
  21. 【請求項21】 放射線センサのアレイ(318)を有するマトリックス・
    アドレス式イメージング・パネルと、前記放射線センサ(40)の少なくとも1
    つに隣接して配置し少なくとも1つのそれぞれのAEC電極受信域(750)を
    形成させるようにした自動照射制御信号(AEC)線(700)とを含むマトリ
    ックス・アドレス式イメージング・システム(300)に対する自動照射制御の
    方法であって、 イメージング・エネルギー源(312)からのイメージング・エネルギーを対
    象に印加するステップと、 前記それぞれのAEC電極受信域内の前記少なくとも1つのAEC電極に対す
    る前記少なくとも1つの放射線センサの容量性結合の結果としてAEC電極上に
    出現するAEC電極(700)上のAEC信号を検知するステップと、 AEC電極上で検知された前記AEC信号に基づいてイメージング・エネルギ
    ー照射レベルを決定するステップと、 前記エネルギー照射レベルに応答して印加されるイメージング・エネルギーを
    制御するステップと、 を含む方法。
  22. 【請求項22】 その各々が前記イメージング・エネルギーに応答している放射線センサ(40
    )から、対象の画像描出の構成要素に対応している画像信号を発生させるステッ
    プと、 前記画像信号に基づいて対象の画像描出を表示するステップと、 をさらに含む請求項21に記載のイメージング・システムの自動照射制御方法。
  23. 【請求項23】 前記放射線センサはフォトダイオード(40)を備えてお
    り、前記イメージング・エネルギー源(312)はX線を印加しており、前記フ
    ォトダイオードは対象(314)のX線画像描出の構成要素に対応する信号を提
    供しており、かつそれぞれのAEC電極に対する前記フォトダイオードの容量性
    結合は寄生容量を介している、請求項22に記載のイメージング・システムの自
    動照射制御方法。
  24. 【請求項24】 その各々が対応する制御スイッチ(50)を介して対応す
    るデータ線(20)に接続されている放射線センサ(40)のアレイを有するマ
    トリックス・アドレス式X線イメージング・パネル(312)を備えたイメージ
    ング・システム(300)であって、前記データ線は順次配置されており、前記
    制御スイッチの各々は接続したスキャン線(10)により対応するセンサからの
    信号を前記対応するデータ線に選択的に送るように動作可能に制御されており、
    前記データ線の各々は表示用の画像信号を提供するため読み出し増幅器(400
    )に接続されており、該イメージング・システムはさらに、その各々がイメージ
    ング・エネルギー源(312)を制御するための照射制御装置(850)に接続
    されており、それぞれのAEC電極受信域(750)を形成するように前記フォ
    トセンサのうちの少なくとも1つに隣接して配置されている少なくとも1つの自
    動照射制御(AEC)電極(700)を含んでいる、イメージング・システム(
    300)のための自動照射制御の方法であって、 前記イメージング・エネルギー源からのイメージング・エネルギーを対象に印
    加するステップと、 放射線センサと前記それぞれのAEC受信域内のAEC電極との間の容量性結
    合の結果としてAEC電極上に出現するAEC電極上のAEC信号を検知するス
    テップと、 AEC電極上で検知された前記AEC信号に基づいてイメージング・エネルギ
    ー照射レベルを決定するステップと、 前記エネルギー照射レベルに応答して印加されたイメージング・エネルギーを
    制御するステップと、 を含む方法。
  25. 【請求項25】 前記AEC電極(700)の各々が放射線センサ電極(4
    2)と垂直方向で隣接して配置された導体材料層として形成されている、請求項
    24に記載のイメージング・システムの自動照射制御方法。
  26. 【請求項26】 センサからデータ線上の画像信号を提供するために制御スイッチを選択的に閉
    じるステップと、 前記画像信号に基づいて対象の画像を表示するステップと、 をさらに含む請求項24に記載のイメージング・システムの自動照射制御方法。
  27. 【請求項27】 センサからデータ線上の画像信号を提供するために制御ス
    イッチを選択的に閉じる前記ステップが、 データ線(20)上の制御スイッチ(50)を、一度に1つの制御スイッチの
    割合で閉じるステップと、 データ線上で検知した画像信号を積算して各センサに対する別々の値を作成す
    るステップであって、前記表示される対象の画像が各センサに対する該別々の値
    に基づいている、ステップと、 を含む、請求項26に記載のイメージング・システムの自動照射制御方法。
  28. 【請求項28】 前記放射線センサはフォトダイオード(40)を備えてお
    り、前記イメージング・エネルギー源(312)はX線を印加しており、前記ダ
    イオード(40)は対象のX線画像描出の構成要素に対応する信号を提供してお
    り、かつそれぞれのAEC電極に対する前記フォトダイオードの容量性結合は寄
    生容量を介している、請求項27に記載のイメージング・システムの自動照射制
    御方法。
  29. 【請求項29】 マトリックス・アドレス式イメージング・パネル(318
    )に対する自動照射制御のための装置であって、 イメージング・エネルギーを対象(314)に印加する(313)ためのイメ
    ージング・エネルギー源(312)と、 マトリックス・アドレス式イメージング・パネルを形成している、前記イメー
    ジング・エネルギーに応答してイメージング信号を発生させるための放射線セン
    サ(40)からなるアレイと、 それぞれのAEC電極受信域(700)を形成するように前記センサのうちの
    少なくとも1つに隣接して配置した少なくとも1つの自動照射制御(AEC)電
    極(700)であって、該少なくとも1つのAEC電極は、前記少なくとも1つ
    のセンサと前記それぞれのAEC電極受信域内の該少なくとも1つのそれぞれの
    AEC電極との間の容量性結合の結果としてAEC電極上に出現するAEC信号
    をAEC増幅器に送るように結合させている、少なくとも1つの自動照射制御(
    AEC)電極(700)と、 前記少なくとも1つのAEC電極及び前記イメージング・エネルギー源に結合
    させており、前記AEC信号を受け取りかつ前記AEC信号に基づいてイメージ
    ング・エネルギー照射レベルを算出するように適応させたAEC照射制御装置(
    830)と、 を備える自動照射制御装置。
  30. 【請求項30】 前記AEC電極の各々が少なくとも1つのセンサ(40)
    のそれぞれの電気接点(42)から垂直方向に隣接して配置されている導体材料
    層を備えており、前記それぞれのセンサの電気接点の各々は前記AEC電極と容
    量性結合している、請求項29に記載のマトリックス・アドレス式イメージング
    ・パネルの自動照射制御装置。
  31. 【請求項31】 イメージング信号に応答して画像を表示するように動作可
    能な表示デバイス(368)をさらに備える請求項30に記載のマトリックス・
    アドレス式イメージング・パネルの自動照射制御装置。
  32. 【請求項32】 マトリックス・アドレス式イメージング・パネル(318
    )に対する自動照射制御のための装置であって、 前記パネルはさらに、フォトセンサ(40)からなるアレイと、その各々が対
    応するセンサ(40)を対応するデータ線(20)に選択的に接続させている複
    数の制御スイッチ(50)であって、該制御スイッチの各々は対応するセンサか
    らの信号を関連するデータ線に選択的に送るようにスキャン線(10)に接続さ
    れており、前記データ線の各々は画像信号を生成するために読み出し増幅器(4
    00)と結合されている複数の制御スイッチ(50)と、少なくとも1つのAE
    C電極受信域(750)を形成するように選択したフォトセンサに隣接して配置
    されている少なくとも1つの自動照射制御(AEC)電極(700)と、前記A
    EC電極と結合させたAEC制御装置と、を備えていること、 前記AEC電極の各々は前記フォトセンサと前記AEC電極の間の容量性結合
    の結果としてAEC電極上に出現するAEC信号を前記AEC計算機に送るよう
    に結合されていること、 を特徴とする自動照射制御装置。
  33. 【請求項33】 電源(15)と、イメージング・エネルギー源を動作可能
    に制御している制御スイッチ(313)であって、AEC照射制御装置(830
    )と動作可能に接続させAEC照射制御装置の出力に応答して該制御スイッチ(
    313)を開放させてイメージング・エネルギー源を遮断するようにした制御ス
    イッチ(313)と、をさらに備える請求項32に記載のマトリックス・アドレ
    ス式イメージング・パネルの自動照射制御装置。
  34. 【請求項34】 前記フォトセンサ(40)がフォトダイオードである、請
    求項32に記載のマトリックス・アドレス式イメージング・パネルの自動照射制
    御装置。
  35. 【請求項35】 前記イメージング・エネルギー源(312)がX線源であ
    ると共に、イメージング・アレイと動作可能に接続されておりイメージング・ア
    レイに応答してX線画像を表示するように動作可能であるディスプレイをさらに
    備えている、請求項32に記載のマトリックス・アドレス式イメージング・パネ
    ルの自動照射制御装置。
  36. 【請求項36】 前記AEC電極(700)が、それぞれのAEC電極受信
    域(750)内に配置されたそれぞれ複数のAEC電極(701、702)を備
    えており、前記それぞれ複数のAEC電極の各々はそれぞれ1つのAEC増幅器
    (800)と結合されている、請求項32に記載の装置。
  37. 【請求項37】 前記少なくとも1つのAEC電極が複数のセンサと容量性
    結合するように配置されている、請求項32に記載の装置。
  38. 【請求項38】 前記AEC電極のうちの前記少なくとも1つが約2マイク
    ロメートル〜約50マイクロメートルの幅を有している、請求項32に記載の装
    置。
  39. 【請求項39】 その各々がそれぞれ1つの放射線センサを備えている横列と縦列の形に配列さ
    れた複数のピクセルであって、それぞれのスキャン線(10)に対応する前記横
    列の各々は各ピクセル内のそれぞれ1つの切換え用トランジスタ(50)に結合
    しており、かつそれぞれのデータ線(20)に対応する前記縦列の各々はピクセ
    ル切換え用トランジスタを介してピクセル放射線センサにそれぞれ結合している
    、複数のピクセルと、 その各々が照射制御装置(830)と結合されており、アレイ内においてその
    下にAEC電極(700)を配置させているピクセルに対応している少なくとも
    1つの自動照射制御(AEC)電極受信域(750)であって、該AEC電極受
    信域内の前記AEC電極と前記ピクセルのそれぞれの放射線センサの底部電極と
    の間に容量性結合を提供するようにした少なくとも1つの自動照射制御(AEC
    )電極受信域(750)と、 前記照射制御装置(830)に結合したデータ線(20)に隣接したピクセル
    に対応している少なくとも1つのデータ線信号監視区域(770)であって、前
    記照射制御装置は前記データ線と容量性結合した信号を前記データ線に隣接して
    配置したそれぞれの放射線センサ電極からサンプリングして該データ線信号監視
    区域内のリアルタイムの放射線照射を表す信号を提供するようにした、少なくと
    も1つのデータ線信号監視区域(770)と、を備えるイメージング・アレイ(
    318)であって、 前記照射制御装置(830)は放射線源(312)による該イメージング・ア
    レイの曝射を制御する信号を提供するように結合されている、イメージング・ア
    レイ(318)。
  40. 【請求項40】 複数のAEC電極受信域区域(750)及び複数のデータ
    線信号監視区域(770)を備えている請求項39に記載のイメージング・アレ
    イ。
  41. 【請求項41】 前記AEC電極受信域区域のうちの少なくとも1つが、1
    つのAEC信号線(705)を介して1つのAEC増幅器(800)に一緒に結
    合されている複数のAEC電極(700)を備えている、請求項39に記載のイ
    メージング・アレイ。
  42. 【請求項42】 前記複数のAEC電極(700)が、イメージング・ア
    レイ上で前記放射線源からの実質的に非減衰の放射が入射している領域を含むよ
    うなそれぞれ1つのAEC電極受信域区域(750)を規定するように配置され
    ている、請求項41に記載のイメージング・アレイ。
  43. 【請求項43】 前記AEC電極(700)が前記放射線センサの前記それ
    ぞれの底部電極(42)と垂直方向で隣接して配置されている、請求項39に記
    載のイメージング・アレイ。
  44. 【請求項44】 前記AEC電極(700)が誘電材料からなる少なくとも
    1つの層(63)により前記それぞれの底部電極(42)から分離されている、
    請求項43に記載のイメージング・アレイ。
  45. 【請求項45】 前記放射線センサの各々は、その各々が前記底部電極(4
    2)のうちのそれぞれ1つを含んでいるフォトダイオード(40)を備えている
    、請求項39に記載のイメージング・アレイ。
  46. 【請求項46】 前記少なくとも1つのデータ線信号監視区域(750)が
    ピクセル放射線センサ(40)の2つの縦列を備えており、前記放射線センサの
    各々は前記放射線センサのそれぞれの底部ダイオードと前記データ線信号監視区
    域の監視用のデータ線との間のそれぞれのフリンジ容量により結合されている、
    請求項39に記載のイメージング・システム。
  47. 【請求項47】 前記データ線信号監視区域(770)内の前記データ線(
    20)はそれぞれの読み出し増幅器(400)を介して前記照射制御装置(83
    0)に結合されている、請求項39に記載のイメージング・システム。
  48. 【請求項48】 前記照射制御装置(830)は、前記それぞれのデータ線
    信号監視区域(770)及び前記AEC電極受信域区域(750)からの信号に
    応答して前記放射線源向けの制御信号を発生させている、請求項39に記載のイ
    メージング・システム。
  49. 【請求項49】 前記照射制御装置(830)は、AEC電極受信域区域(
    750)及び前記それぞれのデータ線信号監視区域(750)から受け取った信
    号のそれぞれの信号の間で選択するように適応されている、請求項48に記載の
    イメージング・システム。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005260706A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Canon Inc 放射線撮像装置及びその制御方法
JP2006141729A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線撮影装置
WO2007037121A1 (ja) * 2005-09-29 2007-04-05 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 放射線像撮像装置および放射線像撮像装置の撮像方法
WO2013015265A1 (ja) * 2011-07-26 2013-01-31 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその制御方法
JP2013176544A (ja) * 2012-02-03 2013-09-09 Fujifilm Corp 放射線撮影装置とその制御方法、及び放射線撮影システム
CN103931171A (zh) * 2011-07-13 2014-07-16 曲克赛尔股份有限公司 用于通过自动检测入射辐射而控制光电探测器的方法

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6477686B1 (en) * 2000-04-27 2002-11-05 International Business Machines Corporation Method of calculating 3-dimensional fringe characteristics using specially formed extension shapes
US6888969B1 (en) * 2000-09-11 2005-05-03 General Electric Company Method and apparatus for preventing image artifacts
JP5060701B2 (ja) * 2000-09-20 2012-10-31 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線検出装置およびx線検出装置を制御する方法
DE10114303A1 (de) * 2001-03-23 2002-09-26 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren zur Bestimmung der von einem Strahlungssensor absorbierten Strahlungsmenge
US6623161B2 (en) * 2001-08-28 2003-09-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and apparatus for identifying and correcting line artifacts in a solid state X-ray detector
JP2003153088A (ja) * 2001-08-31 2003-05-23 Fuji Photo Film Co Ltd 信号検出方法および装置
EP1341375B1 (en) * 2002-03-01 2013-06-05 Canon Kabushiki Kaisha Radiation image sensing apparatus and its driving method
GB0212001D0 (en) * 2002-05-24 2002-07-03 Koninkl Philips Electronics Nv X-ray image detector
US6904126B2 (en) * 2002-06-19 2005-06-07 Canon Kabushiki Kaisha Radiological imaging apparatus and method
US7006598B2 (en) * 2002-08-09 2006-02-28 Canon Kabushiki Kaisha Imaging method and apparatus with exposure control
US7148487B2 (en) * 2002-08-27 2006-12-12 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing apparatus and method using radiation
JP4522044B2 (ja) * 2002-11-15 2010-08-11 キヤノン株式会社 放射線撮影装置
JP2004167075A (ja) * 2002-11-21 2004-06-17 Canon Inc 放射線撮像装置及び放射線撮像方法
JP2004223157A (ja) * 2003-01-27 2004-08-12 Canon Inc 放射線撮像装置
JP2004325261A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Canon Inc 放射線画像撮像装置
EP1538460B1 (en) * 2003-12-04 2012-12-26 Dectris AG A pixel detector for incident particles and/or photons having improved testing capabilities and a method for testing a pixel detector
EP1716434B1 (en) * 2004-02-11 2012-05-30 Philips Intellectual Property & Standards GmbH X-ray detector with photogates and dose control
US7372942B2 (en) * 2004-03-29 2008-05-13 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Medical imaging system with dosimetry for estimating circuit board life
US7601961B2 (en) * 2004-06-18 2009-10-13 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray image detector
CA2574679C (en) 2004-07-20 2013-06-04 Medtronic, Inc. Implantable cerebral spinal fluid drainage device and method of draining cerebral spinal fluid
US7477727B1 (en) 2006-01-26 2009-01-13 Karl Adolf Malashanko Digital X-ray image detector array
US7888649B2 (en) * 2007-07-06 2011-02-15 Fujifilm Corporation Radiation image capturing system
JP5538684B2 (ja) * 2008-03-13 2014-07-02 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、及び記憶媒体
JP4868034B2 (ja) * 2009-07-16 2012-02-01 横河電機株式会社 放射線検査装置
US8827554B2 (en) 2010-04-13 2014-09-09 Carestream Health, Inc. Tube alignment for mobile radiography system
US8824634B2 (en) 2010-04-13 2014-09-02 Carestream Health, Inc. Configurable AEC sensor for an X-ray system
US8873712B2 (en) * 2010-04-13 2014-10-28 Carestream Health, Inc. Exposure control using digital radiography detector
US8821017B2 (en) 2010-04-13 2014-09-02 Carestream Health, Inc. Projector as collimator light
US10165992B2 (en) 2010-10-18 2019-01-01 Carestream Health, Inc. X-ray imaging systems and devices
US8821015B2 (en) 2011-03-08 2014-09-02 Carestream Health, Inc. Alignment apparatus for X-ray imaging system
US9069083B2 (en) * 2011-05-19 2015-06-30 Danimar Ltd. Portable radiation detector
JP5749609B2 (ja) * 2011-09-05 2015-07-15 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム、並びに線源制御装置
EP2762077B1 (en) * 2011-09-29 2017-12-20 Fujifilm Corporation Radiation imaging system, control method therefor and radiograph detection equipment
US20140369459A1 (en) 2012-02-22 2014-12-18 Carestream Health, Inc. Mobile radiographic apparatus/methods with tomosynthesis capability
US20130256543A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 General Electric Company Digital x-ray detection having at least one truncated corner
KR101911314B1 (ko) * 2012-03-30 2018-10-24 삼성전자주식회사 엑스선 검출기
US9270904B2 (en) 2012-08-28 2016-02-23 General Electric Company X-ray system and method with digital image acquisition using a photovoltaic device
US9716125B2 (en) * 2012-12-21 2017-07-25 Varex Imaging Corporation Imaging array and method for supporting automatic exposure control in a radiographic system
US9503653B2 (en) * 2013-02-18 2016-11-22 Tsinghua University Method for determining attitude of star sensor based on rolling shutter imaging
US9348035B2 (en) * 2013-10-22 2016-05-24 General Electric Company Systems and methods for selectable detector configurations
JP6585910B2 (ja) * 2014-05-01 2019-10-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
KR20160048535A (ko) 2014-10-24 2016-05-04 삼성전자주식회사 엑스선 디텍터와 그 제조방법과 엑스선 디텍터를 포함하는 시스템과 그 동작방법
JP6576102B2 (ja) * 2015-05-26 2019-09-18 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、積算照射量を求める方法および露出制御方法
US10083772B2 (en) 2015-07-29 2018-09-25 Carestream Health, Inc. Aligned carbon nanotubes for improved X-ray detector performance
US9720103B2 (en) * 2015-07-29 2017-08-01 Carestream Health, Inc. Use of vertically aligned carbon nanotube arrays for improved x-ray imaging detector performance
US10154234B2 (en) 2016-03-16 2018-12-11 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with peripheral 3A-control sensors and associated imaging system
CN106725554B (zh) * 2017-01-11 2021-12-21 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 一种自动曝光检测的x射线平板探测器及其传感器面板结构
EP3852632A4 (en) * 2018-09-19 2022-04-20 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. AUTOMATIC EXPOSURE CONTROL RADIATION DETECTOR AND AUTOMATIC EXPOSURE CONTROL METHOD
US20220413167A1 (en) * 2019-11-29 2022-12-29 Lg Electronics Inc. Radiation detector and radiographic method using same
CN116686301A (zh) * 2020-12-15 2023-09-01 Ams传感器比利时有限公司 光学传感器和包括其的电子设备
EP4315834A1 (en) * 2021-03-31 2024-02-07 Sony Semiconductor Solutions Corporation Image element readout circuitry, image element, and image element readout method
KR20230159493A (ko) * 2021-06-04 2023-11-21 엘지전자 주식회사 Aec 일체형 엑스선 디텍터

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03218672A (ja) * 1988-10-20 1991-09-26 Canon Inc 半導体装置及びそれを搭載した信号処理装置
JPH04276239A (ja) * 1991-02-28 1992-10-01 Shimadzu Corp X線撮影装置
JPH0855695A (ja) * 1994-07-26 1996-02-27 Siemens Ag X線診断装置
JPH10123253A (ja) * 1996-06-20 1998-05-15 Xerox Corp データラインと電荷収集電極との間に結合防止層を有するセンサアレイ
JPH11151233A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Canon Inc 放射線撮像装置及び撮像方法
JPH11237481A (ja) * 1997-11-25 1999-08-31 Trixell Sas 照射線測定装置を備えた感光装置
JP2000111651A (ja) * 1998-09-30 2000-04-21 Shimadzu Corp 放射線2次元検出器

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5040041A (en) 1988-10-20 1991-08-13 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor device and signal processing device having said device provided therein
DE4036163A1 (de) 1990-11-14 1992-05-21 Philips Patentverwaltung Roentgenuntersuchungsgeraet
US5340988A (en) 1993-04-05 1994-08-23 General Electric Company High resolution radiation imaging system
US5401668A (en) 1993-09-02 1995-03-28 General Electric Company Method for fabrication solid state radiation imager having improved scintillator adhesion
DE4330787A1 (de) 1993-09-10 1995-03-23 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb eines Röntgenbelichtungsautomaten
US5587591A (en) 1993-12-29 1996-12-24 General Electric Company Solid state fluoroscopic radiation imager with thin film transistor addressable array
US5869837A (en) 1994-07-27 1999-02-09 Litton Systems Canada Limited Radiation imaging panel
US5610403A (en) 1995-09-05 1997-03-11 General Electric Company Solid state radiation imager with gate electrode plane shield wires
US5610404A (en) 1995-09-05 1997-03-11 General Electric Company Flat panel imaging device with ground plane electrode
US5585638A (en) 1995-12-14 1996-12-17 General Electric Company X-ray detector for automatic exposure control of an imaging apparatus
US5648654A (en) 1995-12-21 1997-07-15 General Electric Company Flat panel imaging device with patterned common electrode
FR2750821B1 (fr) 1996-07-05 1998-09-11 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif pour la prise d'images numeriques avec controle et optimisation du temps d'exposition de l'objet a des rayonnements x ou y
US5877501A (en) * 1996-11-26 1999-03-02 Picker International, Inc. Digital panel for x-ray image acquisition
US5751783A (en) * 1996-12-20 1998-05-12 General Electric Company Detector for automatic exposure control on an x-ray imaging system
JP2000139890A (ja) 1998-11-09 2000-05-23 General Electric Co <Ge> イメ―ジング・システム及びその動作方法
US6243441B1 (en) * 1999-07-13 2001-06-05 Edge Medical Devices Active matrix detector for X-ray imaging

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03218672A (ja) * 1988-10-20 1991-09-26 Canon Inc 半導体装置及びそれを搭載した信号処理装置
JPH04276239A (ja) * 1991-02-28 1992-10-01 Shimadzu Corp X線撮影装置
JPH0855695A (ja) * 1994-07-26 1996-02-27 Siemens Ag X線診断装置
JPH10123253A (ja) * 1996-06-20 1998-05-15 Xerox Corp データラインと電荷収集電極との間に結合防止層を有するセンサアレイ
JPH11151233A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Canon Inc 放射線撮像装置及び撮像方法
JPH11237481A (ja) * 1997-11-25 1999-08-31 Trixell Sas 照射線測定装置を備えた感光装置
JP2000111651A (ja) * 1998-09-30 2000-04-21 Shimadzu Corp 放射線2次元検出器

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005260706A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Canon Inc 放射線撮像装置及びその制御方法
JP2006141729A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線撮影装置
JP4574336B2 (ja) * 2004-11-19 2010-11-04 パナソニック株式会社 X線撮影装置
WO2007037121A1 (ja) * 2005-09-29 2007-04-05 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 放射線像撮像装置および放射線像撮像装置の撮像方法
CN103931171A (zh) * 2011-07-13 2014-07-16 曲克赛尔股份有限公司 用于通过自动检测入射辐射而控制光电探测器的方法
JP2014526178A (ja) * 2011-07-13 2014-10-02 トリクセル 入射放射を自動検出することによって光検出器を制御する方法
CN103931171B (zh) * 2011-07-13 2017-05-03 曲克赛尔股份有限公司 用于通过自动检测入射辐射而控制光电探测器的方法
WO2013015265A1 (ja) * 2011-07-26 2013-01-31 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその制御方法
US8879689B2 (en) 2011-07-26 2014-11-04 Fujifilm Corporation Radiographic image detecting device and control method thereof
JPWO2013015265A1 (ja) * 2011-07-26 2015-02-23 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその制御方法
JP2013176544A (ja) * 2012-02-03 2013-09-09 Fujifilm Corp 放射線撮影装置とその制御方法、及び放射線撮影システム
US9101328B2 (en) 2012-02-03 2015-08-11 Fujifilm Corporation Radiation imaging apparatus and control method thereof, and radiation imaging system
US10028364B2 (en) 2012-02-03 2018-07-17 Fujifilm Corporation Radiation imaging apparatus and control method thereof, and radiation imaging system

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