JP2003296958A - 光ピックアップ装置、及び電子機器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】レーザ出力モニター用光検出器の出力誤差を簡
単かつ確実に抑える。 【解決手段】半導体レーザ１１からの光ビームの殆ど
は、偏光ビームスプリッタ１２、コリメートレンズ１
３、反射ミラー１４、及び対物レンズ１５を介して、光
学的記録媒体１６上に集光されて、光スポットを形成す
る。また、光ビームの一部は、偏光ビームスプリッタ１
２、及び光量調整器１７を介してレーザ出力モニター用
光検出器１８に入射する。レーザ出力モニター用光検出
器１８は、光ビームの強度を示す検出信号をＡＰＣ回路
１９に出力する。ＡＰＣ回路１９は、この検出信号によ
って示される光ビームの強度が一定となる様に、半導体
レーザ１１を駆動制御する。光量調整器１７により、レ
ーザ出力モニター用光検出器１８に入射する光ビームの
光量を調整して、レーザ出力モニター用光検出器１８の
出力誤差を０に調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームを光学的
情報記録媒体に照射して、光学的情報記録媒体に対する
情報の記録、再生、及び消去を行なうための光ピックア
ップ装置及び電子機器に関する。

【０００２】

【従来の技術】光学的情報記録媒体としては、コンパク
トディスク（ＣＤ）、ミニディスク（ＭＤ）、光磁気デ
ィスク（ＭＯ）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）等
がある。光ピックアップ装置は、その様な光学的記録媒
体に対する情報の記録、再生、及び消去を行なうもので
ある。

【０００３】図１１は、従来の光ピックアップ装置を例
示している。図１１において、半導体レーザ１０１は、
光ビームを回折光にして出射する。この光ビームの殆ど
は、偏光ビームスプリッタ１０３を透過し、コリメート
レンズ１０２により平行光にされてから、反射ミラー１
１４で反射され、対物レンズ１０５により光学的記録媒
体１０６上に集光されて、光スポットを形成する。ま
た、光ビームの一部は、偏光ビームスプリッタ１０３で
反射されて、レーザ出力モニター用光検出器１０４に入
射する。レーザ出力モニター用光検出器１０４は、光ビ
ームを光電変換し、この光ビームの強度を示す検出信号
をＡＰＣ（Auto Power Control）回路１１２に出力す
る。ＡＰＣ回路１１２は、この検出信号によって示され
る光ビームの強度が一定となる様に、半導体レーザ１０
１を駆動制御する。

【０００４】また、光ビームは、光学的記録媒体１０６
で反射されると、対物レンズ１０５を透過して、反射ミ
ラー１１４及び偏光ビームスプリッタ１０３で反射さ
れ、ウォラストンプリズム１０７により４５度検波され
て２つの光束に分離され、集光レンズ１０８により光検
出器１０９上に集光される。光検出器１０９は、２つの
光束を光電変換して、再生信号及びトラッキング信号を
差動検出して出力する。

【０００５】更に、光ビームは、偏向ビームスプリッタ
１０３を通じて半導体レーザ１０１へと入射して戻る。

【０００６】半導体レーザ１０１では、図１２に示す様
に光ビームをレーザチップ１１０から出射して、この光
ビームをホログラム素子１１３を通じて回折光にして外
部へと出射し、光学的記録媒体１０６で反射されて戻っ
て来た光ビームをホログラム素子１１３を通じて受光素
子１１２で受光し、この受光素子１１２の検出出力を差
動増幅器１１５に出力する。差動増幅器１１５は、その
差動増幅出力をフォーカスエラー信号として出力する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、この様な光
ピックアップ装置においては、レーザ出力モニター用光
検出器１０４の位置を厳密に調整する必要がある。これ
は、レーザ出力モニター用光検出器１０４の受光面の大
きさのバラツキ、半導体レーザ１０１の出力のバラツキ
等によりレーザ出力モニター用光検出器１０４の出力に
誤差が生じることから、レーザ出力モニター用光検出器
１０４の位置調整により該出力誤差を抑えるためであ
る。あるいは、図１３に示す様に半導体レーザ１０１か
らの光ビームは、その強度が楕円エリアＡで高くなると
いう強度分布を有しており、この楕円エリアＡの短軸方
向にレーザ出力モニター用光検出器１０４の受光面が僅
かにずれたとしても、レーザ出力モニター用光検出器１
０４に出力誤差が生じることから、レーザ出力モニター
用光検出器１０４の位置調整により該出力誤差を抑える
ためである。すなわち、レーザ出力モニター用光検出器
１０４の出力誤差を抑えるために、レーザ出力モニター
用光検出器１０４の位置の厳密な調整が必要となる。こ
れにより、ＡＰＣ回路１１２による半導体レーザ１０１
の駆動制御を安定化させることができる。

【０００８】しかしながら、レーザ出力モニター用光検
出器１０４の位置の厳密な調整には、多くの手間と長い
時間を要し、光ピックアップ装置のコストの上昇の原因
となった。

【０００９】一方、レーザ出力モニター用光検出器に入
射する光ビームの光量を調整するために、多様な提案が
既になされている。

【００１０】例えば、実開平３−６１６１６号公報に
は、モニター用光検出器の前に反射ミラーを設け、この
反射ミラーで反射された光ビームをモニター用光検出器
に入射させ、これにより光学的記録媒体への光ビームの
光強度とモニター用光検出器への光ビームの光強度を一
致させるという技術が開示されている。しかしながら、
この技術を適用しても、先に述べた様なモニター用光検
出器の出力誤差を抑えることはできない。

【００１１】また、特開平５−３１４５２９号公報及び
特開平７−１０５５６７号公報等には、モニター用光検
出器の前にアパーチャを設け、このアパーチャによりモ
ニター用光検出器の有効受光領域以外の光を遮断すると
ういう技術が開示されている。しかしながら、アパーチ
ャにより先に述べた様なモニター用光検出器の出力誤差
を抑えるには、例えば半導体レーザの特性に応じてアパ
ーチャの径を変更する必要があり、アパーチャの径の調
整のために、多くの手間と長い時間を費やすことなる。

【００１２】そこで、本発明は、上記従来の問題点に鑑
みてなされたものであり、レーザ出力モニター用光検出
器の出力誤差を簡単かつ確実に抑えることが可能な光ピ
ックアップ装置を提供することを目的とする。

【００１３】また、本発明は、本発明の光ピックアップ
装置を搭載した電子機器を提供することを目的とする。

【００１４】

【 課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
めに、本発明は、光ビームを予め設定された光路を通じ
て記録媒体へと出射する光源と、この光ビームを該光路
外へと分岐させる分岐光学手段と、分岐光学手段により
分岐された光ビームを検出する受光素子とを備える光ピ
ックアップ装置において、分岐光学手段と受光素子間に
配置され、受光素子に入射する光ビームの光量を調整す
るための光量調整手段を備えている。

【００１５】この様な構成の本発明によれば、光量調整
手段を格別に設けており、この光量調整手段により受光
素子に入射する光ビームの光量を調整している。このた
め、受光素子の位置を調整せずとも、受光素子に入射す
る光ビームの光量を調整することができ、受光素子の位
置の調整のために、多くの手間や長い時間を費やす必要
がなく、光ピックアップ装置のコストを低減することが
できる。

【００１６】また、本発明においては、光量調整手段
は、光ビームの光軸に対して傾斜した状態で、該光ビー
ムの一部を遮光する移動可能な遮光板である。

【００１７】ここでは、遮光板を光ビームの光軸に対し
て傾斜させているため、この遮光板で反射された光ビー
ムが該光ビームの光路に戻って迷光になることはない。

【００１８】更に、本発明においては、遮光板の表面に
反射防止加工を施している。

【００１９】この場合は、遮光板での光ビームの反射率
が低減されるので、この反射された光ビームが迷光にな
ることをより確実に防止することができる。

【００２０】また、本発明においては、光量調整手段
は、液晶板である。

【００２１】この場合は、液晶板を駆動制御して、この
液晶板の透過光量を調整することにより、受光素子に入
射する光ビームの光量を調整する。

【００２２】更に、本発明においては、光量調整手段
は、移動可能なガラス板である。

【００２３】この場合は、ガラス板を回転させたりスラ
イドさせることにより、光ビームの経路を変更し、受光
素子に入射する光ビームの光量を調整する。

【００２４】また、本発明においては、光量調整手段
は、移動可能な反射ミラーである。

【００２５】この場合は、反射ミラーを回転させ、この
反射ミラーでの光ビームの反射角を変更することによ
り、受光素子に入射する光ビームの光量を調整する。

【００２６】更に、本発明においては、光量調整手段
は、光ビームの強度分布に応じた方向で遮光している。

【００２７】例えば、光源からの光ビームの強度が楕円
エリアで高くなるという強度分布である場合は、この楕
円エリアの長軸方向に関して、光量調整手段により受光
素子に入射する光ビームの光量を調整する。これによ
り、光量の調整範囲が広くなり、光量の調整が容易にな
る。

【００２８】また、本発明においては、光量調整手段
は、移動可能な集光レンズである。

【００２９】この場合は、集光レンズを移動させ、受光
素子の受光面の光スポットを変更することにより、受光
素子に入射する光ビームの光量を調整する。

【００３０】更に、本発明においては、集光レンズの移
動方向は、光ビームの光軸方向である。

【００３１】この場合は、集光レンズの移動により、受
光素子の受光面の光スポットの大きさが変更される。

【００３２】また、本発明においては、集光レンズの移
動方向は、光ビームの光軸と直交する方向である。

【００３３】この場合は、集光レンズの移動により、受
光素子の受光面の光スポットの位置が変更される。

【００３４】更に、本発明においては、光源は、相互に
異なる各波長の光ビームを出射し、光量調整手段は、各
波長の光ビームに対応するそれぞれの波長選択フィルタ
ーである。

【００３５】光量調整手段として、各波長の光ビームに
対応するそれぞれの波長選択フィルターを適用すれば、
各波長選択フィルターにより、光源から出射されて受光
素子へと入射する各波長の光ビームの光量をそれぞれ調
整することができる。

【００３６】また、本発明においては、光源は、相互に
異なる各波長の光ビームを出射し、光量調整手段は、各
波長の光ビームに対応するそれぞれの波長選択領域を有
している。

【００３７】この場合は、光量調整手段の各波長選択領
域により、受光素子に入射する各波長の光ビームの光量
をそれぞれ調整することができる。

【００３８】更に、本発明の電子機器は、本発明の光ピ
ックアップ装置を備えている。

【００３９】すなわち、本発明は、光ピックアップ装置
だけではなく、本発明の光ピックアップ装置を搭載した
電子機器を含む。

【００４０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照して詳細に説明する。

【００４１】図１は、本発明の光ピックアップ装置を概
念的に示す斜視図である。この光ピックアップ装置にお
いて、半導体レーザ１１は、光ビームをホログラム素子
（図示せず）を通じて回折光にして出射する。この光ビ
ームの殆どは、偏光ビームスプリッタ１２を透過し、コ
リメートレンズ１３により平行光にされてから、反射ミ
ラー１４で反射され、対物レンズ１５により光学的記録
媒体１６上に集光されて、光スポットを形成する。ま
た、光ビームの一部は、偏光ビームスプリッタ１２で反
射され、光量調整器１７を介してレーザ出力モニター用
光検出器１８に入射する。レーザ出力モニター用光検出
器１８は、光ビームを光電変換し、この光ビームの強度
を示す検出信号をＡＰＣ（Auto Power Control）回路１
９に出力する。ＡＰＣ回路１９は、この検出信号によっ
て示される光ビームの強度が一定となる様に、半導体レ
ーザ１１を駆動制御する。

【００４２】また、光ビームは、光学的記録媒体１６で
反射されると、対物レンズ１５を透過して、反射ミラー
１４及び偏光ビームスプリッタ１２で反射され、ウォラ
ストンプリズム２１により４５度検波されて２つの光束
に分離され、集光レンズ２２により光検出器２３上に集
光される。光検出器２３は、２つの光束を光電変換し
て、再生信号及びトラッキング信号を差動検出して出力
する。

【００４３】更に、光ビームは、偏向ビームスプリッタ
１２を通じて半導体レーザ１１へと入射して戻る。半導
体レーザ１１では、受光素子（図示せず）を内臓してお
り、光ビームを先に述べたホログラム素子（図示せず）
を通じて該受光素子で受光し、この受光素子の検出出力
を出力する。この受光素子の検出出力を差動増幅し、こ
の差動増幅出力をフォーカスエラー信号として用いる。

【００４４】この様な光ピックアップ装置においては、
レーザ出力モニター用光検出器１８の受光面の大きさの
バラツキ、半導体レーザ１１の出力のバラツキ等により
レーザ出力モニター用光検出器１８の出力に誤差が生
じ、また半導体レーザ１１からの光ビームの強度が楕円
エリアで高くなるという強度分布であり、この楕円エリ
アの短軸方向にレーザ出力モニター用光検出器１８の受
光面が僅かにずれたとしても、レーザ出力モニター用光
検出器１８の出力に誤差が生じる。そこで、偏光ビーム
スプリッタ１２とレーザ出力モニター用光検出器１８間
に光量調整器１７を設け、この光量調整器１７によりレ
ーザ出力モニター用光検出器１８に入射する光ビームの
光量を調整して、レーザ出力モニター用光検出器１８の
出力誤差を０に調整している。この光量調整器１７によ
る光ビームの光量の調整は、従来のレーザ出力モニター
用光検出器の厳密な位置調整よりも簡単である。このた
め、レーザ出力モニター用光検出器に入射する光ビーム
の光量の調整に多くの手間や長い時間を費やす必要がな
く、光ピックアップ装置のコストを低減することができ
る。

【００４５】図２は、本発明の光ピックアップ装置の第
１実施形態を示す斜視図である。尚、図２においては、
図１の装置における半導体レーザ１１、偏光ビームスプ
リッタ１２、光量調整器１７としての遮光板３１、レー
ザ出力モニター用光検出器１８、及びウォラストンプリ
ズム２１のみを抽出し、他の各部品を省略して示してい
る。

【００４６】本実施形態では、遮光板３１を本体筐体２
４（図１に示す）に移動可能に支持している。この遮光
板３１を矢印Ｂの方向に移動させることにより、この遮
光板３１により遮られる光ビームＬの割合を調整し、レ
ーザ出力モニター用光検出器１８に入射する光ビームＬ
の光量を調整する。

【００４７】また、遮光板３１を光ビームＬの光軸に対
して斜めに配置している。このため、遮光板３１で反射
された光ビームＬが該光ビームＬの光路に戻って迷光と
なり、半導体レーザ１１等に入射することはない。更
に、遮光板３１の表面に反射防止膜を形成したり、遮光
板３１の表面に黒色塗装を施して、遮光板３１の反射率
を低減させるか、あるいは遮光板３１の表面を凹凸に仕
上げて、遮光板３１で反射された光を散乱させれば、遮
光板３１で反射された光ビームＬが迷光になることをよ
り確実に防止することができる。

【００４８】更に、光ビームＬの強度が高くなる楕円エ
リアの長軸方向に沿って遮光板３１を移動させている。
これにより、遮光板３１の移動による光量の調整範囲が
広くなり、光量の調整が容易になる。

【００４９】図３は、本発明の光ピックアップ装置の第
２実施形態を示す斜視図である。尚、図３においては、
図１の装置における半導体レーザ１１、偏光ビームスプ
リッタ１２、光量調整器１７としての液晶板３２並びに
印加電圧制御部３３、レーザ出力モニター用光検出器１
８、及びウォラストンプリズム２１のみを抽出し、他の
各部品を省略して示している。

【００５０】本実施形態では、液晶板３２を本体筐体２
４に設け、この液晶板３２を透過フィルターとして用い
ている。この液晶板３２の駆動電圧を印加電圧制御部３
３により制御することにより、液晶板３２の透光率を変
化させて、レーザ出力モニター用光検出器１８に入射す
る光ビームＬの光量を調整する。この場合は、レーザ出
力モニター用光検出器１８の受光面上の光スポットの位
置や形状を変化させずに、光ビームＬの入射光量を調整
することができる。また、印加電圧制御部３３により入
射光量を随時変更することも可能である。

【００５１】図４は、本発明の光ピックアップ装置の第
３実施形態を示す斜視図である。尚、図４においては、
図１の装置における半導体レーザ１１、偏光ビームスプ
リッタ１２、光量調整器１７としてのガラス板３４、レ
ーザ出力モニター用光検出器１８、及びウォラストンプ
リズム２１のみを抽出し、他の各部品を省略して示して
いる。

【００５２】本実施形態では、ガラス板３４を本体筐体
２４に設け、このガラス板３４を回転可能に支持してい
る。このガラス板３３を矢印Ｃの方向に回転させること
により、このガラス板３４を透過した光ビームＬの経路
を変更して、レーザ出力モニター用光検出器１８に入射
する光ビームＬの光量を調整する。

【００５３】更に、光ビームＬの強度が高くなる楕円エ
リアの長軸方向にガラス板３４を挿入し、ガラス板３４
の回転軸を該長軸方向と直行する方向に沿わせている。
これにより、ガラス板３４の回転による光量の調整範囲
が広くなり、光量の調整が容易になる。

【００５４】図５は、本発明の光ピックアップ装置の第
４実施形態を示す斜視図である。尚、図５においては、
図１の装置における半導体レーザ１１、偏光ビームスプ
リッタ１２、光量調整器１７としての反射ミラー３５、
レーザ出力モニター用光検出器１８、及びウォラストン
プリズム２１のみを抽出し、他の各部品を省略して示し
ている。

【００５５】本実施形態では、反射ミラー３５を本体筐
体２４に設け、この反射ミラー３５を回転可能に支持し
ている。この反射ミラー３５を矢印Ｄの方向に回転させ
ることにより、この反射ミラー３５で反射された光ビー
ムＬの経路を変更して、レーザ出力モニター用光検出器
１８に入射する光ビームＬの光量を調整する。

【００５６】更に、光ビームＬの強度が高くなる楕円エ
リアの長軸方向に反射ミラー３５を挿入し、反射ミラー
３５の回転軸を該長軸方向と直行する方向に沿わせてい
る。これにより、反射ミラー３５の回転による光量の調
整範囲が広くなり、光量の調整が容易になる。

【００５７】図６は、本発明の光ピックアップ装置の第
５実施形態を示す斜視図である。尚、図６においては、
図１の装置における半導体レーザ１１、偏光ビームスプ
リッタ１２、光量調整器１７としての集光レンズ３６、
レーザ出力モニター用光検出器１８、及びウォラストン
プリズム２１のみを抽出し、他の各部品を省略して示し
ている。

【００５８】本実施形態では、レーザ出力モニター用光
検出器１８の受光面に光ビームＬを集光させて光スポッ
トを形成する集光レンズ３６を本体筐体２４に設け、こ
の集光レンズ３６を光ビームＬの光軸方向と直行する方
向に移動可能に支持している。光ビームＬの光軸方向を
Ｘ軸方向とすると、集光レンズ３６の移動方向がＺ軸方
向及びＹ軸方向となる。

【００５９】この集光レンズ３６をＺ軸方向及びＹ軸方
向に移動させることにより、レーザ出力モニター用光検
出器１８の受光面上の光スポットを移動させて、レーザ
出力モニター用光検出器１８に入射する光ビームＬの光
量を調整する。

【００６０】図７は、本発明の光ピックアップ装置の第
６実施形態を示す斜視図である。尚、図７においては、
図１の装置における半導体レーザ１１、偏光ビームスプ
リッタ１２、光量調整器１７としての集光レンズ３７、
レーザ出力モニター用光検出器１８、及びウォラストン
プリズム２１のみを抽出し、他の各部品を省略して示し
ている。

【００６１】本実施形態では、レーザ出力モニター用光
検出器１８の受光面に光ビームＬを集光させて光スポッ
トを形成する集光レンズ３７を本体筐体２４に設け、こ
の集光レンズ３７を光ビームＬの光軸方向（矢印Ｅで示
す方向）に移動可能に支持している。

【００６２】この集光レンズ３６を光ビームＬの光軸方
向に移動させることにより、レーザ出力モニター用光検
出器１８の受光面上の光スポットの大きさを変更して、
レーザ出力モニター用光検出器１８に入射する光ビーム
Ｌの光量を調整する。

【００６３】図８は、本発明の光ピックアップ装置の第
７実施形態を示す斜視図である。

【００６４】本実施形態では、図１の装置における半導
体レーザ１１の代わりに、相互に異なる各波長の光ビー
ムＬ1，Ｌ2をそれぞれ出射する各半導体レーザ１１Ａ，
１１Ｂを適用し、光量調整器１７として、各波長の光ビ
ームＬ1，Ｌ2をそれぞれ選択的に遮る各波長選択フィル
ター４１，４２を設けている。各波長の光ビームＬ1，
Ｌ2は、例えばＣＤ用のものとＤＶＤ用のものであり、
ＣＤが選択されたときに光ビームＬ1が半導体レーザ１
１Ａより出射され、またＤＶＤが選択されたときに光ビ
ームＬ2が半導体レーザ１１Ｂより出射される。レーザ
出力モニター用光検出器１８は、各光ビームＬ1，Ｌ2の
いずれの強度をも検出する。

【００６５】各波長選択フィルター４１，４２は、本体
筐体２４に移動可能に支持されている。一方の波長選択
フィルター４１を移動させることにより、この波長選択
フィルター４１により遮られるＣＤ用の光ビームＬ1の
割合を調整し、レーザ出力モニター用光検出器１８に入
射する光ビームＬ1の光量を調整する。同様に、他方の
波長選択フィルター４２を移動させることにより、この
波長選択フィルター４２により遮られるＤＶＤ用の光ビ
ームＬ2の割合を調整し、レーザ出力モニター用光検出
器１８に入射する光ビームＬ2の光量を調整する。

【００６６】図９は、本発明の光ピックアップ装置の第
８実施形態を示す斜視図である。

【００６７】本実施形態では、図１の装置における半導
体レーザ１１の代わりに、相互に異なる各波長の光ビー
ムＬ1，Ｌ2をそれぞれ出射する各半導体レーザ１１Ａ，
１１Ｂを適用し、光量調整器１７として、遮光フィルタ
ー４３を設けている。相互に異なる各波長の光ビームＬ
1，Ｌ2は、例えばＣＤ用のものとＤＶＤ用のものであ
り、一方の光ビームが各半導体レーザ１１Ａ，１１Ｂの
いずれかより選択的に出射される。レーザ出力モニター
用光検出器１８は、各光ビームＬ1，Ｌ2のいずれの強度
をも検出する。

【００６８】遮光フィルター４３は、図１０に示す様に
各波長の光ビームＬ1，Ｌ2をそれぞれ選択的に遮る各波
長選択領域４３ａ，４３ｂを有する。遮光フィルター４
３は、本体筐体２４に移動可能に支持されており、この
遮光フィルター４３を移動させることにより、一方の波
長選択領域４３ａにより遮られるＣＤ用の光ビームＬ1
の割合を調整すると共に、他方の波長選択領域４３ａに
より遮られるＤＶＤ用の光ビームＬ2の割合を調整し、
レーザ出力モニター用光検出器１８に入射する各光ビー
ムＬ1，Ｌ2の光量を調整する。

【００６９】遮光フィルター４３の各波長選択領域４３
ａ，４３ｂの占有面積の割合や、各波長選択領域４３
ａ，４３ｂの形状等は、各波長の光ビームの光量の調整
が容易になる様に設定することが望ましい。

【００７０】尚、本発明は、上記各実施形態に限定され
るものではなく、多様に変形することができる。例え
ば、該各実施形態を適宜に組み合わせても構わない。ま
た、本発明は、光ピックアップ装置だけではなく、本発
明の光ピックアップ装置を搭載した電子機器を含む。

【００７１】

【発明の効果】以上説明した様に本発明によれば、光量
調整手段を格別に設けており、この光量調整手段により
受光素子に入射する光ビームの光量を調整している。こ
のため、受光素子の位置を調整せずとも、受光素子に入
射する光ビームの光量を調整することができ、受光素子
の位置の調整のために、多くの手間や長い時間を費やす
必要がなく、光ピックアップ装置のコストを低減するこ
とができる。

【００７２】また、本発明によれば、光量調整手段とし
て、光ビームの一部を遮光する移動可能な遮光板を用い
ている。この遮光板を光ビームの光軸に対して傾斜させ
ているため、この遮光板で反射された光ビームが該光ビ
ームの光路に戻って迷光になることはない。

【００７３】更に、本発明によれば、遮光板の表面に反
射防止加工を施しているので、遮光板での光ビームの反
射率が低減され、この反射された光ビームが迷光になる
ことをより確実に防止することができる。

【００７４】また、本発明によれば、光量調整手段とし
て、液晶板を用いており、この液晶板の透過光量を調整
することにより、受光素子に入射する光ビームの光量を
調整している。

【００７５】更に、本発明によれば、光量調整手段とし
て、移動可能なガラス板を用いており、このガラス板を
回転させたりスライドさせることにより、光ビームの経
路を変更し、受光素子に入射する光ビームの光量を調整
している。

【００７６】また、本発明によれば、光量調整手段とし
て、移動可能な反射ミラーを用いており、この反射ミラ
ーを回転させ、この反射ミラーでの光ビームの反射角を
変更することにより、受光素子に入射する光ビームの光
量を調整している。

【００７７】更に、本発明によれば、光量調整手段は、
光ビームの強度分布に応じた方向で遮光している。例え
ば、光源からの光ビームの強度が楕円エリアで高くなる
という強度分布である場合は、この楕円エリアの長軸方
向に関して、光量調整手段により受光素子に入射する光
ビームの光量を調整している。これにより、光量の調整
範囲が広くなり、光量の調整が容易になる。

【００７８】また、本発明によれば、光量調整手段とし
て、移動可能な集光レンズを用いており、この集光レン
ズを移動させて、受光素子の受光面の光スポットを変更
することにより、受光素子に入射する光ビームの光量を
調整している。

【００７９】更に、本発明によれば、集光レンズを光ビ
ームの光軸方向に移動させることにより、受光素子の受
光面の光スポットの大きさを変更している。

【００８０】また、本発明によれば、集光レンズを光ビ
ームの光軸と直交する方向に移動させることにより、受
光素子の受光面の光スポットの位置を変更している。

【００８１】更に、本発明によれば、光量調整手段とし
て、各波長の光ビームに対応するそれぞれの波長選択フ
ィルターを用いており、各波長選択フィルターにより、
光源から出射されて受光素子へと入射する各波長の光ビ
ームの光量をそれぞれ調整している。

【００８２】また、本発明によれば、光量調整手段とし
て、各波長の光ビームに対応するそれぞれの波長選択領
域を有するものを用いており、光量調整手段の各波長選
択領域により、光源から出射されて受光素子へと入射す
る各波長の光ビームの光量をそれぞれ調整している。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ピックアップ装置を概念的に示す斜
視図である。

【図２】本発明の光ピックアップ装置の第１実施形態を
示す斜視図である。

【図３】本発明の光ピックアップ装置の第２実施形態を
示す斜視図である。

【図４】本発明の光ピックアップ装置の第３実施形態を
示す斜視図である。

【図５】本発明の光ピックアップ装置の第４実施形態を
示す斜視図である。

【図６】本発明の光ピックアップ装置の第５実施形態を
示す斜視図である。

【図７】本発明の光ピックアップ装置の第６実施形態を
示す斜視図である。

【図８】本発明の光ピックアップ装置の第７実施形態を
示す斜視図である。

【図９】本発明の光ピックアップ装置の第８実施形態を
示す斜視図である。

【図１０】図９の装置における遮光フィルターを示す斜
視図である。

【図１１】従来の光ピックアップ装置を概略的に示す斜
視図である。

【図１２】図１１の装置における半導体レーザを概略的
に示す側面図である。

【図１３】半導体レーザからの光ビームの強度分布を説
明するために用いた図である。

【符号の説明】

１１ 半導体レーザ １２ 偏光ビームスプリッタ １３ コリメートレンズ １４ 反射ミラー １５ 対物レンズ １６ 光学的記録媒体 １７ 光量調整器 １８ レーザ出力モニター用光検出器 １９ ＡＰＣ回路 ２１ ウォラストンプリズム ２２，３６，３７ 集光レンズ ２３ 光検出器 ２４ 筐体 ３１ 遮光板 ３２ 液晶板 ３３ 印加電圧制御部 ３４ ガラス板 ３５ 反射ミラー ４１，４２ 波長選択フィルター ４３ 遮光フィルター

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Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを予め設定された光路を通じて
   記録媒体へと出射する光源と、この光ビームを該光路外
   へと分岐させる分岐光学手段と、分岐光学手段により分
   岐された光ビームを検出する受光素子とを備える光ピッ
   クアップ装置において、 分岐光学手段と受光素子間に配置され、受光素子に入射
   する光ビームの光量を調整するための光量調整手段を備
   えることを特徴とする光ピックアップ装置。
2. 【請求項２】 光量調整手段は、光ビームの光軸に対し
   て傾斜した状態で、該光ビームの一部を遮光する移動可
   能な遮光板であることを特徴とする請求項１に記載の光
   ピックアップ装置。
3. 【請求項３】 遮光板の表面に反射防止加工を施したこ
   とを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】 光量調整手段は、液晶板であることを特
   徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
5. 【請求項５】 光量調整手段は、移動可能なガラス板で
   あることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ
   装置。
6. 【請求項６】 光量調整手段は、移動可能な反射ミラー
   であることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアッ
   プ装置。
7. 【請求項７】 光量調整手段は、光ビームの強度分布に
   応じた方向で遮光することを特徴とする請求項１に記載
   の光ピックアップ装置。
8. 【請求項８】 光量調整手段は、移動可能な集光レンズ
   であることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアッ
   プ装置。
9. 【請求項９】 集光レンズの移動方向は、光ビームの光
   軸方向であることを特徴とする請求項８に記載の光ピッ
   クアップ装置。
10. 【請求項１０】 集光レンズの移動方向は、光ビームの
    光軸と直交する方向であることを特徴とする請求項８に
    記載の光ピックアップ装置。
11. 【請求項１１】 光源は、相互に異なる各波長の光ビー
    ムを出射し、 光量調整手段は、各波長の光ビームに対応するそれぞれ
    の波長選択フィルターであることを特徴とする請求項１
    に記載の光ピックアップ装置。
12. 【請求項１２】 光源は、相互に異なる各波長の光ビー
    ムを出射し、 光量調整手段は、各波長の光ビームに対応するそれぞれ
    の波長選択領域を有するフィルターであることを特徴と
    する請求項１に記載の光ピックアップ装置。
13. 【請求項１３】 請求項１乃至１２のいずれかに記載の
    光ピックアップ装置を備えることを特徴とする電子機
    器。