JP3619371B2

JP3619371B2 - 光ピックアップ装置及びそのチルト検出方法

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Publication number: JP3619371B2
Application number: JP24501398A
Authority: JP
Inventors: 秀明平井; 博小出; 洋秋山
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1998-08-31
Filing date: 1998-08-31
Publication date: 2005-02-09
Anticipated expiration: 2018-08-31
Also published as: JP2000076679A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ピックアップ装置及びそのチルト検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクに代表される光記憶媒体には記憶容量の大容量化が強く要請されている。光記憶媒体自体を大きくすることなく記憶容量を増大させるためには、情報の記録・再生における光スポット径を小径化させる必要がある。光スポット径は対物レンズの開口数ＮＡに反比例するため、記憶容量はＮＡの自乗に比例することとなる。このため、光ピックアップ装置では高ＮＡ化が追求されており、ＮＡ＝０．５で記録・再生を行なっている従来の光ディスク（ＣＤ−ＲＷ＝ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅｗｒｉｔａｂｌｅ）に対して、ＮＡ＝０．６で記録・再生を行なう光ディスク（ＤＶＤ＝ＤｉｇｉｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｋ）が出現している。
【０００３】
ところで、光ピックアップ装置において、光源からの光束は光記憶媒体の透明基板を介して光ディスクの記録面上に光スポットとして集光するが、光スポット形状はディスク基板の傾きにより発生するコマ収差により劣化する。このコマ収差はＮＡの３乗に比例する。ちなみに、上述したＣＤ−ＲＷタイプの光ディスクでのＮＡ＝０．５に対して、ＤＶＤタイプの光ディスクではＮＡ＝０．６と大きく設定されているため、ＤＶＤタイプではコマ収差の影響を抑えるために基板厚をＣＤタイプの１／２に薄くしているが、容量増加による種々のマージン（デフォーカス、制御誤差など）が減少しているため、ディスク基板の傾きも許容量が厳しくなる。このようなディスク基板の傾きに対して光ピックアップの対物レンズを常に垂直に向き合せて最良のＲＦ信号を得るためには、チルトサーボをかける必要がある。このチルトサーボをかけるには、ディスク基板の傾きを検出するチルトセンサが必要となる。
【０００４】
ここで、従来、用いられているチルトセンサ例を図１３を参照して説明する。このチルトセンサ例では、光ディスク１００の記録面に向き合わせて配設した１個のＬＥＤ１０１と２分割構造のフォトディテクタ１０２と減算器１０３との組合せで構成されている。ＬＥＤ１０１から光ディスク１００の記録面に向けてＬＥＤ光を照射するとともに、その反射光をフォトディテクタ１０２で受光し、その２分割領域からの各々の受光信号の差分を減算器１０３で求めることで、得られた差分信号を光ディスク１００の傾きを示すチルトエラー信号として出力させるものである。
【０００５】
ところが、図１３に示すチルトセンサ例の場合、光ピックアップ装置とは全く別個に構成されるため、設置スペースをとり、光ディスク装置全体の小型化に支障を来たし、かつ、コストアップを招くものとなっている。また、ＬＥＤ１０１の光軸は光ピックアップ装置のレーザ光の光軸と正確に平行となるように取付ける必要があり、組立て時の調整作業に手間がかかる、という問題もある。さらに、対物レンズとは離れているので、光ディスク１００と対物レンズとの相対チルトを検出するという意味では精度が悪いものである。さらに、対物レンズは、一般に、フォーカシングやトラッキングによってチルトが変動するが、このような場合の対物レンズのチルトは検出できない。
【０００６】
このような不具合を解決した光ピックアップ装置として、例えば、特開平９−１４７３９５号公報に示されるものがある。この光ピックアップ装置例を図１４及び図１５を参照して説明する。まず、光ピックアップ装置は、光源であるレーザダイオード１１０と、このレーザダイオード１１０からの光をそのまま透過して光ディスク１１１に導くとともに、光ディスク１１１からの反射光を偏光面で反射させて４分割構造のフォトディテクタ１１２に導く偏光ビームスプリッタ１１３と、レーザダイオード１１０からの出射光を平行光にするコリメータレンズ１１４と、透過する光の振動面を１／４波長だけ回転させる１／４波長板１１５と、１／４波長板１１５から入射した平行光を０次光（非回折光）と１次光とに分光するホログラム素子１１６と、このホログラム素子１１６と一体に構成され、かつ、基板の厚さに対応した複数の焦点を持つ対物レンズ１１７（対物レンズ１１７とホログラム素子１１６とを組合せて多焦点レンズ１１８とする）と、フォトディテクタ１１２の前に配設された非点収差手段としてのマルチレンズ１１９とにより構成されている。多焦点レンズ１１８によって分光された複数の光線束の内、光ディスク１１１の記録面に焦点を結ばれた光線束Ｌ０（又は、Ｌ１）の反射光をマルチレンズ１１９を介してフォトディテクタ１１２で受光し、その受光信号を記録情報の再生信号として読み出すことを基本とする。
【０００７】
このような基本構成に加えて、図１５に示すように、フォトディテクタ１１２の半径方向における左右両側に２つの受光素子１２１，１２２を配設し、これらの受光素子１２１，１２２の出力信号の差分を減算器１２３で求めることで、チルトエラー信号として出力させるものである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、図１４及び図１５に示すチルト検出方式による場合、記録動作時にはレーザダイオード１１０からのレーザ光が変調されているので、安定したチルト信号を得ることができない。また、チルト検出用に新たな受光素子１２１，１２２を必要としており、構成が煩雑化するとともに、低コスト化、小型化に支障を来す。
【０００９】
さらには、トラッキング時に理想光軸と対物レンズの光軸との間に光軸ずれがあると、チルト信号に光軸ずれに伴うオフセットを生ずるが、そのオフセット量が光軸ずれによるものか、チルトによるものか判別できないため、光軸ずれが大きい光学系の場合には、光軸ずれ検出用部材を設ける等の対策が必要となる。
【００１０】
そこで、本発明は、基本的には、チルト検出用部材を新規に設けることなく、かつ、記録・再生動作に関わらず常にチルトを検出できる光ピックアップ装置及びチルト検出方法を提供することを目的とする。
【００１１】
また、本発明は、光軸ずれによるオフセットの影響を受けることなく精度よくチルトを検出できる光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、複数の光源と、これらの光源からの光を光ディスク上に集光照射させる対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する１つの受光素子とを備え、記録又は再生時に、前記複数の光源の内で記録又は再生に用いていない光源を前記光ディスクと前記対物レンズとの相対的チルトを検出するための光源として用いる光ピックアップ装置において、フォーカス又はトラッキングエラー信号から、前記相対的チルトを検出するための前記光源からの光によるオフセット成分を補正除去するための差動アンプを備える。
【００１３】
光ディスクの大容量化に伴い、再生又は記録に用いられる光源波長は、より短波長化されている。例えば、ＤＶＤ−ＲＯＭの場合には６５０ｎｍ、ＤＶＤ−Ｒの場合には６３５ｎｍなどとされている。一方、従来の光ディスク中には再生又は記録に強い波長依存性を持つもの、例えば、ＣＤ−Ｒ（＝Ｒｅｃｏｄａｂｌｅ）の場合の７８５ｎｍなどの例がある。何れにしても、光ディスクとしては、当面、ＣＤ系とＤＶＤ系とが共存することになるが、上述の波長依存性を考慮すると、ＣＤ系とＤＶＤ系とを１つの光ディスクドライブ装置で再生又は記録するためには、異なる波長を持つ２つの光源を併有することが必要となる。このようなことから、近年、ＤＶＤ用ドライブ装置では、ＤＶＤタイプの光ディスクに対する記録・再生機能はもちろん、ＣＤ−Ｒタイプの光ディスクに対する再生機能を併せ持つものが一般的かつ主流となっており、そのために、光ピックアップ装置は、光源としてＤＶＤ再生用のレーザダイオードとＣＤ−Ｒ再生用のレーザダイオードとを併有するタイプが多くなっている。
【００１７】
このような前提に基づき、本発明は、基本的には、複数の光源を備えた光ピックアップ装置において、記録又は再生時に、その記録又は再生に用いていない方の光源をチルト検出用光源として利用することで、記録又は再生に用いられる本来の対物レンズを共用してチルト検出を行なえるので、チルト検出用部材を新規に設けることなく精度よくチルトを検出できる上に、記録・再生動作に関わらず常にリアルタイムでチルト検出を行うことができる。本発明においては、複数の光源が波長の異なることを基本としており、或る光源を用いて記録又は再生動作を行なっているとき、チルト検出用に用いる光源の光は光ディスクに対して合焦状態からずれた焦点ぼけ状態にあるが、記録又は再生用の光源側では常に焦点合せを行なっているので、チルト検出用の光源側の焦点ずれ量は常に一定となっており、安定した焦点ぼけ状態にある。よって、焦点ぼけしていても安定した精度の高いチルト検出が可能となる。また、光ディスクの記録面からの反射光に基づき得られるフォーカス又はトラッキングエラー信号に生ずる、チルト検出光に起因するオフセットを、検出されたチルトデータに基づき補正することで、正確なフォーカス又はトラッキングエラー信号を得ることができ、適正なフォーカス又はトラッキング制御を行なわせることができる。
【００１８】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の光ピックアップ装置において、前記光ディスクが複数種類であり、その基板厚が異なる。
【００１９】
従って、特に異なる波長の複数の光源に対応する、基板厚の異なる複数種類の光ディスクについてもチルト検出が可能となる。
【００２０】
請求項３記載の発明の光ピックアップ装置は、請求項１又は２記載の光ピックアップ装置において、チルト検出に用いる光源の光を光ディスク上に集光照射させる対物レンズと、トラッキング時に理想光軸と前記対物レンズの光軸との光軸ずれのない対物レンズアクチュエータと、を備える。
【００２１】
従って、チルト信号に光軸ずれに起因する信号が重畳されないため、光軸ずれ検出用部材を設けことなく、高精度にチルトを検出できる。
【００２６】
請求項４記載の発明のチルト検出方法は、複数の光源の何れかを光ディスクと対物レンズとの相対的チルトを検出するための光源として用い、前記光ディスクからの反射光を受光する１つの受光素子を有し、記録又は再生時に、前記複数の光源の内で記録又は再生に用いていない光源を前記光ディスクと前記対物レンズとの相対的チルトを検出するための光源として用いるチルト検出方法において、チルト検出動作時に一定周波数の信号成分を持つチルト検出光によって発生するフォーカス又はトラッキングエラー信号のオフセット成分を、検出したチルトデータに基づき補正するようにした。
従って、光ディスクの記録面からの反射光に基づき得られるフォーカス又はトラッキングエラー信号に生ずる、チルト検出光に起因するオフセットを、検出されたチルトデータに基づき補正することで、正確なフォーカス又はトラッキングエラー信号を得ることができ、適正なフォーカス又はトラッキング制御を行なわせることができる。
請求項５記載の発明は、請求項４記載のチルト検出方法において、チルト検出時にはチルト検出用の前記光源から一定周波数の交流信号成分を持つ光を出射させるようにした。
【００２７】
従って、複数の光源による反射光を同一の受光素子で検出するような光学系構成においても、チルト検出用の受光素子を新たに設けることなく、受光素子を共通化させることができ、小型・低コスト化を図れる構成の下にチルト検出を行なえる。
【００２８】
請求項６記載の発明は、請求項４記載のチルト検出方法において、チルト検出時にはチルト検出用の前記光源から一定周波数のパルス信号成分を持つ光を出射させるようにした。
【００２９】
従って、請求項５記載の発明と同様であり、一定周波数の信号成分は正弦波的な交流波形に限らず、一定周波数（一定周期）のパルス信号成分を用いた駆動でもチルト検出が可能となる。
【００３０】
請求項８記載の発明は、請求項４ないし７の何れか一に記載のチルト検出方法において、信号成分の一定周波数として、フォーカス・トラッキングサーボ系が応答しない制御帯域外であって、記録信号の周波数成分がない或いはその周波数成分が十分小さい周波数、或いは、再生信号ジッタ増への影響がない或いは少ない周波数、又は、光ディスク上に形成された情報に基づき発生する各種信号の周波数成分がない或いはその周波数成分が十分小さい周波数を選定した。
【００３１】
従って、サーボ制御や記録・再生動作に支障ない一定周波数に選定されているので、リアルタイムでのチルト検出動作を支障なく行なわせることができる。
【００３２】
請求項９記載の発明は、請求項４ないし８の何れか一に記載のチルト検出方法において、チルト検出演算に、直流成分を除いた一定周波数成分のみを用いるようにした。
【００３３】
従って、請求項７記載の発明の場合と同様に、リアルタイムでのチルト検出動作を支障なく行なわせることができる。
【００３４】
請求項７記載の発明は、請求項５記載のチルト検出方法において、チルト検出動作の開始時にはチルト検出用の前記光源を徐々に出射光の強度が強くなり、かつ、一定の振幅に向けて徐々に振幅が大きくなるように立上げ、チルト検出動作の終了時にはチルト検出用の前記光源を徐々に出射光の強度が弱くなり、かつ、一定の振幅から徐々に振幅が小さくなるように立下げるようにした。
【００３５】
従って、複数の光源が１つのパッケージに収められた場合のように、複数の光源が近接配置された状況下にあっても、熱的影響に伴う光源の劣化を防止できる。
【００３６】
請求項１０記載の発明は、請求項４ないし９の何れか一に記載のチルト検出方法において、チルト検出動作を間欠的に行なうようにした。
【００３７】
従って、請求項９の場合と同様に、複数の光源が１つのパッケージに収められた場合のように、複数の光源が近接配置された状況下にあっても、その立上げ時や立下げ時に生ずるサーボ信号及び再生信号への影響（ノイズ）を軽減させることができる。
【００３８】
請求項１１記載の発明は、請求項４ないし１０の何れか一に記載のチルト検出方法において、チルト検出動作が追従しない動作モード時には、それ以前のチルト検出動作により検出したチルトデータを用いるようにした。
【００３９】
従って、チルト検出動作が追従しない動作モード時、例えば、シーク動作時にはチルトの影響が少ないので、ドライブ初期に検出したチルトデータを用いることで、適正なチルト補正を行なえる。
【００４２】
請求項１２記載の発明は、請求項４ないし１１の何れか一に記載のチルト検出方法において、チルト検出用の前記光源をオフさせた状態でＳ字状のフォーカス又はトラッキングエラー信号の特定位置のレベルａを検出し、その後、チルト検出用の前記光源を一定周波数の信号成分を重畳して駆動した状態でほぼ同一エリアのＳ字状のフォーカス又はトラッキングエラー信号の前記特定位置のレベルｂを検出し、これらのレベルａ，ｂの差分ａ−ｂを算出するとともに、このときのチルト検出信号の平均直流信号ｃを検出し、ゲインが（ａ−ｂ）／ｃに設定されたゲイン調整回路に前記平均直流信号ｃを入力させ、前記差分ａ−ｂと等しくされた前記ゲイン調整回路の出力によりフォーカス又はトラッキングエラー信号のオフセット成分を補正するようにした。
【００４３】
従って、請求項４記載の発明の場合と同様であり、オフセット成分の具体的な補正方法が明らかとされる。
【００４４】
【発明の実施の形態】
本発明の第一の参考構成例を図１ないし図３に基づいて説明する。まず、本参考構成例の前提となる背景技術について説明する。前述したように、近年、光ディスクの大容量化に伴い、再生又は記録に用いられる光源波長は、より短波長化されている。例えば、ＤＶＤ−ＲＯＭの場合には６５０ｎｍ、ＤＶＤ−Ｒの場合には６３５ｎｍなどとされている。一方、従来の光ディスク中には再生又は記録に強い波長依存性を持つもの、例えば、ＣＤ−Ｒの場合の７８５ｎｍなどの例がある。何れにしても、光ディスクとしては、当面、ＣＤ系とＤＶＤ系とが共存することになるが、上述の波長依存性を考慮すると、ＣＤ系とＤＶＤ系とを１つの光ディスクドライブ装置で再生又は記録するためには、異なる波長を持つ２つの光源を併有することが必要となる。
【００４５】
図１は、このような２つの光源を併有し本参考構成例で用いる光ピックアップ例を示す光学系構成図である。その概要を説明すると、波長６３５ｎｍのレーザ光を発する光源である半導体レーザ１ａと、波長７８０ｎｍのレーザ光を発する光源である半導体レーザ１ｂとが設けられている。半導体レーザ１ａから出射された光はビームスプリッタ２を透過し、さらに２波長合成プリズム３を透過し、カップリングレンズ４により略平行光とされた後、対物レンズ５でＤＶＤ系の光ディスク６ａの記録面上に微小スポットとして集光照射され、情報の記録又は再生に用いられる。光ディスク６ａで反射された光は、対物レンズ５で再び略平行光とされ、かつ、カップリングレンズ４により収束光とされ、２波長合成プリズム３を透過した後、ビームスプリッタ２の偏光面で反射されて、シリンドリカルレンズ７により非点収差を与えられて、情報信号、及び、トラッキングエラー、フォーカスエラーのサーボ信号検出用の２分割構造の受光素子８ａに入射される。
【００４６】
一方、半導体レーザ１ｂから出射された光はビームスプリッタ９を透過し、さらに２波長合成プリズム３で反射された後、波長６３５ｎｍの半導体レーザ１ａからのレーザ光と同一の光路を通って、対物レンズ５によりＣＤ系の光ディスク６ｂの記録面上に微小スポットとして集光照射され、情報の記録又は再生に用いられる。光ディスク６ｂで反射された光は、対物レンズ５で再び略平行光とされ、かつ、カップリングレンズ４により収束光とされ、２波長合成プリズム３で反射された後、ビームスプリッタ２の偏光面で反射されて、シリンドリカルレンズ１０により非点収差を与えられて、情報信号、及び、トラッキングエラー、フォーカスエラーのサーボ信号検出用の２分割構造の受光素子８ｂに入射される。
【００４７】
ここに、ＤＶＤ系の光ディスク６ａとＣＤ系の光ディスク６ｂとは、半導体レーザ１ａ，１ｂの波長の違いに対応させて、その基板厚が異なるものとされている。
【００４８】
このような基本的な構成の下、本参考構成例では、複数の半導体レーザ１ａ，１ｂの内の何れかの半導体レーザ１を光ディスク６（６ａ又は６ｂ）と対物レンズ５との相対的チルトを検出するための光源として用いるようにしたものである。
【００４９】
このようなチルト検出の原理を図２及び図３を参照して説明する。これらの図２及び図３は、何れも、原理を説明するための図（受光素子に関しては、側面図及び平面図を併せて図示してある）であり、光学的に厳密な光線軌跡として示しておらず、受光素子８（８ａ又は８ｂ）に至る途中の光学部品も図示を省略してある。
【００５０】
まず、図２は複数の半導体レーザ１ａ，１ｂの何れか一方の半導体レーザ１において、光ディスク６（６ａ又は６ｂ）の記録面で合焦していないレーザ光を用いて光ディスク６に照射している場合を示している。図２（ｂ）に示すように対物レンズ５と光ディスク６との間に相対的なチルトが発生すると、受光素子８面に入射するレーザ光の位置が変化する。２分割された受光素子８の一方の出力Ｐａと他方の出力Ｐｂとの差Ｐａ−Ｐｂをとると、図２（ａ）に示すようにチルトがないときには差Ｐａ−Ｐｂ＝０となるが、図２（ｂ）に示すようにチルトがあると、一方の出力Ｐａが増し他方の出力Ｐｂが減り、差Ｐａ−Ｐｂとしては、チルト量に応じた信号が出るので、チルト検出が可能となる。
【００５１】
一方、図３は複数の半導体レーザ１ａ，１ｂの何れか一方の半導体レーザ１において、光ディスク６（６ａ又は６ｂ）の記録面で合焦するレーザ光を用いて光ディスク６に照射している場合を示している。図３（ｂ）に示すように対物レンズ５と光ディスク６との間に相対的なチルトが発生すると、図２で説明した場合と同様に、受光素子８面に入射するレーザ光の位置が変化する。図３（ａ）に示すようにチルトがないときには差Ｐａ−Ｐｂ＝０となるが、図３（ｂ）に示すようにチルトがあると、一方の出力Ｐａが増し他方の出力Ｐｂが減り、差Ｐａ−Ｐｂとしては、チルト量に応じた信号が出るので、チルト検出が可能となる。
【００５２】
このように、本参考構成例によれば、半導体レーザ１ａ，１ｂの内の何れか一方の半導体レーザをチルト検出用光源として利用することで、記録又は再生に用いられる本来の対物レンズ５を共用してチルト検出を行なえるので、基本的に、チルト検出用部材を新規に設けることなく精度よくチルトを検出することができる。特に、記録又は再生動作に用いていない方の半導体レーザ１ａ又は１ｂを用いれば、記録・再生動作に関わらず常にチルト検出を行なわせることも可能となる。この場合、図２及び図３で説明したように、チルト検出用に用いる半導体レーザ１ａ又は１ｂからの光は、光ディスク６に対して合焦状態にあっても、合焦状態から若干ずれていても、チルト検出動作には特に支障はない。
【００５３】
本発明の第二の参考構成例を図４及び図５に基づいて説明する。第一の参考構成例で示した部分と同一部分は同一符号を用いて示し、説明も省略する（以降の参考構成例や各実施の形態でも同様とする）。まず、図４はDVD系の光ディスク６ａに対する記録又は再生時のチルト検出の原理を示す図である。このとき、波長６３５ｎｍのＤＶＤ用の半導体レーザ１ａからのレーザ光Ｌａは光ディスク６ａの記録面上で合焦している。一方、波長７８０ｎｍのＣＤ用の半導体レーザ１ｂからのレーザ光Ｌｂは光ディスク６ａの記録面上で合焦していない。この半導体レーザ１ｂをチルト検出用の光源として用いる。
【００５４】
図４（ｂ）は、対物レンズ５と光ディスク６ａとの間に相対的なチルトが発生している場合に、この光ディスク６ａ上に記録又は再生に用いない方の半導体レーザ１ｂからのレーザ光を照射すると、受光素子８ｂ面に入射するレーザ光Ｌｂの位置が変化することを示している。図４（ａ）に示すようにチルトがないときには受光素子８ｂにおける差Ｐａ−Ｐｂ＝０となるが、図４（ｂ）に示すようにチルトがあると、一方の出力Ｐａが増し他方の出力Ｐｂが減り、差Ｐａ−Ｐｂとしては、チルト量に応じた信号が出るので、チルト検出が可能となる。
【００５５】
一方、図５はＣＤ系の光ディスク６ｂに対する記録又は再生時のチルト検出の原理を示す図である。このとき、波長７８０ｎｍのＣＤ用の半導体レーザ１ｂからのレーザ光Ｌｂは光ディスク６ｂの記録面上で合焦している。一方、波長６３５ｎｍのＤＶＤ用の半導体レーザ１ａからのレーザ光Ｌａは光ディスク６ｂの記録面上で合焦していない。この半導体レーザ１ａをチルト検出用の光源として用いる。
【００５６】
図５（ｂ）は、対物レンズ５と光ディスク６ｂとの間に相対的なチルトが発生している場合に、この光ディスク６ｂ上に記録又は再生に用いない方の半導体レーザ１ａからのレーザ光を照射すると、受光素子８ａ面に入射するレーザ光Ｌａの位置が変化することを示している。図５（ａ）に示すようにチルトがないときには受光素子８ａにおける差Ｐａ−Ｐｂ＝０となるが、図５（ｂ）に示すようにチルトがあると、一方の出力Ｐａが増し他方の出力Ｐｂが減り、差Ｐａ−Ｐｂとしては、チルト量に応じた信号が出るので、チルト検出が可能となる。
【００５７】
なお、これらの図４及び図５に示す例では、説明を簡単にするため、チルト検出用の受光素子８ｂ，８ａには、本来の記録・再生用のレーザ光Ｌａ，Ｌｂの光量が回り込んでいないものとする。
【００５８】
従って、本参考構成例によれば、基本的には、前述の第一の参考構成例の場合と同様に、複数の半導体レーザ１ａ，１ｂを備えた光ピックアップ装置において、記録又は再生時に、その記録又は再生に用いていない方の半導体レーザ１ｂ又は１ａをチルト検出用光源として利用することで、記録又は再生に用いられる本来の対物レンズ５を共用してチルト検出を行なえるので、チルト検出用部材を新規に設けることなく精度よくチルトを検出できる上に、記録・再生動作に関わらず常にリアルタイムでチルト検出を行うことができる。特に、一方の半導体レーザ１ａ又は１ｂを用いて記録又は再生動作を行なっているとき、チルト検出用に用いる他方の半導体レーザ１ｂ又は１ａのレーザ光Ｌｂ又はＬａは光ディスク６ａ又は６ｂに対して合焦状態からずれた焦点ぼけ状態にあるが、記録又は再生用の半導体レーザ１ａ又は１ｂ側では常に焦点合せを行なっているので、チルト検出用の半導体レーザ１ｂ又は１ａ側の焦点ずれ量は常に一定となっており、安定した焦点ぼけ状態にある。よって、焦点ぼけしていても安定した精度の高いチルト検出が可能となる。また、異なる波長の複数の半導体レーザ１ａ，１ｂに対応する、基板厚の異なる複数種類の光ディスク６ａ，６ｂについてもチルト検出が可能となる。さらに、光ディスク６ａからの反射光に基づき情報信号及びサーボ信号を検出する受光素子８ａと光ディスク６ｂからの反射光に基づきチルトを検出する受光素子８ａとが同一であり、光ディスク６ｂからの反射光に基づき情報信号及びサーボ信号を検出する受光素子８ｂと光ディスク６ａからの反射光に基づきチルトを検出する受光素子８ｂとが同一であるので、チルト検出に専用の受光素子を新たに設ける必要がないため、装置の小型化・低コスト化を図れる。
【００５９】
本発明の第三の参考構成例を図６に基づいて説明する。前述した第一、二の参考構成例は、光軸ずれ（トラッキング時に理想光軸と対物レンズ５の光軸とのずれ）がない場合について成立するものである。一般に、光軸ずれがあると、チルト信号に光軸ずれに伴うオフセットを生じて誤差が大きくなってしまう。即ち、光軸ずれのある光学系構成では、図６（ａ）に示すように、オフセット量Δが光軸ずれによるものか、チルトによるものか、判別できないため、光軸ずれの大きい光学系構成の場合には、光軸ずれ検出用部材を設けて光軸ずれ量を検出する等の対策が必要となる（図６（ａ）中、Ｌ０はチルト＝０、Ｌ１はチルト≠０、光軸ずれ≠０の場合の受光素子８上のスポット像を示す）。しかし、図６（ｂ）に示すように、光軸ずれのない光学系構成の場合には（図６（ｂ）中、Ｌ０はチルト＝０、光軸ずれ＝０、Ｌ１はチルト≠０、光軸ずれ＝０の場合の受光素子８上のスポット像を示す）、オフセット量Δはチルトのみで決まるため、精度よくチルト検出を行なえる。このため、本参考構成例では、特に図示しないが、トラッキング時に理想光軸と対物レンズ５の光軸との光軸ずれのない対物レンズアクチュエータを備えることで、光軸ずれのない光学系構成を実現している。
【００６０】
本発明の第四の参考構成例を図７ないし図１０に基づいて説明する。図７は本参考構成例に適用される光ピックアップ構成及びその信号処理系の構成を示す構成図である。基本的には、図１に示した光ピックアップ構成に準ずるが、本参考構成例では、受光素子８ａ，８ｂに代えて、半導体レーザ１ａ，１ｂに共用される１つの受光素子８のみを用いる構成とされている。
【００６１】
まず、半導体レーザ１ａから出射される波長６３５ｎｍのレーザ光は、２波長合成プリズム３を透過し、さらに、ビームスプリッタ１１を透過した後、カップリングレンズ４で略平行光とされ、対物レンズ５によりＤＶＤ系の光ディスク６ａの記録面上に微小スポットとして集光照射され、情報の記録又は再生に用いられる。光ディスク６ａで反射された光は、対物レンズ５で再び略平行光とされ、かつ、カップリングレンズ４により収束光とされ、ビームスプリッタ１１の偏光面で反射されて、シリンドリカルレンズ１２により非点収差を与えられて、情報信号、及び、トラッキングエラー、フォーカスエラーのサーボ信号検出用の２分割構造の受光素子８に入射される。
【００６２】
一方、半導体レーザ１ｂから出射される波長７８０ｎｍのレーザ光は、２波長合成プリズム３で反射され、さらに、ビームスプリッタ１１を透過した後、カップリングレンズ４で略平行光とされ、対物レンズ５によりＣＤ系の光ディスク６ｂの記録面上に微小スポットとして集光照射され、情報の記録又は再生に用いられる。光ディスク６ｂで反射された光は、対物レンズ５で再び略平行光とされ、かつ、カップリングレンズ４により収束光とされ、ビームスプリッタ１１の偏光面で反射されて、シリンドリカルレンズ１２により非点収差を与えられて、情報信号、及び、トラッキングエラー、フォーカスエラーのサーボ信号検出用の受光素子８に入射される。
【００６３】
ここに、本参考構成例では、２つの半導体レーザ１ａ，１ｂの何れか一方を用いて記録又は再生を行なうが、チルト検出用の受光素子８は、何れの半導体レーザ１ａ，１ｂを用いる場合でも常に共用する構成下でのチルト検出原理を明らかにするものである。図７においては、この処理のための回路構成が付加されている。まず、各々の半導体レーザ１ａ，１ｂには各々信号Ｂ，Ａに基づきこれらの半導体レーザ１ａ，１ｂを発光駆動させるためのドライバ回路１３，１４が接続されている。また、受光素子８の２分割領域からの出力に対しては各々信号検出アンプ１５，１６が接続されている。これらの信号検出アンプ１５，１６から出力される信号Ｃ，Ｄ間の差分をとる差動アンプ１７と、信号Ｃ，Ｄが各々入力される狭帯域通過型フィルタ（ＢＰＦ）１８，１９とが設けられている。これらのＢＰＦ１８，１９からの信号Ｆ，Ｇが入力される絶対値回路２０，２１が設けられている。これらの絶対値回路２０，２１から出力される信号Ｈ，Ｉ間の差分をとる差動アンプ２２が設けられ、その出力側に低域通過型フィルタＬＰＦ（或いは、ピークホールド回路）２３が接続されている。さらに、このＬＰＦ（或いは、ピークホールド回路）２３から出力される信号Ｋに関して、そのゲインを調整するゲイン調整回路２４が設けられている。このゲイン調整回路２４によりゲイン調整された信号Ｋは、補正後にオンするオフセット補正スイッチ２５を介して、差動アンプ１７からの信号Ｅとともに差動アンプ２６に入力されている。
【００６４】
図８はその検出動作を説明するためのタイムチャートである。ここでは、波長６３５ｎｍの半導体レーザ１ａを用いて光ディスク６ａ上のデータを再生し、波長７８０ｎｍの半導体レーザ１ｂをチルト検出用に用いる場合の例とする。まず、波長７８０ｎｍの半導体レーザ１ｂを７８０ｎｍＬＤ駆動信号（信号Ａ）で示すように一定周波数で変調し、一定周波数の交流信号成分を持つレーザ光を出射させるようにする。この場合の一定周波数としては、フォーカス・トラッキングサーボ系が応答しない制御帯域外であって、かつ、再生信号ジッタ増への影響の少ない周波数帯域内の周波数が選定される。図９はこのように選定されるチルト検出用周波数（一定周波数）を示すグラフである。なお、半導体レーザ１ａは再生用パワーで一定となるように駆動制御される。
【００６５】
このような駆動状態において、光ディスク６ａにチルトがあると、信号検出アンプ１５，１６からは図８中に示すように振幅差のある交流信号が信号Ｃ，Ｄのように検出出力される。ちなみに、ここでは説明を簡単にするため、光ディスク６ａ上にデータがない例で示している。このように、トラッキングエラーが殆どない場合でも、チルトがあれば、信号検出アンプ１５，１６から出力される信号Ｃ，Ｄには波長７８０ｎｍの半導体レーザ１ｂからのレーザ光に含まれている直流成分が重畳されていることとなる。そこで、これらの信号Ｃ，Ｄの差分をとる差動アンプ１７の出力信号Ｅとしては、チルトにほぼ比例した交流振幅が得られるとともに、図中に示すような信号オフセットを生ずる。
【００６６】
信号検出アンプ１５，１６からの信号は各々ＢＰＦ１８，１９（なお、リアルタイムで検出する時には、記録又は再生時の検出信号の周波数成分によって帯域を決定する。従って、記録再生方式によっては、検出するときの記録か再生かのモードによってフィルタそのもの、或いは、特性を切替える）を通すことにより、信号Ｆ，Ｇで示すように直流成分のなくなった一定周波数成分のみの信号となる。よって、これらのＢＰＦ１８，１９はトラッキングエラーがある場合の直流成分の発生を除去する機能も有する。これにより、信号Ｆ，Ｇの交流成分出力振幅差がチルトに比例した信号となる。このため、各々絶対値回路２０，２１を通して信号Ｈ，Ｉのような正の振幅みの信号とし、差動アンプ２２によりその差をとり、ＬＰＦ（或いは、ピークホールド回路）２３を通すことより、直流のチルトに比例した信号Ｋが得られる。なお、絶対値回路２０，２１に代えて、正値回路（交流信号の正の値のみを出力する回路）を用いてもよい。
【００６７】
なお、チルト検出用に用いる半導体レーザ１ｂ又は１ａを変調させる一定周波数は、記録時のリアルタイムでのチルト検出をも可能にする場合であれば、記録時の検出信号の周波数成分のない周波数帯域内、或いは、記録時の周波数成分より十分に小さい周波数（パルスによって拡大する周波数成分もある）を選定する必要がある（図９参照）。
【００６８】
また、一般に、光ディスク６ａ，６ｂ上には、照射するレーザ光がアクセスできるようにするため、或いは、ディスクへの記録再生周波数とディスク回転数を目標値にするための工夫がなされている。例えば、代表例として、図１０（ａ）に示すように、光ディスク６ａ，６ｂのトラック３１上にピット３２を形成し、アドレス信号として用いる方式や、図１０（ｂ）に示すようにトラック３３自身をウォブル（蛇行）させて形成し、そのウォブル周期を変えることによりアドレス情報を持たせるとともに、その中心周波数（キャリア）を回転モータを制御するための信号或いは記録信号の基本クロックを生成するための信号として用いるための情報を持たせる方式などがある。何れにしても、光ディスク６ａ，６ｂにレーザ光を照射することにより、光ディスク６ａ，６ｂに形成された情報に基づき発生する各種信号（アドレスのためのピット３２或いはウォブルしたトラック３３等によって発生する信号）の周波数成分のない周波数帯域内或いはその周波数成分が小さい周波数を、チルト用の交流周波数成分の一定周波数に選定することが、他への悪影響を軽減させる上で好ましい。
【００６９】
従って、本参考構成例によれば、光ピックアップ構成として、２つの半導体レーザ１ａ，１ｂに対して受光素子８が同一とされて共用化が図られているので、一層の小型化・低コスト化を図ることができる。また、記録・再生に用いていない方の半導体レーザからは一定周波数の交流信号成分を持つ光を出射させるようにしているので、記録・再生時にリアルタイムで支障なくチルト検出を行なえる。特に、チルト検出用の一定周波数が、フォーカス・トラッキングサーボ系が応答しない制御帯域外であって、記録信号の周波数成分がない或いはその周波数成分が十分小さい周波数、或いは、再生信号ジッタ増への影響がない或いは少ない周波数、又は、光ディスク６ａ又は６ｂ上に形成された情報に基づき発生する各種信号の周波数成分がない或いはその周波数成分が十分小さい周波数に選定されているので、リアルタイムでのチルト検出動作を支障なく行なわせることができる。
【００７０】
本発明の第五の参考構成例を図１１に基づいて説明する。本参考構成例は、基本的には、前述した第四の参考構成例のようなチルト検出方法に適用されるが、特に、波長の異なる２つの半導体レーザ１ａ，１ｂが１つのパッケージに収められているような光ピックアップ構成の場合に好適に適用される。即ち、２つ半導体レーザ１ａ，１ｂが近接配置されている場合の熱に伴うレーザの劣化を防止するために、チルト検出動作を間欠的に行なわせるものである。同時に、チルト検出用の半導体レーザ１ａ又は１ｂのオン・オフ制御に関しては、図１１に示すように、チルト検出動作の開始時にはチルト検出用の半導体レーザ１ａ又は１ｂを徐々に出射光の強度が強くなり、かつ、一定の振幅に向けて徐々に振幅が大きくなるように立上げる。その後、チルト検出動作の終了時にはチルト検出用の半導体レーザ１ａ又は１ｂを徐々に出射光の強度が弱くなり、かつ、一定の振幅から徐々に振幅が小さくなるように立下げる。
【００７１】
本参考構成例によれば、２つ半導体レーザ１ａ，１ｂが近接配置されている場合であっても、その熱に伴うレーザの劣化を防止することができる。また、立上げ時や立下げ時に生ずるサーボ信号や再生信号への影響（ノイズ）を軽減させることもできる。
【００７２】
また、チルト検出動作は、記録・再生時、待機時、シーク時などの動作モードのときには、常時、行なう必要はない。そこで、光ディスク６ａ又は６ｂの或るトラック上でチルトを検出したらそのチルトデータに従いチルト補正を行い、チルトがドライブの動作特性に影響しないトラック範囲では、同じチルトデータを用いてチルト補正させる。そして、チルトに影響される範囲を超えそうなときには、また、チルト検出動作を行い、新たなチルトデータを得てチルト補正させる。即ち、チルト検出動作が追従しない動作モード時には、それ以前のチルト検出動作により検出したチルトデータを用いてチルト補正を行なわせる。ここに、シーク時は光ピックアップが高速移動するが、チルトの影響度が少ない動作モードであるので、ドライブ初期に検出したチルトデータを用いるか、或いは、その後に更新されたチルトデータを用いればよい。なお、チルト補正方法については、シーク系全体を傾ける等の周知の方法を用いればよい。
【００７３】
本発明の第一の実施の形態を図７を参照して説明する。例えば、波長６３５ｎｍのレーザ光によるトラッキングエラー信号の検出を行なう場合（半導体レーザ１ａによる記録又は再生時）、差動アンプ１７の出力信号Ｅには、チルト検出用に用いられる波長７８０ｎｍのレーザ光によってオフセットが生ずるので、そのままトラッキングエラー信号としては使えない。つまり、チルトがなければ波長７８０ｎｍのレーザ光による差動アンプ１７の出力は出ないが、チルトがあると図８中の信号Ｅに示すような信号オフセットを生じ、特に、その直流成分が問題となる。そこで、本実施の形態では、チルト検出信号Ｋを用いてゲイン調整回路２４によりそのゲインを調整した後、差動アンプ１７の出力信号Ｅにおける波長７８０ｎｍのレーザ光よる直流成分を差動アンプ２６で除去することにより、チルト検出により発生するオフセット成分を補正除去したトラッキング信号Ｌを得るようにしたものである。
【００７４】
図７において、ゲイン調整回路２４は、上述したゲイン調整と、逆に波長７８０ｎｍのレーザ光によって光ディスク６ｂ上の情報の再生を行い、波長６３５ｎｍのレーザ光によりチルト検出を行なう場合には、チルト検出信号によってトラッキングエラー信号の直流補正分が異なる場合があるので、その調整のために利用される。また、ゲイン調整回路２４のゲインが調整されるまではオフセット補正スイッチ２５はオフさせておく。このゲインは、フォーカスオン後、チルト検出側のレーザ光はオフさせておき、少しシークさせて差動アンプ１７の信号Ｅ（或いは、最終トラッキングエラー信号Ｌ）のＳ字状のトラッキングエラー信号の平均直流オフセットのレベルａを検出し、その後、チルト検出用のレーザ光を図８中に示したように一定周波数の交流信号を重畳させた状態でオンさせて、ほぼ同一エリアをシークさせて差動アンプ１７の信号Ｅ（或いは、最終トラッキングエラー信号Ｌ）のＳ字状のトラッキングエラー信号の平均直流オフセットのレベルｂを検出する。そして、これらの平均直流オフセットのレベルａ，ｂの差分ａ−ｂを算出する。同時に、このシーク動作時に検出されたチルト検出信号の平均直流信号ｃと比較し、ゲイン調整回路２４の出力が差分ａ−ｂと等しくなるようなゲイン（ａ−ｂ）／ｃを設定する。このゲイン設定動作終了後、オフセット補正スイッチ２５をオンさせる。
【００７５】
なお、ここで説明したオフセット補正は、受光素子が波長６３５ｎｍ検出系と波長７８０ｎｍ検出系とで別個に設けられている場合には不要である。即ち、図７中に点線で示す構成部分（ゲイン調整回路２４、オフセット補正スイッチ２５及び差動アンプ２６）が不要となる。
【００７６】
また、フォーカスエラー信号検出用の受光素子８が波長６３５ｎｍ系検出用と波長７８０ｎｍ系検出用とで同一の場合（共用される場合）、例えば、波長６３５ｎｍのレーザ光でフォーカスエラー信号を検出しようとすると波長７８０ｎｍのレーザ光（チルト検出用のレーザ光）の影響によりフォーカスエラー信号にオフセットを生ずる。
【００７７】
このようなフォーカスエラー信号におけるオフセット成分も同様な方法により補正される。なお、図７においてはラジアルチルトを検出する構成とされているが、チルト検出用のレーザ光によってフォーカスエラー信号にオフセットが生ずる場合は、図７の場合と同様な回路を用いてオフセット補正を行なわせることができる。つまり、フォーカスエラー信号検出用の２分割或いは２個の受光素子出力に対して図７の場合と同様な回路を付加すればよい。ゲイン調整回路のゲインは、チルト検出用のレーザ光がオフしているときと、オンしているときとの間のフォーカスエラー信号のオフセットを検出することにより設定される。例えば、対物レンズ４を上下させることによって、フォーカスエラー信号のＳ字状を各々検出し、オン時とオフ時との間のオフセットを検出する。このような動作を光ディスク６ａ又は６ｂ上の数ヶ所で行なって、平均値を求め、（ａ−ｂ）に相当する値を検出する。後は、上述したトラッキングエラー信号の場合と同様な処理でオフセット分を補正できる。
【００７８】
従って、本実施の形態によれば、光ディスク６ａ又は６ｂの記録面からの反射光に基づき得られるフォーカス又はトラッキングエラー信号に生ずる、チルト検出光に起因するオフセットを、検出されたチルトデータに基づき補正することで、正確なフォーカス又はトラッキングエラー信号を得ることができ、適正なフォーカス又はトラッキング制御を行なわせることができる。
【００７９】
本発明の第二の実施の形態を図１２に基づいて説明する。本実施の形態は、チルト検出用に用いられる半導体レーザ１ａ又は１ｂを発光駆動させる上で、図８中に示したような一定周波数の正弦波状の交流信号成分に代えて、図１２に示すような、一定周波数のパルス信号成分を用いるようにしたものであり、前述の各参考構成例や各実施の形態に適用できる。この場合も、パルス信号成分の一定周波数は図９で説明した場合と同様な周波数帯域の周波数が選定されるが、このような連続パルスは高域次数のパルス成分を発生させるので、この高域次数のパルスが、記録時にも再生時にも、悪影響を及ぼさないような基本周波数を選定する必要がある。なお、高域次数のパルス成分を減らすには、矩形パルスよりもパルス波形が正弦波に近いような波形の方がよい。
【００８０】
よって、チルト検出用に用いる一定周波数の信号成分としては、正弦波的な交流信号成分に限らず、パルス波を用いてもチルト検出を行なうことができる。
【００８１】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、光源としてＤＶＤ系の光源とＣＤ系の光源とを併有するタイプが多くなっている点に着目し、複数の光源を備えた光ピックアップ装置において、基本的に、記録又は再生時に、その記録又は再生に用いていない方の光源をチルト検出用光源として利用するようにしたので、記録・再生動作に関わらず常にリアルタイムでチルト検出を行うことができる上に、或る光源を用いて記録又は再生動作を行なっているとき、チルト検出用に用いる光源の光は光ディスクに対して合焦状態からずれた焦点ぼけ状態にあるが、記録又は再生用の光源側では常に焦点合せを行なっているので、チルト検出用の光源側の焦点ずれ量は常に一定となっており、安定した焦点ぼけ状態にあり、よって、焦点ぼけしていても安定した精度の高いチルト検出が可能となる上に、光ディスクの記録面からの反射光に基づき得られるフォーカス又はトラッキングエラー信号に生ずる、チルト検出光に起因するオフセットを、検出されたチルトデータに基づき補正することで、正確なフォーカス又はトラッキングエラー信号を得ることができ、適正なフォーカス又はトラッキング制御を行なわせることができる。
【００８３】
請求項２記載の発明によれば、異なる波長の複数の光源に対応する、基板厚の異なる複数種類の光ディスクについてもチルト検出が可能となる。
【００８４】
請求項３記載の発明によれば、複数光源、単一光源を問わず、チルト信号に光軸ずれに起因する信号が重畳されないため、光軸ずれ検出用部材を設けことなく、高精度にチルトを検出することができる。
【００８７】
請求項４記載の発明によれば、光ディスクの記録面からの反射光に基づき得られるフォーカス又はトラッキングエラー信号に生ずる、チルト検出光に起因するオフセットを、検出されたチルトデータに基づき補正することで、正確なフォーカス又はトラッキングエラー信号を得ることができ、適正なフォーカス又はトラッキング制御を行なわせることができる。
請求項５記載の発明によれば、複数の光源による反射光を同一の受光素子で検出するような光学系構成においても、チルト検出用の受光素子を新たに設けることなく、受光素子を共通化させることができ、小型・低コスト化を図れる構成の下にチルト検出を行なうことができる。
【００８８】
請求項６記載の発明によれば、請求項５記載の発明と同様であり、一定周波数の信号成分は正弦波的な交流波形に限らず、一定周波数のパルス信号成分を用いた駆動でもチルト検出を行なわせることができる。
【００８９】
請求項８記載の発明によれば、サーボ制御や記録・再生動作に支障ない一定周波数に選定されているので、リアルタイムでのチルト検出動作を支障なく行なわせることができる。
【００９０】
請求項９記載の発明によれば、請求項８記載の発明の場合と同様に、リアルタイムでのチルト検出動作を支障なく行なわせることができる。
【００９１】
請求項７記載の発明によれば、複数の光源が１つのパッケージに収められた場合のように、複数の光源が近接配置された状況下にあっても、熱的影響に伴う光源の劣化を防止することができる。
【００９２】
請求項１０記載の発明によれば、請求項９の場合と同様に、複数の光源が１つのパッケージに収められた場合のように、複数の光源が近接配置された状況下にあっても、その立上げ時に生ずるサーボ信号及び再生信号への影響を軽減させることができる。
【００９３】
請求項１１記載の発明によれば、チルト検出動作が追従しない動作モード時、例えば、シーク動作時にはチルトの影響が少ないので、ドライブ初期に検出したチルトデータを用いることで、適正なチルト補正を行なえる。
【００９４】
請求項１２記載の発明によれば、光ディスクの記録面からの反射光に基づき得られるフォーカス又はトラッキングエラー信号に生ずる、チルト検出光に起因するオフセットを、検出されたチルトデータに基づき補正することで、正確なフォーカス又はトラッキングエラー信号を得ることができ、適正なフォーカス又はトラッキング制御を行なわせることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の参考構成例を示す光ピックアップの光学系構成図である。
【図２】合焦していないレーザ光を用いた場合のチルト検出を説明するための原理図である。
【図３】合焦しているレーザ光を用いた場合のチルト検出を説明するための原理図である。
【図４】本発明の第二の参考構成例のＤＶＤ系の記録又は再生時のチルト検出を説明するための原理図である。
【図５】ＣＤ系の記録又は再生時のチルト検出を説明するための原理図である。
【図６】本発明の第三の参考構成例のチルト検出を説明するための原理図である。
【図７】本発明の第四の参考構成例及び第一の実施の形態の回路構成を併せて示す光ピックアップの光学系構成図である。
【図８】チルト検出動作を示すタイムチャートである。
【図９】周波数分布を示すグラフである。
【図１０】トラック構成例を示す平面図である。
【図１１】本発明の第五の参考構成例を示す波形図である。
【図１２】本発明の第二の実施の形態を示す波形図である。
【図１３】チルトセンサ例の従来例を示す概略構成図である。
【図１４】他のチルトセンサ例の従来例を示す光学系構成図である。
【図１５】その受光素子の構成を示す正面図である。
【符号の説明】
１ａ，１ｂ光源
５対物レンズ
６ａ，６ｂ光ディスク
８，８ａ，８ｂ受光素子
２４ゲイン調整回路
２６差動アンプ

Claims

複数の光源と、これらの光源からの光を光ディスク上に集光照射させる対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する１つの受光素子とを備え、記録又は再生時に、前記複数の光源の内で記録又は再生に用いていない光源を前記光ディスクと前記対物レンズとの相対的チルトを検出するための光源として用いる光ピックアップ装置において、
フォーカス又はトラッキングエラー信号から、前記相対的チルトを検出するための前記光源からの光によるオフセット成分を補正除去するための差動アンプを備えることを特徴とする光ピックアップ装置。
前記光ディスクが複数種類であり、その基板厚が異なることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
チルト検出に用いる光源の光を光ディスク上に集光照射させる対物レンズと、
トラッキング時に理想光軸と前記対物レンズの光軸との光軸ずれのない対物レンズアクチュエータと、
を備える請求項１又は２記載の光ピックアップ装置。
複数の光源の何れかを光ディスクと対物レンズとの相対的チルトを検出するための光源として用い、前記光ディスクからの反射光を受光する１つの受光素子を有し、記録又は再生時に、前記複数の光源の内で記録又は再生に用いていない光源を前記光ディスクと前記対物レンズとの相対的チルトを検出するための光源として用いるチルト検出方法において、
チルト検出動作時に一定周波数の信号成分を持つチルト検出光によって発生するフォーカス又はトラッキングエラー信号のオフセット成分を、検出したチルトデータに基づき補正するようにしたことを特徴とするチルト検出方法。
チルト検出時にはチルト検出用の前記光源から一定周波数の交流信号成分を持つ光を出射させるようにした請求項４記載のチルト検出方法。
チルト検出時にはチルト検出用の前記光源から一定周波数のパルス信号成分を持つ光を出射させるようにした請求項４記載のチルト検出方法。
チルト検出動作の開始時にはチルト検出用の前記光源を徐々に出射光の強度が強くなり、かつ、一定の振幅に向けて徐々に振幅が大きくなるように立上げ、チルト検出動作の終了時にはチルト検出用の前記光源を徐々に出射光の強度が弱くなり、かつ、一定の振幅から徐々に振幅が小さくなるように立下げるようにした請求項５記載のチルト検出方法。
信号成分の一定周波数として、フォーカス・トラッキングサーボ系が応答しない制御帯域外であって、記録信号の周波数成分がない或いはその周波数成分が十分小さい周波数、或いは、再生信号ジッタ増への影響がない或いは少ない周波数、又は、光ディスク上に形成された情報に基づき発生する各種信号の周波数成分がない或いはその周波数成分が十分小さい周波数を選定した請求項４ないし７の何れか一に記載のチルト検出方法。
チルト検出演算に、直流成分を除いた一定周波数成分のみを用いるようにした請求項４ないし８の何れか一に記載のチルト検出方法。
チルト検出動作を間欠的に行なうようにした請求項４ないし９の何れか一に記載のチルト検出方法。
チルト検出動作が追従しない動作モード時には、それ以前のチルト検出動作により検出したチルトデータを用いるようにした請求項４ないし１０の何れか一に記載のチルト検出方法。
チルト検出用の前記光源をオフさせた状態でＳ字状のフォーカス又はトラッキングエラー信号の特定位置のレベルａを検出し、その後、チルト検出用の前記光源を一定周波数の信号成分を重畳して駆動した状態でほぼ同一エリアのＳ字状のフォーカス又はトラッキングエラー信号の前記特定位置のレベルｂを検出し、これらのレベルａ，ｂの差分ａ−ｂを算出するとともに、このときのチルト検出信号の平均直流信号ｃを検出し、ゲインが（ａ−ｂ）／ｃに設定されたゲイン調整回路に前記平均直流信号ｃを入力させ、前記差分ａ−ｂと等しくされた前記ゲイン調整回路の出力によりフォーカス又はトラッキングエラー信号のオフセット成分を補正するようにした請求項４ないし１１の何れか一に記載のチルト検出方法。