JP2003257022A - 光ディスク装置、制御用プログラム及び記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ピックアップ近傍の温度が設定値を超えた
場合には、新規に部品を追加することなく、既存の構成
の下に、光ピックアップ近傍の温度を低下させて、光源
や光ディスク等を保護し得る光ディスク装置を提供す
る。 【解決手段】 光ディスクは理想的には完全な円形平板
であるが、実際には、面振れ、偏心成分を持っており、
その回転によって装置内外に空気の流れが発生する点に
着目し、光ピックアップ近傍の温度Ｔが設定値ＴＨを超
えた場合には（Ｓ３のＹ）、半導体レーザの発光動作を
中断させるとともに（Ｓ４）、光ディスクの回転速度を
上昇させるだけで（Ｓ５）、新規にファン等の部品を追
加することなく、装置内外に生ずる空気流量を増加さ
せ、光ディスク自身や、光源等を含む光ピックアップ、
その他の部材を冷却できるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置、
制御用プログラム及び記憶媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、この種の光ディスク装置では、
半導体レーザ等の光源、対物レンズその他の光学系を備
えた光ピックアップを用いて、回転中の光ディスクにレ
ーザ光を照射することにより、記録／再生／消去等の動
作を行うようにしている。特に、記録動作時には、入力
信号に基づいて光源を発光させ、そのレーザ光を対物レ
ンズにより光ディスクの記録面に照射することにより行
うが、一般に、記録動作時に光源に流す電流は情報再生
時よりも大きい。

【０００３】このような光ディスク装置において、記録
層に有機材料を用いたいわゆる追記型の光ディスクに対
して記録を行う場合を考える。有機材料による記録層に
記録を行う場合、照射するレーザ光のパワーを上げて有
機材料の構造を破壊することにより再生時のレーザ光の
変化率が変化するように記録を行う。このような有機材
料の感度は、一般的に、記録用レーザ光の波長に大きく
左右される。一方で、記録用の半導体レーザは温度上昇
によって記録中に波長変動を起こしてしまう、という問
題がある。このため、記録中に記録特性が変化して正常
な記録を行えなくなる可能性がある。

【０００４】このような問題を解決するために、温度検
出手段を搭載した光ピックアップが提案されている。即
ち、記録動作を行う場合には、まず、本来の書込み前に
記録領域以外の部分（試し書き領域）を利用して試し書
き（ＯＰＣ動作）を行うことで記録パワーの較正を行
う。基本的には、このようなＯＰＣ動作で取得した記録
パワーを用いて光ディスクに対して記録していく。とこ
ろが、現実には上述したような波長変動の問題があるた
め、温度検出手段により検出される光ピックアップ近傍
の検出温度を元に記録中のレーザパワーを制御するよう
にしたものである。例えば、高温になるほど、半導体レ
ーザは長波長側に波長変動を起こし、記録膜の感度が低
下していくので、光ピックアップ近傍の検出温度が高温
になった場合には、記録前に求めたパワーよりも大きな
レーザパワーで記録を行うように制御することとなる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、あまりにも
高温になった場合には、半導体レーザの寿命を縮めてし
まうほどのレーザパワーが必要となるケースが考えられ
る。このようなケースに至ると、製品の寿命を縮めるだ
けでなく、最悪の場合には、半導体レーザの破壊につな
がってしまう。また、記録層に有機材料を用いた光ディ
スクの場合であれば、そのディスク面温度が一定以上に
高くなると組織が破壊されて正常な記録動作ができなく
なってしまう。

【０００６】この点、検出された温度が基準値以上とな
った場合にはペルチェ素子等の温度制御機構を動作させ
ることにより半導体レーザを冷却し、波長変化を抑制す
るようにしたものや（特開２００１−４３５６２公報参
照）、検出された温度が所定値以上に達したときだけ冷
却ファンを駆動させて装置内部を冷却させるようにした
もの（特開平５−２９８８７３号公報参照）などがある
が、これらは何れも、ペルチェ素子や冷却ファンなどの
冷却専用の部品を備えることにより実現しているもので
あり、装置コストの上昇を招く対応策である。

【０００７】また、特開平１１−３１２３６１号公報に
よれば、筐体内の温度上昇を抑え、半導体レーザの寿命
の短縮や、記録ディスクの反りを防止し、記録及び再生
を良好に行えるように、筐体内が高温であることが検出
された場合には、記録ディスクを回転させるスピンドル
モータの駆動回転速度を低下させる（半導体レーザの発
する光束と記録ディスクとの相対速度を下げる）ことに
より、発熱量を抑えることが提案されている。

【０００８】ところが、特開平１１−３１２３６１号公
報による提案例は、如何に、記録又は再生動作を継続さ
せようとするかを意図し、筐体内が高温に達しても動作
を続行させているものであり、半導体レーザ等の光源保
護や、装置内の冷却による記録ディスク、その他の部材
の保護等の観点からは必ずしも好ましい対応策とは言い
難いものである。

【０００９】本発明は、光ピックアップ近傍の温度が設
定値を超えた場合には、新規に部品を追加することな
く、既存の構成の下に、光ピックアップ近傍の温度を低
下させて、光源や光ディスク等を保護し得る光ディスク
装置、制御用プログラム及び記憶媒体を提供することを
目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
回転駆動される光ディスクに対して照射するレーザ光を
発する光源を有する光ピックアップと、この光ピックア
ップ近傍の温度を検出する温度検出手段とを具備する光
ディスク装置において、前記光源の発光動作中において
前記温度検出手段により検出される前記光ピックアップ
温度が設定値を超えるか否かを判定する判定手段と、前
記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前記
光源の発光動作を中断させるとともに、前記光ディスク
の回転速度を上昇させる温度上昇時動作制御手段と、を
備える。

【００１１】従って、光ディスクは理想的には完全な円
形平板であるが、実際には、面振れ、偏心成分を持って
おり、その回転によって装置内外に空気の流れが発生す
るものであり、光ピックアップ近傍の温度が設定値を超
えた場合に光ディスクの回転速度を上昇させるだけで、
新規にファン等の部品を追加することなく、装置内外に
生ずる空気流量を増加させることができるので、光ディ
スク自身や、光源等を含む光ピックアップ、その他の部
材を冷却することができる。この際、光源はその発光動
作を中断されているので、光源の保護を確実に図れる上
に、レーザ光を照射していないため光ディスクの回転速
度を本来の回転速度より上昇させても支障ないものとな
る。さらには、このように発光動作を中断させても、記
録／再生動作等に関して連続性を維持し得る動作再開が
可能な技術が確立しているので、この点でも支障ないも
のとなる。

【００１２】請求項２記載の発明は、回転駆動される光
ディスクに対して照射するレーザ光を発する光源を有す
る光ピックアップと、この光ピックアップ近傍の温度を
検出する温度検出手段とを具備する光ディスク装置にお
いて、前記光源の発光動作中において前記温度検出手段
により検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超
えるか否かを判定する判定手段と、前記光ピックアップ
温度が設定値を超えた場合には、前記光源の発光動作を
中断させるとともに、前記光ディスクを装置外に排出さ
せる温度上昇時動作制御手段と、を備える。

【００１３】従って、一般に光ディスクはトレー上に載
置されて装置内外にトレーイン／アウトされるものであ
り、トレーインされている光ディスクをトレーアウトさ
せることにより装置内部の空気を装置外に排出させて外
気を新たに装置内に取り込むことが可能であり、光ピッ
クアップ近傍の温度が設定値を超えた場合には光ディス
クを強制的にトレーアウトさせるだけで、新規にファン
等の部品を追加することなく、装置内の温度上昇した空
気を排出させて外気を装置内に取り込ませることができ
るので、排出される光ディスク自身や、光源等を含む光
ピックアップ、その他の部材を保護することができる。
この際、光源はその発光動作を中断されているので、光
源の保護を確実に図れる上に、レーザ光を照射していな
いため光ディスクを排出させても支障ないものとなる。
さらには、このように発光動作を中断させても、記録／
再生動作等に関して連続性を維持し得る動作再開が可能
な技術が確立しているので、この点でも支障ないものと
なる。

【００１４】請求項３記載の発明は、回転駆動される光
ディスクに対して照射するレーザ光を発する光源を有す
る光ピックアップと、この光ピックアップ近傍の温度を
検出する温度検出手段とを具備する光ディスク装置にお
いて、前記光源の発光動作中において前記温度検出手段
により検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超
えるか否かを判定する判定手段と、前記光ピックアップ
温度が設定値を超えた場合には、前記光源を含む発熱素
子への電源供給を停止させる温度上昇時動作制御手段
と、を備える。

【００１５】従って、一般に装置内には各種モータ、光
源、そのドライバ（光源駆動手段）等の多くの発熱素子
を持っているが、光ピックアップ近傍の温度が設定値を
超えた場合にはこれらの発熱素子への電源供給を停止さ
せるだけで、新規にファン等の部品を追加することな
く、装置内の温度を低下させることができるので、光デ
ィスク、光源等を含む光ピックアップ、その他の部材を
保護することができる。この際、光源は電源供給の停止
によりその発光動作を中断されているので、光源の保護
を確実に図れる上に、レーザ光を照射していないためこ
の他の発熱素子への電源供給を停止させても支障ないも
のとなる。さらには、このように発光動作を中断させて
も、記録／再生動作等に関して連続性を維持し得る動作
再開が可能な技術が確立しているので、この点でも支障
ないものとなる。

【００１６】請求項４記載の発明は、請求項３記載の光
ディスク装置において、前記発熱素子が、前記光源及び
この光源を発光させる光源駆動手段である。

【００１７】従って、装置内部における主な発熱素子で
ある光源及びその光源駆動手段を対象として電源供給を
停止させることにより、請求項３記載の発明の作用・効
果が確実に得られる。

【００１８】請求項５記載の発明は、請求項１ないし４
の何れか一記載の光ディスク装置において、前記光ディ
スクが、記録層に有機色素を用いた媒体である。

【００１９】従って、ディスク面温度が一定以上に高く
なると組織が破壊されて正常な記録動作をできなくなっ
てしまう性質を持つ有機材料による記録層を備える光デ
ィスクの場合に、確実にその保護を図ることができる。
また、このような有機材料による記録層を備えるいわゆ
る追記型の光ディスクに関して、記録／再生等の動作を
中断させても、記録／再生動作等に関して連続性を維持
し得る動作再開が可能な技術が確立しているので、この
点でも支障ないものとなる。

【００２０】請求項６記載の発明は、回転駆動される光
ディスクに対して照射するレーザ光を発する光源を有す
る光ピックアップと、この光ピックアップ近傍の温度を
検出する温度検出手段とを具備する光ディスク装置が備
えるコンピュータにインストールされ、前記コンピュー
タに、前記光源の発光動作中において前記温度検出手段
により検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超
えるか否かを判定する判定機能と、前記光ピックアップ
温度が設定値を超えた場合には、前記光源の発光動作を
中断させるとともに、前記光ディスクの回転速度を上昇
させる温度上昇時動作制御機能と、を実行させる制御用
プログラムである。

【００２１】従って、当該制御用プログラムを実行させ
ることにより、請求項１記載の発明の場合と同様の作用
・効果が得られる。

【００２２】請求項７記載の発明は、回転駆動される光
ディスクに対して照射するレーザ光を発する光源を有す
る光ピックアップと、この光ピックアップ近傍の温度を
検出する温度検出手段とを備える光ディスク装置が備え
るコンピュータにインストールされ、前記コンピュータ
に、前記光源の発光動作中において前記温度検出手段に
より検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超え
るか否かを判定する判定手段と、前記光ピックアップ温
度が設定値を超えた場合には、前記光源の発光動作を中
断させるとともに、前記光ディスクを装置外に排出させ
る温度上昇時動作制御手段と、を実行させる制御用プロ
グラムである。

【００２３】従って、当該制御用プログラムを実行させ
ることにより、請求項２記載の発明の場合と同様の作用
・効果が得られる。

【００２４】請求項８記載の発明は、回転駆動される光
ディスクに対して照射するレーザ光を発する光源を有す
る光ピックアップと、この光ピックアップ近傍の温度を
検出する温度検出手段とを備える光ディスク装置が備え
るコンピュータにインストールされ、前記コンピュータ
に、前記光源の発光動作中において前記温度検出手段に
より検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超え
るか否かを判定する判定手段と、前記光ピックアップ温
度が設定値を超えた場合には、前記光源を含む発熱素子
への電源供給を停止させる温度上昇時動作制御手段と、
を実行させる制御用プログラムである。

【００２５】従って、当該制御用プログラムを実行させ
ることにより、請求項３記載の発明の場合と同様の作用
・効果が得られる。

【００２６】請求項９記載の発明は、請求項６，７又は
８の制御用プログラムが格納されたコンピュータ読取り
可能な記憶媒体である。

【００２７】従って、当該記憶媒体に格納された当該制
御用プログラムをコンピュータに読み取らせてそのプロ
グラムを実行させることにより、請求項６，７又は８記
載の発明の場合と同様の作用・効果が得られる。

【００２８】

【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図１
ないし図４に基づいて説明する。本実施の形態は、記録
可能な光ディスク装置への適用例を示す。図１は当該光
ディスク装置に関して機能的構成を含めてその要部構成
を示す概略ブロック図である。ここに、光ディスク１と
しては各種媒体を用い得るが、その一例として、記録層
に有機色素を用いたＣＤ−Ｒのようないわゆる追記型光
ディスクを用いる場合を想定している。

【００２９】図１において、２は光ディスク１を回転さ
せる駆動源としてのスピンドルモータ、３は光ピックア
ップ、４は再生信号検出手段、５は上下振幅検出手段、
６は光源駆動手段として機能するレーザパワー制御手
段、７は回転制御手段、８はコントローラを示し、ＷＤ
ａｔａはライトデータを示す。また、９は光ディスク１
が搭載されるトレーを示し、１０はこのトレー９を引出
したり収納させたりするローディング制御手段を示す。

【００３０】光ピックアップ３は、例えば、図２に示す
ように構成されている。まず、光源として半導体レーザ
１１を備えており、この半導体レーザ１１から出射され
たレーザ光（直線偏光）を平行光に変換するコリメータ
レンズ１２が設けられている。このコリメータレンズ１
２により変換された平行光を対物レンズ１３側に向けて
偏向させる立上げプリズム１４や、直線偏光を円偏光に
変換する１／４波長板１５が設けられている。対物レン
ズ１３はレーザ光を光ディスク１の記録層に対して集光
照射する。また、光ディスク１から反射され、再び、対
物レンズ１３、１／4波長板１５、立上げプリズム１４
を経た直線偏光を入射光と分離する偏光ビームスプリッ
タ１６が設けられ、分離された戻り光を集光レンズ１７
を介して受光する受光素子１８が設けられている。この
受光素子１８は４分割フォトダイオード等により構成さ
れ、その受光量に応じてＲＦ信号、トラッキングエラー
信号、フォーカスエラー信号等の電気信号に変換され
る。なお、１９はトラッキング用コイル、２０はフォー
カス用コイルである。

【００３１】コントローラ８は、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２
２、ＲＡＭ２３等を有しており、当該光ディスク装置が
備えるマイクロコンピュータ（コンピュータ）を構成し
ている。記憶媒体としても機能するＲＯＭ２２には、Ｃ
ＰＵ２１により解読可能なコードで記述された後述する
ような制御用プログラムを含むプログラムが格納されて
いる。ＣＰＵ２１は、ＲＯＭ２２に格納されているプロ
グラムに従って上述の各部の動作を制御するとともに、
制御に必要なデータ等を一時的にＲＡＭ２３に保存す
る。なお、当該光ディスク装置の電源が投入されると、
ＲＯＭ２２に格納されているプログラムは、ＣＰＵ２１
のメインメモリ（図示せず）にロード（インストール）
される。

【００３２】これにより、例えば、コントローラ８は、
レーザパワー制御手段６に対して記録パワー指令を出力
する。レーザパワー制御手段６は、この記録パワー指令
値に基づいて、記録データ（ライトデータＷＤａｔａ）
に同期して光ピックアップ３中の半導体レーザ１１を記
録パワーで発光させる。詳しくいえば、レーザパワー制
御手段６は、半導体レーザ１１の発光パワーを検出する
パワー検出手段と、記録パワー指令値と検出された発光
パワーとを比較する比較手段とを備え、比較結果に基づ
いて半導体レーザ１１を駆動するよう構成されている。
従って、半導体レーザ１１は、記録パワー指令値に比例
したパワーで発光可能である。

【００３３】また、コントローラ８は、レーザパワー制
御手段６に対して記録パワー指令値を出力するだけでな
く、回転制御手段７に対しては回転指令を出力する。回
転制御手段７は、回転指令値に基づいて、スピンドルモ
ータ２を回転させる。詳しくいえば、回転制御手段７
は、光ディスク１の回転数又は線速度を検出する検出手
段と、回転指令値と検出された回転数又は線速度とを比
較する比較手段とを備え、比較結果に基づいてスピンド
ルモータ２を駆動するよう構成されている。従って、ス
ピンドルモータ２は、回転指令値に比例した角速度又は
線速度で回転可能である。

【００３４】さらに、コントローラ８は、ローディング
制御手段１０に対してトレーイン／トレーアウト指令を
出力する。ローディング制御手段１０は、トレーイン／
トレーアウト指令に基づいて、光ディスク１が搭載され
たトレー９をトレーイン又はトレーアウトさせる。

【００３５】また、光ピックアップ３に対してはその近
傍の温度を検出する温度センサ２４が搭載されており、
その検出値をコントローラ８に取り込むことにより、光
ピックアップ３近傍の温度を随時測定できるように構成
されている。

【００３６】このような構成において、半導体レーザ１
１の発光動作時（記録／再生或いは消去動作時）にＣＰ
Ｕ２１により実行される制御処理例を図３に示すフロー
チャートを参照して説明する。半導体レーザ１１が発光
駆動されてレーザ光の照射が開始されると（ステップＳ
１）、随時温度センサ２４からの検出信号を取り込むこ
とにより、光ピックアップ３近傍の温度Ｔを計測する
（Ｓ２）。このステップＳ２の処理が温度検出手段の機
能として実行される。引き続き、計測された温度Ｔが予
め設定されている所定の設定値であるスレッシュレベル
の温度ＴＨを超えているか否かを判定する（Ｓ３）。こ
のステップＳ３の処理が判定手段又は判定機能として実
行される。スレッシュレベルの温度ＴＨを超えていなけ
れば（Ｓ３のＮ）、通常の動作モードのまま、温度計測
処理を随時繰り返す。

【００３７】一方、図３中のタイミングｔ１に示すよう
に、光ピックアップ温度Ｔがスレッシュレベルの温度Ｔ
Ｈを超えた場合には（Ｓ３のＹ）、冷却モードとして、
レーザパワー制御手段６に対してレーザ照射中断を指令
することにより（Ｓ４）、半導体レーザ１１の発光動作
を中断させる。併せて、最大回転速度で回転するように
回転制御手段７に指令を出すことにより（Ｓ５）、スピ
ンドルモータ２により光ディスク１を最大回転速度で回
転させる。これらのステップＳ４，Ｓ５の処理が温度上
昇時動作制御手段又は温度上昇時動作制御機能として実
行される。

【００３８】ここに、光ディスク１は理想的には完全な
円形平板であるが、実際には、面振れ、偏心成分を持っ
ており、その回転によって当該光ディスク装置内外に空
気の流れが発生するものであり、光ピックアップ３近傍
の温度Ｔがスレッシュレベルの温度ＴＨを超えた場合に
光ディスク１の回転速度を上昇させるだけで、新規にフ
ァン等の部品を追加することなく、装置内外に生ずる空
気流量を増加させることができるので、光ディスク１自
身や、半導体レーザ１１等を含む光ピックアップ３、そ
の他の部材（例えば、ドライバとして機能するレーザパ
ワー制御手段６など）を冷却することができる。特に、
本実施の形態のように、ディスク面温度が一定以上に高
くなると組織が破壊されて正常な記録動作をできなくな
ってしまう性質を持つ有機材料による記録層を備える光
ディスク１の場合に、確実にその保護を図ることができ
る。また、本実施の形態では、光ディスク１の破損やク
ランパ外れが起こらない範囲で最大回転速度で回転させ
ることにより、効率よく冷却を行うことができる。この
際、半導体レーザ１１はその発光動作を中断されている
ので、半導体レーザ１１の保護を確実に図れる上に、レ
ーザ光を照射していないため光ディスク１の回転速度を
本来の回転速度より上昇させても支障ないものとなる。

【００３９】このような冷却モードによる動作中も、光
ピックアップ３近傍の温度Ｔを随時計測し、この温度が
予め設定されている規定の冷却温度ＴＬまで下降したか
否かを監視する（Ｓ６）。図３中にタイミングｔ２で示
すように、規定の冷却温度ＴＬまで下降した場合には
（Ｓ６のＹ）、回転速度を元に戻すように回転制御手段
７に指令を出す（Ｓ７）とともに、レーザパワー制御手
段６に対してはレーザ照射再開を指令し（Ｓ８）、光デ
ィスク１を元の回転速度で回転させ半導体レーザ１１を
発光させることにより、中断していた動作を再開させ
る。ここに、記録動作中に中断した場合であれば、例え
ば、特開平１０−４９９９０号公報等により提案され・
実用化されている、情報の連続性を保って記録を再開さ
せる技術を利用し、再生動作中に中断した場合であれ
ば、レーザ照射の中断位置をコントローラ８内のメモリ
に記憶させておき、レーザ照射再開時には記憶されてい
る中断位置から照射を再開させる技術を利用することに
より、動作が再開される。このように発光動作を中断さ
せても、記録／再生動作等に関して連続性を維持し得る
動作再開が可能な技術が確立しているので、この点でも
支障ないものとなる。

【００４０】なお、図４中にＴｃで示すように冷却モー
ドで動作させる一定の冷却時間を予め設定しておき、中
断後（Ｓ４，Ｓ５）、この一定の冷却時間Ｔｃが経過し
たら（Ｓ９のＹ）、動作を再開させる（Ｓ７，Ｓ８）よ
うにしてもよい（図５に示すフローチャート参照）。

【００４１】本発明の第二の実施の形態を図６及び図７
に基づいて説明する。第一の実施の形態で示した部分と
同一部分は同一符号を用いて示し、説明も省略する（以
下の実施の形態でも同様とする）。

【００４２】本実施の形態では、光ディスク１を搭載し
たトレー９を強制的に装置外に排出させるトレーアウト
動作を利用して冷却させるようにしたものである。ＣＰ
Ｕ２１により実行される本実施の形態の制御処理例を図
６に示すフローチャートを参照して説明する。半導体レ
ーザ１１が発光駆動されてレーザ光の照射が開始される
と（ステップＳ１）、随時温度センサ２４からの検出信
号を取り込むことにより、光ピックアップ３近傍の温度
Ｔを計測する（Ｓ２）。引き続き、計測された温度Ｔが
予め設定されている所定の設定値であるスレッシュレベ
ルの温度ＴＨを超えているか否かを判定する（Ｓ３）。
スレッシュレベルの温度ＴＨを超えていなければ（Ｓ３
のＮ）、通常の動作モードのまま、温度計測処理を随時
繰り返す。

【００４３】一方、図７中のタイミングｔ１に示すよう
に、光ピックアップ温度Ｔがスレッシュレベルの温度Ｔ
Ｈを超えた場合には（Ｓ３のＹ）、冷却モードとして、
レーザパワー制御手段６に対してレーザ照射中断を指令
することにより、半導体レーザ１１の発光動作を中断さ
せる（Ｓ４）。併せて、トレーアウトをローディング制
御手段１０に指令することにより、ローディング制御手
段１０により光ディスク１が搭載されたトレー９を装置
外に排出させるトレーアウト動作を実行させる（Ｓ１
０）。これらのステップＳ４，Ｓ１０の処理が温度上昇
時動作制御手段又は温度上昇時動作制御機能として実行
される。

【００４４】ここで、トレーインされている光ディスク
１をトレーアウトさせることにより光ディスク装置内部
の空気を装置外に排出させて外気を新たに装置内に取り
込むことが可能であり、光ピックアップ３近傍の温度Ｔ
がスレッシュレベルの温度ＴＨを超えた場合には光ディ
スク１を強制的にトレーアウトさせるだけで、新規にフ
ァン等の部品を追加することなく、装置内の温度上昇し
た空気を排出させて外気を装置内に取り込ませることが
できるので、排出される光ディスク１自身や、半導体レ
ーザ１１等を含む光ピックアップ３、その他の部材（例
えば、ドライバとして機能するレーザパワー制御手段６
など）を保護することができる。特に、本実施の形態の
ように、ディスク面温度が一定以上に高くなると組織が
破壊されて正常な記録動作をできなくなってしまう性質
を持つ有機材料による記録層を備える光ディスク１の場
合に、確実にその保護を図ることができる。また、この
際、半導体レーザ１１はその発光動作を中断されている
ので、半導体レーザ１１の保護を確実に図れる上に、レ
ーザ光を照射していないため光ディスク１を排出させて
も支障ないものとなる。

【００４５】このような冷却モードによる動作中も、光
ピックアップ３近傍の温度Ｔを随時計測し、この温度が
予め設定されている規定の冷却温度ＴＬまで下降したか
否かを監視する（Ｓ６）。図７中にタイミングｔ２で示
すように、規定の冷却温度ＴＬまで下降した場合には
（Ｓ６のＹ）、トレーインをローディング制御手段１０
に対して指令し（Ｓ１１）、ローディング制御手段１０
により光ディスク１を搭載しているトレー９をトレーイ
ンさせるとともに、レーザパワー制御手段６に対しては
レーザ照射再開を指令し（Ｓ８）、光ディスク１を回転
させ半導体レーザ１１を発光させることにより、中断し
ていた動作を再開させる。この場合の再開動作は前述し
た場合に準ずる。このように発光動作を中断させても、
記録／再生動作等に関して連続性を維持し得る動作再開
が可能な技術が確立しているので、この点でも支障ない
ものとなる。

【００４６】なお、図７中にＴｃで示すように冷却モー
ドで動作させる一定の冷却時間を予め設定しておき、中
断後（Ｓ４，Ｓ１０）、この一定の冷却時間Ｔｃが経過
したら、動作を再開させる（Ｓ１１，Ｓ８）ようにして
もよい。

【００４７】本発明の第三の実施の形態を図８及び図９
に基づいて説明する。本実施の形態では、光ピックアッ
プ３近傍の温度Ｔが設定値を超えた場合には発熱を伴う
発熱素子に対する電源供給を強制的に停止させることに
より、装置内温度を低下させるようにしたものである。

【００４８】ＣＰＵ２１により実行される本実施の形態
の制御処理例を図８に示すフローチャートを参照して説
明する。半導体レーザ１１が発光駆動されてレーザ光の
照射が開始されると（ステップＳ１）、随時温度センサ
２４からの検出信号を取り込むことにより、光ピックア
ップ３近傍の温度Ｔを計測する（Ｓ２）。引き続き、計
測された温度Ｔが予め設定されている所定の設定値であ
るスレッシュレベルの温度ＴＨを超えているか否かを判
定する（Ｓ３）。スレッシュレベルの温度ＴＨを超えて
いなければ（Ｓ３のＮ）、通常の動作モードのまま、温
度計測処理を随時繰り返す。

【００４９】一方、図９中のタイミングｔ１に示すよう
に、光ピックアップ温度Ｔがスレッシュレベルの温度Ｔ
Ｈを超えた場合には（Ｓ３のＹ）、冷却モードとして、
半導体レーザ１１の発光動作を中断させる（Ｓ４）とと
もに、他の発熱素子への電源供給を停止するように指令
することにより、該当する発熱素子への電源供給を停止
させる（Ｓ１２）。この場合の半導体レーザ１１以外の
他の発熱素子としては、例えば半導体レーザ１１を発光
駆動させるためのレーザパワー制御手段（ドライバ）
６、各種モータ等が挙げられる。これらのステップＳ
４，Ｓ１２の処理が温度上昇時動作制御手段又は温度上
昇時動作制御機能として実行される。

【００５０】光ディスク装置内には、半導体レーザ１
１、そのドライバ（光源駆動手段）６、各種モータ等の
多くの発熱素子を持っているが、光ピックアップ３近傍
の温度Ｔがスレッシュレベルの温度ＴＨを超えた場合に
はこれらの発熱素子への電源供給を停止させるだけで、
新規にファン等の部品を追加することなく、光ディスク
装置内の温度を低下させることができるので、光ディス
ク１、半導体レーザ１１等を含む光ピックアップ３、そ
の他の部材を保護することができる。特に、光ディスク
装置内部における主な発熱素子である半導体レーザ１１
やそのドライバ（光源駆動手段）６を少なくとも対象と
して電源供給を停止させることにより、当該効果を確実
に得ることができる。また、本実施の形態のように、デ
ィスク面温度が一定以上に高くなると組織が破壊されて
正常な記録動作をできなくなってしまう性質を持つ有機
材料による記録層を備える光ディスク１の場合に、確実
にその保護を図ることができる。また、この際、半導体
レーザ１１はその発光動作を中断されており、レーザ光
を照射していないためこの他の発熱素子への電源供給を
停止させても支障ないものとなる。

【００５１】このような冷却モードによる動作中も、光
ピックアップ３近傍の温度Ｔを随時計測し、この温度が
予め設定されている規定の冷却温度ＴＬまで下降したか
否かを監視する（Ｓ６）。図９中にタイミングｔ２で示
すように、規定の冷却温度ＴＬまで下降した場合には
（Ｓ６のＹ）、中断させていた発熱素子への電源供給を
再開するように指令を出し、該当する発熱素子への電源
供給を再開させる（Ｓ１３）とともに、レーザパワー制
御手段６に対してはレーザ照射再開を指令し（Ｓ８）、
光ディスク１を回転させ半導体レーザ１１を発光させる
ことにより、中断していた動作を再開させる。この場合
の再開動作は前述した場合に準ずる。このように発光動
作を中断させても、記録／再生動作等に関して連続性を
維持し得る動作再開が可能な技術が確立しているので、
この点でも支障ないものとなる。

【００５２】なお、図９中にＴｃで示すように冷却モー
ドで動作させる一定の冷却時間を予め設定しておき、中
断後（Ｓ４，Ｓ１２）、この一定の冷却時間Ｔｃが経過
したら、動作を再開させる（Ｓ１３，Ｓ８）ようにして
もよい。

【００５３】

【発明の効果】請求項１，６及び９記載の発明によれ
ば、光ディスクは理想的には完全な円形平板であるが、
実際には、面振れ、偏心成分を持っており、その回転に
よって装置内外に空気の流れが発生する点に着目し、光
ピックアップ近傍の温度が設定値を超えた場合に光ディ
スクの回転速度を上昇させるだけで、新規にファン等の
部品を追加することなく、装置内外に生ずる空気流量を
増加させることができるので、光ディスク自身や、光源
等を含む光ピックアップ、その他の部材を冷却すること
ができ、この際、光源はその発光動作を中断されている
ので、光源の保護を確実に図れる上に、レーザ光を照射
していないため光ディスクの回転速度を本来の回転速度
より上昇させても支障ないものとなり、さらには、この
ように発光動作を中断させても、記録／再生動作等に関
して連続性を維持し得る動作再開が可能な技術が確立し
ているので、この点でも支障ないものとなる。

【００５４】請求項２，７及び９記載の発明によれば、
一般に光ディスクはトレー上に載置されて装置内外にト
レーイン／アウトされるものであり、トレーインされて
いる光ディスクをトレーアウトさせることにより装置内
部の空気を装置外に排出させて外気を新たに装置内に取
り込むことが可能である点に着目し、光ピックアップ近
傍の温度が設定値を超えた場合には光ディスクを強制的
にトレーアウトさせるだけで、新規にファン等の部品を
追加することなく、装置内の温度上昇した空気を排出さ
せて外気を装置内に取り込ませることができるので、排
出される光ディスク自身や、光源等を含む光ピックアッ
プ、その他の部材を保護することができ、この際、光源
はその発光動作を中断されているので、光源の保護を確
実に図れる上に、レーザ光を照射していないため光ディ
スクを排出させても支障ないものとなり、さらには、こ
のように発光動作を中断させても、記録／再生動作等に
関して連続性を維持し得る動作再開が可能な技術が確立
しているので、この点でも支障ないものとなる。

【００５５】請求項３，８及び９記載の発明によれば、
一般に装置内には各種モータ、光源、そのドライバ（光
源駆動手段）等の多くの発熱素子を持っているが、光ピ
ックアップ近傍の温度が設定値を超えた場合にはこれら
の発熱素子への電源供給を停止させるだけで、新規にフ
ァン等の部品を追加することなく、装置内の温度を低下
させることができるので、光ディスク、光源等を含む光
ピックアップ、その他の部材を保護することができ、こ
の際、光源は電源供給の停止によりその発光動作を中断
されているので、光源の保護を確実に図れる上に、レー
ザ光を照射していないためこの他の発熱素子への電源供
給を停止させても支障ないものとなり、さらには、この
ように発光動作を中断させても、記録／再生動作等に関
して連続性を維持し得る動作再開が可能な技術が確立し
ているので、この点でも支障ないものとなる。

【００５６】請求項４記載の発明によれば、装置内部に
おける主な発熱素子である光源及びその光源駆動手段を
対象として電源供給を停止させることにより、請求項３
記載の発明の作用・効果を確実に得ることができる。

【００５７】請求項５記載の発明によれば、請求項１な
いし４の何れか一記載の光ディスク装置において、ディ
スク面温度が一定以上に高くなると組織が破壊されて正
常な記録動作をできなくなってしまう性質を持つ有機材
料による記録層を備える光ディスクの場合に、確実にそ
の保護を図ることができ、また、このような有機材料に
よる記録層を備えるいわゆる追記型の光ディスクに関し
て、記録／再生等の動作を中断させても、記録／再生動
作等に関して連続性を維持し得る動作再開が可能な技術
が確立しているので、この点でも支障ないものとなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施の形態の光ディスク装置に
関して機能的構成を含めてその要部構成を示す概略ブロ
ック図である。

【図２】その光ピックアップを示す概略構成図である。

【図３】制御処理例を示す概略フローチャートである。

【図４】制御処理例を示す概略タイムチャートである。

【図５】制御処理例の変形例を示す概略フローチャート
である。

【図６】本発明の第二の実施の形態の制御処理例を示す
概略フローチャートである。

【図７】制御処理例を示す概略タイムチャートである。

【図８】本発明の第三の実施の形態の制御処理例を示す
概略フローチャートである。

【図９】制御処理例を示す概略タイムチャートである。

【符号の説明】

１ 光ディスク ３ 光ピックアップ Ｓ２ 温度検出手段 Ｓ３ 判定手段 Ｓ４，Ｓ５ 温度上昇時動作制御手段 Ｓ４，Ｓ１０ 温度上昇時動作制御手段 Ｓ４，Ｓ１２ 温度上昇時動作制御手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山城 俊裕 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 Ｆターム(参考） 5D090 AA01 CC18 FF10 HH02 HH03 JJ07 5D119 AA33 BA01 FA05 HA30 HA58 5D789 AA33 BA01 FA05 HA30 HA58

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転駆動される光ディスクに対して照射
   するレーザ光を発する光源を有する光ピックアップと、
   この光ピックアップ近傍の温度を検出する温度検出手段
   とを具備する光ディスク装置において、 前記光源の発光動作中において前記温度検出手段により
   検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超えるか
   否かを判定する判定手段と、 前記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前
   記光源の発光動作を中断させるとともに、前記光ディス
   クの回転速度を上昇させる温度上昇時動作制御手段と、
   を備えることを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 回転駆動される光ディスクに対して照射
   するレーザ光を発する光源を有する光ピックアップと、
   この光ピックアップ近傍の温度を検出する温度検出手段
   とを具備する光ディスク装置において、 前記光源の発光動作中において前記温度検出手段により
   検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超えるか
   否かを判定する判定手段と、 前記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前
   記光源の発光動作を中断させるとともに、前記光ディス
   クを装置外に排出させる温度上昇時動作制御手段と、を
   備えることを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 回転駆動される光ディスクに対して照射
   するレーザ光を発する光源を有する光ピックアップと、
   この光ピックアップ近傍の温度を検出する温度検出手段
   とを具備する光ディスク装置において、 前記光源の発光動作中において前記温度検出手段により
   検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超えるか
   否かを判定する判定手段と、 前記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前
   記光源を含む発熱素子への電源供給を停止させる温度上
   昇時動作制御手段と、を備えることを特徴とする光ディ
   スク装置。
4. 【請求項４】 前記発熱素子が、前記光源及びこの光源
   を発光させる光源駆動手段であることを特徴とする請求
   項３記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記光ディスクが、記録層に有機色素を
   用いた媒体であることを特徴とする請求項１ないし４の
   何れか一記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 回転駆動される光ディスクに対して照射
   するレーザ光を発する光源を有する光ピックアップと、
   この光ピックアップ近傍の温度を検出する温度検出手段
   とを具備する光ディスク装置が備えるコンピュータにイ
   ンストールされ、前記コンピュータに、 前記光源の発光動作中において前記温度検出手段により
   検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超えるか
   否かを判定する判定機能と、 前記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前
   記光源の発光動作を中断させるとともに、前記光ディス
   クの回転速度を上昇させる温度上昇時動作制御機能と、
   を実行させる制御用プログラム。
7. 【請求項７】 回転駆動される光ディスクに対して照射
   するレーザ光を発する光源を有する光ピックアップと、
   この光ピックアップ近傍の温度を検出する温度検出手段
   とを備える光ディスク装置が備えるコンピュータにイン
   ストールされ、前記コンピュータに、 前記光源の発光動作中において前記温度検出手段により
   検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超えるか
   否かを判定する判定手段と、 前記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前
   記光源の発光動作を中断させるとともに、前記光ディス
   クを装置外に排出させる温度上昇時動作制御手段と、を
   実行させる制御用プログラム。
8. 【請求項８】 回転駆動される光ディスクに対して照射
   するレーザ光を発する光源を有する光ピックアップと、
   この光ピックアップ近傍の温度を検出する温度検出手段
   とを備える光ディスク装置が備えるコンピュータにイン
   ストールされ、前記コンピュータに、 前記光源の発光動作中において前記温度検出手段により
   検出される前記光ピックアップ温度が設定値を超えるか
   否かを判定する判定手段と、 前記光ピックアップ温度が設定値を超えた場合には、前
   記光源を含む発熱素子への電源供給を停止させる温度上
   昇時動作制御手段と、を実行させる制御用プログラム。
9. 【請求項９】 請求項６，７又は８の制御用プログラム
   が格納されたコンピュータ読取り可能な記憶媒体。