JP2834254B2 - 半導体レーザ不良検出装置 - Google Patents
半導体レーザ不良検出装置Info
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- JP2834254B2 JP2834254B2 JP2031875A JP3187590A JP2834254B2 JP 2834254 B2 JP2834254 B2 JP 2834254B2 JP 2031875 A JP2031875 A JP 2031875A JP 3187590 A JP3187590 A JP 3187590A JP 2834254 B2 JP2834254 B2 JP 2834254B2
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- semiconductor laser
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーザを用いて記録担体に情報を記
録する記録装置の半導体レーザ不良検出装置に関するも
のである。
録する記録装置の半導体レーザ不良検出装置に関するも
のである。
従来の技術 光学的に情報を記録する円盤状記録担体（以降ディス
クと称す）などの記録光源に使われている半導体レーザ
は、経年変化や静電気などのショックで劣化し、劣化の
進行速度も素子によりバラツキがあり、再生に必要な出
射光量（再生パワー）は出力できるが、再生パワーの５
倍から10倍の出力を必要とする記録時に、記録に必要な
出射光量（記録パワー）が出力できないという不良が発
生することがある。
クと称す）などの記録光源に使われている半導体レーザ
は、経年変化や静電気などのショックで劣化し、劣化の
進行速度も素子によりバラツキがあり、再生に必要な出
射光量（再生パワー）は出力できるが、再生パワーの５
倍から10倍の出力を必要とする記録時に、記録に必要な
出射光量（記録パワー）が出力できないという不良が発
生することがある。
このため、従来の半導体レーザ不良検出装置は、記録
時に半導体レーザの後方出射口からの出射光量を測定
し、半導体レーザの駆動電流に対する出射光量の不足を
検出することにより半導体レーザの不良を検出し、記録
不良の防止を行っている。
時に半導体レーザの後方出射口からの出射光量を測定
し、半導体レーザの駆動電流に対する出射光量の不足を
検出することにより半導体レーザの不良を検出し、記録
不良の防止を行っている。
発明が解決しようとする課題 しかし、上記従来の半導体レーザ不良検出装置では、
記録時に半導体レーザの不良を検出しており、出射光量
不足などの不良が記録担体に情報を書き込んだ後で判明
するので、記録タイミングを逃すことによる情報のロス
だけではなく、追記形ディスクのように一度しか記録で
きない記録担体を用いた装置では、再生できない（C/N
などの信号品質の悪い）信号を記録してしまい、記録担
体上に不良情報トラックを出し、ユーザに損害を与える
という問題があった。
記録時に半導体レーザの不良を検出しており、出射光量
不足などの不良が記録担体に情報を書き込んだ後で判明
するので、記録タイミングを逃すことによる情報のロス
だけではなく、追記形ディスクのように一度しか記録で
きない記録担体を用いた装置では、再生できない（C/N
などの信号品質の悪い）信号を記録してしまい、記録担
体上に不良情報トラックを出し、ユーザに損害を与える
という問題があった。
本発明は、上記従来の問題を解決するもので記録担体
上の情報トラックや情報の損失を防止することのできる
半導体レーザ不良検出装置を提供することを目的とする
ものである。
上の情報トラックや情報の損失を防止することのできる
半導体レーザ不良検出装置を提供することを目的とする
ものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明の半導体レーザ不良
検出装置は、円盤状記録担体の回転速度が規定値以上で
あることを検出する回転検出器と、半導体レーザの出力
を制御するレーザパワー制御回路と、レーザ出射光量が
規定値以下であることを検出する光量検出器と、回転検
出器からの検出信号により円盤状記録担体の回転速度の
立ち上がりを確認後、レーザパワー制御回路を記録パワ
ー制御に一時切り換え、光量検出器の検出信号によりフ
ォーカス制御回路を駆動させるか否かを選択するレーザ
不良判別手段とを具備する構成としたものである。
検出装置は、円盤状記録担体の回転速度が規定値以上で
あることを検出する回転検出器と、半導体レーザの出力
を制御するレーザパワー制御回路と、レーザ出射光量が
規定値以下であることを検出する光量検出器と、回転検
出器からの検出信号により円盤状記録担体の回転速度の
立ち上がりを確認後、レーザパワー制御回路を記録パワ
ー制御に一時切り換え、光量検出器の検出信号によりフ
ォーカス制御回路を駆動させるか否かを選択するレーザ
不良判別手段とを具備する構成としたものである。
作用 上記構成により、フォーカス制御を行う前に、レーザ
パワーを記録パワーに切り換え、半導体レーザが記録に
必要な光量を出力できないことを光量検出器により検出
すると、このとき、半導体レーザから記録パワーの出力
が出されてもフォーカスがかかっていないので、記録担
体上のパワー密度は小さく、これにより情報トラックを
記録することはない。したがって、情報トラックや情報
を損失することなく半導体レーザの不良が検出される。
パワーを記録パワーに切り換え、半導体レーザが記録に
必要な光量を出力できないことを光量検出器により検出
すると、このとき、半導体レーザから記録パワーの出力
が出されてもフォーカスがかかっていないので、記録担
体上のパワー密度は小さく、これにより情報トラックを
記録することはない。したがって、情報トラックや情報
を損失することなく半導体レーザの不良が検出される。
さらに、回転検出器により円盤状記録担体の回転速度
が規定値以上であることを検出したのちに、レーザ不良
判別手段を動作させるので、円盤状記録担体に照射され
るレーザ光のパワー密度が可能なかぎり小さくなり、情
報トラックや情報を損失することはいっそうなくなる。
が規定値以上であることを検出したのちに、レーザ不良
判別手段を動作させるので、円盤状記録担体に照射され
るレーザ光のパワー密度が可能なかぎり小さくなり、情
報トラックや情報を損失することはいっそうなくなる。
実施例 以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す半導体レーザ不良検
出装置のブロック図である。
出装置のブロック図である。
第１図において、レーザパワー制御回路１は、光学ヘ
ッド２における半導体レーザの後方出射口を利用したフ
ィードバック制御を用い、記録／再生におけるレーザ光
量を一定にするようにレーザ駆動電流を制御する。光量
検出器３は光学ヘッド２における半導体レーザの後方出
射口からの出射光量を電圧に変換し基準電圧と比較する
ことで半導体レーザの出射光量の低下を検出する。回転
検出器４はディスク５を駆動するディスクモータ６のFG
信号を周波数−電圧変換し基準電圧と比較することでデ
ィスクの回転速度が規定値以上になったかどうかを検出
する。レーザ不良判別手段７は中央演算装置、プログラ
ムを格納している読みだし専用メモリ、書き込み／読み
だしができるメモリ、入出力ポートなどを備えたマイク
ロコンピュータで構成され、回転検出器４からの検出信
号によりディスク５の回転速度の立ち上がりを確認した
後、レーザパワー制御回路１を記録パワー制御に切り換
え、光量検出器３の検出信号により、光学ヘッド２のフ
ォーカス制御をするフォーカス制御回路８を駆動させる
か否かを選択する。
ッド２における半導体レーザの後方出射口を利用したフ
ィードバック制御を用い、記録／再生におけるレーザ光
量を一定にするようにレーザ駆動電流を制御する。光量
検出器３は光学ヘッド２における半導体レーザの後方出
射口からの出射光量を電圧に変換し基準電圧と比較する
ことで半導体レーザの出射光量の低下を検出する。回転
検出器４はディスク５を駆動するディスクモータ６のFG
信号を周波数−電圧変換し基準電圧と比較することでデ
ィスクの回転速度が規定値以上になったかどうかを検出
する。レーザ不良判別手段７は中央演算装置、プログラ
ムを格納している読みだし専用メモリ、書き込み／読み
だしができるメモリ、入出力ポートなどを備えたマイク
ロコンピュータで構成され、回転検出器４からの検出信
号によりディスク５の回転速度の立ち上がりを確認した
後、レーザパワー制御回路１を記録パワー制御に切り換
え、光量検出器３の検出信号により、光学ヘッド２のフ
ォーカス制御をするフォーカス制御回路８を駆動させる
か否かを選択する。
レーザ不良判別手段７は第２図に示すプログラムで実
行される。
行される。
すなわち、光ディスク５が起動を開始し、ディスクモ
ータ６が回転を開始すると、レーザ不良判別手段７のプ
ログラムが実行される。第２図において、まず、ステッ
プ10でマイクロコンピュータの入力ポートから回転検出
器４の出力をモニターし、ディスクモータ６の回転速度
が一定値以上になるのを待つ。回転速度が上がると、ス
テップ20に進みレーザパワー制御回路１に出力ポートか
ら指示を送り、記録パワー出力制御に切り換え半導体レ
ーザから適正な記録光量を出射させるように制御させ
る。このとき、半導体レーザが劣化していると出射光量
は少なく、そのためレーザパワー制御回路１は出射光量
を増やすために駆動出力を上げ、半導体レーザの駆動電
流を増大させる。ステップ30で光量検出器３の出力を入
力ポートを介してモニターし、出射光量が規定値以下の
場合は半導体レーザの不良と判断してステップ40を、ま
た、出射光量が規定値より大きい場合は半導体レーザは
正常と判断してステップ60を実行する。
ータ６が回転を開始すると、レーザ不良判別手段７のプ
ログラムが実行される。第２図において、まず、ステッ
プ10でマイクロコンピュータの入力ポートから回転検出
器４の出力をモニターし、ディスクモータ６の回転速度
が一定値以上になるのを待つ。回転速度が上がると、ス
テップ20に進みレーザパワー制御回路１に出力ポートか
ら指示を送り、記録パワー出力制御に切り換え半導体レ
ーザから適正な記録光量を出射させるように制御させ
る。このとき、半導体レーザが劣化していると出射光量
は少なく、そのためレーザパワー制御回路１は出射光量
を増やすために駆動出力を上げ、半導体レーザの駆動電
流を増大させる。ステップ30で光量検出器３の出力を入
力ポートを介してモニターし、出射光量が規定値以下の
場合は半導体レーザの不良と判断してステップ40を、ま
た、出射光量が規定値より大きい場合は半導体レーザは
正常と判断してステップ60を実行する。
ステップ40でレーザパワー制御回路１に出力ポートよ
り指令を送り半導体レーザの駆動を停止させる。その後
ステップ50で半導体レーザの不良があったことを示すフ
ラッグをセットしレーザ不良判別手段７の動作を終了す
る。半導体レーザ不良フラッグがセットされているとき
は、後の異常処理プログラムで異常表示などの異常対応
処理が実行される。
り指令を送り半導体レーザの駆動を停止させる。その後
ステップ50で半導体レーザの不良があったことを示すフ
ラッグをセットしレーザ不良判別手段７の動作を終了す
る。半導体レーザ不良フラッグがセットされているとき
は、後の異常処理プログラムで異常表示などの異常対応
処理が実行される。
一方、半導体レーザが正常であると判断するとステッ
プ60で、レーザパワー制御回路１に出力ポートより指令
を送り半導体レーザの駆動出力を再生出力制御に切り換
え、さらに、ステップ70で半導体レーザの不良があった
ことを示すフラッグをリセットし続いて、ステップ80で
フォーカス制御回路８を駆動させ、レーザ不良判別手段
７の動作を終了し、トラッキング制御などを行い光ディ
スク記録装置を立ち上げ、記録／再生を行う。
プ60で、レーザパワー制御回路１に出力ポートより指令
を送り半導体レーザの駆動出力を再生出力制御に切り換
え、さらに、ステップ70で半導体レーザの不良があった
ことを示すフラッグをリセットし続いて、ステップ80で
フォーカス制御回路８を駆動させ、レーザ不良判別手段
７の動作を終了し、トラッキング制御などを行い光ディ
スク記録装置を立ち上げ、記録／再生を行う。
なお、本実施例では、ディスクに照射されるレーザ光
のパワー密度を可能なかぎり小さくするためディスク５
の回転立ち上がり後、半導体レーザの検査を行っている
が、ディスクのローディング時やディスクがローディン
グされていない記録装置のパワーオン時に検査を行うこ
とも可能である。
のパワー密度を可能なかぎり小さくするためディスク５
の回転立ち上がり後、半導体レーザの検査を行っている
が、ディスクのローディング時やディスクがローディン
グされていない記録装置のパワーオン時に検査を行うこ
とも可能である。
また、記録担体として、カード状記録担体やテープ状
記録担体を用いた記録装置にも利用できるものである。
記録担体を用いた記録装置にも利用できるものである。
発明の効果 以上のように本発明によれば、半導体レーザの不良を
フォーカスをかける前、すなわち光ディスクなどの記録
担体のローディング時や、記録装置の起動時に、実際の
情報を記録する前に検査するので、正しく再生できない
信号の記録による情報トラックの損失や記録タイミング
を逃すことによる情報の損失を未然に防ぐことができ、
安全性の高い半導体レーザを用いた記録装置を提供する
ことができる。
フォーカスをかける前、すなわち光ディスクなどの記録
担体のローディング時や、記録装置の起動時に、実際の
情報を記録する前に検査するので、正しく再生できない
信号の記録による情報トラックの損失や記録タイミング
を逃すことによる情報の損失を未然に防ぐことができ、
安全性の高い半導体レーザを用いた記録装置を提供する
ことができる。
さらに、円盤状記録担体の回転速度が規定値以上にな
った後にレーザ不良判別手段を動作させるため、円盤状
記録担体に照射されるレーザ光のパワー密度をさらに小
さくすることができ、より安全性が向上する。
った後にレーザ不良判別手段を動作させるため、円盤状
記録担体に照射されるレーザ光のパワー密度をさらに小
さくすることができ、より安全性が向上する。
第１図は本発明の一実施例を示す半導体レーザ不良検出
装置のブロック図、第２図は第１図のレーザ不良判別手
段のプログラムを示すフローチャート図である。 １……レーザパワー制御回路、２……光学ヘッド、３…
…光量検出器、４……回転検出器、５……ディスク、７
……レーザ不良判別手段、８……フォーカス制御回路。
装置のブロック図、第２図は第１図のレーザ不良判別手
段のプログラムを示すフローチャート図である。 １……レーザパワー制御回路、２……光学ヘッド、３…
…光量検出器、４……回転検出器、５……ディスク、７
……レーザ不良判別手段、８……フォーカス制御回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/00 G11B 7/125
Claims (1)
- 【請求項１】円盤状記録担体の回転速度が規定値以上で
あることを検出する回転検出器と、半導体レーザの出力
を制御するレーザパワー制御回路と、レーザ出射光量が
規定値以下であることを検出する光量検出器と、前記回
転検出器からの検出信号により円盤状記録担体の回転速
度の立ち上がりを確認後、前記レーザパワー制御回路を
記録パワー制御に一時切り換え、前記光量検出器の検出
信号によりフォーカス制御回路を駆動させるか否かを選
択するレーザ不良判別手段とを具備する半導体レーザ不
良検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2031875A JP2834254B2 (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 半導体レーザ不良検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2031875A JP2834254B2 (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 半導体レーザ不良検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03235223A JPH03235223A (ja) | 1991-10-21 |
| JP2834254B2 true JP2834254B2 (ja) | 1998-12-09 |
Family
ID=12343213
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2031875A Expired - Fee Related JP2834254B2 (ja) | 1990-02-13 | 1990-02-13 | 半導体レーザ不良検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2834254B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06301984A (ja) | 1993-04-12 | 1994-10-28 | Olympus Optical Co Ltd | 光学的情報記録及び／又は再生装置 |
-
1990
- 1990-02-13 JP JP2031875A patent/JP2834254B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03235223A (ja) | 1991-10-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |