JP2003243837A - 多層配線板 - Google Patents

多層配線板

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JP2003243837A
JP2003243837A JP2002043846A JP2002043846A JP2003243837A JP 2003243837 A JP2003243837 A JP 2003243837A JP 2002043846 A JP2002043846 A JP 2002043846A JP 2002043846 A JP2002043846 A JP 2002043846A JP 2003243837 A JP2003243837 A JP 2003243837A
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wiring board
multilayer wiring
layer
reinforcing
manufacturing
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JP2002043846A
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Ryota Kimura
亮太 木村
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多層配線板の、半導体チップ実装面側からの
クラック発生を抑制することができ、信頼性の向上した
多層配線板を提供する。 【解決手段】 層間接続用の導体ポストと、該導体ポス
トと接続するための被接合部を有する導体回路と、前記
導体ポストと被接合部とを接合するための接合用金属材
料部と、絶縁層、及び接着剤層とを具備してなる多層配
線板において、少なくとも一方の最外層の絶縁層が、補
強フィルムから形成された補強層を有する多層配線板、
また、多層配線板製造用配線基板により、所定枚数積層
することにより得られる多層配線板であって、少なくと
も一方の最外層が、補強フィルムから形成された補強層
を有する多層配線板製造用補強配線基板を積層して得ら
れる多層配線板。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多層配線基板に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】近年の電子機器の高機能化並びに軽薄短
小化の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、さらには
高密度実装化が進んできており、これらの電子機器に使
用される半導体パッケージは、従来にも増して益々小型
化かつ多ピン化が進んできている。
【0003】従来の回路基板はプリント配線板と呼ば
れ、ガラス繊維の織布にエポキシ樹脂を含浸させた積層
板からなる、ガラスエポキシ板に貼り付けられた銅箔を
パターニングした後、複数枚重ねて積層接着し、ドリル
で貫通穴を開けて、この穴の壁面に銅メッキを行ってビ
アを形成し、層間の電気接続を行った配線基板の使用が
主流であった。しかし、搭載部品の小型化、高密度化が
進み、上記の配線基板では配線密度が不足して、部品の
搭載に問題が生じるようになってきている。
【0004】このような背景により、近年、ビルドアッ
プ多層配線板が採用されている。ビルドアップ多層配線
板は、樹脂のみで構成される絶縁層と、導体とを積み重
ねながら成形される。ビア形成方法としては、従来のド
リル加工に代わって、レーザ法、プラズマ法、フォト法
等多岐にわたり、小径のビアホールを自由に配置するこ
とで、高密度化を達成するものである。層間接続部とし
ては、ブラインドビア(Blind Via)やバリー
ドビア(Buried Via:ビアを導電体で充填し
た構造)等があり、ビアの上にビアを形成するスタック
ドビアが可能な、バリードビアホールが特に注目されて
いる。バリードビアホールとしては、ビアホールをメッ
キで充填する方法と、導電性ペースト等で充填する場合
とに分けられる。一方、配線パターンを形成する方法と
して、銅箔をエッチングする方法(サブトラクティブ
法)、電解銅メッキによる方法(アディティブ法)等が
あり、配線密度の高密度化に対応可能なアディティブ法
が特に注目され始めている。
【0005】一方近年、小型、軽量化、多ピン化および
高速信号伝送を実現させるために、配線の高密度化、ビ
アの小径化と共に、層間絶縁層の薄膜化が求められてい
る。また、電子機器、電子部品等の開発期間短縮は重要
課題であり、半導体チップを搭載する多層配線板の生産
性向上および短納期化は必須課題となっている。しかし
ながら、従来のビルドアップ法のような逐次積層法で
は、層間絶縁層と配線を交互に形成していくため、生産
性の向上が見込めないのが現状である。そこで、1層分
の層間絶縁層と配線を予め形成した基板(以下、多層配
線板製造用配線基板と呼ぶ)を全層分作製しておき、そ
れらを一括積層して、多層配線板を得る一括積層法が注
目され始めている。
【0006】これらの多層配線板は、層間絶縁層の破断
強度が低いことや、非常に薄いことにより、半導体チッ
プの実装時または、実装後の温度サイクル試験時におい
て、多層配線板の層間絶縁層のインナー側または、アウ
ター側からクラックが発生し、多層配線板の信頼性が低
下する問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、半導体チッ
プを搭載する多層配線板の、このような問題点を解決す
べく鋭意検討の結果なされたもので、半導体チップ実装
後における絶縁層のクラックの発生を抑制する多層配線
板を提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、(1)層間接
続用の導体ポストと、該導体ポストと接続するための被
接合部を有する導体回路と、前記導体ポストと被接合部
とを接合するための接合用金属材料部と、絶縁層、及び
接着剤層とを具備してなる多層配線板において、少なく
とも一方の最外層の絶縁層が、補強フィルムから形成さ
れた補強層を有することを特徴とする多層配線板、
(2)導体回路が、絶縁層中に一方の面を露出して埋め
込まれ、導体ポストが、該導体回路の露出している面と
反対側の面上に該絶縁層を貫通して形成され、被接続層
との接合面上に接着剤層が形成された多層配線板製造用
配線基板により、所定枚数積層することにより得られる
多層配線板であって、少なくとも一方の最外層が、補強
フィルムから形成された補強層を有する多層配線板製造
用補強配線基板を積層して得られることを特徴とする多
層配線板、(3)補強フィルムが、ポリイミド系フィル
ムである(1)項又は(2)項記載の多層配線板、を提
供するものである。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
形態を具体的に説明するが、本発明はこれによって何ら
限定されるものではない。
【0010】まず、最外層に用いる、補強フィルムから
形成された補強層を有する多層配線板製造用補強配線基
板の製造方法の一例を説明する。図2は、その製造方法
を説明するための図で、図2(k)は絶縁層が補強フィ
ルムから形成された補強フィルム層を有する多層配線板
製造用補強配線基板の構造を示す断面図である。以下
に、本発明の多層配線板製造用補強配線基板の製造方法
について詳細に説明する。
【0011】まず、金属層201上に、パターニングさ
れためっきレジスト102を形成する(図2(a))。
【0012】金属層201の材質は、この製造方法に適
するものであれば、どのようなものでも良いが、特に、
使用される薬液に対して耐性を有するものであって、最
終的にエッチングにより除去可能であることが必要であ
る。そのような金属層201の材質としては、例えば、
銅、銅合金、42合金、ニッケル等が挙げられる。特
に、銅箔、銅板、銅合金板は、電解めっき品・圧延品を
選択できるだけでなく、様々な厚みのものを容易に入手
できるため、金属層201として使用するのに好まし
い。
【0013】めっきレジスト202は、例えば、金属層
201上に紫外線感光性のドライフィルムレジストをラ
ミネートし、ネガフィルム等を用いて選択的に露光し、
その後、現像することにより形成することができる。ま
た、液状レジストをカーテンコートやロールコータで塗
布し、同様に露光・現像を行うことにより形成すること
もできる。
【0014】次に、金属層201を電解めっき用リード
(給電用電極)として、めっきレジスト202が形成さ
れていない部分に、電解めっきによりレジスト金属層2
03を形成する図2(b))。レジスト金属層203の
材質は、この製造方法に適するものであればどのような
ものでも良いが、特に、最終的に金属層201をエッチ
ングにより除去する際に使用する薬液に対して耐性を有
することが必要である。レジスト金属層203の材質と
しては、例えば、ニッケル、金、錫、銀、半田、パラジ
ウム等が挙げられる。
【0015】なお、レジスト金属層203を形成する目
的は、金属層201をエッチングする際に使用する薬液
により、図2(c)に示す導体回路204がエッチング
されるのを防ぐことである。例えば、金属層201の材
質が銅(銅箔、銅板または銅合金板)で、導体回路20
4の材質が銅の場合には、レジスト金属層203の材質
として、金を選択するのが最も好ましい。レジスト金属
層203の材質を金にすることで、金属層201をエッ
チングする際に用いるほとんどのエッチング液(一般的
には、塩化第二鉄溶液、塩化第二銅溶液)に耐性を有す
るだけでなく、層間接合時の半田濡れ性を確保しやすく
なる。また、レジスト金属層203の材質として、ニッ
ケル、錫または半田を選択する方法もあるが、通常の酸
系のエッチング液では溶解するため、アルカリ系のエッ
チング液(塩化アンモニウム溶液)を使用する必要があ
るが、金と比べて低コストである。
【0016】一方で、金属層201をエッチングする際
に使用する薬液に対して、導体回路204が耐性を有し
ている場合は、このレジスト金属203は不要である。
また、レジスト金属層203は、導体回路204と同一
のパターンである必要はなく、金属層201上にめっき
レジスト202を形成する前に、金属層201の全面に
レジスト金属層203を形成しても良い。その場合は、
金属層201をエッチングにより除去した後、導体回路
204がエッチングされない薬液を用いて、レジスト金
属層203をエッチングする必要がある。
【0017】次に、金属層201を電解めっき用リード
(給電用電極)として、めっきレジスト202が形成さ
れていないレジスト金属層203の部分に、電解めっき
により導体回路204を形成する(図2(c))。導体
回路204の材質としては、この製造方法に適するもの
であればどのようなものでも良いが、例えば、銅、ニッ
ケル、金、錫、銀、パラジウム等が挙げられる。特に、
導体回路204の材質を銅にすることで、低抵抗で安定
した導体回路204が得られる。
【0018】次に、めっきレジスト202を除去し(図
2(d))、回路付金属層205を得る。また、回路付
金属層205の回路形成面に、回路埋め込み用樹脂層2
12と補強フィルム層213とからなる絶縁層を形成す
る(図2(e))。補強フィルム層213は、補強フィ
ルムから形成される補強層であり、絶縁層を補強するこ
とができる。これらの層は、補強フィルム層213とな
る補強フィルム上に回路埋め込み用樹脂層212を形成
し、2層体の回路埋め込み用樹脂層212面を、導体回
路204表面と金属板201表面とを覆うように密着さ
せることで形成される。補強フィルム層213上への回
路埋め込み用樹脂層212の形成は、使用する樹脂に応
じて適した方法で良く、樹脂ワニスを印刷、カーテンコ
ート、バーコート等の方法で直接塗布したり、ドライフ
ィルムタイプの樹脂を常圧ラミネート、真空ラミネー
ト、常圧プレス、真空プレス等の方法で積層する方法が
挙げられる。
【0019】2層体を得るためには常圧ラミネート、真
空ラミネート、常圧プレス、真空プレス等を用いること
ができる。回路埋め込み用樹脂層212に用いる樹脂と
しては、接着機能を有するものであればどのようなもの
でも良いが、特に、エポキシ、フェノール、ポリイミ
ド、ポリアミドイミドなど、耐熱性と絶縁性が良好な樹
脂を用いることが好ましい。また、このような構造物が
得られれば、形成順序は何れの方法でもよく、上記の方
法以外に、回路埋め込み用樹脂層212および補強フィ
ルム層213を逐次に形成する方法が挙げられる。即
ち、導体回路204表面と金属層201表面を覆うよう
に、回路埋め込み用樹脂層212を形成し、続いて、回
路埋め込み用樹脂層212を覆うように補強フィルムを
密着させて補強フィルム層213を形成する方法も用い
ることができる。また、補強フィルム層213自体が、
導体回路204を埋め込むことが可能であれば、回路埋
め込み用樹脂層212を用いずに、補強フィルム単体を
導体回路204表面と金属層201表面とを覆うように
密着させることができる。
【0020】補強フィルムの材質は、本発明の目的を達
成し、この製造方法に適するものであれば限定されず、
熱可塑性樹脂フィルム、熱硬化性樹脂フィルムのいずれ
でも良いが、特に、使用する薬液に耐性を有することが
好ましく、JIS K 7127に従い測定される引張
り強度が、80MPa以上、10GPa以下、好ましく
は、100MPa以上、5GPa以下であることが、よ
り好ましい。具体的には、ポリフェニレンサルファイド
系、ポリカーボネート系、ポリアリレート系、ポリイミ
ド系、ポリアミド系、ポリアミドイミド系、ポリエーテ
ルスルフォン系、ポリスルフォン系、ポリエーテルエー
テルケトン系、ポリエーテルイミド系、液晶高分子系等
の樹脂フィルムが挙げられる。
【0021】これらの中でも、特に、線膨張係数の小さ
いポリイミド系樹脂フィルムを使用することが好まし
く、更には、芳香族酸無水物とジアミンの重縮合により
得られる全芳香族ポリイミドがこれに適している。
【0022】次に、形成した回路埋め込み用樹脂層21
2と補強フィルム層213とからなる絶縁層にビア20
7を形成する(図2(f))。ビア207の形成方法
は、この製造方法に適する方法であればどのような方法
でも良く、レーザやプラズマによるドライエッチング、
ケミカルエッチング等が挙げられる。レーザによる開口
では、回路埋め込み用樹脂層212が感光性・非感光性
に関係なく、微細なビア207を容易に形成することが
できるので、有利である。レーザとしては、エキシマレ
ーザ、UVレーザ、炭酸ガスレーザなどが使用できる。
【0023】次に、金属層201を電解めっき用リード
(給電用電極)として、絶縁層のビア207が形成され
た部分に、電解めっきにより導体ポスト208を形成す
る(図2(g))。電解めっきにより導体ポスト208
を形成する場合には、めっき電流密度や、めっき浴への
添加剤を選択することによって、導体ポスト208の先
端形状を平坦な形状から凸状まで自由に制御することが
できる。導体ポスト208の材質としては、この製造方
法に適するものであればどのようなものでも良く、例え
ば、銅、ニッケル、金、錫、銀、パラジウム等が挙げら
れる。特に、銅を用いることで、低抵抗で安定した導体
ポスト208が得られる。
【0024】次に、導体ポスト208の先端表面に、接
合用金属材料層部209を形成する(図2(h))。接
合用金属材料層部209の形成方法としては、無電解め
っきにより形成する方法、金属板層201を電解めっき
用リード(給電用電極)として電解めっきにより形成す
る方法、接合用金属材料を含有するペーストを印刷する
方法が挙げられる。印刷による方法では、印刷用マスク
を導体ポスト208に対して精度良く位置合せする必要
があるが、無電解めっきや電解めっきによる方法では、
導体ポスト208の表面以外に接合用金属材料部が形成
されることがないため、導体ポスト208の微細化・高
密度化にも対応しやすい。特に、電解めっきによる方法
では、無電解めっきによる方法よりも、めっき可能な金
属が多種多様であり、また薬液の管理も容易であるた
め、非常に好適である。
【0025】接合用金属材料部209を形成する目的
は、図3(a)に示すレジスト金属層103と、導体ポ
スト208とを金属接合させることである。また、導体
ポスト208そのものを接合用金属材料で形成すれば、
レジスト金属層と導体ポスト208との金属接合は確保
されるわけであるから、接合用金属材料層部209は不
要である。
【0026】接合用金属材料層部209の材質として
は、多層配線板製造用配線基板114aのレジスト金属
層103a等の接合部と金属接合可能な金属であればど
のようなものでもよく、例えば、半田が挙げられる。半
田の中でも、SnやIn、もしくはSn、Ag、Cu、
Zn、Bi、Pd、Sb、Pb、In、Auの少なくと
も二種からなる半田を使用することが好ましい。より好
ましくは、環境に優しいPbフリー半田である。
【0027】次に、支持基材211上に接着剤層210
を形成した、2層体(接着剤層210付き支持基材21
1)の接着剤層210面を、補強フィルム層213表面
と接合用金属材料層部209表面とを覆うように密着さ
せることにより、多層配線板製造用補強基板222を得
る(図2(i))。支持基材211上への接着剤層21
0の形成は、使用する樹脂に応じて適した方法で良く、
樹脂ワニスを印刷、カーテンコート、バーコート等の方
法で直接塗布したり、ドライフィルムタイプの樹脂を常
圧ラミネート、真空ラミネート、常圧プレス、真空プレ
ス等の方法で積層する方法が挙げられる。
【0028】2層体の密着方法は常圧ラミネート、真空
ラミネート、常圧プレス、真空プレス等を用いることが
できる。接着剤層210に用いる樹脂としては、接着機
能を有するものであればどのようなものでも良いが、特
に、エポキシ、フェノール、ポリイミド、ポリアミドイ
ミドなど、耐熱性と絶縁性が良好な樹脂を用いることが
好ましい。また、多層配線板製造用補強基板222を得
る方法において、上記の方法以外に、接着剤層210お
よび支持基板211を逐次に形成する方法が挙げられ
る。即ち、接合用金属材料層部209表面と絶縁層20
6表面を覆うように、接着剤層210を形成し、続い
て、接着剤層210を覆うように支持基材211を密着
させる方法も用いることができる。
【0029】支持基材211の形状は、この製造方法に
適するものであれば、特にどのようなものでも良いが、
特に、フィルム状のものが取り扱い容易性に優れてい
る。厚みは1μm以上、1000μm以下が望ましい。
好ましくは5μm以上、500μm以下であり、より好
ましくは7μm以上、200μm以下である。フィルム
の材質にも依存するが、厚みが1μm以下であると、多
層配線板製造用基板にハンドリング性を付与することが
困難になる。また、1000μm以上であると、多層配
線板製造用配線基板に損傷を与えることなく剥離するこ
とが困難になる恐れがある。
【0030】支持基材211の材質は、この製造方法に
適するものであれば、特にどのようなものでも良いが、
特に、使用する薬液に耐性を有し、工程中に接着剤層2
10との界面に剥離を生じず、最終的には多層配線板製
造用配線基板に損傷を与えることなく剥離が可能である
ことが必要である。その支持基材211には熱可塑性樹
脂フィルム、熱硬化性樹脂フィルムのいずれでも使用す
ることができる。具体的には、ポリオレフィン系、ポリ
アミド系、ポリエーテル系、ポリカーボネート系、ポリ
エステル系、ポリウレタン系、フェノール系、アミノ
系、エポキシ系、ポリイミド系、ポリサルホン系、ポリ
ケトン系、シアネート系等の樹脂からなるフィルムがあ
る。
【0031】特に、線膨張係数の小さいポリイミド系フ
ィルムを使用することが好ましく、カプトン(東レ・デ
ュポン(株))、ユーピレックス(宇部興産(株))、アピ
カル(鐘淵化学工業(株))等がこれに含まれる。また、
より安価であり、各工程後における接着剤層210との
離型性に優れるポリエステル系フィルムを使用すること
も好ましく、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィ
ルムであるダイアホイル(ダイアホイルヘキスト(株))
を使用することができる。また、接着剤層210との離
型性に最も優れるスミライトFC−1110C(住友ベ
ークライト(株))を使用することもできる。
【0032】次に、金属層201をエッチングにより除
去して多層配線板製造用補強配線基板223を得る(図
2(j))。金属層201と導体回路204との間にレ
ジスト金属層203が形成されており、そのレジスト金
属層203は、金属層201をエッチングにより除去す
る際に使用する薬液に対して耐性を有しているため、金
属層201をエッチングしてもレジスト金属層203が
エッチングされることがなく、結果的に導体回路204
がエッチングされることはない。金属層201の材質が
銅、レジスト金属の材質がニッケル、錫または半田の場
合、市販のアンモニア系エッチング液を使用することが
できる。金属層201の材質が銅、レジスト金属層20
3の材質が金の場合、塩化第二鉄溶液、塩化第二銅溶液
を含め、ほとんどのエッチング液を使用することができ
る。
【0033】次に、多層配線板製造用補強配線基板22
3を加熱乾燥し、金属板のエッチングや大気中放置によ
って多層配線板製造用補強配線基板223に含まれた水
分を、除去する。なお、加熱時の多層配線板製造用補強
配線基板223には、支持基材211があるため、多層
配線板製造用基板の折れやしわの発生を防止することが
できる。
【0034】最後に、多層配線板製造用補強配線基板2
23から支持基材211を剥離して、多層配線板製造用
補強配線基板224を得る(図2(k))。支持基材2
11の剥離方法はどのようなものでもよいが、多層配線
板製造用補強配線基板223を吸着冶具により吸着固定
した状態で、剥離する方法が挙げられる。多層配線板製
造用補強配線基板223を吸着固定しているため、支持
基材211を剥離して得られる多層配線板製造用配線基
板224には折れやしわが発生する心配がない。
【0035】続いて、補強フィルム層を有さない多層配
線板製造用配線基板の製造方法の一例について、図1を
用いて説明する。図1(k)は多層配線板製造用配線基
板の構造の例を示す断面図である。多層配線板製造用配
線基板の製造方法としては、前記多層配線板製造用補強
配線基板と同様の工程で製造することができるが、回路
付き金属層205の回路形成面に回路埋め込み用樹脂層
212と補強フィルム層213とからなる絶縁層を形成
する工程において、導体回路104上に絶縁層106を
形成することが違うだけで良い(図1(e))。絶縁層
106を構成する樹脂は、この製造方法に適するもので
あればどのようなものでも使用できる。また、絶縁層1
06の形成方法は、使用する樹脂に応じて適した方法で
良く、樹脂ワニスを印刷、カーテンコート、バーコート
等の方法で直接塗布したり、ドライフィルムタイプの樹
脂を真空ラミネート、真空プレス等の方法で積層する方
法が挙げられる。特に、ドライフィルムタイプの樹脂は
取扱が容易であるだけでなく、生産性に優れる。
【0036】さらに、市販されている樹脂付銅箔(例え
ば、ビルドアップ多層配線板用)は入手が容易であり、
真空ラミネート・真空プレスにより導体回路104の凹
凸を埋め込みながら成形し、最後に銅箔をエッチングす
れば、絶縁層106の表面が導体回路104の凹凸に影
響されることなく、非常に平坦に形成することができ
る。また、絶縁層106の表面には銅箔表面の微細な粗
化形状が転写されるため、図1(i)に示す接着剤層1
10との密着性を確保することができる。
【0037】絶縁層106に用いる樹脂には、熱可塑性
樹脂でも熱硬化性樹脂でも使用できる。熱可塑性樹脂と
しては、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、
ポリエーテルイミド、ポリエステルイミド、ポリエーテ
ルエーテルケトン、ポリフェニレンサルフィド、ポリキ
ノリン、ポリノルボルネン、ポリベンゾオキサゾール、
ポリベンゾイミダゾールなどの樹脂が使用できる。熱硬
化性樹脂としては、エポキシ、フェノール、ビスマレイ
ミド、ビスマレイミド・トリアジン、トリアゾール、ポ
リシアヌレート、ポリイソシアヌレート、ベンゾシクロ
ブテン、などの樹脂が使用できる。上記の樹脂は単独で
使用してもよく、複数を混合して使用しても良い。
【0038】次に、多層配線板製造用補強配線基板22
4を作製する方法と同一の工程で、多層配線板製造用配
線基板114を得る(図1(k))。
【0039】続いて、図3により、本発明の多層配線板
の製造方法(一括積層方式)の一例について詳細に説明
する。図3(a)〜(b)に示す工程は、図1(k)に
示された多層配線板製造用配線基板114と、図2
(k)に示された多層配線板製造用補強配線基板224
を使用した、多層配線板の製造方法を説明するための図
であり、図3(b)および、図4(a)〜(b)は実施
形態である多層配線板の構造を示す断面図である。
【0040】まず、多層配線板製造用配線基板114a
〜114cと、多層配線板製造用補強配線基板224
と、被接続層301とを、多層配線板製造用補強配線基
板224をチップ実装側の最外層に配置して、位置合わ
せする(図3(a))。位置合わせは、多層配線板製造
用配線基板114a〜114c、多層配線板製造用補強
配線基板224、および被接続層301に予め形成され
ている位置決めマークを、画像認識装置により読み取り
位置合わせする方法、位置合わせ用のピン等で位置合わ
せする方法等を用いることができる。なお、図3(a)
では、被接続層301として、多層配線板303にリジ
ッド性を持たせるために用いる、FR−4等のコア基板
を使用する例を示しているが、被接続層301の材質や
構造は何ら限定されるものではない。
【0041】最後に、多層配線板製造用配線基板114
a〜114c、多層配線板製造用補強配線基板224お
よび被接続層301を、一括して加熱・加圧して、全層
の接合用金属材料層を一括して溶融させ、層間接続を行
い多層配線板303を得る(図3(b))。加熱・加圧
する方法としては、例えば真空プレスを用いて、接合用
金属材料層部109a,109b,109c,209が
接着剤層110a,110b,110c,210を排除
して、レジスト金属層103a,103bと導体ポスト
208,108cと、また、被接合部302と導体ポス
ト108a,108bとを、接合用金属材料層部109
a,109b,109c,209により金属接合するま
で加熱・加圧し、さらに接着剤層110a,110b,
110c,210を硬化させて、多層配線板製造用配線
基板114a〜114cと多層配線板製造用補強配線基
板224と被接続層301とを接着する方法が挙げられ
る。
【0042】多層配線板303はインナー側(チップ実
装側)に多層配線板製造用補強配線基板を有しているこ
とで、チップ実装後のインナー側からの絶縁層のクラッ
ク発生を抑制することができる。すなわち、多層配線板
にチップを実装することにより、多層配線板に応力がか
かり、特に、インナー側の最外層の絶縁層に応力が集中
し、クラックの切欠が発生しやすいため、最外層を補強
フィルム層で補強することで、多層配線板全体のクラッ
ク発生を抑制できる。
【0043】多層配線板製造用補強配線基板224の積
層部分は、図3(b)の様に、インナー側のみに積層し
てもよいが、図4(a)の様に、アウター側に積層して
もよい。また、図4(b)の様に、インナー側、アウタ
ー側の両方に積層してもよい。この場合、多層配線板を
プリント配線板に接合させた時に、アウター側から発生
するクラックを抑制することができる。
【0044】
【実施例】以下、実施例により更に具体的に説明する
が、本発明はこれによって何ら限定されるものではな
い。
【0045】[実施例1] <接着剤ワニスの製造>フェノールノボラック樹脂(住
友デュレズ(株)製、PR−53647、OH当量10
6)105gと、ジアリルビスフェノールA型エポキシ
樹脂(日本化薬(株)製、RE−810NM、エポキシ当
量220)220gおよびフェノキシ樹脂(東都化成
(株)製、YP−70)215gを、メチルエチルケト
ン480gに溶解し、接着剤ワニスを作製した。
【0046】<多層配線板製造用配線基板の製造>表面
を粗化処理した150μm厚の圧延銅板(金属板101
・古川電気工業製、EFTEC−64T)に、ドライフ
ィルムレジスト(旭化成製、AQ−2058)をロール
ラミネートし、所定のネガフィルムを用いて露光・現像
し、導体回路(導体回路104)の形成に必要なめっき
レジスト(めっきレジスト102)を形成した。次に、
圧延銅板を電解めっき用リードとして、金(レジスト金
属層103)を電解めっきにより形成し、さらに電解銅
めっきすることにより導体回路を形成した。導体回路
は、線幅/線間/厚み=40μm/40μm/10μm
とした。次に、樹脂付銅箔(住友ベークライト製、AP
L−4001)を真空ラミネートにより導体回路の凹凸
を埋め込みながら成形し、表面の銅箔を全面エッチング
して、25μm厚の絶縁層(絶縁層106)を形成し
た。
【0047】次に、45μm径のビア(ビア107)
を、UV−YAGレーザにより形成し、ビア内部および
周辺の加工残渣を、超音波を併用したウエットデスミア
処理によって洗浄除去した。続いて、圧延銅板を電解め
っき用リードとして、電解銅めっきすることによりビア
を銅で充填し、銅ポスト(導体ポスト108)を形成し
た。この時、ビアを充填した銅ポストの先端が凸状にな
るように、めっき電流密度を4A/dm2にコントロー
ルしてめっきを行った。また、凸状の先端部分が絶縁層
の表面から5μm突出するまでめっきを行った。次に、
圧延銅板を電解めっき用リードとして、銅ポスト上にS
n−Pb共晶半田(接合用金属材料109)を電解めっ
きにより厚み5μmとなるよう形成した。銅ポストの先
端部分が凸状になっているため、Sn−Pb共晶半田表
面も凸状になっている。次に、バーコートにより、上記
で得た接着剤ワニスを、ポリエチレンテレフタレートフ
ィルム(ダイアフォイルヘキスト(株)製、ダイアフォ
イル)に塗布後、80℃で20分乾燥し、10μm厚の
接着剤層を形成し、この接着剤層面を絶縁層の表面、す
なわちSn−Pb共晶半田にロールラミネートすること
で、接着剤層(接着剤層110)および、支持基材(支
持基材111)を形成した。次に、塩化第二銅溶液を用
いて銅板をエッチングにより除去し、支持基材(支持基
材111)を除去した。これまでの工程により、多層配
線板製造用配線基板(多層配線板製造用配線基板11
4)を得た。
【0048】<多層配線板製造用補強配線基板の製造>
絶縁層に樹脂付銅箔(住友ベークライト製、APL−4
001)を使用する代わりに、補強フィルムとして、接
着剤付のカプトンEN(東レ・デュポン(株)製、25μ
m厚)を補強フィルム(補強フィルム213)として使
用する他は、上記、多層配線板製造用配線基板の製造と
同様の工程を経て、多層配線板製造用補強配線基板を得
た。
【0049】<多層配線板の製造>コア基板として、1
2μm厚の銅箔が形成されたFR−5相当のガラスエポ
キシ樹脂銅張積層板(住友ベークライト製、ELC−4
781)を用い、銅箔をエッチングして導体回路および
パッド(被接合部302)を形成し、コア基板(被接続
層301)を得た。次に、上記の工程により得られた多
層配線板製造用補強配線基板、多層配線版製造用配線基
板、コア基板の順に、予め形成されている位置決めマー
クを、画像認識装置により読み取り、両者を位置合わせ
して重ね合わせて、真空プレスにより、1MPaの圧力
で、250℃まで45分で昇温した後、250℃で30
分間加圧加熱し、その後、55分で常温まで冷却して、
銅ポストとパッドを銅ポスト表面に形成したSn−Pb
共晶半田によって金属接合するとともに、層間を接着剤
層によって接着した。次に、塩化第二銅溶液を用いて銅
板をエッチングにより除去した。続いて、上記の工程
(位置合わせ、積層、エッチング)を再度行い、コア基
板の片面に多層配線版製造用補強配線基板、多層配線板
製造用配線基板が1層ずつ積層された多層配線板を得
た。
【0050】半田バンプを有するシリコンウエハーを、
上記で作製した多層配線板303上に、窒素雰囲気下、
250℃、10秒間をピークとするリフロー工程を行う
ことで、半田接合し、シリコンウエハー付多層配線板を
得た。多層配線板のシリコンウエハー接合面には、シリ
コンウエハーの半田バンプに対応するパターンが形成さ
れており、このパターンに、画像認識により、シリコン
ウエハーの位置決めを行った。得られたシリコンウエハ
ー付多層配線板は、温度サイクル試験用に480個の層
間接続部が直列につながるように回路設計されている。
【0051】[実施例2]多層配線板製造用補強配線基板
の製造において、補強フィルム213として、カプトン
EN(東レ・デュポン(株)製、25μm厚)の代わり
に、ユーピレックスSGA(宇部興産(株)製、25μm
厚)を用いた以外は、実施例1と同様にしてサンプルを
作製した。
【0052】[実施例3]多層配線板製造用補強配線基板
の製造において、補強フィルム213として、カプトン
EN(東レ・デュポン(株)製、25μm厚)の代わり
に、アピカルNPI(鐘淵化学工業(株)製)を用いた以
外は、実施例1と同様にしてサンプルを作製した。
【0053】<温度サイクル試験>上記で得られた多層
配線板の初期導通を確認後、−65℃で30分、150
℃で30分を1サイクルとする温度サイクル試験を実施
した。投入した10個の多層配線板の、温度サイクル試
験1000サイクル後の断線不良数の結果をまとめて表
1に示した。
【0054】
【表1】
【0055】
【発明の効果】本発明によれば、半導体チップ実装後の
多層配線板の、インナー側またはアウター側からのクラ
ック発生を抑制することができ、信頼性を向上すること
ができる。即ち、最外層の多層配線板製造用補強配線基
板はクラックの切欠が入りにくく、かつ、二層目以降の
多層配線板製造用配線基板にかかる半導体チップ由来の
応力を緩和できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における、多層配線板製造用配線基板の
製造方法の一例を説明するための断面図である。
【図2】本発明における、多層配線板製造用補強配線基
板の製造方法の一例を説明するための断面図である。
【図3】本発明の多層配線板の製造方法(一括積層方
式)の一例を説明するための断面図である。
【図4】本発明の多層配線板を説明するための断面図で
ある。
【符号の説明】
101、201:金属層 102、202:めっきレジスト 103、103a、103b、203:レジスト金属層 104、204:導体回路 105、205:回路付金属層 106:絶縁層 107、207:ビア 108、108a、108b、108c、208:導体
ポスト 109、109a、109b、109c、209:接合
用金属材料部 110、110a、110b、110c、210:接着
剤層 111、211:支持基材 112:多層配線板製造用基板 113、114、114a、114b、114c:多層
配線板製造用配線基板 212:回路埋め込み用樹脂層 213:補強フィルム層 222:多層配線板製造用補強基板 223、224:多層配線板製造用補強配線基板 301:被接続層 302:被接合部 303、401、402:多層配線板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 層間接続用の導体ポストと、該導体ポス
    トと接続するための被接合部を有する導体回路と、前記
    導体ポストと被接合部とを接合するための接合用金属材
    料部と、絶縁層、及び接着剤層とを具備してなる多層配
    線板において、少なくとも一方の最外層の絶縁層が、補
    強フィルムから形成された補強層を有することを特徴と
    する多層配線板。
  2. 【請求項2】 導体回路が、絶縁層中に一方の面を露出
    して埋め込まれ、導体ポストが、該導体回路の露出して
    いる面と反対側の面上に該絶縁層を貫通して形成され、
    被接続層との接合面上に接着剤層が形成された多層配線
    板製造用配線基板により、所定枚数積層することにより
    得られる多層配線板であって、少なくとも一方の最外層
    が、補強フィルムから形成された補強層を有する多層配
    線板製造用補強配線基板を積層して得られることを特徴
    とする多層配線板。
  3. 【請求項3】 補強フィルムが、ポリイミド系フィルム
    である請求項1又は2記載の多層配線板。
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