JP2003204955A - Ｘ線平面検出器、ｘ線画像診断装置、及びｘ線画像補正方法 - Google Patents
Ｘ線平面検出器、ｘ線画像診断装置、及びｘ線画像補正方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 横引きノイズの補正精度を向上し、従来より
もノイズの少ない、より高画質なＸ線診断画像を提供可
能とする。 【解決手段】 マトリクス状に配置された複数の画素を
有してなるＸ線平面検出器において収集されたＸ線画像
の補正方法において、前記Ｘ線画像の列方向に高周波成
分を除去する第１のフィルタを施し、この第１のフィル
タが施された画像を前記Ｘ線画像から減じ、この減じて
得られた画像の行方向に高周波成分を除去する第２のフ
ィルタを施し、この第２のフィルタが施された画像を前
記Ｘ線画像から減じることを特徴とするＸ線画像補正方
法。
もノイズの少ない、より高画質なＸ線診断画像を提供可
能とする。 【解決手段】 マトリクス状に配置された複数の画素を
有してなるＸ線平面検出器において収集されたＸ線画像
の補正方法において、前記Ｘ線画像の列方向に高周波成
分を除去する第１のフィルタを施し、この第１のフィル
タが施された画像を前記Ｘ線画像から減じ、この減じて
得られた画像の行方向に高周波成分を除去する第２のフ
ィルタを施し、この第２のフィルタが施された画像を前
記Ｘ線画像から減じることを特徴とするＸ線画像補正方
法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線画像に生じる
ノイズを低減するＸ線平面検出器、Ｘ線画像診断装置、
及びＸ線画像補正方法に関する。
ノイズを低減するＸ線平面検出器、Ｘ線画像診断装置、
及びＸ線画像補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、人体にＸ線を入射することで
人体の各組織によるＸ線吸収差により生成された（人体
を透過した後の）２次元Ｘ線画像に対してＸ線検出器を
用いて、複数の過程を経ることで電気信号に変換し映像
化する技術がＸ線診断装置として利用されている。近
年、このＸ線検出器として、Ｘ線平面検出器（以下、Ｆ
ＰＤ：Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）を使
用したＸ線画像診断装置が製品化されつつある。
人体の各組織によるＸ線吸収差により生成された（人体
を透過した後の）２次元Ｘ線画像に対してＸ線検出器を
用いて、複数の過程を経ることで電気信号に変換し映像
化する技術がＸ線診断装置として利用されている。近
年、このＸ線検出器として、Ｘ線平面検出器（以下、Ｆ
ＰＤ：Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）を使
用したＸ線画像診断装置が製品化されつつある。
【０００３】このＦＰＤは、複数の画素をマトリクス状
に構成したアレイ部を有する。各画素毎に、入射したＸ
線による信号を電荷信号に変換するＸ線検出部と、検出
された電荷量を蓄積するコンデンサと、このコンデンサ
から電荷の読み出しを選択する半導体スイッチとが設け
られている。
に構成したアレイ部を有する。各画素毎に、入射したＸ
線による信号を電荷信号に変換するＸ線検出部と、検出
された電荷量を蓄積するコンデンサと、このコンデンサ
から電荷の読み出しを選択する半導体スイッチとが設け
られている。
【０００４】電荷信号の読み出しの際は画素行毎に順
次、同一画素行に存在する前記半導体スイッチをＯＮ／
ＯＦＦしていく。前記半導体スイッチのＯＮにより取り
出された電荷信号は同一画素列毎に設けられた増幅部に
おいて電圧信号に変換・増幅され、ディジタル信号とし
て取り出される。
次、同一画素行に存在する前記半導体スイッチをＯＮ／
ＯＦＦしていく。前記半導体スイッチのＯＮにより取り
出された電荷信号は同一画素列毎に設けられた増幅部に
おいて電圧信号に変換・増幅され、ディジタル信号とし
て取り出される。
【０００５】このディジタル信号には入射したＸ線から
変換された純粋な信号成分に加えて、オフセット成分、
横引きノイズ（画像の行方向に一様で列方向に変動して
いる高周波成分：詳細は後述）が混入されている。さら
に、Ｘ線検出部における変換効率のバラツキ及び増幅部
における増幅率のバラツキもある。従って、入射したＸ
線による純粋な信号のみを取り出すためには、これら混
入成分やバラツキ分を補正する必要がある。
変換された純粋な信号成分に加えて、オフセット成分、
横引きノイズ（画像の行方向に一様で列方向に変動して
いる高周波成分：詳細は後述）が混入されている。さら
に、Ｘ線検出部における変換効率のバラツキ及び増幅部
における増幅率のバラツキもある。従って、入射したＸ
線による純粋な信号のみを取り出すためには、これら混
入成分やバラツキ分を補正する必要がある。
【０００６】実際、これらの問題点のうち、オフセット
成分、変換効率のバラツキ、及び増幅率のバラツキにつ
いては実際の検査とは別に事前に各補正データを得るこ
とができ、画像補正が行われている。
成分、変換効率のバラツキ、及び増幅率のバラツキにつ
いては実際の検査とは別に事前に各補正データを得るこ
とができ、画像補正が行われている。
【０００７】これに対し、横引きノイズについては事前
に補正データを得ることができない。
に補正データを得ることができない。
【０００８】横引きノイズは、一般的には、前述した同
一画素行毎の半導体スイッチをＯＮ／ＯＦＦするための
信号（Ｇａｔｅ信号）の時間的な変動が原因と考えられ
ている。同一画素行に存在する半導体スイッチにＯＮ／
ＯＦＦ信号を伝達するための配線（以下、Ｇａｔｅ線）
と各画素に蓄積された電荷信号を増幅部に転送するため
の配線（同一画素列で共通に使用）（以下、信号線）と
は互いに絶縁配置されている。しかしながら、実際には
完全な絶縁状態が確保されず、見かけ上、Ｇａｔｅ線と
信号線とのクロス部には浮遊容量が存在することにな
る。従って、前記Ｇａｔｅ信号の変動、つまりＧａｔｅ
信号に乗ってしまっているノイズにより、各画素行の半
導体スイッチをＯＮにするタイミング以外の時において
も、前記浮遊容量が読み出されてしまい、結果的に各画
素に設けられた前記コンデンサから読み出された電荷信
号に混入してしまうことになる。このような横引きノイ
ズの性質上、実際の検査中におけるＧａｔｅ信号によっ
てノイズ成分は異なったものになるため、事前に補正デ
ータを得ることはできない。
一画素行毎の半導体スイッチをＯＮ／ＯＦＦするための
信号（Ｇａｔｅ信号）の時間的な変動が原因と考えられ
ている。同一画素行に存在する半導体スイッチにＯＮ／
ＯＦＦ信号を伝達するための配線（以下、Ｇａｔｅ線）
と各画素に蓄積された電荷信号を増幅部に転送するため
の配線（同一画素列で共通に使用）（以下、信号線）と
は互いに絶縁配置されている。しかしながら、実際には
完全な絶縁状態が確保されず、見かけ上、Ｇａｔｅ線と
信号線とのクロス部には浮遊容量が存在することにな
る。従って、前記Ｇａｔｅ信号の変動、つまりＧａｔｅ
信号に乗ってしまっているノイズにより、各画素行の半
導体スイッチをＯＮにするタイミング以外の時において
も、前記浮遊容量が読み出されてしまい、結果的に各画
素に設けられた前記コンデンサから読み出された電荷信
号に混入してしまうことになる。このような横引きノイ
ズの性質上、実際の検査中におけるＧａｔｅ信号によっ
てノイズ成分は異なったものになるため、事前に補正デ
ータを得ることはできない。
【０００９】横引きノイズに対処する従来の方法の１つ
としては次のようなものが考えられている。
としては次のようなものが考えられている。
【００１０】混入される横引きノイズ成分が時間的にラ
ンダムであるために事前の収集ができないことから、Ｆ
ＰＤの端部等に複数列のＸ線不感画素（以下、Ｄａｒｋ
−Ｌｉｎｅ）を設ける。Ｇａｔｅ信号に起因する情報を
このＤａｒｋ−Ｌｉｎｅにおいて得られる信号を利用し
て取得し、その情報からリアルタイムで画素行毎の１次
元の補正データを算出して対処するというものである
（例えば、特許文献１参照）。
ンダムであるために事前の収集ができないことから、Ｆ
ＰＤの端部等に複数列のＸ線不感画素（以下、Ｄａｒｋ
−Ｌｉｎｅ）を設ける。Ｇａｔｅ信号に起因する情報を
このＤａｒｋ−Ｌｉｎｅにおいて得られる信号を利用し
て取得し、その情報からリアルタイムで画素行毎の１次
元の補正データを算出して対処するというものである
（例えば、特許文献１参照）。
【００１１】
【特許文献１】特開２０００−３３０８３号公報 （第
４頁、図２）
４頁、図２）
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上述の横引きノイズ補
正方法により、ある程度の効果は認められる。しかしな
がら、画素行毎の１次元補正データを使用した補正であ
ることから、横引きノイズ成分の画素列毎による変動、
すなわち、同一画素行であっても列毎にノイズの大きさ
が異なるという問題点については対応ができていない。
正方法により、ある程度の効果は認められる。しかしな
がら、画素行毎の１次元補正データを使用した補正であ
ることから、横引きノイズ成分の画素列毎による変動、
すなわち、同一画素行であっても列毎にノイズの大きさ
が異なるという問題点については対応ができていない。
【００１３】なお、横引きノイズ成分の画素列毎による
変動の要因としては、（１）画素列毎の増幅部の増幅率
バラツキ補正精度、（２）前記Ｇａｔｅ線と信号線との
クロス部の浮遊容量の違い、（３）Ｇａｔｅ線の抵抗成
分による横引きノイズの転送距離による変移、が挙げら
れる。例えば、上記（３）について考慮すると、大視野
サイズのＦＰＤではその補正精度が更に悪くなることが
懸念される。
変動の要因としては、（１）画素列毎の増幅部の増幅率
バラツキ補正精度、（２）前記Ｇａｔｅ線と信号線との
クロス部の浮遊容量の違い、（３）Ｇａｔｅ線の抵抗成
分による横引きノイズの転送距離による変移、が挙げら
れる。例えば、上記（３）について考慮すると、大視野
サイズのＦＰＤではその補正精度が更に悪くなることが
懸念される。
【００１４】従って、従来行われている横引きノイズの
補正方法では画素列毎に変動する横引きノイズ（時間的
にランダムな横引きノイズ成分）に対して適切な処理が
できず、補正（低減）しきれずに残存してしまったノイ
ズや補正のし過ぎ（過補正）により残存してしまったノ
イズ（以下、残存横引きノイズ）が画像上に写ってしま
い、画像診断において支障を来すという問題があった。
補正方法では画素列毎に変動する横引きノイズ（時間的
にランダムな横引きノイズ成分）に対して適切な処理が
できず、補正（低減）しきれずに残存してしまったノイ
ズや補正のし過ぎ（過補正）により残存してしまったノ
イズ（以下、残存横引きノイズ）が画像上に写ってしま
い、画像診断において支障を来すという問題があった。
【００１５】また、従来のＸ線検出部における変換効率
のバラツキ補正データは、採取された均一Ｘ線入射画像
及びＸ線非入射画像を使用して事前に画素毎のバラツキ
を算出することで得ていたが、このような方法で得られ
た変換効率バラツキ補正データの中には、採取された均
一Ｘ線入射画像に混入されていた残存横引きノイズによ
り、横引き状パターンの時間的に固定なアーチファクト
が発生してしまう。従って、このような変換効率バラツ
キ補正データを用いて補正処理された画像にも、横引き
状パターンの時間的に固定なアーチファクトが発生して
しまうという問題があった。
のバラツキ補正データは、採取された均一Ｘ線入射画像
及びＸ線非入射画像を使用して事前に画素毎のバラツキ
を算出することで得ていたが、このような方法で得られ
た変換効率バラツキ補正データの中には、採取された均
一Ｘ線入射画像に混入されていた残存横引きノイズによ
り、横引き状パターンの時間的に固定なアーチファクト
が発生してしまう。従って、このような変換効率バラツ
キ補正データを用いて補正処理された画像にも、横引き
状パターンの時間的に固定なアーチファクトが発生して
しまうという問題があった。
【００１６】本発明は上記問題に鑑みてなされたもので
あり、横引きノイズの補正精度を向上し、従来よりもノ
イズの少ない、より高画質なＸ線診断画像を提供可能な
Ｘ線平面検出器、Ｘ線画像診断装置、及びＸ線画像補正
方法を提供することを目的とする。
あり、横引きノイズの補正精度を向上し、従来よりもノ
イズの少ない、より高画質なＸ線診断画像を提供可能な
Ｘ線平面検出器、Ｘ線画像診断装置、及びＸ線画像補正
方法を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１記載の本発明のＸ線平面検出器は、マトリク
ス状に配置された複数の画素と、前記画素における電荷
を読み出すことによって得られた第１の画像に対して列
方向の高周波成分を除去する第１のフィルタ手段と、前
記第１の画像から前記第１のフィルタ手段により得られ
た画像を減じる第１の減算手段と、この第１の減算手段
により得られた減算画像に対して行方向の高周波成分を
除去する第２のフィルタ手段と、前記第１の画像から前
記第２のフィルタ手段により得られた画像を減じる第２
の減算手段とを具備することを特徴とする。
に請求項１記載の本発明のＸ線平面検出器は、マトリク
ス状に配置された複数の画素と、前記画素における電荷
を読み出すことによって得られた第１の画像に対して列
方向の高周波成分を除去する第１のフィルタ手段と、前
記第１の画像から前記第１のフィルタ手段により得られ
た画像を減じる第１の減算手段と、この第１の減算手段
により得られた減算画像に対して行方向の高周波成分を
除去する第２のフィルタ手段と、前記第１の画像から前
記第２のフィルタ手段により得られた画像を減じる第２
の減算手段とを具備することを特徴とする。
【００１８】また、請求項１０記載の本発明のＸ線平面
検出器は、マトリクス状に配置された複数の画素と、被
写体無しの状態における均一なＸ線入射において、前記
画素における電荷を読み出すことによって得られた第２
の画像に対して列方向の高周波成分を除去する第３のフ
ィルタ手段と、前記第２の画像から前記第３のフィルタ
手段により得られた画像を減じる第３の減算手段と、こ
の第３の減算手段により得られた減算画像に対して行方
向の高周波成分を除去する第４のフィルタ手段と、前記
第２の画像から前記第４のフィルタ手段により得られた
画像を減じる第４の減算手段とを具備することを特徴と
する。
検出器は、マトリクス状に配置された複数の画素と、被
写体無しの状態における均一なＸ線入射において、前記
画素における電荷を読み出すことによって得られた第２
の画像に対して列方向の高周波成分を除去する第３のフ
ィルタ手段と、前記第２の画像から前記第３のフィルタ
手段により得られた画像を減じる第３の減算手段と、こ
の第３の減算手段により得られた減算画像に対して行方
向の高周波成分を除去する第４のフィルタ手段と、前記
第２の画像から前記第４のフィルタ手段により得られた
画像を減じる第４の減算手段とを具備することを特徴と
する。
【００１９】さらに、請求項１２記載の本発明のＸ線画
像診断装置は、Ｘ線を電気信号に変換するＸ線平面検出
器を有するＸ線画像診断装置において、前記電気信号に
基づいて得られたＸ線画像の列方向に変動しているノイ
ズ情報を抽出するフィルタ手段と、このフィルタ手段に
より抽出されたノイズ情報を前記Ｘ線画像から減じるよ
う補正する補正手段とを具備することを特徴とする。
像診断装置は、Ｘ線を電気信号に変換するＸ線平面検出
器を有するＸ線画像診断装置において、前記電気信号に
基づいて得られたＸ線画像の列方向に変動しているノイ
ズ情報を抽出するフィルタ手段と、このフィルタ手段に
より抽出されたノイズ情報を前記Ｘ線画像から減じるよ
う補正する補正手段とを具備することを特徴とする。
【００２０】さらにまた、請求項１５記載の本発明のＸ
線画像補正方法は、マトリクス状に配置された複数の画
素を有してなるＸ線平面検出器において収集されたＸ線
画像の補正方法において、前記Ｘ線画像の列方向の高周
波成分を除去し、この除去して得られた画像を前記Ｘ線
画像から減じ、この減じて得られた画像の行方向の高周
波成分を除去し、この除去して得られた画像を前記Ｘ線
画像から減じることを特徴とする。
線画像補正方法は、マトリクス状に配置された複数の画
素を有してなるＸ線平面検出器において収集されたＸ線
画像の補正方法において、前記Ｘ線画像の列方向の高周
波成分を除去し、この除去して得られた画像を前記Ｘ線
画像から減じ、この減じて得られた画像の行方向の高周
波成分を除去し、この除去して得られた画像を前記Ｘ線
画像から減じることを特徴とする。
【００２１】本発明によれば、Ｘ線画像の行方向に一定
で列方向に変動しているノイズを低減し、従来よりもノ
イズの少ない、より高画質なＸ線画像を提供することが
可能となる。
で列方向に変動しているノイズを低減し、従来よりもノ
イズの少ない、より高画質なＸ線画像を提供することが
可能となる。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照しながら本発
明の実施の形態を説明する。 （第１の実施の形態）図１は本発明の第１の実施の形態
に係るＦＰＤの構成を説明するための図である。
明の実施の形態を説明する。 （第１の実施の形態）図１は本発明の第１の実施の形態
に係るＦＰＤの構成を説明するための図である。
【００２３】Ｘ線診断装置１は図１に示される各構成か
らなるＦＰＤを有する。このＦＰＤは、ゲートドライバ
２と、マルチプレクサ３と、信号線４と、Ｇａｔｅ線７
と信号線４とのクロス部分の浮遊容量５と、半導体スイ
ッチ６と、前記Ｇａｔｅ線７と、Ｘ線検出部８と、コン
デンサ９と、増幅系部１０と、Ａ／Ｄ変換器１１と、オ
フセット補正データ部１２と、アンプゲイン補正データ
部１３と、横引きノイズデータ抽出部１４と、フィルタ
処理による残存横引きノイズデータ抽出部１５と、画素
ゲイン補正データ部１６とから構成されている。
らなるＦＰＤを有する。このＦＰＤは、ゲートドライバ
２と、マルチプレクサ３と、信号線４と、Ｇａｔｅ線７
と信号線４とのクロス部分の浮遊容量５と、半導体スイ
ッチ６と、前記Ｇａｔｅ線７と、Ｘ線検出部８と、コン
デンサ９と、増幅系部１０と、Ａ／Ｄ変換器１１と、オ
フセット補正データ部１２と、アンプゲイン補正データ
部１３と、横引きノイズデータ抽出部１４と、フィルタ
処理による残存横引きノイズデータ抽出部１５と、画素
ゲイン補正データ部１６とから構成されている。
【００２４】前記浮遊容量５は従来の技術の項でも説明
したように、信号線４とＧａｔｅ線７との間は絶縁とな
るよう施されているものであるが、見かけ上存在してし
まう容量であり、意識的に設けられたものでないことは
言うまでもない。
したように、信号線４とＧａｔｅ線７との間は絶縁とな
るよう施されているものであるが、見かけ上存在してし
まう容量であり、意識的に設けられたものでないことは
言うまでもない。
【００２５】また、入射したＸ線による信号を電荷信号
に変換するＸ線検出部８と、検出された電荷量を蓄積す
るコンデンサ９と、このコンデンサ９からの電荷の読み
出しを選択する前記半導体スイッチ６とを１つのセット
として１画素が構成されており、この画素はマトリクス
状に複数設けられアレイ部を構成する。
に変換するＸ線検出部８と、検出された電荷量を蓄積す
るコンデンサ９と、このコンデンサ９からの電荷の読み
出しを選択する前記半導体スイッチ６とを１つのセット
として１画素が構成されており、この画素はマトリクス
状に複数設けられアレイ部を構成する。
【００２６】各画素の半導体スイッチ６のドレイン端子
はアレイ部の各列毎に同一の信号線４により増幅系部１
０と接続されている。また、前記半導体スイッチ６のゲ
ート端子はアレイ部の各行毎に同一のＧａｔｅ線７によ
りゲートドライバ２と接続されている。
はアレイ部の各列毎に同一の信号線４により増幅系部１
０と接続されている。また、前記半導体スイッチ６のゲ
ート端子はアレイ部の各行毎に同一のＧａｔｅ線７によ
りゲートドライバ２と接続されている。
【００２７】このゲートドライバ２からは電荷信号の読
み出しの際にパルス状の制御信号（Ｇａｔｅ信号）が出
力され、順次、各行毎にＧａｔｅ線７を介してその行に
おける全ての半導体スイッチ６が同時にＯＮされる。な
お、当該行のＯＮするタイミングの後は当該行の半導体
スイッチ６はＯＦＦされる。
み出しの際にパルス状の制御信号（Ｇａｔｅ信号）が出
力され、順次、各行毎にＧａｔｅ線７を介してその行に
おける全ての半導体スイッチ６が同時にＯＮされる。な
お、当該行のＯＮするタイミングの後は当該行の半導体
スイッチ６はＯＦＦされる。
【００２８】このような各半導体スイッチ６のＯＮによ
り取り出された電荷信号は同一画素列毎に設けられた前
記増幅系部１０において電圧信号に変換・増幅され、前
記マルチプレクサ３を介して各行の１画素毎に出力され
る。出力された信号はＡ／Ｄ変換器１１によりディジタ
ル化され、ディジタル信号として以降の補正処理に供さ
れる。
り取り出された電荷信号は同一画素列毎に設けられた前
記増幅系部１０において電圧信号に変換・増幅され、前
記マルチプレクサ３を介して各行の１画素毎に出力され
る。出力された信号はＡ／Ｄ変換器１１によりディジタ
ル化され、ディジタル信号として以降の補正処理に供さ
れる。
【００２９】このようにして取り出されたディジタル信
号、すなわち以下に説明する補正処理が施されていない
（オフセット成分、横引きノイズ成分、ゲインのバラツ
キを含んだ）画像データはＸ線診断画像として診断に有
用な画質を備えるものとなるよう以下の各種補正処理が
施される。各種補正処理については図１に加え、本実施
の形態に係るＸ線画像の補正手順を説明するための図２
も参照しながら説明する。
号、すなわち以下に説明する補正処理が施されていない
（オフセット成分、横引きノイズ成分、ゲインのバラツ
キを含んだ）画像データはＸ線診断画像として診断に有
用な画質を備えるものとなるよう以下の各種補正処理が
施される。各種補正処理については図１に加え、本実施
の形態に係るＸ線画像の補正手順を説明するための図２
も参照しながら説明する。
【００３０】なお、図２において（Ａ，Ａ），（Ｂ，
Ｂ）等は各状態における画像を意味するものであり、全
て画像サイズは同じものとする。ただし、（１，ＡＧ）
及び（Ｄ，１）についてはそれぞれ１行及び１列からな
るものとする（それぞれの列（ＡＧ）及び行（Ｄ）につ
いては他の状態における画像のそれと同じ大きさとす
る）。
Ｂ）等は各状態における画像を意味するものであり、全
て画像サイズは同じものとする。ただし、（１，ＡＧ）
及び（Ｄ，１）についてはそれぞれ１行及び１列からな
るものとする（それぞれの列（ＡＧ）及び行（Ｄ）につ
いては他の状態における画像のそれと同じ大きさとす
る）。
【００３１】補正処理としてはまず初めに前記ディジタ
ル信号に混入されているオフセット成分について補正が
行われる。オフセット成分には大きく分けて前記Ｘ線検
出部８や前記アレイ部によるオフセット成分と、前記増
幅系部１０によるオフセット成分がある。
ル信号に混入されているオフセット成分について補正が
行われる。オフセット成分には大きく分けて前記Ｘ線検
出部８や前記アレイ部によるオフセット成分と、前記増
幅系部１０によるオフセット成分がある。
【００３２】前者は主に（１）Ｘ線非入射時に蓄積され
た電荷（２）半導体スイッチ６の特性に起因した他画素
のコンデンサ９からの漏れ電荷（３）半導体スイッチ６
配線間の浮遊容量に蓄積された電荷が半導体スイッチ６
のＯＮ／ＯＦＦに起因し注入されたもの等が含まれてい
る。一方、後者は主に増幅系部１０を構成する回路素子
のオフセット分が含まれている。
た電荷（２）半導体スイッチ６の特性に起因した他画素
のコンデンサ９からの漏れ電荷（３）半導体スイッチ６
配線間の浮遊容量に蓄積された電荷が半導体スイッチ６
のＯＮ／ＯＦＦに起因し注入されたもの等が含まれてい
る。一方、後者は主に増幅系部１０を構成する回路素子
のオフセット分が含まれている。
【００３３】これらオフセット成分に対する補正データ
は事前にＸ線非入射画像を数フレームに渡って時間的な
加算平均を施すことにより画素毎のオフセット成分を求
めることで収集される。事前に収集されたこの補正デー
タ（以下、オフセット補正データ）（ＰＯ，ＰＯ）（Ｐ
Ｏ：Ｐｉｘｅｌ Ｏｆｆｓｅｔ）はオフセット補正デー
タ部１２に保存される。
は事前にＸ線非入射画像を数フレームに渡って時間的な
加算平均を施すことにより画素毎のオフセット成分を求
めることで収集される。事前に収集されたこの補正デー
タ（以下、オフセット補正データ）（ＰＯ，ＰＯ）（Ｐ
Ｏ：Ｐｉｘｅｌ Ｏｆｆｓｅｔ）はオフセット補正デー
タ部１２に保存される。
【００３４】前記Ａ／Ｄ変換器１１から出力されたディ
ジタル信号からなる画像データ（Ａ，Ａ）（図２
（Ｉ））は前記オフセット補正データ部１２に保存され
たオフセット補正データ（ＰＯ，ＰＯ）と引き算され
る。これにより、オフセット補正が施されたオフセット
補正画像（Ｂ，Ｂ）が得られる（図２（ＩＩ））。
ジタル信号からなる画像データ（Ａ，Ａ）（図２
（Ｉ））は前記オフセット補正データ部１２に保存され
たオフセット補正データ（ＰＯ，ＰＯ）と引き算され
る。これにより、オフセット補正が施されたオフセット
補正画像（Ｂ，Ｂ）が得られる（図２（ＩＩ））。
【００３５】次に、増幅系部１０における増幅率のバラ
ツキについて補正が行われる。この増幅率のバラツキは
増幅系部１０を構成する回路素子のバラツキによるもの
と考えられる。このバラツキに対する補正データは、採
取された均一Ｘ線入射画像又は均一な電荷信号を何らか
の形で前記増幅系部１０に入力したものを使用して、事
前に画素列毎に接続されている増幅系部１０毎のバラツ
キを算出することにより収集される。事前に収集された
この増幅率バラツキ補正データ（以下、アンプゲイン補
正データ）（１，ＡＧ）（ＡＧ：Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ
Ｇａｉｎ）（１次元データ）はアンプゲイン補正データ
部１３に保存される。
ツキについて補正が行われる。この増幅率のバラツキは
増幅系部１０を構成する回路素子のバラツキによるもの
と考えられる。このバラツキに対する補正データは、採
取された均一Ｘ線入射画像又は均一な電荷信号を何らか
の形で前記増幅系部１０に入力したものを使用して、事
前に画素列毎に接続されている増幅系部１０毎のバラツ
キを算出することにより収集される。事前に収集された
この増幅率バラツキ補正データ（以下、アンプゲイン補
正データ）（１，ＡＧ）（ＡＧ：Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ
Ｇａｉｎ）（１次元データ）はアンプゲイン補正データ
部１３に保存される。
【００３６】前記オフセット補正画像（Ｂ，Ｂ）はこの
アンプゲイン補正データ（１，ＡＧ）と掛け算される。
これにより、増幅率バラツキ補正が施されたアンプゲイ
ン補正画像（Ｃ，Ｃ）が得られる（図２（ＩＩＩ））。
アンプゲイン補正データ（１，ＡＧ）と掛け算される。
これにより、増幅率バラツキ補正が施されたアンプゲイ
ン補正画像（Ｃ，Ｃ）が得られる（図２（ＩＩＩ））。
【００３７】アンプゲイン補正画像（Ｃ，Ｃ）が得られ
ると、次に横引きノイズについての補正が行われる。こ
こでの補正については従来の技術の説明として述べた通
りである。
ると、次に横引きノイズについての補正が行われる。こ
こでの補正については従来の技術の説明として述べた通
りである。
【００３８】すなわち、画像に混入される横引きノイズ
は時間的にランダムであるために事前に収集ができない
ため、ＦＰＤ（のアレイ部）の端部等にＤａｒｋ−Ｌｉ
ｎｅを設ける。横引きノイズは同一画像行内では概ね一
定の大きさであるため、Ｇａｔｅ信号に起因する情報を
このＤａｒｋ−Ｌｉｎｅにおいて得られる信号を利用し
て取得する。その取得情報から同一画素行の信号を加算
平均する等行うことでリアルタイムに画素列方向への１
次元の補正データ（以下、横引きノイズプロファイル）
（Ｄ，１）を抽出する。この抽出処理は横引きノイズデ
ータ抽出部１４において行われる（図２（ＩＶ））。
は時間的にランダムであるために事前に収集ができない
ため、ＦＰＤ（のアレイ部）の端部等にＤａｒｋ−Ｌｉ
ｎｅを設ける。横引きノイズは同一画像行内では概ね一
定の大きさであるため、Ｇａｔｅ信号に起因する情報を
このＤａｒｋ−Ｌｉｎｅにおいて得られる信号を利用し
て取得する。その取得情報から同一画素行の信号を加算
平均する等行うことでリアルタイムに画素列方向への１
次元の補正データ（以下、横引きノイズプロファイル）
（Ｄ，１）を抽出する。この抽出処理は横引きノイズデ
ータ抽出部１４において行われる（図２（ＩＶ））。
【００３９】前記アンプゲイン補正画像（Ｃ，Ｃ）はこ
の抽出された横引きノイズプロファイル（Ｄ，１）と引
き算される。これにより、従来から行われている横引き
ノイズ補正が施された横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）
が得られる（図２（Ｖ））。
の抽出された横引きノイズプロファイル（Ｄ，１）と引
き算される。これにより、従来から行われている横引き
ノイズ補正が施された横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）
が得られる（図２（Ｖ））。
【００４０】従来から行われている横引きノイズ補正が
施されると、引き続き、本発明に係る横引きノイズ補正
（以下、残存横引きノイズ低減処理）が行われる。これ
は発明が解決しようとする課題の欄で説明したように、
従来から行われている横引きノイズ補正ではある程度の
ノイズ低減は可能であるが、同一画素行であっても列毎
にノイズの大きさが異なる（すなわち、同一画素行であ
っても各列におけるノイズの大きさは一様ではない）と
いう問題点については対応ができておらず、未だノイズ
が目立ってしまい診断に影響を与えてしまう恐れがある
からである。なお、残存横引きノイズ低減処理について
は図３を用いて詳細を後述する。
施されると、引き続き、本発明に係る横引きノイズ補正
（以下、残存横引きノイズ低減処理）が行われる。これ
は発明が解決しようとする課題の欄で説明したように、
従来から行われている横引きノイズ補正ではある程度の
ノイズ低減は可能であるが、同一画素行であっても列毎
にノイズの大きさが異なる（すなわち、同一画素行であ
っても各列におけるノイズの大きさは一様ではない）と
いう問題点については対応ができておらず、未だノイズ
が目立ってしまい診断に影響を与えてしまう恐れがある
からである。なお、残存横引きノイズ低減処理について
は図３を用いて詳細を後述する。
【００４１】後述する残存横引きノイズ低減処理におけ
る残存横引きノイズデータの抽出は、フィルタ処理によ
る残存横引きノイズデータ抽出部１５において行われ
る。
る残存横引きノイズデータの抽出は、フィルタ処理によ
る残存横引きノイズデータ抽出部１５において行われ
る。
【００４２】前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）はこ
の抽出された残存横引きノイズデータと引き算される。
これにより、残存横引きノイズ成分が低減された残存横
引きノイズ低減処理画像（Ｆ，Ｆ）が得られる（図２
（ＶＩ））。
の抽出された残存横引きノイズデータと引き算される。
これにより、残存横引きノイズ成分が低減された残存横
引きノイズ低減処理画像（Ｆ，Ｆ）が得られる（図２
（ＶＩ））。
【００４３】最後に、Ｘ線検出部８における変換効率の
バラツキについて補正が行われる。この変換効率のバラ
ツキはＸ線信号を電荷信号に変換する層の膜厚のバラツ
キ及び膜の組成のバラツキによるものと考えられる。こ
のバラツキに対する補正データは、採取された均一Ｘ線
入射画像及びＸ線非入射画像を使用して、事前に画素毎
のバラツキを算出することにより収集される。事前に収
集されたこのＸ線変換効率バラツキ補正データ（以下、
画素ゲイン補正データ）（ＰＧ，ＰＧ）（ＰＧ：Ｐｉｘ
ｅｌ Ｇａｉｎ）は画素ゲイン補正データ部１６に保存
される。
バラツキについて補正が行われる。この変換効率のバラ
ツキはＸ線信号を電荷信号に変換する層の膜厚のバラツ
キ及び膜の組成のバラツキによるものと考えられる。こ
のバラツキに対する補正データは、採取された均一Ｘ線
入射画像及びＸ線非入射画像を使用して、事前に画素毎
のバラツキを算出することにより収集される。事前に収
集されたこのＸ線変換効率バラツキ補正データ（以下、
画素ゲイン補正データ）（ＰＧ，ＰＧ）（ＰＧ：Ｐｉｘ
ｅｌ Ｇａｉｎ）は画素ゲイン補正データ部１６に保存
される。
【００４４】前記残存横引きノイズ低減処理画像（Ｆ，
Ｆ）はこの画素ゲイン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）と掛け
算される。これにより、Ｘ線変換効率バラツキ補正が施
された画素ゲイン補正画像（Ｇ，Ｇ）が得られる（図２
（ＶＩＩ））。
Ｆ）はこの画素ゲイン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）と掛け
算される。これにより、Ｘ線変換効率バラツキ補正が施
された画素ゲイン補正画像（Ｇ，Ｇ）が得られる（図２
（ＶＩＩ））。
【００４５】本処理を最後にＦＰＤの画像補正の手順は
一般的には終了する。しかしながら、この後、欠陥点の
補正プロセスを更に追加する場合も有る。
一般的には終了する。しかしながら、この後、欠陥点の
補正プロセスを更に追加する場合も有る。
【００４６】ここで、上述の残存横引きノイズ低減処理
について説明する。図３は本実施の形態に係るＸ線画像
の横引きノイズ低減処理の手順を説明するための図であ
る。なお、（Ｅ，Ｅ）、（Ｆ，Ｆ）はそれぞれ前述の図
２における横引きノイズ補正画像、残存横引きノイズ低
減処理画像を表す。以下、図３に示される各手順におけ
る処理の画像例を示す図４乃至図７も参照しながら残存
横引きノイズ低減処理について説明する。
について説明する。図３は本実施の形態に係るＸ線画像
の横引きノイズ低減処理の手順を説明するための図であ
る。なお、（Ｅ，Ｅ）、（Ｆ，Ｆ）はそれぞれ前述の図
２における横引きノイズ補正画像、残存横引きノイズ低
減処理画像を表す。以下、図３に示される各手順におけ
る処理の画像例を示す図４乃至図７も参照しながら残存
横引きノイズ低減処理について説明する。
【００４７】まず初めに、前記横引きノイズ補正画像
（Ｅ，Ｅ）に対して列方向に高周波成分をカットする
（画像の行方向の成分をぼかす）フィルタ処理を行う。
これは、前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）中に残存
するノイズ成分は同一画素行内では概ね同じノイズ成分
であるが画素行毎にその成分はランダムに（激しく）変
化するため高い周波数となっている。
（Ｅ，Ｅ）に対して列方向に高周波成分をカットする
（画像の行方向の成分をぼかす）フィルタ処理を行う。
これは、前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）中に残存
するノイズ成分は同一画素行内では概ね同じノイズ成分
であるが画素行毎にその成分はランダムに（激しく）変
化するため高い周波数となっている。
【００４８】一方、臓器等の診断対象画像については画
素行毎の変化はなだらかであるため、その周波数は低い
ものと考えられる。
素行毎の変化はなだらかであるため、その周波数は低い
ものと考えられる。
【００４９】従って、周波数の高い成分についてのみカ
ットするようなフィルタ処理を列方向にかけることで、
前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）中に残存している
残存横引きノイズをかなりの割合で低減した画像（Ｅ
１，Ｅ１）を得ることができる（図３（ｉ）、図４）。
ットするようなフィルタ処理を列方向にかけることで、
前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）中に残存している
残存横引きノイズをかなりの割合で低減した画像（Ｅ
１，Ｅ１）を得ることができる（図３（ｉ）、図４）。
【００５０】なお、このフィルタ処理においては、所定
周波数成分をカットするために、横引きノイズ補正画像
（Ｅ，Ｅ）をフーリエ変換により周波数成分で表された
画像に変換し、所定のフィルタ特性（ここでは列方向に
高周波カット）による処理を行った後、フーリエ逆変換
して前記画像（Ｅ１，Ｅ１）を得ることになる。
周波数成分をカットするために、横引きノイズ補正画像
（Ｅ，Ｅ）をフーリエ変換により周波数成分で表された
画像に変換し、所定のフィルタ特性（ここでは列方向に
高周波カット）による処理を行った後、フーリエ逆変換
して前記画像（Ｅ１，Ｅ１）を得ることになる。
【００５１】しかしながら、上記のような処理を行うの
では処理が複雑となり、また処理時間もかかってしまう
ため、前記フィルタ特性を予めフーリエ逆変換したフィ
ルタ（以下、オペレータ）を用意し、このオペレータを
用いて前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）に対してた
たみ込み演算をして前記画像（Ｅ１，Ｅ１）を得るよう
にしてもよい。
では処理が複雑となり、また処理時間もかかってしまう
ため、前記フィルタ特性を予めフーリエ逆変換したフィ
ルタ（以下、オペレータ）を用意し、このオペレータを
用いて前記横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）に対してた
たみ込み演算をして前記画像（Ｅ１，Ｅ１）を得るよう
にしてもよい。
【００５２】この場合、オペレータのフィルタサイズは
（２ｎ＋１，１）（ｎは０以上）であり、その一例とし
て例えばｎ＝３の場合について図８に示す。
（２ｎ＋１，１）（ｎは０以上）であり、その一例とし
て例えばｎ＝３の場合について図８に示す。
【００５３】図８ではｎ＝３すなわち（２ｎ＋１，１）
＝（７，１）のサイズのフィルタであり、ｎ０は処理対
象の画素に対するものであり、ｎ１はその１つ隣の画
素、ｎ２は２つ隣の画素、ｎ３は３つ隣の画素をそれぞ
れ表している。図８の場合、横引きノイズ以外の信号成
分も含まれている場合もあり得ること、また処理対象画
素の情報を重要視するという意味から、その処理対象画
素に対して一番の重み付けを行えるように係数設定し、
前後３つずつの画素を含めた平均化フィルタ処理を行う
ことになる。このフィルタ処理は各画素を処理対象画素
として順次行う。
＝（７，１）のサイズのフィルタであり、ｎ０は処理対
象の画素に対するものであり、ｎ１はその１つ隣の画
素、ｎ２は２つ隣の画素、ｎ３は３つ隣の画素をそれぞ
れ表している。図８の場合、横引きノイズ以外の信号成
分も含まれている場合もあり得ること、また処理対象画
素の情報を重要視するという意味から、その処理対象画
素に対して一番の重み付けを行えるように係数設定し、
前後３つずつの画素を含めた平均化フィルタ処理を行う
ことになる。このフィルタ処理は各画素を処理対象画素
として順次行う。
【００５４】なお、ｎの値は大きい方がより正確なフィ
ルタ処理を行うという意味で好ましいが、実際には横引
きノイズの特性や処理速度等を考慮して設定されるべき
値である。また、重み付けの仕方やその値も適宜設定し
得ることは言うまでもない。
ルタ処理を行うという意味で好ましいが、実際には横引
きノイズの特性や処理速度等を考慮して設定されるべき
値である。また、重み付けの仕方やその値も適宜設定し
得ることは言うまでもない。
【００５５】図３（ｉ）の手順により得られた画像（Ｅ
１，Ｅ１）は残存横引きノイズが低減された画像ではあ
るが、本来必要とする臓器等の診断対象画像についても
上述のフィルタ処理により情報が欠落してしまってい
る。従って、この画像（Ｅ１，Ｅ１）を残存横引きノイ
ズ低減処理画像（Ｆ，Ｆ）とするのは好ましくない。従
って、以下の手順を引き続き実行する必要がある。
１，Ｅ１）は残存横引きノイズが低減された画像ではあ
るが、本来必要とする臓器等の診断対象画像についても
上述のフィルタ処理により情報が欠落してしまってい
る。従って、この画像（Ｅ１，Ｅ１）を残存横引きノイ
ズ低減処理画像（Ｆ，Ｆ）とするのは好ましくない。従
って、以下の手順を引き続き実行する必要がある。
【００５６】画像（Ｅ１，Ｅ１）が得られると、前記横
引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）からこの画像（Ｅ１，Ｅ
１）が引き算される。これにより、画像（Ｅ２，Ｅ２）
が得られる（図３（ｉｉ）、図５）。この画像（Ｅ２，
Ｅ２）はもともと横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）が含
んでいた残存横引きノイズの他に、画像（Ｅ１，Ｅ１）
から欠落していた診断対象の画像情報（画素行方向のみ
のＸ線信号画像）も含むものである。ここに含まれる画
像情報は診断対象画像の輪郭を示すような情報となる。
引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）からこの画像（Ｅ１，Ｅ
１）が引き算される。これにより、画像（Ｅ２，Ｅ２）
が得られる（図３（ｉｉ）、図５）。この画像（Ｅ２，
Ｅ２）はもともと横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）が含
んでいた残存横引きノイズの他に、画像（Ｅ１，Ｅ１）
から欠落していた診断対象の画像情報（画素行方向のみ
のＸ線信号画像）も含むものである。ここに含まれる画
像情報は診断対象画像の輪郭を示すような情報となる。
【００５７】次に、前記画像（Ｅ２，Ｅ２）に対して行
方向に高周波成分をカットする（画像の列方向の成分を
ぼかす）フィルタ処理を行う。本フィルタ処理は、同一
画素行に渡っては、概ね同じ成分であるという横引きノ
イズの特性を利用して、前記画像（Ｅ２，Ｅ２）中に含
まれる前記診断対象の画像情報（画素行方向のみのＸ線
信号画像）を除去する為に行われる。
方向に高周波成分をカットする（画像の列方向の成分を
ぼかす）フィルタ処理を行う。本フィルタ処理は、同一
画素行に渡っては、概ね同じ成分であるという横引きノ
イズの特性を利用して、前記画像（Ｅ２，Ｅ２）中に含
まれる前記診断対象の画像情報（画素行方向のみのＸ線
信号画像）を除去する為に行われる。
【００５８】このフィルタ処理により、前記画像（Ｅ
２，Ｅ２）中に含まれていた前記診断対象の画像情報が
除去された画像、すなわち残存横引きノイズのみを有す
る画像（Ｅ３，Ｅ３）を得る（残存横引きノイズデータ
を抽出する）ことができる（図３（ｉｉｉ）、図６）。
２，Ｅ２）中に含まれていた前記診断対象の画像情報が
除去された画像、すなわち残存横引きノイズのみを有す
る画像（Ｅ３，Ｅ３）を得る（残存横引きノイズデータ
を抽出する）ことができる（図３（ｉｉｉ）、図６）。
【００５９】フィルタ処理についてはフーリエ変換等を
実施する方法もあるが、ここでは前述の図３（ｉ）の手
順で説明したのと同じようにオペレータを用いて前記画
像（Ｅ２，Ｅ２）に対してたたみ込み演算をすることに
より画像（Ｅ３，Ｅ３）を得る場合について説明する。
実施する方法もあるが、ここでは前述の図３（ｉ）の手
順で説明したのと同じようにオペレータを用いて前記画
像（Ｅ２，Ｅ２）に対してたたみ込み演算をすることに
より画像（Ｅ３，Ｅ３）を得る場合について説明する。
【００６０】図３（ｉｉｉ）の手順においてたたみ込み
演算に使用するオペレータのフィルタサイズは（１，２
ｍ＋１）（ｍは０以上）であり、その一例として例えば
ｍ＝３の場合について図９に示す。
演算に使用するオペレータのフィルタサイズは（１，２
ｍ＋１）（ｍは０以上）であり、その一例として例えば
ｍ＝３の場合について図９に示す。
【００６１】図９ではｍ＝３すなわち（１，２ｍ＋１）
＝（１，７）のサイズのフィルタである。図８の場合と
異なり、本フィルタ処理においては処理対象の画素やそ
の隣接画素の区別なくｍ０＝１／７、すなわち均等な重
み付けを行う。
＝（１，７）のサイズのフィルタである。図８の場合と
異なり、本フィルタ処理においては処理対象の画素やそ
の隣接画素の区別なくｍ０＝１／７、すなわち均等な重
み付けを行う。
【００６２】つまり、本フィルタ処理は画素行方向に対
する単純平均化フィルタ処理となる。これは、単純平均
化により、前記診断対象の画像情報（画素行方向のみの
Ｘ線信号画像）については診断対象画像の輪郭を示すよ
うな情報であるため平均化によりその輪郭部分が平滑化
されて結果的に除去される一方で、残存横引きノイズに
ついては同一画素行に渡っては概ね同じ成分であるとい
う横引きノイズの特性から、単純平均化フィルタ処理を
施してもそのままノイズ情報が残るという効果を考えて
のものである。
する単純平均化フィルタ処理となる。これは、単純平均
化により、前記診断対象の画像情報（画素行方向のみの
Ｘ線信号画像）については診断対象画像の輪郭を示すよ
うな情報であるため平均化によりその輪郭部分が平滑化
されて結果的に除去される一方で、残存横引きノイズに
ついては同一画素行に渡っては概ね同じ成分であるとい
う横引きノイズの特性から、単純平均化フィルタ処理を
施してもそのままノイズ情報が残るという効果を考えて
のものである。
【００６３】実際の臨床画像上、数百列に渡った１行の
Ｘ線信号画像は殆ど無く本フィルタ処理により横引きノ
イズ成分から分離することができる。よって、上記ｍは
実際の臨床画像でのＸ線信号画像の特性から設定される
べき値である。
Ｘ線信号画像は殆ど無く本フィルタ処理により横引きノ
イズ成分から分離することができる。よって、上記ｍは
実際の臨床画像でのＸ線信号画像の特性から設定される
べき値である。
【００６４】また、前記平均化処理では、画像欠落等に
より１画素でも飛びぬけた信号値を示す画素が有れば正
しく処理されない弊害が有るため、閾値を設定しての平
均されるべき信号値を選択する処理が必要である。
より１画素でも飛びぬけた信号値を示す画素が有れば正
しく処理されない弊害が有るため、閾値を設定しての平
均されるべき信号値を選択する処理が必要である。
【００６５】最後に、上記のようにして得られた前記画
像（Ｅ３，Ｅ３）には残存横引きノイズ成分のみが含ま
れているため、これを横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）
から引き算することにより、残存横引きノイズ成分を低
減した画像（残存横引きノイズ低減処理画像）（Ｆ，
Ｆ）を得ることができる（図３（ｉｖ）、図７）。
像（Ｅ３，Ｅ３）には残存横引きノイズ成分のみが含ま
れているため、これを横引きノイズ補正画像（Ｅ，Ｅ）
から引き算することにより、残存横引きノイズ成分を低
減した画像（残存横引きノイズ低減処理画像）（Ｆ，
Ｆ）を得ることができる（図３（ｉｖ）、図７）。
【００６６】この残存横引きノイズ低減処理画像（Ｆ，
Ｆ）は前述の図２（ＶＩＩ）の手順において画素ゲイン
補正データ（ＰＧ，ＰＧ）と掛け算されて、最終的によ
り良い画質のＸ線診断画像（画素ゲイン補正画像）
（Ｇ，Ｇ）となる。 （第２の実施の形態）第１の実施の形態では、残存横引
きノイズ低減処理画像（Ｆ，Ｆ）と掛け算される画素ゲ
イン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）について、従来ある方法
により得られるものを利用することを前提に説明した。
Ｆ）は前述の図２（ＶＩＩ）の手順において画素ゲイン
補正データ（ＰＧ，ＰＧ）と掛け算されて、最終的によ
り良い画質のＸ線診断画像（画素ゲイン補正画像）
（Ｇ，Ｇ）となる。 （第２の実施の形態）第１の実施の形態では、残存横引
きノイズ低減処理画像（Ｆ，Ｆ）と掛け算される画素ゲ
イン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）について、従来ある方法
により得られるものを利用することを前提に説明した。
【００６７】しかしながら、折角、前記第１の実施の形
態において残存横引きノイズの低減処理がなされた画像
を作り出しても、最後のＸ線変換効率バラツキ補正の際
に横引きノイズを含む画素ゲイン補正データ（ＰＧ，Ｐ
Ｇ）を用いるのでは第１の実施の形態として説明した残
存横引きノイズ低減処理の効果を十分に生かせない場合
も有り得る。
態において残存横引きノイズの低減処理がなされた画像
を作り出しても、最後のＸ線変換効率バラツキ補正の際
に横引きノイズを含む画素ゲイン補正データ（ＰＧ，Ｐ
Ｇ）を用いるのでは第１の実施の形態として説明した残
存横引きノイズ低減処理の効果を十分に生かせない場合
も有り得る。
【００６８】実際、発明が解決しようとする課題の欄で
も記載したように、画素ゲイン補正データ（ＰＧ，Ｐ
Ｇ）内に残存横引きノイズが混入していると、この画素
ゲイン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）と残存横引きノイズ低
減処理画像（Ｆ，Ｆ）を掛け算して得られる画素ゲイン
補正画像（Ｇ，Ｇ）には横引き状パターンの時間的に固
定なアーチファクトが生じてしまうという問題がある。
も記載したように、画素ゲイン補正データ（ＰＧ，Ｐ
Ｇ）内に残存横引きノイズが混入していると、この画素
ゲイン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）と残存横引きノイズ低
減処理画像（Ｆ，Ｆ）を掛け算して得られる画素ゲイン
補正画像（Ｇ，Ｇ）には横引き状パターンの時間的に固
定なアーチファクトが生じてしまうという問題がある。
【００６９】そこで、本発明に係る残存横引きノイズ低
減処理方法を画素ゲイン補正データの作成に対しても適
用することにより、より良い画質のＸ線診断画像を提供
することが可能となる。この場合について、図１０及び
図１１を用いて以下に説明する。
減処理方法を画素ゲイン補正データの作成に対しても適
用することにより、より良い画質のＸ線診断画像を提供
することが可能となる。この場合について、図１０及び
図１１を用いて以下に説明する。
【００７０】図１０は本発明の第２の実施の形態に係る
Ｘ線画像の補正手順を説明するための図であり、画素ゲ
イン補正データを作成するにあたり、その基礎となるＸ
線診断画像についてより高画質なものにするために各種
補正を初め残存横引きノイズ低減処理を施す手順を説明
するための図である。
Ｘ線画像の補正手順を説明するための図であり、画素ゲ
イン補正データを作成するにあたり、その基礎となるＸ
線診断画像についてより高画質なものにするために各種
補正を初め残存横引きノイズ低減処理を施す手順を説明
するための図である。
【００７１】図１０については基本的に図２と類似して
おり、図１０の（１）〜（６）は図２の（Ｉ）〜（Ｖ
Ｉ）に対応している。
おり、図１０の（１）〜（６）は図２の（Ｉ）〜（Ｖ
Ｉ）に対応している。
【００７２】前記第１の実施の形態との相違点の１つと
して、画素ゲイン補正データ用に用いられるＸ線診断画
像は被写体無しの均一Ｘ線入射画像となる。この均一Ｘ
線入射画像（ＡＡ，ＡＡ）（図１０（１））はオフセッ
ト補正データ（ＰＯ’，ＰＯ’）と引き算される。これ
により、オフセット補正が施されたオフセット補正画像
（ＢＢ，ＢＢ）が得られる（図１０（２））。
して、画素ゲイン補正データ用に用いられるＸ線診断画
像は被写体無しの均一Ｘ線入射画像となる。この均一Ｘ
線入射画像（ＡＡ，ＡＡ）（図１０（１））はオフセッ
ト補正データ（ＰＯ’，ＰＯ’）と引き算される。これ
により、オフセット補正が施されたオフセット補正画像
（ＢＢ，ＢＢ）が得られる（図１０（２））。
【００７３】なお、前記均一Ｘ線入射画像（ＡＡ，Ａ
Ａ）は横引きノイズを含む時間的にランダムなノイズを
低減する意味でも、数フレームに渡って時間的な加算平
均を施されたものであることが望ましい。
Ａ）は横引きノイズを含む時間的にランダムなノイズを
低減する意味でも、数フレームに渡って時間的な加算平
均を施されたものであることが望ましい。
【００７４】次に、このオフセット補正画像（ＢＢ，Ｂ
Ｂ）はアンプゲイン補正データ（１，ＡＧ’）と掛け算
される。これにより、増幅率バラツキ補正が施されたア
ンプゲイン補正画像（ＣＣ，ＣＣ）が得られる（図１０
（３））。
Ｂ）はアンプゲイン補正データ（１，ＡＧ’）と掛け算
される。これにより、増幅率バラツキ補正が施されたア
ンプゲイン補正画像（ＣＣ，ＣＣ）が得られる（図１０
（３））。
【００７５】この後、抽出された横引きノイズプロファ
イル（Ｄ’，１）（図１０（４））が前記アンプゲイン
補正画像（ＣＣ，ＣＣ）から引き算される。これによ
り、横引きノイズ補正が施された横引きノイズ補正画像
（ＥＥ，ＥＥ）が得られる（図１０（５））。
イル（Ｄ’，１）（図１０（４））が前記アンプゲイン
補正画像（ＣＣ，ＣＣ）から引き算される。これによ
り、横引きノイズ補正が施された横引きノイズ補正画像
（ＥＥ，ＥＥ）が得られる（図１０（５））。
【００７６】前記横引きノイズ補正画像（ＥＥ，ＥＥ）
は抽出された残存横引きノイズデータと引き算される
（後述）。これにより、残存横引きノイズ成分が低減さ
れた残存横引きノイズ低減処理画像（ＦＦ，ＦＦ）が得
られる（図１０（６））。
は抽出された残存横引きノイズデータと引き算される
（後述）。これにより、残存横引きノイズ成分が低減さ
れた残存横引きノイズ低減処理画像（ＦＦ，ＦＦ）が得
られる（図１０（６））。
【００７７】得られた残存横引きノイズ低減処理画像
（ＦＦ，ＦＦ）はＸ線非入射画像と共に用いられて、画
素ゲイン補正データ（ＰＧ’，ＰＧ’）が作成される
（図１０（７））。
（ＦＦ，ＦＦ）はＸ線非入射画像と共に用いられて、画
素ゲイン補正データ（ＰＧ’，ＰＧ’）が作成される
（図１０（７））。
【００７８】前記残存横引きノイズ低減処理画像（Ｆ
Ｆ，ＦＦ）の作成にあたっては、基本的に図３に示され
る手順と同様にして行われることになる。ただし、画素
ゲイン補正データにおける残存横引きノイズの低減にお
いては、図３（ｉ）のフィルタ処理において第１の実施
の形態のように重み付けフィルタを用いても良いが、被
写体無しの均一Ｘ線画像を用いているため、単純平均化
フィルタを使用してもよい。
Ｆ，ＦＦ）の作成にあたっては、基本的に図３に示され
る手順と同様にして行われることになる。ただし、画素
ゲイン補正データにおける残存横引きノイズの低減にお
いては、図３（ｉ）のフィルタ処理において第１の実施
の形態のように重み付けフィルタを用いても良いが、被
写体無しの均一Ｘ線画像を用いているため、単純平均化
フィルタを使用してもよい。
【００７９】図１１はオペレータを用いて横引きノイズ
補正画像（ＥＥ，ＥＥ）の画素列方向にたたみ込み演算
による単純平均化フィルタ処理を施す場合のフィルタ
（オペレータ）の一例を示す図である。
補正画像（ＥＥ，ＥＥ）の画素列方向にたたみ込み演算
による単純平均化フィルタ処理を施す場合のフィルタ
（オペレータ）の一例を示す図である。
【００８０】オペレータのフィルタサイズは（２ｎ’＋
１，１）（ｎは０以上）であり、その一例として例えば
ｎ’＝３の場合について図１１に示す。
１，１）（ｎは０以上）であり、その一例として例えば
ｎ’＝３の場合について図１１に示す。
【００８１】図１１ではｎ’＝３すなわち（２ｎ’＋
１，１）＝（７，１）のサイズのフィルタである。第１
の実施の形態における図８の場合と異なり、本フィルタ
処理においては処理対象の画素やその隣接画素の区別な
くｎ’０＝１／７、すなわち均等な重み付けとなってい
る。これは以下の理由による。
１，１）＝（７，１）のサイズのフィルタである。第１
の実施の形態における図８の場合と異なり、本フィルタ
処理においては処理対象の画素やその隣接画素の区別な
くｎ’０＝１／７、すなわち均等な重み付けとなってい
る。これは以下の理由による。
【００８２】画像ゲイン補正データ作成用の元となる画
像は被写体が無い状態での均一Ｘ線入射画像である。一
方でＸ線変換効率のバラツキは図２（ＶＩＩ）について
の説明の際に記載したような発生原因からして、広範囲
に渡って緩やかにその変動効率が変化しているものと考
えられる。従って、残存横引きノイズ成分を低減するに
は、より効果の大きい、単純平均化フィルタの方が望ま
しいということになる。
像は被写体が無い状態での均一Ｘ線入射画像である。一
方でＸ線変換効率のバラツキは図２（ＶＩＩ）について
の説明の際に記載したような発生原因からして、広範囲
に渡って緩やかにその変動効率が変化しているものと考
えられる。従って、残存横引きノイズ成分を低減するに
は、より効果の大きい、単純平均化フィルタの方が望ま
しいということになる。
【００８３】また、ｎ’は前述のようにＸ線信号画像が
無いため、処理速度の面で許容できれば大きい方がより
効果的である。
無いため、処理速度の面で許容できれば大きい方がより
効果的である。
【００８４】以上説明したように、本発明の第２の実施
の形態によれば、画素ゲイン補正データの作成におい
て、均一Ｘ線入射画像（ＡＡ，ＡＡ）に対してオフセッ
ト補正（図１０（２））、増幅率バラツキ補正（図１０
（３））、横引きノイズ補正（図１０（５））、及び残
存横引きノイズ低減処理（図１０（６））が行われた画
像（残存横引きノイズ低減処理画像（ＦＦ，ＦＦ））を
基礎とすることにより、このようにして得られた画素ゲ
イン補正データを掛け合わせて得られた画素ゲイン補正
画像（Ｘ線診断画像）において、従来でのＸ線診断画像
に現れていた横引き状パターンの時間的に固定なアーチ
ファクトを低減することが可能となる。
の形態によれば、画素ゲイン補正データの作成におい
て、均一Ｘ線入射画像（ＡＡ，ＡＡ）に対してオフセッ
ト補正（図１０（２））、増幅率バラツキ補正（図１０
（３））、横引きノイズ補正（図１０（５））、及び残
存横引きノイズ低減処理（図１０（６））が行われた画
像（残存横引きノイズ低減処理画像（ＦＦ，ＦＦ））を
基礎とすることにより、このようにして得られた画素ゲ
イン補正データを掛け合わせて得られた画素ゲイン補正
画像（Ｘ線診断画像）において、従来でのＸ線診断画像
に現れていた横引き状パターンの時間的に固定なアーチ
ファクトを低減することが可能となる。
【００８５】さらに、本実施の形態で得られた画素ゲイ
ン補正データ（ＰＧ’，ＰＧ’）を前記第１の実施の形
態における画素ゲイン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）（図２
（ＶＩＩ））として使用すれば、時間的にランダムな残
存横引きノイズ及び横引き状パターンの時間的に固定な
アーチファクトが低減されたより高画質のＸ線診断画像
を得ることが可能となる。従って、Ｘ線診断画像に対す
る読影の効率と正確性が向上し、誤診防止を図ることが
可能になる。 （第３の実施の形態）第１の実施の形態では本発明の残
存横引きノイズ低減処理の対象画像として、オフセット
補正、増幅率バラツキ補正、及び横引きノイズ補正の各
補正が施されたものであったが、本発明はこの場合に限
られるものではない。
ン補正データ（ＰＧ’，ＰＧ’）を前記第１の実施の形
態における画素ゲイン補正データ（ＰＧ，ＰＧ）（図２
（ＶＩＩ））として使用すれば、時間的にランダムな残
存横引きノイズ及び横引き状パターンの時間的に固定な
アーチファクトが低減されたより高画質のＸ線診断画像
を得ることが可能となる。従って、Ｘ線診断画像に対す
る読影の効率と正確性が向上し、誤診防止を図ることが
可能になる。 （第３の実施の形態）第１の実施の形態では本発明の残
存横引きノイズ低減処理の対象画像として、オフセット
補正、増幅率バラツキ補正、及び横引きノイズ補正の各
補正が施されたものであったが、本発明はこの場合に限
られるものではない。
【００８６】図１２は本発明の第３の実施の形態に係る
Ｘ線画像の補正手順を説明するための図である。同図に
おける点線部分に係る補正処理、すなわち、増幅率バラ
ツキ補正及び横引きノイズ補正は、その処理を施す前の
画像に含まれるノイズ量によっては省略してもよいこと
を示す。
Ｘ線画像の補正手順を説明するための図である。同図に
おける点線部分に係る補正処理、すなわち、増幅率バラ
ツキ補正及び横引きノイズ補正は、その処理を施す前の
画像に含まれるノイズ量によっては省略してもよいこと
を示す。
【００８７】従って、オフセット補正画像（Ｂ，Ｂ）に
おいて増幅率バラツキや横引きノイズが目立つものでは
ない（各補正処理を施す必要が無い程度）と判断される
時は、これらの補正処理を施さなくてもよい場合があ
る。この場合、オフセット補正画像（Ｂ，Ｂ）に対して
本発明の残存横引きノイズ低減処理（図１２（ＶＩ）に
おいて（Ｅ，Ｅ）は（Ｂ，Ｂ）と読み替える）を施すよ
うにしてもよい。
おいて増幅率バラツキや横引きノイズが目立つものでは
ない（各補正処理を施す必要が無い程度）と判断される
時は、これらの補正処理を施さなくてもよい場合があ
る。この場合、オフセット補正画像（Ｂ，Ｂ）に対して
本発明の残存横引きノイズ低減処理（図１２（ＶＩ）に
おいて（Ｅ，Ｅ）は（Ｂ，Ｂ）と読み替える）を施すよ
うにしてもよい。
【００８８】また、同様に、アンプゲイン補正画像
（Ｃ，Ｃ）において横引きノイズが目立つものではない
（横引きノイズ補正処理を施す必要が無い程度）と判断
される時は、横引きノイズ補正処理を施さなくてもよい
場合がある。この場合、アンプゲイン補正画像（Ｃ，
Ｃ）に対して本発明の残存横引きノイズ低減処理（図１
２（ＶＩ）において（Ｅ，Ｅ）は（Ｃ，Ｃ）と読み替え
る）を施すようにしてもよい。
（Ｃ，Ｃ）において横引きノイズが目立つものではない
（横引きノイズ補正処理を施す必要が無い程度）と判断
される時は、横引きノイズ補正処理を施さなくてもよい
場合がある。この場合、アンプゲイン補正画像（Ｃ，
Ｃ）に対して本発明の残存横引きノイズ低減処理（図１
２（ＶＩ）において（Ｅ，Ｅ）は（Ｃ，Ｃ）と読み替え
る）を施すようにしてもよい。
【００８９】実際、横引きノイズ補正については、横引
きノイズが元々目立つものではない場合に同補正を施す
と、その補正による残存横引きノイズがかえって元の横
引きノイズよりも大きくなってしまう場合がある。従っ
て、このような場合は、横引きノイズ補正を施さずに本
発明による横引きノイズ低減処理を施すことが好まし
い。
きノイズが元々目立つものではない場合に同補正を施す
と、その補正による残存横引きノイズがかえって元の横
引きノイズよりも大きくなってしまう場合がある。従っ
て、このような場合は、横引きノイズ補正を施さずに本
発明による横引きノイズ低減処理を施すことが好まし
い。
【００９０】以上説明した本発明の実施の形態によれ
ば、Ｘ線診断画像において従来除去しきれずに残存して
いた時間的にランダムな残存横引きノイズを低減するこ
とができる。
ば、Ｘ線診断画像において従来除去しきれずに残存して
いた時間的にランダムな残存横引きノイズを低減するこ
とができる。
【００９１】また、画素ゲイン補正データにおける残存
横引きノイズについても低減することができるので、従
来生じていた画素ゲイン補正データに含まれる残存横引
きノイズの影響による、Ｘ線診断画像における横引き状
パターンのアーチファクトの発生を低減することができ
る。
横引きノイズについても低減することができるので、従
来生じていた画素ゲイン補正データに含まれる残存横引
きノイズの影響による、Ｘ線診断画像における横引き状
パターンのアーチファクトの発生を低減することができ
る。
【００９２】従って、Ｘ線診断画像の画質向上を図るこ
とができるので、画像不鮮明による誤読影や必要以上に
読影時間がかかってしまうことを防止し、誤診防止と読
影効率の向上を図ることが可能になる。
とができるので、画像不鮮明による誤読影や必要以上に
読影時間がかかってしまうことを防止し、誤診防止と読
影効率の向上を図ることが可能になる。
【００９３】なお、以上説明した本発明の実施の形態
は、本発明の理解を容易にするために記載されたもので
あって、本発明を限定するために記載されたものではな
い。従って、上記各実施の形態に開示された各要素は、
本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物を
も含む趣旨である。
は、本発明の理解を容易にするために記載されたもので
あって、本発明を限定するために記載されたものではな
い。従って、上記各実施の形態に開示された各要素は、
本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物を
も含む趣旨である。
【００９４】
【発明の効果】Ｘ線画像診断装置のＸ線検出器としてＸ
線平面検出器を用いる場合において、Ｘ線画像の行方向
に一定で列方向に変動しているノイズの補正精度を向上
し、従来よりもノイズの少ない、より高画質なＸ線診断
画像を提供することができる。
線平面検出器を用いる場合において、Ｘ線画像の行方向
に一定で列方向に変動しているノイズの補正精度を向上
し、従来よりもノイズの少ない、より高画質なＸ線診断
画像を提供することができる。
【図１】 本発明の第１の実施の形態に係るＸ線平面検
出器の構成を説明するための図。
出器の構成を説明するための図。
【図２】 本発明の第１の実施の形態に係るＸ線画像の
補正手順を説明するための図。
補正手順を説明するための図。
【図３】 本発明の第１の実施の形態に係るＸ線画像の
ノイズ低減処理の手順を説明するための図。
ノイズ低減処理の手順を説明するための図。
【図４】 図３に示される第１の手順における処理の画
像の例を示す図。
像の例を示す図。
【図５】 図３に示される第２の手順における処理の画
像の例を示す図。
像の例を示す図。
【図６】 図３に示される第３の手順における処理の画
像の例を示す図。
像の例を示す図。
【図７】 図３に示される第４の手順における処理の画
像の例を示す図。
像の例を示す図。
【図８】 本発明の第１の実施の形態の場合の図３に示
される第１の手順におけるフィルタの一例を示す図。
される第１の手順におけるフィルタの一例を示す図。
【図９】 本発明の第１の実施の形態の場合の図３に示
される第３の手順におけるフィルタの一例を示す図。
される第３の手順におけるフィルタの一例を示す図。
【図１０】 本発明の第２の実施の形態に係るＸ線画像
の補正手順を説明するための図。
の補正手順を説明するための図。
【図１１】 本発明の第２の実施の形態の場合の図３に
示される第１の手順におけるフィルタの一例を示す図。
示される第１の手順におけるフィルタの一例を示す図。
【図１２】 本発明の第３の実施の形態に係るＸ線画像
の補正手順を説明するための図。
の補正手順を説明するための図。
１２・・・オフセット補正データ部
１３・・・アンプゲイン補正データ部
１４・・・横引きノイズデータ抽出部
１５・・・フィルタ処理による残存横引きノイズデータ
抽出部 １６・・・画素ゲイン補正データ部
抽出部 １６・・・画素ゲイン補正データ部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０６Ｔ 5/20 Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０Ｚ
Ｈ０１Ｌ 27/14 Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１Ｃ
Ｈ０４Ｎ 1/409 Ｈ０１Ｌ 27/14 Ｋ
Ｆターム(参考） 2G088 EE02 FF02 JJ05 LL11
4C093 AA16 CA06 CA13 EB13 FC17
FC18 FC19 FF03
4M118 AA02 AA10 AB01 BA14 CA14
CB11 FA06 FA33
5B057 AA08 BA03 BA11 CE02 CE06
CH01 CH09
5C077 LL19 MM01 PP01 PP12 PQ12
PQ18 TT10
Claims (15)
- 【請求項１】 マトリクス状に配置された複数の画素
と、 前記画素における電荷を読み出すことによって得られた
第１の画像に対して列方向の高周波成分を除去する第１
のフィルタ手段と、 前記第１の画像から前記第１のフィルタ手段により得ら
れた画像を減じる第１の減算手段と、 この第１の減算手段により得られた減算画像に対して行
方向の高周波成分を除去する第２のフィルタ手段と、 前記第１の画像から前記第２のフィルタ手段により得ら
れた画像を減じる第２の減算手段とを具備することを特
徴とするＸ線平面検出器。 - 【請求項２】 前記第１のフィルタ手段は行方向のフィ
ルタ処理を行わないことを特徴とする請求項１に記載の
Ｘ線平面検出器。 - 【請求項３】 前記第１のフィルタ手段は行方向に一定
で列方向に変動している高周波成分を除去することを特
徴とする請求項１に記載のＸ線平面検出器。 - 【請求項４】 前記第１のフィルタ手段は重み付けフィ
ルタであることを特徴とする請求項１に記載のＸ線平面
検出器。 - 【請求項５】 前記第２のフィルタ手段は単純平均化フ
ィルタであることを特徴とする請求項１に記載のＸ線平
面検出器。 - 【請求項６】 前記画素における電荷を読み出すことに
よって得られた画像に対してオフセット補正を施すオフ
セット補正手段を具備し、 前記第１の画像はこのオフセット補正手段によりオフセ
ット補正された画像であることを特徴とする請求項１に
記載のＸ線平面検出器。 - 【請求項７】 前記画素における電荷を読み出すことに
よって得られた画像に対してゲイン補正を施すゲイン補
正手段を具備し、 前記第１の画像はこのゲイン補正手段によりゲイン補正
された画像であることを特徴とする請求項１に記載のＸ
線平面検出器。 - 【請求項８】 前記マトリクス状に配置された複数の画
素のうちＸ線不感画素列における電荷を行毎に読み出す
ための各画素に印加する信号に起因して生じるノイズ情
報に基づいて画素行方向に生じるノイズを補正する行方
向ノイズ補正手段を具備し、 前記第１の画像はこの行方向ノイズ補正手段によりノイ
ズ補正された画像であることを特徴とする請求項１に記
載のＸ線平面検出器。 - 【請求項９】 被写体無しの状態における均一なＸ線入
射により得られた第２の画像に対して列方向の高周波成
分を除去する第３のフィルタ手段と、 前記第２の画像から前記第３のフィルタ手段により得ら
れた画像を減じる第３の減算手段と、 この第３の減算手段により得られた減算画像に対して行
方向の高周波成分を除去する第４のフィルタ手段と、 前記第２の画像から前記第４のフィルタ手段により得ら
れた画像を減じる第４の減算手段と、 この第４の減算手段により得られた減算画像とＸ線非入
射画像とに基づいて得られる画素ゲイン補正データを前
記第２の減算手段により得られた減算画像に掛け合わせ
る掛け算手段とを具備することを特徴とする請求項１に
記載のＸ線平面検出器。 - 【請求項１０】 マトリクス状に配置された複数の画素
と、 被写体無しの状態における均一なＸ線入射において、前
記画素における電荷を読み出すことによって得られた第
２の画像に対して列方向の高周波成分を除去する第３の
フィルタ手段と、 前記第２の画像から前記第３のフィルタ手段により得ら
れた画像を減じる第３の減算手段と、 この第３の減算手段により得られた減算画像に対して行
方向の高周波成分を除去する第４のフィルタ手段と、 前記第２の画像から前記第４のフィルタ手段により得ら
れた画像を減じる第４の減算手段とを具備することを特
徴とするＸ線平面検出器。 - 【請求項１１】 前記第３及び第４のフィルタ手段はそ
れぞれ単純平均化フィルタであることを特徴とする請求
項９又は１０に記載のＸ線平面検出器。 - 【請求項１２】 Ｘ線を電気信号に変換するＸ線平面検
出器を有するＸ線画像診断装置において、 前記電気信号に基づいて得られたＸ線画像の列方向に変
動しているノイズ情報を抽出するフィルタ手段と、 このフィルタ手段により抽出されたノイズ情報を前記Ｘ
線画像から減じるよう補正する補正手段とを具備するこ
とを特徴とするＸ線画像診断装置。 - 【請求項１３】 前記ノイズは前記Ｘ線平面検出器の各
画素における電荷を行毎に読み出すための各画素に印加
する信号に起因して生ずるものであることを特徴とする
請求項１２に記載のＸ線画像診断装置。 - 【請求項１４】 前記フィルタ手段は、 前記Ｘ線画像の列方向の高周波成分を除去し、 この除去して得られた画像を前記Ｘ線画像から減じ、 この減じて得られた画像の行方向の高周波成分を除去
し、 前記補正手段は、 前記行方向の高周波成分を除去して得られた画像を前記
Ｘ線画像から減じることを特徴とする請求項１２に記載
のＸ線画像診断装置。 - 【請求項１５】 マトリクス状に配置された複数の画素
を有してなるＸ線平面検出器において収集されたＸ線画
像の補正方法において、 前記Ｘ線画像の列方向の高周波成分を除去し、 この除去して得られた画像を前記Ｘ線画像から減じ、 この減じて得られた画像の行方向の高周波成分を除去
し、 この除去して得られた画像を前記Ｘ線画像から減じるこ
とを特徴とするＸ線画像補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002265054A JP4377571B2 (ja) | 2001-09-11 | 2002-09-11 | Ｘ線平面検出器、ｘ線画像診断装置、及びｘ線画像補正方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001275700 | 2001-09-11 | ||
| JP2001-275700 | 2001-09-11 | ||
| JP2002265054A JP4377571B2 (ja) | 2001-09-11 | 2002-09-11 | Ｘ線平面検出器、ｘ線画像診断装置、及びｘ線画像補正方法 |
Publications (2)
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